DE4121447C2 - Luftgekühlter Wärmeaustauscher für Vielchip-Baugruppen - Google Patents
Luftgekühlter Wärmeaustauscher für Vielchip-BaugruppenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine luftgekühlte Anordnung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1
Kühlen schaltungsintegrierter Computerchips und
insbesondere eines Arrays solcher Chips unter Einsatz einer luft
gekühlten Verdampfungs- und Kondensatorvorrichtung, wobei
der Verdampfer und Kondensator selbstversorgend sind und
keine externe Energieversorgung benötigen.
Bei Computern hohen Leistungsverbrauchs nach modernen De
sign besteht die Notwendigkeit der Luftkühlung solcher Com
putersysteme hoher Leistung, um Marktanforderungen nachzukom
men. Versuche, die gemacht worden sind, um Luft zum Kühlen
von Halbleiterbauelementen oder Chips extrem hoher Leistung
zu verwenden, haben sich als unzureichend herausgestellt,
da Luft kein hocheffizientes Wärmeübertragungsmedium ist.
Wärmeübertragung von einem Chip mit hoher Leistung zu einem
luftgekühlten System erfordert eine sehr große Wärmedissipa
tionsfläche oder Wärmesenke. Moderne Chipgehäusetechniken,
die das Unterbringen von mehreren Chips hoher Leistung in
nerhalb zu dem Problem, daß eine große Fläche als Wärmesenke
zur Wärmedissipation erforderlich ist.
Versuche sind unternommen worden, um erzwungenes Flüssig
keitskühlen als Mittel zum Kühlen von Chips hoher Leistung
zu verwenden. Eine erzwungene Flüssigkeitskühlung erfordert
jedoch Pumpen und Rohre und in den meisten Fällen ein zu
sätzliches Gehäuse, um diesen Kühlungstyp unterbringen zu
können. Zudem haben die Benutzer bzw. Kunden solcher Compu
ter geringes Vertrauen in eine erzwungene Flüssigkeitsküh
lung.
Ein solcher Versuch mit Flüssigkeitskühlung für elektrische
Bauelemente ist die direkte Wärmeübertragung in einem
siedenden Tauchbad, wobei die Halbleiterkomponen
ten vollständig in eine dielektrische Flüssigkeit
eingetaucht sind. Der Kühlungsgrad hängt vom Auffinden
einer dielektrischen Flüssigkeit mit geeignetem Phasenüber
gang und dielektrischen Eigenschaften ab. Ein weiteres herkömmliches Kühl
system mit untergetauchtem Bauelement verwendet
eine gerippte Kondensator-Kühlschlange innerhalb des Dampf
raumes zur Wärmeentfernung und -abführung. Kondensatoren
für solche Systeme können in dem Dampf- bzw. Gasraum
oberhalb den Komponenten angeordnet oder entfernt ange
ordnet sein.
Weitere Systeme wie z. B. der Cray-2-Computer verwenden ein
direktes Tauchbadsystem mit erzwungener
Konvektion, das eine Flüssigkeit verwendet,
die nicht siedet. Die Flüssigkeit fließt an den
Komponenten vorbei, wo sie Wärme aufnimmt, und fließt dann
zu einem externen Wärmetauscher, wo sie gekühlt wird. Der
Fluidfluß in diesem System erfordert Pumpen und ein exter
nes Rohrsystem.
Bei Systemen, bei denen die integrierten Schaltungschips
in einem Kühlmittel oder einer siedbaren Flüssigkeit einge
taucht sind, muß bei der Auswahl der Flüssigkeit sorgfältig
vorgegangen werden, d. h., die dielektrischen und korrosiven
Eigenschaften der Flüssigkeit zusammen mit den Wärmeübertra
gungseigenschaften und der Dampfphasenänderungstemperatur
müssen beim Aufstellen eines hochzuverlässigen Kühlsystems
beachtet werden.
Andere Systeme haben herkömmliche gerippte Kühlkörperstruk
turen bzw. Wärmesenkestrukturen in einer luftgekühlten An
ordnung verwendet, aber diese Systeme sind nur für Einrich
tungen mit niedrigem Energieverbrauch verwendbar. Da Luft
kein sehr effizientes Kühlmedium ist, ist der abgeführte
Wärmebetrag niedrig. Damit ist diese Lösung nur für Chips
mit relativ geringer Leistungsaufnahme geeignet, außer eine
größere Luftkontaktfläche oder Wärmeabführung wird vorgese
hen.
Eine Anordnung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 ist aus
der US 3,476,175 bekannt.
Gegenüber diesem gattungsbildenden Stand der Technik liegt der
Erfindung im wesentlichen die Aufgabe zugrunde, diese bekannte Kühlvorrichtung
derart weiterzubilden, daß bei einfachem Aufbau der Kühlvorrichtung die
Wirksamkeit der Kühlung verbessert wird.
Diese Aufgabe wird im wesentlichen durch die kennzeichnenden
Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst.
Aus der DE-OS 21 07 010 ist bereits eine Einrichtung zur Kühlung von
Leistungs-Halbleiterbauelementen bekannt, bei der zwischen den Bauelementen
und der Kühlkammer ein isolierender dielektrischer Körper angeordnet ist. Aus der
DE 31 17 758 A1 ist weiterhin eine Kühlvorrichtung für elektronische Bauteile
bekannt, bei der sich der Kondensator über die gesamte Breite einer Kammer bzw.
einer Vielzahl von parallel angeordneten Kühlkanälen erstreckt. Schließlich ist es
aus der US 3,852,805 im Zusammenhang mit einer Kühleinrichtung für Halbleiter
bauteile bekannt, zur Vergrößerung der Verdampfungsoberfläche Strukturen wie
Zylinder und Pfosten vorzusehen.
Bevorzugte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
definiert.
Weitere Vorteile und Anwendungsmöglichkeiten der
Erfindung sind aus der nachfolgenden Beschreibung von
Ausführungsformen in Verbindung mit den beiliegenden Zeich
nungen ersichtlich. Es zeigt
Fig. 1 eine isometrische Ansicht der Kühlvorrichtung gemäß einem Ausführungs
beispiel der Erfindung, die in Explosionsanordnung be
züglich einer Fläche eines Multichipmoduls gezeigt ist.
Fig. 2 ist eine Querschnittsansicht der Kühl
vorrichtung nach Fig. 1 entlang der Linie 2-2 von Fig. 1
gesehen;
Fig. 3 eine Querschnittsansicht des Kühlplattenabschnitts
in zusammengebauter Anordnung mit den Wärmeübertragungskörpern
und der Leiterplatte, und
Fig. 4 eine vergrößerte, teilweise Schnittansicht, die einen
Abschnitt der Kühlplatte der Kühlvorrichtung und einen
einzelnen Chip der Leiterplatte zeigt.
In Fig. 1 wird eine luftgekühlte Verdampfer-
und Kondensationsvorrichtung 10 gezeigt, neben der
eine Multichip-Einheit 12 abgebildet ist, die um eine Verti
kalachse herum zur Darstellung ihrer Innenfläche gedreht ist,
auf der Halbleiterchips 14 angeordnet sind.
Mit Bezug auf die Fig. 1 und 2 ist die Vorrichtung 10 ein
luftgekühlter Wärmetauscher
mit intern ausgebildeten Kammern und
Durchflußwegen, die so konfiguriert, dimensioniert, ausge
legt und orientiert sind, daß sie eine hermetisch abgeschlos
sene Verdampfungs- und Kondensationseinheit bildet.
Wie im nachfolgenden beschrieben wird, ist sie thermisch
mit einer Matrix von integrierten Schaltungschips gekoppelt und
ermöglicht die Abgabe von großen Wärmemengen, ohne
daß externe Energiequellen, Pumpen oder andere mechanische
oder elektrische Einrichtungen notwendig wären.
Die Einheit 10 ist eine hermetisch abgedichtete Einheit,
die eine isolierte Verdampfungskammer 16 mit einer sied
baren Kühlflüssigkeit aufweist, die gehäuseähnlich in
der Form mit einer geöffneten Oberseite ausgebildet ist und eine
im wesentlichen rechtwinklige Kühl
platte 20 in parallel beabstandeter Anord
nung zu einer ähnlich ausgebildeten Rückwand 22 ent
hält. Die Kühlplatte 20 weist auf der Verdampfungsseite
Rippen 21 auf, die die Wärmeübertragungsoberfläche
auf der Verdampfungsseite erhöht bzw. ver
größert, wie im nachfolgenden deutlich wird. Eine Boden
wand 24 und Seitenwände 26 und 28 verbinden die gegenüber
liegenden Kanten der Kühlplatte 20 und der Rückwand
22, um die an der Oberseite offene Kammer 16 zu bil
den.
Die Kammer 16 ist mit einer geöffneten Oberseite oder einem
Durchlaß 30 versehen, der in Übereinstimmung mit der
dargestellten Ausführungsform in einem Winkel zu der Be
festigungsfläche der Kühlplatte 20 angeordnet ist. Der
Durchlaß 30 ist als kanalähnlicher Abschnitt ausgebil
det, der mit einer oberen Kammer 32 verbindet, die
eine Vielzahl von Rohren bzw. Röhren oder
andere Kondensationskanäle 34 aufweist, die von der
Kammer 32 weggehen und in Verbindung mit der Kammer
32 stehen. Dabei sind alle Kanäle
34 aus Rohren oder anderen Teilen mit Rippen 36 auf ihrer
Außenfläche ausgebildet. Weitere Rippen können in geeig
neter Weise an den Innenwänden der Kanäle 34 befestigt
werden, wenn gewünscht. Die rohrähnlichen Kondensations
kanäle 34 dienen als Kondensationskammer, wobei die Kanäle
34 langgestreckt sind, zur Kam
mer 32 hin offen sind und am gegenüberliegenden bzw. anderen
Ende durch Kappen 34a abgedeckt, verstöpselt oder irgendwie
anders abgeschlossen sind, wie z. B. durch U-förmige
Kuppen.
Obwohl die obere Kammer 32 mit Abstand relativ zu
der Verdampfungskammer 16 dargestellt ist, und zwar mit
dem angewinkelten Durchlaß 30, ist es klar, daß die
Kammer auch unmittelbar oberhalb der Verdampfungskammer
ausgebildet sein kann, wobei der verbindende Durchlaß 30
vertikal ist. Des weiteren, obwohl der Ausdruck
rohrförmig mit Bezug auf die Passierwege 34 der Kondensa
tionskammer benutzt wird, ist der Ausdruck rohrförmig, wie
er nachfolgend benutzt wird, so aufzufassen, daß er ein
rohrförmiges Teil bzw. Rohr mitumfaßt, ganz gleich, ob mit
kreisförmigem oder rechtwinkeligem Querschnitt.
Eine Ausrichtung bei der Verwendung der Einheit 10 ist so,
wie es in Fig. 2 gezeigt wird, d. h., die Kühlplatte 20
ist im wesentlichen vertikal zu den Kanälen 34 der Kon
densationskammer mit der Kammer 32 ausgerichtet,
und zwar in einer horizontalen Richtung in
einer Ebene oberhalb des oberen offenen Durchlasses 30 der unte
ren Kammer 16. Der Grund dafür besteht darin,
daß es erforderlich ist, daß die
Kammer 16 die siedbare Flüssigkeit 40 auf Grund
des Schwerkraftgesetzes aufnimmt, d. h., daß die Kammer 16
am unteren Punkt des Systems positioniert ist, wohingegen
die Kanäle 34 der Kondensationskammer in einem höheren
Punkt in dem System angeordnet sind. Eine andere Ausrich
tung beim Einsatz der Einheit 10 besteht darin, die Kühl
platte 20 in einer Horizontalrichtung be
züglich der Kanäle 34 der Kondensationskammer ausge
richtet zu haben und die obere Kammer 32 in einer
Vertikalrichtung in einem Bereich oberhalb der weiter
unten liegenden Kammer 16 ausgerichtet zu haben.
Die Kammer 16 bildet die Verdampfungskammer und die Kanäle
34 bilden die Kondensationskammer, die intern miteinan
der innerhalb der Einheit 10 durch den Durchlaß 30 verbun
den sind. Die Kammern 16 und 32 zusammen mit dem verbin
denden Durchlaß 30 und den Kanälen
34 sind als hermetisch angedichtete Einheit zum Ausbilden
eines geschlossenen Weges zum Fortleiten von Dämpfen von
der Verdampfungskammer 16 zu der Kammer 32 ausgebil
det, wo der Dampf die Kanäle 34 erreicht
und nach der Luftkühlung über die Rippen bzw. Lamellen 36
kondensiert und die Kanalflüssigkeit dann
zur unten liegenden Kammer 16 auf Grund der Schwerkraft zu
rückkehrt.
Die Kühlplatte 20 hat einen Aufbau, der zum Teil durch
die Konfiguration der Multichipeinheit 12 festgelegt ist.
Wie nachfolgend beschrieben wird, ist die äußere Ober
fläche der Kühlplatte 20 für eine Anbringung an der
freiliegenden Oberfläche der Einheit 12 (siehe auch Fig. 4)
ausgelegt. Dabei ist der Rand 13 der Einheit 12
etwas erhöht relativ zu einer Ebene, die durch die
äußere, freiliegende Oberfläche der Chips 14 auf der Ein
heit 12 gezogen ist. Fig. 3 zeigt, daß um den
Rand 13 herum Einrichtungen wie ein Netzstecker
17 und gewisse Befestigungseinrichtungen 19 vorhanden sind.
In der Praxis
stehen die Chips 14 ungefähr 0,6604 mm über die
Oberfläche der gedruckten Leiterplatte 15, auf der sie
angebracht sind, hervor. Die Chips 14 können in irgendeiner Weise
auf der Oberfläche der Leiterplatte 15 angeordnet sein.
Wie in Fig. 1 gezeigt wird, sind die Chips 14 in einer
symmetrischen Matrix
bzw. Feld aus 4 Chips pro Reihe in 4 Reihen angeordnet,
und zwar mit gleichem Seitenabstand zwischen den Chips.
Die Abmessungen des Umfangs der Kühlplatte 20 werden
durch die Dimensionen des erhöhten Randes 13
der Einheit 12 bestimmt. Die äußere Oberfläche der Kühlplatte
20 kann zumindest eine Ausnehmung oder
eine Tasche 50 an einem Ort aufweisen, der dem Ort des zu
kühlenden Chips 14 entspricht. Wie in Fig. 1 gezeigt wird,
ist eine Matrix oder ein Feld von Ausnehmungen 50 vorhanden,
und zwar entsprechend der Anzahl und dem Ort für das Feld
von Chips 14 auf der Einheit 12. Die Ausnehmungen 50 sind zum
Aufnehmen von keramischen Substraten wie z. B. Aluminium
nitridkörpern 52 ausgelegt, die einen
äußeren Umfang haben, der leicht
kleiner ist als der innere Umfang der Ausnehmungen 50, und einen
vergrößerten Flanschabschnitt 52a mit einer planaren Ober
fläche, die gegenüber der freiliegen
den Oberfläche der Chips 14 liegt. Die Körper 52 können aus irgend
einer anderen Keramik gebildet werden, die eine hohe thermi
sche Leitfähigkeitseigenschaft hat.
Wie in Fig. 4 gezeigt wird, werden die
Aluminiumnitridkörper 52 innerhalb der Ausnehmungen 50
aufgenommen und in geeigneter Weise gesichert, wie z. B.
durch den Einsatz von Lot 54 oder irgendeines anderen befestigenden
Materialien mit niedrigem thermischem Widerstand. Die
Oberfläche des Flanschabschnitts 52a ist an der Oberfläche
des Chips 14 durch ein geeignetes Mittel befestigt,
wie z. B. einem thermisch leitenden Epoxidkleber oder einem
Si/Au-Eutektikum oder einem Lot.
Die Auswahl des Aluminiumnitrids als Material für die Körper
52 beruht auf den Eigenschaften dieses Materials, d. h.,
daß das Aluminiumnitrid ein Dielektrikum ist, mit einer
hohen thermischen Leitfähigkeit, daß es thermische Ausdeh
nungseigenschaften zeigt, die zu denjenigen der Chips 14
passen, und daß es einen ausreichenden elektrischen Widerstand
hat, um eine geeignete elektrische Isolation zwischen dem
Chip und dem Kühlsystem zu bewerkstelligen, der auf elektri
schem Massepotential bzw. Erdpotential ist. Alternativ
könnte eine elektrische Isolation durch Beschichten
der Kühlplatte mit einem Oberflächendielektrikum oder durch
den Einsatz eines metallischen Sockels, der mit einem Ober
flächendielektrikum überzogen bzw. ummantelt ist, ermög
licht werden.
Mit Bezug auf Fig. 4 wird das Befestigungsverfahren bzw.
Anbringungsverfahren der Körper 52 innerhalb der Ausnehmungen
50 beschrieben. Wie es ersichtlich ist, ist jede Ausnehmung
50 in der Nähe ihres freien
Endes abgesetzt, um eine nach außen sich erstreckende Schul
terfläche 50a zu bilden. Diese Schulter stellt ein zusätz
liches Volumen innerhalb der Ausnehmungen 50 dar, um ein Löten
ohne irgendeine kritische Lotmenge zu erleichtern, die pro
Ausnehmung 50 eingesetzt wird.
Um das Lot 54 für die Befestigung der Körper 52 anzuwenden,
wird die Einheit 10 vertikal so angeordnet, daß die Kühl
plattenausnehmungen 50 innerhalb der Kühlplatte 20 nach
oben schauen. Eine vorgegebene Menge von Lot 54 mit niedri
gem Schmelzpunkt wird dann in jede Ausnehmung 50 eingebracht,
und zwar in Abhängigkeit von der Ausnehmungsgröße und -tiefe,
für die der Körper 52 in der Ausnehmung 50 eingesetzt werden
soll. Das Lot 54 wird dann geschmolzen und die Körper 52
werden eingefügt. Während dieses Einfügens bzw. Einsetzens
fließt das Lot in Richtung des geöffneten Endes der Ausnehmung
52, wobei der Überschuß an Lot dann auf die Schulterfläche
50a fließt. Danach kühlt das Lot ab. Eine gewisse Vibration
kann nützlich sein, um sicherzustellen, daß keine Luftta
schen bzw. Lufteinschlüsse zwischen den Körpern 52 und den
inneren Wänden der Ausnehmungen 50 existieren. Das Vorhandensein
von Lufttaschen bei dieser Verbindung verschlechtert die
thermischen Übertragungseigenschaften. Mit den Körpern 52,
die so innerhalb der Ausnehmungen 50 untergebracht bzw. befe
stigt sind, ermöglicht die Verbindung den Ausnehmungen 50, die
Kühlplattenstruktur der Kühlplatte 20 nach unten und
um den Körper 52 herum zu erweitern, wodurch ein verminder
ter thermischer Widerstandsweg von der Oberfläche des Chips
14 über den Körper 52 um die Seiten und die Oberseite des
Körpers 52 herum und über die Kühlplatte 20 in sein
Inneres erzeugt wird.
Bevorzugterweise werden die Körper 52 zuerst an den Chips
14 angebracht, wobei die Chips 14 dann elektrisch auf der
Leiterplatte 15 angebracht werden. Dann wird die gesamte
Anordnung an der Kühlplatte 20 befestigt. Die Chips 14
werden entweder gelötet, mit Epoxidharz verklebt oder in
irgendeiner anderen Art und Weise auf den Körpern 52 ange
bracht, wobei das Lot um den gesamten Körper herumfließt.
Um eine optimale Übertragung von Wärme von den Chips 14
zu bewirken, wird die Wärme, die über die Kühlplatte
20 übertragen wird, dann zu der inneren Oberfläche der Kühl
platte 20 übertragen, die als eine Wand der Verdampfungskam
mer 16 dient, die
über einen verbindenden Durchlaß 30 und über die
Kammer 32 mit den Kanälen 34 kommuniziert, die als
luftgekühlter Kondensator wirken. Die Kammer 16 enthält
auch eine Menge des Kühlmittels, das
bereits als siedbare Flüssigkeit 40 bezeichnet worden ist.
Die zu kühlenden Einrichtungen, d. h. die Chips 14 der Ein
heit 12, sind auf einer Wärmeübertragungsoberfläche befe
stigt, die dem Äußeren der Kühlplatte 20 entspricht, wobei
die andere Oberfläche der Kühlplatte 20 im Inneren der Kam
mer 16 liegt.
Die Wärme strömt durch die Wände der Kühlplattenausnehmungen
50 in die Kühlplatte 20, wobei die innere Oberfläche von
dieser eine Vielzahl von Rippen 21 aufweist, die einstückig
mit der Platte ausgebildet sind und in die Kammer
16 hineinragen. Die inneren Rippen können jede geeignete
Form oder Anordnung einnehmen, wie z. B. eine Balkenform,
eine Triangularform und können
parallel zueinander angeordnet sein, sich schneiden oder
irgendeine andere geeignete Anordnung haben. In der darge
stellten Ausführungsform sind die Rippen 21 bal
kenförmige Metallteile in eng zueinander beabstandeter para
leller Anordnung, die in integraler d. h. einstückiger Form
auf der Rückseite der inneren Oberfläche des Kühlplatten
teils 20 ausgebildet sein können. Die Rippen 21 sind ausge
legt, den Wärmetransport von der Kühlplatte
zu einer siedbaren Kühlflüssigkeit 40 zu verbessern,
die innerhalb der Siede- oder Verdampfungskammer 16 eingeschlossen
ist. Die Rippen 21 vergrößern die
Kontaktfläche zwischen der siedbaren Flüssigkeit
40 und dem Inneren der Kühlplatte 20.
Das Kühlmittel oder die siedbare Flüssigkeit 40 kann z. B.
ein flüssiges Kühlmittel sein, das unter dem Namen Fluor
inert bekannt ist. Fast jedes andere Fluid kann wegen sei
ner thermodynamischen Eigenschaften ausgewählt werden, wie
z. B. Wasser, Glykol, Alkohol und sogar flüssige Metalle
mit niedrigerem Schmelzpunkt. Alle diese Fluide werden im
folgenden kollektiverweise als siedbare Flüssigkeiten bezeich
net. Das Kühlmittel oder die Kühlflüssigkeit 40 wird bevorzugter
weise in der Siedekammer 16 untergebracht, und zwar in
einer Menge, die ausreicht, um vollständig die Rippen 21
abzudecken. Damit wird Wärmeenergie von den Chips 14 über
die Aluminiumnitridkörper 52 zu der Kühlplatte 20 und
zu den internen Kühlkörperrippen 21 transportiert, wo sie
dann zur Kühlflüssigkeit 40 verteilt wird.
Die Höhe der Temperaturdifferenz zwischen den Kühlkörperrip
pen 21 und der Kühlluft ist eine Funktion der siedbaren
Flüssigkeit, der Kondensatorgröße und des Rippenaufbaus,
der Luftströmung durch den Kondensator und anderer Parame
ter. Da es keine Elektronik gibt, die in dem Kühlmittel
40 untergetaucht ist, sind die dielektrischen Eigenschaften
von Fluorinert oder einer anderen siedbaren Flüssigkeit
nicht kritisch für die Erfindung. Das heißt, es können
andere, weniger teuere Kühlmittel mit besseren thermischen
Eigenschaften eingesetzt werden.
Beim Betrieb verdampft die freigesetzte Wärmeenergie, die
der Verdampfungskammer 16 zugeführt wird, das Kühlmittel
40, wobei der erzeugte Dampf bzw. das
Gas nach oben aus der Flüssigkeit heraussteigt. Dieses
Verdampfen oder Phasenändern der Flüssigkeit erfordert eine
hohe Energie bei konstanter Temperatur, wobei
diese Energie von der Kühlplatte 20 und den Rippen 21 abtransportiert
wird. Wegen seiner niedrigen Dichte wandert der Dampf
nach oben von der Kammer 16 über den Durchlaß
30 durch die Kammer 32 in den Kondensator
abschnitt, der durch die Kanäle 34 definiert ist. Der
Kondensator besteht aus einer Vielzahl von kühlenden
Kanälen 34 mit der gerippten Struktur 36.
Die Kanäle 34 und die gerippte Struktur 36 (siehe auch Fig. 2)
sind zur Luftkühlung über die offenen
Abstände bzw. Räume zwischen den Kanälen 34 und den Rip
pen 36 ausgelegt, wobei dieses Luftkühlen durch Ventilato
ren in dem Computergehäuse erzeugt wird. Wenn der Dampf
von der Siedekammer 16 zu den Kondensator-Kanälen 34
ansteigt, kommt er mit deren Oberflächen in Kontakt. Kühlende
Luft, die außerhalb der Kanäle
34 und der Rippen 36 vorbeiströmt, kühlt die Innen
seite der Kanäle 34, wodurch der Dampf kondensiert und eine
Phasenänderung zurück in die flüssige Phase bewirkt wird,
in welcher das Kühlmittel unter Schwerkraft zu der Siedekam
mer 16 zurückkehrt, um den Zyklus zu wiederholen. Diese
Konstruktion der Einheit 10 reduziert den thermischen Serien
widerstand bis zu dem Punkt, wo die luftgekühlten Rohre,
die aus den Komponenten 34 und 36 gebildet sind, dafür
sorgen, die Wärme abzuführen, die von den Chips 14
mit hohem Leistungsverbrauch erzeugt wird. Anders ausge
drückt, während des Betriebs erzeugen die Flüssigkeit und
der Wärmeeingang Dampf. Die Chips 14 erzeugen Wärme, die in
die Kühlplatte 20 und die Kühlkörperrippen 21 geleitet
wird. Diese erwärmt dann das Kühlmittel 40 bzw. bringt dann
das Kühlmittel 40 zum Sieden, um Dampf zu erzeugen. Der
sich ergebende Dampf steigt durch das flüssige Kühlmittel
40 über den Durchlaß 30 und die Kammer 32 in die Kondensa
torkanäle 34 auf, wo der Dampf seine Wärme abgibt und
in die flüssige Phase zurückkehrt. Die Flüssigkeit kehrt
dann unter Schwerkraft in die Siedekammer 16 zurück, wo der
Zyklus fortfährt, sich zu wiederholen. Dadurch entfällt
das Erfordernis einer Pumpe.
Elektrische Verbindungen von den Chips 14 zu dem Gehäuse
oder der gedruckten Leiterplatte 15 können durch den Ein
satz von TAB, PGA oder jeder anderen vergleichbaren Technik
ausgeführt werden. Die Chips 14 und die gesamte
Hardware sind außerhalb zu der Kühlplatte 20 und kom
men nicht mit der Kühlflüssigkeit 40 in Kontakt. Es besteht keine
Notwendigkeit, jemals die Kühlplatte 20 oder die Ein
heit 10 zu öffnen oder auseinanderzubauen. Die Einheit 10,
mit Kühlmittel 40 gefüllt, kann eigenständig als voll
ständig hermetisch abgedichtete Einheit zusammengebaut wer
den. Da es keine Fluidverbindungen gibt, die hergestellt
werden müssen oder brechen bzw. ausfallen könnten, ist
die hier beschriebene Vorrichtung
vom Herstellungsgesichtspunkt oder vom
Außendienstgesichtspunkt her vorteilhaft.
Durch die Trennung der zu kühlenden Chips 14 gegenüber dem
Kühlmittel 40 wird eine Anzahl von wichtigen Vorteilen er
reicht. Aus der Einheit 10 ergibt sich eine luftgekühlte
Vorrichtung zur Kühlung, die keine Materialkompati
bilitätsvoraussetzungen zwischen den Chips 14 und dem Kühl
mittel 40 benötigt. Die Chips 14 sind in thermischer Verbindung
nur mit der äußeren Oberfläche der Kühl
platte 20, wodurch jede Entfernung oder jedes Erset
zen irgendeines Chips vereinfacht wird. Schließlich verbes
sert das Design der Kühlplattenausnehmung 50 und der Einsatz
der Körper 52 den Wärmeübertragungsweg zwischen den Chips
14 und der Kühlplatte 20 so, daß, wenn Blasen oder
Hohlräume in den Ausnehmungen 50 vorhanden sind, die thermische
Leistungsfähigkeit nur leicht verschlechtert wird.
Kurz gesagt wird das Kühlen der Chips 14 auf der Multichipeinheit
12 durch den Einsatz einer isolierten, hermetisch abgedich
teten Einheit 10 mit einer abgedichteten Kammer 16 ausge
führt, die eine siedbare Flüssigkeit 40 beinhaltet, welche
physikalisch gegenüber den Chips 14 isoliert ist, damit
die Auswahl einer Flüssigkeit streng bezüglich ihrer ökono
mischen und wärmeübertragenden Eigenschaften stattfinden
kann. Das Koppeln der Flüssigkeiten mit den Kühlplattenauf
nahmen oder Ausnehmungen 50 erlaubt der Vorrichtung das Kühlen
von Chips 14 hohen Leistungsverbrauchs, wobei
Kühlluft über die Rippen 36 der Einheit 10 strömt und der
resultierende thermische Widerstand sehr gering ist. Es
müssen im Vergleich zum Stand der Technik die
dielektrischen und korrosiven Eigenschaften des Fluids 10
nicht mit Bezug auf eine mögliche Beschädigung oder Ver
schlechterung der Chips 14 in Betracht gezogen werden, da
die Chips 14 physikalisch gegenüber dem siedbaren
Fluid 40 getrennt sind und nicht in dieses eingetaucht
sind, und brauchen deshalb nur mit Bezug auf die Eigenschaf
ten des Materials, aus dem die Kammern aufgebaut sind, be
achtet werden. In der bevorzugten Ausführungsform bestehen
die Kammern und Kanäle
34 aus geeignetem wärmeübertragendem Metallmaterial, wie
z. B. Aluminium, Messing, Kupfer o. ä. In der bevorzugten
Ausführungsform bestehen die Kühlplatte 20 und die
Rippen 21 aus Kupfer, um eine maximale Wärmeübertragungsfähigkeit
der Einheit 10 zu gewährleisten.
Claims (7)
1. Luftgekühlte Anordnung zum Kühlen zumindest eines während des
Betriebes Wärme erzeugenden elektronischen Bauelements, das eine
wärmeabgebende Oberfläche aufweist, mit
- - einem ersten wärmeleitenden Element (20), das mit dem elektronischen Bauelement (14) wärmeleitend verbunden ist,
- - zumindest einem zweiten Element (52), das aus einem thermisch leitenden dielektrischen Material besteht,
- - einer Kammer (16), die teilweise von zumindest einem Abschnitt (21) des ersten wärmeleitenden Elements (20) gebildet ist,
- - einer siedbaren Kühlflüssigkeit (40) innerhalb der Kammer, wobei die Kühlflüssigkeit gegenüber dem zumindest einen elektronischen Bauelement (14) getrennt ist und in Abhängigkeit von der von dem zumindest einen Bauelement (14) über das erste wärmeleitende Element (20) übertragenen Wärme Kühlflüssigkeit (40) verdampft, und
- - einem Kondensator (34, 36), der mit der Kammer (16) in
Fluidverbindung steht, um die selbsttätige Kondensation der verdampften
Kühlflüssigkeit zu ermöglichen, wobei der Kondensator so angeordnet ist, daß die
Rückkehr der kondensierten Kühlflüssigkeit (40) zu der Kammer (16) mittels
Schwerkraft bewirkt wird,
dadurch gekennzeichnet, - - daß das zumindest eine zweite Element (52) aus dielektrischem Material die wärmeabgebende Oberfläche des elektronischen Bauelements (14) kontaktiert,
- - daß das zumindest eine zweite Element (52) aus dielektrischem Material zwischen dem elektronischen Bauelement (14) und dem ersten wärmeleitenden Element (20) angeordnet ist,
- - daß das erste wärmeleitende Element (20) eine Kühlplatte mit Rippen (21) zum Vergrößern der Kontaktfläche zwischen dem ersten wärmeleitenden Element (20) und der siedbaren Kühlflüssigkeit (40) aufweist, und
- - daß der Kondensator (34, 36) über die gesamte Breite der Kammer (16) mit der Kammer in Fluidverbindung steht.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kammer (16) und der Kondensator (34, 36)
als hermetisch abgedichtete Einheit mit der Kühlflüs
sigkeit (40) darin ausgebildet ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Kondensator (34, 36) auf seiner Außenseite zur
Kühlung der Dämpfe innerhalb des Kondensators eine zusätzliche Wärmeüber
tragungseinrichtung (36) zum Aussetzen gegen
über der Luftzirkulation hat.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Kondensator (34, 36) rohrförmige Kondensations
kanäle (34) umfaßt.
5. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß das dielektrische Material des zweiten Elements (52) Aluminiumnitrid ist.
6. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß das zweite Element (52) aus einem thermisch leiten
den Metall besteht, das zumindest teilweise mit einem di
elektrischen Material überzogen ist.
7. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der Kondensator äußere Rippen (36) aufweist, die der
Luftzirkulation ausgesetzt sind.
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4121447A1 DE4121447A1 (de) | 1992-01-23 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4121447A Expired - Fee Related DE4121447C2 (de) | 1990-06-29 | 1991-06-28 | Luftgekühlter Wärmeaustauscher für Vielchip-Baugruppen |
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---|---|
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GB (1) | GB2247073B (de) |
Families Citing this family (79)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5629840A (en) * | 1992-05-15 | 1997-05-13 | Digital Equipment Corporation | High powered die with bus bars |
FR2699365B1 (fr) * | 1992-12-16 | 1995-02-10 | Alcatel Telspace | Système de dissipation de l'énergie calorifique dégagée par un composant électronique. |
FR2701625B1 (fr) * | 1993-02-15 | 1995-05-24 | Advanced Computer | Assemblage de cartes d'un système informatique rapide. |
US5471850A (en) * | 1993-07-09 | 1995-12-05 | Acurex Corporation | Refrigeration system and method for very large scale integrated circuits |
US5704416A (en) * | 1993-09-10 | 1998-01-06 | Aavid Laboratories, Inc. | Two phase component cooler |
US5458189A (en) * | 1993-09-10 | 1995-10-17 | Aavid Laboratories | Two-phase component cooler |
US6357517B1 (en) | 1994-07-04 | 2002-03-19 | Denso Corporation | Cooling apparatus boiling and condensing refrigerant |
JP3525498B2 (ja) * | 1994-07-13 | 2004-05-10 | 株式会社デンソー | 沸騰冷却装置 |
JP3216770B2 (ja) * | 1995-03-20 | 2001-10-09 | カルソニックカンセイ株式会社 | 電子部品用冷却装置 |
JP3255818B2 (ja) * | 1995-03-20 | 2002-02-12 | カルソニックカンセイ株式会社 | 電子部品用冷却装置 |
JPH08264694A (ja) * | 1995-03-20 | 1996-10-11 | Calsonic Corp | 電子部品用冷却装置 |
US5549155A (en) * | 1995-04-18 | 1996-08-27 | Thermacore, Inc. | Integrated circuit cooling apparatus |
JPH098190A (ja) * | 1995-06-22 | 1997-01-10 | Calsonic Corp | 電子部品用冷却装置 |
US5587880A (en) * | 1995-06-28 | 1996-12-24 | Aavid Laboratories, Inc. | Computer cooling system operable under the force of gravity in first orientation and against the force of gravity in second orientation |
US5655598A (en) * | 1995-09-19 | 1997-08-12 | Garriss; John Ellsworth | Apparatus and method for natural heat transfer between mediums having different temperatures |
JP3651081B2 (ja) * | 1995-10-06 | 2005-05-25 | 株式会社デンソー | 沸騰冷却装置 |
US5737923A (en) * | 1995-10-17 | 1998-04-14 | Marlow Industries, Inc. | Thermoelectric device with evaporating/condensing heat exchanger |
FR2746177B1 (fr) * | 1996-03-14 | 2000-04-07 | Dispositif de refroidissement utilisant un refrigerant en ebullition et se condensant | |
US6333849B1 (en) | 1996-07-01 | 2001-12-25 | Compaq Computer Corporation | Apparatus for liquid cooling of specific computer components |
US6288895B1 (en) * | 1996-09-30 | 2001-09-11 | Intel Corporation | Apparatus for cooling electronic components within a computer system enclosure |
US6082443A (en) * | 1997-02-13 | 2000-07-04 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Cooling device with heat pipe |
US6005772A (en) * | 1997-05-20 | 1999-12-21 | Denso Corporation | Cooling apparatus for high-temperature medium by boiling and condensing refrigerant |
US5847925A (en) * | 1997-08-12 | 1998-12-08 | Compaq Computer Corporation | System and method for transferring heat between movable portions of a computer |
US5940270A (en) * | 1998-07-08 | 1999-08-17 | Puckett; John Christopher | Two-phase constant-pressure closed-loop water cooling system for a heat producing device |
US6212074B1 (en) * | 2000-01-31 | 2001-04-03 | Sun Microsystems, Inc. | Apparatus for dissipating heat from a circuit board having a multilevel surface |
US6504721B1 (en) * | 2000-09-29 | 2003-01-07 | Intel Corporation | Thermal cooling apparatus |
US6474074B2 (en) * | 2000-11-30 | 2002-11-05 | International Business Machines Corporation | Apparatus for dense chip packaging using heat pipes and thermoelectric coolers |
US6452798B1 (en) * | 2001-09-12 | 2002-09-17 | Harris Corporation | Electronic module including a cooling substrate having a fluid cooling circuit therein and related methods |
US7000691B1 (en) * | 2002-07-11 | 2006-02-21 | Raytheon Company | Method and apparatus for cooling with coolant at a subambient pressure |
US6937471B1 (en) * | 2002-07-11 | 2005-08-30 | Raytheon Company | Method and apparatus for removing heat from a circuit |
US6710442B1 (en) * | 2002-08-27 | 2004-03-23 | Micron Technology, Inc. | Microelectronic devices with improved heat dissipation and methods for cooling microelectronic devices |
US6957550B2 (en) * | 2003-05-19 | 2005-10-25 | Raytheon Company | Method and apparatus for extracting non-condensable gases in a cooling system |
KR100590809B1 (ko) * | 2003-10-25 | 2006-06-19 | 한국과학기술연구원 | 히트 스프레더 |
US7003971B2 (en) * | 2004-04-12 | 2006-02-28 | York International Corporation | Electronic component cooling system for an air-cooled chiller |
US20050262861A1 (en) * | 2004-05-25 | 2005-12-01 | Weber Richard M | Method and apparatus for controlling cooling with coolant at a subambient pressure |
JP2006015323A (ja) * | 2004-05-31 | 2006-01-19 | Nissan Motor Co Ltd | マイクロチャネル型蒸発器及びそれを用いたシステム |
US20050274139A1 (en) * | 2004-06-14 | 2005-12-15 | Wyatt William G | Sub-ambient refrigerating cycle |
US8341965B2 (en) | 2004-06-24 | 2013-01-01 | Raytheon Company | Method and system for cooling |
JP2006086274A (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層バリスタ,積層バリスタの実装構造及びバリスタモジュール |
US7212403B2 (en) | 2004-10-25 | 2007-05-01 | Rocky Research | Apparatus and method for cooling electronics and computer components with managed and prioritized directional air flow heat rejection |
US7254957B2 (en) * | 2005-02-15 | 2007-08-14 | Raytheon Company | Method and apparatus for cooling with coolant at a subambient pressure |
EP1859336A2 (de) * | 2005-03-07 | 2007-11-28 | Asetek A/S | Kühlsystem für elektronische geräte, insbesondere computer |
DE102005012350B4 (de) * | 2005-03-07 | 2008-04-03 | Asetek A/S | Kühlsystem für elektronische Geräte, insbesondere Computer |
US7394655B1 (en) * | 2005-03-07 | 2008-07-01 | O'keeffe William F | Absorptive cooling for electronic devices |
TWI311363B (en) * | 2005-04-22 | 2009-06-21 | Foxconn Tech Co Ltd | Boiling chamber cooling device |
US7265975B2 (en) * | 2005-11-01 | 2007-09-04 | Hua-Hsin Tsai | CPU heat dissipating device structure |
US20070119572A1 (en) | 2005-11-30 | 2007-05-31 | Raytheon Company | System and Method for Boiling Heat Transfer Using Self-Induced Coolant Transport and Impingements |
US20070119568A1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-05-31 | Raytheon Company | System and method of enhanced boiling heat transfer using pin fins |
US7422052B2 (en) * | 2006-04-20 | 2008-09-09 | Delphi Technologies, Inc. | Low profile thermosiphon |
US7908874B2 (en) | 2006-05-02 | 2011-03-22 | Raytheon Company | Method and apparatus for cooling electronics with a coolant at a subambient pressure |
US7369410B2 (en) * | 2006-05-03 | 2008-05-06 | International Business Machines Corporation | Apparatuses for dissipating heat from semiconductor devices |
US20070295484A1 (en) * | 2006-06-23 | 2007-12-27 | Hua-Hsin Tsai | Superconducting tube |
US20080011455A1 (en) * | 2006-07-17 | 2008-01-17 | Sunonwealth Electric Machine Industry Co., Ltd. | Composite heat-dissipating module |
US8651172B2 (en) | 2007-03-22 | 2014-02-18 | Raytheon Company | System and method for separating components of a fluid coolant for cooling a structure |
TWI423403B (zh) | 2007-09-17 | 2014-01-11 | Ibm | 積體電路疊層 |
US7921655B2 (en) | 2007-09-21 | 2011-04-12 | Raytheon Company | Topping cycle for a sub-ambient cooling system |
US8262263B2 (en) * | 2007-11-16 | 2012-09-11 | Khanh Dinh | High reliability cooling system for LED lamps using dual mode heat transfer loops |
JP2009135142A (ja) * | 2007-11-28 | 2009-06-18 | Toyota Industries Corp | 沸騰冷却装置 |
US7934386B2 (en) | 2008-02-25 | 2011-05-03 | Raytheon Company | System and method for cooling a heat generating structure |
US7907409B2 (en) | 2008-03-25 | 2011-03-15 | Raytheon Company | Systems and methods for cooling a computing component in a computing rack |
US8014150B2 (en) * | 2009-06-25 | 2011-09-06 | International Business Machines Corporation | Cooled electronic module with pump-enhanced, dielectric fluid immersion-cooling |
US8490679B2 (en) * | 2009-06-25 | 2013-07-23 | International Business Machines Corporation | Condenser fin structures facilitating vapor condensation cooling of coolant |
US8018720B2 (en) * | 2009-06-25 | 2011-09-13 | International Business Machines Corporation | Condenser structures with fin cavities facilitating vapor condensation cooling of coolant |
US8059405B2 (en) * | 2009-06-25 | 2011-11-15 | International Business Machines Corporation | Condenser block structures with cavities facilitating vapor condensation cooling of coolant |
EP2328172B1 (de) * | 2009-10-02 | 2019-06-26 | Abb Research Ltd. | Leistungselektronikanordnung |
US8094454B2 (en) * | 2009-11-23 | 2012-01-10 | Delphi Technologies, Inc. | Immersion cooling apparatus for a power semiconductor device |
DE102010009762A1 (de) | 2010-03-01 | 2011-09-01 | Lewin Industries Gmbh | Verdampfungskühlkörper |
CN102869943A (zh) * | 2010-05-19 | 2013-01-09 | 日本电气株式会社 | 沸腾冷却装置 |
US20130044431A1 (en) * | 2011-08-18 | 2013-02-21 | Harris Corporation | Liquid cooling of stacked die through substrate lamination |
US9366394B2 (en) * | 2012-06-27 | 2016-06-14 | Flextronics Ap, Llc | Automotive LED headlight cooling system |
JP6127429B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2017-05-17 | 富士通株式会社 | 冷却装置及び電子装置 |
US9357675B2 (en) | 2013-10-21 | 2016-05-31 | International Business Machines Corporation | Pump-enhanced, immersion-cooling of electronic component(s) |
JP6860005B2 (ja) * | 2016-03-31 | 2021-04-14 | 日本電気株式会社 | 相変化冷却器、及び電子機器 |
US20200236806A1 (en) * | 2019-01-18 | 2020-07-23 | United Arab Emirates University | Heat sink with internal chamber for phase change material |
TWI718485B (zh) * | 2019-02-27 | 2021-02-11 | 雙鴻科技股份有限公司 | 熱交換裝置 |
US11769710B2 (en) * | 2020-03-27 | 2023-09-26 | Xilinx, Inc. | Heterogeneous integration module comprising thermal management apparatus |
EP4015972A1 (de) * | 2020-12-21 | 2022-06-22 | ABB Schweiz AG | Wärmeableitungsvorrichtung |
TWI801017B (zh) * | 2021-12-06 | 2023-05-01 | 建準電機工業股份有限公司 | 液冷散熱裝置、具有該液冷散熱裝置的液冷散熱系統及電子裝置 |
US11856689B2 (en) | 2022-01-28 | 2023-12-26 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Power electronics assemblies and methods of fabricating the same |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3143592A (en) * | 1961-11-14 | 1964-08-04 | Inland Electronics Products Co | Heat dissipating mounting structure for semiconductor devices |
US3476175A (en) * | 1967-11-02 | 1969-11-04 | Bell Telephone Labor Inc | Vapor-phase cooling of electronic components |
US3609991A (en) * | 1969-10-13 | 1971-10-05 | Ibm | Cooling system having thermally induced circulation |
US3716759A (en) * | 1970-10-12 | 1973-02-13 | Gen Electric | Electronic device with thermally conductive dielectric barrier |
DE2107010A1 (de) * | 1971-02-13 | 1972-08-17 | Bbc Brown Boveri & Cie | Einrichtung zur Kühlung von Leistungs-Halbleiterbauelementen |
US3852805A (en) * | 1973-06-18 | 1974-12-03 | Gen Electric | Heat-pipe cooled power semiconductor device assembly having integral semiconductor device evaporating surface unit |
JPS50116283A (de) * | 1974-02-27 | 1975-09-11 | ||
JPS5241149B2 (de) * | 1974-03-16 | 1977-10-17 | ||
US4027728A (en) * | 1975-03-31 | 1977-06-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Vapor cooling device for semiconductor device |
JPS5936827B2 (ja) * | 1979-01-12 | 1984-09-06 | 日本電信電話株式会社 | 集積回路素子の冷却装置 |
SE8003579L (sv) * | 1980-05-13 | 1981-11-14 | Ericsson Telefon Ab L M | Kylanordning for diskreta eller pa kretskort monterade elektroniska komponenter |
DE3402538A1 (de) * | 1984-01-26 | 1985-08-01 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Waermeableitende befestigung |
JPS60163808A (ja) * | 1984-02-06 | 1985-08-26 | Kao Corp | 化粧料 |
JPH0325412Y2 (de) * | 1985-09-17 | 1991-06-03 | ||
DE3604074A1 (de) * | 1986-02-08 | 1987-08-13 | Bosch Gmbh Robert | Zuendschaltgeraet |
US4805691A (en) * | 1986-12-22 | 1989-02-21 | Sundstrand Corporation | Cooling technique for compact electronics inverter |
US4768581A (en) * | 1987-04-06 | 1988-09-06 | International Business Machines Corporation | Cooling system for semiconductor modules |
EP0298372B1 (de) * | 1987-07-10 | 1993-01-13 | Hitachi, Ltd. | Halbleiter-Kühlungsapparat |
US4996589A (en) * | 1987-10-21 | 1991-02-26 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor module and cooling device of the same |
US4899256A (en) * | 1988-06-01 | 1990-02-06 | Chrysler Motors Corporation | Power module |
US4944344A (en) * | 1988-10-31 | 1990-07-31 | Sundstrand Corporation | Hermetically sealed modular electronic cold plate utilizing reflux cooling |
-
1990
- 1990-06-29 US US07/546,118 patent/US5168919A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-06-14 GB GB9112887A patent/GB2247073B/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-27 JP JP3181556A patent/JPH0744246B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1991-06-28 DE DE4121447A patent/DE4121447C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-28 CA CA002046009A patent/CA2046009A1/en not_active Abandoned
- 1991-06-28 FR FR9108102A patent/FR2664033B1/fr not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04233259A (ja) | 1992-08-21 |
DE4121447A1 (de) | 1992-01-23 |
FR2664033A1 (fr) | 1992-01-03 |
FR2664033B1 (fr) | 1999-03-12 |
GB2247073A (en) | 1992-02-19 |
GB9112887D0 (en) | 1991-07-31 |
CA2046009A1 (en) | 1991-12-30 |
GB2247073B (en) | 1994-03-30 |
US5168919A (en) | 1992-12-08 |
JPH0744246B2 (ja) | 1995-05-15 |
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