DE4114410A1 - Halbleiterbauelement mit nichtfluechtigem speicher - Google Patents
Halbleiterbauelement mit nichtfluechtigem speicherInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Halbleiterbauelement mit
nichtflüchtigem Speicher, insbesondere auf ein solches mit
einem elektrisch löschbaren und programmierbaren Festwert
speicherbauelement (EEPROM).
Da Halbleiterbauelemente in jüngster Zeit immer hochintegrier
ter und vielfältiger werden, finden demgemäß IC-Karten mit
EEPROM-Bauelementen weit verbreitete Anwendung. Die IC-Karten
weisen bessere Geheimhaltungs-, Sicherheits-, Datenverarbei
tungs- und Organisationsfunktionen auf als Magnetkarten, so daß
sich ihre Anwendungsgebiete rasch erweitern. In der Vergangen
heit wurden in IC-Karten zwei Chips, nämlich ein Mikrocomputer-
und ein EEPROM-Chip verwendet. Gegenwärtig werden Produkte mit
dem Mikrocomputer und dem EEPROM auf einem einzigen Chip herge
stellt und es werden Bauelemente erforscht, welche geringere
Herstellungskosten und für die jeweiligen Anwendungsgebiete
nötige zusätzliche Funktionen aufweisen.
Um die Geheimhaltung sicherzustellen, können in IC-Karten ver
wendete EEPROMs üblicherweise einen speziellen, vom Benutzer
eingegebenen, geheimen Zugangscode abspeichern, wobei der ge
heime Zugangscode zweimal eingegeben werden muß, um das Entste
hen von Fehlern zu vermeiden, wenn der geheime Zugangscode ein
gegeben oder geändert wird.
Dementsprechend enthält ein in Fig. 4 gezeigtes, bekanntes
EEPROM einen mit einem Eingangsanschluß (DIN) verbundenen
Dateneingabepuffer (10), zwei Register (12 und 14), einen
Komparator (16), eine Speicherzellenmatrix (18) und zusätzliche
Zellen (20) zur Speicherung des geheimen Zugangscodes. Zur
erstmaligen Festlegung des geheimen Zugangscodes wird dieser in
das bekannte EEPROM zweimal hintereinander über den Datenein
gabepuffer (10) eingegeben, wobei der erste geheime Zugangscode
in das A-Register (12) und der zweite in das B-Register (14)
gelangt. Der Komparator (16) vergleicht die geheimen Zugangsco
des, die in das A-Register (12) und das B-Register (14) einge
geben wurden. Wenn die geheimen Zugangscodes nicht übereinstim
men, wird ein Fehlersignal erzeugt, wenn sie übereinstimmen,
wird dagegen ein Sicherheitsmodus festgelegt, indem der einge
gebene geheime Zugangscode in die zusätzlichen Zellen (20) ge
schrieben wird. Nach Festlegung des Sicherheitsmodus wird ein
autorisierter Benutzer erkannt, wenn der eingegebene geheime
Zugangscode und ein zuvor abgespeicherter geheimer Zusatzcode
übereinstimmen, und es kann die nächste Befehlsfolge ausgeführt
werden. Wenn die Codes nicht übereinstimmen, wird ein Fehler
signal erzeugt, das einen nicht autorisierten Benutzer anzeigt.
Eine Änderung des festgelegten geheimen Zugangscodes geschieht
nach folgender Methode. Ein zuvor festgelegter geheimer Zugangs
code, d. h. ein alter, in den zusätzlichen Zellen (20) abgespei
cherter, geheimer Zugangscode wird in das A-Register (12) ein
gegeben. Ebenso wird ein bisheriger, geheimer Zugangscode vom
Benutzer eingegeben und gelangt über den Dateneingabepuffer
(10) in das B-Register (14). Die geheimen Zugangscodes im A-
und B-Register (12 und 14) werden daraufhin im Komparator (16)
verglichen. Wenn die Codes nicht übereinstimmen, wird ein Feh
lersignal erzeugt, wenn sie hingegen übereinstimmen, kann der
Benutzer einen neuen Zugangscode festlegen. Ein neuer, vom Be
nutzer eingegebener Zugangscode gelangt in das A-Register (12)
und ein neuer Zugangscode zur Identifizierung wird in das B-Re
gister (14) eingegeben. Danach werden die neuen Zugangscodes im
Komparator (16) verglichen. Wenn sie nicht übereinstimmen, wird
ein einen nicht autorisierten Benutzer anzeigendes Fehlersignal
erzeugt, wenn sie übereinstimmen, ist die Festlegung des neuen
Zugangscodes abgeschlossen und ein autorisierter Benutzer
erkannt.
Aufgrund des oben beschriebenen Vorgehens ist der Chip über
mäßig groß und, wenn der geheime Zugangscode geschrieben oder
geändert wird, ist die Signalsteuerung übermäßig komplex, weil
das bekannte EEPROM zwei Register oder einen Zwischenspeicher
zum Vergleichen der beiden geheimen Zugangscodes und zusätz
liche Zellen (20) aufweist, die im Inneren eines EEPROM-Chip
zum Einschreiben des geheimen Zugangscodes zusätzlich zur
Speicherzellenmatrix (18) vorgesehen sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Halbleiterbauele
ment mit nichtflüchtigem Speicher zu schaffen, bei dem die
Chipgröße durch Vermeidung zusätzlich zu einer Speicherzellen
matrix vorgesehener Zellen für das Einschreiben eines geheimen
Zugangscodes und eines von zwei zum Vergleichen der geheimen
Zugangscodes in einem EEPROM erforderlichen Register verringert
ist.
Diese Aufgabe wird durch ein Halbleiterbauelement mit nicht
flüchtigem Speicher gemäß den Merkmalen des Patentanspruchs 1
gelöst.
Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung sowie zu deren
besserem Verständnis zum Vergleich ein bekanntes Ausführungs
beispiel sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nach
folgend beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm eines erfindungsgemäßen EEPROMs im
Ausschnitt zur Erläuterung der erfindungsgemäßen
Vergleichsfunktion der geheimen Zugangscodes,
Fig. 2 ein Schaltkreisdiagramm des I/0-Registers in Fig. 1,
Fig. 3 ein Flußdiagramm eines Programmablaufs zur Durch
führung von Befehlen für die erfindungsgemäße Fest
legung des geheimen Zugangscodes in EEPROMs und
Fig. 4 ein Blockdiagramm, welches die Vergleichsfunktion von
geheimen Zugangscodes in einem bekannten EEPROM (nach
dem Stand der Technik) veranschaulicht.
Wie in Fig. 1 dargestellt, enthält ein erfindungsgemäßes EEPROM
eine Mehrzahl von Wortleitungen (WL), Bitleitungen (BL), Lese
leitungen (SL), eine Speicherzellenmatrix (40) mit einer Viel
zahl von EEPROM-Zellen (CE), eine Seitenpuffereinrichtung (38),
Spaltenauswahltransistoren (CT), Datenleitungen (DLo bis DLn),
einen Eingabetreiber/Leseverstärker (34), eine Eingabepuffer
einrichtung (30), ein Eingabe/Ausgabe-Register (32) und einen
Komparator (36). Die Wortleitungen (WL) werden von einem
nichtdargestellten Zeilendecoder und die Bitleitungen (BL)
durch Spaltenauswahlsignale (Yo bis Yn) eines nicht dargestell
ten Spaltendecoders ausgewählt.
In der Seitenpuffereinrichtung (38) sind eine Mehrzahl von
Puffern mit der Mehrzahl von Bitleitungen (BL) und Leseleitun
gen (SL) über jeweilige Transistoren (BT und ST) verbunden. Die
mit den Bitleitungen (BL) verbundenen Puffer sind über die
Transistoren (BT), die von einem Bitleitungsauswahlsignal (SBL)
geschaltet werden, und die mit den Leseleitungen (SL) verbunde
nen Puffer über die Transistoren (ST), die durch ein Leselei
tungsauswahlsignal (SSL) geschaltet werden, angeschlossen. Die
Spaltenauswahltransistoren (CT) sind mit den Leseleitungen (SL)
und mit den Enden der Bitleitungen (BL) und der Datenleitungen
(DL), die gleichzeitig byteweise leitend geschaltet werden,
verbunden. Die Bitleitungen sind über die Spaltenauswahl
transistoren (CT) mit den Datenleitungen (DLo bis DLn) verbun
den. Der Eingabetreiber/Leseverstärker (34) treibt Eingabedaten
parallel in die Datenleitungen und gibt zu den Datenleitungen
geführte Zellendaten unter Lesen und Verstärken derselben
parallel aus. Die Eingabepuffereinrichtung (30) puffert die am
Eingabeanschluß (DIN) seriell eingegebenen Daten. Das
Eingabe/Ausgabe-Register (32) gibt die durch die Eingabepuffer
einrichtung (30) gepufferten seriellen Eingabedaten seriell
weiter, wandelt diese mit dem Eingangstreiber/Leseverstärker
(34) in parallele Daten um und führt die seriellen Daten einem
Eingangsanschluß des Komparators (36) zu. Der Komparator (36)
vergleicht die seriellen Ausgangsdaten des Eingabe/Ausgabe-
Registers (32) mit den durch die Eingabepuffereinrichtung (30)
gepufferten seriellen Eingabedaten. Mit einer der Wortleitungen
der Speicherzellenmatrix (40) verbundene Zellen werden als
ausgewählte Zellen für das Einschreiben des geheimen Zugangs
codes benutzt. Die ausgewählten Zellen können Leerzellen
(Dummyzellen) sein.
In dem in Fig. 2 dargestellten Eingabe/Ausgabe-Register (32)
sind ein erstes (32a) bis n-tes Register (32n) seriell mit den
jeweils benachbarten Registern verbunden, wobei das erste
Register (32a) zur Speicherung des Paritätsbits und das zweite
(32b) bis n-te (32n) Register für die Abspeicherung der Daten
bits benutzt werden. Jedes Register besitzt einen eingangs
seitigen Transistor (T1), dessen Gate mit einem invertierten
Taktsignal (CLOCKB) beaufschlagt ist, einen eingangsseitigen
Zwischenspeicher (L1), einen Verbindungstransistor (T3), dessen
Gate mit einem Taktsignal (CLOCK) beaufschlagt ist, sowie einen
ausgangsseitigen Zwischenspeicher (L2). Der eingangsseitige
Zwischenspeicher (L1) besteht aus einem Rückkopplungstransistor
(T2), der vom Taktsignal (CLOCK) geschaltet wird, einem
NOR-Gatter (NOR 1) sowie einem zwischen Source und Drain des
Rückkopplungstransistors (T2) eingeschleiften Inverter (INV1).
Der ausgangsseitige Zwischenspeicher (L2) hat den gleichen
Aufbau und besteht aus einem mit dem invertierten Taktsignal
(CLOCKB) beaufschlagten Rückkopplungstransistor (T4), einem
NOR-Gatter (NOR2) und einem Inverter (INV2). Dem eingangs
seitigen Zwischenspeicher (L1) sind die Zellendaten über die
Datenleitung (DLo) zugeführt, und der ausgangsseitige Zwischen
speicher (L2) ist mit der Datenleitung (DLo) verbunden, um die
Eingabedaten zu der Datenleitung (DLo) zurückzuführen. Die
Chipgröße des erfindungsgemäßen EEPROM ist verglichen mit der
konventionellen dadurch geringer, daß eine separate Speicher
zelle für das Einschreiben des geheimen Zugangscodes durch eine
ausgewählte Zellenzeile (42) der Speicherzellenmatrix (40)
ersetzt wird, und daß eines von zwei Eingabe/Ausgabe-Registern
entfällt, an dessen Stelle der Seitenpuffer (38) tritt.
Genauer gesagt, wird erfindungsgemäß der erste geheime Zugangs
code im Seitenpuffer (38) zwischengespeichert, dieser zwischen
gespeicherte, erste geheime Zugangscode wird byteweise in das
Eingabe/Ausgabe-Register (32) ausgelesen und im Komparator mit
dem zweiten, über den Eingabepuffer (30) eingegebenen, geheimen
Zugangscode verglichen. Wenn der erste und der zweite Zugangs
code übereinstimmen, wird der erste, im Seitenpuffer (38)
zwischengespeicherte, geheime Zugangscode in die ausgewählten
Zellen (42) eingeschrieben, so daß der geheime Zugangscode
festgelegt ist, während hingegen, wenn der erste und zweite
Zugangscode nicht übereinstimmen, ein Fehlersignal erzeugt
wird.
Unter Bezugnahme auf Fig. 3 wird nachfolgend ein Programmablauf
zur Festlegung des Geheimmodus erläutert.
Der geheime Zugangscode ist aus acht Byte zusammengesetzt und
in den ausgewählten Speicherzellen (42) der Speicherzellen
matrix (40) aufgezeichnet. Um eine Änderung des geheimen
Zugangscodes durch einen nichtautorisierten Benutzer zu ver
hindern, wird der MACC(Zugangscodemodifizerungs)-Befehl ge
setzt, wobei die Ausführung des MACC-Befehls eine dreischrit
tige Codeeingabe erfordert. Wenn der MACC-Befehl eingegeben
wird, decodiert das EEPROM den Befehlscode (Schritt 100) und
geht in den MACC-Modus über. Wenn dann ein geheimer Zugangscode
festgelegt wurde (Schritt 200), werden die ausgewählten Zellen
(42) innerhalb der Speicherzellenmatrix (40) selektiert, um die
Daten des Bytes "0" zu lesen und sie in das Eingabe/Ausgabe-
Register (32) einzugeben. Die Daten des alten geheimen Zugangs
codes, die in das Eingabe/Ausgabe-Register (32) ausgelesen
wurden, werden in dem Komparator (36) bitweise mit den über den
Eingabepuffer (30) eingegebenen Daten verglichen. Der alte, n
Bytes umfassende, geheime Zugangscode wird für die übrigen
Bytes in derselben Weise wie oben beschrieben mit dem eingege
benen geheimen Zugangscode verglichen (Schritt 250). Wenn die
Codes übereinstimmen (Schritt 300), wird der erste, neue, vom
Benutzer eingegebene Zugangscode über den Dateneingabepuffer
(30) und das Eingabe/Ausgabe- Register (32) in dem Seitenpuffer
(38) zwischengespeichert (Schritt 400). Wenn daraufhin ein
neuer Zugangscode zur Identifizierung eingegeben wird, werden
die im Seitenpuffer (38) zwischengespeicherten Daten durch
Lesen und Verstärken derselben mittels des Eingabetreibers/-
Leseverstärkers (34) dem Eingabe/Ausgabe-Register (32) zuge
führt, und gelesener sowie eingegebener Zugangscode werden Bit
für Bit im Komparator (36) in der oben beschriebenen Weise
verglichen (Schritt 450). Wenn diese übereinstimmen (Schritt
500), wird der neue Zugangscode in die ausgewählten Zellen (42)
eingeschrieben und somit als neuer Zugangscode definiert
(Schritt 600). Wenn die Codes im Schritt 200 nicht überein
stimmen, werden sie gemäß Schritt 400 weiterbehandelt, und wenn
sie während der Schritte 300 oder 500 nicht übereinstimmen,
erzeugt der Komparator (36) ein Fehlersignal zum Stoppen des
Systembetriebs.
Die vorliegende Erfindung vergleicht zwei geheime Zugangscodes
unter Benutzung der Seitenpuffereinrichtung und schreibt den
geheimen Zugangscode in ausgewählte, mit einer Wortleitung im
EEPROM verbundene Zellen unter Ausführung eines Seitenmodus
ein, in welchem Daten durch Bytes eingeschrieben werden, so daß
die Chipgröße im Vergleich mit bekannten EEPROMs verkürzt ist.
Die vorliegende Erfindung ermöglicht daher gegenüber dem
Bekannten einen wirtschaftlicheren Einsatz.
Claims (5)
1. Halbleiterbauelement mit nichtflüchtigem Speicher, be
stehend aus:
einer Mehrzahl von Wortleitungen (WL) in Zeilenrichtung;
einer Mehrzahl von die Wortleitungen (WL) überschneidenden Bit leitungen (BL) in Spaltenrichtung;
einer Mehrzahl von Leseleitungen (SL), von denen sich jeweils eine für ein Byte der Bitleitungen (BL) in Spaltenrichtung erstreckt;
einer Mehrzahl nichtflüchtiger Halbleiterspeicherzellen (CE), die jeweils an den Schnittstellen der Wortleitungen (WL) und Bitleitungen (BL) angeordnet und durch die Leseleitungen (SL) blockweise gruppiert sind;
einer Seitenpuffereinrichtung (38), die aus einer Mehrzahl von mit den Bitleitungen (BL) und den Leseleitungen (SL) verbunde nen Seitenpuffern besteht;
einer Mehrzahl von Spaltenauswahltransistoren (CT), die mit den Leseleitungen (SL) und mit den Enden der Bitleitungen (BL) und Datenleitungen (DL) verbunden sind und gleichzeitig byteweise angeschaltet werden;
einer Mehrzahl von Datenleitungen (DLo bis DLn), die über die Spaltenauswahltransistoren (CT) mit den Bitleitungen (BL) ver bunden sind;
einem Dateneingabetreiber/Leseverstärker (34) zum Treiben paralleler Eingabedaten in die Datenleitungen und zur paralle len Ausgabe durch Lesen und Verstärken der in die Datenleitun gen geladenen Zellendaten;
einer Eingabepuffereinrichtung (30) zum Puffern serieller, an einem Eingabeanschluß (DIN) anliegender Eingabedaten;
einem Eingabe/Ausgabe-Register (32) zur seriellen Eingabe serieller, durch die Dateneingabepuffereinrichtung (30) ge pufferter Daten und zur Umwandlung derselben in parallele Daten mit dem Eingabetreiber/Leseverstärker (34) sowie zur seriellen Ausgabe der Daten;
einem Komparator (36) zum Vergleichen der seriellen, von der Eingabepuffereinrichtung (30) gepufferten Eingabedaten mit den seriellen Ausgabedaten des Eingabe/Ausgabe-Registers (32);
wobei ein geheimer Zugangscode dergestalt festgelegt wird, daß ein erster geheimer Zugangscode in der Seitenpuffereinrichtung (38) zwischengespeichert, ein zweiter geheimer, über die Eingabepuffereinrichtung (30) eingegebener Zugangscode mit dem ersten geheimen, byteweise vom Eingabe/Ausgabe-Register (32) gelesenen Zugangscode im Komparator (36) verglichen wird, wobei der erste geheime, in der Seitenpuffereinrichtung (38) zwischen gespeicherte Zugangscode in zuvor aus den nichtflüchtigen Speicherzellen (CE) ausgewählte Zellen (42) einer Zeile ein geschrieben wird, wenn der erste und zweite Zugangscode über einstimmen.
einer Mehrzahl von Wortleitungen (WL) in Zeilenrichtung;
einer Mehrzahl von die Wortleitungen (WL) überschneidenden Bit leitungen (BL) in Spaltenrichtung;
einer Mehrzahl von Leseleitungen (SL), von denen sich jeweils eine für ein Byte der Bitleitungen (BL) in Spaltenrichtung erstreckt;
einer Mehrzahl nichtflüchtiger Halbleiterspeicherzellen (CE), die jeweils an den Schnittstellen der Wortleitungen (WL) und Bitleitungen (BL) angeordnet und durch die Leseleitungen (SL) blockweise gruppiert sind;
einer Seitenpuffereinrichtung (38), die aus einer Mehrzahl von mit den Bitleitungen (BL) und den Leseleitungen (SL) verbunde nen Seitenpuffern besteht;
einer Mehrzahl von Spaltenauswahltransistoren (CT), die mit den Leseleitungen (SL) und mit den Enden der Bitleitungen (BL) und Datenleitungen (DL) verbunden sind und gleichzeitig byteweise angeschaltet werden;
einer Mehrzahl von Datenleitungen (DLo bis DLn), die über die Spaltenauswahltransistoren (CT) mit den Bitleitungen (BL) ver bunden sind;
einem Dateneingabetreiber/Leseverstärker (34) zum Treiben paralleler Eingabedaten in die Datenleitungen und zur paralle len Ausgabe durch Lesen und Verstärken der in die Datenleitun gen geladenen Zellendaten;
einer Eingabepuffereinrichtung (30) zum Puffern serieller, an einem Eingabeanschluß (DIN) anliegender Eingabedaten;
einem Eingabe/Ausgabe-Register (32) zur seriellen Eingabe serieller, durch die Dateneingabepuffereinrichtung (30) ge pufferter Daten und zur Umwandlung derselben in parallele Daten mit dem Eingabetreiber/Leseverstärker (34) sowie zur seriellen Ausgabe der Daten;
einem Komparator (36) zum Vergleichen der seriellen, von der Eingabepuffereinrichtung (30) gepufferten Eingabedaten mit den seriellen Ausgabedaten des Eingabe/Ausgabe-Registers (32);
wobei ein geheimer Zugangscode dergestalt festgelegt wird, daß ein erster geheimer Zugangscode in der Seitenpuffereinrichtung (38) zwischengespeichert, ein zweiter geheimer, über die Eingabepuffereinrichtung (30) eingegebener Zugangscode mit dem ersten geheimen, byteweise vom Eingabe/Ausgabe-Register (32) gelesenen Zugangscode im Komparator (36) verglichen wird, wobei der erste geheime, in der Seitenpuffereinrichtung (38) zwischen gespeicherte Zugangscode in zuvor aus den nichtflüchtigen Speicherzellen (CE) ausgewählte Zellen (42) einer Zeile ein geschrieben wird, wenn der erste und zweite Zugangscode über einstimmen.
2. Halbleiterbauelement mit nichtflüchtigem Speicher nach
Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die mit den Bitlei
tungen (BL) verbundenen Puffer der Seitenpuffereinrichtung (38)
an diese jeweils über durch ein Bitleitungsauswahlsignal (SBL)
schaltbare Transistoren (BT) und die mit den Leseleitungen (SL)
verbundenen Puffer an diese jeweils über durch ein Leseauswahl
signal (SSL) schaltbare Transistoren (ST) angeschlossen sind.
3. Halbleiterbauelement mit nichtflüchtigem Speicher nach
Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Zellen in
der Reihe, in die der geheime Zugangscode eingeschrieben ist,
Leerzellen, i.e. Dummyzellen, sind.
4. Halbleiterbauelement mit nichtflüchtigem Speicher nach
einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
nichtflüchtigen Speicherzellen (CE) elektrisch löschbare,
programmierbare Festwertspeicherzellen sind.
5. Halbleiterbauelement mit nichtflüchtigem Speicher,
dadurch gekennzeichnet, daß der zweite geheime Zugangscode ein
Komplement des ersten geheimen Zugangscodes ist.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR940005696B1 (ko) * | 1991-11-25 | 1994-06-22 | 현대전자산업 주식회사 | 보안성 있는 롬(rom)소자 |
JPH0628264A (ja) * | 1992-07-10 | 1994-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置及びそのアクセス方法 |
EP0637035B1 (de) * | 1993-07-29 | 1996-11-13 | STMicroelectronics S.r.l. | Schaltungsstruktur für Speichermatrix und entsprechende Herstellungsverfahren |
US5513136A (en) * | 1993-09-27 | 1996-04-30 | Intel Corporation | Nonvolatile memory with blocks and circuitry for selectively protecting the blocks for memory operations |
US6594688B2 (en) * | 1993-10-01 | 2003-07-15 | Collaboration Properties, Inc. | Dedicated echo canceler for a workstation |
US5377264A (en) * | 1993-12-09 | 1994-12-27 | Pitney Bowes Inc. | Memory access protection circuit with encryption key |
US5838613A (en) * | 1994-09-22 | 1998-11-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device having security function |
US5835594A (en) * | 1996-02-09 | 1998-11-10 | Intel Corporation | Methods and apparatus for preventing unauthorized write access to a protected non-volatile storage |
JPH10320989A (ja) * | 1997-05-16 | 1998-12-04 | Toshiba Microelectron Corp | 不揮発性半導体メモリ |
JPH11110293A (ja) * | 1997-09-29 | 1999-04-23 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性メモリ制御回路 |
KR100287018B1 (ko) | 1998-08-07 | 2001-04-16 | 윤종용 | 에러 정정 회로를 구비한 반도체 메모리 장치 |
US6807620B1 (en) * | 2000-02-11 | 2004-10-19 | Sony Computer Entertainment Inc. | Game system with graphics processor |
FR2813468B1 (fr) * | 2000-08-29 | 2003-01-10 | Gemplus Card Int | Securite d'acces par code secret a un moyen de traitement de donnees |
US7231500B2 (en) | 2001-03-22 | 2007-06-12 | Sony Computer Entertainment Inc. | External data interface in a computer architecture for broadband networks |
US6526491B2 (en) * | 2001-03-22 | 2003-02-25 | Sony Corporation Entertainment Inc. | Memory protection system and method for computer architecture for broadband networks |
US7516334B2 (en) | 2001-03-22 | 2009-04-07 | Sony Computer Entertainment Inc. | Power management for processing modules |
US6826662B2 (en) | 2001-03-22 | 2004-11-30 | Sony Computer Entertainment Inc. | System and method for data synchronization for a computer architecture for broadband networks |
US7233998B2 (en) | 2001-03-22 | 2007-06-19 | Sony Computer Entertainment Inc. | Computer architecture and software cells for broadband networks |
US7093104B2 (en) * | 2001-03-22 | 2006-08-15 | Sony Computer Entertainment Inc. | Processing modules for computer architecture for broadband networks |
US6809734B2 (en) | 2001-03-22 | 2004-10-26 | Sony Computer Entertainment Inc. | Resource dedication system and method for a computer architecture for broadband networks |
US6996692B2 (en) * | 2002-04-17 | 2006-02-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Nonvolatile semiconductor memory device and method for providing security for the same |
US7024519B2 (en) * | 2002-05-06 | 2006-04-04 | Sony Computer Entertainment Inc. | Methods and apparatus for controlling hierarchical cache memory |
WO2004063906A2 (en) * | 2003-01-13 | 2004-07-29 | Rambus Inc. | Coded write masking |
US6826663B2 (en) * | 2003-01-13 | 2004-11-30 | Rambus Inc. | Coded write masking |
KR100516301B1 (ko) * | 2003-03-05 | 2005-09-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래시 메모리의 뱅크 분할 장치 |
US8224639B2 (en) | 2004-03-29 | 2012-07-17 | Sony Computer Entertainment Inc. | Methods and apparatus for achieving thermal management using processing task scheduling |
EP1603138A1 (de) * | 2004-04-15 | 2005-12-07 | STMicroelectronics SA | Nichtflüchtiger Speicher mit Mittel zur Verfälschung der Auslese von Speicherzellen |
KR100691384B1 (ko) * | 2006-03-27 | 2007-03-12 | 삼성전자주식회사 | 절연막의 열화를 완화시키는 구조의 셀스트링을 가지는불휘발성 반도체 메모리 장치 |
KR100823175B1 (ko) * | 2007-02-27 | 2008-04-18 | 삼성전자주식회사 | 프로그램 성능을 향상시킬 수 있는 플래시 메모리 장치 및그것을 포함한 메모리 시스템 |
US9462632B2 (en) | 2012-07-17 | 2016-10-04 | Qualcomm Incorporated | Concurrent data streaming using various parameters from the same sensor |
US9641266B2 (en) * | 2012-07-17 | 2017-05-02 | Qualcomm Incorporated | Sensor with concurrent data streaming using various parameters |
KR102336458B1 (ko) * | 2015-07-30 | 2021-12-08 | 삼성전자주식회사 | 고속으로 결함 비트 라인을 검출하는 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 테스트 시스템 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3025502B2 (ja) * | 1987-03-16 | 2000-03-27 | 日立マクセル株式会社 | 半導体メモリ装置 |
USH714H (en) * | 1987-10-26 | 1989-11-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Serial data word processing arrangement |
DE68916281T2 (de) * | 1988-03-09 | 1995-01-26 | Philips Nv | EEPROM mit durch Daten gesteuerten Löschungs- und Schreibmodus. |
-
1990
- 1990-11-30 KR KR1019900019568A patent/KR940004404B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1991
- 1991-04-26 FR FR9105175A patent/FR2670045B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1991-04-30 JP JP9924591A patent/JP2523230B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1991-05-02 US US07/694,499 patent/US5216633A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-05-03 IT ITMI911218A patent/IT1248598B/it active IP Right Grant
- 1991-05-03 DE DE4114410A patent/DE4114410A1/de active Granted
- 1991-05-03 GB GB9109725A patent/GB2250360B/en not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
GB-B.: Handbook of Semiconductor and Bubble Memories, Prentice-Hall, Inc., England, 1982, S. 26-52 * |
Patent Abstracts of Japan Sektion P, Sekt.-Nr. 565, Bd. 12, Nr. 16, S. 147, JP 62-173 547(A) * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR940004404B1 (ko) | 1994-05-25 |
JPH04232696A (ja) | 1992-08-20 |
ITMI911218A0 (it) | 1991-05-03 |
GB2250360B (en) | 1994-10-19 |
GB9109725D0 (en) | 1991-06-26 |
US5216633A (en) | 1993-06-01 |
IT1248598B (it) | 1995-01-19 |
GB2250360A (en) | 1992-06-03 |
DE4114410C2 (de) | 1993-06-24 |
FR2670045B1 (fr) | 1993-07-09 |
ITMI911218A1 (it) | 1992-11-03 |
KR920010649A (ko) | 1992-06-27 |
FR2670045A1 (fr) | 1992-06-05 |
JP2523230B2 (ja) | 1996-08-07 |
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