DE4021375A1 - Autofokuskamera - Google Patents

Autofokuskamera

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DE4021375A1
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B13/00Viewfinders; Focusing aids for cameras; Means for focusing for cameras; Autofocus systems for cameras
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    • G03B13/36Autofocus systems

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Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Autofokuskamera vom Mehrpunkt-Objektentfernungsmessungstyp mit einer Vielzahl von Objektentfernung-Meßzonen.
Eine Autofokuskamera mit einer Vielzahl von Objektent­ fernungs-Meßzonen ist entwickelt worden, um zu vermei­ den, daß Meßlicht zwischen aufzunehmenden Objekten (z. B. zwei menschlichen Körpern) vorbeiläuft, so daß eine Objektentfernung nicht gemessen werden kann. Wenn näm­ lich nur eine Objektentfernungs-Meßzone im Mittelpunkt der Bildebene angeordnet ist, ist es unmöglich, eine Scharfeinstellung auf ein Objekt einzustellen, welches sich nicht im mittleren Bereich der Bildebene befindet. Um dies zu vermeiden, werden eine Vielzahl von Objekt­ entfernungs-Meßzonen z. B. im Mittelpunkt der Bildebene und in Bereichen um diesen herum vorgesehen, so daß eine Scharfeinstellung auf der Basis eines Objekts bestimmt wird, welches in einer der Objektentfernungs-Meßzonen liegt. Die Auswahl der Objektenfernungs-Meßzonen kann gemäß einem Algorithmus der zugehörigen Kamera oder durch Wahl des Fotographen vollzogen werden.
Bei der bekannten Autofokuskamera vom Mehrpunkt-Objekt­ entfernungsmessungstyp kann jedoch - welche Objektent­ fernungs-Meßzone auch ausgewählt ist - eine Scharfein­ stellung nur in einer Ebene erhalten werden, die in einer bestimmten Entfernung von einem Film angeordnet ist, wobei die Schärfentiefe nicht berücksichtigt ist. Es ist also unmöglich, einen Scharfeinstellung auf Ob­ jekte in unterschiedlichen Entfernungen einzustellen. Mit anderen Worten gibt es bei einer herkömmlichen Auto­ fokuskamera der zuvor erwähnten Art kein Konzept, wie eine Scharfeinstellung auf der Basis von so vielen Objek­ tentfernungs-Meßzonen wie möglich bestimmt wird.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung liegt darin, eine Autofokuskamera mit einer Vielzahl von Objektentfer­ nungs-Meßzonen zu schaffen, wobei eine Scharfeinstellung auf der Basis einer Vielzahl von Objekten bestimmt wird, die in den Objektentfernungs-Meßzonen angeordnet sind. So ist die vorliegende Erfindung darauf gerichtet, eine Autofokuskamera zu schaffen, bei der eine Scharfeinstel­ lung gemäß den unterschiedlichen Objektentfernungen festgelegt werden kann, selbst wenn sich die Objektent­ fernungen der Objekte in den Objektentfernungs-Meßzonen voneinander unterscheiden.
Die vorliegende Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß ein Verteilungsmuster der Objekte erfaßt wird gemäß den Entfernungsdaten aus den unterschiedlichen Objekt­ entfernungs-Meßzonen, so daß die Position der optischen Achse eines Objektivsystems oder des Winkels dieser optischen Achse eingestellt werden kann gemäß dem Ver­ teilungsmuster der Objekte.
Um die genannte Aufgabe zu lösen, wird erfindungsgemäß eine Autofokuskamera mit einer Vielzahl von Objektent­ fernungs-Meßzonen und einem Objektivsystem geschaffen, die eine Verteilungsmuster-Erfassungseinrichtung zum Erfassen eines Musters der Verteilung der Objekte in den Objektentfernungs-Meßzonen gemäß den Obejektentfernungen der Objekte, eine Fokussiereinrichtung zum Einstellen einer axialen Position von zumindest einem Teil des Objektivsystems in Richtung der optischen Achse, um die Position der Scharfeinstellungsebene zu verändern, und eine Scharfeinstellungsebenen-Veränderungseinrichtung zum Verändern der Scharfeinstellungsebene, wobei die Fokussiereinrichtung und die Scharfeinstellungsebenen- Veränderungseinrichtung gemäß dem von der Verteilungsmu­ ster-Erfassungseinrichtung erfaßten Verteilungsmuster der Objekte angesteuert werden, so daß die Scharfein­ stellung des Objektivs die Objekte trifft bzw. alle Objekte scharf abgebildet werden.
Die Scharfeinstellungsebenen-Veränderungseinrichtung kann z. B. realisiert werden durch:
  • 1. Eine Einstelleinrichtung für die Feldkrümmung zum Einstellen einer axialen Position einer bestimmten Linse bzw. Linsengruppe des Objek­ tivsystems in Richtung der optischen Achse, um die Krümmung und Richtung der Scharfein­ stellungsebene zu bestimmen;
  • 2. eine Abbildungsebenen-Neigungseinrichtung zum Einstellen des Winkels der optischen Achse des Objektivs bezüglich der Filmebene, wobei die Abbildungsebene geneigt wird; oder
  • 3. eine Filmebenen-Veränderungseinrichtung zum Variieren der Position der Filmebene.
Es ist auch möglich, zwei oder drei dieser Einrichtungen zu kombinieren.
Die Abbildungsebenen-Veränderungseinrichtung hat eine Abbildungsebenen-Neigungseinrichtung zum Einstellen des Winkels der optischen Achse des Objektivs bezüglich der Filmebene, wobei die Abbildungsebene geneigt wird.
Erfindungsgemäß kann die Scharfeinstellung des Objektiv­ systems nicht nur mit dem Objekt einer bestimmten Ob­ jektentfernungs-Meßzone zusammenfallen, sondern mit den Objekten einer Vielzahl von Objektentfernungs-Meßzonen.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Autofokuskamera mit einer Vielzahl von Objekt­ entfernungs-Meßzonen und einem Objektivsystem geschaf­ fen, die eine Verteilungsmuster-Erfassungseinrichtung zum Erfassen, ob ein Verteilungsmuster von Objekten in den Objektentfernungs-Meßzonen parallel oder geneigt bezüglich der Filmebene ist, und zwar gemäß den Objekt­ entfernungsdaten der Objekte, eine Fokussiereinrichtung zum Einstellen einer axialen Position des gesamten Ob­ jektivsystems in Richtung der optischen Achse, wenn das Verteilungsmuster parallel zu der Filmebene ist, und eine Linsendreheinrichtung hat zum Drehen des Objektivs um eine Achse, die senkrecht zu der optischen Achse und parallel zu der Filmebene und der Verteilungsebene der Objekte ist, wenn das Verteilungsmuster bezüglich der Filmebene geneigt ist.
Mit dieser Anordnung kann die Scharfeinstellung des Objektivs auf das geneigte Objekt gelegt werden, indem das Objektivsystem gemäß dem "Sheimpfluggesetz" gedreht wird.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Autofokuskamera mit einer Vielzahl von Objekt­ entfernungs-Meßzonen und einem Objektivsystem geschaf­ fen, mit einer Verteilungsmuster-Erfassungseinrichtung zum Erfassen, ob ein Verteilungsmuster von Objekten in den Objektentfernungs-Meßzonen parallel zu der Filmebene ist oder eine konvexe oder eine konkave Form hat, und zwar gemäß dem Objektentfernungsdaten der Objekte, einer Fokussiereinrichtung zum Einstellen einer axialen Posi­ tion des gesamten Objektivsystems in Richtung der opti­ schen Achse, wenn das Verteilungsmuster parallel zu der Filmebene ist, und einer Einrichtung zum Bewegen eines Teils des Objektivs, um eine Feldkrümmung zu erzeugen, wenn das Verteilungsmuster konkav oder konvex ist. Somit wird eine Feldkrümmung für gekrümmte Objektmuster er­ zeugt.
Die Erfindung wird nachstehend im Detail unter Bezugnah­ me auf die Zeichnung beschrieben. Es zeigt
Fig. 1A eine Draufsicht auf eine Bildebene, die eine erfindungsgemäße Verteilung von Objektentfer­ nungs-Meßzonen zeigt;
Fig. 1B eine Draufsicht auf eine Bildebene, die eine weitere erfindungsgemäße Verteilung von Ob­ jektentfernungs-Meßzonen zeigt;
Fig. 2A eine schematische Ansicht eines erfindungsge­ mäßen Objektentfernungs-Meßgeräts;
Fig. 2B eine schematische Ansicht, wie ein reflek­ tierter Strahlpunkt auf eine PSD (Positions­ erfassungseinrichtung) fällt, die in Fig. 2A gezeigt ist;
Fig. 2C eine schematische Ansicht eines weiteren Typs eines zu verwendenden, erfindungsgemäßen Ob­ jektentfernungs-Meßgeräts;
Fig. 3 eine Draufsicht auf eine Anordnung eines Objektentfernungs-Meßgeräts entsprechend je­ der Objektentfernungs-Meßzone;
Fig. 4A und 4B Tafeln, die Verteilungsmuster von aufzunehmenden Objekten zeigen;
Fig. 5B eine schematische Seitenansicht eines in der Erfindung verwendeten Objektivsystems;
Fig. 5A eine schematische Seitenansicht eines weite­ ren Typs eines in der Erfindung verwendeten Objektivsystems;
Fig. 6 eine Draufsicht von Fig. 5A, die eine Neigung der optischen Achse des Objektivsystems be­ züglich einer Filmebene zeigt;
Fig. 7 eine Darstellung, die das Prinzip des "Sheim­ pfluggesetzes" zeigt; und
Fig. 8 ein Flußdiagramm des Autofokusbetriebs der Erfindung.
Die folgende Diskussion ist auf eine Ausführungsform gerichtet, bei der es drei Meßzonen für die Objektent­ fernung in einer Bildebene gibt.
In einer rechteckförmigen Bildebene 11 gibt es entlang der längeren Seite des Rechtecks drei Meßzonen X, Y und Z für die Objektenfernung, wie es in Fig. 1A gezeigt ist. Die linke Objektentfernungs-Meßzone X und die rech­ te Objektentfernungs-Meßzone Z sind jeweils auf gegen­ überliegenden Seiten der mittleren Objektentfernungs- Zone Y angeordnet. Ein Kameragehäuse enthält Objektent­ fernungs-Meßgeräte entsprechend den Meßzonen X, Y und Z.
Fig. 1B zeigt eine weitere Verteilung von drei Objekt­ entfernungs-Meßzonen X′, Y′ und Z′, die entlang der kürzeren Seite der rechteckigen Bildebene angeordnet sind. Die obere Objektentfernungs-Meßzone X′ und die untere Objektentfernungs-Meßzone Z′ sind jeweils auf gegenüberliegenden Seiten der mittleren Objektentfer­ nungs-Meßzone Y′ angeordnet.
Die Objektentfernungs-Meßgeräte sind alle vom aktiven Typ, wie in den Fig. 2A und 2B gezeigt. Das in diesen Figuren gezeigte Objektentfernungs-Meßgerät vom aktiven Typ hat einen Lichtemitter mit einer Infrarotlichtquelle (IRED, infrarotemittierende Diode) 12 und eine Licht­ emissionslinse 13. Ein Lichtempfänger hat eine Licht­ empfangslinse 14 und ein Lichtempfangselement 15 vom zweifach unterteilten Typ, um zu erfassen, ob ein Objekt bezüglich einer Objektreferenzentfernung Do weiter von der Kamera weg (Df) oder näher an der Kamera ist (Dn). Das Lichtempfangselement 15 hat zwei unabhängige Licht­ empfangsabschnitte A und B, die benachbart zueinander sind. Wenn das Objekt O in der Objektreferenzentfernung Do angeordnet ist, empfangen die Lichtempfangsabschnitte A und B dieselbe Lichtmenge (Strahlpunkt S), die von dem Objekt O reflektiert wird. Wenn das Objekt O in einer bezüglich der Referenzentfernung Do größeren Entfernung (Df) von der Kamera entfernt ist, ist die von dem Licht­ empfangsabschnitt A empfangene Lichtmenge größer als die von dem Lichtempfangsabschnitt B empfangene Lichtmenge. Es gilt also A < B (wobei A, B hier die Ausgangssignale bedeuten). Wenn demgegenüber das Objekt O in einer be­ züglich der Referenzentfernung Do kürzen Entfernung Dn zu der Kamera angeordnet ist, ist die von dem Lichtemp­ fangsabschnitt B empfangene Lichtmenge größer als die des Lichtempfangsabschnitts A (d. h. A < B). Aus Vereinfa­ chungsgründen wird die Entfernung Do so behandelt, als wäre sie Df (d. h. A = B). Es gilt also:
Wenn A ≧ B, dann ist die Objektentfernung Df; und
wenn A < B, dann ist die Objektentfernung Dn.
Fig. 3 zeigt drei Objektentfernungs-Meßgeräte in einer Ansicht von oben. In Fig. 3 werden aus den jeweiligen Empfangselementen 15X, 15Y und 15Z vom zweifach unter­ teilten Typ Ausgangssignale für die drei Objekte OX, OY und OZ in den jeweiligen Meßzonen X, Y bzw. Z erhalten.
Auf der Basis der Ausgangssignale AX und BX, AY und BY und AZ und BZ der Lichtempfangsabschnitte A und B der Lichtempfangselemente 15X, 15Y und 15Z können die Ob­ jektentfernungen der Gegenstände OX, OY und OZ demnach wie folgt beurteilt werden:
Für das Objekt OX:
AX ≧ BX → DXf (Objekt OX . . . entfernt)
AX < BX → DXn (Objekt OX . . . nahe)
Für das Objekt OY:
AY ≧ BY → DYf (Objekt OY . . . entfernt)
AY < BY → DYn (Objekt OY . . . nahe)
Für das Objekt OZ:
AZ ≧ BZ → DZf (Objekt OZ . . . entfernt)
AZ < BZ → DZn (Objekt OZ . . . nahe)
Gemäß den Objektentfernungsdaten kann ein Verteilungsmu­ ster der Objekte wie folgt erfaßt werden:
Es gibt nämlich zwei Fälle, die gemäß der Objektentfer­ nung (entfernt oder nahe) des Objekts OY in der mittle­ ren Meßzone Y klassifiziert sind, wie es in den Fig. 4A und 4B gezeigt ist.
In den Fig. 4A und 4B wird in der Spalte "Verteilungsmu­ ster" die Anordnung der Objekte OX, OY und OZ aus der Sicht der Kamera, von oben dargestellt. Die Spalte "Vereinfachte Darstellung des Verteilungsmusters" zeigt eine Tendenz des Verteilungsmusters, die durch eine gerade oder gekrümmte Linie gezeigt ist. Die Spalte "Kennung" unterscheidet diese Tendenzen voneinander. Das heißt, "N" (normal) bezeichnet ein ebenes Objektvertei­ lungsmuster, welches parallel zu der Filmebene liegt; "T" (geneigt) bezeichnet ein bezüglich der Filmebene geneigtes Objektverteilungsmuster; und "W" (gekrümmt) bezeichnet ein konvexes bzw. konkaves Objektverteilungs­ muster. "T1" und "T2" haben entgegengesetzte Neigungs­ richtungen. "W1" und "W2" haben entgegengesetzte Krüm­ mungen (konvex bzw. konkav).
Wie aus den Fig. 4A und 4B ersichtlich, gibt es in der erläuterten Ausführungsform drei Typen (N, T, W) und fünf Klassen (N, T1, T2, W1, W2) von Objektverteilungs­ mustern.
Einrichtung zur Veränderung der Scharfeinstellungsebene 1. Verteilungsmuster vom N-Typ und vom W-Typ:
Fig. 5A zeigt schematisch in Objektivsystem für die Verteilungsmuster vom N-Typ und vom W-Typ. In Fig. 5A hat das Objektivsystem 20 eine erste Linsengruppe 21 und eine zweite Linsengruppe 22. Weiterhin sind eine Blende 23 und eine Filmebene 24 gezeigt. Der Scharfeinstellung kann für alle Gegenstände mit dem Verteilungsmuster vom N-Typ eingestellt werden, indem die erste Linsengruppe 21 und die zweite Linsengruppe 22 gemeinsam in Richtung der optischen Achse des Objektivsystems 20 bewegt werden, wie es bestens bekannt ist.
Wenn andererseits nur die erste Linsengruppe 21 relativ zu der zweiten Linsengruppe 22 bewegt wird, ergibt sich eine sogenannte Feldkrümmung. Es ist bekannt, daß ein Brennpunkt innerhalb eines weiteren Bereiches für das Verteilungsmuster vom W-Typ eingestellt werden kann, indem man die Feldkrümmung verwendet (z. B. japanische, nicht geprüfte Patentschrift Nr. 51-9 821). Für die Grup­ pe W1 von Verteilungsmustern ist die erste Linsengruppe 21 in die Richtung zu bewegen, so daß sie dichter an die zweite Linsengruppe 22 kommt. Für die Gruppe W2 von Verteilungsmustern sollte die erste Linsengruppe 21 von der zweiten Linsengruppe 22 wegbewegt werden.
Der Mechanismus zum Bewegen der ersten Linsengruppe 21 und der zweiten Linsengruppe 22 gemeinsam in Entspre­ chung zu den Objektentfernungsdaten ist per se bekannt. Auf ähnliche Weise ist der Mechanismus zum Bewegen von nur der ersten Linsengruppe 21 bezüglich der zweiten Linsengruppe gemäß den Verteilungsmusterdaten auch per se bekannt.
2. Verteilungsmuster vom T-Typ:
Für das Verteilungsmuster vom T-Typ ist es möglich, eine Scharfeinstellung einzustellen durch Neigen der opti­ schen Achse des Objektivsystems 20 bezüglich zu der Filmebene 24 gemäß dem "Sheimpfluggesetz".
Wenn sich gemäß dem "Sheimpfluggesetz", wie in Fig. 7 gezeigt, Verlängerungen der Objektebene 25, der Ebene 26, die senkrecht zu der optischen Achse des Objektiv­ systems 20 ist, und der Bildebene 27 an einem Punkt (einer Geraden) 28 schneiden, sind alle Objekte in der Objektebene 25 exakt auf die Bildebene 27 fokussiert (d. h. die Filmebene 24).
Aufgrund dieses optischen Prinzips kann eine Scharfein­ stellung exakt für die Objekte OX, OY und OZ eingestellt werden, indem das Objektivsystem 20, das drehbar um die Vertikalachse 29 gelagert ist (die senkrecht zu der optischen Achse und parallel zu der Filmebene und der Objektverteilungsebene ist), in Vorwärts- und in Rück­ wärtsrichtung durch ein rotierendes Stellglied 30 in Entsprechung zu den Mustern T1 und T2 gedreht wird, wie es in den Fig. 5 und 6 gezeigt ist. Das rotierende Stellglied 30 kann leicht, z. B. durch ein elektromagne­ tisches Stellglied realisiert werden.
Wenn die drei Objektentfernungs-Meßzonen X′, Y′ und Z′ vertikal ausgerichtet sind, wie in Fig. 1B gezeigt, sollte die Drehachse 29′ des Objektivsystems 20 eine Horizontalachse sein, wie es in Fig. 5B gezeigt ist. Die Horizontalachse 29′ ist senkrecht zu der optischen Achse und parallel zu der Filmebene und der Objektverteilungs­ ebene, und zwar genau so wie die Vertikalachse 29 in Fig. 5A.
Alternativerweise ist es möglich, die Einrichtung zur Veränderung der Scharfeinstellungsebene aus einer mecha­ nischen Einrichtung zur Veränderung der Filmebene zu bilden, die die Position der Filmebene mechanisch verän­ dert.
Fig. 8 zeigt ein Flußdiagramm der zuvor erwähnten Be­ triebsschritte. In Fig. 8 wird das Objektivsystem 20 auf eine unendliche Aufnahmeposition eingestellt, wenn der Auslöser (Verschluß) um eine Stufe heruntergedrückt wird. Hiernach werden die Ausgangssignale der zweifach unterteilten Lichtempfangselemente 15X, 15Y und 15Z eingegeben (Schritte S1 und S2). Im Schritt S3 wird geprüft, ob die Objektentfernung des Objektes OY in der mittleren Objektentfernungs-Meßzone Y "nahe" ist. Wenn die Entfernung "nahe" ist, wird die Objektentfernung D im Schritt S4 auf eine nahe Entfernung (n) gesetzt. Hiernach geht die Steuerung zum Schritt S5 über. Wenn die Objektentfernung im Schritt S3 "entfernt" ist, wird die Objektentfernung D im Schritt S6 auf eine entfernte Entfernung (f) gesetzt. Hiernach wird im Schritt S7 die Objektentfernung des Objekts OX in der Objektentfer­ nungs-Meßzone X beurteilt. Wenn die Objektentfernung des Objektes OX "entfernt" ist, geht die Steuerung zum Schritt S8 über, bei dem die Objektentfernung des Ob­ jekts OZ in der weiteren Objektenfernungs-Meßzone Z beurteilt wird. wenn die Objektentfernung des Objekts OZ "entfernt" ist, wird das Muster vom N-Typ eingestellt (Schritt S9).
Wenn im Schritt S8 die Objektenfernung des Objekts OZ als "nahe" beurteilt wird, wird das Verteilungsmuster der Gruppe T1 eingestellt, worauf das entsprechende Unterprogramm ausgeführt wird (Schritte S11 und S12). Das Unterprogramm für Verteilungsmuster der Gruppe T1 (und Verteilungsmuster der Gruppe T2) wird z. B. durch Drehung des Objektivsystems 20 um die Vertikalachse 29 in Richtung des Uhrzeigersinns oder gegen den Uhrzeiger­ sinn ausgeführt.
Wenn die Objektentfernung des Objekts OX in der Meßzone X im Schritt S7 "nahe" ist, wird mit Schritt S13 die Objektentfernung des Objekts OZ in der Meßzone Z beur­ teilt. Wenn die Objektentfernung des Objekts OZ "ent­ fernt" ist, wird das Unterprogramm für Verteilungsmuster der Gruppe T2 in den Schritten S14 und S15 ausgeführt. Wenn die Objektentfernung des Objekts OZ "nahe" ist, wird in den Schritten S16 und S17 das Unterprogramm für Verteilungsmuster der Gruppe W1 ausgeführt. Das Unter­ programm für W1-Muster (und W2-Muster) wird z. B. durch Bewegung der ersten Linsengruppe 21 ausgeführt.
Wenn die Objektentfernung des Objekts OY im Schnitt S3 "nahe" ist, wird im Schritt S5 die Objektentfernung des Objekts OX in der Meßzone X beurteilt. Wenn die Objekt­ entfernung des Objekts OX "nahe" ist, wird im Schritt S18 die Objektentfernung des Objekts OZ in der Meßzone Z beurteilt. Wenn die Objektentfernung des Objekts OZ "nahe" ist, wird in den Schritten S19 und S20 das Unter­ programm für Muster vom N-Typ ausgeführt, um das Objek­ tivsystem 20 nach vorne zu bewegen. Wenn die Objektent­ fernung des Objekts OZ im Schritt S18 als "entfernt" beurteilt wird, wird das T2-Muster im Schritt S21 er­ faßt. Hiernach wird das Unterprogramm für Muster vom N- Typ im Schritt S22 ausgeführt und das Unterprogramm für Verteilungsmuster der Gruppe T2 wird in S23 ausgeführt. Das Unterprogramm für Muster vom N-Typ wird z. B. durch Bewegung des gesamten Objektivsystems 20 ausgeführt.
Wenn die Objektentfernung des Objekts OX in der Meßzone X im Schritt S5 als "entfernt" beurteilt wird, wird als nächstes im Schritt S25 die Objektentfernung des Objekts OZ in der Meßzone Z beurteilt. Wenn die Objektentfernung des Objekts OZ "entfernt" ist, wird das Muster vom W2- Typ eingestellt, so daß das Unterprogramm für Muster vom W2-Typ ausgeführt wird, nachdem das normale Unterpro­ gramm für die Bewegung in Richtung auf die Seite für eine nahe Entfernung ausgeführt ist Schritte (S26 bis S28).
Wenn die Objektentfernung des Objekts OZ in der Meßzone Z im Schritt S25 als "nahe" beurteilt wird, wird das Muster vom T1-Typ eingestellt, so daß das Unterprogramm für Muster vom T1-Typ ausgeführt wird, nachdem das nor­ male Unterprogramm für die Bewegung in Richtung auf die Seite der nahen Entfernung ausgeführt ist (Schritte S29 bis S31).
In der genannten Ausführungsform ist es möglich, ein Muster vom T-Typ, das ein zusammengesetztes Muster des T-Typs und des W-Typs ist, zu verarbeiten, obwohl das Muster vom T-Typ und das Muster vom W-Typ aus Gründen der Klarheit getrennt voneinander vorliegen. Um nämlich das Unterprogramm für Muster vom T-Typ auszuführen, ist es möglich, die erste Linsengruppe 21 des Objektiv­ systems 20 zu bewegen und das Objektivsystem 20 zur gleichen Zeit um die Vertikalachse 29 durch das Dreh­ stellglied 30 zu drehen.
Obwohl in der genannten Ausführungsform für die Beurtei­ lung der Objektentfernung zwei Wahlmöglichkeiten, näm­ lich "entfernt" und "nahe", gegeben sind, ist es möglich, die Objektentfernung mit mehr als drei Wahl­ möglichkeiten zu beurteilen. Bei einer solchen Alterna­ tive ist das Verteilungsmuster in feiner unterteilte Gruppen klassifiziert. Es ist auch möglich, die Objekt­ entfernungs-Meßzone in mehr als drei Zonen zu untertei­ len. Die Bewegung des Objektivsystems 20 (N-Typ), die Bewegung der ersten Linse 21 in entgegengesetzte Rich­ tungen (W-Typ), die Drehbewegung des Objektivs 20 um die Vertikalachse 29 in entgegengesetzten Richtungen (T-Typ) und der Versatz dieser Bewegungen werden in Entsprechung zu dem erfaßten Verteilungsmuster gleichzeitig und um­ fassend gesteuert, um eine Scharfeinstellung genau auf die Objekte in den Meßzonen einzustellen.
Es ist anzumerken, daß die Objektentfernungs-Meßeinrich­ tung nicht auf den zuvor genannten Typ begrenzt ist. Fig. 2C zeigt ein weiteres Objektentfernungs-Meßgerät vom aktiven Typ. Licht wird zur Entfernungsmessung aus der Lichtquelle 12′ emittiert und tastet ein Objekt O über eine Lichtemissionslinse 13 ab und eine Positions­ erfassungseinrichtung (PSD) 15′ empfängt von dem Objekt reflektiertes Licht über ein Lichtempfangselement. Die Objektentfernung wird über das Ausgangssingal der PSD 15′ erhalten. Weiterhin ist das Objektentfernungs-Meßge­ rät nicht auf einen aktiven Typ begrenzt, bei dem Meß­ licht in Richtung auf Objekte emittiert wird, wie zuvor erwähnt. Die vorliegende Erfindung kann z. B. auch mit einem Objektentfernungs-Meßgerät vom sogenannten passi­ ven Typ ausgeführt werden, das die Objektentfernung durch Licht erfaßt, welches durch das Objektiv geht.

Claims (18)

1. Autofokuskamera mit einer Vielzahl von Objekt­ entfernungs-Meßzonen und einem Objektivsystem, gekenn­ zeichnet durch
  • - eine Verteilungsmuster-Erfassungseinrichtung zum Erfassen eines Verteilungsmusters von Objekten in den Objekt-Entfernungsmeßzonen gemäß den Objektent­ fernungen der Objekte;
  • - eine Fokussiereinrichtung zum Einstellen einer axialen Position von zumindest einem Teil des Ob­ jektivsystems in Richtung der optischen Achse, um die Position der Scharfeinstellungsebene zu verän­ dern; und
  • - eine Scharfeinstellungsebenen-Veränderungseinrich­ tung, um die Scharfeinstellungsebene zu variieren,
wobei die Fokussiereinrichtung und die Scharfeinstel­ lungsebenen-Veränderungseinrichtung gemäß dem von der Verteilungsmuster-Erfassungseinrichtung erfaßten Vertei­ lungsmuster der Objekte angesteuert werden, so daß die Scharfeinstellung des Objektivs in Entsprechung zu den Objekten bestimmt werden kann.
2. Autofokuskamera nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Scharfeinstellungsebenen-Verände­ rungseinrichtung eine Einstelleinrichtung hat zur Ein­ stellung der Feldkrümmung, um eine axiale Position einer bestimmten Linse des Objektivsystems in Richtung der optischen Achse einzustellen, um die Krümmung und Rich­ tung der Scharfeinstellungsebene festzulegen.
3. Autofokuskamera nach Anspruch 1 oder 2, da­ durch gekennzeichnet, daß die Scharfeinstellungsebenen- Veränderungseinrichtung eine Abbildungsebenen-Neigungs­ einrichtung hat zum Einstellen des Winkels der optischen Achse des Objektivs bezüglich der Filmebene, um die Abbildungsebene zu neigen.
4. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Scharfeinstel­ lungsebenen-Veränderungseinrichtung eine Filmebenen- Veränderungseinrichtung hat zum Variieren der Position der Filmebene.
5. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Objektentfer­ nungs-Meßzonen aus zumindest drei Zonen mit einer mitt­ leren, einer rechten und einer linken Zone bestehen, wobei die rechte und die linke Zone auf gegenüberliegen­ den Seiten der mittleren Zone angeordnet sind.
6. Autofokuskamera nach Anspruch 5, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Verteilungsmuster der Objekte erfaßt wird gemäß den Objektentfernungen der Objekte in der rechten und der linken Zone im Vergleich mit einer Objektreferenzentfernung, die die Objektentfernung des Objekts in der mittleren Zone ist.
7. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Objektentfer­ nungs-Meßzonen zumindest aus drei Zonen mit einer mitt­ leren, einer oberen und einer unteren Zone bestehen, wobei die obere und die untere Zone auf gegenüberliegen­ den Seiten der mittleren Zone angeordnet sind.
8. Autofokuskamera nach Anspruch 7, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Verteilungsmuster der Objekte erfaßt wird gemäß den Objektentfernungen der Objekte in der oberen und der unteren Zone im Vergleich zu einer Objektreferenzentfernung, die die Objektentfernung des Objekts in der mittleren Zone ist.
9. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 5 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß es folgende Vertei­ lungsmuster gibt:
  • - ein normales Muster, bei dem die Objektentfernungen aller Meßzonen im wesentlichen gleichen sind;
  • - ein Neigungsmuster, bei dem die Objektentfernung des Objekts der rechten oder linken Zone oder die des Objekts der oberen oder unteren Zone im wesent­ lichen gleich der Objektentfernung des Objekts in der mittleren Zone ist und die Objektentfernung des Objekts der jeweiligen anderen rechten oder linken bzw. oberen oder unteren Zone sich von der Objekt­ entfernung des Objekts in der mittleren Zone unter­ scheidet; und
  • - ein Krümmungsmuster, bei dem die Objektentfernungen der Objekte der rechten und der linken Zone oder der oberen und der unteren Zone sich von der Ob­ jektentfernung des Objekts in der mittleren Zone unterscheiden und die Objekte der rechten und der linken Zone bzw. der oberen und der unteren Zone bezüglich des Objekts der mittleren Zone auf der gleichen Seite angeordnet sind.
10. Autofokuskamera nach Anspruch 9, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das gesamte Objektivsystem in Richtung der optischen Achse bewegt wird, wenn das Verteilungsmu­ ster das normale Muster ist.
11. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektivsystem gelagert ist, um sich im ganzen um eine Rotationsachse zu drehen, die senkrecht zu der optischen Achse und parallel zu der Filmebene und der Verteilungsebene der Objekte ist.
12. Autofokuskamera nach Anspruch 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Objektivsystem um die Rotations­ achse gedreht wird, wenn das Verteilungsmuster das Nei­ gungsmuster ist.
13. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektivsystem eine Linsengruppe hat, die unabhängig in Richtung der optischen Achse bewegbar ist, um eine Feldkrümmung unab­ hängig von der axialen Bewegung des Objektivsystems zu erzeugen.
14. Autofokuskamera nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Linsengruppe bewegt wird, wenn das Verteilungsmuster das gekrümmte Muster ist.
15. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Einstellung einer axialen Position von einem Teil des Objektivs ein Wert und eine Richtung der Feldkrümmung bestimmt wird.
16. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Vertei­ lungsmuster-Erfassungseinrichtung erfaßt wird, ob ein Verteilungsmuster von Objekten in den Objektentfernungs- Meßzonen parallel oder geneigt bezüglich der Filmebene ist, und zwar gemäß den Objektentfernungsdaten der Ob­ jekte, wobei die axiale Position des gesamten Objektiv­ systems in Richtung der optischen Achse eingestellt wird, wenn das Verteilungsmusterprallel zu der Film­ ebene ist, und wobei das Objektivsystem um eine Achse gedreht wird, die senkrecht zu der optischen Achse und parallel zu der Filmebene und der Verteilungsebene der Objekte ist, wenn das Verteilungsmuster bezüglich der Filmebene geneigt ist.
17. Autofokuskamera nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Verteilungsmu­ ster-Erfassungseinrichtung auch erfaßt, ob ein Vertei­ lungsmuster von Objekten in den Objektentfernungs-Meßzo­ nen konkav oder konvex bezüglich der Filmebene ist, und daß ein Teil des Objektivs bewegt wird, um eine Feld­ krümmung zu erzeugen, wenn das Verteilungsmuster konkav oder konvex ist.
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