DE4000903C1 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung geht aus von einem Sensor zur Schwingungsmessung nach
der Gattung des Hauptanspruchs.
Aus der DE-OS 38 14 952 sind schon Beschleunigungssensoren auf der
Basis der Siliziummikromechanik bekannt, bei denen eine Zunge, die an
einem oder mehreren Stegen aufgehängt ist, senkrecht zur Chip
oberfläche ausgelenkt wird. Die Dehnung der Stege wird mit Hilfe von
in einer Wheatstone'schen Brücke angeordneten Piezowiderständen
bestimmt. Die seismische Masse piezoresistiv arbeitender Sensoren er
fordert eine relativ große Chipoberfläche. Aufgrund der als Zunge aus
gebildeten seismischen Masse und deren Schwingungsrichtung senkrecht
zur Chipoberfläche ist häufig eine Kapselung des Sensors und eine
Druckerniedrigung innerhalb des Sensors notwendig, da die Zungen
schwingung sonst zu stark gedämpft wird. Außerdem weisen piezoresistiv
arbeitende Sensoren eine starke Temperaturempfindlichkeit auf.
Aus der nicht vorveröffentlichten Patentanmeldung P 39 27 163 ist
bekannt, daß in Halbleiterwafern Strukturen herausätzbar sind.
In der US-PS 45 07 705 und der DE-PS 36 11 969 werden Vorrichtungen
zur Schwingungsmessung beschrieben, bei denen die Kapazitätsänderung
eines aus einer feststehenden und einer schwingungsfähigen Elektrode
bestehenden mikromechanischen Kondensators erfaßt wird. Das Sensor
element wird aus einem Halbleitersubstrat gebildet, dessen Oberfläche
oder eine auf die Oberfläche aufgebrachte leitfähige Schicht als fest
stehende Elektrode dient. Die schwingungsfähige Elektrode ist in Form
einer parallel zur Substratoberfläche orientierten Zunge ausgebildet
und senkrecht zur Substratoberfläche auslenkbar. Die Zunge wird als
zusätzliche Materialschicht auf der Waferoberfläche abgeschieden und
anschließend unterätzt. Bei diesem Verfahren können bei der Verwendung
von Silizium nur Polysiliziumzungen gefertigt werden, die schlechte
Elastizitätseigenschaften aufweisen. In diesem Fall werden sockel
artige Hilfsschichten auf die Waferoberfläche aufgebracht, die den
Abstand zwischen der Zunge und der Waferoberfläche definieren. Über
diesen Hilfsschichtensockel wird das Silizium abgeschieden. Beim Weg
ätzen der Hilfsschichten wird dann eine schwingungsfähige Zunge, die
über einen Basissockel mit der Waferoberfläche verbunden ist, frei
gelegt. Bei der Verwendung von anderen Materialien zur Herstellung der
Zunge, wie z. B. Siliziumoxid, sind zwar keine Hilfsschichten erfor
derlich, da die Unterätzung der Zunge in die Oberfläche des Wafers
hinein erfolgt, dafür können Spannungen in der Struktur auftreten auf
grund unterschiedlicher thermischer Ausdehnungskoeffizienten der
Materialien.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen mikromechanischen Sen
sor zur Schwingungsmessung, insbesondere zur Beschleunigungs
messung, aus einem Träger aus monokristallinem Material zu schaffen,
der gegenüber äußeren Einflüssen und Belastungen unempfindlich ist.
Die Lösung dieser Aufgabe ergibt sich aus den Merkmalen des Anspruchs 1.
Der erfindungsgemäße Sensor mit den Merkmalen des
Hauptanspruchs hat den Vorteil, daß sich durch die
spezielle Anordnung der Zungen Sensoren mit sehr geringer Chip
oberfläche realisieren lassen. Diese Anordnung ermöglicht auch das Be
treiben des Sensors bei Normaldruck. Als vorteilhaft erweist sich auch,
daß die Zungen in der Chipebene schwingen und so durch den Chip selbst
bei Überlast geschützt werden. Als weiterer Vorteil ist anzusehen, daß
die kapazitive Auswertung der Sensorsignale nur Zungen geringer Stärke
erfordert, da dort keine Piezowiderstände integriert werden müssen.
Bei Realisierung der Sensorstruktur in einem monokristallinen Träger
können die Elastizitätseigenschaften des Materials vorteilhaft ausge
nutzt werden. Auch bei Langzeitbetrieb eines solchen Sensors treten
keine Materialermüdungserscheinungen auf. Durch die in den Unter
ansprüchen 2-7 aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen
des im Hauptanspruch angegebenen Sensors möglich.
Verfahren zur Herstellung des erfindungsgemäßen
Sensors und die nähere Ausgestaltung
solch eines Verfahrens sind Gegenstand der Ansprüche 8-10.
Ein besonderer Vor
teil des erfindungsgemäßen Sensors besteht darin, daß der pn- bzw.
np-Übergang zwischen der oberen Schicht und der unteren Schicht nicht
nur zur Isolation der Zunge und der Elektrode gegenüber der unteren
Schicht dient, sondern auch als Ätzstopgrenze bei elektrochemischer
Unterätzung der Zunge von der Trägeroberfläche aus oder für die Rück
seitenätzung wirken kann, der der Isolation der beweglichen Zunge ge
genüber der feststehenden Elektrode dient. Vorteilhaft ist, daß die
Ruhekapazität des Sensors besonders einfach durch Parallelschaltung
mehrerer durch jeweils eine Zunge und eine feststehende Elektrode ge
bildeter Kapazitäten erhöht werden kann. Ein weiterer Vorteil ist die
Erhöhung der Sensorempfindlichkeit durch das Auswerten der Kapazitäts
differenz zweier Zunge/Elektrode-Anordnungen, die bei Beschleunigung
aufgrund der Stellung der jeweiligen beweglichen Zungen bezüglich
ihrer feststehenden Elektroden mit einander entgegengesetzter
Kapazitätsänderung reagieren.
Ein weiterer Vorteil ist, daß der Sensor mit Standardmethoden der
Ätztechnik hergestellt werden kann.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt
und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 die Aufsicht auf einen Sensor,
Fig. 2 einen
Schnitt des Sensors nach Fig. 1 in der A--Ebene und
Fig. 3 und Fig.
4 jeweils die Aufsicht auf einen weiteren Sensor nach Fig. 1.
In Fig. 1 ist mit 10 ein Träger aus monokristallinem Material
bezeichnet, für den zum Beispiel ein Siliziumwafer verwendet wird.
Geeignet ist jedoch auch ein Wafer aus jedem anderen Halbleiter
material, zum Beispiel Galliumarsenid oder Germanium. Der Träger
besteht aus einer unteren Schicht 21 und einer oberen Schicht 20,
wie dies in Fig. 2 dargestellt ist. Üblicherweise handelt es sich
bei der unteren Schicht 21 um ein p-typ dotiertes Substrat und bei
der oberen Schicht 20 um eine auf dieses aufgebrachte n-typ dotierte
Epitaxieschicht. Genauso möglich ist eine umgekehrte Dotierung der
einzelnen Schichten, da sowohl ein pn- als auch ein np-Übergang bei
Schaltung in Sperrichtung isolierend wirkt. Ein Ätzgraben 11, der
durch anisotrope oder andere geeignete Ätzverfahren, die senkrechte
Gräben erzeugen, in die Trägeroberfläche 16 eingeätzt wird, durch
dringt die obere Schicht 20 vollständig und führt zu zwei voneinan
der elektrisch isolierten Gebieten. Das eine Gebiet umfaßt einen
Zungensockel 14 mit einer in der Trägerebene schwingungsfähigen
Zunge 12 und das andere Gebiet umfaßt einen Elektrodensockel 15 mit
der unbeweglichen Elektrode 13. Die Zunge 12 ist zum Beispiel
5 µm breit, 1 bis 2 mm lang und 10 bis 15 µm hoch. Die Längs
seite der Zunge 12 steht der Längsseite der Elektrode 13 zum Bei
spiel in einem Abstand von 2 µm gegenüber, wobei sich dieser
Abstand bei der Schwingung der Zunge 12 verändert. Der Zungensockel
14 und der Elektrodensockel 15 dienen als elektrische Anschlüsse der
durch Zunge 12 und Elektrode 13 gebildeten Kapazität. Fig. 2 zeigt,
daß die Zunge 12 durch eine Unterätzung 22 freigelegt ist. Eine
Unterätzung der Zunge 12 kann zum Beispiel durch eine Rückseiten
ätzung oder eine laterale Unterätzung von der Vorderseite aus
erfolgen. Es ist auch möglich, mehrere Zungen und mehrere Elektroden
mit Sockel aus einer Trägeroberfläche 16 herauszuätzen und zu einer
Parallelschaltung von kapazitiv arbeitenden Sensoren zusammen
zufassen, wie zum Beispiel die obere Hälfte der Fig. 3 zeigt. Hier
gehen von einem Zungensockel 141 zwei in der Trägerebene schwin
gungsfähige Zungen 121 senkrecht aus und bilden zusammen mit den
beiden gegenüberliegenden unbeweglichen Elektroden 131, die von
einem Elektrodensockel 15 ausgehen, zwei parallelgeschaltete
Kapazitäten.
Der in Fig. 3 dargestellte Sensor besteht wieder aus dem zwei
schichtigen Träger 10, dessen obere Schicht 20 mehrere durch einen
Ätzgraben 11 elektrisch voneinander isolierte kammförmige Gebiete
aufweist. Ein balkenartiger Zungensockel 141 mit zwei in der Träger
ebene schwingungsfähigen Zungen 121, die zum Zungensockel 141 senk
recht stehen, ist parallel zu einem gleichartig strukturierten
Zungensockel 142 mit ebenfalls zwei in der Trägerebene schwingungs
fähigen Zungen 122 angeordnet, so daß die Zungen 121 und 122
einander gegenüberliegen. Dazwischen befindet sich parallel zu den
beiden Zungensockeln 141 und 142 der Elektrodensockel 15, von dem
sowohl zwei unbewegliche Elektroden 131 in Richtung des Zungen
sockels 141 als auch zwei unbewegliche Elektroden 132 in Richtung
des Zungensockels 142 ausgehen. Die Zahl der Zungen und Elektroden
ist beliebig variierbar. Der Abstand des Zungensockels 141 zum
Elektrodensockel 15 und der des Elektrodensockel 15 zum Zungen
sockel 142 sowie die Länge der Zungen und Elektroden sind so ge
wählt, daß den Längsseiten der Elektroden 131 die Längsseiten der
Zungen 121 in einem Abstand von zum Beispiel 2 µm und den Längs
seiten der Elektroden 132 die Längsseiten der Zungen 122 in einem
ähnlichen Abstand gegenüberliegen. Die beiden Zungen 121 bilden mit
den beiden Elektroden 131 zwei parallelgeschaltete Kapazitäten, die
den beiden ebenfalls parallelgeschalteten Kapazitäten gegenüber
liegen, die von den beiden Zungen 122 in Verbindung mit den beiden
Elektroden 132 gebildet werden. Außerdem ist die Anordnung der
Zungen 121 bezüglich ihrer Elektroden 131 der der Zungen 122 bezüg
lich deren Elektroden 132 entgegengesetzt, damit eine die Zungen
auslenkende Beschleunigung bei den gegenüberliegenden Kapazitäten
entgegengesetzte Abstandsveränderungen zwischen Zungen und Elektrode
hervorruft. Bei dieser Anordnung wird die Ruhekapazität des Sensors
durch die Parallelschaltung von mehreren Kapazitäten beeinflußt; und
durch die Auswertung der Differenz von sich entgegengesetzt ändern
den Kapazitäten die Empfindlichkeit erhöht. In Fig. 3 ist mit 30
der untere Rand eines Ätzfensters 30 der Rückseitenätzung bezeich
net. Seine Position muß so gewählt werden, daß die Zungen zwar starr
mit dem Zungensockel verbunden bleiben, aber deren Spitzen frei
schwingen können. Die Elektroden hingegen sollen nicht nur starr mit
dem Elektrodensockel verbunden sein, sondern zusätzlich auch an
mindestens einer weiteren Stelle mit der unteren Schicht 21 ver
bunden sein.
In Fig. 4 ist ein Sensor dargestellt, der aus einem zweischichtigen
Träger 10 mit einer unteren Schicht 21 und einer oberen Schicht 20
herausgeätzt wurde, wobei die beiden Schichten aufgrund ihrer
unterschiedlichen Dotierungen einen pn- bzw. einen np-Übergang
bilden, der bei Schaltung in Sperrichtung die obere Schicht 20 gegen
die untere Schicht 21 isoliert. Durch zwei U-förmige Ätzgräben 11,
die die obere Schicht 20 vollständig durchdringen, in Verbindung mit
jeweils einer lateralen Unterätzung 22 sind in der oberen Schicht
zwei von einem Zungensockel 14 ausgehende Zungen 12 entstanden, die
in der Trägerebene schwingen können. Eine solche Zunge 12 dient als
bewegliche Elektrode eines Differential-Plattenkondensators mit zwei
festen Elektroden 131 und 132, die durch diejenigen Teile der
Umrandung der U-förmigen Ätzgräben 11 gebildet werden, die parallel
zu den Zungen 12 stehengeblieben sind. Die Isolation der Zungen 12
und der Elektroden 131 und 132 gegeneinander erfolgt in der oberen
Schicht 20 durch eine Isolationsdiffusion 23, die die obere Schicht
20 vollständig durchdringt. Dabei handelt es sich entweder um eine
p-Diffusion, wenn die obere Schicht 20 negativ dotiert ist, oder um
eine n-Diffusion, wenn die obere Schicht 20 positiv dotiert ist. Die
Zungen 12 und die Elektroden 131 und 132 sind also sowohl gegen
einander als auch gegenüber der unteren Schicht 21 durch pn-Über
gänge isoliert. Um die Kapazitätsänderungen der Differential-Plat
tenkondensatoren bei Auslenkung der Zungen 12 mittels einer Schal
tung auswerten zu können, befindet sich an den zungensockelseitigen
Enden der Zungen 12 und der Elektroden 131 und 132 jeweils ein
Metallanschluß 24 auf der Trägeroberfläche 16. Durch Auslenkung der
Zungen 12 wird die Kapazität zwischen der Zunge 12 und der Elektrode
131 zum Beispiel erhöht, während die Kapazität zwischen der Zunge 12
und der Elektrode 132 erniedrigt wird. Bei der Parallelschaltung
mehrerer solcher Differential-Plattenkondensatoren müssen benach
barte feste Elektroden 131 und 132 gegeneinander isoliert werden, um
die Kapazitätserhöhung auf einer Seite nicht durch die Kapazitäts
erniedrigung auf der anderen Seite zu kompensieren. Im dargestellten
Ausführungsbeispiel erfolgt dies mittels einer Isolationsdiffusion
23, die die obere Schicht 20 vollständig durchdringt. Ebenfalls
geeignet ist ein Isolationstrench wie in Fig. 1 und 3 dargestellt.
Claims (10)
1. Sensor zur Schwingungsmessung, insbesondere zur Beschleunigungs
messung, der aus einem Träger (10) aus monokristallinem Material her
gestellt ist, wobei der Träger (10) eine untere Schicht (21) und eine
obere Schicht (20) aufweist und aus dem Träger (10) zumindest eine
schwingungsfähige Zunge (12) herausgeätzt ist und Mittel zur Aus
wertung der Auslenkung der zumindest einen Zunge (12) vorhanden sind,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zunge (12) so angeordnet ist, daß ihre
Schwingungsebene parallel zur Trägeroberfläche (16) verläuft, daß der
Zunge (12) gegenüber eine Elektrode (13) angeordnet ist, daß
Zunge (12) und Elektrode (13) elektrisch voneinander isoliert sind und
daß die kapazitive Änderung zwischen Zunge (12) und Elektrode (13)
meßbar ist.
2. Sensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die untere
Schicht (21) und die obere Schicht (20) des Trägers (10) aufgrund
ihrer negativen bzw. positiven Dotierung entweder einen pn- oder einen
np-Übergang bilden und daß die Isolation der in der oberen
Schicht (20) ausgebildeten Zunge (12) und der Elektrode (13) durch
Ätzgräben (11) gebildet ist, die die obere Schicht (20) vollständig
durchdringen.
3. Sensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die untere
Schicht (21) und die obere Schicht (20) des Trägers (10) aufgrund
ihrer negativen bzw. positiven Dotierung entweder einen pn- oder einen
np-Übergang bilden und daß die Isolation der in der oberen
Schicht (20) ausgebildeten Zunge (12) und der Elektrode (13) durch
Isolationsdiffusionen (23) erfolgt, die die obere Schicht (20)
vollständig durchdringen.
4. Sensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß mehrere Zungen jeweils einer zugehörigen Elektrode
gegenüberstehen.
5. Sensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß jeder Zunge (12) mit der zugehörigen Elektrode (13)
eine weitere Zunge mit einer weiteren Elektrode zugeordnet ist,
wobei die weitere Zunge bezüglich der weiteren Elektrode eine der
Zunge (12) mit der zugehörigen Elektrode (13) entgegengesetzte
Bewegungsrichtung hat.
6. Sensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Elektroden (131, 132) kammförmig von einem
Elektrodensockel (15) ausgehen und daß die Zungen (121, 122) kamm
förmig von mindestens einem Zungensockel (141, 142) ausgehen.
7. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß jeder Zunge (12) eine weitere Elektrode (132)
zugeordnet ist, wobei die Zunge (12) bezüglich der weiteren
Elektrode (132) eine der Bewegungsrichtung bezüglich der einen
Elektrode (131) entgegengesetzte Bewegungsrichtung hat.
8. Verfahren zur Herstellung eines Sensors zur Schwingungsmessung
nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
der Ätzgraben (11) des Sensors mit Hilfe der Photomaskierungs
technik mit im wesentlichen vertikal zu den beiden Hauptoberflächen
des Trägers (10) verlaufenden seitlichen Begrenzungsflächen und
einer im wesentlich parallel zu den beiden Hauptoberflächen ver
laufenden Bodenfläche von der Trägeroberfläche (16) aus durch
anisotropes Ätzen, z. B. reaktives Ionenätzen oder naßchemisches
Ätzen, in den Träger (10) eingeätzt wird, dergestalt, daß die obere
Schicht (20) vollständig durchgeätzt wird und anschließend zur
Ausbildung der mindestens einen Zunge (12) der Teil des Ätzgrabens
(11), der die freizulegende Zunge umgibt, in der Nähe seiner
Bodenfläche mit einer lateralen Unterätzung (22) versehen wird.
9. Verfahren zur Herstellung eines Sensors zur Schwingungsmessung
nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der
Ätzgraben (11) des Sensors mit Hilfe der Photomaskierungstechnik mit
im wesentlichen vertikal zu den beiden Hauptoberflächen des Trägers
(10) verlaufenden seitlichen Begrenzungsflächen und einer im wesent
lichen parallel zu den beiden Hauptoberflächen verlaufenden Boden
fläche von der Trägeroberfläche (16) aus durch anisotropes reaktives
Ionenätzen oder anisotropes naßchemisches Ätzen in den Träger (10)
eingeätzt wird, dergestalt, daß die obere Schicht (20) vollständig
durchgeätzt wird und die Freilegung der mindestens einen Zunge (12)
durch eine Rückseitenätzung erfolgt, dermaßen, daß ausgehend von
einem durch Photomaskierungstechnik erzeugten Ätzfenster (30) auf
der noch nicht strukturierten Unterseite des Trägers (10) die untere
Schicht (21) durch einen anisotropen Ätzprozeß vollständig durch
geätzt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das
Ätzfenster so gewählt wird, daß die feststehenden Elektroden
zumindest an ihren beiden Enden auf dem Trägermaterial ruhen.
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