DE3943013A1 - Diodenvorrichtung fuer hochfrequenzanwendungen - Google Patents

Diodenvorrichtung fuer hochfrequenzanwendungen

Info

Publication number
DE3943013A1
DE3943013A1 DE3943013A DE3943013A DE3943013A1 DE 3943013 A1 DE3943013 A1 DE 3943013A1 DE 3943013 A DE3943013 A DE 3943013A DE 3943013 A DE3943013 A DE 3943013A DE 3943013 A1 DE3943013 A1 DE 3943013A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
diode
resistor
diode device
substrate
resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE3943013A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3943013C2 (de
Inventor
Kenji Tsuji
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=15907361&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE3943013(A1) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Publication of DE3943013A1 publication Critical patent/DE3943013A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3943013C2 publication Critical patent/DE3943013C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Revoked legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/62Protection against overvoltage, e.g. fuses, shunts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01014Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01055Cesium [Cs]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1203Rectifying Diode
    • H01L2924/12034Varactor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung mit einer Diode, die insbesondere für Hochfrequenzsignale verwendet wird. Die Vorrichtung kann z.B. in einer Abstimmschaltung eines Fernsehempfängers verwendet werden.
Fig. 7 zeigt die Eingangsstufe einer typischen Abstimm­ schaltung 1 eines Fernsehempfängers, bei der eine Diode 2 mit variabler Kapazität und eine Schaltdiode 3 verwendet werden. Um diese Dioden 2 und 3 gegen zufällige Fehler auf­ grund von Überspannungen zu schützen, sind Widerstände 4 a und 4 b (üblicherweise mit 50 bis 100 kΩ) normalerweise für die Dioden 2 bzw. 3 vorgesehen. In der Abbildung sind C 1, C 2, C 3 und C 4 Sperrkondensatoren, L 1, L 2 und L 3 Abstimmspu­ len, Bezugsziffer 5 bezeichnet einen Doppelgate - MOS FET für die Hochfrequenzverstärkung, Bezugsziffer 6 bezeichnet einen Vorspannungswiderstand und C 5 ist ein Ableitungskon­ densator.
Normalerweise werden diskrete Teile für den Aufbau einer solchen Schaltung verwendet, und die Schutzwiderstände 4 a und 4 b wurden ebenfalls separat vorgesehen: Die Widerstände 4 a und 4 b werden mit einem Ende an die Dioden 2 und 3 und an dem anderen Ende an die Spannungseingangsklemmen 7 und 8 angeschlossen. In diesem Fall muß eine gewisse Länge des Zuleitungsdrahtes zwischen den Dioden 2, 3 und den Wider­ ständen 4 a, 4 b vorgesehen sein, und es ergibt sich ein Pro­ blem mit den Streukapazitäten 9 und 10 aufgrund des Lei­ tungsdrahtes, die ungewünschte Einflüsse auf die Abstimmei­ genschaften ausüben können.
Dementsprechend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Diodenvorrichtung mit sehr geringen Streukapazitäten zu schaffen, die für Hochfrequenzanwendungen geeignet ist.
Desweiteren liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein einheitliches Bauteil zu schaffen, bei dem eine Diode und ihr Schutzwiderstand einstückig miteinander kombiniert sind.
Entsprechend einem Aspekt dieser Erfindung weist eine Di­ odenvorrichtung für Hochfrequenzanwendungen auf: Eine Di­ ode, einen an einen Anschluß der Diode angeschlossenen Wi­ derstand zum Schutz der Diode gegen Überspannungen, eine Harzverpackung zum Vergießen und Fixieren der Diode und des Widerstandes und eine Anzahl von Anschlußelementen, von denen jedes in die Harzverpackung halb eingegossen ist zum Verbinden der Anschlüsse der Diode und des Widerstandes mit der Außenseite der Diodenvorrichtung.
Gemäß eines weiteren Aspektes dieser Erfindung weist eine Diodenvorrichtung für Hochfrequenzanwendungen auf: Eine Di­ ode aus einem Halbleitersubstrat und einem Halbleiterbe­ reich, der einen dem Substrat entgegengesetzten Leitfähig­ keitstyp aufweist und in das Substrat eingebettet ist, einen Widerstand, der auf dem Substrat über einer Isolier­ schicht angeordnet ist und Kontakt mit dem Substrat über eine in der Isolierschicht ausgebildete Öffnung hat, zum Schutz der Diode gegen eine Überspannung, ersten und zwei­ ten Anschlußelementen, die mit den Anschlüssen der Diode verbunden sind, einem dritten Anschlußelement, das mit dem Widerstand verbunden ist, und eine Harzverpackung, zum Ver­ gießen und Fixieren der Diode, des Widerstandes und der An­ schlußelemente.
Da die Diode und ihr Schutzwiderstand gemäß den oben ge­ nannten Merkmalen integriert und in ein einheitliches Bau­ teil gegossen sind, ist die Verbindungsleitung zwischen ih­ nen sehr kurz, was zu einer zu vernachlässigenden Streuka­ pazität führt und zu einer hohen Anwendbarkeit für Hochfre­ quenzverwendungen führt. Die einheitliche Vorrichtung ist ferner vorteilhaft bei der Handhabung und bei der Herstel­ lung von Anwendungsschaltungen, wie einer Fernsehabstimm­ schaltung.
Ausführungsformen der Erfindung werden anhand der beigefüg­ ten Zeichnungen erläutert, es zeigt:
Fig. 1a eine Aufsicht auf eine Diodenvorrichtung gemäß der Erfindung,
Fig. 1b eine Schnittdarstellung entlang der Linie B-B der Fig. 1a,
Fig. 2 eine Perspektivdarstellung der Diodenvorrichtung,
Fig. 3 den Schaltplan der Diodenvorrichtung,
Fig. 4 eine Schnittdarstellung des Hauptteils der Dioden­ vorrichtung,
Fig. 5 eine Aufsicht auf eine zweite Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 6 eine Aufsicht auf eine dritte Ausführungsform der Erfindung, und
Fig. 7 einen Schaltplan einer Abstimmschaltung eines VHF- Fernsehempfängers.
Die in den Fig. 1a, 1b und 2 dargestellte Vorrichtung ist die erste Ausführungsform der Erfindung, in der ein Schutz­ widerstand 4′ auf einem Diodenchip 12 angeordnet ist, der auf einem 11 der drei Anschlußstifte 11, 13 und 14 der Vor­ richtung angeordnet ist. Wie in Fig. 3 dargestellt ist, wird der Anschlußstift 11 für die Kathode der Diode 12 ver­ wendet, ein weiterer Anschlußstift 13 ist mit der Anode über einen inneren Leitungsdraht 16 verbunden, und der dritte Anschlußstift 14 ist mit dem Widerstand 4′ über einen weiteren inneren Leitungsdraht 17 verbunden, wobei alle mit Harz 15 vergossen und fixiert sind. Die Anschluß­ stifte 11, 13 und 14 sind aus einem Leitungsraster gefertigt und werden nach dem Vergießen getrennt.
Der mit dem Schutzwiderstand 4′ integrierte Diodenchip 12 ist wie in Fig. 4 dargestellt, aufgebaut. Die Diode 12 ist aus einem N-Siliziumsubstrat 18 und einem darin eingebette­ ten P-Bereich 19 gebildet. Dann wird eine Isolierschicht 21 gebildet, die die Oberfläche des N-Substrates abdeckt und ein Durchgangsloch 24 für eine mit Verunreinigungen do­ tierte Polysiliziumschicht (der Widerstand) 4′ aufweist, um das Substrat 18 zu erreichen. Auf dem P-Bereich (Anode der Diode) 19 ist ein Metallanschluß 22 (vorzugsweise, aber nicht notwendigerweise aus Aluminium) angeordnet, und auf der Polysiliziumschicht (Widerstand) 4′ ist ein weiterer Metallanschluß 23 angeordnet. Die Rückseite des N-Silizium­ substrates 18 ist mit dampfbeschichtetem Gold 24 bedeckt, das den Kathodenstift 11 kontaktiert. Die Metallanschlüsse 22 und 23 sind mit Drähten 16 und 17 verbunden, um die an­ deren beiden Stifte 13 und 14 anzuschließen. Das Vergußharz wird vorzugsweise unter solchen ausgewählt, die geringe di­ elektrische Hochfrequenzverluste aufweisen.
Fig. 5 zeigt eine zweite Ausführungsform der Erfindung, bei der der Widerstand 4′ unabhängig von der Diode 12 auf den dritten Anschlußstift 14 ausgebildet ist. Der Widerstand 4′ kann durch Dampfbeschichtung auf dem Stift 14 oder in ande­ rer Weise ausgebildet werden. Die dritte Ausführungsform ist in Fig. 6 dargestellt, bei der der Verbindungsdraht 17 zwischen der Diode 12 und dem dritten Stift 14 durch einen Hochwiderstandsdraht gebildet wird, der als Schutzwider­ stand dient.

Claims (8)

1. Diodenvorrichtung für Hochfrequenzanwendungen mit:
einer Diode,
einem mit einem Anschluß der Diode verbundenen Widerstand zum Schutz der Diode gegen eine Überspannung,
einer Harzverpackung, in der die Diode und der Widerstand eingegossen und fixiert sind, und
einer Anzahl von Anschlußelementen, von denen jedes in die Harzverpackung halb eingegossen ist, zum Verbinden der An­ schlüsse der Diode und des Widerstandes mit der Außenseite der Diodenvorrichtung.
2. Diodenvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Diode eine Schaltdiode ist.
3. Diodenvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Diode eine Diode mit variabler Ka­ pazität ist.
4. Diodenvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Anschlußelemente Anschlußstifte eines Leitungsrasters sind und daß innere Leitungsdrähte, die die Diode und die Anschlußstifte verbinden, in der Harzverpackung eingegossen sind.
5. Diodenvorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Widerstand auf einem der An­ schlußstifte befestigt ist.
6. Diodenvorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der die Diode und einen der Stifte verbindende Leitungsdraht aus einem Hochwiderstandsdraht gebildet ist, der als der Widerstand dient.
7. Diodenvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Widerstand einstückig auf einem Halbleitersubstrat der Diode ausgebildet ist.
8. Diodenvorrichtung für Hochfrequenzanwendungen mit:
Einer Diode aus einem Halbleitersubstrat und einem Halblei­ terbereich, der einen zu dem des Substrates entgegengesetz­ ten Leitfähigkeitstyp aufweist und in das Substrat einge­ setzt ist,
einem auf dem Substrat über einer Isolierschicht angeordne­ ten Widerstand, der mit dem Substrat über eine in der Iso­ lierschicht ausgebildete Öffnung in Kontakt steht, zum Schutz der Diode gegen eine Überspannung,
ersten und zweiten Anschlußelementen, die mit den Anschlüs­ sen der Diode verbunden sind, einem dritten Anschlußele­ ment, das mit dem Widerstand verbunden ist, und
einer Harzverpackung, in der die Diode, der Widerstand und die Anschlußelemente eingegossen und fixiert sind.
DE3943013A 1988-12-27 1989-12-27 Fernsehtuner mit einer Eingangsstufe, bei der ungewünschte Streukapazitäten minimiert sind Revoked DE3943013C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988170574U JPH0289854U (de) 1988-12-27 1988-12-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3943013A1 true DE3943013A1 (de) 1990-06-28
DE3943013C2 DE3943013C2 (de) 1994-12-22

Family

ID=15907361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3943013A Revoked DE3943013C2 (de) 1988-12-27 1989-12-27 Fernsehtuner mit einer Eingangsstufe, bei der ungewünschte Streukapazitäten minimiert sind

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPH0289854U (de)
DE (1) DE3943013C2 (de)
GB (1) GB2226700B (de)
SG (1) SG59493G (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002007222A2 (en) * 2000-07-06 2002-01-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Receiver comprising a variable capacitance diode

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL2027146B1 (en) * 2020-12-17 2022-07-11 Ampleon Netherlands Bv A radiofrequency power package and device with improved ESD performance

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2758890A1 (de) * 1977-01-27 1978-08-03 Tokyo Shibaura Electric Co Halbleitervorrichtung mit thermischer sicherung
DE3522652A1 (de) * 1985-06-25 1987-01-08 Blaupunkt Werke Gmbh Schaltungsanordnung zur abstimmung von empfaengern
DE3736548A1 (de) * 1986-10-30 1988-05-05 Toko Inc Elektronische abstimmschaltung fuer einen am-empfaenger

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1047411A (de) *
JPS56122134A (en) * 1980-02-29 1981-09-25 Toshiba Corp Resin-sealed type semiconductor device
JPS6018145B2 (ja) * 1980-09-22 1985-05-09 株式会社日立製作所 樹脂封止型半導体装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2758890A1 (de) * 1977-01-27 1978-08-03 Tokyo Shibaura Electric Co Halbleitervorrichtung mit thermischer sicherung
DE3522652A1 (de) * 1985-06-25 1987-01-08 Blaupunkt Werke Gmbh Schaltungsanordnung zur abstimmung von empfaengern
DE3736548A1 (de) * 1986-10-30 1988-05-05 Toko Inc Elektronische abstimmschaltung fuer einen am-empfaenger

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IBM Techn. Discl. Bull., Vol. 13, No. 5, Oct. 1970, S. 1272-1273 *
IBM Techn. Discl. Bull., Vol. 25, No. 9, Feb. 1983, S. 4595-4596 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002007222A2 (en) * 2000-07-06 2002-01-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Receiver comprising a variable capacitance diode
WO2002007222A3 (en) * 2000-07-06 2002-04-11 Koninkl Philips Electronics Nv Receiver comprising a variable capacitance diode
US6661074B2 (en) 2000-07-06 2003-12-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Receiver comprising a variable capacitance diode

Also Published As

Publication number Publication date
DE3943013C2 (de) 1994-12-22
GB8929207D0 (en) 1990-02-28
JPH0289854U (de) 1990-07-17
SG59493G (en) 1993-07-09
GB2226700B (en) 1993-02-17
GB2226700A (en) 1990-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2542518C3 (de)
DE4301915C2 (de) Mehrfachchip-Halbleitervorrichtung
DE69834561T2 (de) Halbleiteranordnung und herstellungsverfahren dafür
DE4306056C2 (de) Antennenvorrichtung
DE60028651T2 (de) Zugentlastung-Zugkraft Abschluss mit gesteuerter Impedanz für ein elektrisches Kabel
DE3234668A1 (de) Ic-bauteil mit eigendaempfung fuer eine vielzahl von zuleitungen
DE9107385U1 (de) Mehrpoliger Steckverbinder für elektronische Signalleitungen
DE2242025B2 (de) Zusammengesetzte halbleiterschaltung
DE2556669B2 (de) Kapazitäts-Variations-Diodenanordnung
DE1639173C3 (de) Temperaturkompensierte Z-Diodenanordnung
DE10252831A1 (de) Festkörper-Bildaufnahmevorrichtung
DE60310303T2 (de) Leiterplattenrandverbinder und Karte
DE112006002489T5 (de) Leistungshalbleiter-Bauteil mit integriertem passiven Bauelement
EP0282617A1 (de) Integrierte Schaltung mit einer elektrisch leitenden Trägerplatte
DE69728648T2 (de) Halbleitervorrichtung mit hochfrequenz-bipolar-transistor auf einem isolierenden substrat
DE3626151C2 (de)
DE2840973A1 (de) Verfahren zur herstellung pruefbarer halbleiter-miniaturgehaeuse in bandform
DE3943013A1 (de) Diodenvorrichtung fuer hochfrequenzanwendungen
DE2840278A1 (de) Einstellbare daempfungsvorrichtung
DE102016200598A1 (de) Oberflächenmontierbare Vorrichtung zum Schutz einer elektrischen Schaltung
DE19906841B4 (de) Funkenstreckenanordnung und Verfahren zur Herstellung einer vertikalen Funkenstrecke
DE4329251C2 (de) Anordnung zum Schutz von gegen Überspannungen empfindlichen Bauelementen auf gedruckten Schaltungsplatten
DE4021872C2 (de) Hochintegriertes elektronisches Bauteil
DE4315847A1 (de) Verbindung zwischen einem Sender und/oder Empfänger sowie einer Antenne
DE19633549C2 (de) Integrierte Schaltung mit einer sich zumindest teilweise über einen Sägekanal hinweg erstreckenden Schutzschicht

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8363 Opposition against the patent
8331 Complete revocation