DE3937547A1 - Plasma-massenspektrometer - Google Patents
Plasma-massenspektrometerInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Verbesserung auf dem Gebiet der
Plasma-Massenspektrometrie bzw. Plasmaquellen-Massenspektrometrie, die zur
quantitativen Analyse von Spurenelementen in Materialien oder auf bio
logischem Gebiet verwendet wird, und insbesondere eine Verbesserung einer
Ionen-Extraktionseinrichtung zum Extrahieren von Ionen aus einem in einem
Hochdruckbereich erzeugten Plasma.
Die herkömmliche Plasma-Massenspektrometrie wurde in Anal. Chem. 57, 13
(1985), Seiten 2674 bis 2679, Analyst. 108 (Februar 1983) Seiten 159 bis 165,
Bunseki, 7 (1985) Seiten 505 bis 508 usw. diskutiert. Der grundsätzliche
Aufbau des herkömmlichen Plasma-Massenspektrometers ist in Fig. 2a gezeigt
und Details eines Ausschnittes A in Fig. 2a sind in Fig. 2b gezeigt. In Fig.
2b wird gezeigt: ein Auslaßrohr 10, eine Plasmagas-Einlaß 20, ein Probenein
laß 30, eine RF-(Radiofrequenz)-Versorgungsspule bzw. RF-Leistungszufuhr
spule 40, ein Plasma 50, eine Ionen-Extraktionselektrode 60, eine in der
Ionen-Extraktionselektrode 60 vorgesehen Öffnung 61, ein Skimmer bzw.
Ablenkeinheit 70, eine in dem Skimmer vorgesehene Öffnung 71, eine Ionen-
Extraktionslinse 80, ein Ionenstrahl 90 und eine Photonensperre (oder
Ablenkplatte) 100. Desweiteren bezeichnet (i) einen Hochdruckbereich (etwa
1 Atm), (ii) einen Mitteldruckbereich bzw. einen Bremsdruckbereich (unge
fähr 1 Torr) und (iii) bezeichnet einen Niedrigdruckbereich (10-4 Torr).
In dem zuvor erwähnten Stand der Technik ist der Verbesserung der Extrak
tionseffizienz von Ionen (Probenionen) 90 aus dem in dem Hochdruckbereich
(Umgebungsdruck) (i) erzeugten Plasma 50 nicht genügend Beachtung ge
schenkt worden. Daher tritt ein Problem bezüglich der Erfassungsgrenze
(oder Empfindlichkeit) auf. Weiterhin ist, um die durch die Intrusion von
Photonen aus dem Plasma in einen Ionendetektor verursachte Verschlechte
rung des S/N-Verhältnisses von Signal (S) zu Rauschen (N) zu unterdrücken,
die Photonensperre 100 auf der Achse des Ionenstrahls 90 vorgesehen, um
dadurch zu verhindern, daß Photonen auf die Seite des Massenanalysieres
gelangen. Daher tritt ein Problem auf, daß das Ionenlinsensystem einen
komplizierten Aufbau hat, wie in Fig. 2a gezeigt.
Eine erste Aufgabe der vorliegenden Erfindung liegt darin, ein Plasma-
Massenspektrometer anzugeben, welches die Extraktionseffizienz von Ionen
aus einem Umgebungsdruck-Plasma verbessert.
Eine zweite Aufgabe der vorliegenden Erfindung liegt darin, ein Plasma-
Massenspektrometer anzugeben, welches effizient die Verschlechterung des
S/N-Verhältnisses verhindert, welche durch Photonen aus einem Umgebungs
druck-Plasma verursacht werden kann.
Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung zum Erreichen der
obenerwähnten Aufgabe wird, wie in Fig. 1 gezeigt, ein in einem Hoch
druck-(760 bis 1 Torr)-Bereich (i) erzeugtes Hochdruckplasma 50 in einen
Mitteldruck (1 bis 10-3 Torr)-Bereich (ii) verteilt bzw. gestreut (oder expan
diert), um ein gestreutes Plasma 51 zu erzeugen, und benötigte Ionen werden
aus dem expandierten Plasma 51 in einen Niedrigdruck (10-3 bis 10-7 Torr)-
Bereich (iii) unter Verwendung einer Ionenextraktionselektrode 110 und einer
Ionenbeschleunigungselektrode 120 extrahiert.
Gemäß einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung zum Erreichen der
obenerwähnten zweiten Aufgabe wird, wie in Fig. 4 gezeigt, ein Winkel R
(0 < R 90°) zwischen der Mittelachse a-b eines Ionenerzeugungs- oder
Hochdruckbereiches (i) und der Mittelachse c-d der Ionenextraktions-Bereiche
(ii) und (iii) eingerichtet, wodurch eine Verschlechterung des S/N-Verhältnis
ses, welches durch die Photonen aus dem Plasma, usw. verursacht werden
kann, effektiv unterdrückt (oder verhindert) wird.
Bei dem Aufbau gemäß dem obenerwähnten ersten Aspekt der vorliegenden
Erfindung wird eine Ionenhülle bzw. ein Ionenmantel 130 an der Grenze
zwischen der Ionenextraktionselektrode 110 und dem expandierten Plasma 51
ausgebildet. Dadurch können die erforderlichen Ionen effektiv aus dem
Plasma 51 extrahiert werden, anstelle eines Extrahierers von Ionen aus einem
mit Ultraschall fließenden viskosen Fluß von Plasmagas über die Öffnung 71
des Skimmers 70 in dem herkömmlichen Plasma-Massenspektrometer. Die Form
des Ionenmantels 130, der in der Nachbarschaft einer Öffnung (oder Ionen
extraktionsöffnung) 111 ausgebildet ist, die in der Ionenextraktionselektrode
110 vorgesehen ist, wird nämlich durch eine Spannung (oder Ionenextrak
tionsspannung) V E optimiert, die zwischen der Ionenextraktionselektrode 110
und der Ionenbeschleunigungselektrode 120 angelegt wird, um so einen
konvex geformten Mantel zu schaffen, der in Richtung auf das expandierte
Plasma 51 absteht, so daß die von dem expandierten Plasma 51 extrahierten
Ionen mittels des konvex geformten Ionenmantels fokussiert werden. Die
Stromdichte J von extrahierten Ionen folgt einer Beziehung J ∼ V E n (n < 1),
wie durch die Kurve A in Fig. 3 angedeutet und kann einen größeren Wert
haben, verglichen mit der Ionenstromdichte bei dem herkömmlichen Plasma-
Massenspektrometer, die einer Sättigungscharakteristik (J ∼ V E 1/2) folgt, wie
durch die in Fig. 3 gezeigte Kurve B angedeutet. Die Ionenstromdichte J
kann durch Veränderung der Ionenextraktionsspannung V E leicht gesteuert
werden.
Mit dem Aufbau gemäß dem obenerwähnten zweiten Aspekt der vorliegenden
Erfindung, da die Lichtmenge, die von dem in dem Hochdruckbereich (i)
erzeugten Plasma 50 in Richtung auf die Massenanalysierer-Seite wandert,
reduziert bzw. abgelenkt bzw. fehlgeleitet wird, ist es möglich die Anzahl
bzw. die Menge von Photonen zu reduzieren, die in die Massenanalysierer-
Seite eintreten, wodurch bei der Messung das S/N-Verhältnis verbessert wird.
Weiterhin, da das Vorsehen der Photonensperre 100 des herkömmlichen
Plasma-Massenspektrometers hier nicht erforderlich ist, ist es möglich, den
Aufbau eines Ionenlinsensystems einfach zu halten und es ist möglich, die
erforderlichen Ionen in die Massenanalysierer-Seite mit einer erhöhten
Effizienz einzuführen.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vorliegenden
Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung in Verbindung
mit der Zeichnung. Darin zeigt
Fig. 1 eine Ansicht, die den grundlegenden Aufbau eines Hauptteiles eines
Massenspektrometers einer Plasmaquelle bei Atmosphärendruck gemäß
einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 2a eine Ansicht, die den Aufbau des herkömmlichen Massenspektro
meters einer Plasmaquelle unter Atmosphärendruck zeigt;
Fig. 2b eine Ansicht, die Details eines Ausschnittes A in Fig. 2a zeigt;
Fig. 3 ein Diagramm, das die Charakteristik einer Ionenextraktionsspan
nung (V E ) über der Ionenstromdichte (J) eines Ionenextraktions
systems gemäß der vorliegenden Erfindung im Vergleich zu der
Charakteristik von V E gegen J gemäß dem Stand der Technik zeigt;
Fig. 4 eine schematische Ansicht eines Atmosphärendruck-Plasmaquellen-
Massenspektrometers gemäß einer weiteren Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 5 eine Ansicht, die den Aufbau eines Atmosphärendruck-Plasmaquellen-
Massenspektrometers gemäß einer weiteren Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt und
Fig. 6 eine Ansicht, die den Aufbau eines Massenspektrometers mit Plasma
quelle unter Atmosphärendruck gemäß einer weiteren Ausführungs
form zeigt.
Fig. 1 ist eine Ansicht, die den Aufbau eines Hauptteiles eines Plasma-
Massenspektrometers bzw. Plasmaquellen-Massenspektrometers gemäß einer
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt (Fig. 1 entspricht Fig. 1b
oder dem Ausschnitt A in Fig. 2a). In Fig. 1 wird gezeigt: ein Auslaßrohr 10,
welches aus Quartz oder dergleichen hergestellt ist, eine Hochfrequenz-(auch
im Microwellenbereich)-Spannungsversorgung 40 (wie eine Spule oder ein Os
zillator), ein Hochdruckplasma 50, das in einem Hochdruck (760 bis 1 Torr)-
Bereich (i) erzeugt wird, ein gestreutes bzw. expandiertes Plasma 51, das
durch Streuen (oder Expandieren) des Hochdruckplasmas 50 in einen Mittel
druck (1 bis 10-3 Torr)-Bereich (ii) erzeugt wird, eine Plasma-Probenelektro
de bzw. Plasma-Probenentnahmeelektrode 63, die aus rostfreiem Stahl oder
dergleichen hergestellt wird und gekühlt wird (z. B. mittels Wasserkühlung),
eine Plasmaproben-Öffnung 64, die in der Plasmaproben-Elektrode 63 vorge
sehen ist (z. B. eine kreisförmige Öffnung mit einem Durchmesser von nicht
größer als 1 mm), eine Ionenextraktionselektrode 110, die aus Nickel oder
dergleichen hergestellt wird und gekühlt wird (z. B. mittels Wasserkühlung),
eine Ionenextraktionsöffnung 111, die in der Ionenextraktionselektrode 110
vorgesehen ist (z. B. eine kreisförmige Öffnung mit einem Durchmesser x 1 von
1 bis 0,5 mm und einer Dicke (oder einer Elektrodendicke bei der Öffnung)
11 von 0,5 bis 1 mm, eine Ionenbeschleunigungselektrode 120, die aus rost
freiem Stahl oder dergleichen hergestellt ist, eine Ionenbeschleunigungs
öffnung 121, die in der Ionenbeschleunigungselektrode 120 vorgesehen ist
(z. B. eine kreisförmige Öffnung mit einem Durchmesser x 2 von etwa 0,4 bis
0,8 mm und einer Dicke (oder einer Elektrodendicke bei der Öffnung) l 2 von
0,5 bis 2 mm), ein Ionenmantel 130, der in der Nachbarschaft der Öffnung 1 l
der Ionenextraktionselektrode 110 ausgebildet ist und eine Ionenenergie-
Steuerelektrode 140, die aus rostfreiem Stahl oder dergleichen hergestellt ist
und eine Öffnung bzw. eine Mündung 141 hat, die in ihrem Mittelteil vorge
sehen ist. Weiterhin ist ein extrahierter Ionenstrahl 90 gezeigt. Vorzugsweise
erfüllen die Öffnungsdurchmesser x 1 und x 2 und die Elektrodendicken 11 1 und
l 2 eine Beziehung x 1/x 2 ≈ 5 l 1/l 2 + 0,8. Weiterhin ist die Länge l eines
Spaltes zwischen der Ionenextraktionselektrode 110 und der Ionenbeschleuni
gungselektrode 120 derart eingerichtet, daß sie eine Beziehung l : x 2 : x 1 ≈ 1 : 2 : 3
erfüllt. Eine Ionenextraktionsspannungsquelle 151 dient zum Anlegen einer
Ionenextraktionsspannung V E (<0) zwischen der Ionenextraktionselektrode
110 und der Elektrodenbeschleunigungselektrode 120, und eine Ionenenergie-
Steuerspannungsquelle 152 dient zum Anlegen einer Ionenenergie-Steuerspan
nung V B (0) an die Ionenenergie-Steuerelektrode 140.
Der Betrieb des Plasma-Massenspektrometers mit dem obenerwähnten Aufbau
ergibt sich wie folgt. Eine Probe und ein Plasmagas (He, N2, Ar oder
dergleichen), die in das Auslaßrohr 10 in den Hochdruckbereich (i) eingeführt
werden, werden dissoziiert und ionisiert durch die Wirkung einer Hoch
frequenz-Leistung bzw. Hochfrequenz-Spannung, die durch die Hochfrequenz-
Spannungsversorgung 40 derart angelegt wird, daß ein Hochdruckplasma 50
erzeugt wird. Das erzeugte Hochdruckplasma 50 wird über die Plasmaproben
öffnung 64 in einen unter einem Druck stehenden Mitteldruck (1 bis 10-3
Torr)-Bereich (ii) expandiert, so daß eine expandiertes Plasma 51 erzeugt
wird. Wenn eine Ionenextraktionsspannung V E zwischen der Ionenextrak
tionselektrode 110, die hinter der Plasmaprobenelektrode 63 in einer von
dieser um etwa 3 bis 20 mm beabstandeten Position (in Richtung auf die
Streuung bzw. Expansion des Plasmas) angeordnet und normal geerdet ist,
und der Ionenbeschleunigungselektrode 120 angelegt wird, die hinter der
Ionenmantel bzw. Ionenhülle 130, die in Richtung auf das expandierte Plasma
51 absteht bzw. hervortritt, in der Nachbarschaft der Ionenextraktionsöffnung
111 ausgebildet, so daß die an der Grenze zwischen dem expandierten Plasma
51 und dem Ionenmantel 130 extrahierten Ionen durch eine Linsenwirkung
des konvex geformten Ionenmantels 130 fokussiert und durch die Ionenbe
schleunigungsöffnung 121 mit einer Energie eV E beschleunigt werden, wo
durch ein Ionenstrahl 90 gebildet wird. Wenn ein Potential V B , an die
Ionenenergie-Steuerelektrode 140 angelegt wird, kann die Energie des Ionen
strahls 90 bis zur Grenze von eV B gesteuert werden. Der Ionenstrahl 90 mit
der Energie eV B wird in einem Massenanalysierer (z. B. vom Vierpoltyp)
eingeführt, der in einem Niedrigdruck (10-3 bis 10-7 Torr)-Bereich (iii)
vorgesehen ist, und der Ionenstrahl 90 wird dann auf seine Masse analysiert
bzw. massenanalysiert. Hierdurch kann eine quantitative Analyse der Elemente
der Probe mit einer hohen Empfindlichkeit ausgeführt werden. Ein Ionen
linsensystem wie eine "Einzellinse" kann vorzugsweise zwischen der Ionenbe
schleunigungselektrode 120 und der Ionenenergie-Steuerelektrode 140 oder
zwischen der Ionenenergie-Steuerelektrode 140 und dem Massenanalysierer
vorgesehen sein, um die Divergenz des Ionenstrahls zu minimieren.
In dem Fall, wo die Verschlechterung des S/N-Verhältnisses aufgrund von
Rauschen (Hintergrundrauschen), welches durch Photonen aus dem Hoch
druckplasma 50 erzeugt wird, in Betracht gezogen wird, kann ein Aufbau wie
in Fig. 4 gezeigt, verwendet werden, der eine andere Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt. Der Hochdruckplasma-Erzeugungsteil (mit dem
Ablaßrohr 10, der Hochfrequenz-Spannungsversorgung 40 usw.) und die
Plasmaproben-Elektrode 63 sind bezüglich des Ionenextraktionssystems (mit
der Ionenextraktionselektrode 110, der Ionenbeschleunigungselektrode 120,
usw.), das hinter diesem vorgesehen ist, geneigt angeordnet, so daß ein
Winkel R, der die Beziehung 0 < R 90° erfüllt, zwischen der Mittelachse a-b
des Hochdruckplasmas 50 und der Mittelachse c-d des Ionenextraktions
systems eingerichtet wird. Der Schnittpunkt p der Mittelachsen a-b und c-d
wird derart eingerichtet, daß er zwischen dem Schnittpunkt m einer Fläche
der Plasmaprobenelektrode 63 auf der Seite des Plasmas 50 und der Mittel
achse c-d und dem Schnittpunkt n einer Fläche der Ionenextraktionselektro
de 110 auf der Seite des Plasmas 50 und der Mittelachse c-d angeordnet wird
(m p < n), wie in Fig. 4 gezeigt. Es ist nicht immer erforderlich, die
Ionenprobenelektrode 63 bezüglich der Ionenextraktionselektrode 110 zu
neigen. Die Plasmaprobenelektrode 63 kann zu der Ionenextraktionselektrode
110 parallel sein.
Bei einem solchen Aufbau, bei dem die Mittelachse a-b des Hochdruckplasmas
50 und die Mittelachse c-d des Ionenextraktionssystems bezüglich zueinander
geneigt sind, ist es möglich, zu verhindern, daß interferierende bzw. beein
flussende bzw. überlagernde Partikel wie Photonen, die aus dem Hochdruck
plasma 50 emittiert werden, zusammen mit dem Proben-Ionenstrahl in den
Massenanalysierer eintreten, wodurch das S/N-Verhältnis bei der Analyse
verbessert wird.
Fig. 5 zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die
vorliegende Ausführungsform ist durch eine Struktur gekennzeichnet, bei der
die Ionenextraktionselektrode 110 und die Ionenbeschleunigungselektrode 120
durch das gleiche Trägersubstrat 160 getragen bzw. gelagert werden, um die
Genauigkeit des Einstellens bzw. des Setzens bzw. des Ausrichtens der
Achsen für die Ionenextraktionsöffnung 111 der Ionenextraktionselektrode 110
und der Ionenbeschleunigungsöffnung 121 der Ionenbeschleunigungselektrode
120 als auch die Genauigkeit des Spaltabstandes zwischen den Elektroden 110
und 120 und den Grad an Parallelität der Elektroden 110 und 120 zueinander
zu verbessern.
Wie in Fig. 5 gezeigt, werden die Ionenextraktionselektrode 110 und die
Ionenbeschleunigungselektrode 120 auf voneinander abgewandten Flächen des
gemeinsamen Trägersubstrates 160 angebracht, das z. B. aus Messing mit einer
hohen Abmessungsgenauigkeit hergestellt ist, wobei die Mittelachsen der
Ionenextraktionsöffnung 111 und der Ionenbeschleunigungsöffnung 121 derart
ausgerichtet werden, daß sie miteinander mit einer hohen Genauigkeit zusam
menfallen. Da die oben erwähnte Ionenextraktionsspannung V E an die Ionen
beschleunigungselektrode 120 anzulegen ist, ist ein isolierendes Abstands
stück 170 zwischen der Ionenbeschleunigungselektrode 120 und dem Träger
substrat 160 angeordnet bzw. vorgesehen. Ein elektrischer Kurzschluß
zwischen der Ionenextraktionselektrode 110 und der Ionenbeschleunigungs
elektrode 120 wird durch das isolierende Abstandsstück 170 verhindert.
Nachdem die Elektroden 110 und 120 somit an das gemeinsame Trägersubstrat
160 mit einer hohen Genauigkeit angebracht worden sind, wird das Träger
substrat 160 an einem Substrat-Halterrahmen 180 angebracht.
Fig. 6 zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die
vorliegende Ausführungsform ist dadurch gekennzeichnet, daß Einstell- bzw.
Ausricht-Ausnehmungen zum Erleichtern des Ausrichtens der Ionenextrak
tionselektrode 110 und der Ionenbeschleunigungselektrode 160 auf voneinander
abgewandten Seiten bzw. Flächen des gemeinsamen Trägersubstrates jeweils
vorgesehen sind. Vorzugsweise wird eine kreisförmige Ausricht-Ausnehmung
161 zum Ausrichten der Ionenextraktionselektrode 110 auf einer der vonein
ander abgewandten Flächen des Trägersubstrates 160 vorgesehen und eine
kreisförmige Ausricht-Ausnehmung 162 zum Ausrichten der Ionenbeschleuni
gungselektrode 120 ist auf der anderen Fläche des Trägersubstrates 160
vorgesehen. Die Elektroden 110 und 120 werden jeweils in die Ausricht-Aus
nehmungen 161 und 162 eingeführt. Wenn die Ausricht-Ausnehmungen 161
und 162 konzentrisch zueinander ausgebildet sind, kann das Ausrichten der
Mittelachsen der Ionenextraktionsöffnung 111 und der Ionenbeschleunigungs
öffnung 121 weiter erleichtert werden. Bei einem derartigen Aufbau kann das
Ausrichten der Elektroden 110 und 120 mit einer guten Reproduzierbarkeit
erreicht werden, selbst wenn die Elektroden erneut nach einem Austausch
oder einer Reinigung der Elektroden angebracht werden.
Vorzugsweise wird auch in einer Fläche des Substrat-Halterahmens 180 eine
Ausricht-Ausnehmung 181 vorgesehen, so daß der äußere Umfang der Träger
substrates 160 in die Ausricht-Ausnehmung 181 eingeführt wird.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf Formen und Abmessungen der ver
schiedenen Elektroden begrenzt, die offenbart und in Zusammenhang mit den
Ausführungsbeispielen gezeigt sind. Auch das Verfahren des Erzeugens des
Hochdruckplasmas 50 ist nicht auf das offenbarte und in Zusammenhang mit
den Ausführungsformen gezeigte begrenzt. Es kann z. B. eine Corona Entla
dung unter Verwendung einer Gleichspannungsquelle verwendet werden.
Weiterhin, selbst wenn der Erdpotentialpegel der Elektroden 63, 110 und der
negative Potentialpegel der Elektrode 120, wie in Fig. 1 gezeigt, auf einen
positiven Potentialpegel bzw. einen Erdpotentialpegel verändert werden,
volzieht das System die gleiche Operation bzw. den gleichen Betrieb. Weiter
hin, wenn der Hochdruckbereich (i) unter einem Druck steht, der wesentlich
geringer ist als der Umgebungsdruck, kann die Plasmaprobenelektrode 63
weggelassen werden.
Wie aus dem vorangegangenen ersichtlich, wird gemäß der vorliegenden
Erfindung, da ein Ionenmantel ausgebildet wird, eine Wirkung erzielt, daß
Probenionen effektiv unter der Steuerung der Ionenextraktionsspannung V E
extrahiert werden können, wodurch die Empfindlichkeit des Systems erhöht
wird, oder die Erfassungsgrenze abgesenkt wird.
Es kann auch ein Winkel R (0 < R 90°) zwischen der Mittelachse a-b des
Plasmaerzeugungsbereiches und der Mittelachse c-d eines Ionenextraktionsbe
reiches eingerichtet werden. Hierdurch wird eine Wirkung erzielt, daß die
Verschlechterung des S/N-Verhältnisses, die durch Photonen usw. hervorge
rufen wird, unterdrückt wird.
Weiterhin schafft die Steuerung des Potentials V B der Ionenenergie-Steuer
elektrode 140 einen Effekt bzw. eine Wirkung, daß die Energie eines Ionen
strahls, der in den Massenanalysierer eintritt, frei gesteuert werden kann.
Claims (8)
1. Plasmaquellen-Massenspektrometer, aufweisend:
eine Plasmaerzeugungseinrichtung (10, 40) zum Erzeugen eines Plasmas (50) in einem Hochdruckbereich;
eine Diffusionseinrichtung, die eine Plasmaprobenelektrode (63) mit einer Plasmaprobenöffnung (64) beinhaltet, durch die das in dem Hochdruckbe reich erzeugte Plasma in einen Mitteldruckbereich expandiert wird, um ein expandiertes Plasma (51) zu erzeugen; und
eine Ionenextraktionseinrichtung zum Extrahieren von Ionen aus dem expandierten Plasma, wobei die Ionenextraktionseinrichtung eine Ionen extraktionselektrode (110) zum Ausbilden eines Ionenmantels (130) und eine Ionenbeschleunigungselektrode (120) umfaßt.
eine Plasmaerzeugungseinrichtung (10, 40) zum Erzeugen eines Plasmas (50) in einem Hochdruckbereich;
eine Diffusionseinrichtung, die eine Plasmaprobenelektrode (63) mit einer Plasmaprobenöffnung (64) beinhaltet, durch die das in dem Hochdruckbe reich erzeugte Plasma in einen Mitteldruckbereich expandiert wird, um ein expandiertes Plasma (51) zu erzeugen; und
eine Ionenextraktionseinrichtung zum Extrahieren von Ionen aus dem expandierten Plasma, wobei die Ionenextraktionseinrichtung eine Ionen extraktionselektrode (110) zum Ausbilden eines Ionenmantels (130) und eine Ionenbeschleunigungselektrode (120) umfaßt.
2. Plasmaquellen-Massenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß ein Winkel R, der die Beziehung 0 < R 90° erfüllt,
zwischen der Mittelachse der Plasmaerzeugungseinrichtung und der
Mittelachse der Ionenextraktionseinrichtung eingerichtet wird.
3. Plasmaquellen-Massenspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß das Spektrometer weiterhin aufweist eine Ionen
energie-Steuerelektrode (140), die hinter der Ionenbeschleunigungselek
trode in einer Bewegungsrichtung der Ionen vorgesehen ist, wobei die
Ionenenergie-Steuerelektrode eine Mündung (141) hat zum Durchlassen
von Ionen durch diese, und wobei eine Vorspannung V B an die Ionen
energie-Steuerelektrode angelegt wird.
4. Plasmaquellen-Massenspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Plasmaprobenelektrode und die Ionenextraktions
elektrode geerdet sind, während die Ionenbeschleunigungselektrode mit
einem negativen Potential verbunden ist.
5. Plasmaquellen-Massenspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Plasmaprobenelektrode und die Ionen
extraktionselektrode mit einem positiven Potential verbunden sind,
während die Ionenbeschleunigungselektrode geerdet ist.
6. Plasmaquellen-Massenspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß das Spektrometer weiterhin aufweist ein Linsen
system, das hinter der Ionenbeschleunigungselektrode in Wanderrichtung
der Ionen vorgesehen ist zum Fokussieren der Ionen.
7. Plasmaquellen-Massenspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ionenextraktionselektrode und die Ionenbe
schleunigungselektrode an dem gleichen Trägersubstrat (160) angebracht
sind.
8. Plasmaquellen-Massenspektrometer nach Anspruch 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß Ausricht-Ausnehmungen (161, 162) zum Ausrichten der
Ionenextraktionselektrode und der Ionenbeschleunigungselektrode in dem
Trägersubstrat vorgesehen sind, und daß die Ionenextraktionselektrode
und die Ionenbeschleunigungselektrode in die Ausnehmungen eingeführt
werden.
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8131 | Rejection |