DE390700C - Photographischer Belichtungsmesser - Google Patents

Photographischer Belichtungsmesser

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DE390700C
DE390700C DEM82282D DEM0082282D DE390700C DE 390700 C DE390700 C DE 390700C DE M82282 D DEM82282 D DE M82282D DE M0082282 D DEM0082282 D DE M0082282D DE 390700 C DE390700 C DE 390700C
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/12Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using wholly visual means
    • G01J1/14Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using wholly visual means using comparison with a surface of graded brightness

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

  • Photographischer BeUchtungsmesser. Die Verwendung von Feldern. (Streifen) von verschiedener Lichtdurchlässigkeit zur Bestimmung der richtigen Kopierzeit für Entwicklungspapiere und chromierte Schichten ist in der Photographie seit langem üblich; die auf diesem Prinzip beruhenden, gewöhnlich als Photometer bezeichneten Vorrichtungen werden in der Weise gebraucht, daß ein Probestreifen unter den abgestuften Feldern. von verschiedener für jedes Feld bekannter Lichtdurchlässigkeit in der Weise belichtet wird, daß das Photometer zwischen Lichtquelle und Negativ geschaltet wird. Der Probestr-eifen wir-d entwickelt und das am günstigsten aussehende Feld aufgesucht. Da man. die Lichtdurchlässigkeit jedes Feldes kennt, weiß man, um wieviel die für den Probestreifen gewählte Belichtungszeit zut verkürzen ist, um dasselbe Ergebnis ohne Einschaltung des Photometers zu. erhalten. Die gefundene Zeit wendet man für die Belichtung des ganzen Negativs an.
  • Die von derartigen Belichtungsmessern gelieferten Resultate sind jedoch vielfach urysicher und nicht leicht zu beurteilen, und zwar hauptsächlich aus folgenden Gründen: Um beurteilen zu können, ob eines der Felder des Photostreifens so richtig belichtet ist, daß man. durch Anwendung dieser Expositionszeit auf das ganze Negativ ein vollkommen zufriedenstellendes Resultat erlangt, ist es erforderlich, daß dieses Feld- in ein Gebiet des Negativs fällt, das für das Gesamtbild charakteristisch ist und welches selbst entsprechend-e Zeichnung und Kontraste enthält. Dies läßt sich nicht willkürlich regeln, da man. bei unbekannter Belichtungszeit nicht im voraus weiß, welches Feld richtig erscheinen wird. Fällt die richtige Belichtungszeit. z. B. in, ein Feld' ohne Zeichnung (Himmel, Was-ser) oder in eine tief-dunkle - Schattenstelle, so ist mit seiner Hilfe die Bestimmung der Gesamtbelichtungszeit: nicht möglich.
  • Diesem, empfindlichen Übelstand hilft die nachfolgend beschriebene und in der Zeichnung dargestellte Anordnung ab. Es werden zwei vollständig gleiche Systeme von Feldern mit abgestufter oder verlaufender Lichtdurchlässigkeit hergestellt und gegenläufig so angeordnet, daß an beiden Enden das hellste neben dem dunkelsten Feld steht; das eine System wird also um iSo' gedreht neben d2s andere ,gesetzt. Wenn ein Lichtmesser von dieser Anordnung in der oben geschilderten Weise angewendet wird, so ist die Auffindung des richtigen, füe die Gesamtexposition maßgebenden Feldes sichergestellt, denn die gleichartig exponierten Felder beider Systeme fallen in ganz verschiedene Gebiete des Negativs. Außerdem wird die Beurteilung dadurch wesentlich erleichtert, daß jedes Feld zweifach an verschiedenen Stellen des Negativs vorkommt.
  • Ein weiterer übelstand bei den bisherigen Streifenphotometern liegt in der Art ihrer Abstufung. Diese kann aus praktischen Gründen nur so vorgenommen werden, daß die Felder in ihrer Lichtdurchlässigkeit in arithmetischer oder in geornetrischer Progression mit dem Faktor:2 fortschreiten, sich also in ihrer Tratisparenz verhalten -wie 2 :4:6:8 usw. oder wie 2:4:8: 16 usw. Im ersten Falle sind wegen der geringen Spannungen die Abstufungen viel zu zahlreich, untereinander zu wenig verschieden. Um die in Frage kommenden -Belichtungsspielräume zix beherrschen, müßte das Instrument eine für die praktische Anwendung hinderliche Länge haben-, da die Felder wegen der Beurteilungsmöglichkeit nicht zu schmal sein dürfen.
  • Im zweiten Falle sind die Befichtungsabst#inde zwischen zwei Feldern sehr bedeutend, und es kommt oft vor, daß die richtige Belichtung zwischen zwei Feldern liegt.
  • DiesemÜbelstand kann bei der beschriebenen gegenläufigen Anordnung der Felder leicht begegnet werden, indem die Felder der beiden Systeme so gewählt werden, daß das eine System die relativen Belichtungszeiten 2 : 4: 8 : 16 usw. und das gegenläufige System die Belichtungszeiten- 3 : 6 : 12 '.:24 usw. repräsentiert. Hierdurch ist mit Hilfe der gegenläufigen Anordnung auch die Frage der richtigen Abstufung der Felder gelöst.

Claims (1)

  1. PATENT-ANSPRUCH: Photographischer Belichtungsmesser, d> durch gekennzeichnet, daß zwei Systeme von Feldern von verschiedener abgestufter oder verlaufender Lichtdurchlässigkeit in der Weise gegenläufig angeordnet werden, ,daß je das hellste und das dunkelste Feld nebeneinanderliegen.
DEM82282D 1923-05-30 1923-08-15 Photographischer Belichtungsmesser Expired DE390700C (de)

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