DE3887658T2 - Vorspannungs- und Vorladungsschaltung für eine Bitzeile mit EPROM-Speicherzellen in CMOS-Technologie. - Google Patents

Vorspannungs- und Vorladungsschaltung für eine Bitzeile mit EPROM-Speicherzellen in CMOS-Technologie.

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/24Bit-line control circuits

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  • Read Only Memory (AREA)

Description

  • Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist eine Bitleitungs-Vorspann- und -Vorladeschaltung zum Lesen von in CMOS-Technologie ausgeführten EPROM-Speicherzellen.
  • Bekannte Schaltungen dieser Art zum Lesen von Zellen einer EPROM- Speicherzellenmatrix enthalten einen Teil, der zum Vorspannen der Bitleitung ausgelegt ist, und einen Teil, der zum raschen Vorladen der Bitleitung ausgelegt ist. Außerdem gibt es einen Leseverstärker, der zum Vergleichen der Spannung auf der Bitleitung mit derjenigen auf einer Dummy-Bitleitung betrieben wird, welche an die Vergleichs-Speicherzellen angeschlossen ist, die niemals einer Programmierung unterzogen werden.
  • Die Schaltungen basieren auf dem Prinzip, daß die Vorspannung in der Bitleitung eine Spannung hervorruft, die von dem Leitungszustand der gelesenen Zelle abhängt und somit gegenüber der Dummy-Bitleitung unausgeglichen ist. Die Unausgeglichenheit wird von dem Leseverstarker gelesen, welcher sie in ein Lesesignal umsetzt, welches den Zustand der gelesenen Zelle angibt. Das Voraufladen macht den Lesevorgang schnell.
  • Die grundlegenden Nachteile der vorerwähnten Schaltungen zeigen sich derzeit in einer hohen Stromaufnahme und dem Erfordernis an einem sehr empfindlichen und mithin ziemlich komplizierten Leseverstärker der in der Lage ist, eine ziemlich geringfügige Spannungsungleichheit an seinen Anschlüssen zu erfassen. Die EP-A-0 101 485 lehrt die Idee, zur Leistungseinsparung in einem ROM aktive Lasten einer Bitleitung abzuschalten.
  • Die US-A-4 223 394 lehrt die Verwendung einer Kaskode-Verstärkungsstufe zum Vorspannen einer Bitleitung.
  • Die WO 84/02800 lehrt die Verwendung von zwei Stromquellen zum Vorspannen von Leseknoten, die mit einer Bitleitung bzw. einer Dummy-Bitleitung verbunden sind, unter Verwendung des gleichen Stroms.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Realisierung einer Bitleitungs-Vorspann und -Voraufladeschaltung zum Lesen von in CMOS- Technologie ausgeführten EPROM-Speicherzellen, die die oben erwähnten Nachteile nicht aufweist, und die speziell eine sehr geringe Stromaufnahme aufweist und die Möglichkeit des Einsatzes weniger empfindlicher und mithin einfacherer Leseverstarker bietet.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch eine Bitleitungs- Vorspann- und -Voraufladeschaltung nach dem Anspruch 1.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Schaltung enthält der Vorspannteil eine Kaskode-Verstärkungsstufe auf der Bitleitung, um die durch Vorspannen einer Zelle hervorgerufene Spannungsungleichheit am Eingang des Leseverstärkers zu verstärken.
  • Außerdem enthält gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung der Vorspannteil eine Stromspiegeleinrichtung, die zwischen der Bitleitung und der Dummy-Bitleitung angeordnet ist, um die Spannungsungleichheit zu bewirken.
  • Als Ergebnis wird die Stromaufnahme der Schaltung deutlich reduziert aufgrund der Wirkung des Abschaltens der Vorauflade- und Vorspannteile der Schaltung am Ende derjenigen Zeitspanne, die unbedingt notwendig ist, damit der Leseverstärker den Zustand der Zelle lesen kann.
  • Gleichzeitig gestatten die Verstärkung der Spannungsungleichheit durch die Kaskode-Stufe und der Einsatz eines Stromspiegels die Verwendung eines weniger empfindlichen und mithin einfacheren Leseverstärkers.
  • Eine bevorzugte Ausführungsform der Schaltung gernäß der Erfindung ist zur besseren Deutlichkeit in der beigefügten Zeichnung dargestellt, die eine Schaltungsskizze beinhaltet.
  • In der Zeichnung bedeuten die Bezugsziffern 1 und 2 eine Bitleitung und eine Dummy-Bitleitung, die einen Spannungsversorgungsanschluß 3 an einen EPROM-Speicher 4 anschließen, der in CMOS-Technologie ausgeführt ist und in an sich bekannter Weise eine Matrix aus Speicherzellen enthält, die mittels mehrerer Bitleitungen auswählbar sind, welche von der Bitleitung 1 über einen Dekodierer abgehen, sowie mit Hilfe mehrerer Wortleitungen, die senkrecht zu den Bitleitungen verlaufen, und weiterhin mehrere Vergleichszellen, die niemals einer Programmierung unterliegen und die an die Dummy-Bitleitung 2 angeschlossen sind.
  • Zu den Leitungen 1 und 2 gehört eine Vorspann- und Voraufladeschaltung, bestehend aus einem Vorspannteil 5 und einem schnellen Voraufladeteil 6. Außerdem ist ein Leseverstärker 7 vorgesehen, der zwischen zwei Zwischenschaltungsknoten 8 und 9 der Leitungen 1 und 2 liegt.
  • Der Vorspannteil 5 wird über einen P-Kanal-Transistor 10 gesteuert, dessen Gatter ein Steuersignal empfangt, welches die Negation eines Steuersignals A für den Voraufladeteil 6 darstellt, wobei beide Signale von einem geeignet gesteuerten Generator 1 abgegeben werden.
  • Der Vorspannteil enthält auf der Dummy-Leitung 2 zwischen dem Speicher 4 und dem Schaltungsknoten 9 einen N-Kanal-Transistor 12, dessen Gate von einer Bezugsspannung Vref gesteuert wird, während zwischen dem Schaltungsknoten 9 und dem Steuertransistor 10 in Parallelschaltung zwei gleiche P-Kanal-Transistoren 13 und 14 liegen, deren Gate-Anschlüsse an die zugehörigen Drain-Anschlüsse angeschlossen sind. Den Transistoren 13 und 14 entspricht auf der Leitung 1 in Stromspiegelanordnung ein gleicher P-Kanal-Transistor 15, dessen Gate-Anschluß mit den gemeinsamen Gate- und Drain-Anschlüssen der Transistoren 13 und 14 verbunden ist. Zwischen dem Schaltungsknoten 8 und dem Speicher 4 befindet sich, wiederum auf der Bitleitung 1, ein N-Kanal-Transistor 16, der von der Bezugsspannung Vref gesteuert wird und eine Kaskode- Verstärkungsstufe für die Spannungsungleichheit bildet, die zwischen den beiden Leitungen 1 und 2 während der Lesephase auftritt.
  • Der Voraufladeteil 6 umfaßt einen P-Kanal-Steuertransistor 17, der zwischen einem Versorgungsanschluß 18 und dem Speicher 4 liegt, wobei ein N-Kanaltransistor 19 zu ihm in Reihe geschaltet ist und von der Bezugsspannung Vref gesteuert wird. Das Gate des Transistors 17 wird gesteuert vom Ausgangssignal eines NAND-Logikports 20, welches an einem Eingang das oben erwähnte Steuersignal A empfängt und mit seinem anderen Eingang an den Ausgang eines Flipflops 21 angeschlossen ist, welches durch zwei NAND-Logikelemente 22 und 23 gebildet wird. Ein Eingang des Logikelements 22 ist über einen Negator 24 an den Schaltungsknoten 8 angeschlossen. Ein Eingang des Logikelements 23 empfängt ein Initialisierungssignal B. Der Ausgang des Logikelements 23 bildet ein Signal C, welches auf den Generator 11 so einwirkt daß es die Signale A und auf einen logischen Pegel um schaltet, mit dessen Hilfe der Voraufladeteil 6 und der Vorspannteil 5 abgeschaltet werden, nachdem das Lesen durch den Leseverstärker 7 stattgefunden hat. Ein an den Generator 11 angelegtes externes Lesesignal D wird zum Start der Voraufladung verwendet.
  • Zwischen dem Schaltungsknoten 8 und Masse befindet sich ein N-Kanal- Transistor 25, dessen Gate von dem Signal gesteuert wird.
  • Schließlich ist das Ausgangssignal A des Generators 11 auf niedrigem Pegel und das negierte Ausgangssignal hat hohen Pegel; die Transistoren 17 und 10 werden daher abgeschaltet und der Transistor 25 eingeschaltet, um so den Schaltungsknoten 8 und - über den Transistor 16 - die Bitleitung 1 auf Masse zu legen.
  • Wenn der Lesebetrieb einer Zelle gestartet wird, veranlaßt ein Lesesignal D den Generator 11, das Signal A auf hohen Pegel und das Signal auf niedrigen Pegel zu bringen. Deshalb werden die Transistoren 17 und 10 eingeschaltet, und der Transistor 25 wird ausgeschaltet.
  • Der Transistor 10 liefert der Dummy-Bitleitung 2 einen ersten Vorstrom und damit eine erste Vorspannung am Schaltungsknoten 9, und liefert weiterhin der Bitleitung 1 einen zweiten Vorstrom und damit eine zweite Vorspannung am Schaltungknoten 8. Diese zweite Vorspannung hängt ab vom programmierten oder nicht-programmierten Zustand der gelesenen Zelle, die an die Bitleitung 1 angeschlossen ist. Der Leseverstärker 7 vergleicht die Vorspannung an den Knoten 8 und 9. Der Transistor 16 ist in üblicher Weise ein Verstärker, der die Spannungsungleichheit an den Eingängen des Leseverstärkers 7 verstärkt.
  • Der Transistor 17 und, allgemein gesagt, der Vorspannteil 6, haben die Aufgabe, die Vorspannung auf der Bitleitung 1 rasch hochzuziehen. Wenn der Transistor 17 eingeschaltet wird, wird ein starker Strom in die Bitleitung 1 eingespeist, und deshalb wird die Spannung am Knoten 8 auf einen Vorlade-Spannungswert angehoben. Das Einschalten des Transistors 15 bewirkt, daß der Vorlade-Spannungswert abhängig davon zunimmt oder abnimmt, ob die gelesene Speicherzelle eine programmierte Zelle oder eine jungfräuliche Zelle ist.
  • Wenn die Spannung am Knoten 8 einen hohen Pegel als Vorladespannungswert erreicht, veranlaßt der Negator 24 das Flipflop 21, in einen Zustand umzuschalten, in welchem das Signal C das Rücksetzen des Generators 11 in einen Zustand veranlaßt, in welchem das Signal A niedrigen Pegel und das Signal hohen Pegel hat. Deshalb werden die Transistoren 17 und 15 ausgeschaltet, um die Stromaufnahme der Schaltung nach dem Lesevorgang auf null herabzusetzen.

Claims (3)

1. Bitleitungs-Vorspann- und Vorladeschaltung für eine in CMOS-Technologie ausgeführte EPROM-Speicherzelle, die auf einer Bitleitung (1) angeordnet ist, umfassend einen Vorspannteil (5), der mit der Bitleitung (1) verbindbar ist, und einen Vorladeteil (6), der an den Vorspannteil (5) angeschlossen und mit der Bitleitung (1) verbindbar ist, wobei der Vorspannteil (5) einen Leseverstärker (7) mit einem ersten Eingang (9), einem zweiten Eingang (8) und eine erste Schalteinrichtung (10) aufweist, die ansprechend auf ein Lesesignal (D) aktiviert wird, um einer parallel zu der Bitleitung (1) angeordneten Dummy-Bitleitung (2) einen ersten Vorstrom zuzuführen, um an dem ersten Eingang (9) des Leseverstärkers (7) eine erste Vorspannung zu erzeugen, und um der Bitleitung (1) einen zweiten Vorstrom zuzuführen, um abhängig vom Zustand der gelesenen Speicherzelle (4) eine zweite Vorspannung am zweiten Eingang (8) des Leseverstärkers (7) zu erzeugen, dadurch gekennzeichnet, daß der Vorladeteil (6) eine zweite Schalteinrichtung (17) aufweist, die durch das Lesesignal (D) gleichzeitig mit der ersten Schalteinrichtung (10) aktiviert wird, um die Bitleitung (1) mit einer Spannungsversorgung zu verbinden und so die Bitleitung (1) auf einen Vorladespannungswert voraufzuladen, und eine Einrichtung (24, 21, 20, 11) enthält, die ansprechend auf den Vorladespannungswert auf der Bitleitung (1) eine Deaktivierung der ersten und der zweiten Schalteinrichtung (10, 17) veranlaßt.
2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Vorspannteil (5) eine Kaskodeverstärkungsstufe (16) aufweist, die auf der Bitleitung (1) angeordnet ist.
3. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Vorspannteil (5) eine Stromspiegeleinrichtung (13, 14, 15) aufweist, die zwischen der Bitleitung (1) und der Dummy-Bitleitung (2) liegt, um zwischen den beiden Leitungen ein Spannungsungleichgewicht hervorzurufen.
DE3887658T 1987-12-01 1988-11-17 Vorspannungs- und Vorladungsschaltung für eine Bitzeile mit EPROM-Speicherzellen in CMOS-Technologie. Expired - Fee Related DE3887658T2 (de)

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