DE3853644T2 - Gerät zum Testen lichtemittierender Vorrichtungen. - Google Patents

Gerät zum Testen lichtemittierender Vorrichtungen.

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Description

    Hintergrund der Erfindung 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das optische Testen von lichtemittierenden Vorrichtungen und Displays. Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf eine Testvorrichtung, die zusammen mit einer herkömmlichen automatischen Testausrüstung verwendet werden kann, um eine Vielfalt an lichtemittierenden Vorrichtungen optisch zu testen.
    • 2. Diskussion des Standes der Technik
  • Als Folge des Aufkommens von automatischen Testausrüstungen (ATE= automatic test equipment) wurde das Testen von elektrischen Funktionen von komplexen Geräten in hohem Maße automatisiert. Eine Leiterplatte z.B., die eine Vielzahl von diskreten Komponenten, integrierten Schaltungen und anderen Vorrichtungen aufweist, kann umfassenden elektrischen Tests inittels einer "Nagelbett" (bed of nails)-Testvorrichtung unterzogen werden. Gedruckte Schaltungen weisen jedoch oft lichtemittierende Komponenten, so wie lichtemittierende Dioden, Sieben-Segment-Displays und dergleichen auf, die sowohl elektrisch als auch optisch getestet werden müssen. Durch optisches Testen kann festgestellt werden, ob eine Komponente tatsächlich Licht emittiert, wenn sie dies tun sollte, ob die Emission eine minimale akzeptable Intensität überschreitet, ob die Intensitäten von mehreren Komponenten untereinander ausreichend gleich sind, u.s.w.
  • Ein Verfahren zum optischen Testen von lichtemittierenden Vorrichtungen beinhaltet ein Maschinen-Bildsystem, bei welchem eine Fernsehkamera auf eine sich im Test befindliche lichtemittierende Vorrichtung (DUT = device under test) gerichtet ist. Das von der Kamera erzeugte Bild liefert Informationen über die Emitterintensität und Hintergrundintensität auf einer Pixel-um-Pixel-Basis. Dann wird eine Analog/Digital-Umwandlung durchgeführt und die äquivalenten binären Werte werden im Speicher gespeichert.
  • Es gibt zahlreiche Nachteile bei dieser Art von Bildsystem. Erstens sind die Ausgangssignale, die von dem Bildsystem geliefert werden, typischerweise nicht mit herkömmlichen ATE- Eingängen elektrisch kompatibel, wodurch eine direkte Verbindung des Bildsystems mit einem ATE-Host verhindert wird. Als Folge davon kann das optische Testen der DUT nicht direkt mit dem elektrischen Testen zu einem gemeinsamen automatischen Testprogramm kombiniert werden.
  • Zweitens erzeugt das Bildsystem für bestimmte Arten von optischen Tests große Datenmengen, die keinen Nutzen bringen. Angenommen, z.B., daß es das Ziel des Tests ist, einfach festzustellen, ob eine bestimmte lichtemittierende Vorrichtung zu einem bestimmten Zeitpunkt illuminiert ist. Ebenfalls angenommen, daß die DUT eine gedruckte Schaltung ist, die mehrere breit beabstandete lichtemittierende Dioden aufweist und daß der Sichtwinkel der Kamera breit genug ist, um die gesamte Oberfläche der Schaltungsplatte zu erfassen. Unter diesen Bedingungen sind die meisten der Pixel in dem von der Kamera erzeugten Bild nicht von den Dioden selbst und sind deshalb nicht von Interesse. Darüberhinaus sind die meisten der entsprechenden binären Daten nicht relevant und ein Daten-Reduktionsverfahren muß durchgeführt werden, welches normalerweise komplexe Bildverarbeitungs-Software erfordert.
  • Drittens liefert die Kamera eine feste gleichmäßige räumliche Auflösung über ihr ganzes Blickfeld hinweg. Dies kann in Fällen, in welchen die DUT mehrere breit voneinander beabstandete Gruppen von geringfügig voneinander beabstandeten lichtemittierenden Vorrichtungen enthält, ein bedeutender Nachteil sein. Um zwei benachbarte lichtemittierende Vorrichtungen aufzulösen während auch die gesamte DUT überwacht wird, können für das Bildsystem zusätzliche Kameras erforderlich sein, wodurch die Kosten steigen und die Komplexität des Systems zunimmt.
  • Schließlich sind die Kosten des Bildsystems relativ hoch, da die Kamera(s), der zum Speichern der Daten erforderliche Speicher und die bildverarbeitende Software erforderlich sind.
  • Das Dokument Patent Abstracts of Japan, Bd. 9, Nr. 143 [E-322] & JP-A-60025244 macht eine einzelne Prüfeinrichtung zum Testen von lichtemittierenden Dioden auf einem Wafer einer integrierten Schaltung bekannt. Die Prüfeinrichtung beinhaltet eine optische Faser und ist mit einer Stromquelle verbunden, so daß, wenn die Prüfeinrichtung in Kontakt mit einer Diode kommt, Strom angelegt wird, um die Diode in Vorwärtsrichtung vorzuspannen und anzuschalten. Die optische Faser überträgt Licht, das von einer Diode an einen Photodetektor emittiert wird, dessen Ausgang mit einem Signal-Prozessor verbunden ist.
  • Das Dokument FR-A-2 512 217 macht einen Optokoppler und ein modulares Gehäuse zum Koppeln von Licht von lichtemittierenden Komponenten auf einer gedruckten Schaltung bekannt. Eine separate Vorrichtung zum herstellen einer elektrischen Verbindung mit der gedruckten Schaltung kann auch in demselben Gehäuse mit dem Optokoppler untergebracht sein.
    • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung stellt eine Testvorrichtung bereit, die in Verbindung mit einer herkömmlichen automatischen Testausrüstung verwendet werden kann, um optisches Testen einer breiten Vielzahl von lichtemittierenden Vorrichtungen durchzuführen.
  • Insbesondere weist die Erfindung eine Vorrichtung zum optischen Testen einer Vielzahl von lichtemittierenden Vorrichtungen auf, die an einer sich im Test befindlichen Vorrichtung in einem vorbestimmten Muster angeordnet sind, wobei die Vorrichtung eine Halteeinrichtung aufweist zum Sichern einer Vielzahl von Prüfeinrichtungen in vorbestimmten Stellen entsprechend dem vorbestimmten Muster, so daß jede der Prüfeinrichtungen eine der lichtemittierenden Vorrichtungen optisch testen kann, wobei jede der Prüfeinrichtungen eine lichtleitende Faser, die in einem Gehäuse angeordnet ist und eine Detektoreinrichtung aufweist, wobei die Faser ein erstes Ende zum Empfangen von Licht und ein zweites Ende, das mit der Detektoreinrichtung verbunden ist, aufweist, wobei eine oder mehrere der Prüfeinrichtungen einen selektiv variablen Akzeptanzwinkel hat/haben, wodurch das Sichtfeld jeder Prüfeinrichtung individuell eingestellt wird, um Licht von einer vorbestimmten lichtemittierenden Einrichtung der Vielzahl dieser Einrichtungen zu empfangen und um im wesentlichen Licht auszuschließen, das von anderen lichtemittierenden Vorrichtungen emittiert wird, wobei die Vorrichtung so angepaßt ist, daß sie an eine automatische Testausrüstung angeschlossen werden kann, wobei die automatische Testausrüstung so programmiert werden kann, daß sie die optischen Funktionen der lichtemittierenden Vorrichtungen automatisch testet.
  • Jede Prüfeinrichtung wird deshalb nahe einer lichtemittierenden Komponente angeordnet und ein Lichtleitfaserkabel verbindet jede Prüfeinrichtung mit einem Detektor. Jeder der Detektoren liefert ein elektrisches Ausgangssignal, das in Zusammenhang steht mit der Intensität des Lichts, das von seinem Lichtleitfaserkabel geleitet wird. Die Ausgangssignale der Detektoren sind mit herkömmlichen ATE-Eingängen elektrisch kompatibel und können mit diesen direkt verbunden werden. Jeder Detektor kann individuell kalibriert werden.
  • Jede Prüfeinrichtung kann in einer festen Position befestigt werden oder alternativ dazu teleskopische Fähigkeiten aufweisen, wobei eine DUT mit lichtemittierenden Komponenten von verschiedenen Größen untergebracht werden kann. Außerdem kann die lichtleitende Faser in jedem Lichtleitfaserkabel in bezug auf ihr Gehäuse vertieft sein, wodurch ihr Akzeptanzwinkel effektiv verkleinert wird. Als Folge davon kann die räumliche Auflösung der Testvorrichtung auf einer Basis von Prüfeinrichtung zu Prüfeinrichtung eingestellt werden.
  • Die vorliegende Erfindung bietet zusätzliche Vorteile gegenüber einem herkömmlichen Bildsystem. Da jede sich im Test befindliche lichtemittierende Komponente mit einer individuellen Prüfeinrichtung gepaart ist, ist eine Kamera nicht mehr erforderlich. Da weiterhin jede Prüfeinrichtung auf eine bestimmte lichtemittierende Komponente gerichtet ist und nicht auf einen Bereich, der zahlreiche Komponenten enthalten kann, erzeugt die vorliegende Erfindung Daten nur in bezug auf die lichtemittierenden Komponenten. Indem somit große Mengen an irrelevanten Daten eliminiert werden, eliminiert die vorliegende Erfindung auch den Bedarf an einem großen Speicher zum Speichern solcher Daten und an der komplexen Software, die zum Verarbeiten der Daten erforderlich ist.
  • Sowohl die Testvorrichtung als auch die Prüfeinrichtung sind kostengünstig und einfach aufzubauen. Die Testvorrichtung ist langlebig und einfach zu bedienen.
    • Kurze Beschreibung der Zeichnung
  • Diese Erfindung ist insbesondere in den beigefügten Ansprüchen dargestellt. Die oben genannten und weitere Vorteile dieser Erfindung sind in bezug auf die folgende Beschreibung in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen besser verständlich.
  • Es zeigen:
  • Fig. 1 ein funktionales Blockdiagramm eines Systems, das gemäß dem Stand der Technik bekannt ist, zum automatischen Testen der elektrischen Funktionen einer sich im Test befindlichen Vorrichtung;
  • Fig. 2 ein funktionales Blockdiagramm eines Systems zum automatischen Testen der optischen Funktionen von einer oder mehreren lichtemittierenden Vorrichtungen;
  • Fig. 3 eine Seitenansicht einer optischen Testvorrichtung, die gemäß der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist;
  • Fig. 4A-4E eine Reihe von Darstellungen im Querschnitt, die den Aufbau einer teleskopischen Prüfeinrichtung zeigen; und
  • Fig. 5 ein Schaltdiagramm des in Fig. 3 gezeigten Detektors.
    • Detaillierte Beschreibung einer illustrativen Ausführungsform
  • Fig. 1 ist ein Blockdiagramm eines gemäß dem Stand der Technik bekannten Systems zum automatischen Testen der elektrischen Funktionen einer gegebenen Vorrichtung. Eine automatische Testeinheit 2 stellt eine Vielzahl von Ausgangsleitungen 4 bereit, die mit einer Vielzahl von Treibern 6 verbunden ist. Die Treiber 6 sind wiederum durch eine Vielzahl von Prüfeinrichtungen 8 mit einer sich im Test befindlichen Vorrichtung (DUT) 10 verbunden. Eine Vielzahl von Prüfeinrichtungen 12 verbindet die DUT 10 mit einer Vielzahl von elektrischen Sensoren 14. Die Sensoren 14 liefern eine Vielzahl von Ausgangsleitungen 16, die mit der Testeinheit 2 verbunden sind.
  • Im allgemeinen kann die Testeinheit 2 so programmiert werden, daß sie eine Reihe von elektrischen Tests an der DUT 10 ausführt. Die Sensoren 14 überwachen die interessierenden Bereiche an der DUT und liefern Daten an die Testeinheit 2. Die Sensoren 14 reagieren im allgemeinen nur auf die elektrischen Signale und können keine optischen Signale aufspüren, die von lichtemittierenden Komponenten der DUT 10 erzeugt werden können.
  • Fig. 2 ist ein Blockdiagramm eines Systems zum optischen Testen einer oder mehrerer lichtemittierender Vorrichtungen. Der Folgerichtigkeit halber behalten Komponenten, die ähnlich zu den in Fig. 1 gezeigten sind, dieselben Bezugszeichen. Eine optische Testvorrichtung 24 weist eine oder mehrere optische Prüfeinrichtungen 18 auf, von denen jede mit einem optischen Detektor 22 über ein Lichtleitfaserkabel 20 verbunden ist. Die Prüfeinrichtungen 18 sind nahe der DUT 10 angeordnet, wobei Licht, das von Komponenten auf diese emittiert wird, entlang den Lichtleitfaser-Kabeln 20 zu den Detektoren 22 geleitet werden kann. Die Ausgangsleitungen 17 der Detektoren 22 sind mit den Sensoren 14 verbunden. Als Folge hiervon können die optischen Funktionen der DUT 10 automatisch durch die Testeinheit 2 auf eine ähnliche Weise wie oben erläutert automatisch getestet werden.
  • Fig. 3 ist eine Seitenansicht der in Fig. 2 gezeigten Testvorrichtung 24. Eine Klemmplatte 27 ist auf einer Halteplatte 26 angeordnet. Zwei Befestigungseinrichtungen 29 erstrecken sich durch die Klemmplatte 27 zu der Halteplatte 26. Zwei Zapfen 31 erstrecken sich von der DUT 10 nach oben. Zwei Buchsen 33 erstrecken sich von dem unteren Teil der Halteplatte 26 nach unten.
  • Eine Vielzahl von Bohrungen 28 erstreckt sich durch die beiden Platten 26 und 27. Die Bohrungen 28 sind in einem vorbestimmten Muster angeordnet, welches mit der Anordnung von mehreren lichtemittierenden Komponenten 30, 32 und 34 übereinstimmt. Eine optische Prüfeinrichtung 18 ist in jeder der Bohrungen 28 angeordnet. Jede Prüfeinrichtung 18 weist ein Lichtleitfaserkabel 20 auf. Jedes Kabel 20 erstreckt sich von der Klemmplatte 27 nach oben in eine Bohrung 38, welche in einem Stützteil 36 angeordnet ist. Ein Detektor 22 ist benachbart zu jeder der Bohrungen 38 angeordnet und mit dem Ende des darin vorgesehenen Kabels 20 gekoppelt. Eine Leitung 40 erstreckt sich von jedem der Detektoren 22 zu einem Verbindungsstück 42 mit mehreren Stiften.
  • Das Verbindungsstück 42 stellt somit eine Schnittstelle zu der Testvorrichtung 24 bereit. Ein Verbindungsstück 44, welches so geformt ist, daß es in das Verbindungsstück 42 eingreift, dient dazu, die Testvorrichtung 24 mit den Sensoren 14 über Leitungen 17 (Fig. 2) zu verbinden.
  • Jede der Befestigungseinrichtungen 29 kann z.B. eine in einem Schlitz vorgesehene Schraube aufweisen, wobei, wenn die Schraube gelockert wird, die Klemmplatte 27 seitlich in bezug auf die Halteplatte 26 gleiten kann. Durch leichtes seitliches Verschieben der Klemmplatte 27 in bezug auf die Halteplatte 26 und nachfolgendes Feststellen der Befestigungseinrichtungen 29 wird eine seitliche Kraft auf die Prüfeinrichtungen 18 ausgeübt. Diese seitliche Kraft tendiert dazu, die Prüfeinrichtungen 18 in ihren richtigen jeweiligen Positionen zu halten.
  • Der Betrieb der Testvorrichtung 24 kann wie folgt zusammengefaßt werden. Zuerst wird die Malteplatte 26 nahe der DUT 10 angeordnet. Die Zapfen 31 greifen in die Buchsen 33 ein, wodurch eine richtige Ausrichtung oder paßgenaue Zuordnung der Halteplatte 26 mit der DUT 10 sichergestellt wird. Als Folge davon sind die Prüfeinrichtungen 18 nahe den lichtemittierenden Komponenten 30, 32 und 34 angeordnet, wodurch ermöglicht wird, daß die Prüfeinrichtungen von den Komponenten emittiertes Licht empfangen. Die Testeinheit 2 steuert in Übereinstimmung mit ihrer Programmierung die Treiber 6, die wiederum bewirken, daß die DUT 10 durch eine Reihe von vorgewählten Bedingungen oder Zuständen läuft. Während bestimmten Zuständen dieser vorgewählten Zustände kann eine oder mehrere der lichtemittierenden Komponenten 30, 32 oder 34 illuminiert werden. Die Prüfeinrichtung 18, die der illuminierten Komponente entspricht, führt einen Teil des emittierten Lichts entlang ihres Lichtleitfaserkabels 20 zu dem entsprechenden Detektor 22.
  • Der Detektor 22 erzeugt ein elektrisches Ausgangssignal, dessen Größe die Intensität des empfangenen Lichts anzeigt. Das Ausgangssignal wird entlang der Leitung 40 und einer der Leitungen 17 zu dem entsprechenden Sensor 14 geleitet. Durch Vergleichen der Ausgangssignale, die von den verschiedenen Sensoren 14 empfangen wurden, mit einer vorgewählten Referenz, kann die Testeinheit 2 feststellen, ob eine bestimmte lichtemittierende Komponente tatsächlich illuminiert wenn sie dies sein sollte, ob die Komponente eine Mindesthelligkeit bereitstellt, ob zwei oder mehrere Komponenten von gleicher Helligkeit sind u.s.w.
  • Als eine Alternative zum Befestigen der Prüfeinrichtungen 18 in festen Positionen, kann eine oder mehrere der Prüfeinrichtungen ein teleskopisches Merkmal aufweisen, wie in Figuren 4A-4E gezeigt ist. Das Lichtleitfaserkabel 20 weist einen lichtleitenden inneren Kern 50 auf, der von einem äußeren metallischen Überzug 49 und einer Ummantelung oder einem Gehäuse 48 umgeben ist.
  • Ein Ende des Lichtleitfaserkabels 20 wird durch eine zylindrische Hülse 52 eingeführt. Die Hülse 52 kann z.B. durch zwei Eindrückungen (crimp) 54 an der Ummantelung 48 befestigt sein. Der Abschnitt des Lichtleitfaserkabels 20, der sich unterhalb der Hülse 52 erstreckt, kann anschließend auf eine gewünschte Länge geschnitten werden. Wie in Figuren 4B und 4C gezeigt, wird das freie Ende des Lichtleitfaserkabels 20 durch eine Feder 56 hindurch eingeführt, wodurch die Feder oberhalb und an die Hülse 52 angrenzend angeordnet ist. Danach wird das Kabel 20 (zusammen mit der Hülse 52 und der Feder 56) durch eine zweite Hülse 58 eingeführt. Eine Eindrückung 60, die im oberen Abschnitt der Hülse 58 angeordnet ist, dient dazu, eine Bewegung der Feder 56 nach oben zu verhindern.
  • Wie in Fig. 4D gezeigt, wird ein Haltering 62 auf das freie Ende des Lichtleitfaserkabels 20 gezogen und angrenzend an die Hülse 58 angeordnet. Der Haltering 62 wird an der Ummantelung mittels einer Eindrückung 64 befestigt, wodurch die Bewegung der Hülse 52 und des Kabels 20 nach unten beschränkt wird.
  • Wenn unten an der Prüfeinrichtung 18 eine Kraft nach oben angewandt wird, bewegen sich das Kabel 20 und die Hülse 52 nach oben, wodurch die Prüfeinrichtung zurückgezogen wird und die Feder 56 zusammendrückt. Wenn die Kraft wegfällt, tendiert die Feder 56 dazu, die Prüfeinrichtung 18 in ihre verlängerte Position zurückzubringen. Somit kann, wie in Fig. 4E gezeigt, wenn die zusammengebaute Prüfeinrichtung 18 in der Halteplatte 26 angeordnet ist, jede einzelne Prüfeinrichtung 18 verlängert oder eingezogen werden, um sich an eine sich im Test befindliche Vorrichtung, die lichtemittierende Komponenten von unterschiedlicher Größe enthält, anzupassen.
  • Der lichtleitende innere Kern 50 zusammen mit dem äußeren metallischen Überzug 49 kann wahlweise in der Ummantelung 48 vertieft angeordnet sein. Durch das vertiefte Anordnen des inneren Kerns 50 wird bewirkt, daß der Akzeptanzwinkel der Prüfeinrichtung 18 abnimmt. Mit anderen Worten "sieht" oder akzeptiert der innere Kern 50 Licht von einem schmaleren Sichtfeld, wenn er vertieft angeordnet ist, als ansonsten der Fall wäre. Als Folge davon kann die räumliche Auflösung der Testvorrichtung 24 vorteilhaft auf einer Basis von Prüfeinrichtung zu Prüfeinrichtung geändert werden. Wenn z.B. mehrere lichtemittierende Komponenten sehr nahe zueinander angeordnet sind, können die Akzeptanzwinkel der entsprechenden Prüfeinrichtungen angepaßt werden, um zu verhindern, daß eine Prüfeinrichtung von einer angrenzenden Komponenten emittiertes Licht empfängt.
  • Fig. 5 ist ein schematisches Schaubild des in Fig. 3 gezeigten Detektors 22. Zwei Transistoren 66 und 68 sind in einer Darlington-Paaranordnung angeordnet. Der Transistor 68 ist ein lichtempfindlicher Transistor. Ein Lastwiderstand 70 ist zwischen dem Emitter des Transistors 66 und dem Erdpotential geschaltet. Das Ende des Lichtleitfaserkabels 20 ist in direkter Nähe zu der Kollektor-Basis-Übergangszone des Transistors 68 angeordnet. Die Leitung 40 kann direkt mit einem elektrischen Sensor 14 verbunden werden.
  • Wenn von dem Lichtleitfaserkabel 20 geleitetes Licht auf den Transistor 68 scheint, wird ein Ausgangssignal V&sub0; erzeugt. Die Größe des Ausgangssignals V&sub0; zeigt die Größe der von dem Transistor 68 empfangenen Lichtintensität an.
  • Die Kombination der Transistoren 66 und 68 steht als eine diskrete Komponente, wie z.B. Motorola Teil MFOD-73 zur Verfügung, welches ein Verbindungsstück aufweist, um das Lichtleitfaserkabel 20 zu befestigen. Der Lastwiderstand 70 kann z.B. einen diskreten Widerstand oder einen Rheostat aufweisen. Wenn ein Rheostat verwendet wird, kann jeder Detektor 22 individuell kalibriert werden, indem die Prüfeinrichtung 18 einfach in nächster Nähe einer kalibrierten Lichtquelle angeordnet wird und dann der Rheostat eingestellt wird, um das Ausgangssignal V&sub0; auf einen vorbestimmten Pegel einzustellen.

Claims (7)

1. Vorrichtung zum optischen Testen (24) einer Vielzahl von lichtemittierenden Vorrichtungen (30, 32, 34), die an einer sich im Test befindlichen Vorrichtung (DUT) in einem vorbestimmten Muster angeordnet sind, wobei:
die Vorrichtung eine Halteeinrichtung (26, 27) aufweist zum Sichern einer Vielzahl von Prüfeinrichtungen (18) in vorbestimmten Stellen entsPrechend dem vorbestimmten Muster, so daß jede der Prüfeinrichtungen eine der lichtemittierenden Vorrichtungen optisch testen kann;
jede der Prüfeinrichtungen eine lichtleitende Faser (50), die in einem Gehäuse (48) angeordnet ist und eine Detektoreinrichtung (22) aufweist, wobei die Faser ein erstes Ende zum Empfangen von Licht und ein zweites Ende, das mit der Detektoreinrichtung verbunden ist, aufweist;
eine oder mehrere der Prüfeinrichtungen einen selektiv variablen Akzeptanzwinkel hat/haben, wodurch das Sichtfeld jeder Prüfeinrichtung individuell eingestellt wird, um Licht von einer vorbestimmten lichtemittierenden Einrichtung der Vielzahl dieser Einrichtungen zu empfangen und um im wesentlichen Licht auszuschließen, das von anderen lichtemittierenden Vorrichtungen emittiert wird,
die Vorrichtung so angepaßt ist, daß sie an eine automatische Testausrüstung (ATE) angeschlossen werden kann, wobei die automatische Testausrüstung (ATE) so programmiert werden kann, daß sie die optischen Funktionen der lichtemittierenden Vorrichtungen automatisch testet.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei eine oder mehrere der Prüfeinrichtungen teleskopisch ist/sind und aufweist/aufweisen:
eine Feder (56), die das Gehäuse (48) umgibt und von dem ersten Ende der Faser beabstandet ist, eine erste Hülse (52), die zwischen der Feder und dem ersten Ende der Faser angeordnet ist und an dem Gehäuse befestigt ist, eine zweite Hulse (58), die die Feder und einen Abschnitt der ersten Hülse umgibt, mit einer Eindrükkung (60), um eine Bewegung der Feder entlang dem Gehäuse in eine Richtung von dem ersten Ende weg zu verhindern, und einen umgebenden Haltering (62), der mit einer weiteren Eindrückung (64) mit dem Gehäuse angrenzend an das Ende der zweiten Hülse, die von dem ersten Ende der Faser entfernt ist, befestigt ist.
3. Vorrichtung nach AnsPruch 1, wobei die Halteeinrichtung eine erste Platteneinrichtung (26) aufweist, wobei die erste Platte eine Vielzahl von Öffnungen hat, um eine oder mehrere der Prüfeinrichtungen zu halten.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, wobei die Halteeinrichtung weiterhin eine zweite Platteneinrichtung (27) aufweist, wobei die zweite Platteneinrichtung an die erste Platteneinrichtung angrenzt und eine Vielzahl von Öffnungen aufweist, die den Öffnungen in der ersten Platteneinrichtung entsprechen, wobei die zweite Platteneinrichtung ein oder mehrere Befestigungseinrichtungen (29) zum Befestigen der zweiten Platteneinrichtung an der ersten Platteneinrichtung aufweist, wodurch die Vielzahl von Prüfeinrichtungen in im wesentlichen fixierten Positionen gehalten sind.
5 Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Detektoreinrichtung eine Einrichtung zum Kalibrieren des Ausgangssignals aufweist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die automatische Testausrüstung (ATE) so programmierbar ist, daß sie die optischen Funktionen automatisch testet und an dem sich im Test befindlichen Gerät elektrische Tests ausführt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die lichtleitende Faser in einer oder mehreren der Prüfeinrichtungen innerhalb des Gehäuses zurücktritt, wodurch der Akzeptanzwinkel der lichtleitenden Faser verkleinert wird.
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