DE3810882C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3810882C2 DE3810882C2 DE3810882A DE3810882A DE3810882C2 DE 3810882 C2 DE3810882 C2 DE 3810882C2 DE 3810882 A DE3810882 A DE 3810882A DE 3810882 A DE3810882 A DE 3810882A DE 3810882 C2 DE3810882 C2 DE 3810882C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- sample
- light source
- support table
- contrast
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/244—Devices for focusing using image analysis techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62078484A JPH0738046B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 内部的構造を有する半透光性シート状試料の表面検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3810882A1 DE3810882A1 (de) | 1988-10-20 |
DE3810882C2 true DE3810882C2 (en, 2012) | 1990-12-06 |
Family
ID=13663262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3810882A Granted DE3810882A1 (de) | 1987-03-30 | 1988-03-30 | Automatische scharfeinstellungsvorrichtung eines mikroskops in einer oberflaechenpruefvorrichtung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4897537A (en, 2012) |
JP (1) | JPH0738046B2 (en, 2012) |
DE (1) | DE3810882A1 (en, 2012) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3828381C2 (de) * | 1988-08-20 | 1997-09-11 | Zeiss Carl Fa | Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung eines optischen Systems |
US4945220A (en) * | 1988-11-16 | 1990-07-31 | Prometrix Corporation | Autofocusing system for microscope having contrast detection means |
US5260825A (en) * | 1989-03-20 | 1993-11-09 | Olympus Optical Co., Ltd. | Microscope |
JP3032214B2 (ja) * | 1989-07-06 | 2000-04-10 | 株式会社トプコン | 手術用顕微鏡 |
JP3011950B2 (ja) * | 1989-08-23 | 2000-02-21 | 株式会社トプコン | 手術用顕微鏡 |
EP0418928B1 (en) * | 1989-09-22 | 1996-05-01 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Scanning microscope and scanning mechanism for the same |
DE3934744A1 (de) * | 1989-10-18 | 1991-04-25 | Krupp Gmbh | Verfahren zur beruehrungslosen ermittlung der dicke transparenter werkstoffe und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
JPH04326316A (ja) * | 1991-04-26 | 1992-11-16 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡用写真撮影装置 |
JPH0630420A (ja) * | 1992-05-13 | 1994-02-04 | Olympus Optical Co Ltd | 面順次式撮像装置 |
US5757544A (en) * | 1993-03-09 | 1998-05-26 | Olympus Optical Co., Ltd. | Image display apparatus |
CA2227225A1 (en) * | 1995-07-19 | 1997-02-06 | Ryan S. Raz | Automatic focus system |
US7133078B2 (en) * | 1997-05-21 | 2006-11-07 | Olympus Optical Co., Ltd. | Automatic focal point sensing device |
US6400502B1 (en) | 1998-08-18 | 2002-06-04 | Nikon Corporation | Microscope |
DE10033483C1 (de) | 2000-07-10 | 2002-01-03 | Zsp Geodaetische Sys Gmbh | Verfahren zur Autofokussierung für Fernrohre von Vermessungsgeräten |
DE10050823A1 (de) * | 2000-10-06 | 2002-04-18 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Mikroskop, insbesondere inverses Mikroskop |
DE10330714A1 (de) * | 2003-07-03 | 2005-01-20 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Verfahren zum automatischen Fokussieren bei der Abbildung eines Objektes |
US20050174085A1 (en) * | 2004-02-10 | 2005-08-11 | Olympus Corporation | Micromanipulation system |
JP2005316036A (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Olympus Corp | 撮像装置、照明光制御方法および照明光制御プログラム |
US10025084B2 (en) * | 2014-10-08 | 2018-07-17 | Biotek Instruments, Inc. | Autofocus algorithm for microscopy system based on cross-correlation |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4200354A (en) * | 1974-09-05 | 1980-04-29 | Robert Hoffman | Microscopy systems with rectangular illumination particularly adapted for viewing transparent objects |
JPS5228340A (en) * | 1975-08-29 | 1977-03-03 | Hitachi Ltd | Automatial focus adjustment unit for microscope |
JPS53116852A (en) * | 1977-03-23 | 1978-10-12 | Olympus Optical Co Ltd | Automatic focus adjusting system |
JPS55108628A (en) * | 1979-02-13 | 1980-08-21 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detector of camera |
US4510384A (en) * | 1981-08-17 | 1985-04-09 | National Research Development Corporation | Automatic focusing device with frequency weighted amplification |
JPS5994713A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-31 | Olympus Optical Co Ltd | 合焦検出方法 |
DE3406578C2 (de) * | 1983-02-24 | 1985-09-05 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo | Automatische Brennpunktermittlungsvorrichtung |
DE3340647A1 (de) * | 1983-11-10 | 1985-05-23 | Will Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Verfahren zur fokussierung eines mikroskopes sowie mikroskop zur durchfuehrung des verfahrens |
JPH0658205B2 (ja) * | 1985-05-08 | 1994-08-03 | 株式会社ニコン | 光学式検査装置 |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP62078484A patent/JPH0738046B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-03-25 US US07/173,416 patent/US4897537A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-03-30 DE DE3810882A patent/DE3810882A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63243907A (ja) | 1988-10-11 |
DE3810882A1 (de) | 1988-10-20 |
US4897537A (en) | 1990-01-30 |
JPH0738046B2 (ja) | 1995-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3810882C2 (en, 2012) | ||
DE10018253C2 (de) | Laser-Mikro-Dissektionsgerät | |
DE69026780T2 (de) | Rastermikroskop und Rastermechanismus dafür | |
DE2637496C2 (de) | Vorrichtung zum automatischen Betrieb eines Mikroskopes | |
DE3873570T2 (de) | Konfokales Laserabtastmikroskop. | |
DE3307745C2 (de) | Rasterelektronenmikroskop | |
EP1393116B1 (de) | Autofokussiereinrichtung für ein optisches gerät | |
DE19721112B4 (de) | Autofokussierverfahren | |
EP1610088A1 (de) | Vorrichtung zum optischen Vermessen eines Objektes | |
DE2246152A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum optischen ausrichten von gegenstaenden | |
DE3707487A1 (de) | Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung | |
DE3138364A1 (de) | "verfahren zur steuerung eines stickautomaten" | |
DE2615084A1 (de) | Vorrichtung zum beobachten eines objekts | |
EP0109509A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Justieren von Kontaktfedern in einem Relais | |
EP0144732B1 (de) | Einrichtung zum automatischen Fokussieren von optischen Geräten | |
DE3439304A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur automatischen feinfokussierung von optischen instrumenten | |
DE10139920B4 (de) | Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts | |
DE69016935T2 (de) | Laserkamera zur Abtastung des Augenhintergrundes. | |
DE3335658C2 (en, 2012) | ||
DE3739223A1 (de) | Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung | |
DE3823136A1 (de) | Optisches system fuer eine funduskamera mit laserabtastung | |
DE4127919C2 (de) | Lichtaufzeichnungsvorrichtung | |
DE3050691C2 (de) | Fokussierungsermittlungseinrichtung einer Kamera mit einer Vorrichtung zur Ermittlung der Durchschnittsbeleuchtung eines zu fotografierenden Objektes | |
DE10020604C1 (de) | Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DD280401A1 (de) | Verfahren zur automatischen justierung der mikroskopbeleuchtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |