DE10020604C1 - Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents

Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

Info

Publication number
DE10020604C1
DE10020604C1 DE10020604A DE10020604A DE10020604C1 DE 10020604 C1 DE10020604 C1 DE 10020604C1 DE 10020604 A DE10020604 A DE 10020604A DE 10020604 A DE10020604 A DE 10020604A DE 10020604 C1 DE10020604 C1 DE 10020604C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
scanner
laser beam
image
processing
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10020604A
Other languages
English (en)
Inventor
Gert Teschauer
Tino Petsch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
3D Micromac AG
Original Assignee
Teschauer & Petsch AG Dr
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Teschauer & Petsch AG Dr filed Critical Teschauer & Petsch AG Dr
Priority to DE10020604A priority Critical patent/DE10020604C1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10020604C1 publication Critical patent/DE10020604C1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/105Scanning systems with one or more pivoting mirrors or galvano-mirrors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/04Automatically aligning, aiming or focusing the laser beam, e.g. using the back-scattered light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft das Gebiet der Laseranwendung zur Bearbeitung von Werkstücken. Es ist die Aufgabe der Erfindung, die Kalibrierung von Galvanometerscannersteuerungen in Laserbearbeitungseinrichtungen unter Berücksichtigung der optischen Bedingungen der Laserbearbeitungseinrichtung und ohne den Einsatz von Einmalmaterial vorzunehmen. Die Aufgabe wird gelöst durch Korrektur der Scannerdrift mittels Bildverarbeitung, indem der Laserstrahl nach dem Austritt aus dem Resonator in einen Kalibrierstrahlengang umgelenkt wird, am Ende des Kalibrierstrahlengangs der Strahl defokussiert und derart auf den Arbeitsbereich des Bearbeitungslaserstrahls gerichtet wird, daß der Arbeitsbereich mit homogen gestreutem Laserlicht ausgeleuchtet wird, das Bild des homogen beleuchteten Arbeitsbereiches über die positionierten Galvanometerscanner von einer Bildverarbeitungseinrichtung aufgenommen wird, im Arbeitsbereich die Sollposition des Bearbeitungsstrahles markiert ist, die von der Bildverarbeitungseinrichtung erfaßte Abweichung zwischen der Sollposition und dem Bild der Markierung in einer Korrekturtabelle gespeichert wird und mittels der Datensätze der Korrekturtabelle die Korrekturvektoren der Sollpositionen der Scanner während der Bearbeitungsphase errechnet werden.

Description

Die Erfindung betrifft das Gebiet der Laseranwendung zur Bearbeitung von Werkstüc­ ken.
Die Bearbeitung von Werkstücken mittels Laserstrahlen erfolgt vorzugsweise, wenn hochfeine Strukturen erzielt werden sollen. Dazu wird der in einem Resonator erzeugte Laserstrahl mittels Ablenkeinrichtungen auf die Werkstückoberfläche gerichtet. Als Ablenkeinrichtungen finden Galvanometerscanner Verwendung. Mittels Steuersignalen wird je Koordinatenachse ein Spiegel um vorbestimmte Winkel geschwenkt, wodurch die Richtung des reflektierten Laserstrahls und damit der Auftreffpunkt des Strahls auf dem Werkstück entsprechend verändert wird. Erfolgt der Bearbeitungsprozeß in einer Ebene, ist ein Zwei-Spiegel-System erforderlich, d. h. je ein Spiegel für die Ablenkung des Laserstrahls in X- und Y-Richtung. Dabei wird das Bildfeld bedingt durch die Spie­ gelanordnung kissenförmig verzerrt, weil sich die Strecke, die der Strahl zwischen dem ersten Spiegel und der Arbeitsebene zurückzulegen hat, mit zunehmendem Scanwinkel vergrößert. Die abgescannte Strecke ist proportional zum Tangens des Scanwinkels. Der hierdurch entstehende Fehler wird durch Verwendung eines F-Theta-Objektives ver­ mieden, wodurch jedoch eine tonnenförmige Verzerrung des Bildfeldes entsteht, die mit der kissenförmigen Verzerrung aufgrund der Spiegelanordnung überlagert ist. Eine Be­ hebung dieses Bildfehlers kann nach analytischer Erstellung von Korrekturvektoren durch das Steuerprogramm vorgenommen werden. Eine Korrektur des aufgrund der Trägheit der Ablenkspiegel dynamisch entstehenden Fehlers ist jedoch nur auf empiri­ sche Weise möglich.
Eine bekannte Lösung einer Positioniereinrichtung wird in dem deutschen Gebrauchs­ muster DE 298 08 112 U1 beschrieben. Hierbei handelt es sich um eine Positionierein­ richtung für die Bearbeitungsstelle von CO2-Lasern mit einer optisch direkten Bestim­ mung der Position der Bearbeitungsstelle mittels direkter Beobachtung der Bearbei­ tungsstelle auf dem Werkstück. Die Positionierung der Fokussieroptik erfolgt durch den Beobachtungsstrahlengang, der mit dem Bearbeitungsstrahlengang zusammenfällt. Da­ zu befindet sich unmittelbar an der Fokussieroptik eine optische Vorrichtung mit einem Okular oder einer Kamera zur visuellen Bestimmung und Feststellung der Bearbei­ tungsstelle und eine Lichtquelle, die der Ausleuchtung der Bearbeitungsstelle auf dem Werkstück dient. Der Beobachtungsstrahl benutzt den Bearbeitungsstrahlengang, so daß die Position des Bearbeitungsstrahles auf der Werkstückoberfläche direkt visuell erfaßt wird. Dazu wird eine Optik in den Strahlengang des Bearbeitungsstrahles so positio­ niert, daß sich der Beobachtungsstrahl in der Position des dabei abgeschalteten Bear­ beitungsstrahls befindet. Während der Bearbeitung befindet sich die positionierbare Optik außerhalb des Bearbeitungsstrahls.
Nachteilig an dieser bekannten Lösung ist, daß die Positionierung des Bearbeitungs­ strahles ohne Berücksichtigung der Dynamik der den Bearbeitungsstrahl auf den jewei­ ligen Zielpunkt ablenkenden Mittel erfolgt. Ein weiterer Nachteil dieser bekannten Po­ sitioniereinrichtung besteht darin, daß die Ausleuchtung des Arbeitsbereiches während der Beobachtung und damit der Positionierung mittels einer Fremdlichtquelle erfolgt, wodurch von den unterschiedlichen Lichtwellenlängen abhängige Strahlengangverfäl­ schungen, insbesondere ungleiches Brechungs- und Reflexionsverhalten unberücksich­ tigt bleiben.
Nach der DE 44 37 284 A1 ist bekannt, die Steue­ rung von Galvanometerscannern zu kalibrieren, indem der Laserstrahl über einen. Spie­ gel direkt in eine Videokamera abgelenkt wird. Die Auftreffpunkte des Laserstrahls werden in der Kamera digitalisiert. Durch Interpolation verschiedener Istpositionen des Laserstrahls wird eine Korrekturtabelle erstellt. Hierbei stellt jedoch das Auflösungs­ vermögen der Kamera entweder eine Grenze der Genauigkeit der Kalibrierung oder eine Grenze für das Einsatzgebiet der Laserbearbeitungseinrichtung dar, da mit zunehmender Größe des Arbeitsfeldes die Auflösung abnimmt. Aus diesem Grunde schlägt die be­ kannte Erfindungsbeschreibung ein Kalibrierungsverfahren vor, wonach der Bearbei­ tungslaserstrahl mittels der Galvanometerscanner im Arbeitsfeld positioniert wird, an­ stelle des zu bearbeitenden Werkstücks während der Kalibrierung aber ein lichtempfindliches Medium im Arbeitsfeld angeordnet ist und somit vom Bearbeitungslaserstrahl belichtet und derart auf dem lichtempfindlichen Medium ein Testbild der Auftreff­ punkte des Laserstrahls erzeugt wird. Mittels einer Bildverarbeitungseinrichtung in Form einer Videokamera oder eines Pixelscanners wird das Testbild digitalisiert, wobei die Bildverarbeitungseinrichtung außerhalb der Laserbearbeitungseinrichtung angeord­ net sein kann. Das Testbild widerspiegelt die auch durch die Drift der Galvanometer­ scanner beeinflußten Istpositionen, die mit den für die Steuerung verwendeten Sollposi­ tionen verglichen werden. Anhand des Vergleichs von Ist- und Sollpositionen werden Korrekturdaten errechnet, in einer Korrekturdatentabelle abgespeichert und für den Be­ arbeitungsprozeß den ursprünglichen Sollpositionsdaten überlagert.
Nachteilig an diesem bekannten Verfahren zeigt sich, daß das lichtempfindliche Medi­ um für jeden Kalibriervorgang zu erneuern ist. Dies ist zum einen unwirtschaftlich und stellt zum anderen eine unnötige Umweltbelastung in Form des entstehenden Abfalls dar.
Daraus ergibt sich die Aufgabe der Erfindung, die Kalibrierung von Galvanometerscan­ nersteuerungen in Laserbearbeitungseinrichtungen unter Berücksichtigung der optischen Bedingungen der Laserbearbeitungseinrichtung und ohne den Einsatz von Einmalmate­ rial vorzunehmen.
Die Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren nach Patentanspruch 1. Vorteilhafte Aus­ gestaltungen sowie eine Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfah­ rens und deren vorteilhafte Weiterbildungen bzw. Ausgestaltungen sind in den Unteran­ sprüchen wiedergegeben.
Eine bevorzugte Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung wird nachfol­ gend anhand der Zeichnung näher erläutert. Die Zeichnung zeigt ein Blockschaltbild einer Vorrichtung nach der Erfindung.
Von einem Laserresonator I, vorzugsweise einem Nd:YAG-Laser, geht ein Bearbei­ tungsstrahlengang A aus, der über einen gesteuerten Galvanometerscanner 2 durch ein F-Theta-Objektiv 3 auf ein Arbeitsfeld 4 positioniert wird. Der Bearbeitungsstrahlen­ gang A wird zwischen dem Resonatorausgang und dem Scannereingang über einen er­ sten und einen zweiten Klappspiegel 5 umgelenkt. Während der Kalibrierphase sind die Klappspiegel S jedoch wie dargestellt in einer Stellung, die den Bearbeitungsstrahlen­ gang A unterbricht und statt dessen einen Meßstrahlengang C frei gibt. Zur Kalibrierung wird der Resonatorausgangsstrahl, der den ersten Klappspiegel 5 passiert, mittels einer ersten Fokussieroptik 6 in eine Glasfaser 7 eingekoppelt. Am freien Ende ist die Glasfa­ ser 7 an eine Beleuchtungseinheit 9 angeschlossen, aus der homogenes Licht B austritt und die derart angeordnet ist, daß der homogene Lichtschein B das Arbeitsfeld 4 aus­ leuchtet. Im dargestellten Ausführungsbeispiel wird das homogene Licht B vom Ar­ beitsfeld reflektiert. Es ist jedoch gleichermaßen möglich, daß das homogene Licht B das Arbeitsfeld 4 durchleuchtet. Im Arbeitsfeld 4 ist ein mit Markierungen versehener Prüfkörper angeordnet, wobei die Markierungen Sollpositionen von Auftreffpunkten des Bearbeitungsstrahles einnehmen. Der vom Arbeitsfeld 4 reflektierte Meßstrahlen­ gang C verläuft durch das F-Theta-Objektiv 3 über den Galvanometerscanner 2, passiert den zweiten Klappspiegel 5 und wird über eine zweite Fokussieroptik 6 von einer CCD- Kamera 8 erfaßt. Der Meßstrahlengang C ist in seinem Verlauf zwischen dem Arbeits­ feld 4 und dem zweiten Klappspiegel 5 deckungsgleich mit dem Verlauf des Bearbei­ tungsstrahlengangs A.
Die Kalibrierung der Steuerung des Galvanometerscanners 2 erfolgt, indem der Galva­ nometerscanner 2 in seine die Sollposition des Auftreffpunktes des Bearbeitungsstrahles bewirkende Position gebracht wird und die CCD-Kamera 8 das vom Arbeitsfeld mit dem Prüfkörper reflektierte Bild erfaßt und digitalisiert. Dabei wird der Abweichungs­ vektor der Istkoordinaten der aufgenommenen Markierung vom Sollwert des Auftreff­ punktes des Bearbeitungsstrahles, der den aus der Drift des Galvanometerscanners 2 resultierenden Systemfehler darstellt, in eine Korrekturtabelle geschrieben. Die Kor­ rekturtabelle dient in der Bearbeitungsphase der Galvanometerscannersteuerung zum Ausgleich der Galvanometerscannerdrift.
Die Einfachheit und Schnelligkeit des erfindungsgemäßen Kalibrierverfahrens ermög­ licht es, eine Korrekturtabelle für eine Vielzahl von Sollpositionen des Bearbeitungs­ strahles zu erstellen, so daß Interpolationen für zwischen den erfaßten Sollpositionen liegende weitere Auftreffpunkte des Bearbeitungsstrahles prinzipiell vollständig entfal­ len können. Die Anzahl der erfaßbaren Sollpositionen und damit die Anzahl der in der Korrekturtabelle speicherbaren Abweichungsvektoren wäre lediglich durch den verfüg­ baren Speicherplatz beschränkt. Die Kalibrierung erfordert maximal die gleiche Zeit wie ein vollständiger Bearbeitungsprozeß.

Claims (9)

1. Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometerscannersteuerungen in Laserbearbei­ tungseinrichtungen durch Korrektur der Scannerdrift mittels Bildverarbeitung, da­ durch gekennzeichnet, daß
  • - der Laserstrahl nach dem Austritt aus dem Resonator (1) in einen Kalibrier­ strahlengang (C) umgelenkt wird,
  • - am Ende des Kalibrierstrahlengangs (C) der Strahl defokussiert und derart auf den Arbeitsbereich (4) des Bearbeitungslaserstrahls gerichtet wird, daß der Ar­ beitsbereich (4) mit Laserlicht (B) homogen ausgeleuchtet wird,
  • - das Bild des homogen beleuchteten Arbeitsbereiches (4) über die positionierten Galvanometerscanner (2) von einer Bildverarbeitungseinrichtung (8) aufge­ nommen wird,
  • - im Arbeitsbereich (4) die Sollposition des Bearbeitungsstrahles markiert ist,
  • - die von der Bildverarbeitungseinrichtung (8) erfaßte Abweichung zwischen der Sollposition und dem Bild der Markierung in einer Korrekturtabelle gespeichert wird und
  • - mittels der Datensätze der Korrekturtabelle die Korrekturvektoren der Sollposi­ tionen der Scanner (2) während der Bearbeitungsphase errechnet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausleuchtung des Arbeitsbereiches (4) durch Auflicht erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausleuchtung des Arbeitsbereiches (4) mittels Durchleuchtung erfolgt.
4. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein aus einem Resonator (1) austretender Laserstrahl mittels ei­ ner ersten Fokussieroptik (6) in eine Glasfaser (7) eingekoppelt wird, die in eine zur Ausleuchtung des Arbeitsbereiches (4) des Laserstrahles geeignet angeordnete Be­ leuchtungseinheit (9) mit Aufweitungsoptik mündet, im Arbeitsbereich (4) des Laserstrahls ein mit Markierungen versehener Prüfkörper angeordnet ist und in der op­ tischen Achse zwischen dem Eingang des Scanners (2) und dem Ausgang des Reso­ nators (1) eine Bildaufnahmeeinrichtung (8) angeordnet ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Markierungen an Sollpositionen des Laserstrahles während des Bearbeitungsprozesses angeordnet sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildaufnah­ meeinrichtung (8) mit einem Steuerrechner verbunden ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 4, 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß am Ausgang des Resonators (1) ein erster Klappspiegel (5) angeordnet ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 4, 5, 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß im Strah­ lengang des Bearbeitungsstrahles (A) vor dem optischen Eingang des Scanners (2) ein zweiter Klappspiegel (5) angeordnet ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 4, 5, 6, 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Bild­ aufnahmeeinrichtung (8) aus einer CCD-Kamera mit einer vorgeschalteten zweiten Fokussieroptik (6) besteht.
DE10020604A 2000-04-27 2000-04-27 Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens Expired - Fee Related DE10020604C1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10020604A DE10020604C1 (de) 2000-04-27 2000-04-27 Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10020604A DE10020604C1 (de) 2000-04-27 2000-04-27 Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10020604C1 true DE10020604C1 (de) 2001-07-26

Family

ID=7640080

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10020604A Expired - Fee Related DE10020604C1 (de) 2000-04-27 2000-04-27 Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10020604C1 (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10157983A1 (de) * 2001-11-27 2003-06-26 Ksg Leiterplatten Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Positionieren und/oderBearbeiten von Werkstücken mit einer Laser-Bearbeitungsmaschine
WO2003068446A1 (de) * 2002-02-14 2003-08-21 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur bestimmung der genauigkeit von bearbeitungsmaschinen
US8049135B2 (en) * 2004-06-18 2011-11-01 Electro Scientific Industries, Inc. Systems and methods for alignment of laser beam(s) for semiconductor link processing
CN104259656A (zh) * 2014-08-20 2015-01-07 湖南华曙高科技有限责任公司 激光振镜校准系统及其校准方法
CN112304568A (zh) * 2020-09-18 2021-02-02 光量信息科技(宁波)有限公司 一种基于光敏传感器的激光振镜标定系统及其标定方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4437284A1 (de) * 1994-10-18 1996-04-25 Eos Electro Optical Syst Verfahren zum Kalibrieren einer Steuerung zur Ablenkung eines Laserstrahls
DE29808112U1 (de) * 1998-05-06 1998-08-06 Exner Horst Prof Dr Ing Positioniereinrichtung für die Bearbeitungsstelle von CO¶2¶-Lasern

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4437284A1 (de) * 1994-10-18 1996-04-25 Eos Electro Optical Syst Verfahren zum Kalibrieren einer Steuerung zur Ablenkung eines Laserstrahls
DE29808112U1 (de) * 1998-05-06 1998-08-06 Exner Horst Prof Dr Ing Positioniereinrichtung für die Bearbeitungsstelle von CO¶2¶-Lasern

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10157983A1 (de) * 2001-11-27 2003-06-26 Ksg Leiterplatten Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Positionieren und/oderBearbeiten von Werkstücken mit einer Laser-Bearbeitungsmaschine
DE10157983B4 (de) * 2001-11-27 2006-05-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Positionier- und/oder Laserbearbeitungsverfahren und Vorrichtung
DE10157983C5 (de) * 2001-11-27 2008-05-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Positionier- und/oder Laserbearbeitungsverfahren und Vorrichtung
WO2003068446A1 (de) * 2002-02-14 2003-08-21 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur bestimmung der genauigkeit von bearbeitungsmaschinen
US8049135B2 (en) * 2004-06-18 2011-11-01 Electro Scientific Industries, Inc. Systems and methods for alignment of laser beam(s) for semiconductor link processing
CN104259656A (zh) * 2014-08-20 2015-01-07 湖南华曙高科技有限责任公司 激光振镜校准系统及其校准方法
CN104259656B (zh) * 2014-08-20 2016-08-24 湖南华曙高科技有限责任公司 激光振镜校准系统及其校准方法
CN112304568A (zh) * 2020-09-18 2021-02-02 光量信息科技(宁波)有限公司 一种基于光敏传感器的激光振镜标定系统及其标定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1610088B1 (de) Vorrichtung zum optischen Vermessen eines Objektes
DE2256736C3 (de) Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche
EP0367924B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Position einer Nahtfuge zum Laserschweissen
DE102013017795B3 (de) Prozessüberwachungsverfahren und -vorrichtung
EP2359178B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur dynamischen verlagerung eines lichtstrahls gegenüber einer den lichtstrahl fokussierenden optik
DE3110287C2 (de)
DE19963010B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Laserbearbeitung von Werkstücken
CH678663A5 (de)
DE10335501A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Schweißen oder Schneiden mit Laserstrahl
DE3810882C2 (de)
DE2428123A1 (de) Anordnung zum nachweisen von fehlstellen mittels abtastung durch einen laserstrahl
WO2012013818A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer laserbearbeitungsmaschine unter verwendung eines laserlicht-sensors
DE3809221A1 (de) Verfahren zum detektieren von fehlstellen an pressteilen oder anderen werkstuecken und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE102021118327A1 (de) Messkamera und Verfahren zur zweidimensionalen Vermessung von Gegenständen
DE4039318A1 (de) Einrichtung zur erfassung der hoehenlage einer laserbearbeitungsvorrichtung bezueglich eines werkstuecks
DE10020604C1 (de) Verfahren zum Kalibrieren von Galvanometersteuerungen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE10037783A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Phasenkorrektur von Positions- und Detektionssignalen in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
DE102004001168A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Nahtführung beim Laserschweissen
DE102021118429B4 (de) Verfahren und Gerät zur 3D-Koordinatenmessung nach dem Autofokusverfahren
EP3953077B1 (de) Messvorrichtung zur bestimmung des biegewinkels
DE3703809A1 (de) Vorrichtung zum markieren von gegenstaenden mittels laserstrahlen
DE3933065A1 (de) Laser-abtastvorrichtung zum passiven facettenabtasten
DE3002249A1 (de) Opto-elektronisches lesegeraet
DE10261155B4 (de) Verfahren zur Detektion eines Objekts mit einem konfokalen Rastermikroskop und konfokales Rastermikroskop zur Detektion eines Objekts
DE102020122924A1 (de) Verfahren zum Analysieren einer Werkstückoberfläche für einen Laserbearbeitungsprozess und eine Analysevorrichtung zum Analysieren einer Werkstückoberfläche

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: 3D-MICROMAC AG, 09114 CHEMNITZ, DE

8381 Inventor (new situation)

Inventor name: PETSCH, TINO, 09127 CHEMNITZ, DE

Inventor name: TESCHAUER, GERT, DR.-ING., 09114 CHEMNITZ, DE

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: 3D-MICROMAC AG, 09126 CHEMNITZ, DE

8339 Ceased/non-payment of the annual fee