JPS5994713A - 合焦検出方法 - Google Patents
合焦検出方法Info
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- JPS5994713A JPS5994713A JP57205025A JP20502582A JPS5994713A JP S5994713 A JPS5994713 A JP S5994713A JP 57205025 A JP57205025 A JP 57205025A JP 20502582 A JP20502582 A JP 20502582A JP S5994713 A JPS5994713 A JP S5994713A
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- focus
- detection method
- image
- value
- circuit
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
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- Focusing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はカメラ、顕微鏡、高密度光学的記録再生装置等
における合焦検出方法に関するものである。
における合焦検出方法に関するものである。
従来、光学系の合焦検出方法としては、ぼけ像検出方法
、像の横ずれ検出方法が代表的なものである。これらの
方法は各々すぐれた長所を持っているが、その反面欠点
もあり一方法の使用のみでは高精度の焦点検出を行うこ
とは鎖しかった。すなわち、ぼけ家方法では低い空間周
波数成分を含む像に対して検出感度は悪く、横ずれ方法
では低フントラストの像（強度分布の最大値と最小値の
差が少ない像）に対して検出感度が悪かった。
、像の横ずれ検出方法が代表的なものである。これらの
方法は各々すぐれた長所を持っているが、その反面欠点
もあり一方法の使用のみでは高精度の焦点検出を行うこ
とは鎖しかった。すなわち、ぼけ家方法では低い空間周
波数成分を含む像に対して検出感度は悪く、横ずれ方法
では低フントラストの像（強度分布の最大値と最小値の
差が少ない像）に対して検出感度が悪かった。
上述した不具合を解決するために、本願人は特開昭５７
−１６１７０９号、特願昭５７−９５８６９号において
両方法を組合わせて合焦検出を行なう装置を既に提案し
ている。これらの装置にお、いては両方法を組合わせて
、ピント外れが大きい領域では横ずれ方法を用い、ある
程度ピントが合ってきたところでぼけ像方法のみあるい
はぼけ像方法と横ずれ方法を併用して合焦検出を行なっ
ていた。ところが、例えば第１図（ａ） 、 （ｂ）に
示す様に４ぼけ像検出用の受光素子列に入射した光の光
電変換出力の傾きがある点で大きい（ａ）の場合と、傾
きの小さい（ｂ）の場合を比較すると、傾きの大きい（
ａ）の場合は合焦時と非合焦時の差があるので従来方法
で問題はないが、傾きの小さい（′ｂ）の場合は合焦時
と非合焦時でほとんど変わらずぼけ像方法ではれ評価＠
Ｆ８−Σ（ｌＡｌ＋□−Ｂｉｌ −ｌＡｉ −Ｂｉ＋□
１）（Ａｉ＃ Ｂ工：結像レンズの一方及び両方の側を
辿った光を受光する受光素子列の各受光素子出力）とし
たときの各評価値を示すグラフである。第２図において
、第１図（ｂ）に示すように傾きが小さい場合はぼけ像
の評価（＠Ｆ□、Ｆ２が第２図（〜に示！、ようにしき
い値Ｂよりは大きいがその評価値の差は小さいため、第
２図（ｂ）に示すように合焦検出のための評価関数Ｆ
−Ｆ が合焦検出のためのしき２ い値±Δ、の間に入ってしまい、合焦表示幅が焦点深度
の何倍も大きくなり正確な合焦判定を行なうことができ
なくなる。これに対して、横ずれ方法の場合は第３図（
に）、（ｂ）に傾きを変化させたときのＡ、Ｂ列の受光
素子出力を示すように、Ａ、Ｂ列間での横ずれ量は光電
出力の傾きに対しては余り変化しないため、横ずれによ
る合焦判定は従来と同様第２図（ｂ）に示すように十分
なキｊ１度をもって行うことができる。
−１６１７０９号、特願昭５７−９５８６９号において
両方法を組合わせて合焦検出を行なう装置を既に提案し
ている。これらの装置にお、いては両方法を組合わせて
、ピント外れが大きい領域では横ずれ方法を用い、ある
程度ピントが合ってきたところでぼけ像方法のみあるい
はぼけ像方法と横ずれ方法を併用して合焦検出を行なっ
ていた。ところが、例えば第１図（ａ） 、 （ｂ）に
示す様に４ぼけ像検出用の受光素子列に入射した光の光
電変換出力の傾きがある点で大きい（ａ）の場合と、傾
きの小さい（ｂ）の場合を比較すると、傾きの大きい（
ａ）の場合は合焦時と非合焦時の差があるので従来方法
で問題はないが、傾きの小さい（′ｂ）の場合は合焦時
と非合焦時でほとんど変わらずぼけ像方法ではれ評価＠
Ｆ８−Σ（ｌＡｌ＋□−Ｂｉｌ −ｌＡｉ −Ｂｉ＋□
１）（Ａｉ＃ Ｂ工：結像レンズの一方及び両方の側を
辿った光を受光する受光素子列の各受光素子出力）とし
たときの各評価値を示すグラフである。第２図において
、第１図（ｂ）に示すように傾きが小さい場合はぼけ像
の評価（＠Ｆ□、Ｆ２が第２図（〜に示！、ようにしき
い値Ｂよりは大きいがその評価値の差は小さいため、第
２図（ｂ）に示すように合焦検出のための評価関数Ｆ
−Ｆ が合焦検出のためのしき２ い値±Δ、の間に入ってしまい、合焦表示幅が焦点深度
の何倍も大きくなり正確な合焦判定を行なうことができ
なくなる。これに対して、横ずれ方法の場合は第３図（
に）、（ｂ）に傾きを変化させたときのＡ、Ｂ列の受光
素子出力を示すように、Ａ、Ｂ列間での横ずれ量は光電
出力の傾きに対しては余り変化しないため、横ずれによ
る合焦判定は従来と同様第２図（ｂ）に示すように十分
なキｊ１度をもって行うことができる。
不発明の目的は上述した不具合を解決し、鑞のぼけ状態
及び象の横ずれ状態の両方を検出して合焦検出を行なう
合焦検出方式において、簡単なアルゴリズムにより像の
種類によらず常に正しい合焦検出ができる合焦検出方法
を提供しようとするものである。
及び象の横ずれ状態の両方を検出して合焦検出を行なう
合焦検出方式において、簡単なアルゴリズムにより像の
種類によらず常に正しい合焦検出ができる合焦検出方法
を提供しようとするものである。
本発明は、光電検出手段上に投影された像の鮮鋭度を表
わす評価値を求めることにより合焦検出を行なうほけ像
検出方法と、レンズの射出瞳の一部を透過した光束によ
り光電検出手段上Ｇこ投影された家と、射出瞳の池の部
分を透過した光束により検出手段上に投影された像の位
置関係を比較することにより合焦検出を行なうための横
ずれ検出方法を併用する合焦検出方法において、像の濃
度分布の状態に応じて前記ぼけ像検出方法または前記様
ずれ検出方法のどちらかを選択して合焦状態を検出する
ことを特徴とするものである。
わす評価値を求めることにより合焦検出を行なうほけ像
検出方法と、レンズの射出瞳の一部を透過した光束によ
り光電検出手段上Ｇこ投影された家と、射出瞳の池の部
分を透過した光束により検出手段上に投影された像の位
置関係を比較することにより合焦検出を行なうための横
ずれ検出方法を併用する合焦検出方法において、像の濃
度分布の状態に応じて前記ぼけ像検出方法または前記様
ずれ検出方法のどちらかを選択して合焦状態を検出する
ことを特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第４図は像の濃度変化の一例を光電変換出力として表わ
した図である。第４図に示すように本発明の合焦検出方
法においては、判定（ＩＭＭ、Ｄを使用して合焦検出を
行なっていて、その判定値Ｍ。
した図である。第４図に示すように本発明の合焦検出方
法においては、判定（ＩＭＭ、Ｄを使用して合焦検出を
行なっていて、その判定値Ｍ。
Ｄは以下のように定めている。すなわち、受光素子列の
光電変換出力のうちの最大値および最小値をＸｍａｘお
よびＸｍ１ｎとするとき、これらの差をＤ−ｘｍａｘ
−ｘｍｉｎとし、また受光素子列のｎ番目の素子の光電
変換出力をｘｎとするとき、陽接する受光素子間の出力
の差の絶対値の最大値をＭ−０ｌＸｎ−ｘｎ＋ｘ１ｍａ
ｘと設定している。以下、上述したＭ、Ｄを使用した本
発明の一実施例について説明する。
光電変換出力のうちの最大値および最小値をＸｍａｘお
よびＸｍ１ｎとするとき、これらの差をＤ−ｘｍａｘ
−ｘｍｉｎとし、また受光素子列のｎ番目の素子の光電
変換出力をｘｎとするとき、陽接する受光素子間の出力
の差の絶対値の最大値をＭ−０ｌＸｎ−ｘｎ＋ｘ１ｍａ
ｘと設定している。以下、上述したＭ、Ｄを使用した本
発明の一実施例について説明する。
第５図は本発明の合焦検出方法の一実施例を示すフロー
チャートである。本実施例では、上述したように被写体
の強度分布の傾きが小さい皺に対してぼけ像方法による
合焦判定を行なうと正確な合焦を判定することができな
い点を考慮して、このような被写体に対しては横ずれ方
法を用いて合焦判定を行なうアルゴリズムを採用してい
る。第５図に示すフローチャートにおいて、まず上述し
た判定値Ｍを予め設定される傾き判定しきい値α□、α
２（α□〉α、）と比較する。判定値Ｍがしきい値α□
より大きい場合すなわち傾きが大きい場合は、ぼけ像の
評価関数値の差Ｆ（Ｂ） −Ｆ、−Ｆ、で合焦を検出し
ている。しかしながら上述した傾きが大きい場合でも、
第６図（Ｑに示すようにぼけ像の評価関数値Ｆ□、Ｆ、
の値が予め設定されたしきい値Ｂより小さい場合すなわ
ち図中Ｙで示した領域では、はけ像による判定は不正確
になるので桶ずれ方法の評価関数値Ｆ（ｙ） −Ｆ、に
よって合焦を判断している。次に、傾きＭがしきい値α
２より小さい場合（当然α１よりは小さい）すなわち傾
きが小さい場合は、上述したように横ずれ方法の評価関
数ｆｌＦ（ｙ）によって合焦を判断する。
チャートである。本実施例では、上述したように被写体
の強度分布の傾きが小さい皺に対してぼけ像方法による
合焦判定を行なうと正確な合焦を判定することができな
い点を考慮して、このような被写体に対しては横ずれ方
法を用いて合焦判定を行なうアルゴリズムを採用してい
る。第５図に示すフローチャートにおいて、まず上述し
た判定値Ｍを予め設定される傾き判定しきい値α□、α
２（α□〉α、）と比較する。判定値Ｍがしきい値α□
より大きい場合すなわち傾きが大きい場合は、ぼけ像の
評価関数値の差Ｆ（Ｂ） −Ｆ、−Ｆ、で合焦を検出し
ている。しかしながら上述した傾きが大きい場合でも、
第６図（Ｑに示すようにぼけ像の評価関数値Ｆ□、Ｆ、
の値が予め設定されたしきい値Ｂより小さい場合すなわ
ち図中Ｙで示した領域では、はけ像による判定は不正確
になるので桶ずれ方法の評価関数値Ｆ（ｙ） −Ｆ、に
よって合焦を判断している。次に、傾きＭがしきい値α
２より小さい場合（当然α１よりは小さい）すなわち傾
きが小さい場合は、上述したように横ずれ方法の評価関
数ｆｌＦ（ｙ）によって合焦を判断する。
また、傾きＭがしきい値α、とα２の中間にあるときは
傾きだけではどちらの方法が適しているか判断できない
ので、更に上述した判定（ＦＭ Ｄとの比較を行なって
いる。すなわち、判定値りが予め設定されているしきい
値βより小さい場合つまりフントラストの低い場合は、
原則としてぼけ像の評価関数１ｋ” （Ｂ）によって合
焦を判断するが、上述したように第６図（ａ）に示すＹ
領域では佃ずれの評価関数値Ｆ（Ｙ）を使用している。
傾きだけではどちらの方法が適しているか判断できない
ので、更に上述した判定（ＦＭ Ｄとの比較を行なって
いる。すなわち、判定値りが予め設定されているしきい
値βより小さい場合つまりフントラストの低い場合は、
原則としてぼけ像の評価関数１ｋ” （Ｂ）によって合
焦を判断するが、上述したように第６図（ａ）に示すＹ
領域では佃ずれの評価関数値Ｆ（Ｙ）を使用している。
また、判定＠Ｄがしきい値βより大きい高フントラスト
の塚の場合は、横ずれの評価関数値Ｆ（Ｙ）によって合
焦の判断を行なっている。なお、上記のしきい値α□。
の塚の場合は、横ずれの評価関数値Ｆ（Ｙ）によって合
焦の判断を行なっている。なお、上記のしきい値α□。
α２．β、Ｂは各種の被写体および採用する評価関数に
応じて適切に決定することができる。
応じて適切に決定することができる。
本実施例では上述したアルゴリズムによって合焦判定方
法の選択を行なっているので、従来方法では正確な合焦
判定ができなかった第１図■ンに示したような被写体の
場合でも正確な合焦判定を行なうことができる。例えば
、第６図（ａ） 、 （ｂ）で示すようにぼけ像の評価
”（Ｂ）はどの領域でも合焦領域である±Δ２の間に人
ってしまいぼけ像方法では正確な合焦判定ができないが
、検ずれの評価値Ｆ（Ｙ）を使用するとしきい値±Δ□
の間の図中に示した合焦表示領域のみで合焦と判断され
るだけなので、正確な合焦検出が可能となる。
法の選択を行なっているので、従来方法では正確な合焦
判定ができなかった第１図■ンに示したような被写体の
場合でも正確な合焦判定を行なうことができる。例えば
、第６図（ａ） 、 （ｂ）で示すようにぼけ像の評価
”（Ｂ）はどの領域でも合焦領域である±Δ２の間に人
ってしまいぼけ像方法では正確な合焦判定ができないが
、検ずれの評価値Ｆ（Ｙ）を使用するとしきい値±Δ□
の間の図中に示した合焦表示領域のみで合焦と判断され
るだけなので、正確な合焦検出が可能となる。
第７図は本発明の合焦判定方法奪実施する装置の一例の
構成を示すブロック図である。受光素子列１０１及び１
０２の出力はコントロール回路２０で制御される切換ス
イッチ１−１により選択される。まず、受光素子列１０
１の出力が選択されると、その各受光素子の光電変換出
力が順次増幅器２−１で増幅され、Ａ／Ｄ変換器３−１
でＡ／Ｄ変換された後にメモリ４に記憶される。受光素
子列１０１の全ての素子の出力信号（Ａ／Ｄ変換埴）が
メモリ４に記憶された後に隣接する受光素子の出力信号
Ｘｎ、Ｘｎ＋、の差Ｘｎ−ｘｎ＋、をシフト回路５と引
算回路６により得、その絶対値を絶対値回路７で演算し
、加算器８で全ての受光素子についての絶対値ＩＸｎ−
Ｘｎ＋、１の和Σ１ｘｎ−Ｘｎ−Ｈｌを演算して評価関
数値Ｆ１を求め、これをメモリ９のＦ０領域に格納する
。また、メモリ４から順次読出される出力信号のうち、
その最大値Ｘ工ゆおよび最小値Ｘｍ１ｎをそれぞれメモ
リ機能を有する最大値検出回路１０および最小値検出回
路１１で検出し、これらの差”Ｘｍａｘ −ｘｍｉｎを
引算回路１２で求めて、その値りをメモリ９のＤ□領領
域格納する。更に、絶対値回路７の出力のりち、その最
大（ｍ Ｍ −１ｘｎ−ＸＨ＋１１ｍａＸをメモリ機能
を有する最大値検出回路１３で検出し、その値Ｍをメモ
リ９のＸ工領域に格納する。
構成を示すブロック図である。受光素子列１０１及び１
０２の出力はコントロール回路２０で制御される切換ス
イッチ１−１により選択される。まず、受光素子列１０
１の出力が選択されると、その各受光素子の光電変換出
力が順次増幅器２−１で増幅され、Ａ／Ｄ変換器３−１
でＡ／Ｄ変換された後にメモリ４に記憶される。受光素
子列１０１の全ての素子の出力信号（Ａ／Ｄ変換埴）が
メモリ４に記憶された後に隣接する受光素子の出力信号
Ｘｎ、Ｘｎ＋、の差Ｘｎ−ｘｎ＋、をシフト回路５と引
算回路６により得、その絶対値を絶対値回路７で演算し
、加算器８で全ての受光素子についての絶対値ＩＸｎ−
Ｘｎ＋、１の和Σ１ｘｎ−Ｘｎ−Ｈｌを演算して評価関
数値Ｆ１を求め、これをメモリ９のＦ０領域に格納する
。また、メモリ４から順次読出される出力信号のうち、
その最大値Ｘ工ゆおよび最小値Ｘｍ１ｎをそれぞれメモ
リ機能を有する最大値検出回路１０および最小値検出回
路１１で検出し、これらの差”Ｘｍａｘ −ｘｍｉｎを
引算回路１２で求めて、その値りをメモリ９のＤ□領領
域格納する。更に、絶対値回路７の出力のりち、その最
大（ｍ Ｍ −１ｘｎ−ＸＨ＋１１ｍａＸをメモリ機能
を有する最大値検出回路１３で検出し、その値Ｍをメモ
リ９のＸ工領域に格納する。
受光素子列１０１に対する所要のデータＦ０゜Ｄ およ
びＭ工をメモリ９に格納した後は、メモリ４および検出
回路１０，１１．１２のメモリをクリアした後受光素子
列１０２を選択して同様の演算を行ない、評価関数値Ｆ
３、最大値と最小値との差り、および瞬接する受光素子
間の差の絶対値の最大値に、を求め、これら全メモリ９
のＦ２領域、Ｄ、領域およびＭ、領域にそれぞれ格納す
る。
びＭ工をメモリ９に格納した後は、メモリ４および検出
回路１０，１１．１２のメモリをクリアした後受光素子
列１０２を選択して同様の演算を行ない、評価関数値Ｆ
３、最大値と最小値との差り、および瞬接する受光素子
間の差の絶対値の最大値に、を求め、これら全メモリ９
のＦ２領域、Ｄ、領域およびＭ、領域にそれぞれ格納す
る。
同時に横ずれ検出用の１対の受光素子１０３の出力は、
制御回路２０で制御されるスイッチ１−２、増幅器２−
Ｚ、Ａ／Ｄ変換器３−２を介してＦ８計算回路１８に供
給される。Ｆ８計算回路１８において制御回路２０の制
御で横ずれの評価値Ｆ８を求め、メモリ１９内に求めた
Ｆ８を格納する。
制御回路２０で制御されるスイッチ１−２、増幅器２−
Ｚ、Ａ／Ｄ変換器３−２を介してＦ８計算回路１８に供
給される。Ｆ８計算回路１８において制御回路２０の制
御で横ずれの評価値Ｆ８を求め、メモリ１９内に求めた
Ｆ８を格納する。
制御回路２０はメモリ９．１４．１９に格納したデータ
に基づいて第５図のフローチャートに従ってぼけ像方法
と横ずれ方法の選択を行ない、その後選択された合焦検
出方法に基づき前ビン、合焦。
に基づいて第５図のフローチャートに従ってぼけ像方法
と横ずれ方法の選択を行ない、その後選択された合焦検
出方法に基づき前ビン、合焦。
後ビンの各状態を判定する。制御回路２０からの判定出
力は表示回路１５のラッチ回路１６でラッチされ、その
出力で対応する素子（本例では発光ダイオード）１７ａ
、１７ｂ、１７０叉は１７ｄが発光されて対応する状態
が表示され、斯る判定結果に基づいて手動的又は自動的
に合焦調整を行なうことができる。
力は表示回路１５のラッチ回路１６でラッチされ、その
出力で対応する素子（本例では発光ダイオード）１７ａ
、１７ｂ、１７０叉は１７ｄが発光されて対応する状態
が表示され、斯る判定結果に基づいて手動的又は自動的
に合焦調整を行なうことができる。
以上詳細に説明したように本発明の合焦検出方法によれ
ば、被写体像の濃度分布の状態に応じてＩ＆適な合焦検
出方法をぼけ像方法と横ずれ方法の２方法から選択して
使用しているので、正確な合焦検出を行なうことができ
る。特に、濃度差はある程度大きいがその変化がなだら
かな被写体の場合、従来の方法では合焦点付近でぼけ象
方法によって合焦検出を行なっていたため合焦精度は悪
かったが、本発明方法によれば上述した画像のような場
合槽ずれ検出方法によって合焦検出を行なうことになる
ので、このような場合でも良好な合焦検出を行なうこと
ができる。
ば、被写体像の濃度分布の状態に応じてＩ＆適な合焦検
出方法をぼけ像方法と横ずれ方法の２方法から選択して
使用しているので、正確な合焦検出を行なうことができ
る。特に、濃度差はある程度大きいがその変化がなだら
かな被写体の場合、従来の方法では合焦点付近でぼけ象
方法によって合焦検出を行なっていたため合焦精度は悪
かったが、本発明方法によれば上述した画像のような場
合槽ずれ検出方法によって合焦検出を行なうことになる
ので、このような場合でも良好な合焦検出を行なうこと
ができる。
また、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、幾多の変形、変更が可能である。例えは、上述した
実施例ではぼけ像方法と横ずれ方法の選択の一手段とし
てＦｏまたはＦ、 ＞ Ｂの判定を行なっていたが、第
８図に示すようにＦ、 ＋ Ｆ２＞Ｂ’を判定して横ず
れ方法を使用する範囲Ｙを決定することもできる。さら
に、上述した実施例においては傾きＭをしきい値α０．
α２と比較したが、αの数を増加させて一層細い範囲で
判定しても良いし、Ｍ／Ｄを判定の基準とすることもで
きる。また、Ｄをすべての受光集子の出力のうち最大、
最小の差としたが、局所的な最大と最小の差とすること
も可能である。
く、幾多の変形、変更が可能である。例えは、上述した
実施例ではぼけ像方法と横ずれ方法の選択の一手段とし
てＦｏまたはＦ、 ＞ Ｂの判定を行なっていたが、第
８図に示すようにＦ、 ＋ Ｆ２＞Ｂ’を判定して横ず
れ方法を使用する範囲Ｙを決定することもできる。さら
に、上述した実施例においては傾きＭをしきい値α０．
α２と比較したが、αの数を増加させて一層細い範囲で
判定しても良いし、Ｍ／Ｄを判定の基準とすることもで
きる。また、Ｄをすべての受光集子の出力のうち最大、
最小の差としたが、局所的な最大と最小の差とすること
も可能である。
さらにまた、上述した実施例においてはほけ像の評価値
がＦ□＋ＦＢの２種類、横ずれの評価値がＦ８の１種類
の例について説明したが、これらの評価値の数は上述し
た例に限定されるものではない。例えば、横ずれの評価
値を２種類にして同じ光路差で設けた場合、２つの評価
値を加えることにより予定合焦位置近辺で評価値が零に
なるような評価値を作ることができ、上述した例と同様
の方法で合焦を判定することができる。
がＦ□＋ＦＢの２種類、横ずれの評価値がＦ８の１種類
の例について説明したが、これらの評価値の数は上述し
た例に限定されるものではない。例えば、横ずれの評価
値を２種類にして同じ光路差で設けた場合、２つの評価
値を加えることにより予定合焦位置近辺で評価値が零に
なるような評価値を作ることができ、上述した例と同様
の方法で合焦を判定することができる。
第１図（ａ）、（ｂ）はある被写体に対するぼけ像方法
による受光素子位置と光電変換出力の関係を示す図、 第２図（ａ）、■）は従来の合焦検出方法の一実施例を
説明するためのほけ像及び横ずれの評価値を示す図、 第３図（ａ） 、 （ｂ）はある被写体に対する横ずれ
方法による受光素子位置と光電変換出力の関係を示す図
１ 第４図は被写体の濃度変化の一例を光電変換出力として
表わした図、 第５図は本発明の合焦検出方法の一実施例を示すフロー
チャート、 第６図（〜、（ｂ）は本発明の合焦判定方法の一実施例
を説明するためのぼけ像及び横ずれの評価値を示す図、 第７図は本発明の合焦検出方法を実施する装置の一例の
構成を示すブロック図、 第８図は本発明の合焦検出方法の池の実施例のほけ像及
び横ずれの評価値を示す図である。 １０１．１０２，１０３・・・受光素子列２０・・・制
御回路 １−１．１−２・・・切換スイッチ
２−１．２−２・・・増幅器３−１．８−
２・・・Ａ／Ｄ変換器 ４・・・メモリ ５・・・シフト回路６・・
・引算回路 ７用絶対値回路８・・・加算回路
９・・・メモリ１０・・・最大値検出回路
１１・・・最小値検出回路１２・・・引算回路
１３・・・最大値検出回路１４．１９・・・定数メモリ １５・・・表示回路 １６・・・ラッチ回路１７
ａ −１７ｄ・・・表示素子 １８・・・Ｆ８計算回路 特許出願人 オリンパス九学工朶株式会社第８図 愛、ｔ′看子Ｎ。 愛尤累子Ｎａ 第４図 第７図 第８図 手続補正書 昭和５９年２ 月ｌＯ日 １、事件の表示 昭和５７年 特 許 願第２０５０２５号２、発明の名
称 合焦検出方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （０３７１オリンパス光学工業株式会社１６１７０９号
」を「特開昭５４−．１６９６１７号」と訂正する。 ２、同第１２頁第３行の「る。また、」を以下のように
訂正する。 ［る。第９図にこび〕場合σ〕フローの一部を示す。 これは第５図のＦｌ ｒ Ｆ２ ＞ Ｂの代りにＦ、
＋ Ｆ、 ＞Ｂ′を用いた例である。また、」 ３同頁第５行の「可能である。」の後に以下００文を加
入する。 ［不発明の説明で（まＭ”” ｌ Ｘｎ ”” Ｘｎ＋
１１ｍａｘとしたが、Ｍｉ ＝ Ｉ Ｘｎ −Ｘｎ＋ｉ
１ｕｘａｘとして１を１゜２ 、．１１−−一など発
明の主旨に反しない範囲で選択し、Ｍ＝Ｍ、とすること
もできる。また、このに ４同頁皐ｌＯ〜１１行の「例えば、−一一般けた場合」
を以下のように訂正する。 ［例えば、横ずれ用の光電変換素子をぼけ像用の光電変
換素子と併設して配置するか又は共用し、ぼけ像用ｙｆ
Ｊ屯素子と同じ光路差を持たせた場合（例えば特願昭５
７−１１４９１５号）にＣま、横ずれの評価関数は２つ
になるが」５四Ｒ第１４ｆｉの「ことができる。」σ）
後に以下の文を１７１１人する。 「ざらに不発明は、特願昭５６−４６０８７号、特願昭
５７−１．２６２’７３号等に開示されたツ６学系に杆
部に用いることができる。」 ６同第１３頁第１５行の「示す図である。」を以下のよ
うに訂正する。 「示す図、第９図は不発明の合焦検出方法の能の実施例
を示すフローチャートである。」７゜図１ｎｉ中、第５
図を別紙訂正図のとおりに訂正し、＠９図を新しく加入
する。 代理人弁理士 杉 付 暁 舟外１名 第５図
による受光素子位置と光電変換出力の関係を示す図、 第２図（ａ）、■）は従来の合焦検出方法の一実施例を
説明するためのほけ像及び横ずれの評価値を示す図、 第３図（ａ） 、 （ｂ）はある被写体に対する横ずれ
方法による受光素子位置と光電変換出力の関係を示す図
１ 第４図は被写体の濃度変化の一例を光電変換出力として
表わした図、 第５図は本発明の合焦検出方法の一実施例を示すフロー
チャート、 第６図（〜、（ｂ）は本発明の合焦判定方法の一実施例
を説明するためのぼけ像及び横ずれの評価値を示す図、 第７図は本発明の合焦検出方法を実施する装置の一例の
構成を示すブロック図、 第８図は本発明の合焦検出方法の池の実施例のほけ像及
び横ずれの評価値を示す図である。 １０１．１０２，１０３・・・受光素子列２０・・・制
御回路 １−１．１−２・・・切換スイッチ
２−１．２−２・・・増幅器３−１．８−
２・・・Ａ／Ｄ変換器 ４・・・メモリ ５・・・シフト回路６・・
・引算回路 ７用絶対値回路８・・・加算回路
９・・・メモリ１０・・・最大値検出回路
１１・・・最小値検出回路１２・・・引算回路
１３・・・最大値検出回路１４．１９・・・定数メモリ １５・・・表示回路 １６・・・ラッチ回路１７
ａ −１７ｄ・・・表示素子 １８・・・Ｆ８計算回路 特許出願人 オリンパス九学工朶株式会社第８図 愛、ｔ′看子Ｎ。 愛尤累子Ｎａ 第４図 第７図 第８図 手続補正書 昭和５９年２ 月ｌＯ日 １、事件の表示 昭和５７年 特 許 願第２０５０２５号２、発明の名
称 合焦検出方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （０３７１オリンパス光学工業株式会社１６１７０９号
」を「特開昭５４−．１６９６１７号」と訂正する。 ２、同第１２頁第３行の「る。また、」を以下のように
訂正する。 ［る。第９図にこび〕場合σ〕フローの一部を示す。 これは第５図のＦｌ ｒ Ｆ２ ＞ Ｂの代りにＦ、
＋ Ｆ、 ＞Ｂ′を用いた例である。また、」 ３同頁第５行の「可能である。」の後に以下００文を加
入する。 ［不発明の説明で（まＭ”” ｌ Ｘｎ ”” Ｘｎ＋
１１ｍａｘとしたが、Ｍｉ ＝ Ｉ Ｘｎ −Ｘｎ＋ｉ
１ｕｘａｘとして１を１゜２ 、．１１−−一など発
明の主旨に反しない範囲で選択し、Ｍ＝Ｍ、とすること
もできる。また、このに ４同頁皐ｌＯ〜１１行の「例えば、−一一般けた場合」
を以下のように訂正する。 ［例えば、横ずれ用の光電変換素子をぼけ像用の光電変
換素子と併設して配置するか又は共用し、ぼけ像用ｙｆ
Ｊ屯素子と同じ光路差を持たせた場合（例えば特願昭５
７−１１４９１５号）にＣま、横ずれの評価関数は２つ
になるが」５四Ｒ第１４ｆｉの「ことができる。」σ）
後に以下の文を１７１１人する。 「ざらに不発明は、特願昭５６−４６０８７号、特願昭
５７−１．２６２’７３号等に開示されたツ６学系に杆
部に用いることができる。」 ６同第１３頁第１５行の「示す図である。」を以下のよ
うに訂正する。 「示す図、第９図は不発明の合焦検出方法の能の実施例
を示すフローチャートである。」７゜図１ｎｉ中、第５
図を別紙訂正図のとおりに訂正し、＠９図を新しく加入
する。 代理人弁理士 杉 付 暁 舟外１名 第５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｌ 光電検出手段上に投影された像の鮮鋭度を表わす評
価値を求めることにより合焦検出を行なうほけ像検出方
法と、レンズの射出瞳の一部を透過した光束により光電
検出手段上に投影された像と、射出瞳の池の部分を透過
した光束により検出手段上に、投影された像の位置関係
を比較することにより合焦検出を行なうための桶ずれ検
出方法を併用する合焦検出方法において、 像の濃度分布の状態に応じて前記ぼけ像検出方法または
前記横ずれ検出方法のどちらかを選択して合焦状態を検
出することを特徴とする合焦検出方法。 ２、 前記はけ像検出方法または横ずれ検出方法の選択
を、瞬接する受光素子間の出力の差の絶対値の最大値Ｍ
および各受光素子列の最大値と最小値の差りをそれぞれ
所定のしきい値と比較した結果に基づいて行なうことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の合焦検出方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57205025A JPS5994713A (ja) | 1982-11-22 | 1982-11-22 | 合焦検出方法 |
| US06/552,479 US4614865A (en) | 1982-11-22 | 1983-11-16 | Method of detecting a focus condition of an imaging optical system by image sharpness and lateral shift techniques |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57205025A JPS5994713A (ja) | 1982-11-22 | 1982-11-22 | 合焦検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5994713A true JPS5994713A (ja) | 1984-05-31 |
Family
ID=16500192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57205025A Pending JPS5994713A (ja) | 1982-11-22 | 1982-11-22 | 合焦検出方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4614865A (ja) |
| JP (1) | JPS5994713A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4687917A (en) * | 1983-10-19 | 1987-08-18 | Nippon Kogaku K. K. | Focus detecting device for removing vignetting effects |
| JPH0629895B2 (ja) * | 1984-09-11 | 1994-04-20 | キヤノン株式会社 | フォーカス状態決定装置 |
| US4910548A (en) * | 1986-05-16 | 1990-03-20 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with a multi-zone focus detecting device |
| US5218395A (en) * | 1986-05-16 | 1993-06-08 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with a multi-zone focus detecting device |
| US5168299A (en) * | 1986-05-16 | 1992-12-01 | Minolta Camera Co., Ltd. | Camera with a multi-zone focus detecting device |
| JPH0738046B2 (ja) * | 1987-03-30 | 1995-04-26 | 新王子製紙株式会社 | 内部的構造を有する半透光性シート状試料の表面検査装置 |
| US5049925A (en) * | 1990-04-20 | 1991-09-17 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for focusing a wafer stepper |
| US6608705B1 (en) * | 1997-10-21 | 2003-08-19 | Seiko Epson Corporation | Image reading device and focus adjustment method thereof |
| US6332061B1 (en) * | 1999-03-18 | 2001-12-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting device and automatic focusing camera |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55111921A (en) * | 1979-02-14 | 1980-08-29 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detector of camera |
| JPS58211721A (ja) * | 1982-06-04 | 1983-12-09 | Olympus Optical Co Ltd | 合焦検出方法 |
-
1982
- 1982-11-22 JP JP57205025A patent/JPS5994713A/ja active Pending
-
1983
- 1983-11-16 US US06/552,479 patent/US4614865A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4614865A (en) | 1986-09-30 |
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