JPS6036905A - 焦点測定装置 - Google Patents
焦点測定装置Info
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- JPS6036905A JPS6036905A JP58145065A JP14506583A JPS6036905A JP S6036905 A JPS6036905 A JP S6036905A JP 58145065 A JP58145065 A JP 58145065A JP 14506583 A JP14506583 A JP 14506583A JP S6036905 A JPS6036905 A JP S6036905A
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
- G01C3/085—Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
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- Electromagnetism (AREA)
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- Remote Sensing (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、距Ｎ１に応じて像信号の相対位置が変化する
所謂すれ方式の距離測定装置に関するものである。
所謂すれ方式の距離測定装置に関するものである。
従来この種の装置は、像の相関を明確な信号と ゛して
得るために広視野に相当する広い範囲の像信号について
相関演算を行うため、視野内に遠い被写体と近い被写体
が４昆存する場合には、中間の被写体に対する測距値を
算出することに−なる。また、広い視野に相当する多く
の像信号に対して相関演算を行うので、演算部分が大き
くなり演算時間が長くなる欠点がある。
得るために広視野に相当する広い範囲の像信号について
相関演算を行うため、視野内に遠い被写体と近い被写体
が４昆存する場合には、中間の被写体に対する測距値を
算出することに−なる。また、広い視野に相当する多く
の像信号に対して相関演算を行うので、演算部分が大き
くなり演算時間が長くなる欠点がある。
本発明の目的は、上述の従来例の欠点を除去すると同時
に、デジタル演算に適した演算の這択を可能にし、高速
性と高精度の測距を可能とする距離測定装置を提供する
ことにあり、その要旨は、複数個の像信号の相対位置に
より対象物体まての距瑚を算出する処理回路において、
主として比較的小部分の像信号を基に相関値を算出する
回路と、該相関値により距離を算出する回路とを有する
ことを特徴とするものである。
に、デジタル演算に適した演算の這択を可能にし、高速
性と高精度の測距を可能とする距離測定装置を提供する
ことにあり、その要旨は、複数個の像信号の相対位置に
より対象物体まての距瑚を算出する処理回路において、
主として比較的小部分の像信号を基に相関値を算出する
回路と、該相関値により距離を算出する回路とを有する
ことを特徴とするものである。
本発明の方法を図示の実施例に基づいて訂細に説明する
。
。
第１図は本発明の方法を実現するための像信号形成手段
の一実施例であって外部測距方式と呼ばれるものであり
、被写体Ｓの像を基線分だけ離れた２つの結像レンズ１
ａ、ｌｂにより光電変換素子２ａ、２ｂ上に被写体距離
に応じて相対的にずれた像を写し、この像信号を処理回
路３を介して表示器４に被写体距離として表示するよう
になっている。
の一実施例であって外部測距方式と呼ばれるものであり
、被写体Ｓの像を基線分だけ離れた２つの結像レンズ１
ａ、ｌｂにより光電変換素子２ａ、２ｂ上に被写体距離
に応じて相対的にずれた像を写し、この像信号を処理回
路３を介して表示器４に被写体距離として表示するよう
になっている。
第２図はＴＴＬ方式と呼ばれる他の実施例を示し、被写
体Ｓを撮影レンズ５を通して予定焦点面Ｆに焦点合わせ
を行うものにおいて、撮影レンズ５の後部に配置された
分割反射板６により予定焦点面Ｆと共役の位置に配置し
た各光電変換素子２ａ、２ｂ上に、予定焦点面Ｆからの
デフォーカスに応じて相対的にずれた像を写すようにな
っている。光電変換素子２ａ、２ｂで得られた像信号を
処理回路７を介して駆動手段８により撮影レンズ５を光
軸に沿って移動させて、焦点を予定焦点面Ｆに合致させ
るようになっている。
体Ｓを撮影レンズ５を通して予定焦点面Ｆに焦点合わせ
を行うものにおいて、撮影レンズ５の後部に配置された
分割反射板６により予定焦点面Ｆと共役の位置に配置し
た各光電変換素子２ａ、２ｂ上に、予定焦点面Ｆからの
デフォーカスに応じて相対的にずれた像を写すようにな
っている。光電変換素子２ａ、２ｂで得られた像信号を
処理回路７を介して駆動手段８により撮影レンズ５を光
軸に沿って移動させて、焦点を予定焦点面Ｆに合致させ
るようになっている。
第３図は前述の処理回路４．７の実施例を示すブロック
回路構成図である。２個の光電変換素子２ａ、２ｂから
の出力は、４個の選択ゲート回路１０ａ、１０ｂ、ｌｌ
ａ、ｌｌｂに送出されている。即ち、光電変換素子２ａ
の出力は選択ゲート回路１０ａ、１０ｂにそれぞれ送ら
れ、光電変換素子２ｂの出力は選択ゲート回路１０ａ、
１１ｂにそれぞれ送信される。そして、選択ゲート回路
１０ａ、ｌｌａの出力は第１の相関検知器１２に送られ
、この相関検知器１２の出力はサンプル値ホールド回路
１３、減衰器１４、加算器１５、最大値選択回路１６、
プライオリティエンコーダ１７を介して、駆動手段１８
及びＤ／Ａ変換増幅器１９に送られるようになっている
。一方、選択ゲート回路１０ｂ、ｌｌｂの出力は第２の
相関検知器２０に送られ、この相関検知器２０の出力は
サンプル値ホールド回路２１、減衰器２２を経て先の加
算器１５に送られる。また、発振器２３から出力される
パルスを計数する計数回路２４の出力は、アドレス値と
して後述するように各回路に送出されている。
回路構成図である。２個の光電変換素子２ａ、２ｂから
の出力は、４個の選択ゲート回路１０ａ、１０ｂ、ｌｌ
ａ、ｌｌｂに送出されている。即ち、光電変換素子２ａ
の出力は選択ゲート回路１０ａ、１０ｂにそれぞれ送ら
れ、光電変換素子２ｂの出力は選択ゲート回路１０ａ、
１１ｂにそれぞれ送信される。そして、選択ゲート回路
１０ａ、ｌｌａの出力は第１の相関検知器１２に送られ
、この相関検知器１２の出力はサンプル値ホールド回路
１３、減衰器１４、加算器１５、最大値選択回路１６、
プライオリティエンコーダ１７を介して、駆動手段１８
及びＤ／Ａ変換増幅器１９に送られるようになっている
。一方、選択ゲート回路１０ｂ、ｌｌｂの出力は第２の
相関検知器２０に送られ、この相関検知器２０の出力は
サンプル値ホールド回路２１、減衰器２２を経て先の加
算器１５に送られる。また、発振器２３から出力される
パルスを計数する計数回路２４の出力は、アドレス値と
して後述するように各回路に送出されている。
光電変換素子２ａ及び２ｂからはその各画素に対応する
輝度情報の光電出力が、選択ゲート回路１０ａ、１０ｂ
及び１１ａ、１１ｂに出力される。ずれ量をめるために
、発振器２３のパルスを計数する計数回路２４の出力が
、アドレス信号として各選択ゲート回路１０ａ、１０ｂ
、１１ａ、ｌｌｂに供給されている。例えば、各７個の
画素から成る光電変換素子２ａ、２ｂの出力を選択ゲー
ト回路１０ａ、ｌｌａにより順次ずらしながら３画素分
ずつ選択することにより、つまり成るアドレスでは光電
変換素子２ａの第１〜第３番目の画素と、光電変換素子
２ｂの第５〜第７番目の画素を選択し、次のアドレスで
は光電変換素子２ａの第２〜第４番目の画素を、光電変
換素子２ｂの第４〜第６番目の画素をというように抽出
する。
輝度情報の光電出力が、選択ゲート回路１０ａ、１０ｂ
及び１１ａ、１１ｂに出力される。ずれ量をめるために
、発振器２３のパルスを計数する計数回路２４の出力が
、アドレス信号として各選択ゲート回路１０ａ、１０ｂ
、１１ａ、ｌｌｂに供給されている。例えば、各７個の
画素から成る光電変換素子２ａ、２ｂの出力を選択ゲー
ト回路１０ａ、ｌｌａにより順次ずらしながら３画素分
ずつ選択することにより、つまり成るアドレスでは光電
変換素子２ａの第１〜第３番目の画素と、光電変換素子
２ｂの第５〜第７番目の画素を選択し、次のアドレスで
は光電変換素子２ａの第２〜第４番目の画素を、光電変
換素子２ｂの第４〜第６番目の画素をというように抽出
する。
ここで選択ゲート回路の一実施例を第４図に示す。この
実施例では画素を４個ずつ抽出するものであり、端子４
０からの光電変換素子２の出力を、端子４１から入力す
るアドレス信号によって順次ずらしながら、端子４２に
選択出力するようになっている。つまり、端子４０から
の各入力は同一のアドレス信号により選択されるアナロ
グスイッチ４３ａ〜４３ｄに、例えば端子４０の成る位
置は各アナログスイッチ４３ａ〜４３ｄの３．２．１．
０番目の入力端子にというようにずらしなから接続され
ている。端子４２からの出力はアドレス信号により、例
えば入力信号の第１−第４番目、次のアドレスでは第２
〜第５番目と接続され、順次にずれながら接続される。
実施例では画素を４個ずつ抽出するものであり、端子４
０からの光電変換素子２の出力を、端子４１から入力す
るアドレス信号によって順次ずらしながら、端子４２に
選択出力するようになっている。つまり、端子４０から
の各入力は同一のアドレス信号により選択されるアナロ
グスイッチ４３ａ〜４３ｄに、例えば端子４０の成る位
置は各アナログスイッチ４３ａ〜４３ｄの３．２．１．
０番目の入力端子にというようにずらしなから接続され
ている。端子４２からの出力はアドレス信号により、例
えば入力信号の第１−第４番目、次のアドレスでは第２
〜第５番目と接続され、順次にずれながら接続される。
このようにして選択ゲート回路１０ａ、ｌｌａで選択さ
れた各像信号は、第３図に示す第１の相関検知器１２に
入力され、ずらされた信号同志の例えば３対の信号の一
致度即ち相関値を出力することになる。
れた各像信号は、第３図に示す第１の相関検知器１２に
入力され、ずらされた信号同志の例えば３対の信号の一
致度即ち相関値を出力することになる。
第５図は相関検知器の一実施例であり、この実施例では
４対の信号同志の一致度を出力するようになっている。
４対の信号同志の一致度を出力するようになっている。
端子５０に入力する２つの選択ゲート回路１０．１１か
らの（ＡＩ、Ｂｌ）、廖・・（Ａ４．Ｂ４）の対入力の
差を差動増幅器５１ａ〜５２ｄでめ、これらの各信号を
絶対値回路５２ａ〜５２ｄで各相関信号に変換する。そ
して、これらの相関信号を加算器５３で加算して各対の
入力信号が一致したときに最小値を示す信号をめ、この
信号を反転増幅器５４を通して出力することにより、端
子５５から一致程度信号、つまり各アドレスに対応した
相関信号を時系列信号として得ることになる。
らの（ＡＩ、Ｂｌ）、廖・・（Ａ４．Ｂ４）の対入力の
差を差動増幅器５１ａ〜５２ｄでめ、これらの各信号を
絶対値回路５２ａ〜５２ｄで各相関信号に変換する。そ
して、これらの相関信号を加算器５３で加算して各対の
入力信号が一致したときに最小値を示す信号をめ、この
信号を反転増幅器５４を通して出力することにより、端
子５５から一致程度信号、つまり各アドレスに対応した
相関信号を時系列信号として得ることになる。
この相関信号を比較するために、第３図のサンプル値ホ
ールド回路１３では各アドレスに対応して第１の相関検
知器１２からの相関信号をサンプルホールドして、各ず
れ量に対応した信号を並列的に出力する。
ールド回路１３では各アドレスに対応して第１の相関検
知器１２からの相関信号をサンプルホールドして、各ず
れ量に対応した信号を並列的に出力する。
第６図はこのサンプル値ホールド回路の一実施例であり
、端子６０から入力する相関値である時系列信号を、端
子６１からのアドレス信号に応じて出力端子６２に並列
的に出力するようになっている。つまり、デコーダ６３
によりアドレス信号に応じてその出力をハイレベルにし
て、サンプル値ホールド回路６４ａ〜６４ｄをオンにし
、そのアドレス信号に対応した時刻の入力値を対応する
サンプル値ホールド回路６４ａ〜６４ｄにホールドする
ものである。
、端子６０から入力する相関値である時系列信号を、端
子６１からのアドレス信号に応じて出力端子６２に並列
的に出力するようになっている。つまり、デコーダ６３
によりアドレス信号に応じてその出力をハイレベルにし
て、サンプル値ホールド回路６４ａ〜６４ｄをオンにし
、そのアドレス信号に対応した時刻の入力値を対応する
サンプル値ホールド回路６４ａ〜６４ｄにホールドする
ものである。
第７図は第３図に示す減衰器１４のブロック回路図であ
り、端子７０かも入力するサンプルホールド値をアッテ
ネータ７１ａ〜７１ｄにより一定量減衰させたり、関数
的に異なる重みイづけをして端子７２に出力するように
なっている。第３図の減衰器１４は異なる重み付けを有
するものであり、第１図に示す外部測距方式の場合は多
く撮影される３〜５ｍの距＃、範囲に相当するアドレス
信号に対し、また第２図に示すＴＴＬ方式の場合は予定
焦点面Ｆに対応するアドレス信号に対して、より遠い被
写体を軽視するように、つまり遠い被写体に相当するア
ドレス信号に相当する信号は大きく減衰するように構成
され、より近い被写体を優先するように、つまりより近
い被写体に対応するアドレス信号はど減衰率を低くして
いる。
り、端子７０かも入力するサンプルホールド値をアッテ
ネータ７１ａ〜７１ｄにより一定量減衰させたり、関数
的に異なる重みイづけをして端子７２に出力するように
なっている。第３図の減衰器１４は異なる重み付けを有
するものであり、第１図に示す外部測距方式の場合は多
く撮影される３〜５ｍの距＃、範囲に相当するアドレス
信号に対し、また第２図に示すＴＴＬ方式の場合は予定
焦点面Ｆに対応するアドレス信号に対して、より遠い被
写体を軽視するように、つまり遠い被写体に相当するア
ドレス信号に相当する信号は大きく減衰するように構成
され、より近い被写体を優先するように、つまりより近
い被写体に対応するアドレス信号はど減衰率を低くして
いる。
さて、選択ゲート回路１０ｂ、ｌｌｂは前述の選択ゲー
ト回路１０ａ、ｌｌａで選択した３個よりも多い画素、
例えば４〜５画素を選択するようにされており、４〜５
対の一致度を第２の相関検知器２０によりめ、その時系
列信号をサンプル値ホールド回路２１で並列信号に変換
し、その信号を減衰器２２で一率に減衰して加算器１５
に送出し、送出される信号は対応するアドレス信号ごと
に加算される。この加算は第８図に示すように、減衰器
１４．２２から出力され端子８０から入力した信号が、
各加算器８１ａ〜８１ｂにより対応するアドレス信号ご
とに加算されるようになっている。
ト回路１０ａ、ｌｌａで選択した３個よりも多い画素、
例えば４〜５画素を選択するようにされており、４〜５
対の一致度を第２の相関検知器２０によりめ、その時系
列信号をサンプル値ホールド回路２１で並列信号に変換
し、その信号を減衰器２２で一率に減衰して加算器１５
に送出し、送出される信号は対応するアドレス信号ごと
に加算される。この加算は第８図に示すように、減衰器
１４．２２から出力され端子８０から入力した信号が、
各加算器８１ａ〜８１ｂにより対応するアドレス信号ご
とに加算されるようになっている。
このようにして加算器１５から出力される並列アナログ
信号に対し、最大値選択回路１６により大なる信号のみ
が選択される。第９図はこの選択回路を示し、端子９０
からの入力信号に対しダイオード９１ａ 〜９１ｄ及び
抵抗９２ａ、９２ｂにより最大値をダイオード９１の出
力端に出力し、抵抗９２ａ、９２ｂで分割された例えば
最大値×０．９の電位を八ツファ９３により発生させ、
その電位と端子９０からの各入力電位を比較器９４ａ〜
９４ｄにおいて比較する。例えば、最大値Ｘ０．９を上
廻る入力に対して比較器９４ａ〜９４ｄの出力をハイレ
ベルにしてデジタル出力端子９５に出力すると共に、そ
のハイレベル出力によりアナログスイッチ９６ａ〜９６
ｄをオンにして、アナログ出力端子９７に端子９０の入
力信号を直接に伝達するようにしである。
信号に対し、最大値選択回路１６により大なる信号のみ
が選択される。第９図はこの選択回路を示し、端子９０
からの入力信号に対しダイオード９１ａ 〜９１ｄ及び
抵抗９２ａ、９２ｂにより最大値をダイオード９１の出
力端に出力し、抵抗９２ａ、９２ｂで分割された例えば
最大値×０．９の電位を八ツファ９３により発生させ、
その電位と端子９０からの各入力電位を比較器９４ａ〜
９４ｄにおいて比較する。例えば、最大値Ｘ０．９を上
廻る入力に対して比較器９４ａ〜９４ｄの出力をハイレ
ベルにしてデジタル出力端子９５に出力すると共に、そ
のハイレベル出力によりアナログスイッチ９６ａ〜９６
ｄをオンにして、アナログ出力端子９７に端子９０の入
力信号を直接に伝達するようにしである。
第３図においては、この最大値により最大値選択回路１
６の出力として第９図におけるデジタル出力端子９７か
らのデジタル信号を得て、プライオリティエンコーダ１
７を介して近い被写体を優先して大きく一致した信号に
対応するアドレス信号を出力する。
６の出力として第９図におけるデジタル出力端子９７か
らのデジタル信号を得て、プライオリティエンコーダ１
７を介して近い被写体を優先して大きく一致した信号に
対応するアドレス信号を出力する。
２個の相関検知器１２．２０により２系列の相関比較を
行うのは、前述のように遠近競合を防止するためである
。選択ゲート回路１０ａ、１１ａ、第１の相関検知器１
２による相関比較、即ち比較的小部分の画素の相関を重
視し、ここで得られた信号に選択ゲート回路１０ｂ、ｌ
ｌｂ、第２の相関検知器２０による相関比較、即ち比較
的広い部分の画素の相関を減衰器２２及び加算器１５で
補助的に加味して相関検知を行うことによって、遠近競
合時は近い被写体を優先的に扱い、また広い部分の相関
を加味することにより部分類似の相関に対して適切な測
距を可能にしている。
行うのは、前述のように遠近競合を防止するためである
。選択ゲート回路１０ａ、１１ａ、第１の相関検知器１
２による相関比較、即ち比較的小部分の画素の相関を重
視し、ここで得られた信号に選択ゲート回路１０ｂ、ｌ
ｌｂ、第２の相関検知器２０による相関比較、即ち比較
的広い部分の画素の相関を減衰器２２及び加算器１５で
補助的に加味して相関検知を行うことによって、遠近競
合時は近い被写体を優先的に扱い、また広い部分の相関
を加味することにより部分類似の相関に対して適切な測
距を可能にしている。
このように比較的小部分の相関に広い部分の相関を加味
することにより、より正確な測距が行われることになり
、最大値選択回路１６のアナログ信号を用いれば、小部
分の大きな相関についてのみ広い部分の加算を行ったり
、広い部分の相関検出を選択ゲート回路１０ａ、ｌｌｂ
、第１の相関検知器１２の回路によって別時刻に分割し
て行うこともできる。
することにより、より正確な測距が行われることになり
、最大値選択回路１６のアナログ信号を用いれば、小部
分の大きな相関についてのみ広い部分の加算を行ったり
、広い部分の相関検出を選択ゲート回路１０ａ、ｌｌｂ
、第１の相関検知器１２の回路によって別時刻に分割し
て行うこともできる。
このようにして得られた測距値により表示駆動回路１８
を介して、第１図に示す表示器４にデフォーカス量或い
は被写体距離を表示したり、Ｄ／Ａ変換増幅器１９によ
り第２図に示す予定焦点面Ｆに対応するアドレス信号の
出力時に零の出力をして駆動手段８を用いて自動合焦を
行うことがｎｆ能となる。
を介して、第１図に示す表示器４にデフォーカス量或い
は被写体距離を表示したり、Ｄ／Ａ変換増幅器１９によ
り第２図に示す予定焦点面Ｆに対応するアドレス信号の
出力時に零の出力をして駆動手段８を用いて自動合焦を
行うことがｎｆ能となる。
前述の実施例は主にアナログ回路を中心に説明したが、
像の光電出力なＡ／Ｄ変換し、その相関をマイクロプロ
セッサにおいてめる場合にも、小部分の相関を最初に計
算し、その重み付けした相関値の大きなものについて広
い部分の相関をめ、その情報を加味しながら距離をめる
こともできる。かくすることにより、時間の掛かる広い
部分の相関演算を省略した迅速な処理と、前述の遠近競
合時にも安定した使い易い測距や自動合焦が実現できる
。勿論、アナログ回路においても前述したように小部分
と広い部分の演算を回路を兼用して時分割で行えば回路
規模を小さくすることができる。
像の光電出力なＡ／Ｄ変換し、その相関をマイクロプロ
セッサにおいてめる場合にも、小部分の相関を最初に計
算し、その重み付けした相関値の大きなものについて広
い部分の相関をめ、その情報を加味しながら距離をめる
こともできる。かくすることにより、時間の掛かる広い
部分の相関演算を省略した迅速な処理と、前述の遠近競
合時にも安定した使い易い測距や自動合焦が実現できる
。勿論、アナログ回路においても前述したように小部分
と広い部分の演算を回路を兼用して時分割で行えば回路
規模を小さくすることができる。
以上説明したように本発明に係る距離測定装置は、単純
な小部分の相関をめることにより、迅速かつ簡単に遠近
競合による誤作動を防止した演算と、この演算に広い部
分の相関情報を加味して類似小部分パターンによる誤作
動を防止し、全体で高速で正確な測距が可能となる効果
を有する。
な小部分の相関をめることにより、迅速かつ簡単に遠近
競合による誤作動を防止した演算と、この演算に広い部
分の相関情報を加味して類似小部分パターンによる誤作
動を防止し、全体で高速で正確な測距が可能となる効果
を有する。
図面は本発明に係る距離測定装置を実現するための装置
の実施例を示し、第１図、第２図は測距方式の概略説明
図、第３図、第４図、第５図、第６図、第７図、第８図
、第９図はそれぞれ処理回路、選択ゲート回路、相関検
知器、サンプル値ホールド回路、減衰器、加算器、最大
値選択回路のブロック回路構成図である。 符号１ａ、１ｂは結像Ｌ／ンズ、２ａ、２ｂは光電変換
素子、３．７は処理回路、４は表示器、５は撮影レンズ
、８は駆動手段、１０．１１は選択ゲート回路、１２．
２０は相関検知器、１３．２１はサンプル値ホールド回
路、１４．２２は減衰器、１５は加算器、１６は最大値
選択回路、１７はプライオリティエンコーダ、１８は表
示駆動回路、１９はＤ／Ａ変換増幅器、２３は発振器、
２４は計数回路である。 第１ｃ！Ｉ 第２ＷＪ 第３図 第４図 ２ 第５１！Ｎ ｗｉ６図 第７図 第９ｒｇ −一ノ
の実施例を示し、第１図、第２図は測距方式の概略説明
図、第３図、第４図、第５図、第６図、第７図、第８図
、第９図はそれぞれ処理回路、選択ゲート回路、相関検
知器、サンプル値ホールド回路、減衰器、加算器、最大
値選択回路のブロック回路構成図である。 符号１ａ、１ｂは結像Ｌ／ンズ、２ａ、２ｂは光電変換
素子、３．７は処理回路、４は表示器、５は撮影レンズ
、８は駆動手段、１０．１１は選択ゲート回路、１２．
２０は相関検知器、１３．２１はサンプル値ホールド回
路、１４．２２は減衰器、１５は加算器、１６は最大値
選択回路、１７はプライオリティエンコーダ、１８は表
示駆動回路、１９はＤ／Ａ変換増幅器、２３は発振器、
２４は計数回路である。 第１ｃ！Ｉ 第２ＷＪ 第３図 第４図 ２ 第５１！Ｎ ｗｉ６図 第７図 第９ｒｇ −一ノ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数個の像信号の相対位１直により対象物体までの
距副を算出する処理回路において、主として比較的小部
分の像信号を基に相関値を算出する回路と、該相関値に
より距離を算出する回路とを看することを特徴とする距
離測定装置。 ２ 比較的広い部分の像信号により相関値を算出し、該
相関（ＩＱを従として伺加するようにした特＋！’ｔ
請求の範囲第１項に記載の距魔［測定装置。 ３、 中央距剛及び近い距離に相当する相関演算に屯み
伺けをするようにした特許請求の範囲第１伯に記載の距
ｉｔ’、ａ １ｌｌｌｌ定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58145065A JPS6036905A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 焦点測定装置 |
| US06/635,743 US4614418A (en) | 1983-08-10 | 1984-07-30 | Distance detection apparatus |
| DE19843429586 DE3429586A1 (de) | 1983-08-10 | 1984-08-10 | Abstandsbestimmungsgeraet |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58145065A JPS6036905A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 焦点測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6036905A true JPS6036905A (ja) | 1985-02-26 |
| JPH0140293B2 JPH0140293B2 (ja) | 1989-08-28 |
Family
ID=15376563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58145065A Granted JPS6036905A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 焦点測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4614418A (ja) |
| JP (1) | JPS6036905A (ja) |
| DE (1) | DE3429586A1 (ja) |
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- 1984-07-30 US US06/635,743 patent/US4614418A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-10 DE DE19843429586 patent/DE3429586A1/de active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3429586C2 (ja) | 1991-12-05 |
| DE3429586A1 (de) | 1985-02-28 |
| US4614418A (en) | 1986-09-30 |
| JPH0140293B2 (ja) | 1989-08-28 |
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