DE3803750A1 - Mehrkanaliges roentgenspektrometer - Google Patents
Mehrkanaliges roentgenspektrometerInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Röntgenspek
tralapparate zur qualitativen und quantitativen Analyse
der elementaren Zusammensetzung von Werkstoffen, und sie
betrifft insbesondere mehrkanalige Röntgenspektrometer.
Die Erfindung kann in verschiedenen Bereichen der Wissen
schaft und Technik: Physik, Chemie, Biologie, Metallurgie,
Geologie sowohl für die Lösung von praktischen Aufgaben
als auch für die Untersuchung von grundlegenden Problemen
der Wissenschaft weite Anwendung finden.
Es ist ein mehrkanaliges Röntgenspektrometer bekannt (ARL)
US, ARL 72 000 S, 1981), das eine Röntgenröhre, einen ge
genüber der Röntgenröhre liegenden Halter für eine zu un
tersuchende Probe und um die Röntgenröhre herum verlau
fende Spektrometerkanäle enthält, die - im Strahlengang
der Röntgenstrahlung hintereinander angeordnet - Ein
trittsspalte, fokussierende Analysatorkristalle und Aus
trittsspalte, die ebenso wie auch die fokussierenden
Analysatorkristalle in auf einer Grundplatte angeordneten
individuellen Haltern befestigt sind und Röntgenstrah
lungsdetektoren aufweisen.
Bei diesem bekannten Spektrometer stellen die individuel
len Halter Metallplatten dar, deren eine Fläche konkav
ist. Die auf der Grundplatte befindlichen individuellen
Halter werden im Fokussierungskreis der fokussierenden
Analysatorkristalle angeordnet und mittels Justierschrau
ben festgehalten.
Die Justierung der Spektrometerkanäle wird also auf eine
mechanische Verschiebung der individuellen Halter für die
Analysatorkristalle und Austrittsspalte gegeneinander zu
rückgeführt, was die konstruktive Ausführung der Spektro
meterkanäle und folglich auch die Konstruktionsausführung
des Spektrometers im ganzen kompliziert und die Justierung
dieser Kanäle und also auch des gesamten Spektrometers zu
einem arbeitsaufwendigen Vorgang macht.
Es ist auch ein mehrkanaliges Röntgenspektrometer bekannt
(XIII Vsesojuznoe soveschanie po rentgenovskoi i elektron
noi spektroskopii. Tezisy dokladov (XIII. Allunionskonfe
renz zu Problemen der Röntgen- und Elektronenspektrosko
pie. Leitsätze zu Berichten), I.P. Zhizhin et al. "Spek
trometer rentgenovskii mnogokanalnyi" ("Mehrkanaliges
Röntgenspektrometer"), Lvov, 1981, S. 245-246) bekannt,
das eine Röntgenröhre, einen gegenüber der Röntgenröhre
liegenden Halter für eine zu untersuchende Probe und um
die Röntgenröhre herum verlaufende Spektrometerkanäle auf
weist, die - im Strahlengang der Röntgenstrahlung hinter
einander angeordnet - Eintrittsspalte, fokussierende Ana
lysatorkristalle und Austrittsspalte, die ebenso wie auch
die fokussierenden Analysatorkristalle in auf einer Grund
platte angeordneten individuellen Haltern befestigt sind,
und Röntgenstrahlungsdetektoren enthalten.
Bei diesem bekannten Spektrometer sind die individuellen
Halter für die Analysatorkristalle und Austrittsspalte in
jedem Spektrometerkanal auf der Seitenfläche der Grund
platte angeordnet.
Bei einem Radius des Fokussierungskreises der fokussieren
den Analysatorkristalle jedes Kanals von ca. 100 mm können
rund um die Röntgenröhre höchstens sechs Kanäle angeordnet
werden. Eine Vergrößerung der Anzahl der Spektrometerka
näle ist bei diesem Spektrometer nur durch Anordnung von
je zwei Haltern für die Analysatorkristalle und dement
sprechend von je zwei Haltern für die Austrittsspalte
übereinander zu erreichen, was zum einen die Justierung
der Spektrometerkanäle und also auch des gesamten Spektro
meters kompliziert und zum anderen die Außenmaße der Spek
trometerkanäle und folglich auch des gesamten Spektrome
ters beträchtlich vergrößert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein mehrkanali
ges Röntgenspektrometer zu schaffen, in dem die indivi
duellen Halter sowohl für die fokussierenden Analysator
kristalle als auch für die Austrittsspalte in der Weise
ausgeführt sind, daß es möglich wird, die Justierung des
Spektrometers wesentlich zu vereinfachen und seine Außen
maße zu verringern.
Die gestellte Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch
gelöst, daß bei einem mehrkanaligen Röntgenspektrometer
mit einer Röntgenröhre, einem der Röntgenröhre gegen
überliegenden Halter für eine zu untersuchende Probe und
um die Röntgenröhre herum verlaufenden Spektrometerkanä
len, die im Strahlengang der Röntgenstrahlung hinterein
ander angeordnet Eintrittsspalte, fokussierende Analysa
torkristalle, ebenso wie die fokussierenden Analysator
kristalle in auf einer Grundplatte angeordneten
individuellen Haltern befestigte Austrittsspalte und
Röntgenstrahlendetektoren aufweisen, alle individuellen
Halter sowohl für die fokussierenden Analysatorkristalle
als auch für die Austrittsspalte in Form geschlitzte
Rastteile aufweisender zylindrischer Lagerungen ausge
führt sind, auf der Stirnfläche der Grundplatte jedes
Spektrometerkanals adäquat zu den jeweiligen zylindri
schen Lagerungen liegende zylindrische Aufnahmeöffnungen
für eine Aufnahme der jeweiligen zylindrischen Lagerung
in der Weise vorgesehen sind, daß deren geschlitzte
Rastteile die Seitenflächen der Grundplatte umfassen,
die Achsen der zylindrischen Lagerungen der individuel
len Halter für die fokussierenden Analysatorkristalle
und für die Austrittsspalte mit der zentralen Erzeugen
den des jeweiligen fokussierenden Analysatorkristalls
bzw. mit dem jeweiligen Austrittsspalt zusammenfallen
und in einem Abstand voneinander liegen, der gleich oder
kleiner ist als
2 R (1-2δ ) sin R,
wobei R den Radius eines Fokussierungskreises des fokus
sierenden Analysatorkristalls, δ die Mosaizität des
fokussierenden Analysatorkristalls und R den Wulff-
Braggschen Winkel bezeichnen und die Stirnfläche der
Grundplatte zwischen den Aufnahmeöffnungen ein Win
kelprofil mit einem Winkel von 180°-2 R aufweist.
Eine derartige konstruktive Ausführung eines mehrkanali
gen Röntgenspektrometers gestattet es, die gesamte
Justierung bei der Montage des Spektrometers auf die
Einstellung eines vorgegebenen Abstandes zwischen dem
Analysatorkristall und dem Austrittsspalt und auf eine
entsprechende Verschwenkung des Analysatorkristalls um
einen vorgegebenen Wulff-Braggschen Winkel zu bringen
und die Außenmaße des Spektrometers erheblich zu
verringern.
Die Erfindung soll durch die nachstehende Beschreibung
eines konkreten Ausführungsbeispiels anhand der beilie
genden Zeichnungen näher erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1 die Gesamtanordnung eines erfindungsgemäßen mehr
kanaligen Röntgenspektrometers (im Längsschnitt,
z. T. aufgebrochen);
Fig. 2 die Grundplatte und die Halter für die fokussie
renden Analysatorkristalle und die Austrittsspalte
des Spektrometers nach Fig. 1 (in axonometrischer
Darstellung).
Das dargestellte Röntgenspektrometer enthält ein Gehäuse 1
(Fig. 1), in dem eine in einem Mantel 3 untergebrachte
Röntgenröhre 2 angeordnet ist. Der Röntgenröhre 2 gegen
über liegt ein Halter 4 für eine zu untersuchende Probe 5.
Im Gehäuse 1 verlaufen auch Spektrometerkanäle 6, die um
die Röntgenröhre 2 herum angeordnet sind und im Strahlen
gang A der Röntgenstrahlung positioniert Eintrittsspalte
7, fokussierende Analysatorkristalle 8, Austrittsspalte 9
und Röntgenstrahlungsdetektoren 10 aufweisen.
Die fokussierenden Analysatorkristalle 8 und die Aus
trittsspalte 9 sind in individuellen Haltern 11 bzw. 12
angebracht, die ihrerseits auf einer am Boden des Gehäuses
1 befestigten Grundplatte 13 angeordnet sind.
Alle individuellen Halter 11 (Fig. 2) und 12 sind in Form
zylindrischer Lagerungen 14 bzw. 15 ausgeführt, die ge
schlitzte Rastteile 16 und 17 aufweisen.
Auf der Stirnfläche 18 der Grundplatte 13 sind
zylindrische Aufnahmeöffnungen 19 und 20 vorgesehen, die
adäquat zu den zylindrischen Lagerungen 14 bzw. 15 liegen,
wobei in der Öffnung 19 die Lagerung 14 und in der Öffnung
20 die Lagerung 15 in der Weise Aufnahme findet, daß die
Rastteile 16 und 17 die Seitenflächen 21 der Grundplatte
13 umfassen, wie dies in Fig. 1 angedeutet ist.
Die Achsen 22 (Fig. 2) und 23 der zylindrischen Lagerungen
14 und 15 fallen mit der zentralen Erzeugenden des fokus
sierenden Analysatorkristalls 8 bzw. mit dem Austritts
spalt 9 zusammen und liegen voneinander in einem Abstand
L, der gleich 2R (1-2 δ) sin R ist, worin
R den Radius eines Fokussierungskreises 24 (Fig. 1) des fokussierenden Analysatorkristalls 8,
δ die Mosaizität des fokussierenden Analysatorkristalls 8 und
R den Wulff-Braggschen Winkel bezeichnen.
R den Radius eines Fokussierungskreises 24 (Fig. 1) des fokussierenden Analysatorkristalls 8,
δ die Mosaizität des fokussierenden Analysatorkristalls 8 und
R den Wulff-Braggschen Winkel bezeichnen.
Die Stirnfläche 18 (Fig. 2) der Grundplatte 13 weist zwi
schen den zylindrischen Aufnahmeöffnungen 19 und 20 ein
Winkelprofil mit einem Winkel α auf, der gleich 180°-2 R
ist.
Bei der beschriebenen Ausführungsform eines mehrkanaligen
Röntgenspektrometers sind für eine Spektrallinie CuK α der
zu untersuchenden Probe 5 L =76,49 mm bei R =100 mm,
δ=5 × 10-4 Rad, R=22,5° und α=135°.
Der Abstand L darf aber auch kleiner als 2R (1-2 δ)
sin R, beispielsweise gleich 76,00 mm, sein.
Die Halter 11 (Fig. 2) und 12 werden in den Löchern 19 und
20 wie folgt angeordnet.
Die zylindrische Lagerung 14 des Halters 11 für den
Analysatorkristall 8 wird in die zylindrische Aufnahme
öffnung 19 der Grundplatte 13 derart eingesetzt, daß der
geschlitzte Rastteil 16 die Seitenflächen 21 der Grund
platte 13 umfaßt. Die zylindrische Lagerung 15 des Hal
ters 12 für den Austrittsspalt 9 wird in die zylindrische
Aufnahmeöffnung 20 der Grundplatte 13 derart eingesetzt,
daß der geschlitzte Rastteil 17 die Seitenflächen 21 der
Grundplatte 13 umfaßt. Hierbei gehen die Achsen 22 und 23
der zylindrischen Lagerungen 14 und 15 durch die zentrale
Erzeugende des Analysatorkristalls 8 bzw. den Austritts
spalt 9 hindurch. Bei einer Verschwenkung des Analysator
kristalls 8 in der Pfeilrichtung 8 bzw. C und des Aus
trittsspaltes 9 in der Pfeilrichtung D bzw. E um einen
Winkel ist der letztere stets auf die zentrale Erzeugende
des Analysatorkristalls 8 ausgerichtet. Mit Hilfe einer
durch den Körper der Grundplatte 13 hindurchgehenden und
in den Körper des Halters 11 des Analysatorkristalls 8
eingelassenen Schraube 25 wird der Halter 11 auf einen
vorgegebenen Wulff-Braggschen Winkel eingestellt.
Die Arbeitsweise des dargestellten mehrkanaligen Röntgen
spektrometers besteht in folgendem.
Die Röntgenstrahlung fällt von der Röntgenröhre 2 (Fig. 1)
auf die Oberfläche der zu untersuchenden Probe 5, wodurch
eine charakteristische Röntgenstrahlung erregt wird, die
den Eintrittsspalt 7 jedes Spektrometerkanals 6 passiert
und auf den im individuellen Halter 11 befindlichen fokus
sierenden Analysatorkristall 8 auftrifft. Durch Drehen des
Halters 11 (Fig. 2) mit dem Analysatorkristall 8 in der
zylindrischen Aufnahmeöffnung 19 der Grundplatte 13 mit
Hilfe der Schraube 25 wird der Analysatorkristall 8 auf
einen vorgegebenen Wulff-Braggschen Winkel eingestellt,
der die Abtrennung der Strahlung einer bestimmten Wellen
länge aus der charakteristischen Röntgenstrahlung der
Probe 5 ermöglicht. Die auf solche Weise monochromati
sierte Röntgenstrahlung wird auf den Austrittsspalt 9
fokussiert und durch den Detektor 10 registriert.
Die geschlitzten Rastteile 16 und 17 sorgen bei den Ver
schwenkungen des Analysatorkristalls 8 und des Austritts
spaltes 9 für deren genaue Winkellage bezüglich der Ebene
des Fokussierungskreises 24 (Fig. 1). Die Einfallsrichtung
der monochromatisierten Röntgenstrahlung vom Analysator
kristall 8 (Fig. 2) wird bei deren Einfall auf den Aus
trittsspalt 9 durch einen Winkel bestimmt, der gleich 180°-2 R ist.
Als geometrische Bedingung für die Fokussierung der vom
Analysatorkristall 8 auf den Austrittsspalt 9 reflektier
ten Röntgenstrahlung gilt die Beziehung L =2R sin R.
Unter Berücksichtigung dessen, daß die verwendeten Analy
satorkristalle 8 keine ideale Struktur, sondern eine Mo
saizität in der Größenordnung von 10-2 bis 10-4 Rad auf
weisen, muß die angegebene geometrische Bedingung auch den
Einfluß der Mosaizität mit berücksichtigen, weshalb als
optimale Fokussierungsbedingung die Beziehung L2R (1-
2 δ) sin R gilt.
In dem dargestellten Spektrometer ist der Abstand L (Fig. 2)
zwischen den Achsen 22 und 23 der zylindrischen Lagerungen
14 und 15 des Halters 11 für den Analysatorkristall 8 und
des Halters 12 für den Austrittsspalt 9, die mit der zen
tralen Erzeugenden des Analysatorkristalls 8 bzw. mit dem
Austrittsspalt 9 zusammenfallen, gleich (eventuell auch
kleiner als 2R (1-2 δ) sin R, wie dies vorstehend be
schrieben ist.
Das erfindungsgemäße mehrkanalige Röntgenspektrometer
weist eine einfachere Justierung und kleine Außenmaße der
Spektrometerkanäle auf, was die Konstruktion der Spektro
meterkanäle und folglich auch des Spektrometers im ganzen
wesentlich vereinfacht.
Claims (2)
- Mehrkanaliges Röntgenspektrometer mit
- - einer Röntgenröhre (2),
- - einem der Röntgenröhre (2) gegenüberliegenden Halter (4) für eine zu untersuchende Probe (5) und
- - um die Röntgenröhre (2) herum verlaufenden Spektrometer kanälen (6), die im Strahlengang (A) der Röntgenstrahlung hintereinander angeordnet Eintrittsspalte (7), fokussierende Analysatorkristalle (8), ebenso wie die fokussierenden Analysatorkristalle (8) in auf einer Grundplatte (13) ange ordneten individuellen Haltern (11, 12) befestigte Aus trittsspalte (9) und Röntgenstrahlendetektoren (10) auf weisen,
- dadurch gekennzeichnet,
daß alle individuellen Halter (11, 12) sowohl für die fokussieren den Analysatorkristalle (8) als auch für die Austrittsspalte (9) in Form geschlitzte Rastteile (16, 17) aufweisender zylin drischer Lagerungen (14, 15) ausgeführt sind,
daß auf der Stirnfläche (18) der Grundplatte (13) jedes Spektro meterkanals (6) adäquat zu den jeweiligen zylindrischen Lagerungen (14, 15) liegende zylindrische Aufnahmeöffnungen (19, 20) für eine Aufnahme der jeweiligen zylindrischen Lagerung (14 bzw. 15) in der Weise vorgesehen sind, daß deren geschlitzte Rastteile (16, 17) die Seitenflächen (21) der Grundplatte (13) umfassen,
daß die Achsen (22, 23) der zylindrischen Lagerungen (14, 15) der individuellen Halter (11, 12) für die fokussierenden Analysatorkristalle (8) und für die Austrittsspalte (9) mit der zentralen Erzeugenden des jeweiligen fokussierenden Ana lysatorkristalls (8) bzw. mit dem jeweiligen Austrittsspalt (9) zusammenfallen und in einem Abstand (L) voneinander lie gen, der gleich oder kleiner ist als 2 R (1-2 δ ) sin R,wobei R den Radius eines Fokussierungskreises (24) des fokus sierenden Analysatorkristalls (8), δ die Mosaizität des fokus sierenden Analysatorkristalls (8) und R den Wulff-Braggschen Winkel bezeichnen, und
daß die Stirnfläche (18) der Grundplatte (13) zwischen den Auf nahmeöffnungen (19, 20) ein Winkelprofil mit einem Winkel α von 180°-2 R aufweist.
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Family
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Country | Link |
---|---|
US (1) | US4817120A (de) |
DE (1) | DE3803750A1 (de) |
FR (1) | FR2626977B1 (de) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01T 1/36 |
|
8131 | Rejection |