DE3803750A1 - Mehrkanaliges roentgenspektrometer - Google Patents

Mehrkanaliges roentgenspektrometer

Info

Publication number
DE3803750A1
DE3803750A1 DE3803750A DE3803750A DE3803750A1 DE 3803750 A1 DE3803750 A1 DE 3803750A1 DE 3803750 A DE3803750 A DE 3803750A DE 3803750 A DE3803750 A DE 3803750A DE 3803750 A1 DE3803750 A1 DE 3803750A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
analyzer
focussing
ray
base plate
spectrometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE3803750A
Other languages
English (en)
Inventor
Evgenij Abramovic Peliks
Valter Ivanovic Zacharcenko
Svjatoslav Michailovic Sergeev
Leonid Nikolaevic Lozovoi
Vladimir Alekseevic Gudovskich
Sergej Borisovic Krasilnikov
Evgenij Aleksandrovic Kornev
Sergej Nikolaevic Markov
Arkadij Lvovic Farberg
Vitalij Andreevic Chilkevic
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LE N PROIZV OB BUREVESTNIK
Original Assignee
LE N PROIZV OB BUREVESTNIK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LE N PROIZV OB BUREVESTNIK filed Critical LE N PROIZV OB BUREVESTNIK
Publication of DE3803750A1 publication Critical patent/DE3803750A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2076Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Röntgenspek­ tralapparate zur qualitativen und quantitativen Analyse der elementaren Zusammensetzung von Werkstoffen, und sie betrifft insbesondere mehrkanalige Röntgenspektrometer.
Die Erfindung kann in verschiedenen Bereichen der Wissen­ schaft und Technik: Physik, Chemie, Biologie, Metallurgie, Geologie sowohl für die Lösung von praktischen Aufgaben als auch für die Untersuchung von grundlegenden Problemen der Wissenschaft weite Anwendung finden.
Es ist ein mehrkanaliges Röntgenspektrometer bekannt (ARL) US, ARL 72 000 S, 1981), das eine Röntgenröhre, einen ge­ genüber der Röntgenröhre liegenden Halter für eine zu un­ tersuchende Probe und um die Röntgenröhre herum verlau­ fende Spektrometerkanäle enthält, die - im Strahlengang der Röntgenstrahlung hintereinander angeordnet - Ein­ trittsspalte, fokussierende Analysatorkristalle und Aus­ trittsspalte, die ebenso wie auch die fokussierenden Analysatorkristalle in auf einer Grundplatte angeordneten individuellen Haltern befestigt sind und Röntgenstrah­ lungsdetektoren aufweisen.
Bei diesem bekannten Spektrometer stellen die individuel­ len Halter Metallplatten dar, deren eine Fläche konkav ist. Die auf der Grundplatte befindlichen individuellen Halter werden im Fokussierungskreis der fokussierenden Analysatorkristalle angeordnet und mittels Justierschrau­ ben festgehalten.
Die Justierung der Spektrometerkanäle wird also auf eine mechanische Verschiebung der individuellen Halter für die Analysatorkristalle und Austrittsspalte gegeneinander zu­ rückgeführt, was die konstruktive Ausführung der Spektro­ meterkanäle und folglich auch die Konstruktionsausführung des Spektrometers im ganzen kompliziert und die Justierung dieser Kanäle und also auch des gesamten Spektrometers zu einem arbeitsaufwendigen Vorgang macht.
Es ist auch ein mehrkanaliges Röntgenspektrometer bekannt (XIII Vsesojuznoe soveschanie po rentgenovskoi i elektron­ noi spektroskopii. Tezisy dokladov (XIII. Allunionskonfe­ renz zu Problemen der Röntgen- und Elektronenspektrosko­ pie. Leitsätze zu Berichten), I.P. Zhizhin et al. "Spek­ trometer rentgenovskii mnogokanalnyi" ("Mehrkanaliges Röntgenspektrometer"), Lvov, 1981, S. 245-246) bekannt, das eine Röntgenröhre, einen gegenüber der Röntgenröhre liegenden Halter für eine zu untersuchende Probe und um die Röntgenröhre herum verlaufende Spektrometerkanäle auf­ weist, die - im Strahlengang der Röntgenstrahlung hinter­ einander angeordnet - Eintrittsspalte, fokussierende Ana­ lysatorkristalle und Austrittsspalte, die ebenso wie auch die fokussierenden Analysatorkristalle in auf einer Grund­ platte angeordneten individuellen Haltern befestigt sind, und Röntgenstrahlungsdetektoren enthalten.
Bei diesem bekannten Spektrometer sind die individuellen Halter für die Analysatorkristalle und Austrittsspalte in jedem Spektrometerkanal auf der Seitenfläche der Grund­ platte angeordnet.
Bei einem Radius des Fokussierungskreises der fokussieren­ den Analysatorkristalle jedes Kanals von ca. 100 mm können rund um die Röntgenröhre höchstens sechs Kanäle angeordnet werden. Eine Vergrößerung der Anzahl der Spektrometerka­ näle ist bei diesem Spektrometer nur durch Anordnung von je zwei Haltern für die Analysatorkristalle und dement­ sprechend von je zwei Haltern für die Austrittsspalte übereinander zu erreichen, was zum einen die Justierung der Spektrometerkanäle und also auch des gesamten Spektro­ meters kompliziert und zum anderen die Außenmaße der Spek­ trometerkanäle und folglich auch des gesamten Spektrome­ ters beträchtlich vergrößert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein mehrkanali­ ges Röntgenspektrometer zu schaffen, in dem die indivi­ duellen Halter sowohl für die fokussierenden Analysator­ kristalle als auch für die Austrittsspalte in der Weise ausgeführt sind, daß es möglich wird, die Justierung des Spektrometers wesentlich zu vereinfachen und seine Außen­ maße zu verringern.
Die gestellte Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß bei einem mehrkanaligen Röntgenspektrometer mit einer Röntgenröhre, einem der Röntgenröhre gegen­ überliegenden Halter für eine zu untersuchende Probe und um die Röntgenröhre herum verlaufenden Spektrometerkanä­ len, die im Strahlengang der Röntgenstrahlung hinterein­ ander angeordnet Eintrittsspalte, fokussierende Analysa­ torkristalle, ebenso wie die fokussierenden Analysator­ kristalle in auf einer Grundplatte angeordneten individuellen Haltern befestigte Austrittsspalte und Röntgenstrahlendetektoren aufweisen, alle individuellen Halter sowohl für die fokussierenden Analysatorkristalle als auch für die Austrittsspalte in Form geschlitzte Rastteile aufweisender zylindrischer Lagerungen ausge­ führt sind, auf der Stirnfläche der Grundplatte jedes Spektrometerkanals adäquat zu den jeweiligen zylindri­ schen Lagerungen liegende zylindrische Aufnahmeöffnungen für eine Aufnahme der jeweiligen zylindrischen Lagerung in der Weise vorgesehen sind, daß deren geschlitzte Rastteile die Seitenflächen der Grundplatte umfassen, die Achsen der zylindrischen Lagerungen der individuel­ len Halter für die fokussierenden Analysatorkristalle und für die Austrittsspalte mit der zentralen Erzeugen­ den des jeweiligen fokussierenden Analysatorkristalls bzw. mit dem jeweiligen Austrittsspalt zusammenfallen und in einem Abstand voneinander liegen, der gleich oder kleiner ist als
2 R (1-2δ ) sin R,
wobei R den Radius eines Fokussierungskreises des fokus­ sierenden Analysatorkristalls, δ die Mosaizität des fokussierenden Analysatorkristalls und R den Wulff- Braggschen Winkel bezeichnen und die Stirnfläche der Grundplatte zwischen den Aufnahmeöffnungen ein Win­ kelprofil mit einem Winkel von 180°-2 R aufweist.
Eine derartige konstruktive Ausführung eines mehrkanali­ gen Röntgenspektrometers gestattet es, die gesamte Justierung bei der Montage des Spektrometers auf die Einstellung eines vorgegebenen Abstandes zwischen dem Analysatorkristall und dem Austrittsspalt und auf eine entsprechende Verschwenkung des Analysatorkristalls um einen vorgegebenen Wulff-Braggschen Winkel zu bringen und die Außenmaße des Spektrometers erheblich zu verringern.
Die Erfindung soll durch die nachstehende Beschreibung eines konkreten Ausführungsbeispiels anhand der beilie­ genden Zeichnungen näher erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1 die Gesamtanordnung eines erfindungsgemäßen mehr­ kanaligen Röntgenspektrometers (im Längsschnitt, z. T. aufgebrochen);
Fig. 2 die Grundplatte und die Halter für die fokussie­ renden Analysatorkristalle und die Austrittsspalte des Spektrometers nach Fig. 1 (in axonometrischer Darstellung).
Das dargestellte Röntgenspektrometer enthält ein Gehäuse 1 (Fig. 1), in dem eine in einem Mantel 3 untergebrachte Röntgenröhre 2 angeordnet ist. Der Röntgenröhre 2 gegen­ über liegt ein Halter 4 für eine zu untersuchende Probe 5. Im Gehäuse 1 verlaufen auch Spektrometerkanäle 6, die um die Röntgenröhre 2 herum angeordnet sind und im Strahlen­ gang A der Röntgenstrahlung positioniert Eintrittsspalte 7, fokussierende Analysatorkristalle 8, Austrittsspalte 9 und Röntgenstrahlungsdetektoren 10 aufweisen.
Die fokussierenden Analysatorkristalle 8 und die Aus­ trittsspalte 9 sind in individuellen Haltern 11 bzw. 12 angebracht, die ihrerseits auf einer am Boden des Gehäuses 1 befestigten Grundplatte 13 angeordnet sind.
Alle individuellen Halter 11 (Fig. 2) und 12 sind in Form zylindrischer Lagerungen 14 bzw. 15 ausgeführt, die ge­ schlitzte Rastteile 16 und 17 aufweisen.
Auf der Stirnfläche 18 der Grundplatte 13 sind zylindrische Aufnahmeöffnungen 19 und 20 vorgesehen, die adäquat zu den zylindrischen Lagerungen 14 bzw. 15 liegen, wobei in der Öffnung 19 die Lagerung 14 und in der Öffnung 20 die Lagerung 15 in der Weise Aufnahme findet, daß die Rastteile 16 und 17 die Seitenflächen 21 der Grundplatte 13 umfassen, wie dies in Fig. 1 angedeutet ist.
Die Achsen 22 (Fig. 2) und 23 der zylindrischen Lagerungen 14 und 15 fallen mit der zentralen Erzeugenden des fokus­ sierenden Analysatorkristalls 8 bzw. mit dem Austritts­ spalt 9 zusammen und liegen voneinander in einem Abstand L, der gleich 2R (1-2 δ) sin R ist, worin
R den Radius eines Fokussierungskreises 24 (Fig. 1) des fokussierenden Analysatorkristalls 8,
δ die Mosaizität des fokussierenden Analysatorkristalls 8 und
R den Wulff-Braggschen Winkel bezeichnen.
Die Stirnfläche 18 (Fig. 2) der Grundplatte 13 weist zwi­ schen den zylindrischen Aufnahmeöffnungen 19 und 20 ein Winkelprofil mit einem Winkel α auf, der gleich 180°-2 R ist.
Bei der beschriebenen Ausführungsform eines mehrkanaligen Röntgenspektrometers sind für eine Spektrallinie CuK α der zu untersuchenden Probe 5 L =76,49 mm bei R =100 mm, δ=5 × 10-4 Rad, R=22,5° und α=135°.
Der Abstand L darf aber auch kleiner als 2R (1-2 δ) sin R, beispielsweise gleich 76,00 mm, sein.
Die Halter 11 (Fig. 2) und 12 werden in den Löchern 19 und 20 wie folgt angeordnet.
Die zylindrische Lagerung 14 des Halters 11 für den Analysatorkristall 8 wird in die zylindrische Aufnahme­ öffnung 19 der Grundplatte 13 derart eingesetzt, daß der geschlitzte Rastteil 16 die Seitenflächen 21 der Grund­ platte 13 umfaßt. Die zylindrische Lagerung 15 des Hal­ ters 12 für den Austrittsspalt 9 wird in die zylindrische Aufnahmeöffnung 20 der Grundplatte 13 derart eingesetzt, daß der geschlitzte Rastteil 17 die Seitenflächen 21 der Grundplatte 13 umfaßt. Hierbei gehen die Achsen 22 und 23 der zylindrischen Lagerungen 14 und 15 durch die zentrale Erzeugende des Analysatorkristalls 8 bzw. den Austritts­ spalt 9 hindurch. Bei einer Verschwenkung des Analysator­ kristalls 8 in der Pfeilrichtung 8 bzw. C und des Aus­ trittsspaltes 9 in der Pfeilrichtung D bzw. E um einen Winkel ist der letztere stets auf die zentrale Erzeugende des Analysatorkristalls 8 ausgerichtet. Mit Hilfe einer durch den Körper der Grundplatte 13 hindurchgehenden und in den Körper des Halters 11 des Analysatorkristalls 8 eingelassenen Schraube 25 wird der Halter 11 auf einen vorgegebenen Wulff-Braggschen Winkel eingestellt.
Die Arbeitsweise des dargestellten mehrkanaligen Röntgen­ spektrometers besteht in folgendem.
Die Röntgenstrahlung fällt von der Röntgenröhre 2 (Fig. 1) auf die Oberfläche der zu untersuchenden Probe 5, wodurch eine charakteristische Röntgenstrahlung erregt wird, die den Eintrittsspalt 7 jedes Spektrometerkanals 6 passiert und auf den im individuellen Halter 11 befindlichen fokus­ sierenden Analysatorkristall 8 auftrifft. Durch Drehen des Halters 11 (Fig. 2) mit dem Analysatorkristall 8 in der zylindrischen Aufnahmeöffnung 19 der Grundplatte 13 mit Hilfe der Schraube 25 wird der Analysatorkristall 8 auf einen vorgegebenen Wulff-Braggschen Winkel eingestellt, der die Abtrennung der Strahlung einer bestimmten Wellen­ länge aus der charakteristischen Röntgenstrahlung der Probe 5 ermöglicht. Die auf solche Weise monochromati­ sierte Röntgenstrahlung wird auf den Austrittsspalt 9 fokussiert und durch den Detektor 10 registriert.
Die geschlitzten Rastteile 16 und 17 sorgen bei den Ver­ schwenkungen des Analysatorkristalls 8 und des Austritts­ spaltes 9 für deren genaue Winkellage bezüglich der Ebene des Fokussierungskreises 24 (Fig. 1). Die Einfallsrichtung der monochromatisierten Röntgenstrahlung vom Analysator­ kristall 8 (Fig. 2) wird bei deren Einfall auf den Aus­ trittsspalt 9 durch einen Winkel bestimmt, der gleich 180°-2 R ist.
Als geometrische Bedingung für die Fokussierung der vom Analysatorkristall 8 auf den Austrittsspalt 9 reflektier­ ten Röntgenstrahlung gilt die Beziehung L =2R sin R.
Unter Berücksichtigung dessen, daß die verwendeten Analy­ satorkristalle 8 keine ideale Struktur, sondern eine Mo­ saizität in der Größenordnung von 10-2 bis 10-4 Rad auf­ weisen, muß die angegebene geometrische Bedingung auch den Einfluß der Mosaizität mit berücksichtigen, weshalb als optimale Fokussierungsbedingung die Beziehung L2R (1- 2 δ) sin R gilt.
In dem dargestellten Spektrometer ist der Abstand L (Fig. 2) zwischen den Achsen 22 und 23 der zylindrischen Lagerungen 14 und 15 des Halters 11 für den Analysatorkristall 8 und des Halters 12 für den Austrittsspalt 9, die mit der zen­ tralen Erzeugenden des Analysatorkristalls 8 bzw. mit dem Austrittsspalt 9 zusammenfallen, gleich (eventuell auch kleiner als 2R (1-2 δ) sin R, wie dies vorstehend be­ schrieben ist.
Das erfindungsgemäße mehrkanalige Röntgenspektrometer weist eine einfachere Justierung und kleine Außenmaße der Spektrometerkanäle auf, was die Konstruktion der Spektro­ meterkanäle und folglich auch des Spektrometers im ganzen wesentlich vereinfacht.

Claims (2)

  1. Mehrkanaliges Röntgenspektrometer mit
    • - einer Röntgenröhre (2),
    • - einem der Röntgenröhre (2) gegenüberliegenden Halter (4) für eine zu untersuchende Probe (5) und
    • - um die Röntgenröhre (2) herum verlaufenden Spektrometer­ kanälen (6), die im Strahlengang (A) der Röntgenstrahlung hintereinander angeordnet Eintrittsspalte (7), fokussierende Analysatorkristalle (8), ebenso wie die fokussierenden Analysatorkristalle (8) in auf einer Grundplatte (13) ange­ ordneten individuellen Haltern (11, 12) befestigte Aus­ trittsspalte (9) und Röntgenstrahlendetektoren (10) auf­ weisen,
  2. dadurch gekennzeichnet,
    daß alle individuellen Halter (11, 12) sowohl für die fokussieren­ den Analysatorkristalle (8) als auch für die Austrittsspalte (9) in Form geschlitzte Rastteile (16, 17) aufweisender zylin­ drischer Lagerungen (14, 15) ausgeführt sind,
    daß auf der Stirnfläche (18) der Grundplatte (13) jedes Spektro­ meterkanals (6) adäquat zu den jeweiligen zylindrischen Lagerungen (14, 15) liegende zylindrische Aufnahmeöffnungen (19, 20) für eine Aufnahme der jeweiligen zylindrischen Lagerung (14 bzw. 15) in der Weise vorgesehen sind, daß deren geschlitzte Rastteile (16, 17) die Seitenflächen (21) der Grundplatte (13) umfassen,
    daß die Achsen (22, 23) der zylindrischen Lagerungen (14, 15) der individuellen Halter (11, 12) für die fokussierenden Analysatorkristalle (8) und für die Austrittsspalte (9) mit der zentralen Erzeugenden des jeweiligen fokussierenden Ana­ lysatorkristalls (8) bzw. mit dem jeweiligen Austrittsspalt (9) zusammenfallen und in einem Abstand (L) voneinander lie­ gen, der gleich oder kleiner ist als 2 R (1-2 δ ) sin R,wobei R den Radius eines Fokussierungskreises (24) des fokus­ sierenden Analysatorkristalls (8), δ die Mosaizität des fokus­ sierenden Analysatorkristalls (8) und R den Wulff-Braggschen Winkel bezeichnen, und
    daß die Stirnfläche (18) der Grundplatte (13) zwischen den Auf­ nahmeöffnungen (19, 20) ein Winkelprofil mit einem Winkel α von 180°-2 R aufweist.
DE3803750A 1988-03-04 1988-02-08 Mehrkanaliges roentgenspektrometer Ceased DE3803750A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/164,461 US4817120A (en) 1988-03-04 1988-03-04 Multichannel X-ray spectrometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3803750A1 true DE3803750A1 (de) 1989-08-17

Family

ID=22594593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3803750A Ceased DE3803750A1 (de) 1988-03-04 1988-02-08 Mehrkanaliges roentgenspektrometer

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4817120A (de)
DE (1) DE3803750A1 (de)
FR (1) FR2626977B1 (de)
GB (1) GB2214769A (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9223592D0 (en) * 1992-11-11 1992-12-23 Fisons Plc X-ray analysis apparatus
JP3062685B2 (ja) * 1998-07-23 2000-07-12 セイコーインスツルメンツ株式会社 蛍光x線分析計
RU2180439C2 (ru) * 2000-02-11 2002-03-10 Кумахов Мурадин Абубекирович Способ получения изображения внутренней структуры объекта с использованием рентгеновского излучения и устройство для его осуществления
ATE476088T1 (de) * 2001-12-04 2010-08-15 X Ray Optical Sys Inc Röntgenquelle mit verbesserter strahlstabilität und ihre anwendung in der analyse von strömenden flüssigkeiten
DE102016014213A1 (de) * 2015-12-08 2017-07-06 Shimadzu Corporation Röntgenspektroskopische analysevorrichtung und elementaranalyseverfahren
JP7394464B2 (ja) * 2018-07-04 2023-12-08 株式会社リガク 蛍光x線分析装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL152924B (nl) * 1949-04-19 Engelhard Ind Werkwijze voor het reformeren van naftenen en paraffinen bevattende aardoliekoolwaterstoffen in een in serie geplaatste nafteendehydrogeneringszone en een paraffinedehydrocycleringszone.
US3198944A (en) * 1961-11-06 1965-08-03 Gen Electric X-ray emission analyzer with standardizing system and novel switch means
US3213278A (en) * 1962-04-13 1965-10-19 Philips Corp X-ray spectrograph having plural detectors
GB1116865A (en) * 1964-09-11 1968-06-12 Elliott Brothers London Ltd Improvements in or relating to x-ray spectrographic analysers
NL6610808A (de) * 1965-09-16 1967-03-17
DE1572753B2 (de) * 1966-04-06 1971-02-18 Nihon Denshi K K , Tokio Goniometer zur werkstoffanalyse mittels roentgenstrahlen
FR1503476A (fr) * 1966-12-12 1967-11-24 O Zd Skb Rentgenovskoi Apparat Dispositif d'analyse spectrométrique aux rayons x pour la détermination de la teneur en éléments d'un mélange ou d'un alliage
SU614367A1 (ru) * 1975-09-26 1978-07-05 Предприятие П/Я М-5659 Флуоресцентный рентгеновский спектрометр
US3980568A (en) * 1975-10-17 1976-09-14 Hankison Corporation Radiation detection system
JPH108746A (ja) * 1996-06-26 1998-01-13 Sekisui Chem Co Ltd 洗い場付浴槽の積載構造

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Druckschrift der Fa. Siemens Aktiengesellschaft "Mehrkanal-Röntgenspektrometer MRS J", Januar 1973, Best. Nr. E 6328/002 *

Also Published As

Publication number Publication date
GB8801984D0 (en) 1988-02-24
FR2626977B1 (fr) 1990-08-03
GB2214769A (en) 1989-09-06
US4817120A (en) 1989-03-28
FR2626977A1 (fr) 1989-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3728355A1 (de) Mehrkanal-roentgenspektrometer
DE60035876T2 (de) Mikrostrahl-Kollimator für Hochauflösungs-Röntgenstrahl-Beugungsanalyse mittels konventionellen Diffraktometern
DE3511676A1 (de) Monochromator
EP1288652A2 (de) Röngten-Diffraktometer
EP0068045A2 (de) Kristall-Röntgen-Sequenzspektrometer
DE1598850B2 (de) Auftreffplatte für Röntgenstrahlenbeugung
DE3803750A1 (de) Mehrkanaliges roentgenspektrometer
DE1772024B1 (de) Spaltblendenanordnung fuer einen spektralapparat
EP3255419B1 (de) Messkammer für ein kompaktes goniometer in einem röntgenspektrometer
DE2642637C2 (de) Röntgenfluoreszenzspektrometer
DE10018161B4 (de) Analysegerät zur Bestimmung geringer Mengen einer Probe
EP2194375B1 (de) Röntgenoptisches Element und Diffraktometer mit einer Sollerblende
DE3524379C2 (de)
EP0183043A1 (de) Einrichtung zur Röntgenanalyse
DE10035917B4 (de) Gerät zur Strahlungsanalyse mit variablem Kollimator sowie variabler Kollimator
DE3702696A1 (de) Verfahren zur elektronenstrahl-fuehrung mit energieselektion und elektronenspektrometer
DE69510734T2 (de) Röntgenspektrometer mit streifendem ausfallwinkel
DE19900308B4 (de) Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor
EP0454284A1 (de) Spektrometer
DE2911596C3 (de) Meßanordnung zur Röntgenfluoreszenzanalyse
DE2922128C2 (de)
DE102023101151B4 (de) Monochromatorkammer und Monochromator
DE2003753A1 (de) Blendenanordnung zur Begrenzung eines Roentgenstrahlenbuendels
EP1318524A2 (de) Röntgen-optisches System und Verfahren zur Abbildung einer Quelle
DE2329190A1 (de) Roentgenspektrometer

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8125 Change of the main classification

Ipc: G01T 1/36

8131 Rejection