DE3524379C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3524379C2
DE3524379C2 DE3524379A DE3524379A DE3524379C2 DE 3524379 C2 DE3524379 C2 DE 3524379C2 DE 3524379 A DE3524379 A DE 3524379A DE 3524379 A DE3524379 A DE 3524379A DE 3524379 C2 DE3524379 C2 DE 3524379C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
tubes
spectrometer according
ray spectrometer
ray
tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3524379A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3524379A1 (de
Inventor
Bruno 7500 Karlsruhe De Mook
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19853524379 priority Critical patent/DE3524379A1/de
Publication of DE3524379A1 publication Critical patent/DE3524379A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3524379C2 publication Critical patent/DE3524379C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/70Circuit arrangements for X-ray tubes with more than one anode; Circuit arrangements for apparatus comprising more than one X ray tube or more than one cathode
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2076Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/36Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Röntgenspektrometer zu wellen­ längen- oder energiedispersiven Röntgenfluoreszenzanalyse gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1.
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse, wie sie z. B. in der DE-Z "CZ-Chemie-Technik", 3. Jahrgang, 1974, Nr. 2, Seiten 69 bis 73, beschrieben ist, regen Bremsstrahlung und charakteristische Strahlung einer Röntgenröhre als Primärstrahlung eine Röntgen­ fluoreszenzstrahlung der in einer Probe enthaltenen chemischen Elemente an, wobei das Spektrum der die Probe verlassenden Sekundärstrahlung Aufschluß über die einzelnen darin enthalte­ nen Elemente gibt. Zur Analyse kann das Wellenlängenspektrum oder auch das Energiespektrum der Röntgenfluoreszenzstrahlung dienen.
Bei der wellenlängendispersiven Analyse spaltet ein Analysator­ kristall das aus der Probe austretende sekundäre Strahlungs­ bündel gemäß der Bragg'schen Reflektionsbedingung in ein Wellen­ längenspektrum auf, wobei Strahlung unterschiedlicher Wellen­ länge von einem winkelmäßig einstellbaren Detektor bei ent­ sprechend unterschiedlichen Winkeln aufgefangen wird. Die Intensität der in den einzelnen Winkelbereichen detektierten Strahlung bildet ein Maß für den Anteil des betreffenden Ele­ mentes in der Probe. Bei der energiedispersiven Analyse wird die unterschiedliche Energie der Strahlungsquanten von einem Haltleiterdetektor, beispielsweise einem lithiumdotierten Siliziumkristall, in elektrische Impulse verschiedener Span­ nungshöhe umgewandelt und mit einem Vielkanal-Impulsanalysator registriert. Die Anzahl der in den einzelnen Kanälen aufgefan­ genen Impulse ist ein Maß für den Anteil des entsprechenden Elementes in der Probe.
Bei den für die Röntgenfluoreszenzanalyse verwendeten Röntgen­ spektrometern, die, gemessen an chemischen Analysenmethoden, schon ein in Größenordnungen schnelleres Ergebnis liefern, be­ steht trotzdem noch das Bedürfnis nach kürzeren Analysenzeiten, beispielsweise um die Röntgenspektrometer direkt zur Steuerung von Produktionsvorgängen einzusetzen. Selbstverständlich be­ steht auch ein Bedürfnis, die Analysengenauigkeit weiter zu erhöhen und die Nachweisempfindlichkeit für einzelne Elemente zu erweitern. Diese gewünschten Eigenschaften sind abhängig von einer höheren Intensität der auf die Probe geworfenen Primärröntgenstrahlung. Darüber hinaus sind bessere Anregungs­ bedingungen für bestimmte Elemente einer Probe durch entspre­ chende Wahl des Anodenmaterials der Röntgenröhren zu erwarten. Bisher wurde versucht, eine höhere Strahlungsleistung durch Verbesserungen an der Röntgenröhre, wie höhere Anodenbelastung, intensivere Kühlung, dünneres Strahlungsaustrittsfenster und geringerer Anodenfensterabstand, zu erreichen. Der inzwischen von der Röhrenentwicklung erreichte Stand der Technik läßt jedoch zur Zeit keinen wesentlichen Fortschritt in dieser Richtung erwarten.
Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, zu einer Erhöhung der Leistung der auf eine Probe fallenden Primärröntgenstrahlung und/oder zur Erweiterung des Wellenlängenbereiches dieser Primärstrahlung zu kommen, unter Benutzung bereits vorhandener Röntgenröhrentypen.
Eine Lösung der Aufgabe wird in einem Röntgenspektrometer ge­ sehen, welches die Merkmale des Anspruchs 1 aufweist.
Die Anordnung mehrerer Röntgenröhren gegenüber einer Probenhalterung derart, daß die von ihnen erzeugte Primärröntgenstrahlung gleichzeitig auf eine in einer Halterung befindlichen Probe trifft, ist hier die Herstellung von Röntgenaufnahmen für sich aus der DE-PS 8 44 031 bekannt.
Werden beim Patentgegenstand beispielsweise zwei Röhren gleichen Typs verwen­ det, so läßt sich gegenüber bisherigen Spektrometern mit einer Röhre maximal die doppelte Strahlungsintensität auf der Probe erzielen.
Mit Vorteil können auch mehrere Röhren verschiedenen Typs eingesetzt werden, insbesondere sind damit auch raum­ mäßige Gegebenheiten schon vorhandener Spektrometerstruk­ turen berücksichtigbar.
Unter Röhrentyp sollen Röhren mit Stirnfenstern, Seiten­ fenstern und offene Röhren verstanden werden. Die offenen Röhren machen dabei die Verwendung eines Vakuumspektro­ meters zur Voraussetzung, das es gestattet, das Spektro­ meter unter einem für die offene Röhre notwendigen Hoch­ vakuum zu betreiben.
Die zusammenwirkenden Röntgenröhren können unter sich gleiches Anodenmaterial aufweisen.
Mit Vorteil sind mehrere Röhren auch mit verschiedenem Anodenmaterial vorzusehen. Mit dieser Lösung kann leicht die Forderung zur Erweiterung des Wellenlängenbereiches einer die Probe anregenden Primärstrahlung erfüllt werden.
Der verkleinerte Raumbedarf für neuere Mittelfrequenz- Röntgengeneratoren macht es auch möglich, für jede der im Spektrometer eingesetzten Röhren einen ihr zugeordneten Generator vorzusehen.
Es kann auch eine Schaltung zweckmäßig sein, bei der jede von mehreren Röhren einzeln an einen gemeinsamen Generator anschaltbar ist. Dabei ist die Leistung der Primärstrah­ lung, die auf die Probe fällt, nicht erhöht. Bei Ausfall der jeweils angeschlossenen Röhre kann jedoch sofort eine andere Röhre ohne Montage eingeschaltet werden. Außerdem ist es möglich, mit Röhren verschiedenen Anodenmaterials zu arbeiten.
Bei einer Kombination mehrerer Röhren mit einem einzigen Generator und wechselweisem Betrieb kann für die Umschal­ tung der Röhre auch eine besondere Schalteinrichtung, bei­ spielsweise ein Ölschalter, vorgesehen sein. Durch diese Schalteinrichtung wird das Umschalten von einer auf die andere Röhre im Spektrometer in kürzester Zeit möglich.
Es ist jedoch auch möglich, mehrere Röntgenröhren parallel aus einem einzigen, entsprechend ausgelegten Generator mit Betriebsspannungen zu versorgen. Wenn die mit dem einzigen Generator zusammenarbeiten­ den Röhren nicht mit ihrer höchsten Leistung betrieben werden, so ist auch eine höhere Verfügbarkeit zu erwar­ ten, weil die Lebensdauer der Röhren wesentlich von ihrer Belastung während des Betriebs abhängt.
Die mit den bisher beschriebenen Maßnahmen erreichten Verbesserungen der Analysengenauigkeit über den gesamten möglichen Elementenbereich sowie der Anregungsbedingungen werden weiter dadurch gefördert, daß die Röhren für unter­ schiedlich hohe Betriebsspannungen ausgelegt sind. Zweckmäßig endet dabei der untere Betriebsspannungsbe­ reich bei ungefähr 30 kV. Das Verhältnis zwischen unterem und oberem Betriebsspannungsbereich bewegt sich etwa zwi­ schen 1 : 2 und 1 : 3.
Als eine optimale Lösung wird die Lieferung unterschied­ lich hoher Betriebsspannungen an Anzapfungen einer Span­ nungsvervielfacherkaskade eines einzigen Generators ange­ sehen. Es ist dabei an einen gleichzeitigen Betrieb der Röhren ohne Umschaltung der Leistung der einzelnen Röhren gedacht. Einlaufeffekte im Spektrometer entfallen hier ebenso wie bei einem gleichzeitigen Betrieb mehrerer Röhren an je einem Generator.
Zweckmäßig werden die Röhrenströme aller Röhren einzeln geregelt. Diese Maßnahme wird sehr erleichtert, wenn die Röhren mit ihren Kathoden an Massepotential liegen. Bei Stirnfensterröhren ist diese Schaltungsart leicht zu verwirklichen.
Als Röhre für die niederere Betriebsspannung wird vor­ teilhafterweise eine räumlich in ihren Abmessungen klei­ nere Röhre Verwendung finden. Die Röhre mit der niedri­ geren Betriebsspannung kann zur Anregung der leichten Elemente einer Probe und die mit der höheren Betriebs­ spannung zur Anregung der schweren Elemente einer Probe dienen.
Eine Verwendung der vorgeschlagenen Anordnungen ist so­ wohl bei Sequenz-Röntgenspektrometern, bei denen das Spektrum der von einer Probe ausgehenden Sekundärstrah­ lung zeitlich nacheinander abgetastet wird, als auch bei einem Mehrkanal-Röntgenspektrometer, bei dem das Spektrum der Sekundärstrahlung gleichzeitig erfaßt wird, möglich. Das Mehrkanal-Röntgenspektrometer kann vom wellenlängen­ dispersiven oder energiedispersiven Typ sein. Es sind je­ doch auch Mischtypen denkbar, bei denen beispielsweise in einem Mehrkanal-Röntgenspektrometer gleichzeitig ein Ka­ nal mit variablem Einstellwinkel vorhanden ist.
Die Erfindung wird anhand einer Zeichnung mit vier Figuren beschrieben.
Fig. 1 stellt dabei eine schematische Aufsicht auf ein Spektrometer mit zwei verschiedenen Röhrentypen dar.
Fig. 2 ist eine teilweise geschnittene Aufsicht auf ein Röntgenspektrometer, bei dem zwei Stirnfensterröhren ver­ wendet sind.
In Fig. 3 ist eine Ansicht in Richtung des Schnittes III-III der Fig. 2 dargestellt.
Fig. 4 zeigt die schematische Anordnung einer Stirnfen­ sterröhre zusammen mit einer Seitenfensterröhre.
In Fig. 1 wird eine Probe 1 in der Grundfläche eines Tetraeders 2 von einer Stirnfensterröhre 3 und einer Sei­ tenfensterröhre 4 "beleuchtet". Von der Röhre 1 als Folge der einfallenden Primärstrahlung ausgehende Sekundär­ strahlung fällt in eine Strahlungseintrittsöffnung 5 eines Spektrometers 6.
Einzelheiten des Spektrometers 6 sind in der Fig. 2 dar­ gestellt. Mit der Fig. 1 übereinstimmende Bauteile sind in Fig. 2 mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Im Strahlenweg der von der Probe ausgehenden Sekundärstrah­ lung folgt nach der Strahleneintrittsöffnung 5 des Spek­ trometers 6 eine Anordnung von Soller-Spalten 7, die um eine Achse 8 schwenkbar sind. Von den Soller-Spalten fällt die Sekundärstrahlung auf einen Analysatorkristall 9, der auf einem Kristallwechsler 10 angeordnet ist, der um eine Achse 11 gedreht werden kann. Vom Analysatorkristall 9 abgebeugte Strahlung fällt in einen um einen Winkel 2 Φ verstellbaren Detektor, der aus einem Durchflußzählrohr 12 und einem im Strahlengang dahintergeschalteten Szintilla­ tionszähler 13 besteht. Bei der wellenlängendispersiven Abtastung des Spektrums der von der Probe ausgehenden Sekundärstrahlung wird der Analysatorkristall 9 um eine in seiner Oberfläche und senkrecht zur Zeichnungsebene verlaufende Achse um einen Winkel Φ geschwenkt. Elektri­ sche Ausgangssignale des Durchflußzählrohrs 12 und des Szintillationszählers 13 sind jeweils zwei Verstärkern 14 und 15 und Diskriminatoren 16 und 17 zugeführt. Die aus den beiden letztgenannten Einheiten entnehmbaren Signale können als Wellenlängenspektren aufgezeichnet werden. In Fig. 2 geht die auf die Probe 1 fallende Primärstrahlung von der Anode 18 einer Stirnfensterröhre 19 aus. Im Strah­ lengang der Primärstrahlung liegt ein Primärstrahlenfilter 20, das um eine Achse 21 in den Strahlengang ein- und ausschwenkbar ist. Vor der Strahleneintrittsöffnung 5 des Spektrometers 6 liegt im Sekundärstrahlengang eine eben­ falls verschiebliche Blende 22.
In der Fig. 3 ist eine Ansicht in Richtung III-III des in Fig. 1 gezeichneten Schnittes zu sehen. Es ist zu er­ kennen, daß neben der linken Stirnfensterröhre 19 eine weitere Stirnfensterröhre 23 die Probe 1 bestrahlt. Die Röhre 23 wird in der Fig. 2 durch die Röhre 19 verdeckt.
In Fig. 4 ist eine gegenüber Fig. 3 abgewandelte Kombi­ nation der Stirnfensterröhre 19 mit einer Seitenfenster­ röhre 24 dargestellt, die beide die Probe 1 gemeinsam "beleuchten".

Claims (15)

1. Röntgenspektrometer mit einer Anordnung zur wellenlängen- oder energiedispersiven Röntgenfluoreszenzanalyse von in einer Probenhalterung an­ geordneten Proben, dadurch gekennzeich­ net, daß mehrere Röntgenröhren (3, 4) gegenüber der Proben­ halterung (1a) derart angeordnet sind, daß die von ihnen jeweils erzeugte Primärröntgenstrahlung gleichzeitig oder abwechselnd auf die in der Probenhalterung (1a) befindliche Probe (1) trifft.
2. Röntgenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Röhren (19, 23) gleichen Typs verwendet sind.
3. Röntgenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Röhren (19, 24) verschiedenen Typs verwendet sind.
4. Röntgenspektrometer nach Anspruch 2 oder 3, da­ durch gekennzeichnet, daß Röhren mit gleichem Anodenmaterial verwendet sind.
5. Röntgenspektrometer nach Anspruch 2 oder 3, da­ durch gekennzeichnet, daß Röhren mit verschiedenem Anodenmaterial verwendet sind.
6. Röntgenspektrometer nach einem der vorausgehenden An­ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Betriebsspannungsversorgung jeder der Röhren aus einem ihr zugeordneten Generator erfolgt.
7. Röntgenspektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß jede Röhre einzeln an einen gemeinsamen Generator anschalt­ bar ist.
8. Röntgenspektrometer nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß für eine wechselweise Anschaltung der Röhren an den gemeinsamen Generator eine besondere Schalteinrichtung vorgesehen ist.
9. Röntgenspektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Betriebsspannungsversorgung der Röhren parallel aus einem einzigen Generator erfolgt.
10. Röntgenspektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Röhren für unterschiedlich hohe Betriebsspannungen aus­ gelegt sind.
11. Röntgenspektrometer nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der niedere Betriebs­ spannungsbereich bis 30 kV reicht und die Verhältnisse zwischen niederer und hoher Betriebsspannung zwischen 1 : 2 und 1 : 3 liegen.
12. Röntgenspektrometer nach Anspruch 10 oder 11, da­ durch gekennzeichnet, daß die unter­ schiedlich hohen Betriebsspannungen an Anzapfungen einer Spannungsvervielfacherkaskade eines einzigen Generators abgreifbar sind.
13. Röntgenspektrometer nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Röhrenströme aller Röhren einzeln geregelt sind.
14. Röntgenspektrometer nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Röhren mit ihren Kathoden an Massepotential liegen.
15. Röntgenspektrometer nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Röhren Stirnfenster­ röhren sind.
DE19853524379 1984-08-08 1985-07-08 Roentgenspektrometer Granted DE3524379A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19853524379 DE3524379A1 (de) 1984-08-08 1985-07-08 Roentgenspektrometer

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3429230 1984-08-08
DE19853524379 DE3524379A1 (de) 1984-08-08 1985-07-08 Roentgenspektrometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3524379A1 DE3524379A1 (de) 1986-02-20
DE3524379C2 true DE3524379C2 (de) 1991-07-18

Family

ID=25823699

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19853524379 Granted DE3524379A1 (de) 1984-08-08 1985-07-08 Roentgenspektrometer

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3524379A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19737569A1 (de) * 1997-08-28 1998-02-26 Olaf Sommer Inst Fuer Festkoer Verfahren zur zerstörungsfreien Ermittlung der Tiefenverteilung von Partikeln in einer Matrix

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL9000203A (nl) * 1990-01-29 1991-08-16 Philips Nv Eindvenster roentgenbuis.
EP0554935A1 (de) * 1992-02-03 1993-08-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. Kombiniertes Röntgenspektrometer
DE9212265U1 (de) * 1992-09-11 1993-03-04 Siemens AG, 8000 München Röntgenspektrometer
DE69323064T2 (de) * 1993-04-23 1999-07-15 Shimadzu Corp Ortsaufgelöste Analyse einer Probe mittels eines Röntgenfluoreszenzspektrometers
GB9519771D0 (en) * 1995-09-28 1995-11-29 Oxford Analytical Instr Ltd X-ray fluorescence inspection apparatus and method
DE19536917C2 (de) * 1995-10-04 1999-07-22 Geesthacht Gkss Forschung Röntgenstrahlungsquelle

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE844031C (de) * 1944-08-01 1952-07-14 Koch & Sterzel Ag Roentgeneinrichtung mit zwei gegensinnig parallel an den Hochspannungstransformator angeschlossenen Roentgenroehren
US3114832A (en) * 1960-07-28 1963-12-17 Radiation Counter Lab Inc X-ray spectroscopic system comprising plural sources, filters, fluorescent radiators, and comparative detectors
US3418467A (en) * 1965-02-17 1968-12-24 Philips Corp Method of generating an x-ray beam composed of a plurality of wavelengths
DE7310929U (de) * 1973-03-23 1973-09-06 Hoesch Werke Ag Vorrichtung zur betrieblichen roentgenfluoreszenzanalyse
US4125771A (en) * 1977-11-18 1978-11-14 Net Systems Inc. Apparatus for determining stress in nickel and titanium alloyed materials

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19737569A1 (de) * 1997-08-28 1998-02-26 Olaf Sommer Inst Fuer Festkoer Verfahren zur zerstörungsfreien Ermittlung der Tiefenverteilung von Partikeln in einer Matrix

Also Published As

Publication number Publication date
DE3524379A1 (de) 1986-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0959346B1 (de) Simultanes Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
DE102012008250B4 (de) Ionenmobilitätsseparator für Massenspektrometer
DE102017111067A1 (de) Isomeren-Analyse in TIMS-Q-q-TOF Massenspektrometern
DE3524379C2 (de)
DE2607801C2 (de)
EP0068045A2 (de) Kristall-Röntgen-Sequenzspektrometer
DE1648885A1 (de) Geraet zum Analysieren von Stroemungen
DE102012008249A1 (de) Verbesserte Auflösung für Ionenmobilitätsspektrometer
DE2015316A1 (de) Vorrichtung zur flüssigkeitschromatographisch-spektroskopisch-chemischen Analyse
DE2651645A1 (de) Roentgenfluoreszenzspektrometer
EP0123860A2 (de) Elektronenenergie-Analysator mit Vielkanaldetektor
DE102023105366A1 (de) Disambiguierung von Spektren eines zyklischen Ionenanalysators
DE19632847A1 (de) Gas-Analysegerät
DE2461224C3 (de) Ortsempfindlicher Detektor für den Nachweis von Ionen in der Fokalebene eines Magneten eines Massenspektrometers
EP0084086A2 (de) Lasermikrosonde
DE3803750A1 (de) Mehrkanaliges roentgenspektrometer
CH665026A5 (de) Spektrometer.
DE3606533A1 (de) Fotometrische vorrichtung
DE102012110490A1 (de) Massenspektrometer, welches Detektorenanordnungen umfasst
DE2022132A1 (de) Spektrometer
DE2149611B2 (de) Mehrkanal-roentgenspektrometer
DE1598024A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse von Stoffen
EP0968519B1 (de) Ionisationskammer für radiometrische messeinrichtungen
DE2715809C3 (de) Blendenanordnung für einen elektrostatischen zylindrischen Spiegel und Verwendung hiervon
DE2018539C3 (de) Nichtdispersives IR-Zweistrahlgerät

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8363 Opposition against the patent
8339 Ceased/non-payment of the annual fee