DE1648885A1 - Geraet zum Analysieren von Stroemungen - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 76
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 2
- 241000158147 Sator Species 0.000 claims 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 claims 1
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 claims 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N Ethylbenzene Chemical compound CCC1=CC=CC=C1 YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical group C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 238000005773 Enders reaction Methods 0.000 description 1
- 229910021607 Silver chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 241001377894 Trias Species 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 235000013601 eggs Nutrition 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000855 fermentation Methods 0.000 description 1
- 230000004151 fermentation Effects 0.000 description 1
- 238000005206 flow analysis Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- GUYXXEXGKVKXAW-UHFFFAOYSA-N prop-2-enenitrile Chemical compound C=CC#N.C=CC#N GUYXXEXGKVKXAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M silver monochloride Chemical compound [Cl-].[Ag+] HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/04—Slit arrangements slit adjustment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
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Description
^648885
~<ow Chemical Company, i idlund / itichircan (V.ot.v,.-..)
Gerrit zum Analysieren von Strömungen
j-;ie ^rf ixitiunfi bezieht sich auf ein Gerät zum durchführen
von Spektralanalysen und Lichtmsssun^.en bei einem Gemisch von
str ihlunj-sfiriipf indlichen Jubstanzen und im besonderen auf ein ü-erat
fur die «.böorntionsspektrometrie, die besonders für die ^tromun^sanalyne
oiner; Gemisches Feeip'net ist, wobei die analyse die quantitative
bestimmung eines jeden bestandteilen des Gemisches durch
ermitteln des üb;;orptionsverhältnisses der Strahlungsenergie bei
zwei gewählten .^ellenlangen für jeden Bestandteil umfasst, .-»as
Gerat v/f-jj.st eine einrichtung· auf, mit der monochromatische Strahlen
verschiedener Wellenlängen aus der Strahlung einer einzelnen Lichtquelle
abgesondert und unterschieden werden können, wobei die abgesonderten
monochromatischen Strahlen nach Durchlaufen einer eixizelner
109831 /1617
probenzelle auf einen einze-lneix detektor gerichtet werc'^ne
In der nachfolgender. teschreibun- und in den .Jisp
sollen die Ausdrücke "monochromatische Str^hlun*·" υηά "racnochrerratisches
band" sich auf ein schnales rand auf einander i'ol .ender
rtellenlän^en mit einer breite von nicht rv3hr als ^ reziprokalen
Zentimetern beziehen.
Die Erfindung sieht sine neue Anordnung von bauelenenzen
vor und zvjar eine einzelne Lichtquelle, ein einzelner L»etektcr,
einen i\onochroraator mit einem einzelnen zerstreuun ariittel al ^
einen bestandteil und mit einen einzelnen üi.istr ittsnchlitz, sowie
mehrere aintrittsschlitze und eine Verschlusseinrichtung, nie
periodisch je zviei solcher .,intrittsschlitze schlieft uno. öffnet,
und ferner eine Einrichtung, die zugleich die otrahlun? aus zwei
geöffneten üntrittsschlitzen zum Zerstreuun^snitt^l leitet unter
zwei verschiedenen nünf alls winke In., v/obei durch den i-.onochrcrator
zwei monochromatische -bander geleitet werden, von ienen das ^ine
band für die uberwachuixt.sabsorption einer rrobe uno. das andere
band für die überprüfung eier Untergrund una,-oder a&r ο tor subs tanzen
verwendet wird, und eine zusätzliche iiinrichtune;, die in der gleichen
itfeise und zu anderen Zeiten die otrahlunt. zugleich am Zerstreuungsmittel
aus jedem schlitz von zwei anderen vorgviählten
Schlitzen richtet, eine binrichtunp zum Zerhacken der Strahlung,
die je zwei geöffnete aintrittsschlitze durchlauft, wobei jeder
der Strahlen aus einem gegebenen laar Schlitze mit einer anderen
i-'requenz zerhackt wird., eine ainrichtunp zum durchführen einer
Frequenzdiskrimination und eines VerhältnisVergleiches der vom detektor
in Abhängigkeit von der mit den genannten verschiedenen
Frequenzen zerhackten strahlung erzeugten, gleichzeitig auftretenden
Signalen, eine Einrichtung, die die Verschlusseinrichtung von
109331/1617
u'.em einen Paar eintrittsschlitze zu einem anderen I ear iiintrittsschli.
tze verschiebt, eine .Einrichtung zum aus v/er ten des Jetektorau
β fan:1 es z.b. eine Aufzeichnunpseinrichtun- oder Verf ahrens steuer-'.
inrichtunc'en, eine liinrichtun«. zun paarweisen diskriminieren von
^er hai tni s ver;; leicht-si analen aus dem vorgewählten iaar von ^intrjtts
schlitzen, und eine einrichtung zum koordinieren der Verschiebung
der i-eeir,neten nuswertungseinrichtunfr. Die oben angeführten
r-auelemente werden später noch ausführlich beschrieben«
in der nachfolgenden Beschreibung, soll der Ausdruck
"Monochromator" sich auf eine Kombination von -..auteilen im optischen
öystera eines Spektralphotometers beziehen, das aus einem :;eHebenen
Lichtstrahl nur ein im wesentlichen monochromatisches Band auswählt und weiterleitet. Cbiiohl der Iuonochromator des erfindungsgemäßen
ü-erhtes anstelle des üblicheren einzelnen monochromatischen
banö.es das Licht mehrerer einzelner verschiedener monochromatischer
h'iinder weiterleitet, so wird für jeden benutzten ^Jintrittsschlitz
jedoch nur ein monochromatisches Band ausgewählt und weiterreleitet,
wobei aer Lichtstrahl in jedem i-'alle verschiedene Bahnen durch mindestens
einen Teil des hcnochromators durchwandert, ja der honochromator
für jeden otrahl immer noch als Konochromator wirkt, so wird dieser hiernach mit dem allgemeinen -lusaruck "honochromator"
bezeichnet.
Wie bereits angeführt, x^reist das verbesserte Gerät auf
einen Spiegel, eine bewegbare Verschlusseinrichtung, und eine anzahl von üintrittsschlitzen zum periodischen und zyklischen Auswählen
eines gegebenen Paares von Strahlen einer Strahlung aus einer einzelnen Strahlungsquelle. Die beiden strahlen werden durch einen
Zerhacker geleitet, der .iecen strahl mit einer anderen i4're>:nenz
periodisch unterbricht, rei ,ieüer ν mn r·-. hon:· des ^erhaokers odor der
109331/1617 BAD
-■-■■■■■;■ 16A&885
Blende wird jeder strahl so lange freigegeben, wie es durchfuhrbar
ist, vorzugsweise bis zur Hälfte der Zeit, die die blende für eine
Umdrehung benötigt« Die Blende ist einer gekrümmten Öffnung oder
für jeden verwendeten ^intrittsschlitz mit urofangstnäßig auf einander
auegerichteten Offnunpen versehen» Bei der Bewegung eines Verschlusses
mit einem oder mehreren .fenstern wird ein anderes iaar von
Schlitzen freigelegt. Die diese ßintrittsschlitze durchlaufenden
otrahlen werden von der blende unterbrochen. Jedep y^xr Strahlen
enthält im wesentlichen einen Strahl, der dem Detektor bei einer isezugswellenlänge oder einem monochromatischen Band ein Lichtsignal,
zufuhrt, iin solcher Strahl muss notwendigerweise rait einer anderen.
Frequenz zerhackt oder unterbrochen werden als der Strahl, der bei
der analytischen Wellenlänge fur den zu bestimmenden Bestandteil
ausgesendet wird. Durch bewegen des Verschlusses in -uatervallen
von 15 Sekunden bis zu mehreren Hinuten xverden hessungen für -ied-ert
Bestandteil eine Periode lang durchgeführt, die dem gewählten Intervall
entspricht. Venn gewünscht, können kürze oder längere
Perioden verwendet werden je nach der Stabilität des zu überprüfenden Systems und der Anzahl der zu bestimmenden Bestandteile.
jiln gegebenes taar ausgewählter Strahlen, das periodisch
vom Verschluss; und den üintrittsschlitzen und intermittierend
vonder Blende weiter ge leitet wird, „wird von einem Samtnelspiegel
auf ein einzelnes Strahlenzerstreuungselement gerichtet ζβΒ. auf
ein Beugungsgitter. Me zerlegte strahlung wira von einem einzelnen
i'oküssieruhKSspiegel durch einen einzelnen ÄuBtrittsschlitz hindufeh
längs einer optischen Bahn reflektiert;
-': Die durch den einzeihen Äustrittssehlitz austretende
Strahlung durchläuft normalerweise nur eine einzelne Probenzelle und fällt auf einen Kondensofspiegel, der die Strahlung auf den .=
* · ;· 109831/161? - - ."■■.- ;
8AD ORIGINAL
Detektor fokussiert»
Die beiden periodisch unterbrochenen Strahlen fallen
jeder mit seiner eigenen Unterbrechungsfrequenz auf den Detektor, so dass dieser zum Teil von "beiden Strahlen zugleich -bestrahlt wird
und zum Tei-1 von mindestens einem der Strahlen* Die vom Detektor
erzeugten signale werden in einem von mehreren einstellbaren Netzwerken
wahlweise diskriminiert und mit einander verglichen. Solche für diesen Zweck geeignete x-ietzwerke sind in der spektrometrisehen
und elektronischen Technik bekannt.■ tfür jedes Paar verwendeter
Eintritts schlitze ist ein solches .Metzwerk vorgesehen und damit für
jeden zu überprüfenden und zu bestimmenden Bestandteil, Der Ausgang
aus einem jeden Netzwerk wird zu einem einzelnen Mehrpunkt-Aufzeichnunsgerat
geleitet, das seinerseits das Verhältnis eines jeden
Paares von Signalen aufzeichnet-. Wenn je wünscht, kann jedes Paar
öigriäle zu einem üinpunkt-Auf zeichnunsgerat geleitet werden. Die
Wahl des Paares von xiintrittsschlitzeni die zu einer "gegebenen Zeit
geöffnet werden, wird mit der Wahl des'geeigneten.Netzwerkes nach
einem vorherbestimmten Plan zum überprüfen eines jeden Bestandteiles
in der Probenströmung koordiniert» Diese Koordinierung wir'd von
einer Prowrammierungseinrichtung durchgeführt, die sowohl den den
Verschluss vor den Eintrittsschlitzen bewegenden Luftzylinder als
auch den wählschalter steuert, der das betreffende Netzwerk auswählt.
Die η,γϊinrLung wird, nunmehr■■ ausführlich beschrieben, xn
den beiliegenden Zeichnungen, in denen gleiche oder einander entsprechende
bauelemente mit den gleichen bezugszeichen versehen sind,
ist die
Kig.l eine obersicht über .eine Ausführungsform des aerates nach
der ivpfindung mit einer LJtrahlungsquelle, einem Detektor,
einer probenzelle, einer Gruppe von Kintrittsschlitzen,
. ;. 109831/1617 BA&OR1G1NAL
einem Verschluss, einem Zerhacker und mit eiern optischen
xfad, der im konochromator mehrere Abschnitte aufweist,
Fig.2 eine schematische uarstellung des Verschlusses und der
- . - Eintritts schlitze des ü-erätes und des die. '-enanntfsn
elemente betätigenden Luftzylinders,
Fige3 eine der Fig.2 ähnliche 'Darstellung,"die den /erSchluss
in einer anderen Stellung· in be zu,?· :-~uf die ^intritt
ze zeigt,
Fig.H- eine den Figuren 2 und 3 ähnliche Darstellung einer anderen
Ausführung.sform des Gerätes mit einer ..roberen
Anzahl von Eintrittsschlitzen,
Fig„5 eine Vorderansicht des Zerhackers oder einer blende, die
zusammen mit dem Verschluss und den Eintrittsschlitzen
nach den Figuren 2 und 3 verwendet wird,
B1Ig.6 - eine schematische Darstellung-des Aufbaus des iterates nach
der -Erfindung mit dem Detektor und einer dinrlchtuwr
zum .auswerten des üeiektor^us^anges und die ' .
i'ifc.7 ein Ausschnitt aus der ..'IgOl, de;r jedoch eine andere äusführungsform
der Erfindung mit einer an der strahlungsquelle,
vorges-ehenen Sptegelanordnunii. zei^-.t, die eine Anordnung
der Schlitze mit einem f_,röiseren .Abr-tariiL von ein-
_"- ander ermöglicht.
übvrohl das Absorptionsspektrometer nach der Erfindung ' * '-in
verschiedenen Ausführungen zum Untersuchen einer Probe mittels
verschiedener Strahlungen benutzt werden kann, so wi-rd das Gerät jedoch
in bezug auf die Spektralanalyse unter Verwendung'-einer- infrarotstrahlung
beschrieben. · ■ .·
Die in der »'ig* !dargestellte- Einrichtung enthält eine
Lichtquelle 10, die eine Infrarotstrahlung aussendet, die alle
10 9 8 3 1 / T 6 -1 7
fur analytische Zwecke zu verwendenden weilenlängen enthalte Die
Strahlenquelle kann aus jeder herkömmlichen Ausführung bestehen
Z..H. als einem Chromnickeldraht, einer Nernstlampe oder aus einem
Stück Siliziumkarbid, das mit' Hilfe eines elektrischen Stromes erhitzt
wird. Die otrahlune; aus der Strahlungsquelle, die vorzugsweise
aus einer langgestreckten.oder breiten Strahlungsquelle besteht,
wird von einem Parabolspiegel oder einem sphärischen Spiegel
11 gesammelt und auf die χ latte 12 geworfen, an der die Eintritts-',
schlitze Ij, I^ und 15 vorgesehen sind«, Die Strahlung wird auf diese
jiintritteschlitze so fokussiert, dass jeder Schlitz mit einem Abbild
der Strahlungsquelle belichtet wird«, Zwischen dem Spiegel 11
und den .eiintrittsschlitzen 13, I*+ und 15 ist ein bewegbarer Verschluss
16 mit einem Fenster geeigneter Größe angeordnet, das
die aintrittsschlitze 1^4- und 15 für den ijurchgang der Strahlung
freigibt, wahrend, der dritte Jiintrittsschlitz 13 geschlossen gehalten
wird» Der Verschluss 16 wird von einem Luftzylinder 17 betätigt, der seinerseits mittels Druckluft in Abhängigkeit von der
rrogrammierunpseinrichtung Ib betätigt wird. Der Verschluss 16 ist
in waagerechter dichtung hin- und herbewegbar gelagert, wobei die
Grenzen dieser Bewegung von d'eii Anschlägen 19 und 20 bestimmt werden.
Die Figuren 2 und 3 zeigen cLen Verschluss 16 in zwei dune-Stellungen
nach einer Bewegung» und das Fenster 21 des Verschlusses
16 muss offensichtlich so groß bemessen werdeiij dass zugleich zwei
Kintrittssehlitze freigelegt und ein dritter Schlitz geschlossen
gehalten wird* ßbensoch müssen die beiden Anschläge 19 und 2t so
angeordnet werden, dass der Verschluss diese Aufgäbe erfüllen kann«,
Die den Verschluss 16 und ZvQ-. die jiintrittsschiifcze i4
und 15 durchlauf efrde Strahlung fällt auf die Blende 22 und wird
- . _ - -■-.■-■■ - i Q9B3 1 f 1:6 1 ¥ -: . .';■■.
; - _ 8 - "._ - ...■■■■■■"■
von dieser sechsmal bis ungefähr hundertmal pro Sekunde unterbrochen,
wie aus der l^'ig.S zu ersehen ist, werden die Unterbrechungen von lichtundurchlässigen Teilen einer drehbaren Scheibe
bewirkt, die von einander durch umfangsmäiäig auf einander ausgerichtete
gekrümmte Öffnungen getrennt sind. Die zweischenkelige Öffnung 23 legt alle Eintritts schlitze für den Durchlaxif der Strahlung
frei, während die gekrümmte Öffnung 21A- nur den mittleren Jiintrittsschlitz
Ik kurzzeitig freigibt.
„Aus der Fig«1 ist zu ersehen, dass das durch die Eintrittsschlitze,
den Verschluss und die Blende hindurchtretende Licht
auf den Sammelspiegel 25 fällt und auf ein einzelnes Zerstreuungsmittel 26 geworfen wird«, Das Zerstreuungsmittel 26 besteht aus
einem Beugungsgitter, obwohl auch bei entsprechender .änderung der
Anordnung ein Prisma z.B. aus einem NaGl-Kristall verwendet werden
kanne Die das Zerstreuungsmittel 26 verlassende Strahlung fallt
mindestens zum Teil auf einen Parabolspiegel 27, derseinerseits
die einfallende Strahlung auf den einzelnen Austrittsschlitz 26
fokussiert. Die den Austrittsschlitz 2b verlassende Strahlung wird
vorzugsweise durch ein optisches Filter 29 geleitet, in dem die
unerwünschte Strahlung ausgefiltert wird, z.B. eine Strahlung höherer Ordnung, die entsteht, wenn ein Beugungsgitter benutzt wird.
Das vom optischen Filter hindurchgelassene Licht wird durch eine
Probenzelle 30 geleitet, aus der das Licht auf einen Kondensorspie-;
gel Jl fällt undvon diesem konzentriert auf den Detektor 32 gewerfen
wird* : ^
Die Probenzelle 3o kann aus einem geeigneten Behälter
bestehen, der ein Gas oder eine Flüssigkeit enthält, d.h. eine
gasförmige oder flüssige probe, mit der eine Spektralanalyse durchgeführt werden soll. Da die üinrichtunp nach der Jirfindung in
10 9 B 3Xf1617
BAD ORfGhMAL .
: ; ' 1848885
erster Linie für die Strömungsanalyse eingerichtet ist, so wird
die Probenzelle üblicherweise mit einem einlass und einem Auslass'
versehen, so dass eine zu analysierende probe durch die Zelle strömen kann. Die Zelle Ist natürlich mit fenstern versehen, durch
die die Strahlung in dem für die Analyse benutzten Wellenlängenbereich
hindurchtreten kann.'Bei Benutzung einer Infratorstrahlung
werden häufig Fenster aus Natriumchlorid, Silberchlorid oder KaI-ziumfluorid
verwendet. Die Zelle muss ferner In der optischen Bahn
genügend weit geöffnet sein, so dass' die hindurchtretende Strahlung
nicht eingeschränkt oder gebrochen wird,
nenn gewünscht,'kann die Zelle in der optischen Bahn auch
an einer anderen Stelle als an der in der Zeichnung dargestellten
Stele angeordnet werden.' Ist die Probenzelle genügend groß und entsprechend,
ausgestaltet,' so kann sie auch an einer Stelle angeordnet werden, an der beide Strahlen eine gerneinsame Strahlungsbahn verfolgen
und genügena fokussiert oder gebündelt sind, um Zellenfenster
und öffnungen von wesentlicher 'G-rous'e durchdringen zu können, die
in der Technik verwendet werden. Die in der Zeichnung dargestellte
Anordnung ist im allgemeinen zu bevorzugen, da die Zelle an der
dargestellten Stelle eine im wesentlichen nur monochromatische Strahlung
erreicht, besonders bei der Analyse von flüssigen Proben, da diese von einer monochromatischen Strahlung weniger stark erhitzt
werden alü von einer unzerstreuten Strahlung, so die Gefahr geringer
ist, dass das lösungsmittel sich verflüchtigt oder dass die
Dichte der Probe sich ändert.
wenn gewünscht» kann die oben beschriebene iJurchgangszelle
durch eine reflektierende „.Zelle ersetzt werden, wobei das
prinzip der ungedämpften Totalreflexion angewendet wircl, und wobei
die Anordnung der auf die Probenzelle folgenden Bauteile so geändert .;*.»i,-t.-«-:,<
up·* - -j 09B31 / 1 61 7
- lO - :
wer den muss, dass aas reflektierte oi^nal auf aen Detektor a-eworfenwird*
.-■""■" " ; :
. " üin durch den ^intrittsschlitz IA- hindurchtretencier Strahl
fällt aui' den Sammelspiegel 25 unter einem etwas anderen winkel
als ein durch den Schlitz 15 hincLÜrchtreterider otrahl. inf olgecLessen
fällt der Strahl, je nachdem welcher Schlitz aurchquert wurde, auf
das Zerstreuungsmittel 26 unter verschiedenen winkeln ein. ferner
wird der Fokussierungsspiegel 27 mit einem etwas, verschobenen Spektrum
bestrahlt, wenn die Strahlung aus dem .ointrittsschlitz 15
empfangen wird im Vergleich zum nintrittsschlitz 14-. als weitere
Folge wird der Austrittsschlitz 2b mit ganz anderen Teilen desselben
Strahlungsspektrums beim einfallen der Strahlung aus dem ßintrittsschlitz
15 beleuchtet als aus dem ^intrittsschlitz IA.
Schlieislich fallen auf den Detektor y<i ganzlich verschiedene Teile
des von der einzelnen Strahlungsquelle 10 erzeugten Strahlungsspektrums.
jJamit die zwei ^intrittsschlitze durchlaufenden und von
einem gemeinsamen Sammelspiegel zum zerstreuenden Mttel reflektierten
Strahlen auf aas zerstreuende mittel unter verschiedenen winkeln einfallen, muss jeder Strahl vom'iiintrittsschlitz "aus zum
zerstreuenden "mittel eine etwas andere bahn verfolgen, aus'der \ :
Fig.i ist zu ersehen, dass die mittellinien für die aus den Schlitzei
13, I1J- und 15 austretenden Strahlen auf den■.. Satnmelspie^e"! 25 an
verschiedenen Stellen einfallen und am Zerstreuungsmittel oder dem
uitter 26 über verschiedene Bahnen an der Stelle C zusammentreffen,
us wird jedoch darauf hingewiesen, dass die vom opiegel_"2"7 auf den
Austrittsschlitz 2b fokussierten gebrochenen btrahlen unterschiedliche
Wellenlängen aufweisen, obwohl die οtrahleη parallel zu einander
verlaufen und den Spiegel'2? füllen. Die mit h bezeichnete
Mittellinie des SUiegels 27 ist für alle auf den Austrittsschlitz 2ö
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BAD ORIGINAL
fokussierten strahlen gemeinsamo ':
Bei der λ Inr ich time- nach der rirf indung wird der üiintrittsschlitz
IiI- so angeordnet, dass er den durchlauf einer Strahlung: mit
einer Bezugswellenlänge zulässt, die zusammen mit den analytischen
Wellenlängen verwendet werden kann, die- von der Stellung: der iiintrittsschlitze
13 und 15-bestimmt werden. Die ^intrittssehlitze
13 wcxd 15 werden s.o angeordnet, dass sie den Durchgang einer Strahlung
mit einer analytischen Wellenlange zulassen, die sich für
die bestandteile des in der Probenzelle Jl enthaltenen G-emisehes
Figo^ zeigt in schernatischer Darstellung die. ^uswer·-
tunr: des vom Detektor 3^ erzeugten Sig2ia;le. Als ?'ο Ige-der auf
den Detektor }2 fallenden unterbrochenen Strahlen erzeugt der uetektor
ein Signal, das aus zum Teil.-'gleichzeitig auftretenden, zum
Teil einander überlappenden und zum Teil einzeln auftretenden Wechsels tr ο ms if mal en besteht, die einander' überlagert sind,- jedoch' '.
zwei verschiedene Frequenzen aufweisen« Das durch eine solche Lbergaerung
erzeugte zusammengesetzte Signal wird zuerst zu einem Vorverstärker 33 geleitet, der sehr nahe am Detektor 32 angeordnet
ist. itoch der anfangsνerStärkung werden die überlagerten Signale
zu den parallelgeschalteten Verstärkereinheiten 3^» 35 geleitet,
Von denen jede Einheit ein Bandfilter aufweist, das nur eines der :
überlagerten >ipriale weiterleitet-, jedoch nicht das andere Signal»
Beispielsweise kann das Bandfilter f' das die höhere Frequenz aufweisende
Signal vielter leiten, das bei der Unterbrechung der Strahlen mit der höheren-Frequenz erzeugt wird, während das Filter fp
das oifrnal mit der niedrigeren .frequenz weiterleitet. In jederm
Verstärker wird das ankommende Signal zuerst durch das Bandfilter
geleitet und danach in mehreren Stufen verstärkt, bevor das Signal
- . 1Q9 8 3 1 /1617 . BAD
zu einem der uleichrichtungselemente 36, 37 geleitet wird, von denen
jedes Element einen Schalter und ein auf diesen folgendes elektrisches !filter enthält. Wach der Darstellung wird das Signal aus dem
Verstärker 3k. zum Gleichrichtungselement 3^ und das Signal aus dem
Verstärker 35 zum Gleichrichtungselement 37 geleitet.
Die synchrone Gleichrichtung erfolgt in den herkömmlichen Gleichrichterelementen 36, 37,die auch als Synchrondemodulatoren
bekannt sind und»eine Vollwellengleichrichtung bewirken. In
jedem Gleichrichtungselement wandelt ein rasch wirkender Schalter das Wechselstromsognal, das aus den vom Detektor erzeugten gemischten
Wechselstromsignalen ausgewählt wird, in eine Reihe von Halbwellen um, Die gleichgerichteten Signale werden dann gefiltert, um
die restliche Welligkeit zu entfernen.
Die Synchronisierung kann in jeder geeigneten Weise durchgeführt
werden z.B. können die den Verstärkerausgang weiterleitenden Schalter von einer Relaisschaltung gesteuert werden, die über Schalter mit Strom versorgt wird, die von Nocken betätigt werden,. die
an der die Blendenscheibe tragenden Welle angebracht sind«, Die
nockenbetätigten Schalter müssen so angeordnet werden, das jeder
Schalter ein Signal gleichrichtet. Jiin Schalter würde daher mit
einer gegebenen Frequenz f^ arbeiten und das Signal mit der Frequenz
f- weiterleiten, während der andere Schalter mit einer gegebenen
Frequenz fp arbeiten und das Signal mit der .frequenz f^ weiterleiten würde.
üine zu bevorzugende Möglichkeit bei der Durchführung
einer synchronen Umschaltung besteht darin, jeden rasch wirkenden Schalter mit Hilfe eines Heiaiskreises zu steuern, in dem die Stromimpulse von einer Photodiode erzeugt werden. Jede Photodiode wird
an der zur Lichtquelle abgewandten Seite der Plende angeordnet,
109831/1617 BAD ORIGINAL
welche Photodiode leitend wird, wenn sie vom Licht getroffen wird.
Die von der rhotodiode erzeugten, verhältnismäßig schwachen Impulse
werden von einer Schmitt-Triggerschaltung verstärkt, .diine solche
Schaltung ist im allgemeinen imGehäuse des Synchrondemddulators
enthalten. Die verstärkten Impulse werden zum Betätigen des rasch
wirkenden Schalters benutzt,-der die Polarität bei der entsprechenden Frequenz umkehrt und das Signal mit der gewünschten Frequenz
weiterleitet und gleichrichtet. Jeder Schalter, der aus einem mit der genauen Signalfrequenz betriebenen Synchrongleichrichter besteht,
führt eine Unterscheidung in bezug auf Signale aller anderen Fre- M
quenzen durch, da der Gleichstromwert der Teile von Signalen mit anderen i'requenzen im Durchschnitt gleich im'uII sein wurde,
Bei der in der Figo6 dargestellten Ausführungsform der
Erfindung ist eine Wolframlampe 3Ö zwischen zwei weiteren Blenden
39» tyü angeordnet, die an der die Blende 22 tragenden hotorwelie
befestigt sind. Diese zusätzlichen Blenden werden lediglich zum jirzeugen
von elektrischen Signalen verwendet, die die Synchrondemodulation steuern. Die Lampe 3b beleuchtet die -photodiodeη ^2, ^3, wenn
ein offener Sektor einer der zusätzlichen Blenden 39, ^O an der
betreffenden Photodiode vorbeiwandert. Die von der Photodiode ^2
erzeugten impulse werden dem oynchrOndemodulator 35 zugeführt und
von der Schmitt-Triggerschaltung· verstärkt, und diese verstärkten
impulse v/erden zum Steuern des im ü-leichrichtung'selement enthaltenen
Schalters benutzt..Die zusätzliche blende 39 weist einen offenen
Sektor auf, der sich über denselben Winkel erstreckt wie die Sektoren
der ringförmigen Teile der bIeade 21, die das Strahlungssignal
mit der Frequenz f., erzeugen. Die andere zusätzliche Blende <+υ
ist mit offenen Sektoren versehen, die denselben winkel umfassen wie der Sektor im ringförmigen Teil der Blende 21, der die Strahlungs-
109831/1617 ba00RIGINAl
- .■■■-- 14 - - -
signale mit .der Frequenz f2 erzeugt» Die beiden blenden 39, 4c
sind so genau auf einander ausgerichtet, dass die Impulse aus den ·
JrhotodiocLen 42, 43 die Schalter in den Demodulator element en 36,
phasengleich mit den betreffenden Signalen aus den Verstärkereinheiten
34·, 35 betreiben.
Wenn gewünscht, können auch andere hittel zun* priodischen
Beleuchten der Photodioden 42, 43 benutzt werden. So können z.L.
Lampen und Photodioden der Hauptblende zugeordnet werden, oder es können auch zusätzliche Blenden an einer anderen Welle vorgesehen
werden, die synchron mit der Rotorwelle 41 angetrieben wird,- Jede
zusätzliche Blende kann das Licht aus einer Wolframlampe oder'aus
einer anderen Lichtquelle auf eine Photodiode mit der erforderli- "
chen Frequenz fallen lassen.
• Die von der Demodulatoren 36, 37 erzeugten und verschieden
starken Gleichstromsignale werden zu einem der beiden herkömmlichen
einstellbaren Messnetzwerke 44, 45 geleitet, die schalter 46, 47
bestimmen das zu verxvendende itfetz-werko Nach der Darstellung in der
Fig.6 ist das Netzwerk 44 eingeschaltet. Bei einer solchen .einrichtung werden die beiden U-ieichstromsignale mit einander verglichen
und in einer I-otentiometerschaltung ausgeglichen, die einen bchleifkontakt
aufvieist, wobei die Bewegung des Schleifkontaktes, die von
einer ServoeinrichtunK durchgeführt wird, von einem mit zwei Schreibstiften
versehenen Aufzeichnungsgerät 48' aufgezeichnet und/oder
zum Betreiben einer VerfahrensSteuereinheit benutzt wird, z.B. zum
Betätigen eines Ventils, das die Strömung von tfeagenzmitteln beeinflusst, oder auch zum betätigen eines äege!Widerstandes zum Einstellen der Reaktortemperatures Uenn gewünscht, kann das Aufzeichnungsgerät
auch nur mit einem einzigen Schreibstift versehen sein. Wird ein solches Aufzelchnuifigsgerät benutzt, so muss eine Markierung
"i; ; "· 109831/1617
vorgesehen werden, so dass eine Änderung bei dem zu überprüfenden
Bestandteil der Probe festgestellt werden kann»
Ztim i)urchfuhren einer Zeitaufteilung: in der gesamten
einrichtung für die Analyse der einzelnen zu überprüfenden und zu
messenden Bestandteile der Probe wird eine Programmierungseinr ic fritting 18 benutzt, die ein synchrones arbeiten des Verschlusses 16,
der schalter ^6, *l·? und der .Schreibstiftsteuerungen und/oder der
AusgangsSteuerungen des Aufzeichnungsgerätes ^B bewirkt, imch einer
kurzen, sich z.b· über 15 Sekunden bis zu mehreren Minuten erstreckenden Arbeitsperiode, während der die Einrichtung die Konzentration
eines ersten Bestandteiles der trobe bestimmt, bewirkt
die rrogrammierungiseinrichtung eine andere Einstellung des Verschlusses
und betätigt zugleich die Schalter k6, ^7, so dass die
Gleichstromsignale aus den Pemodulatoren zum zweiten einstellbaren
foessnetzwerk ^5 geleitet werden, das zum Hessen, eines zweiten Bestandteiles
der Probe entsprechend eingestellt worden ist. Zugleich werden die ochaltvorrichtungen im ZweistiftaufZeichnungsgerät zum
aufzeichnen des Ausganges aus dem fcessnetzwerk ^5 umgeschaltet.
Wach Ablauf der zum Analysieren und Aufzeichnen der Konzentration
des zweiten Bestandteils der Probe erforderlichen Zeit von z.B.
15 Sekunden bis zu mehreren Minuten bewirkt die Programmierungseinrichtüng
die erforderlichen Ümschaltungen und stellt,die einrichtung
wieder auf die nnalyse des ersten Bestandteiles der Probe ein
mit oder ohne eine Zeitverzögerung, während der keine Analyse
durchgeführt zu worden braucht. Auf diese Weise wird bei beiden
Bestandteilen der Probe abwechselnd und periodisch eine Analyse
durchgeführt. Wenn gewünscht, können die Ausgänge aus den fiessnetzwerken
kk·, k-5 unter der Kontrolle durch die Programmierungseinrichtunr:
18 noch x«/eiter für den wahlweisen Betrieb von einer oder
10 9831/1617
mehreren prozessteuerungseinrichtungen verwendet werden.
Der Verschluss 16 kann elektrisch, hydraulisch oder pneumatisch
unter der Kontrolle der Programmierungseiririchtung Ib betätigt
werden, ü'in zum betätigen des Verschlusses geeignetes hittel
besteht aus einem von der Programmierungseinrichtung 1.8 gesteuerten Luftzylinder 17 und einer HückfUhrfeder für den Verschluss 16..
Ebenso werden die Schalter 46, 4 7 und die Schaltvorrichtungen im
ZweistiftaufZeichnungsgerät"4ö von der Programmierungseinrichtung
16 unter Verwendung einer elektrischen üelaisschaltung gesteuert.
^ Bei anderen Ausführungsformen der Erfindung kann, wenn
erwünscht oder erforderlich, eine Platte 12 mit einer größeren
Anzahl von Eintrittsschlitzen verwendet werden· as kann daher erwünscht sein, anstelle einer gemeinsamen bezugswellenlänge f ür "tien
einzelnen Bezugsschlitz an der Platte 12 nach den Figuren 1, 2 und
3 eine Bezugswellenlänge für jede analytische wellenlänge zu verwenden»
Ferner können auch genügend viele iiintrittsschlitze für
die periodische Analyse von drei oder vier Bestandteilen der' trobe
vorgesehen werden, obwohl die Programmierung erheblich verwickelter
wird,"wenn drei oder mehr Bestandteile wahlweise überprüft werden
sollen. ' .
Die F ig. 4· zeigt eine mit vier bintrittsschlitzen versehene Platte. Bei dieser ausführungsform muss der Verschluss so
ausgestaltet und angeordnet werden, dass er bei jeder Hin- und Herbewegung
das geeignete iaar. von Bezugsschlitzen und Probenschlitzen
freilegt. Bei Verwendung von zwei Fenstern an der Verschlussplatte können auch nicht benachbarte Paare von Schlitzen verwendet werden.
Vorzugsweise werden jedoch in jedem Falle zwei benachbarte Schlitze benutzt. -
Bei einer weiteren anderen Ausführungsform der Erfindung
--**-·;-: --■-■" ■<■-■·· 1 OM
<(ί 3 1 / 1 6 Ί 7
"""·:—-■ . . '. ' . ' ' ' b ' '-.-■■ BAD ORIGINAL
104888 5
kann in der Mähe der Strahlungsquelle eine andere Anordnung von
Spiegeln verwendet werden, um die Strahlung in geeigneterWeise
von der Strahlungsquelle zu den Eintrittsschlitzen zu fuhren, falls
diese Schlitze einen verhältnismäßig großen Abstand von einander
aufweisen. In der !"'ige? ist eine solche Anordnung dargestellt,
"bei der die beiden üiintrittsschlitze Λ9? 50 der Schlitzplatte von
zwei weiteren Schlitzen 51, 52 verhältnismäßig weit entfernt sind, so dass es nur mit Schwierigkeiten durchführbar ist, jeden Eintritts·
schlitz mit Hilfe eines einzelnen Spiegels von der Lichtquelle aus zu belichten. Die in der Figo? dargestellte Einrichtung ist
mit zwei Sammelspiegeln 53> 5^ ausgestattet, von denen der Spiegel
53 die Strahlung aus der Strahlungsquelle 10 sammelt und auf den ebenen Spiegel 55 wirft, der seinerseits die Strahlung zum ebenen
Spiegel 56 reflektierte Diese reflektierte Strahlung fallt durch
die liintrittsschlitze 4-9 und 50 in der gewünschten Hichtung, wenn
der Verschluss 16 in eine Stellung bewegt wird, in der das Fenster
57 die üintrittsschlitze ^9, 50 freilegt. Der Verschluss 16 ist
ferner mit einem zweiten Fenster $8 versehen, so dass die vom
Spiegel 5^ gesammelte und zuerst auf den Spiegel 59 und auf den
gleichfalls ebenen Spiegel 60 geworfene Strahlung durch das Fenster
50 auf die isintrittsschlitze 51 und 52 fällt«
Ausden Zeichnungen und aus dem vorstehenden Teil der Beschreibung
i?eht hervor, dass Eintritts schlitze in beliebiger Anzahl
und Anordnung sowie Verschlüsse mit einem oder mehreren Fenstern
vorgesehen werden können, um Analysen durchführen zu können, bei denen mehrere einzelne monochromatische Bänder benutzt werden sollen.
Diese verschiedenen möglichen liegen im Rahmen des iSrf indungsgedankens»
Wenn ζ«Β. entweder die Bezugswellenlänge öder die analytische
Wellenlänge für einen ersten Bestandteil, jedoch nicht beide Wellen-
ßAD
10983 1/1617
längen, zwischen der Bezugs wellenlänge und der analytischen Wellenlänge für einen zweiten Bestandteil liegt, so müssen am Verschluss
zwei verhältnismäßig schmale fenster vorgesehen werden, die in der
gewünschten Zeitfolge die entsprechenden beiden aintrittsschlitze.
freilegeno .
Obwohl nach der Fig. 1 der Verschluss 16 zwischen dem Spiegel
11 und der Hatte 12 mit den Eintritt'sschlitzen angeordnet ist,
so kann der Verschluss 16 jedoch auch hinter der blatte 12 in bezug
auf die vom Spiegel 11 ausgehende Strahlung angeordnet werden.
Ebenso kann die Sektorenblende 22 vor .der .Schutzplatte und dem Verschluss
angeordnet werden«.
Die Blende 22 ist mit gekrümmten Öffnungen versehen, die
die durch jeden Bintrittsschlitz eintretende Strahlung intermittierend durchlassen, und zwar ist fur jeden Schlitz eine-.öffnung, oder
eine ßeihe von umf&ngsmäßig auf einander ausgerichteten öffnungen
vorgesehene,Die Anzahl der mit einem gegebenen Schlitz zusammenwirkenden Öffnungen kann beliebig gewählt werden und -bestimmt die verwendete
Diskriminierungsfrequenz.
Die Blende 22 und die Synchrondemodulatoren und .filter
36, 37 nach den Figuren 5 umd 6 wurden ausgewählt, um eine iLinrichtung
mit nur zwei solcher Einheiten zu schaffen. Die Blende ist mit
gekrümmten Öffnungen versehen, die eine gemeinsame Signalfrequenz
für beide bestandteile der Probe erzeugen, jedoch nur eine einzelne
verschiedene Signalfrequenz i'ür die gemeinsame Bezugs messung. Daher
können die beiden Synchrondemodulator- und Filter-Einheiten für
beide Teile der Arbeitsperiode verwendet werden, d.h. für die hessung
des ersten und des zweiten Bestandteiles der Probe.
Wenn gewünscht, kann die blende 2£ so ausgestaltet werden,
dass die durch χ uintrittsschlitze eintretende Strahlung mit zwei
1V 109831/1617
• SAD ORIGINAL
bis χ i-'reqüenzen unterbrochen oder zerhackt wird, ; jedoch müssen
dann für jede -requenz eine synchrondemodulator- und Filtereinheit
vorgesehen werden. Außerdem müsste die Programmierungseinrichtung
so programmiert werden, dass im geeigneten Zeitpunkt während jeder Arbeitsfolge die betreffenden Einheiten eingeschaltet werden. Ua
der Verschluss so ausgestaltet werden kann, dass er Strahlen aus verschiedenen Eintrittsschlitzen auswählt, und da eine Prequenzunterscheidung
nur dann verwendet zu werden braucht, wenn Bezugsund Bestandteilsignale von zwei gegebenen Strahlen vorliegen, so
genügt eine allgemeine Frequenz und für jeden Bestandteil der I-robe
eine gewählte zweite einzelne Frequenz.
bei der Benutzung;'der üiinrichtung nach der Erfindung für
eine bestimmte Analyse, so werden die üiintrittsschlitze so angeordnet,
dass eine im wesentlichen monochromatische Strahlung für jede verwendete Bezugswellenlänge und analytische Wellenlänge ausgewählt
wird. Die einstellung auf eine bestimmte Wellenlänge erfolgt durch
Andern der stellung des betreffenden xsintrittsschlitzes und des
Ortes des Sammelspiegels und des Zerstreuungsmittels, wobei der Jiinfallswinkel geändert wird, unter dem der Strahl auf das 2erstreuungsmitte
1 fällt. Als Folge der vorgenommenen .änderungen und
Einstellungen wird der einzelne Austrittssehlitz von einem anderen
gewählten Tei}. des opektrums des "durch jeden cintrittsschlitz eintretenden
Strahls belichtet und zum Detektor geleitet. Im allgemeiner. wird der zunr kessen eines der Bestandteile der Probe benutzte äintrittsschlitz
so eingestellt, dass eine Strahlung mit einer geeigneten Hesswellenlänge in einer Äbsorptionsspitze ausgewählt wird,
die oftmals aus der zugleich auftretenden Absorption durch die zu messende Substanz besteht und aus einer zweiten Absorption, die
eine b'öIge entweder eines absorbierenden -iegenstandes oder des
109Β3Ί/Ί617 BAD ORIGINAL
allgemeinen Hintergrundes ist, während der für Bezugszwecke benutzte
Eintrittsschlitz so eingestellt wird, dass eine Strahlung mit einer
Bezugswellenlänge ausgewählt wird, bei der keine Absorption erfolgt«,
Es muss weiterhin darauf geachtet werden, dass die Bezugswellenlänge
an einer Stelle gewählt wird, an der die Störung und/oder der
"Untergrund die Strahlung in im wesentlichen dem gleichen Ausmaß absorbiert, wie dies bei der analytischen wellenlange für den Bestandteil
der Probe erfolgt« Da die Strahlungsquelle sich wie ein
schwarzer Körper verhält, so ist es höchst erwünscht, eine bezugswellenlänge
zu wählen, die verhältnismäßig nahe an der wellenlänge
des Bestandteiles liegt z.B. innerhalb von ungefähr 0,5 hikron und
besonders dann, wenn Wellenlängen im Bereich von ungefähr 2 bis 6
hikrön gewählt werden, dieselben Erwägungen gelten für bei der
Anordnung des Eintrittsschlitzes für die Bestimmung eines zweiten Bestandteiles
der Probe sowie sowie eines zusätzlichen Eintrittsschlitzes für die zugleich erfolgende überprüfung bei einer anderen
Bezugswellenlänge, wenn gewünscht.
'Wird-die einrichtung nach der Erfindung für die Bestimmung
der' Bestandteile in einem Styrenmonomer- benutzt, so wird ein EIntrittsschldtz
so angeordnet, dass eine monochromatisohe Infrarotstrahlung
mit einer Wellenlänge von 3 »^75 Hikron für die Bestimmung
Ethylbenzene ausgewählt wird, während ein zweiter Eintrittsschlitz
so angeordnet wird, dass eine monochromatische Strahlung mit einer
Wellenlänge von 4,^6^ Likron für die hessung des Vinylzyanids
(Äkrylonitril) ausgewählt wirdo Pur Bezugszwecke wird ein Eintritts-,
schlitz so angeordnet, dass eine monochromatische Infrarotstrahlung
mit einer Wellenlänge von 3»9UC hikron ausgewählt wird, die für die
Bestimmung der beiden genannten substanzen die .^eeipnete l;ezuf>:sweller·
länf.;e darstellt. Die uahl dieser besonderen Wellenlängen ermöglicht
1 0 0 3 3 1/16 17 SAD-OflfGINÄL
- : .■■■;■-■; - 21-
die Verwendung: eines einzelnen Schlitzes für Bezugszwecke, der
zwischen den für die Bestandteile der Probe "bestimmten Schlitzen
angeordnet ist« ..Dieser einzige Bezügsschlitz vereinfacht das Zudecken
und Freilegen der "betreffenden beiden Schlitze im geeigneten
Zeitpunkt bei jeder Arbeitsfolge „üine Hin- und Herbewegung des
Verschlusses in Intervallen von 3^ Sekunden ermöglicht eine zuverlässige
und genaue Messung der-beiden genannten Bestandteile in
einer Strömung des Styrenmonomers-,
Obwohl nach der vorstehenden Beschreibung die Einrichtung
-nach eier Erfindung für die Verwendung einer Infrarotstrahlung vorgesehen
ist, wobei nach der Darstellung die Dammel-.und Fokussierungs
elemente aus Frontflächenspiegeln bestehen, während das Zerstreuungsmittel
vorzugsweise aus einem Beugungsgitter besteht, so kann die
jiinrichtung auch auch ebensogut mit einer sichtbaren Strahlung und
mit einer bltraviolettstrahlung verwendet werden. BeirVerwendung
einer sichtbaren Strahlung können die Sammel, Fokussierungs- und Zerstreuung-selemente" aus Frontflächenspiegeln oder als triaslinsen
bestehen.-Wirrt eine 111traviölettstrahlung verwendet, so können die
genannten elemente aus Frönfcflächenspiegeln oder aus ^uarzlinsen
bestehen. Bei Benutzung einer·Infrarotstrahlung kann, wenn gewünscht,
anstelle eines Beugungsgitters ein geeignetes Salzprisma verwendet
werden· Wie ansich bekannt, wird die Art des verwendeten Jetektors
und der Strahlungsquelle von der verwendeten Strahlung bestimmt. Von den Vorzügen der Erfindung sei noch die tiobustheit
und die Zuverlässigkeit der hinriehtung angeführt, die dadurch erzielt
wird, dass anstelle kritischer Teile wie die niintrittsschlitze
oder des Zerstreuungsmittel nur an sich nicht kritische Teile bewegt
werden* Sehr geringe Abweichungen bei der "Einstellung dieser kritischen Teile beeinflussen die übertragenen Wellenlcingenbänder sehr
(J9 8 3 1 / 1 β 1 7 £atentunsprüche
— —^^-^-g^cr
Claims (1)
- .-_ 22 ■-■,■... . ".- ■ :. .-ι -.■--■■■-'fat e η t a η s ρ rüche1) Strömungsanalysator für die qualitative Analyse einer J. Anzahl von Bestandteilen, gekennzeichnet durch eine Lichtquelle, durch einen Detektor, durch eine Einrichtung, die ein Lichtsignal aus der Lichtquelle über eine Probenzelle auf den detektor richtet und aufweist Spiegel zum Belichten von mindestens drei ^Antrittsschlitzen, von denen mindestens ein Schlitz ein Lichtsignal zu einer Bezugswellenlängenstelle leitet, während'die übrigen-Schlitze ein Lichtsignal mit den für den Bestandteil der l·rote bestimmten Wellenlängen weiterleiten, ein sich drehendes Mittel mit den erforderlichen gekrümmten öffnungen zum Belichten eines jeden Schlitzes, der auf eine Bezugswellenlänge mit einer anderen .frequenz ausgerichtet ist als die Schlitze, die auf die Wellenlängen der Bestandteile der Probe ausgerichtet sind, einen Monochromator zum empfangen der Lichtsignale aus den Schlitzen, der alle Lichtsignale aus einem einzelnen Austrittsschlitz auf eine Spiegeleinrichtung wirft, die die austretenden Lichtsignale auf den Detektor richtet, und eine Verschlusseinrichtung zum periodischen Abdecken und ¥reißreben der Bahn der Lichtsignale, die einen ersten für einen Bestandteil bestimmten Schlitz durchlaufen, von Null zu einem Bezugsschlitz, während zugleich ein zweiter für einen Bestandteil bestimmter Schlitz von i\lull bis zu einem Bezugsschlitz freigegeben und abge-mindestens deckt wird, wobei jedoch während eines Teiles einer jeden Periode/ ein für einen Bestandteil bestimmter Schlitz und ein Bezugsschlitz freigegeben wirdo -''"''. -^ 10 9 8 3 1/16 17 ßAD ORIGINAL1§4δ88 52) StrÖmungsanalysator nach Einspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für den bestandteil zwei Schlitze sowie zwei üezugsschlitze vorgesehen sind»3) Strömungsanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für die bestandteile der Probe zviei Schlitze und ferner ein bezugsschlitz vorgesehen, sindyk) StrÖmungsanalysator zum Absondern von verschiedene Wellenlängen aufweisendenmonochromatischen Strahlen aus der von einer einzelnen Lichtquelle erzeugten Strahlung, welcher ütrömun-?sanalysator aufweist eine einzelne i-robenzelle und einen einzelnen Austrittsschlitz, einen einzelnen Detektor, eine einzelne Einrichtung zum Auswerten des üetektorausganges, hittel, die Strahlungen aus der einzelnen Lichtquelle zugleich auf ein einzelnes Zerstreuungsmittel unter zwei verschiedenen xiinfallsviinkeln richten, eine üinrichtung·, die mit entsprechenden verschiedenen tfreque-nzen die unter zwei verschiedene^ninfallswinkel gerichtete Strahlung unterbricht sowie die Strahlungen, die unter zwei verschiedenen Einfallswinkeln über zwei verschiedene Ffade auf das einzelne Zerstreuungsmittel gerichtet werden, gekennzeichnet durch ein weiteres hittel, das die Strahlungen aus der einzelnen Lichtquelle auf das einzelne ■Zerstreuungsmittel unter mindestens einem weiteren 'verschiedenen .Einfallswinkel über eine Bahn richtet, die allein einem jeden Einfallswinkel zugeordnet ist, eine Einrichtung, die die unter dem zusatzlichen verschiedenen Einfallswinkel ausgerichtete Strahlung mit einer verwertbaren diskriniinatorischen Frequenz unterbricht, durch eine Verschlusseinrichtung, die periodisch vorherbestimmte Paare von unterschiedlichen Einfallswinkels auswähte, unter denen109 831/1617 BADdie Strahlung auf das Zerstreuungsmittel gerichtet wird, während alle anderen -Einfallswinkel abgedeckt werden, durch eine zusätzliche .einrichtung zum Auswerten des Detektorausganges, durch eine einrichtung zum koordinieren der periodischen Verschlusswählmittel mit (1) der einzelnen Auswertungseinrichtung und mit (2) der zusätzlichen Auswertungseinrichtung, und dadurch gekennzeichnet, dass periodisch eine spektrophotometrlsche Analyse mehrerer einzelner bestandteile in einer einzelnen Probenzelle durchgeführt wird, wobei jede einzelne Analyse auf der J-iessung der optischen richte bei einer analytischen Wellenlänge und bei einer Bezugswellenlänge basiert»5) StrÖmungsanalysator nach Anspruch 4·, dadurch gekennzeichnet, dass die monochromatischen Strahlen, im Infrarotbezirk abgesondert werdenο= 6) btrömungsanalysator nach Anspruch 4, dadurch ?;ekennzeichnet, dass die einrichtung zum Auswerten des Detektorausganges aus einem Aufzeichnungsgerät besteht.7) Strömung sanal,y sator nach Anspruch k, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zum Auswerten des Detektorausganges aus einer vom Ausgang des Detektors gesteuerten χrozessteuerungseinrichtung besteht.b) . dtrumungsanalysator nach Anspruch 1I-, dadurch gekennzeichnet, dass die lünrichtung zum periodischen Auswahlen vorherbestimmter Paare von ^infallswinkelxi aufweist eine Anzahl von iiintrittsschlitzen, die mit kleinem Abstand nebeneinander und quer zur/] OHo 3 1 / 16 178AD ORIGINAL\ · f 6-48.8 8 5auffallenden Strahlung angeordnet sind, einen hin- und herbewegbaren lichtundurchlässigen Verschluss mit mindestens einem Fenster', der so angeordnet ist, dass ein erstes vorherbestimmtes Paar von aintrittsschlitzen für die durch das Fenster einfallende Strahlung freigegeben wird, welcher Verschluss zwischen den üintrittsschlitzenund der aus der .Lichtquelle einfallenden Strahlung angeordnet ist, und ein steuerbares Mittel zum Min- und herbextfer.en des Verschlusses nach beiden Seiten, wobei mindestens ein zusätzliches Paar von ■ciintrittsschlitzen freigelegt wird, welches steuerbare frittel mit der einrichtung zum Auswerten des Detektorausganges koordiniert ist.9) Strö'mungsanalysator -nach -Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das steuerbare hittel aus einem Luftzylinder besteht««»w <** bad10 9 8 31/1617
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US58446766A | 1966-10-05 | 1966-10-05 |
Publications (1)
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---|---|
DE1648885A1 true DE1648885A1 (de) | 1971-07-29 |
Family
ID=24337439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19671648885 Pending DE1648885A1 (de) | 1966-10-05 | 1967-10-03 | Geraet zum Analysieren von Stroemungen |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3519816A (de) |
BE (1) | BE704720A (de) |
DE (1) | DE1648885A1 (de) |
FR (1) | FR1563669A (de) |
GB (1) | GB1205249A (de) |
NL (1) | NL6713488A (de) |
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- 1966-10-05 US US584467A patent/US3519816A/en not_active Expired - Lifetime
-
1967
- 1967-10-03 DE DE19671648885 patent/DE1648885A1/de active Pending
- 1967-10-03 FR FR1563669D patent/FR1563669A/fr not_active Expired
- 1967-10-04 NL NL6713488A patent/NL6713488A/xx unknown
- 1967-10-04 GB GB45106/67A patent/GB1205249A/en not_active Expired
- 1967-10-05 BE BE704720D patent/BE704720A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1205249A (en) | 1970-09-16 |
BE704720A (de) | 1968-04-05 |
FR1563669A (de) | 1969-04-18 |
NL6713488A (de) | 1968-04-08 |
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