JPS6332351A - 吸光光度計 - Google Patents
吸光光度計Info
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N2021/3155—Measuring in two spectral ranges, e.g. UV and visible
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、吸光光度計、特に、液体グロマトグラフの検
出器として用いられる吸光光度計に関するものである。
出器として用いられる吸光光度計に関するものである。
液体クロマトグラフ、特に、ミクロ液体クロマトグラフ
、超高速液体クロマトグラフ用の検出器として用いられ
る吸光光度計には、日本分光社発行のカタログ１ＪＶＩ
［１ＥＣ−１００Ｉ Ｖに開示されているようなＵｖ分
光光度計がある。この方式の吸光光度計は液体クロマト
グラフ用として一般に広く用いられているが、その光学
系は第７図に示すよようなっている。この図で、３０は
光源、３１は回折格子、３２．３３及び３４はミラー、
３５はフローセル、３６はビームスプリッタ、３７及び
３８はフォトセルを示している。この光学系ではフロー
セル３５の手前にビームスプリンタ３６を設置し、光の
一部をモニター側のフォトセル３８に向けている。そし
て、このような構成によって光源変動等に起因する信号
の変動をある程度は補正するようになっているが、フロ
ーセルの中を流れる液の状態に起因する変動に対する配
慮はなされていない。
、超高速液体クロマトグラフ用の検出器として用いられ
る吸光光度計には、日本分光社発行のカタログ１ＪＶＩ
［１ＥＣ−１００Ｉ Ｖに開示されているようなＵｖ分
光光度計がある。この方式の吸光光度計は液体クロマト
グラフ用として一般に広く用いられているが、その光学
系は第７図に示すよようなっている。この図で、３０は
光源、３１は回折格子、３２．３３及び３４はミラー、
３５はフローセル、３６はビームスプリッタ、３７及び
３８はフォトセルを示している。この光学系ではフロー
セル３５の手前にビームスプリンタ３６を設置し、光の
一部をモニター側のフォトセル３８に向けている。そし
て、このような構成によって光源変動等に起因する信号
の変動をある程度は補正するようになっているが、フロ
ーセルの中を流れる液の状態に起因する変動に対する配
慮はなされていない。
一方、現在用いられている液体クロマトグラフの動向は
ミクロ化へ向いており、セルの流路（すなわち光路）の
内径は小さくなる一途にあるため、液の流速、温度２組
成比の変化により屈折率の変化による問題が生じ易くな
っている。すなわち、わずかな光軸のずれによっても、
セル壁に当り、カットされる光の量が変化し、信号レベ
ルの変動を生じる。
ミクロ化へ向いており、セルの流路（すなわち光路）の
内径は小さくなる一途にあるため、液の流速、温度２組
成比の変化により屈折率の変化による問題が生じ易くな
っている。すなわち、わずかな光軸のずれによっても、
セル壁に当り、カットされる光の量が変化し、信号レベ
ルの変動を生じる。
またこのような変動以外においても、例えば光源の発光
点の位置的変動や、空気のゆらぎによる変動においても
しばしば補正が不完全となる。従って、従来の吸光光度
計では、測定光はフローセルを通過し、参照先はスリッ
トを通過後、検出器で受光されるため、光路に幾何的な
差異があり、光軸のわずかなずれが、どのように光量の
変化に結びつくかが、両者によって異なっており、常に
安定した測定を行なうことができなかった。
点の位置的変動や、空気のゆらぎによる変動においても
しばしば補正が不完全となる。従って、従来の吸光光度
計では、測定光はフローセルを通過し、参照先はスリッ
トを通過後、検出器で受光されるため、光路に幾何的な
差異があり、光軸のわずかなずれが、どのように光量の
変化に結びつくかが、両者によって異なっており、常に
安定した測定を行なうことができなかった。
本発明は、従来の技術の問題点を除去し、光源の発光点
が移動したり、空気のゆらぎにより光軸がずれたり、試
料セル中の試料液の密度が変化したりしても、常に安定
して測定が可能な吸光光度計を提供可能とすることを目
的とする。
が移動したり、空気のゆらぎにより光軸がずれたり、試
料セル中の試料液の密度が変化したりしても、常に安定
して測定が可能な吸光光度計を提供可能とすることを目
的とする。
前述の目的を達成するためにとられた本発明の構成は、
光源と分散手段よりなる波長可変の分光器とを有する吸
光光度計において、前記光源と前記分散手段との間に位
置し該光源から該分散手段に至る光路を二系統に分割し
、前記光源からの光を異なる入射角で前記分散手段に入
射させる光路分割手段と、前記分散手段の分散光を一方
向から取り出し二波長の重畳した光を試料セル中の試料
に入射させる手段と、該試料の透過光を前記波長ごとに
分離検出する検出手段と、該検出手段の異なる波長にお
ける検出結果を比演算する演算器とを有することを第一
の特徴とし、光源と、回折格子よりなる波長可変の分光
器とを有する吸光光度計において、可視域の光の一次の
回折光と紫外域の光の二次の回折光が同一方向に散乱す
る回折格子と、該回折格子の分散光を前記一次の回折光
と前記二次の回折光が同一方向に散乱する方向から、取
り出し二波長の重複した光を試料セル中の試料に入射さ
せる手段と、該試料の′６過光を前記波長ごとに分離検
出する検出手段と、該検出手段の異なる波長における検
出結果を比較演算する演算器とを有することを第二の特
徴とするものである。
光源と分散手段よりなる波長可変の分光器とを有する吸
光光度計において、前記光源と前記分散手段との間に位
置し該光源から該分散手段に至る光路を二系統に分割し
、前記光源からの光を異なる入射角で前記分散手段に入
射させる光路分割手段と、前記分散手段の分散光を一方
向から取り出し二波長の重畳した光を試料セル中の試料
に入射させる手段と、該試料の透過光を前記波長ごとに
分離検出する検出手段と、該検出手段の異なる波長にお
ける検出結果を比演算する演算器とを有することを第一
の特徴とし、光源と、回折格子よりなる波長可変の分光
器とを有する吸光光度計において、可視域の光の一次の
回折光と紫外域の光の二次の回折光が同一方向に散乱す
る回折格子と、該回折格子の分散光を前記一次の回折光
と前記二次の回折光が同一方向に散乱する方向から、取
り出し二波長の重複した光を試料セル中の試料に入射さ
せる手段と、該試料の′６過光を前記波長ごとに分離検
出する検出手段と、該検出手段の異なる波長における検
出結果を比較演算する演算器とを有することを第二の特
徴とするものである。
すなわち、本発明の吸光光度計は、試料セルの前段に位
［１ｔする分光器に、吸光光度の測定に用いられる波長
の光（以下測定光と称する）に、これよりも長波長の参
照光を混在させる光学系を用い、試料セル後方に、測定
光と参照光とを分離する手段を設置することにより各々
の光を検出するようになっており、さら測定光を参照光
で割算するための割算手段が設けられている。
［１ｔする分光器に、吸光光度の測定に用いられる波長
の光（以下測定光と称する）に、これよりも長波長の参
照光を混在させる光学系を用い、試料セル後方に、測定
光と参照光とを分離する手段を設置することにより各々
の光を検出するようになっており、さら測定光を参照光
で割算するための割算手段が設けられている。
この際測定光は、試料液中の測定物質の吸収波長とし、
参照先の波長は、これよりも十分長波長とする。
参照先の波長は、これよりも十分長波長とする。
本発明の第１の発明の吸光光度計において、試料セルの
前段に位置する、例えば、回折格子のような分散手段よ
りなる波長可変の分光器は、光源より出た白色光を分光
して特定の波長を取り出す作用をするが、この光源と分
散手段との間には、光路分割手段が設けられており、こ
の光路分割手段によって光源から分散手段に至る光路を
二系胱に分割し光源からの光を異なる入射角で分散手段
に入射させることができ、これによって、分散手段の分
散光を一方向から取り出し二波長の重畳した光を試料セ
ル中の試料に入射させることができる。これによって同
一ウｌＣ源より同時しこ発生する光を参照光として使用
することができる。
前段に位置する、例えば、回折格子のような分散手段よ
りなる波長可変の分光器は、光源より出た白色光を分光
して特定の波長を取り出す作用をするが、この光源と分
散手段との間には、光路分割手段が設けられており、こ
の光路分割手段によって光源から分散手段に至る光路を
二系胱に分割し光源からの光を異なる入射角で分散手段
に入射させることができ、これによって、分散手段の分
散光を一方向から取り出し二波長の重畳した光を試料セ
ル中の試料に入射させることができる。これによって同
一ウｌＣ源より同時しこ発生する光を参照光として使用
することができる。
そして、波長の異なる二つの光の内の一つは試料光とし
て試料液中の測定対象物質の吸収波長に設定し、他の一
つは参照光として、測定対象物質の吸収を受けない波長
に設定しておけば、後者の参照先はｉｌｌ！Ｉ定対象物
質の吸収は受けないが測定光と同じ変動を受けることに
なるので変動検出作用を行うことができる。
て試料液中の測定対象物質の吸収波長に設定し、他の一
つは参照光として、測定対象物質の吸収を受けない波長
に設定しておけば、後者の参照先はｉｌｌ！Ｉ定対象物
質の吸収は受けないが測定光と同じ変動を受けることに
なるので変動検出作用を行うことができる。
また、試料セルの後段には、検出手段と演算器とが設け
られており、検出手段によって試料の透過光を波長ごと
に分離検出することができ、分離検出された二つの光の
内の参照光を用い演算器で比演算するようになっている
ので、光源の発光点の移動、空気のゆらぎによる光軸の
ずれ、試料セル中の試料液の密度の変化等、総ての種類
の変動を最終的に補正することができ、常に安定した測
定が可能となる。
られており、検出手段によって試料の透過光を波長ごと
に分離検出することができ、分離検出された二つの光の
内の参照光を用い演算器で比演算するようになっている
ので、光源の発光点の移動、空気のゆらぎによる光軸の
ずれ、試料セル中の試料液の密度の変化等、総ての種類
の変動を最終的に補正することができ、常に安定した測
定が可能となる。
なお、本発明の第２の発明の吸光光度計においては、分
光器に可視域の光の一次の回折光と紫外域の光の二次の
回折光が同一方向に散乱する回折格子よりなる波長可変
の分光器が用いられているので、二波長の重複しした光
を試料セル中の試料に入射させることができ、前述の第
１の発明と同様に試料の透過光を波長ごとに分離検出し
て、比演算することによって、第１の発明と同様の効果
を得ることができる。
光器に可視域の光の一次の回折光と紫外域の光の二次の
回折光が同一方向に散乱する回折格子よりなる波長可変
の分光器が用いられているので、二波長の重複しした光
を試料セル中の試料に入射させることができ、前述の第
１の発明と同様に試料の透過光を波長ごとに分離検出し
て、比演算することによって、第１の発明と同様の効果
を得ることができる。
以上の如く、この発明の吸光光度計は、測定光と参照光
とを対象物質の吸収以外の全てについて同一とすること
ができるので、最終的に全ての種類の変動を補正し安定
化させる作用を有している。
とを対象物質の吸収以外の全てについて同一とすること
ができるので、最終的に全ての種類の変動を補正し安定
化させる作用を有している。
以下、実施例について説明する。
第１図は、本発明の吸光光度計の第１の実施例の平面図
で、１は光源、２は集光ミラー、３はマスク、４は入射
スリット、５はビームスプリッタ、６はミラー、７はシ
ョートカットフィルター、８はミラー、９は凹面回折格
子、１０は波長バー、１１はダイアル、１２は波長カム
、１３はフローセル、１４はレンズ、１５は回折格子、
１６は測定用検出器、１７はショートカットフィルター
、１８は参照用検出器、１９は信号処理回路を示してい
る。
で、１は光源、２は集光ミラー、３はマスク、４は入射
スリット、５はビームスプリッタ、６はミラー、７はシ
ョートカットフィルター、８はミラー、９は凹面回折格
子、１０は波長バー、１１はダイアル、１２は波長カム
、１３はフローセル、１４はレンズ、１５は回折格子、
１６は測定用検出器、１７はショートカットフィルター
、１８は参照用検出器、１９は信号処理回路を示してい
る。
この吸光光度計では、光源１より出た光は、集光ミラー
２により集光され、マスク３を通った後、入射ス°リッ
ト４より分光器内に入る。主光束は、ミラー８により反
射され、凹面回折格子９に入り、分散された後特定の波
長の光がフローセル１３を通過する。また分光器内のビ
ームスプリッタ５により光の一部が主光束とは別の方向
へ取り出され、ミラー６、ショートカットフィルター７
を経由して、凹面回折格子９に入射した後分散されて、
特定ノ波長の光が、フローセル１３を通過する。この際
、ミラー８を経由する主光束よりも、ビームスプリッタ
５により取り出されてミラー６、ショートカットフィル
ター７を経由する光の方が長波長となる。すなわち、光
の波長をλ１回折格子の入射角をα、回折角をβ、格子
定数をｄとした時、λ 一次回折光に関し、ｓｉｎα ＋ｓｉｎα＝−が成り立
つが、第１図においては、α、βがともに正となり、フ
ローセルに入射する二種類の光に対しβが共通となるた
め、αの大きい方が長波長となる。
２により集光され、マスク３を通った後、入射ス°リッ
ト４より分光器内に入る。主光束は、ミラー８により反
射され、凹面回折格子９に入り、分散された後特定の波
長の光がフローセル１３を通過する。また分光器内のビ
ームスプリッタ５により光の一部が主光束とは別の方向
へ取り出され、ミラー６、ショートカットフィルター７
を経由して、凹面回折格子９に入射した後分散されて、
特定ノ波長の光が、フローセル１３を通過する。この際
、ミラー８を経由する主光束よりも、ビームスプリッタ
５により取り出されてミラー６、ショートカットフィル
ター７を経由する光の方が長波長となる。すなわち、光
の波長をλ１回折格子の入射角をα、回折角をβ、格子
定数をｄとした時、λ 一次回折光に関し、ｓｉｎα ＋ｓｉｎα＝−が成り立
つが、第１図においては、α、βがともに正となり、フ
ローセルに入射する二種類の光に対しβが共通となるた
め、αの大きい方が長波長となる。
フローセル１３の後方には、レンズ１４と回折格子１５
が設けられている。レンズ１４により集光された光は、
回折路’／−１５ｋこより分散される。ミラー８を経由
してきたｉｉ？！Ｉ定光の一次回折光は、測定用検出器
１６により受光される。ミラー６、ショートカットフィ
ルター７を経由してきた参照先のゼロ次光は、ショート
カットフィルター１７を経由して、参照用検出器１８で
受光される。
が設けられている。レンズ１４により集光された光は、
回折路’／−１５ｋこより分散される。ミラー８を経由
してきたｉｉ？！Ｉ定光の一次回折光は、測定用検出器
１６により受光される。ミラー６、ショートカットフィ
ルター７を経由してきた参照先のゼロ次光は、ショート
カットフィルター１７を経由して、参照用検出器１８で
受光される。
回折路Ｔ−１５として焦点距離の短い凹面回折格子を採
用すると、レンズ１４は省略することができる。また参
照用検出器でゼロ次光を受光せず、一次分散光の長波長
成分を受光する位置に参照用検出器を設置することもで
きる。
用すると、レンズ１４は省略することができる。また参
照用検出器でゼロ次光を受光せず、一次分散光の長波長
成分を受光する位置に参照用検出器を設置することもで
きる。
第２図は、第１図の実施例の回折格子１５．測定用検出
器１６．参照用検出器１７を含む検出系において、一次
回折光を測定用検出器１６で受光し、ゼロ次光を参照光
検出器１７で受光する理由を示したもので、横軸に波長
（ｎｍ）、縦軸にエネルギー効率（％）がとっである。
器１６．参照用検出器１７を含む検出系において、一次
回折光を測定用検出器１６で受光し、ゼロ次光を参照光
検出器１７で受光する理由を示したもので、横軸に波長
（ｎｍ）、縦軸にエネルギー効率（％）がとっである。
回折格子１５のブレーズ波長を２００ｎｍ付近に設定す
ると、紫外域においては、一次回折光が、高いエネルギ
ー効率を有する。他方、長波長になるに従い、ゼロ次光
の方が効率が高くなり、多くの場合、可視域では、ゼロ
次光の方がエネルギー効率が高くなる。一般に、参照光
は、測定光より、１００〜３００ｎｍ長波長に設定され
るため、測定光については一次回折光を、参照先につい
てはゼロ次光を測定している。
ると、紫外域においては、一次回折光が、高いエネルギ
ー効率を有する。他方、長波長になるに従い、ゼロ次光
の方が効率が高くなり、多くの場合、可視域では、ゼロ
次光の方がエネルギー効率が高くなる。一般に、参照光
は、測定光より、１００〜３００ｎｍ長波長に設定され
るため、測定光については一次回折光を、参照先につい
てはゼロ次光を測定している。
従って、測定光の波長は、測定対象物質の吸収ピーク波
長付近に設定され、参照先はこれより１００〜３００ｎ
ｍ長波長側の、測定対象物質の吸収の無視し得る波長に
設定される。
長付近に設定され、参照先はこれより１００〜３００ｎ
ｍ長波長側の、測定対象物質の吸収の無視し得る波長に
設定される。
第３図は１本発明を用いた場合の効果を従来法を用いた
場合と比較して示す図である。横軸、縦軸にそれぞれ時
間、吸光度出力がとってあり。
場合と比較して示す図である。横軸、縦軸にそれぞれ時
間、吸光度出力がとってあり。
（ａ）及び（ｂ）はそれぞれ本発明及び従来の吸光光度
計を用いた場合を示している。フローセル内を流れる液
体の屈折率が、混合比の変化、流量の変化に伴う圧力変
化、温度変化により変化した場合、これにより光軸の変
化が生じ、従来の吸ソＣ光度計においては、光量が変化
し、吸光度側定時に（ｂ）に示したようなベースライン
変化が生じる。これに対して本発明の吸光光度計では、
測定光、参照先はほぼ同様の変化を受けるため、比演算
結果を信号とすることにより、これが（ａ）に示したよ
うに補正される。
計を用いた場合を示している。フローセル内を流れる液
体の屈折率が、混合比の変化、流量の変化に伴う圧力変
化、温度変化により変化した場合、これにより光軸の変
化が生じ、従来の吸ソＣ光度計においては、光量が変化
し、吸光度側定時に（ｂ）に示したようなベースライン
変化が生じる。これに対して本発明の吸光光度計では、
測定光、参照先はほぼ同様の変化を受けるため、比演算
結果を信号とすることにより、これが（ａ）に示したよ
うに補正される。
また、アーク放電を原理とする光源においてしばしば生
ずるように、発光点が位置的に変動する場合及び空気の
ゆらぎにより光軸がずれる場合においても、本発明の吸
光光度計では正確に補正できる。これは、本発明の吸光
光度計の参照光が、測定光と同様にフローセルを通過す
るのに対し、従来の吸光光度計の参照光がフローセルと
は異なった形状の間隙を通過し、またフローセルと参照
側間隙の位置の対応を十分に調整することが困難なため
である。
ずるように、発光点が位置的に変動する場合及び空気の
ゆらぎにより光軸がずれる場合においても、本発明の吸
光光度計では正確に補正できる。これは、本発明の吸光
光度計の参照光が、測定光と同様にフローセルを通過す
るのに対し、従来の吸光光度計の参照光がフローセルと
は異なった形状の間隙を通過し、またフローセルと参照
側間隙の位置の対応を十分に調整することが困難なため
である。
第４図は、本発明の第２の実施例の機能を説明する光路
系統図で第１図と同一の部分には同一の符号が付してあ
り、２０はレンズ、２１はビームスプリッタ、２２はミ
ラー、２３は第１の入射スリット、２４は第２の入射ス
リット、２５はビームスプリッタ、２６はバンドパスフ
ィルター、２７はショートカットフィルターを示してい
る。
系統図で第１図と同一の部分には同一の符号が付してあ
り、２０はレンズ、２１はビームスプリッタ、２２はミ
ラー、２３は第１の入射スリット、２４は第２の入射ス
リット、２５はビームスプリッタ、２６はバンドパスフ
ィルター、２７はショートカットフィルターを示してい
る。
この実施例の吸光光度計では、光ｇ１より出た光は、レ
ンズ２０により集光されて、第１の入射スリット２３よ
り分光器内に入り、凹面回折格子９により分散された後
特定の波長（これをλ１とする）の光が、フローセル１
３を通過する。他方、ビームスプリッタ２１により光の
一部が取り出されてミラー２２で反射した後、第２の入
射スリット２４より分光器内に入る。この光は、第１の
入射スリットより入った光と別の角度で凹面回折格子９
に入射するため、フローセル１３へ向う光の波長は、λ
１とは異なる。（ここれをλ２とする。）凹面回折格子
９が、第４図に示されている角度にあるときは、λ２は
λ１よりも大きな値すなわち長波長となる。フローセル
１３を通過した光は、ビームスプリッタ２５により分割
されて二方向へ向う。一方では、バンドパスフィルター
２６により波長λ１の光のみが取り出されて、測定側検
出器１６に入る。
ンズ２０により集光されて、第１の入射スリット２３よ
り分光器内に入り、凹面回折格子９により分散された後
特定の波長（これをλ１とする）の光が、フローセル１
３を通過する。他方、ビームスプリッタ２１により光の
一部が取り出されてミラー２２で反射した後、第２の入
射スリット２４より分光器内に入る。この光は、第１の
入射スリットより入った光と別の角度で凹面回折格子９
に入射するため、フローセル１３へ向う光の波長は、λ
１とは異なる。（ここれをλ２とする。）凹面回折格子
９が、第４図に示されている角度にあるときは、λ２は
λ１よりも大きな値すなわち長波長となる。フローセル
１３を通過した光は、ビームスプリッタ２５により分割
されて二方向へ向う。一方では、バンドパスフィルター
２６により波長λ１の光のみが取り出されて、測定側検
出器１６に入る。
他方では、ショートカットフィルター２７により波長λ
２の光のみが取り出されて参照側検出器１８に入射する
。フローセル透過後ビームスプリッタとフィルターで二
種類の波長の光を分離する代りに、回折格子またはプリ
ズムで分離することできる。
２の光のみが取り出されて参照側検出器１８に入射する
。フローセル透過後ビームスプリッタとフィルターで二
種類の波長の光を分離する代りに、回折格子またはプリ
ズムで分離することできる。
第５図は、本発明の第３の実施例における光学系統図で
ある。この図で、第１図及び第４図と同一の部分には同
一の符号が付してあり、２８はセクターミラー、２９は
検出器を示している。この実施例では第４図の第２の実
施例におけるビームスプリンタ２１の代りにセクターミ
ラー２８を用い１時分割的に第１の入射スリット２３側
と第２の入射スリット２４側に光を振り分けるようにな
っている。この場合は、フローセル１３の後方に、唯一
の検出器２９があり、この検出器２９の出力信号は、測
定信号と参照信−号の双方を含むが、セクターミラー２
８と同期したサンプリングにより、これらの信号を分離
して取り出すことができる。
ある。この図で、第１図及び第４図と同一の部分には同
一の符号が付してあり、２８はセクターミラー、２９は
検出器を示している。この実施例では第４図の第２の実
施例におけるビームスプリンタ２１の代りにセクターミ
ラー２８を用い１時分割的に第１の入射スリット２３側
と第２の入射スリット２４側に光を振り分けるようにな
っている。この場合は、フローセル１３の後方に、唯一
の検出器２９があり、この検出器２９の出力信号は、測
定信号と参照信−号の双方を含むが、セクターミラー２
８と同期したサンプリングにより、これらの信号を分離
して取り出すことができる。
第６図は、本発明の第４の実施例における光学系統図で
ある。この図で、第１図、第４図及び第５図と同一部分
には同一符号が付してある。この実施例においては、フ
ローセル１３の前においては、全く光束を分割すること
を行なわず、入射スリット４より入射した光が単純に分
光されてフローセル１３へ向う。但し、凹面回折格子９
は、４００ｎｍ以上の長波長域にブレーズ波長を有し、
波長λ、の紫外光の２次の回折光と、波長λ２の可視光
の１次の回折光が重なってフローセル１３を通過するよ
うにする。フローセル１３通過後は。
ある。この図で、第１図、第４図及び第５図と同一部分
には同一符号が付してある。この実施例においては、フ
ローセル１３の前においては、全く光束を分割すること
を行なわず、入射スリット４より入射した光が単純に分
光されてフローセル１３へ向う。但し、凹面回折格子９
は、４００ｎｍ以上の長波長域にブレーズ波長を有し、
波長λ、の紫外光の２次の回折光と、波長λ２の可視光
の１次の回折光が重なってフローセル１３を通過するよ
うにする。フローセル１３通過後は。
第４図の実施例と同様にして各々の波長の光が取り出さ
れる。
れる。
以上の実施例の吸光光度計によれば、フローセルの内壁
に光の一部が当ってカットされても、フローセルの後で
カットされることによって生じる変動をモニターして補
正することができるので、光源の発光点が移動したり、
空気のゆらぎにより光軸がずれたり、フローセル中の液
の密度が変化したりしても、常に安定した測定ができる
という効果がある。
に光の一部が当ってカットされても、フローセルの後で
カットされることによって生じる変動をモニターして補
正することができるので、光源の発光点が移動したり、
空気のゆらぎにより光軸がずれたり、フローセル中の液
の密度が変化したりしても、常に安定した測定ができる
という効果がある。
本発明は、従来の技術の問題点を除去し、光源の発光点
が移動したり、空気のゆらぎにより光軸がずれたり、フ
ローセル中の試料液の密度が変化したりしても、常に安
定した測定が可能な吸光光度計を提供可能とするもので
、産業上の効果の大なるものである。
が移動したり、空気のゆらぎにより光軸がずれたり、フ
ローセル中の試料液の密度が変化したりしても、常に安
定した測定が可能な吸光光度計を提供可能とするもので
、産業上の効果の大なるものである。
第１図は本発明の吸光光度計の第１の実施例の平面図、
第２図は第１の実施例の原理を説明する。 線図、第３図は本発明を用いた場合の効果を従来法を用
いた場合と比較して示す線図、第４図、第５図及び第６
図はそれぞれ本発明の第２．第３及び第４の実施例の光
学系統図、第７図は従来の吸光光度計の光学系統図であ
る。 １・・・光源、４・・・入射スリット、５・・・ビーム
スプリッタ、９・・凹面回折格子、１３・・・フローセ
ル、１５・・・回折格子、１６・・・測定用検出器、１
８・・・参照用検出器、１９・・信号処理回路、２１・
・ビームスプリッタ、２３・・・第１の入射スリット、
２４・・第２の入射スリット、２８・・セクターミラー
、（ほか２名） 第 １ 図 第２１２１ そ液長（ｎ ｍ） 支イこｔｋ 吟ル■
第４図 第５図 第６図
第２図は第１の実施例の原理を説明する。 線図、第３図は本発明を用いた場合の効果を従来法を用
いた場合と比較して示す線図、第４図、第５図及び第６
図はそれぞれ本発明の第２．第３及び第４の実施例の光
学系統図、第７図は従来の吸光光度計の光学系統図であ
る。 １・・・光源、４・・・入射スリット、５・・・ビーム
スプリッタ、９・・凹面回折格子、１３・・・フローセ
ル、１５・・・回折格子、１６・・・測定用検出器、１
８・・・参照用検出器、１９・・信号処理回路、２１・
・ビームスプリッタ、２３・・・第１の入射スリット、
２４・・第２の入射スリット、２８・・セクターミラー
、（ほか２名） 第 １ 図 第２１２１ そ液長（ｎ ｍ） 支イこｔｋ 吟ル■
第４図 第５図 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光源と、分散手段よりなる波長可変の分光器とを有
する吸光光度計において、前記光源と前記分散手段との
間に位置し該光源から該分散手段に至る光路を二系統に
分割し、前記光源からの光を異なる入射角で前記分散手
段に入射させる光路分割手段と、前記分散手段の分散光
を一方向から取り出し二波長の重畳した光を試料セル中
の試料に入射させる手段と、該試料の透過光を前記波長
ごとに分離検出する検出手段と、該検出手段の異なる波
長における検出結果を比演算する演算器とを有すること
を特徴とする吸光光度計。 ２、前記光路分割手段が、ビームスプリッタとミラーと
からなり、前記検出手段が、前記試料の透過光を波長ご
とに分離するビームスプリッタと二個の検出器とからな
る特許請求の範囲第１項記載の吸光光度計。 ３、前記光路分割手段が、セクターミラーとミラーとか
らなり、前記検出手段が前記試料の透過光を検出する一
個の検出器と該検出器の検出信号を前記セクターミラー
と同期してサンプリングするサンプリング回路とからな
る特許請求の範囲第１項記載の吸光光度計。 ４、前記検出手段が、回折格子と二個の検出器とからな
り、該検出器をそれぞれゼロ次光位置と分散光位置とに
設置してある特許請求の範囲第１項又は第２項又は第３
項記載の吸光光度計。 ５、前記検出手段が、回折格子と二個の検出器とからな
り、該検出器をそれぞれ分散光に関する異なつた波長位
置に設置してある特許請求の範囲第１項又は第２項又は
第３項記載の吸光光度計。 ６、前記分散手段が、回折格子である特許請求の範囲第
１項から第５項までの何れか一項記載の吸光光度計。 ７、前記試料セルが、フローセルである特許請求の範囲
第１項から第６項までの何れか一項記載の吸光光度計。 ８、光源と、回折格子よりなる波長可変の分光器とを有
する吸光光度計において、可視域の光の一次の回折光と
紫外域の光の二次の回折光が同一方向に散乱する回折格
子と、該回折格子の分散光を前記一次の回折光と前記二
次の回折光が同一方向に散乱する方向から取り出し二波
長の重複した光を試料セル中の試料に入射させる手段と
、該試料の透過光を前記波長ごとに分離検出する検出手
段と、該検出手段の異なる波長における検出結果を比演
算する演算器とを有することを特徴とする吸光光度計。 ９、前記試料セルが、フローセルである特許請求の範囲
第８項記載の吸光光度計。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61176467A JPS6332351A (ja) | 1986-07-26 | 1986-07-26 | 吸光光度計 |
| US07/076,212 US4781456A (en) | 1986-07-26 | 1987-07-22 | Absorption photometer |
| DE3724852A DE3724852C2 (de) | 1986-07-26 | 1987-07-27 | Absorptionsphotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61176467A JPS6332351A (ja) | 1986-07-26 | 1986-07-26 | 吸光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6332351A true JPS6332351A (ja) | 1988-02-12 |
Family
ID=16014189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61176467A Pending JPS6332351A (ja) | 1986-07-26 | 1986-07-26 | 吸光光度計 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4781456A (ja) |
| JP (1) | JPS6332351A (ja) |
| DE (1) | DE3724852C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016161455A (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 液体クロマトグラフ用遠紫外吸光度検出装置 |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0619079Y2 (ja) * | 1988-04-28 | 1994-05-18 | オリンパス光学工業株式会社 | 自動分析装置における分光装置 |
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| US4875773A (en) * | 1988-05-06 | 1989-10-24 | Milton Roy Company | Optical system for a multidetector array spectrograph |
| FI90592C (fi) * | 1989-02-16 | 1994-02-25 | Anadis Instr Sa | IR-spektrometrinen analysointimenetelmä sekä IR-spektrometri |
| US5013155A (en) * | 1989-09-26 | 1991-05-07 | Chemetrics, Inc. | Portable spectrophotometric instrument having vial holder and light integrator |
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| US5422719A (en) * | 1993-11-12 | 1995-06-06 | Auburn International, Inc. | Multi-wave-length spectrofluorometer |
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| US6741348B2 (en) | 2002-04-29 | 2004-05-25 | The Curators Of The University Of Missouri | Ultrasensitive spectrophotometer |
| US7268881B2 (en) * | 2004-02-17 | 2007-09-11 | The Curators Of The University Of Missouri | Light scattering detector |
| US7262844B2 (en) * | 2005-01-13 | 2007-08-28 | The Curators Of The University Of Missouri | Ultrasensitive spectrophotometer |
| US7903252B2 (en) * | 2005-01-13 | 2011-03-08 | The Curators Of The University Of Missouri | Noise cancellation in fourier transform spectrophotometry |
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| AU2007222018A1 (en) | 2006-03-09 | 2007-09-13 | Alltech Associates, Inc. | Evaporative light scattering detector |
| WO2009152321A1 (en) * | 2008-06-11 | 2009-12-17 | The Curators Of The University Of Missouri | Liquid chromatography detector and flow controller therefor |
| DE102008054056A1 (de) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Spektrometrische Anordnung und Verfahren zum Ermitteln eines Temperaturwerts für einen Detektor eines Spektrometers |
| JP5915451B2 (ja) * | 2012-08-21 | 2016-05-11 | 株式会社島津製作所 | フローセル |
| US9568458B2 (en) * | 2014-08-21 | 2017-02-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical sensor for fluid analysis |
| CN104316629A (zh) * | 2014-10-14 | 2015-01-28 | 安徽皖仪科技股份有限公司 | 一种液相多通道检测器装置 |
| CN104596964B (zh) * | 2015-02-03 | 2017-05-31 | 黑龙江大学 | 一种半透明薄膜材料瞬态吸光度测量装置与方法 |
| CN106290168A (zh) * | 2015-05-18 | 2017-01-04 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 光检测单元、使用该光检测单元的液相色谱分析装置及液相色谱分析方法 |
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| US3279308A (en) * | 1963-12-02 | 1966-10-18 | Dow Chemical Co | Dispersive analyzer having means for segregating different wavelengths of radiation from a single source |
| US3519816A (en) * | 1966-10-05 | 1970-07-07 | Dow Chemical Co | Stream analyzer for radiation absorption analysis of a plurality of components |
| US3554649A (en) * | 1968-10-28 | 1971-01-12 | Princeton Applied Res Corp | Apparatus for slit illumination |
| US4022531A (en) * | 1973-10-17 | 1977-05-10 | U.S. Philips Corporation | Monochromator |
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| DD141862B1 (de) * | 1979-01-03 | 1981-02-25 | Joachim Mohr | Optisches system fuer spektralgeraete |
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| JPS6250641A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-05 | Hitachi Ltd | 吸光光度計を備えた分析装置 |
| JPH117118A (ja) * | 1997-06-17 | 1999-01-12 | Fuji Color Service Co Ltd | フィルム種判定装置 |
-
1986
- 1986-07-26 JP JP61176467A patent/JPS6332351A/ja active Pending
-
1987
- 1987-07-22 US US07/076,212 patent/US4781456A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-07-27 DE DE3724852A patent/DE3724852C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016161455A (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 液体クロマトグラフ用遠紫外吸光度検出装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3724852A1 (de) | 1988-01-28 |
| DE3724852C2 (de) | 1994-10-27 |
| US4781456A (en) | 1988-11-01 |
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