JPS5852550A - フロ−インジエクシヨン分析におけるゴ−ストピ−クの解消法 - Google Patents
フロ−インジエクシヨン分析におけるゴ−ストピ−クの解消法Info
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- JPS5852550A JPS5852550A JP56149522A JP14952281A JPS5852550A JP S5852550 A JPS5852550 A JP S5852550A JP 56149522 A JP56149522 A JP 56149522A JP 14952281 A JP14952281 A JP 14952281A JP S5852550 A JPS5852550 A JP S5852550A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、フローインジェクション分析法（以下ＦＩＡ
法と称す）に於ける分光測光のゴーストビークの解消法
に関する。
法と称す）に於ける分光測光のゴーストビークの解消法
に関する。
従来のンングルビームあるいはダブルビーム分光光度計
を使用して測定した場合、フローセルの中で起る吸光度
の時間変化をそのまま測定することになる。この場合、
たとえば塩類を含んだ試料（海水等）の測定を行った場
合、キャリア液（蒸留水又は試薬等）との境界面の密度
差によって、測定光が屈折し、みかけの吸光度が増加或
いは減少し、ゴーストビークが出現し、測光値に影響を
及ぼし、測定誤差の原因となる欠点がある。
を使用して測定した場合、フローセルの中で起る吸光度
の時間変化をそのまま測定することになる。この場合、
たとえば塩類を含んだ試料（海水等）の測定を行った場
合、キャリア液（蒸留水又は試薬等）との境界面の密度
差によって、測定光が屈折し、みかけの吸光度が増加或
いは減少し、ゴーストビークが出現し、測光値に影響を
及ぼし、測定誤差の原因となる欠点がある。
本発明の目的は、塩類等によるキャリア液との密度差に
よる測定誤差を多波長測光法によって解と肖することに
ある。
よる測定誤差を多波長測光法によって解と肖することに
ある。
本発明は、ＦＩＡ法によるゴーストビークを解消する手
段として多波長測光法を行う様にしたものである。
段として多波長測光法を行う様にしたものである。
以下に本発明の詳細な説明する。
第１図はＦＩＡ法の原理図である。
ポンプ１によって試薬２を連続して一定の流量で流して
おく。流れの途中に切換パルプ４を置き、試ｆ４３を一
定量流れの中に導入する。反応コイル５を通過する間に
試薬と混合して反応し発色する。
おく。流れの途中に切換パルプ４を置き、試ｆ４３を一
定量流れの中に導入する。反応コイル５を通過する間に
試薬と混合して反応し発色する。
これを検出器６に流し測定を行う。分光測光を行う場合
、この検出器６は、分光光度計とフローセルの組み合わ
せとなる。
、この検出器６は、分光光度計とフローセルの組み合わ
せとなる。
第２図は通常の測定によって得られる測定例を示す。（
ａ）は試薬と反応した試料がフローセルを通過する過程
を時間記録することによって得られる。
ａ）は試薬と反応した試料がフローセルを通過する過程
を時間記録することによって得られる。
（ｂ）はゴーストピークの代表的な例を示したものであ
る。これは、キャリア液として蒸留水を流しておき、塩
化す） ＩＪウム水溶液を一定量注入することによって
得られる。この場合、蒸留水も塩化ナトリウム水溶液も
、可視、紫外域の波長で測定する限りにおいては、無色
透明で、光学的に吸光度変化は生じないはずであるが、
実際の測定では境界面の密度差によってゴーストピーク
が出現する。
る。これは、キャリア液として蒸留水を流しておき、塩
化す） ＩＪウム水溶液を一定量注入することによって
得られる。この場合、蒸留水も塩化ナトリウム水溶液も
、可視、紫外域の波長で測定する限りにおいては、無色
透明で、光学的に吸光度変化は生じないはずであるが、
実際の測定では境界面の密度差によってゴーストピーク
が出現する。
試料がたとえば海水等の様に塩類を含んでいる場合、（
ａ）と（ｂ）の合成されたピークとなり、測光値に影響
を及はし、誤差の原因となる。
ａ）と（ｂ）の合成されたピークとなり、測光値に影響
を及はし、誤差の原因となる。
第３図に本発明の実施例を示す。
光源７からの白色光１３はフローセル８を通過した後、
分光器９に入る。ここで分散した単色光１４は、それぞ
れの波長位置に並べられた検知器１０に入る。検知器１
０からの電気信号全演算器１１に入れ信号処理を行う。
分光器９に入る。ここで分散した単色光１４は、それぞ
れの波長位置に並べられた検知器１０に入る。検知器１
０からの電気信号全演算器１１に入れ信号処理を行う。
得られた結果は記録計１２によって記録する。１５は試
料の流れを示す矢印である。
料の流れを示す矢印である。
本発明によるゴーストピークの解消手段として、２波長
測光法による信号処理がある。
測光法による信号処理がある。
１つのは号を吸収ピーク波長の橋知器からとりだし、も
う１つの信号を吸収の無い波長位置の検知器からとりだ
し、この両信号の差を得ることによって密度差による光
の屈折によるみかけの吸光度変化を除くことができる。
う１つの信号を吸収の無い波長位置の検知器からとりだ
し、この両信号の差を得ることによって密度差による光
の屈折によるみかけの吸光度変化を除くことができる。
この方法でほとんどゴーストピークを解消することがで
きる。
きる。
３波長の信号を取りだして演算することもまた可能であ
る。しかし微量の物質を高感度測定する場合や、ゴース
トピークを出現させる物質が塩化ナトリウムの様に単純
な物質でない場合、或いは、試薬そのものが着色してい
て、目的物質の吸収スペクトルに影響を及ぼす場合等、
２波長、３波長測光だけで完全に取り除くことが出来な
いことが実際の測定に於てはしばしば出てくる。
る。しかし微量の物質を高感度測定する場合や、ゴース
トピークを出現させる物質が塩化ナトリウムの様に単純
な物質でない場合、或いは、試薬そのものが着色してい
て、目的物質の吸収スペクトルに影響を及ぼす場合等、
２波長、３波長測光だけで完全に取り除くことが出来な
いことが実際の測定に於てはしばしば出てくる。
この様な場合は、吸収スペクトルを測定し、微分演算を
行うことによってゴーストを解消することが可能である
。すなわち、試薬と反応した試料がフローセルを通過す
る時に、同時に全波長域或いは反応生成物の吸収極太波
長の前後２０〜３０ｎｍの範囲の吸光度を測定し、微分
演算することによってゴーストの影響を除くことができ
る。
行うことによってゴーストを解消することが可能である
。すなわち、試薬と反応した試料がフローセルを通過す
る時に、同時に全波長域或いは反応生成物の吸収極太波
長の前後２０〜３０ｎｍの範囲の吸光度を測定し、微分
演算することによってゴーストの影響を除くことができ
る。
第４図に本発明の測定例を示す。
（ａ）は目的物質と妨害物質の合成された吸収スペクト
ル１６と、妨害物質の吸収スペクトル１７を示す。
ル１６と、妨害物質の吸収スペクトル１７を示す。
（ｂ）は（ａ）の１６の２次微分スペクトル１８及び１
７の２次微分スペクトル１９を示す。
７の２次微分スペクトル１９を示す。
このことからゴーストの影響を除いて目的物質の量を正
確に知ることができる。
確に知ることができる。
妨害物質の吸収スペクトルによっては、更に高次微分演
算を行うことによって有色試薬の吸収スペクトルによる
影響等、密度差以外によって起る測定誤差も除くことが
できる。
算を行うことによって有色試薬の吸収スペクトルによる
影響等、密度差以外によって起る測定誤差も除くことが
できる。
本発明によれば、ＦＩＡ法における妨害物質によるゴー
ストピークを除くことができる。
ストピークを除くことができる。
これによって目的物質の測定精度が向上するという効果
がある。
がある。
第１図はＦ Ｉ Ａ分析法の原理図、第２図はＦＩＡ法
によって得られる測定例の説明図、第３図は塩化すｌ−
ＩＪウム水溶液によって得られるゴーストピークの説明
図、第４図は本発明による測定例の説明図である。 １・・・試薬（キャリア液）、２・・・ボ／プ、３・・
・試料、４・・・切換バルブ、５・・・反応コイル、６
・・・検出器、７・・・光源、８・・・フローセル、９
・・・分光器、１０・・・検知器、１１・・・演算器、
１２・・・記録計、１３・・・白色光束、１４・・・単
色光束、１５・・・試料の流れ、１６・・・目的物質と
妨害物質の合成された吸収スペクトル、１７・・・妨害
物質の吸収スペクトル、１８・・・目的物質と妨害物質
の合成された吸収スペクトルの２次微分スペクトル、１
９・・・妨害物質の吸収スペクトルの２次微分スペクト
ル。 １高幣・茅） 図 ／ 第２ 目 （ａＬ） （ｂ） ＄４ 目 一浪畏 波長
によって得られる測定例の説明図、第３図は塩化すｌ−
ＩＪウム水溶液によって得られるゴーストピークの説明
図、第４図は本発明による測定例の説明図である。 １・・・試薬（キャリア液）、２・・・ボ／プ、３・・
・試料、４・・・切換バルブ、５・・・反応コイル、６
・・・検出器、７・・・光源、８・・・フローセル、９
・・・分光器、１０・・・検知器、１１・・・演算器、
１２・・・記録計、１３・・・白色光束、１４・・・単
色光束、１５・・・試料の流れ、１６・・・目的物質と
妨害物質の合成された吸収スペクトル、１７・・・妨害
物質の吸収スペクトル、１８・・・目的物質と妨害物質
の合成された吸収スペクトルの２次微分スペクトル、１
９・・・妨害物質の吸収スペクトルの２次微分スペクト
ル。 １高幣・茅） 図 ／ 第２ 目 （ａＬ） （ｂ） ＄４ 目 一浪畏 波長
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、連続した流れを利用して、その流れの中で試薬と試
料を混合、反応させて測定を行うフローインジエク７ヨ
ン分析法に於て、試料中の妨害物質によって生ずる、ゴ
ーストビークを多波長測光によって解消することを特徴
とするフローインジェクション分析におけるゴーストビ
ークの解消法。 ２、特許請求の範囲第１項において、信号をマイクロコ
ンピュータ等を利用して、任意の三波長。 多波長測光、微分演算等を行うことを特徴とするフロー
インジェクション分析におけるゴーストビークの解消法
。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149522A JPS5852550A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | フロ−インジエクシヨン分析におけるゴ−ストピ−クの解消法 |
| US06/421,377 US4557601A (en) | 1981-09-24 | 1982-09-22 | Elimination of ghost component in flow injection analysis method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149522A JPS5852550A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | フロ−インジエクシヨン分析におけるゴ−ストピ−クの解消法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5852550A true JPS5852550A (ja) | 1983-03-28 |
| JPH0131583B2 JPH0131583B2 (ja) | 1989-06-27 |
Family
ID=15476970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56149522A Granted JPS5852550A (ja) | 1981-09-24 | 1981-09-24 | フロ−インジエクシヨン分析におけるゴ−ストピ−クの解消法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4557601A (ja) |
| JP (1) | JPS5852550A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5870174A (en) * | 1994-02-08 | 1999-02-09 | Nishimoto Sangyo Co., Ltd. | Variable density image processing apparatus |
| JP2019086495A (ja) * | 2017-11-10 | 2019-06-06 | 株式会社三菱ケミカルアナリテック | 吸光光度法を利用した流れ分析法 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4669880A (en) * | 1985-02-21 | 1987-06-02 | The Perkin-Elmer Corporation | Apparatus for converting the wavelength resolution of a spectrophotometer |
| JPS6250641A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-05 | Hitachi Ltd | 吸光光度計を備えた分析装置 |
| US4958295A (en) * | 1986-05-21 | 1990-09-18 | Hercules Incorporated | Analyzing apparatus and method for analysis of liquid samples |
| IL82492A0 (en) * | 1986-05-21 | 1987-11-30 | Hercules Inc | Apparatus and method for analysis of liquid samples |
| JPS6332351A (ja) * | 1986-07-26 | 1988-02-12 | Hitachi Ltd | 吸光光度計 |
| FI90592C (fi) * | 1989-02-16 | 1994-02-25 | Anadis Instr Sa | IR-spektrometrinen analysointimenetelmä sekä IR-spektrometri |
| FI87116C (fi) * | 1989-03-13 | 1992-11-25 | Valtion Teknillinen | Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum |
| FI82863C (fi) * | 1989-09-05 | 1991-04-25 | Inoptics Oy | Spektrometriskt foerfarande och spektrometer. |
| US6406916B1 (en) * | 2001-01-22 | 2002-06-18 | General Electric Company | Method and apparatus for rapid quantitation of a dihydric phenol |
| EP2264449A1 (de) * | 2009-06-16 | 2010-12-22 | Hach Lange GmbH | Fotometrisches Verfahren zur quantitativen Bestimmung eines Analyts in Wasser |
| JP5047248B2 (ja) * | 2009-09-30 | 2012-10-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | フローセル，検出器、および液体クロマトグラフ |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5081578A (ja) * | 1973-11-21 | 1975-07-02 | ||
| JPS591971B2 (ja) * | 1975-03-26 | 1984-01-14 | 株式会社日立製作所 | ブンコウコウドケイ |
| DE2847176C2 (de) * | 1977-10-31 | 1982-05-06 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Verfahren zur photometrischen Bestimmung von Substanzen im Blutserum |
-
1981
- 1981-09-24 JP JP56149522A patent/JPS5852550A/ja active Granted
-
1982
- 1982-09-22 US US06/421,377 patent/US4557601A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5870174A (en) * | 1994-02-08 | 1999-02-09 | Nishimoto Sangyo Co., Ltd. | Variable density image processing apparatus |
| JP2019086495A (ja) * | 2017-11-10 | 2019-06-06 | 株式会社三菱ケミカルアナリテック | 吸光光度法を利用した流れ分析法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4557601A (en) | 1985-12-10 |
| JPH0131583B2 (ja) | 1989-06-27 |
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