FI87116C - Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum - Google Patents

Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum Download PDF

Info

Publication number
FI87116C
FI87116C FI896328A FI896328A FI87116C FI 87116 C FI87116 C FI 87116C FI 896328 A FI896328 A FI 896328A FI 896328 A FI896328 A FI 896328A FI 87116 C FI87116 C FI 87116C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
spectrum
gas
interfering
absorption
measured
Prior art date
Application number
FI896328A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI87116B (fi
FI896328A0 (fi
Inventor
Veli Linna
Jarmo Rantanen
Original Assignee
Valtion Teknillinen
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from FI891170A external-priority patent/FI891170A/fi
Publication of FI896328A0 publication Critical patent/FI896328A0/fi
Priority to FI896328A priority Critical patent/FI87116C/fi
Application filed by Valtion Teknillinen filed Critical Valtion Teknillinen
Priority to AU51836/90A priority patent/AU5183690A/en
Priority to PCT/FI1990/000063 priority patent/WO1990010851A1/en
Priority to EP19900904359 priority patent/EP0463019B1/en
Priority to DE69004252T priority patent/DE69004252T2/de
Priority to CA 2050313 priority patent/CA2050313A1/en
Priority to AT90904359T priority patent/ATE96540T1/de
Publication of FI87116B publication Critical patent/FI87116B/fi
Publication of FI87116C publication Critical patent/FI87116C/fi
Application granted granted Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/121Correction signals
    • G01N2201/1215Correction signals for interfering gases

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

87116 MENETELMÄ PÄÄLLEKKÄISTEN ABSORPTIOVÖIDEN EROTTELEMISEKSI TOISISTAAN INFRAPUNAS PEKTRISTÄ
Keksinnön kohteena on menetelmä päällekkäisten absorptiovöiden 5 erottelemiseksi toisistaan infrapunaspektristä, jossa mitattavan kaasun ja jonkin häiriökaasun absorptiovyöt osuvat päällekkäin samalle aaltolukualueelle, jolloin mitattavan kaasun tunnistus- ja pitoisuusmittaus spektrin perusteella on suoraan mahdotonta.
10
Nykyisin spektrometrit on yhdistetty tietokoneeseen, joka pystyy tallettamaan mitatun spektrin sekä vertaamaan sitä aiemmin mitattuihin spektreihin. Lisäksi tietokone mahdollistaa spektri-informaation käsittelyn ja automaattisen laskennan.
15
Kahden kaasun absorptiovyön osuminen samalle kohtaa on sinänsä tavallinen ilmiö. Esimerkiksi N20:n suurempi absorptiovyö jää C02 ja CO -kaasujen voimakkaiden absorptiovöiden alle. Tunnetaan käsittelyohjelmia, jotka vähentävät mittauskaasuspektristä 20 halutun aineen absorptiovyön yksinkertaisesti vain vähentämällä mitatuista intensiteeteistä halutun aineen spektrien määrittämät intensiteetit kerrottuna tietyllä vakiokertoimellä. Menetelmä on kuitenkin epätarkka, eikä sitä voida käyttää jäljelle jäävien kaasujen pitoisuuksien määrittämiseen, koska jäljelle 25 jäävä spektri on vääristynyt. Tämän keksinnön tarkoituksena on aikaansaada uudenlainen infrapunaspektrien käsittelymenetelmä, joka mahdollistaa päällekkäisten absorptiovöiden erottelun siten, että korjattu spektri vastaa halutuilta kohden laskennallisesti oikeaa spektriä ilman häiriökaasua. Keksinnön 30 tunnusmerkilliset piirteet on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa.
Seuraavassa keksintöä kuvataan esimerkkien avulla. Kuvassa 1 on esitetty keksinnön käyttöä määritettäessä savukaasun dityppiok-35 sidin (N20) pitoisuutta savukaasuissa.
Keksintöä on sovellettu Perkin-Elmer 1760 spektrometrillä, johon kuuluu ohjelmoitava mikrotietokone spektrien analysointia ja laskentaa varten. Kuvassa alimmainen spektri on saatu 2 87116 suoraan savukaasusta. Ylimmäinen spektri on tässä tapauksessa mitattavan kaasun eli dityppioksidin puhdas spektri tunnetulla pitoisuudella. Samanlaiset puhtaat spektrit tarvitaan myös häiriökaasuista, joita tässä tapauksessa ovat hiilidioksidi 5 CC>2/ hiilimonoksidi CO, vesihöyry H2O ja metaani CH4, jotka spektrit ladataan muistiin. Häiritsevien kaasujen todellista pitoisuutta ei ole tarpeen tietää.
Tässä tapauksessa hiilidioksidin ja hiilimonoksidin absorptio 10 on niin voimakas, että dityppioksidin voimakkain absorptiovyö (aaltoluvun 2220 cm -1 kohdalla) ei erotu suoraan mitatusta spektristä. Tässä tapauksessa kuitenkin C02in toinen absorptiovyö on häiriöttömällä alueella ja sen perusteella voidaan määrittää C02:n suhteellinen pitoisuusarvo. Esimerkiksi hiili-15 dioksidin absorptiovyö aaltoluvun 3700 cm-1 alueella voidaan määrittää ns. puhtaaksi alueeksi, mikä tarkoittaa ainoastaan hiilidioksidin aiheuttavan tällä kohtaa absorptiota. Vertaamalla tältä kohtaa mitattua intensiteettiä tai pinta-alaa vastaaviin suureisiin muistissa olevaan puhtaaseen spektriin saadaan 20 laskettua häiriöaineen suhteellinen pitoisuusarvo. Laskenta voidaan suorittaa käyttämällä rajatun alueen pinta-alaa, derivaattaa tai yksittäisen kohdan intensiteettiä. Jos pitoisuus määritetään absorptiovyön yksittäisen kohdan intensiteetin perusteella, saadaan pitoisuuskaavasta 25 (1) c = i/t b ln(Io/Ii) jossa c on kaasun pitoisuus 30 £. on molaarinen absorptiokerroin b on säteen kulkema matka näytetilassa I0 on alkuperäisen säteilyn intensiteetti 1^ on näytetilan läpäisseen säteilyn intensiteetti 35 Hiilimonoksidilla (CO) ei ole kokonaista absorptiovyötä häiriöttömällä alueella. Tässä tapauksessa kuitenkin C0:n absorptiopiikin (aaltoluvun 2140 cm-1 alueella) oikeanpuoleinen reuna on häiriöttömällä alueella, jolloin CO: n suhteellinen 3 87116 pitoisuus voidaan määrittää tämän absorptiovyön osan perusteella. Samanlainen operaatio suoritetaan muille häiriöaineille, kun ensin on määrätty niille ominaiset puhtaat alueet.
5 Häiriöaineen pitoisuuden laskemisen jälkeen sen absorptiokäyrä lasketulla pitoisuudella voidaan laskea yli koko alueen seuraavan kaavan mukaan: cl/c2 10 (2) li(k) = I0(k) [l2(k)/I0(k)] jossa li(k) on lasketun häiriökaasun spektrin intensiteet- tiarvo aaltoluvun k kohdalla 15 I2(k) on tietokoneen muistissa olevan häiriökaasun mallispektrin intensiteettiarvo aaltoluvun k kohdalla I0(k) on tulevan säteilyn intensiteetti kohdassa k C! on häiriökaasulle mitattu suhteellinen pitoisuus- 20 arvo C2 on tietokoneen muistissa olevan spektrin perus teella määritetty pitoisuuden vertailuarvo häiriökaasulle 25 Kuten kaavasta (2) havaitaan, häiriökaasun spektrin laskentakaavassa esiintyy vain pitoisuuksien suhde Cj/02, joten todellisia pitoisuuksia ei ole tarpeen tietää. Riittää, että tunnetaan suhteelliset arvot. Tästä syystä mallispektrin kaasulle voidaan valita sopiva pitoisuusarvo. Kaavan (2) mukaan 30 häiriökaasun spektrin intensiteetti lasketaan vuorotellen jokaisessa spektrin pisteessä. Laskenta on käytännössä nopeinta käyttämällä laitteen spektrinkäsittelyohjelmaan kuuluvia valmiita funktiotoimintoja, jotka voidaan kohdistaa kerralla koko spektriin. Tällaisia analyysiohjelmiin kuuluvia valmiita 35 toimintoja ovat esimerkiksi spektrin jakaminen ja kertominen keskenään tai kertominen vakioluvulla sekä logaritmien ja antilogaritmien laskeminen koko spektristä. Tällöin häiriös-pektri saadaan nopeasti kaavasta 4 87116 (3) Ιχ/Ιο = a log [Cl/c2 log(I2/I0) ] jossa I-L on laskettu häiriökaasuspektri 5 I2 on häiriökaasun mallispektri
Iq on tulevan säteen spektri C1 ja c2 ovat kuten kaavassa (2) Tämä laskettu intensiteetin vaimennus eli absorptio poistetaan 10 mitatusta spektristä siten, että mitattu spektri jaetaan häiriökaasun spektrillä. Jakolasku voidaan kuitenkin tehdä vain niillä kohden, joissa intensiteetillä on nollasta poikkeava arvo. Joka tapauksessa mitattavan kaasun eli tässä tapauksessa typpidioksidin absorptiovyötä saadaan häiriökaasujen takaa 15 esiin niin paljon, että se voidaan tunnistaa ja pitoisuus laskea. Samantapainen korjaus on tehty myös vesihöyryn suhteen, jolloin saadaan kuvassa keskellä näkyvä spektri, mikä kuvaa absorptiota ilman häiriökaasujen vaikutusta valitulla aaltolu-kualueella. Korjaus on tässä tehty vain osalle spektrin 20 aluetta. Korjatusta spektristä voidaan nyt laskea typenoksidien N20 ja N02 pitoisuudet tunnetuin keinoin.
Jos häiriökaasuspektrin konstruoinnissa esiintyy säännönmukaista epätarkkuutta, sitä voidaan korjata iteroinnilla. Oheisessa 25 kuvassa alimmasta spektristä on poistettu H20, C02, CO ja CH4, jolloin saadaan näkyviin N20 ja N02 puhtaana (keskimmäinen spektri). Kuvassa N20:n heikompi absorptiovyö on aaltolukualu-eella 1240 - 1330 cm"1, johon osuu myös metaanin (CH4) absorptiovyö. Metaanin häiriöpiikki voidaan poistaa sen puhtaalla 30 alueella (3020 cm -1) osuvan absorptiovyön avulla. Määrittämällä tästä piikistä metaanille pitoisuusarvo, N20:n vyön päälle osuva häiriöpiikki voidaan poistaa laskennallisesti.
Aina mitattavan kaasun pitoisuutta ei ole tarpeen määrittää 35 tarkasti, vaan vain todeta sen esiintyminen kaasussa. Tässä tapauksessa laskenta voidaan tehdä siten, että häiritsevän kaasun absorptiovaikutus vähennetään suoraan mitatusta spektristä. Tällä tavoin laskettuna spektrien pohjaviivaan jää

Claims (2)

5 87116 vähemmän kohinaa kuin edellä kuvatussa laskentatavassa. Suora vähennys kuitenkin vääristää häiriökaasun alta paljastuvan absorptiovyön intensiteettiä, joten tätä menetelmää ei voida soveltaa määritettäessä kaasun pitoisuutta. Etenkin, jos 5 häiriökaasun absorptiovyö on voimakas, intensiteettisuhteet vääristyvät voimakkaasti. 1. Menetelmä päällekkäisten absorptiovöiden erottelemi seksi toisistaan infrapunaspektristä, jossa osa mitattavan kaasun ja häiriökaasun absorptiovöistä osuu samoille aaltoluku-alueille, tunnettu siitä, että menetelmään kuuluu seuraavat vaiheet: 15 ladataan häiriökaasun puhdas spektri vertailupitoisuu-della muistiin; valitaan häiriökaasun spektristä puhdas aaltolukualue, joka ei mene minkään tutkittavan kaasun sisältämän muun 20 aineen spektrin kanssa päällekkäin; mitataan tutkittavan kaasuseoksen spektri, joka ladataan muistiin; edellä mainittu puhtaan alueen aaltolukualue määritetään ; 25 mitatusta spektristä, ja lasketaan häiriökaasun suhteel linen pitoisuusarvo tutkittavassa kaasussa tämän avulla; jaetaan mitattu spektri lasketulla häiriöspektrillä, jolloin saadaan korjattu spektri. 30 2. Vaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että häiriökaasun spektrin rekonstruoimiseksi määritetään mitatun spektrin pinta-ala sanotulla puhtaan alueen aaltolukualueella, jota verrataan vastaavaan pinta-alaan laskettuna häiriökaasun ' _ ' 35 puhtaasta spektristä vertailupitoisuudella, joiden avulla lasketaan pitoisuussuhde ja edelleen mainittu häiriöspektri. 6 87116
1. Förfarande för separering av överlappande absorptions-bälten frän varandra i ett infrarödspektrum, där en del av 5 absorptionsbältena för den gas sora skall mätäs och den störande gasen ligger pä samma väglängdsomräde, kännetecknad av att förfarandet innefattar följande faser: ett rent spektrum för den störande gasen laddas med 10 referenshalt in i minnet; frän den störande gasens spektrum väljs ett rent väglängdsomräde, vilket inte faller inora spektret för nägot av de ämnen som finns i den gas som skall undersökas; 15 spektret för den gas som skall undersökas mäts och laddas in i minnet; väglängdsomrädet för det ovan nämnda rena omrädet 20 definieras för det uppmätta spektret, och den störande gasens relativa andel beräknas av gasen som skall mätäs. det uppmätta spektret divideras med det beräknade störningsspektret, varvid man erhäller ett korrigerat .'·· 25 spektrum.
: 2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att man för att rekonstruera den störande gasens spektrum beräknar det . uppmätta spektrets yta pä det nämnda rena omrädets väglängds- 30 omräde, vilket jämförs med motsvarande yta beräknad för den . . störande gasens rena spektrum vid referenshalten, med vars hjälp man beräknar de relativa halterna och dessutom det nämnda • störningsspektret.
FI896328A 1989-03-13 1989-12-29 Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum FI87116C (fi)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI896328A FI87116C (fi) 1989-03-13 1989-12-29 Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum
AU51836/90A AU5183690A (en) 1989-03-13 1990-03-12 A method for distinguishing overlapping absorption bands of an infrared spectrum from one another
AT90904359T ATE96540T1 (de) 1989-03-13 1990-03-12 Verfahren zum unterscheiden ueberlappender infrarotabsorptionsbaender.
PCT/FI1990/000063 WO1990010851A1 (en) 1989-03-13 1990-03-12 A method for distinguishing overlapping absorption bands of an infrared spectrum from one another
EP19900904359 EP0463019B1 (en) 1989-03-13 1990-03-12 A method for distinguishing overlapping absorption bands of an infrared spectrum from one another
DE69004252T DE69004252T2 (de) 1989-03-13 1990-03-12 Verfahren zum unterscheiden überlappender infrarotabsorptionsbänder.
CA 2050313 CA2050313A1 (en) 1989-03-13 1990-03-12 Method for distinguishing overlapping absorption bands of an infrared spectrum from one another

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI891170A FI891170A (fi) 1989-03-13 1989-03-13 Saett att skilja pao varandra liggande absorptionsband fraon varandra i ett infraroedspektrum.
FI891170 1989-03-13
FI896328A FI87116C (fi) 1989-03-13 1989-12-29 Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum
FI896328 1989-12-29

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI896328A0 FI896328A0 (fi) 1989-12-29
FI87116B FI87116B (fi) 1992-08-14
FI87116C true FI87116C (fi) 1992-11-25

Family

ID=26158515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI896328A FI87116C (fi) 1989-03-13 1989-12-29 Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP0463019B1 (fi)
AU (1) AU5183690A (fi)
CA (1) CA2050313A1 (fi)
DE (1) DE69004252T2 (fi)
FI (1) FI87116C (fi)
WO (1) WO1990010851A1 (fi)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017528706A (ja) * 2014-08-20 2017-09-28 アンスティチュ ナショナル ドゥ ラ サンテ エ ドゥ ラ ルシェルシュ メディカル 吸収帯を決定するための方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57161518A (en) * 1981-03-31 1982-10-05 Anritsu Corp Self modulating spectrometer
JPS5852550A (ja) * 1981-09-24 1983-03-28 Hitachi Ltd フロ−インジエクシヨン分析におけるゴ−ストピ−クの解消法
US4587427A (en) * 1983-07-28 1986-05-06 Cmi, Inc. Breath analyzer
US4627014A (en) * 1984-04-09 1986-12-02 Eastman Kodak Company Method and apparatus for determination of an analyte and method of calibrating such apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
CA2050313A1 (en) 1990-09-14
WO1990010851A1 (en) 1990-09-20
AU5183690A (en) 1990-10-09
EP0463019A1 (en) 1992-01-02
FI87116B (fi) 1992-08-14
DE69004252D1 (de) 1993-12-02
FI896328A0 (fi) 1989-12-29
DE69004252T2 (de) 1994-05-19
EP0463019B1 (en) 1993-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2429733C (en) Stable isotope measurement method and apparatus by spectroscopy
ATE338940T1 (de) Verfahren zur gasemissions- und/oder flussmessung
JPH102857A (ja) 赤外法によるガス混合物の分析
US20180149586A1 (en) Gas analysis apparatus and gas analysis method
Axelsson et al. Differential optical absorption spectroscopy (DOAS) measurements of ozone in the 280–290 nm wavelength region
CN108037084A (zh) 一种适用于光度法原理水质自动分析仪的抗干扰测量方法
FI87116C (fi) Foerfarande foer avskiljning av pao varandra belaegna absorptionsband i infraroedspektrum
CN114993944A (zh) 一种甲烷和一氧化碳的共检测方法、装置及设备
US6983639B1 (en) Remote emissions sensing system with improved NOx detection
Kallonen Smoke gas analysis by FTIR method. Preliminary investigation
US5155545A (en) Method and apparatus for the spectroscopic concentration measurement of components in a gas mixture
JP2003050203A (ja) 非分散型赤外吸収式ガス分析装置及び分析方法
US6710347B1 (en) Device for measuring gas concentration
Saier et al. Quantitative determination of nitric oxide and nitrous oxide by infrared absorption
González-Gaitano et al. Analysis of the rotational structure of CO2 by FTIR spectroscopy
CN111912805B (zh) 一种高炉烟气中微量硫化氢监测的紫外光谱检测方法及装置
CN111912804B (zh) 一种高炉烟气中微量二氧化硫监测的紫外光谱检测方法及装置
JP2001099781A (ja) 赤外吸収法によるガス分析における共存ガス影響の補正方法
JPS58218639A (ja) 開光路方式の赤外線ガス分析装置
Butler et al. A system for on-line measurement of multicomponent emissions and engine operating parameters
KR102616114B1 (ko) 자동차 배기가스에 포함된 no 가스 검출기
JP3291934B2 (ja) 赤外線ガス分析計
US20050274899A1 (en) Spectroscopic system and method for analysis in harsh, changing environments
GB2048465A (en) A non-dispersive infra-red gas analyser
JP2009058527A (ja) 多成分を測定するためのndir光度計

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed
MM Patent lapsed

Owner name: VALTION TEKNILLINEN TUTKIMUSKESKUS/PPO