DE2651645A1 - Roentgenfluoreszenzspektrometer - Google Patents
RoentgenfluoreszenzspektrometerInfo
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Description
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"Röntgenfluoreszenzspektrometer"
Die Erfindung betrifft ein Röntgenfluoreszenzspektrometer
mit einer Röntgenstrahlenquelle. einem Strahlendetektor und einem analysierenden Kristall, der derart angeordnet ist,
daß Wellenlängerjdispersion auftritt und Röntgenstrahlung
einer bestimmten Wellenlänge im Detektor wenigstens nahezu mit einer Leitung quer zur Dispersionsrichtung zusammenfällt.
Ein derartiges Spektrometer ist z.B. aus der US-PS 2,842,670 bekannt. Bei dem bekannten Spektrographen besteht der Detektor
aus einem photographischen Film, dessen stellenweise Schwärzung nach der Durchführung der vollständigen Analyse
beispielsweise mit einem Densitometer gemessen werden muß. Auch kann der Detektor aus einem Zähler bestehen, der während
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der Messung das Meßfeld abtastet.
Der Ort der Schwärzung auf dem Film ist dabei für die in einer zu analysierenden Probe vorhandenen Elemente charakteristisch.
Ein Nachteil eines Spektrographen mit einem Film
als Detektor besteht darin, daß die Detektion keine "on-line"-Messung
erlaubt, d.h., daß jede Messung zunächst vollständig durchgeführt werden muß, bevor aus der Messung der Filmschwärzung
das Ergebnis bestimmbar ist. Häufig wird die Probe inzwischen durch eine andere ersetzt sein und es kann eine
mögliche nähere Bestimmung nicht durchgeführt werden, sondern es ist eine ganz neue Messung notwendig. Die ganze Messung
ist hierdurch äußerst zeitraubend.
Nachteilig ist ferner, daß der Film äußerst genau im Gerät montiert oder auf jedem Film eine Referenz aufgenommen werden
muß. Auch kann Längenverzerrung des Filmes die Meßgenauigkeit nachteilig beeinflussen. Ein Spektrometer, bei dem der Detektor
das Meßfeld abtastet, hat weiterhin den Nachteil, daß die Aufzeichnung der Lage des Detektors beim Messen für die
Meßgenauigkeit bestimmend ist. Dies erfordert einen verhältnismäßig aufwendigen Bewegungsmechanismus für den Detektor.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, diese Nachteile zu beseitigen. Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein Röntgenfluoreszenzspektrometer
der eingangs erwähnten Art nach der Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungsdetektor
im Spektrometer ortsfest angeordnet und stellenempfindlich und "on-line" lesbar ist.
Durch die Verwendung eines ortsfesten "on-line" auslesbaren
stellenempfindlichen Detektors können, ohne daß im Spektrometer bei der Messung zu bewegende Teile angeordnet sind, die
Meßdaten einer Probe direkt, also während der Messung, beurteilt werden. Hierdurch können gegebenenfalls nähere Messungen
sofort durchgeführt werden. In bezug auf einen simultan
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arbeitenden Spektrographen mit Detektoren, bei denen kein analysierender Kristall verwendet wird, ist ein besseres
Auflösungsvermögen verwirklicht.
Als positionsempfindlicher Detektor kann z.B. ein gasgefüllter Zähler verwendet werden, wie er in'"The Rev. of
Scientific Instruments" Vol. 39 (1968) Nr. 10, Seiten 1515 bis 1522 beschrieben ist. Auch andere positionsempfindliche
Detektoren, wie z.B. ein Si-Detektor oder eine Hochdruckkamera, können verwendet werden. Ein derartiger positionsempfindlicher
Detektor kann in der Dispersionsrichtung sowohl homogen ausgeführt als auch aus einer Reihe gesondert auslesbarer Detektoren
mit je einer verhältnismäßig geringen Abmessung in der
Dispersionsrichtung der zu messenden Strahlung aufgebaut sein.
Einige bevorzugte Ausführungsformen eines erfindungsgemäßen
Spektrometers verden nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen
Fig. 1 eine skizzenhafte Darstellung eines erfindungsgeraäßen
Spektrometers mit einem gasgefüllten Zähler als Detektor, Fig. 2, 3 und 4 Ausführungsbeispiele weiterer Detektoren.
In der Zeichnung ist eine Röntgenquelle 1 mit einem Glühdraht 2, einer Anode 3 und einem Austrittsfenster 4, eine auf einem
Probenträger 5 angeordnete Probe 7, ein analysierender Kristall 9 mit Kristallflächen 10 und ein Detektor 11 eines
Spektrometers dargestellt. Durch Verwendung der dazu geeigneten Fenster oder Filter kann die Strahlung der Röntgenquelle
1 chromatisiert werden.
Der analysierende Kristall 9 kann in bezug auf eine abschirmende Platte 13 derart angeordnet sein, daß nur eine Stirnfläche
des Kristalls 9 durch Röntgenstrahlung aus der Probe 7 angestrahlt werden kann. An der Stirnfläche 15 wird durch ein
Röntgenstrahlenbündel 17 aus der Röntgenquelle 1 erzeugte Fluoreszenzstrahlung 19 auf bekannte Weise abgebeugt und
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also in Abhängigkeit von der für jedes Element in der Probe charakteristischen Wellenlänge zerstreut. In der Zeichnung
sind zwei Diffraktionsrichtungen 21 und 23, d.h. Richtungen für zwei in der Fluoreszenzstrahlung auftretende Wellenlängen,
angegeben. Wenn nur die Stirnfläche 15 des Kristalls 9 wirksam benutzt wird, kann durch das Auftreten nur geringfügig
von der Wellenlänge unabhängiger und somit unerwünschter Streuung in der abgebeugten Strahlung ein verhältnismäßig
hohes Auflösungsvermögen verwirklicht v/erden, aber das zu detektierende Signal ist verhältnismäßig schwach. Es ist
dabei zu bedenken, daß die Abmessung des Kristalls 9 quer zur Abschirmplatte 13 gemessen beispielsweise ungefähr 0,1 mm
beträgt. Ein kräftigeres Signal kann dadurch erhalten werden, daß der Kristall 9 weiter hinter der Platte 13 herausragt,
so daß auch ein Teil 25 einer Seitenfläche angestrahlt wird und somit ebenfalls Übertragungsdiffraktion auftritt. Hierbei
tritt aber auch eine größere unerwünschte Streuung in der abgebeugten Strahlung auf. Ein vorteilhafter Wert für
das Maß des Herausragens eines flachen Kristalls 9 an der Platte 13 wird daher aus einem Kompromiß zwischen dem trennenden
Vermögen einerseits und der Signalstärke am Detektor andererseits bestimmt. Ein praktischer Wert ist bei dem hier
angegebenen Kristall 9 beispielsweise etwa 1 mm. In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist der analysierende
Kristall 9 derart gebogen, daß die Orientierung der Kristallflächen 10 ein darauf fallendes monochromatisches Röntgenstrahlenbündel
in ein in Dispersionsrichtung gesehen auf den Detektor fokussiertes Strahlenbündel abbeugt. Das zu detektierende
Signal kann auf diese Weise weiter verstärkt werden, ohne daß das Auflösungsvermögen dadurch reduziert wird. Um
zu vermeiden, daß die Strahlung direkt aus der Probe 7 oder sogar aus der Quelle 1 den Detektor 11 erreichen könnte, sind
in einer bevorzugten Ausführungsform neben der Abschirmplatte zwischen der Probe 7 und dem Detektor 11 weitere das Bündel
seitwärts abschirmende Platten 27 und 29 angeordnet. Diese abschirmenden Platten 27 und 29 bestehen vorzugsweise aus
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einem Werkstoff mit einer hohen Atomnummer, beispielsweise Blei.
In der hier dargestellten bevorzugten Ausführungsform besteht der Detektor 11 aus einem gebogenen gasgefüllten Zähler. Dieser
Zähler ist mit einem sehr homogenen Kollektordraht mit einem bestimmten Widerstandswert und Kapazitätswert pro Längeneinheit
gemäß der Beschreibung im bereits erwähnten Artikel aus "Rev. Sei. Inst." Vol. 39 ausgerüstet. Für eine gute
Anpassung des Detektors 11 an die Geometrie des Spektrographen
ist er gebogen, hier über einen Kreisbogen von ungefähr 90° mit einem Krümmungsradius von ungefähr 20 cm. Das Gehäuse 31
eines derartigen Zählers besteht beispielsweise aus einer Röhre, die an beiden Enden mit elektrisch isolierenden Propfen
abgeschlossen ist, die gleichfalls als Durchführungen für einen Kollektordraht 35 dienen, der beispielsweise aus einem
Kohlefaden besteht. An der dem analysierenden Kristall 9 zugewandten Seite ist die Röhre mit einem Strahlenfenster, beispielsweise
bestehend aus Beryll oder aluminisierter Mylarfolie,
versehen. Um eine gute zentrale Positionierung des Kollektordrahtes 35, auch über längere Zeit gesehen, zu gewährleisten,
wird er einer Vorbearbeitung unterworfen, wodurch ihm eine bleibende gebogene Form aufgeprägt wird. Auch
kann der Kollektordraht 35 durch stellenweise Abstützungen positioniert werden. Hierbei sind Störungen in der Potentialverteilung
im Zähler zu vermeiden, z.B. durch eine optimale Anpassung der Abstützungen an das bestehende Feld. Für das
positionsempfindliche Auslesen des Detektors 11 kann eine dafür bekannte elektronische Schaltung 37 verwendet werden,
die z.B. einen Energieanalysator und einen Mehrkanalanalysator
enthält.
In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist für die
Detektion ein Feststoffdetektor verwendet, der aus einer einfachen Reihe von Detektorelementen besteht, die gesondert
durch eine dafür bekannte elektronische Schaltung auslesbar sind, die oetzt pro Detektorelement die aufzuzeichnenden
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Signale empfängt. Auch derartige Detektoren mit dazu geeigneten Ausleseschaltungen sind an sich bekannt, aber nicht
in einer gebogenen Form.
Da das Auflösungsvermögen hier durch die Abmessung der Detektorelemente
bestimmt wird, braucht der Detektor nicht die gebogene Form aufzuweisen. Bei einer geraden Reihe von Detektoren
kann hier der Abstandsunterschied elektronisch korrigiert werden. Ein derartiger Detektor besteht nach Fig. 2
z.B. aus Elementen 40 mit einer Abmessung 42 von beispielsweise 1 mm in der Dispersionsrichtung, in einer Richtung
quer darauf mit einer Abmessung 44 von beispielsweise 10 bis 20 mm und in Richtung auf den Strahlengang mit einer Abmessung
46, die der Eindringüefe der betreffenden Strahlung angepaßt ist. Jedes der Detektionselemente 40 ist mit einem
Ausleseanschluß 53 versehen. Zwischenräume 49 zwischen den Detektionselementen können mit einem elektrisch isolierenden
Material ausgefüllt sein, das gleichfalls eine hohe Absorption für die zu detektierende Strahlung hat.
In einer weiteren Ausführungsform besteht der Detektor aus einer angepaßten Hochdruckkamera vom Typ wie in der US-PS 3,774,029
für andere Zwecke beschrieben. Diese Kamera ist nach Fig. 3 in Form einer flachen gebogenen Röhre ausgeführt, von der eine
dem analysierenden Kristall zugewandte Wand 50 mit einem den auftretenden Röntgenstrahlen angepaßten elektrisch leitenden
Fenster 51 versehen ist. Von einer gegenüberliegenden Wand 54 ist ein Teil 56 sowohl an der Innen- als auch an der Außenseite
mit Elektroden versehen. Jede der Innenelektroden 58 (vgl. Fig. 4) ist durch die Wand 54 mit einer entsprechenden
Elektrode 60 an der Außenseite elektrisch verbunden. Hierzu besteht der mit Elektroden versehene Wandteil beispielsweise
aus einem isolierenden Material,wie Glas, Kunststoff oder Keramik, mit eingebauten, quer zu den Oberflächen gerichteten
elektrisch leitenden Durchführungen. Die gegenseitig isolierten Innenelektroden haben beispielsweise Abmessungen entsprechend
denen der gesonderten Detektionselemente des in Fig. 2 darge-
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stellten Detektors, während auch hier der Abstand 62 zwischen der Vorder- und der Rückwand der zu detektierenden Strahlung
angepaßt ist und beispielsweise etwa 10 mm beträgt. Dieser
Abstand wird durch den hohen Gasdruck kleiner als beim gasgefüllten Zähler sein können, wodurch Abweichungen in der
Geometrie einen geringeren Einfluß auf das Auflösungsvermögen ausüben . Alle Außenelektroden 60 sind auch hier mit
Anschlüssen 64 zum Zuführen aufzuzeichnender Signale an weiter nicht dargestellte elektronische Schaltungen versehen»
PATENTANSPRÜCHE:
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AO
Leerseite
ORfGiNAL IHSPBCTED
Claims (7)
1. Röntgenfluoreszenzspektroraeter mit einer Röntgenstrahlenquelle,
einem Strahlendetektor und einem analysierenden Kristall, der derart angeordnet ist, daß Wellenlängendispersion
auftritt und Röntgenstrahlung einer "bestimmten Wellenlänge im Detektor wenigstens nahezu mit einer Linie
quer zur Dispersionsrichtung zusammenfällt, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlendetektor im Spektrometer ortsfest
angeordnet und positionsempfindlich und "on-line" auslesbar
ist.
2. Röntgenfluoreszenzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß vom analysierenden Kristall ausschließlich eine parallel zu Kristallflächen des Kristalls veuaufende
verhältnismäßig kleine Stirnfläche von der Fluoreszenzstrahlung treffbar ist.
3. Röntgenfluoreszenzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß ein verhältnismäßig kleiner Teil einer Oberfläche des analysierenden Kristalls, die quer zu den
Kristallflächen des Kristalls verläuft, für Durchstrahlung durch die Fluoreszenzstrahlung treffbar ist.
4. Röntgenfluoreszenzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das analysierende Kristall, insoweit von der zu analysierenden Strahlung treffbar, derart gebogen
ist, daß abgebeugte Strahlung einer bestimmten Wellenlänge den Detektor wenigstens nahezu in einem linienförmigen
Brennpunkt trifft.
5. Röntgenfluoreszenzspektrometer nach Anspruch 1, 2, 3
oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor aus einer Reihe je gesondert auslesbarei/Feststoffdetektorelemente besteht,
deren Abmessung in der Dispersionsrichtung dem trennenden Vermögen angepaßt ist.
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ORiGINAL INSPBCTED
r
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6. Röntgenfluoreszenzspektrometer nach Anspruch 1, 2, 3
oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor wie eine über etwa 90 gebogene Ionisationskammer mit einem darin
aufgenommenen Kollektordraht mit einem bestimmten Widerstandswert und Kapazitätswert pro Längeneinheit aufgebaut ist.
7. Röntgenfluoreszenzspektrometer nach Anspruch 1, 2, 3
oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor aus einer
über etwa 90° gebogenen Hochdruck!onisationskammer besteht,
von der ein durch die Strahlung erzeugtes Potentialfeld automatisch positionsabhängig detektierbar ist.
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7513716A NL7513716A (nl) | 1975-11-25 | 1975-11-25 | Roentgenfluorescentie spectrometer. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2651645A1 true DE2651645A1 (de) | 1977-06-02 |
Family
ID=19824912
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762651645 Pending DE2651645A1 (de) | 1975-11-25 | 1976-11-12 | Roentgenfluoreszenzspektrometer |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4131794A (de) |
JP (1) | JPS5265490A (de) |
AU (1) | AU507455B2 (de) |
DE (1) | DE2651645A1 (de) |
FR (1) | FR2333239A1 (de) |
GB (1) | GB1570595A (de) |
NL (1) | NL7513716A (de) |
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- 1976-11-12 DE DE19762651645 patent/DE2651645A1/de active Pending
- 1976-11-22 JP JP51139639A patent/JPS5265490A/ja active Pending
- 1976-11-22 GB GB48590/76A patent/GB1570595A/en not_active Expired
- 1976-11-22 US US05/743,648 patent/US4131794A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-11-23 AU AU19912/76A patent/AU507455B2/en not_active Expired
- 1976-11-24 FR FR7635344A patent/FR2333239A1/fr active Granted
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Publication number | Publication date |
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US4131794A (en) | 1978-12-26 |
AU507455B2 (en) | 1980-02-14 |
AU1991276A (en) | 1978-06-01 |
FR2333239B1 (de) | 1981-12-18 |
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JPS5265490A (en) | 1977-05-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
OHN | Withdrawal |