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Verfahren und Vorrichtung zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlängenbereiches
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlängenbereiches,
wobei ein Lichtbündel zunächst in einen Atomstrahl als absorbierendes Medium geleitet
und das durch dieses hindurchtretende oder gestreute Licht gemessen wird.
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Es ist Zweck der bekannten Spektographen, die Lichtintensität als
eine Funktion der Wellenlänge zu bestimmen oder aufzuzeichnen. Wenn das Signal des
Empfängers in geeigneter Weise verstärkt wird, kann der Spektograph nicht nur für
analytische Zwecke und zur analytischen Überwachung von Herstellungsverfahren, sondern
direkt zur automatischen Rege lung von Betriebsgrößen, Alarmeinrichtungen u. dgl.
verwendet werden.
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Eine wichtige Beschränkung der spektroskopischen Vorrichtungen liegt
in ihrem Auflösungsvermögen.
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Für qualitative und quantitative analytische Zwecke wurde diese Schwierigkeit
teilweise beseitigt durch die von der Commonwealth Scientific Industrial Research
Organisation entwickelte spektrochemische Vorrichtung, die in der australischen
Patentschrift 163 586 beschrieben ist. Diese benutzt das Prinzip, daß ein Atomdampf
Linien mit bestimmten, seinem Emissionsspektrum entsprechenden Wellenlängen absorbiert.
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Die Vorrichtung der australischen Patentschrift 163 586 gestattet
nicht die Bestimmung des Spektrallinienprofils oder die Untersuchung kontinuierlicher
Abschnitte des Spektrums.
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Es ist die Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren anzugeben, welches
das Abtasten einzelner Spektrallinien gestattet.
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Die vorliegende Erfindung verwendet das Prinzip, daß die Spektralbande
eines Dampfes verbreitert oder verschoben werden kann durch physikalische Effekte,
wie den Doppler-, Zeeman- oder Starkeffekt, und das Prinzip, daß ein Gas bei den
Wellenlängen absorbiert, bei welchen es auch emittiert, und daß die Intensität einer
Resonanzstreustrahlung der Intensität des absorbierten Lichts direkt proportional
ist, sowie schließlich die Tatsache, daß normalerweise ein Gas von gegebener Dichte
und Dicke viel größere Lichtintensitäten absorbieren kann, als es emittiert oder
selbst bei einer wesentlich höheren Temperatur emittieren würde.
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Es werden Atomstrahlen an Stelle normaler Gase verwendet, in welchen
die Geschwindigkeiten der Moleküle zufällig verteilt sind.
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Atomstrahlen sind bekannt und werden durch Verdampfen eines Elements
in einem hochevakuierten Raum hergestellt. Durch Verwendung von in einer
Richtung
angeordneten Schlitzen erhält man einen Strahl von Atomen, welche sich im wesentlichen
alle in der gleichen Richtung bewegen und deren Geschwindigkeiten dem Maxwellschen
Verteilungsgesetz gehorchen. Wegen der Gleichheit der Bewegungsrichtung der Atome
sind die spektralen Absorptions-und Emissionslinien eines solchen Strahls schmaler
als die entsprechenden Linien eines Gases, in welchem die Atome oder Moleküle statistisch
verteilte Richtungen haben.
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Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle oder
das absorbierende Medium durch Zeeman- oder Starkeffekt beeinflußt wird.
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Der in dieser Beschreibung und den Ansprüchen verwendete Ausdruck
»Licht« soll elektromagnetische Strahlung der ultravioletten, sichtbaren und infraroten
Spektralbereiche bedeuten.
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Aus Gründen der Zweckmäßigkeit und Bestimmtheit bei der Deutung der
Ergebnisse ist erwünscht, daß der Lichtstrahl nur eine oder zwei Spektrallinien
im untersuchten Wellenlängenbereich einschließt.
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Beispiele von erfindungsgemäßen Verfahren und Vorrichtungen werden
mit Bezug auf die Zeichnungen erläutert. In diesen Zeichnungen ist Fig. 1 ein schematischer
Aufriß eines Schnittes einer Vorrichtung zur Herstellung eines Atomstrahls, Fig.
2 ein schematischer Grundriß einer erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig.
3 ein schematischer Grundriß einer abgewandelten erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 4 eine graphische Darstellung, die durch Auftragen der Intensität des in Fig.
3 eingestrahlten Lichts gegen die Wellenlänge erhalten wurde, Fig. 5 eine graphische
Darstellung, die durch Auftragen der Intensität des in Fig. 3 resonanzgesteuerten
Lichts gegen die Wellenlänge erhalten wurde, Fig. 6 einen schematischen Grundriß
der Differentialmethode bei Absorptionsmessungen, Fig. 7 einen schematischen, vereinfachten
Grundriß nach Fig. 2 und 3 - absorbierende Bande schmaler als Lichtquellenprofil,
Fig. 8 einen schematischen, vereinfachten Grundriß nach Fig. 2 und 3 - absorbierende
Bande und Lichtquellenprofil gleich breit, Fig. 9 einen schematischen, vereinfachten
Grundriß nach Fig. 2 und 3 - absorbierende Bande breiter als Lichtquellenprofil.
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Maßnahmen, die lediglich den Fig. 6 bis 9 entnehmbar sind, gehören
nicht zum Erfindungsgegenstand.
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Die in Fig. 1 gezeigte Vorrichtung zur Herstellung eines Atomstrahls
besteht aus einem Ofen 11, in welchem das die den Strahl bildenden Atome aussendende
Material erwärmt wird und weicher in einem gasdichten Gehäuse 12 angeordnet ist,
welches durch die Pumpen 13 und 14 bis zu einem sehr hohen Grad evakuiert wird.
Wenn die Temperatur im Ofen 11 genügend gesteigert wird, um im Ofen einen Dampfdruck
der Größenordnung eines Bruchteils eines Millimeters Quecksilber zu erzeugen, tritt
ein Strom von Atomen aus der Öffnung 15 des Ofens 11 aus. Ein Teil dieses Stroms
tritt durch einen Schlitz 16 in einen Raum 17, um an einer durch flüssigen Stickstoff
gekühlten Oberfläche 18 hängenzubleiben. In den Wänden des Raums 17 befinden sich
Fenster 19, 20 und 21, die gegenüber der zu untersuchenden Strahlung durchlässig
sind.
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Der zu untersuchende parallele Lichtstrahl, welcher sorgfältig eingestellt
ist, so daß er senkrecht zu dem durch die Schlitze 15 und 16 tretenden Atomstrahl
ist, tritt durch das Fenster 19, trifft auf den Atomstrahl und tritt aus dem Fenster
21 aus.
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Wenn die absorbierte Strahlung, d. h. der aus Fenster 21 austretende
Strahl, untersucht wird, ist die von der Abtastsonde, d. h. dem Atomstrahl, herausgeschnittene
Bande in der Regel klein im Verhältnis zum Integral der hindurchtretenden Bande.
Methoden zur Messung solcher kleinen Unterschiede sind von Spektographie und Gaschromatographie
bekannt.
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Eine vielfach verwendete Meßweise ist die sogenannte Differentialinethode,
die in Fig. 6 schematisch dargestellt ist. Hierbei werden zwei identische photoelektrische
Zellen Zj und Z, zunächst in gleicher Entfernung von der Lichtquelle L10 und unter
denselben Bedingungen derart angeordnet, daß sie dieselbe Bestrahlungsintensität
aufnehmen und verzeichnen. Dann wird das absorbierende Medium, der Atomstrahl A6,
wie in Fig. 6 angedeutet, so zwischen der Lichtquelle Lto und einer der beiden Zellen,
z.B. Z2, angeordnet, daß dieselbe nun durch das absorbierende Medium hindurchtretende
Strahlung verringert wird. Die beiden Zellen Z3 und Z2 sind durch ein Differentialvoltmeßgerät
V verbunden, welches kein Signal verzeichnet, solange die Impulse an beiden Zellen
gleich intensiv sind. Wenn aber der Impuls an Zellen, verringert wird, wenn auch
nur
um einen äußerst geringen Betrag, so wird ein Signal erzeugt, das dem Unterschied
der Bestrahlungsintensitäten proportional ist und das, z. B. durch einen Meßschreiber,
beliebig verstärkt und graphisch dargestellt werden kann. Auf diese Weise kann auch
in Absorption ein Profil erhalten werden, das in derselben funktionellen Abhängigkeit
vom Profil der Lichtquelle steht wie das Profil der Resonanzstreuung und das mit
dem letzteren in völlige Uberein-Stimmung gebracht werden kann, wenn die Verstärkungsgrade
in beiden Fällen gleich sind.
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Wenn die vom Atomstrahl absorbierte Strahlung untersucht werden soll,
wird der aus dem Fenster 21 austretende Lichtstrahl untersucht.
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Wenn andererseits die an dem Atomstrahl resonanzgesteuerte Strahlung
untersucht werden soll, wird der aus dem Fenster 20 austretende Lichtstrahl untersucht.
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In Fig. 2 ist ein paralleler Lichtstrahl 30 gezeigt, der von der
zu untersuchenden Quelle ausgesandt wird und durch eine Blende 31 und dann durch
den absorbierenden Atomstrahl 32, der wie in Fig. 1 bei schrieben hergestellt ist,
tritt. Das Licht fällt dann auf ein Absorptions- oder Interferenzfilter 33, einen
Polarisator 34 und eine Viertelwellenlängenplatte 35, um das Licht zirkular zu polarisieren.
Der absorbiert rende Atomstrahl ist so gewählt, daß er Absorptionslinien in unmittelbarer
Nachbarschaft der zu untersuchenden Spektrallinie hat. Der durch die Platte 35 übermittelte
Lichtstrahl wird durch eine Linse 36 auf eine photoelektrische Zelle 37 gesammelt,
deren Ausgang mittels eines Verstärkers 38 verstärkt und mittels eines Schreibers
39 aufgezeichnet wird. Die Intensität des an der Zelle 37 empfangenen Lichts ist
gleich der auf den Atomstrahl 32 fallenden Lichtmenge, vermindert um die Menge des
vom Atomstrahl absorbierten Lichts.
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Es ist ein Kennzeichen von Atomstrahlen, wie 32, über außerordentlich
enge Bereiche ihrer spektralen Absorptionslinien Licht sehr stark zu absorbieren,
während sie über sehr weite Wellenlängenbereiche praktisch dchlässig sind.
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Wenn also die Spektrallinie der Lichtquelle nicht mit der Absorptionslinie
des Atomstrahls 32 überlappt, wird die volle einfallende Intensität der Zelle 37
übermittelt. Wenn andererseits die Absorptionslinie des Atomstrahls 37 mit der einfallenden
Spektrallinie überlappt, wird die Intensität des übermittelten Lichts wegen der
Absorption durch den Atomstrahl vermindert.
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Wenn man die Absorptionslinie des Atomstrahls über die einfallende
Spektrallinie von einer Kante ihres Profils zur anderen wandern läßt, wird demgemäß
die Intensitätsverminderung des übermittelten Lichts sich wegen des wechselnden
Betrags der Absorption durch den Dampf verändern.
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In der Vorrichtung der Fig. 2 wird dieses. d. Ii das Wandern der
Absorptionslinie des Atomstrahls 32 über die Spektrallinie hinweg, durch Anwendung
eines magnetischen Felds auf den Atomstrahl 32 erreicht. Dabei wird im allgemeinen
die Absorptionslinie in mehrere Komponenten aufgespalten. Obgleich die Erfindung
häufig durchführbar sein kann, indem man alle die aufgespaltenen Komponenten ohne
weitere Abwandlung verwendet, ist es erwünscht, möglichst viele dieser Komponenten
auszuschalten, um die Deutung der Ergebnisse zu erleichtern und Mehrdeutigkeit zu
vermeiden. Die Art der Verwendung
eines elektrischen Feldes, d.
h. des Starkeffekts, statt des magnetischen Felds ist für den Fachmann ohne weiteres
klar.
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Ein durch den Elektromagneten 40, dessen Induktionslinien parallel
zum einfallenden Licht sind, erzeugtes magnetisches Feld wird auf dem Atomstrahi
32 angewandt. Wenn das einfallende Licht unpolarisiert ist, wird die Absorptionslinie
in zwei Komponenten aufgespalten, von denen die eine linksdrehend zirkular polarisiertes
Licht und die andere rechtsdrehend zirkular polarisiertes Licht absorbiert. In der
Vorrichtung der Fig. 2 ist jedoch der einfallende Strahl in einer Richtung zirkular
polarisiert, so daß nur eine Komponente des Atomstrahls 32 absorbieren kann.
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Die Komponente ist gegenüber der ursprünglichen Lage um einen der
Größe des magnetischen Feldes proportionalen Betrag verschoben. Angenommen, daß
die spektrale Bande des einfallenden Lichts in unmittelbarer Nachbarschaft, jedoch
außerhalb der Absorptionsspektrallinie des Atomstrahls liegt oder diese nur teilweise
überlappt, so wandert die Absorptionslinie des Atomstrahls mit wachsender magnetischer
Induktion des Magnetfeldes über das Spektralprofil und absorbiert so wechselnde
Mengen Licht je nach der Lage der Absorptionslinie relativ zur Emissionsspektrallinie.
Die Ges amtintensität des übermittelten Lichts wird dann in irgendeiner Stellung
oder kontinuierlich über den ganzen Bereich der Verschiebung hinweg durch den Detektor
37, Verstärker 38 und Schreiber 39 gemessen oder aufgezeichnet, und von der Aufzeichnung
der Intensität des durch den Atomstrahl übermittelten Lichts als Funktion der Größe
und Polarität des angewandten Magnetfelds kann das Spektrallinienprofil mittels
bekannter mathematischer Beziehungen abgeleitet werden. Eine geeignete Art, eine
solche Transmissionskurve aufzuzeichnen, ist, den verstärkten Ausgangsstrom vom
Verstärker 38 auf den Y-Achse-Eingang eines XY-Schreibers zu geben, dessen X-Achse
durch eine von dem magnetischen Feld, weiches man auf den Atomstrahl 32 einwirken
läßt, abgeleitete Spannung, welche vorzugsweise eine lineare Funktion des Feldes
ist, angetrieben wird. Beispielsweise läßt man im Fall eines Elektromagneten mit
einem Luftkern den Strom durch die Spule und durch einen Standardwiderstand R gen,
der einen Spannungsabfall V=iR liefert, weicher die X-Achse des Schreibers antreibt.
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Andere Arten, eine Spannung von dem magnetischen Feld abzuleiten,
liegen für einen Fachmann auf der Hand.
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Ein weiteres Verfahren ist, den gewöhnlichen XY-Schreiber durch ein
Oszilloskop zu ersetzen und für die Kippspannung einen Wechselstrom zu verwenden.
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Durch bekannte Mittel wird die Transmissionskurve als Funktion der
Stromstärke und daher des magnetischen Feldes auf dem Oszilloskopschirm abgebildet.
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In Fig. 3 der Zeichnungen ist eine abgewandelte Form der erfindungsgemäßen
Vorrichtung gezeigt, die zum Messen der Intensität des durch den absorbierenden
Atomstrahl resonanzgestreuten Lichts dienen soll, wobei ein durch die Blende 41
tretender paralleler Lichtstrahl auf den absorbierenden Atomstrahl 42 fällt. Das
durch den Atomstrahl in einem spitzen Winkel mit der Einfallsrichtung gestreute
Licht wird nach Durchtritt durch ein Filter 43, einen Polarisator 44 und eine Viertelwellenlängenplatte
45 durch eine Linse 46 gesammelt und auf einen
5 ekundärelektronenvervielfältiger
47 geworfen. Die Ausgangsleistung des Sekundärelektronenvervielfältigers wird durch
einen Verstärker 48 verstärkt und darch einen. Schreiber 49 aufgezeichnet. Ein Elektromagnet
50 erzeugt ein zum in den Atom strahl 42 eintretenden und ihn verlassenden Licht
paralleles magnetisches Fild.
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Die in einer gegebenen Richtung in feste Einheitswinkel gestreute
Lichtmenge ist proportional der absorbierten Lichtmenge. Das Prinzip und die Durchführung
des Abtastens eines zu untersuchenden Profils sind' für die Anordnung der Fig. 3
die gleichen, wie oben für die Anordnung der Fig. 2 beschrieben, d. h., die spektrale
Absorptionslinie wird durch Anlegen eines magnetischen Feldes in eine Anzahl von
Komponenten aufgespalten, und die Anzahl der Komponenten wird durch die oben beschriebenen
Maßnahmen auf eine Mindestzahl, vorzugsweise nur eine, beschränkt. Diese eine Absorptionslinile
läßt man dann über den zu untersuchenden Teil des Spektrums wandern.
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Obwohl es im allgemeinen wünschenswert ist, in beiden Fällen, bei
Streuung und Absorption, Sonden kleinster Breite als Absorptionsmedium zu verwenden,
is die Erfindung im Prinzip nicht hierauf beschränkt.
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Dies wird an Hand weiterer Skizzen erläutert. Die Fig. 7, 8 und 9
zeigen schematisch die drei möglichen Fälle, in denen jeweils wieder Streuung oder
Absorption gemessen werden kann. Alle drei Figuren 7, 8 und 9 sind vereinfachte
Darstellungen der Anordnungen von Fig. 2 und 3. Eine Lichtquelle L7 bzw. L5 bzw.
L9 bestrahlt einen absorbierenden Atomstrahl A7 bzw. As bzw. Ag, und die photoelektrischen
Zellen ZT7, ZTs, ZT9 messen die Intensität des hindurchtretenden bzw. die Zellen
Zs7, Zs5, Zs9 messen die Intensität des gestreuten Lichts. Es sind dann theoretisch
drei Fälle möglich - das Profil der absorbierenrenden Bande kann schmaler (Fig.
7), gleich breit (Fig. 8) oder breiter (Fig. 9) sein als das Profil der Lichtquelle.
Dies ist durch die Form der in die Lichtquellen oder den Atomstrahl eingezeichneten
Profile angedeutet. Die einfachste und in der Praxis klarste Anordnung ist die von
Fig. 7. Die zu untersuchende, unbekannte Linie der Lichtquelle L7 hat ein im Verhältnis
zur Sonde A7 breites Profil. Im Idealfall, dessen Profile in größerem Maßstab in
Fig. 4 und 5 dargestellt sind, ist das Profil der Sonder, schmal und rechteckig.
Wenn man dann die Sonde A4 mittels der genannten Effekte durch das breite Profil
von L wandern läßt, so wird an den Stellungen 51, 52, 53, 54, 55, 56 und 57 der
Fig. 4 jeweils ein schmaler Streifen absorbiert, der dann resonanzgestreut wird
und dessen Intensität 51', 52' bis 57' in Fig. 5 eine fast genaue, proportionale
Funktion des Profils der Fig. 4 ist. Da eine Photozelle das Integral der gesamten
durch den Atomstrahl hindurchtretenden Lichtmenge registriert, ist die Verringerung
durch ein sehr schmales Absorptionsband sehr gering und direkt nicht genau meßbar.
Die Absorptionsintensität kann jedoch mittels der vorher besprochenen Differentialmethode
in analoger Weise bestimmt werden.
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Fig. 8 zeigt die Anordnung des ebenfalls praktischen Falles, in dem
Lichtstrahl L14 und Sonder34 ein Profil gleicher Breite haben. Dies kann z. B. der
Fall sein, wenn beide von demselben Atomdampf stammen und der Atomstrahl zur Messung
der Temperatur oder Dampfgeschwindigkeit verwendet wird. Man läßt das Sondenprofil
A mittels der
genannten Effekte durch das Emissionsprofil L wandern.
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Fig. 9 stellt den Fall dar, in dem die Sonde AL7 ein breiteres Profil
hat als die Lichtquelle L17. Praktisch ist dieser Fall zu Messungen weniger geeignet,
wenn auch unter Umständen verwendbar.
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Wenn die ausgewählte Absorptionslinie des durch Resonanz zerstreuten
Atomstrahls nicht schmaler ist als die in Fig. 4 dargestellte Linie, sondern etwa
die gleiche Breite besitzt, wie es bei identischen Linien identischer Elemente der
Fall ist, so kann der Zeeman- oder Starkeffekt dazu verwendet werden, die Absorptionslinie
zu verschieben, bis eine vollkommene Überdeckung erreicht ist. Wenn somit die Emissionslinie
durch Wärmeeinwirkung oder einen Dopplereffekt verschoben worden ist, so dient die
Energie des auf die absorbierende Linie ausgeübten Zeeman- oder Starkeffekts, die
erforderlich ist, um beide Linien zur vollkommenen Überdeckung zu bringen, dazu,
die auf die ausgestrahlte Linie einwirkende Wärmewirkung oder den Dopplereffekt
zu messen.
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Eine weitere Abwandlung, welche in der Vorrichtung der Fig. 2 oder
3 vorgenommen werden kann, besteht darin, die Lichtquelle selbst an Stelle des Atomstrahls
der Einwirkung eines Magnetfeldes zu unterwerfen. Es ist häufig möglich, eine einzelne
Spektralfeinlinie der Lichtquelle aufzuspalten und unerwünschte Doppelbilder zu
entfernen wie es im Zusammenhang mit Fig. 2 am Atomstrahl erläutert wurde, ohne
in andere störende Wellenbereiche zu kommen. Der absorbierende Atomstrahl wird dann
stationär in Ruhe verbleiben, und die Emissionslinie der Lichtquelle wandert dann
unter dem Einfluß des Zeemaneffektes durch denAtomstrahl hindurch, d. h., man kann
sagen, daß der Atomstrahl durch die Emissionslinie abgetastet wird. Am entstehenden
Resonanzstreu- bzw. Absorptionsprofil ändert dies aber nichts, da nur die relativen
Stellungen der emittierenden Linie und des absorbierenden Atomstrahles maßgebend
sind. Natürlich ist diese Arbeitsweise nur möglich, wenn die Lichtquelle im Arbeitsbereich
des Experimentators, z. B. im Labor, ist.
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Typische praktische Verwendungen für die erfindungsgemäßen Verfahren
und Vorrichtungen werden in den folgenden Beispielen beschrieben.
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Beispiel 1 Isotopenanalyse Die relative Häufigkeit der Isotopen einer
Quecksilberprobe wurde mittels der Vorrichtung der Fig. 2 bestimmt, indem man die
Strahlung eines diese Probe enthaltenden Niederdruck-Quarzentladungsrohrs durch
einen aus dem Dampf eines gereinigten Quecksilberisotops, nämlich Hut98, bestehenden
Atomstrahls leitete.
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Das Filter 33 war ein Ultraviolettfilter, welches nur die 2536-AResonanzlinie
des Quecksilbers durchließ, der Polarisator 34 war ein Nicol-Prisma mit Glyzerinzement,
und die Viertelwellenlängenplatte 35 bestand
aus Quarz. Aus der Verminderung der
Intensität des übermittelten Lichts, während man die aufgespaltene Absorptionslinienkomponente
über die Emissionslinie jedes Isotops wandern ließ, konnte die Intensität des von
jenem Isotop ausgestrahlten Lichts bestimmt werden.
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Das Verhältnis der auf jedes Isotop zurückzuführenden Intensitäten
ergab das Verhältnis der Häufigkeit dieser Isotopen.
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Beispiel 2 Isotopenanalyse In einem weiteren Versuch wurde die Häufigkeit
der nur einen kleinen Bruchteil der Gesamtmenge bildenden Isotopen bestimmt. Zu
diesem Zweck wurde das gereinigte Quecksilberisotop Dgl98 als Lichtquelle verwendet,
indem man es als strahlendes Medium in einem Entladungsrohr oder als ein resonanzstreuendes
Medium in einem Atomstrahl verwendete, und die Probe mit der zu bestimmenden Isotopezuasammensetzung
stellte einen anderen als absorbierendes Medium wirkenden Atom strahl dar.
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Die emissions- oder resonanzgestreute Linie des gereinigten Isotops
Dgl98 wurde, wie oben beschlrieben, durch magnetische Felder aufgespalten und ver
schoben, und eine der Linien wählte man mittels eines Nicol-Prismas und einer Viertelwellenlängenplatte
aus und ließ sie über die Absorptionslinien der verschiedenen Isotopen der zu untersuchenden
Probe wandern.
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Aus der Verminderung der Intensität des über mittelten Lichts beim
Übereinstimmen der Emissionslinienkomponente mit jeder der Isotopenabsorptionslinien
wurde die Häufigkeit dieser Isotopen auf übliche Weise bestimmt.
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PATBNTANSPRUCHB: 1. Verfahren zum spektroskopischen Abtasten eines
Wellenlängenbereiches, wobei ein Lichtbündel zunächst in einen Atomstrahl als absorbiert
rendes Medium geleitet und das durch dieses hadurchtretende oder gestreute Licht
gemessen wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle oder das absorbierende
Medium durch Zeeentn- oder Starkeffekt beeinflußt wird.