DE1146278B - Verfahren und Vorrichtung zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlaengenbereiches - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlaengenbereiches

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DE1146278B
DE1146278B DEJ19298A DEJ0019298A DE1146278B DE 1146278 B DE1146278 B DE 1146278B DE J19298 A DEJ19298 A DE J19298A DE J0019298 A DEJ0019298 A DE J0019298A DE 1146278 B DE1146278 B DE 1146278B
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George Richard Isaak
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ICI Australia Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/3103Atomic absorption analysis

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Description

  • Verfahren und Vorrichtung zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlängenbereiches Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlängenbereiches, wobei ein Lichtbündel zunächst in einen Atomstrahl als absorbierendes Medium geleitet und das durch dieses hindurchtretende oder gestreute Licht gemessen wird.
  • Es ist Zweck der bekannten Spektographen, die Lichtintensität als eine Funktion der Wellenlänge zu bestimmen oder aufzuzeichnen. Wenn das Signal des Empfängers in geeigneter Weise verstärkt wird, kann der Spektograph nicht nur für analytische Zwecke und zur analytischen Überwachung von Herstellungsverfahren, sondern direkt zur automatischen Rege lung von Betriebsgrößen, Alarmeinrichtungen u. dgl. verwendet werden.
  • Eine wichtige Beschränkung der spektroskopischen Vorrichtungen liegt in ihrem Auflösungsvermögen.
  • Für qualitative und quantitative analytische Zwecke wurde diese Schwierigkeit teilweise beseitigt durch die von der Commonwealth Scientific Industrial Research Organisation entwickelte spektrochemische Vorrichtung, die in der australischen Patentschrift 163 586 beschrieben ist. Diese benutzt das Prinzip, daß ein Atomdampf Linien mit bestimmten, seinem Emissionsspektrum entsprechenden Wellenlängen absorbiert.
  • Die Vorrichtung der australischen Patentschrift 163 586 gestattet nicht die Bestimmung des Spektrallinienprofils oder die Untersuchung kontinuierlicher Abschnitte des Spektrums.
  • Es ist die Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren anzugeben, welches das Abtasten einzelner Spektrallinien gestattet.
  • Die vorliegende Erfindung verwendet das Prinzip, daß die Spektralbande eines Dampfes verbreitert oder verschoben werden kann durch physikalische Effekte, wie den Doppler-, Zeeman- oder Starkeffekt, und das Prinzip, daß ein Gas bei den Wellenlängen absorbiert, bei welchen es auch emittiert, und daß die Intensität einer Resonanzstreustrahlung der Intensität des absorbierten Lichts direkt proportional ist, sowie schließlich die Tatsache, daß normalerweise ein Gas von gegebener Dichte und Dicke viel größere Lichtintensitäten absorbieren kann, als es emittiert oder selbst bei einer wesentlich höheren Temperatur emittieren würde.
  • Es werden Atomstrahlen an Stelle normaler Gase verwendet, in welchen die Geschwindigkeiten der Moleküle zufällig verteilt sind.
  • Atomstrahlen sind bekannt und werden durch Verdampfen eines Elements in einem hochevakuierten Raum hergestellt. Durch Verwendung von in einer Richtung angeordneten Schlitzen erhält man einen Strahl von Atomen, welche sich im wesentlichen alle in der gleichen Richtung bewegen und deren Geschwindigkeiten dem Maxwellschen Verteilungsgesetz gehorchen. Wegen der Gleichheit der Bewegungsrichtung der Atome sind die spektralen Absorptions-und Emissionslinien eines solchen Strahls schmaler als die entsprechenden Linien eines Gases, in welchem die Atome oder Moleküle statistisch verteilte Richtungen haben.
  • Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle oder das absorbierende Medium durch Zeeman- oder Starkeffekt beeinflußt wird.
  • Der in dieser Beschreibung und den Ansprüchen verwendete Ausdruck »Licht« soll elektromagnetische Strahlung der ultravioletten, sichtbaren und infraroten Spektralbereiche bedeuten.
  • Aus Gründen der Zweckmäßigkeit und Bestimmtheit bei der Deutung der Ergebnisse ist erwünscht, daß der Lichtstrahl nur eine oder zwei Spektrallinien im untersuchten Wellenlängenbereich einschließt.
  • Beispiele von erfindungsgemäßen Verfahren und Vorrichtungen werden mit Bezug auf die Zeichnungen erläutert. In diesen Zeichnungen ist Fig. 1 ein schematischer Aufriß eines Schnittes einer Vorrichtung zur Herstellung eines Atomstrahls, Fig. 2 ein schematischer Grundriß einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, Fig. 3 ein schematischer Grundriß einer abgewandelten erfindungsgemäßen Vorrichtung, Fig. 4 eine graphische Darstellung, die durch Auftragen der Intensität des in Fig. 3 eingestrahlten Lichts gegen die Wellenlänge erhalten wurde, Fig. 5 eine graphische Darstellung, die durch Auftragen der Intensität des in Fig. 3 resonanzgesteuerten Lichts gegen die Wellenlänge erhalten wurde, Fig. 6 einen schematischen Grundriß der Differentialmethode bei Absorptionsmessungen, Fig. 7 einen schematischen, vereinfachten Grundriß nach Fig. 2 und 3 - absorbierende Bande schmaler als Lichtquellenprofil, Fig. 8 einen schematischen, vereinfachten Grundriß nach Fig. 2 und 3 - absorbierende Bande und Lichtquellenprofil gleich breit, Fig. 9 einen schematischen, vereinfachten Grundriß nach Fig. 2 und 3 - absorbierende Bande breiter als Lichtquellenprofil.
  • Maßnahmen, die lediglich den Fig. 6 bis 9 entnehmbar sind, gehören nicht zum Erfindungsgegenstand.
  • Die in Fig. 1 gezeigte Vorrichtung zur Herstellung eines Atomstrahls besteht aus einem Ofen 11, in welchem das die den Strahl bildenden Atome aussendende Material erwärmt wird und weicher in einem gasdichten Gehäuse 12 angeordnet ist, welches durch die Pumpen 13 und 14 bis zu einem sehr hohen Grad evakuiert wird. Wenn die Temperatur im Ofen 11 genügend gesteigert wird, um im Ofen einen Dampfdruck der Größenordnung eines Bruchteils eines Millimeters Quecksilber zu erzeugen, tritt ein Strom von Atomen aus der Öffnung 15 des Ofens 11 aus. Ein Teil dieses Stroms tritt durch einen Schlitz 16 in einen Raum 17, um an einer durch flüssigen Stickstoff gekühlten Oberfläche 18 hängenzubleiben. In den Wänden des Raums 17 befinden sich Fenster 19, 20 und 21, die gegenüber der zu untersuchenden Strahlung durchlässig sind.
  • Der zu untersuchende parallele Lichtstrahl, welcher sorgfältig eingestellt ist, so daß er senkrecht zu dem durch die Schlitze 15 und 16 tretenden Atomstrahl ist, tritt durch das Fenster 19, trifft auf den Atomstrahl und tritt aus dem Fenster 21 aus.
  • Wenn die absorbierte Strahlung, d. h. der aus Fenster 21 austretende Strahl, untersucht wird, ist die von der Abtastsonde, d. h. dem Atomstrahl, herausgeschnittene Bande in der Regel klein im Verhältnis zum Integral der hindurchtretenden Bande. Methoden zur Messung solcher kleinen Unterschiede sind von Spektographie und Gaschromatographie bekannt.
  • Eine vielfach verwendete Meßweise ist die sogenannte Differentialinethode, die in Fig. 6 schematisch dargestellt ist. Hierbei werden zwei identische photoelektrische Zellen Zj und Z, zunächst in gleicher Entfernung von der Lichtquelle L10 und unter denselben Bedingungen derart angeordnet, daß sie dieselbe Bestrahlungsintensität aufnehmen und verzeichnen. Dann wird das absorbierende Medium, der Atomstrahl A6, wie in Fig. 6 angedeutet, so zwischen der Lichtquelle Lto und einer der beiden Zellen, z.B. Z2, angeordnet, daß dieselbe nun durch das absorbierende Medium hindurchtretende Strahlung verringert wird. Die beiden Zellen Z3 und Z2 sind durch ein Differentialvoltmeßgerät V verbunden, welches kein Signal verzeichnet, solange die Impulse an beiden Zellen gleich intensiv sind. Wenn aber der Impuls an Zellen, verringert wird, wenn auch nur um einen äußerst geringen Betrag, so wird ein Signal erzeugt, das dem Unterschied der Bestrahlungsintensitäten proportional ist und das, z. B. durch einen Meßschreiber, beliebig verstärkt und graphisch dargestellt werden kann. Auf diese Weise kann auch in Absorption ein Profil erhalten werden, das in derselben funktionellen Abhängigkeit vom Profil der Lichtquelle steht wie das Profil der Resonanzstreuung und das mit dem letzteren in völlige Uberein-Stimmung gebracht werden kann, wenn die Verstärkungsgrade in beiden Fällen gleich sind.
  • Wenn die vom Atomstrahl absorbierte Strahlung untersucht werden soll, wird der aus dem Fenster 21 austretende Lichtstrahl untersucht.
  • Wenn andererseits die an dem Atomstrahl resonanzgesteuerte Strahlung untersucht werden soll, wird der aus dem Fenster 20 austretende Lichtstrahl untersucht.
  • In Fig. 2 ist ein paralleler Lichtstrahl 30 gezeigt, der von der zu untersuchenden Quelle ausgesandt wird und durch eine Blende 31 und dann durch den absorbierenden Atomstrahl 32, der wie in Fig. 1 bei schrieben hergestellt ist, tritt. Das Licht fällt dann auf ein Absorptions- oder Interferenzfilter 33, einen Polarisator 34 und eine Viertelwellenlängenplatte 35, um das Licht zirkular zu polarisieren. Der absorbiert rende Atomstrahl ist so gewählt, daß er Absorptionslinien in unmittelbarer Nachbarschaft der zu untersuchenden Spektrallinie hat. Der durch die Platte 35 übermittelte Lichtstrahl wird durch eine Linse 36 auf eine photoelektrische Zelle 37 gesammelt, deren Ausgang mittels eines Verstärkers 38 verstärkt und mittels eines Schreibers 39 aufgezeichnet wird. Die Intensität des an der Zelle 37 empfangenen Lichts ist gleich der auf den Atomstrahl 32 fallenden Lichtmenge, vermindert um die Menge des vom Atomstrahl absorbierten Lichts.
  • Es ist ein Kennzeichen von Atomstrahlen, wie 32, über außerordentlich enge Bereiche ihrer spektralen Absorptionslinien Licht sehr stark zu absorbieren, während sie über sehr weite Wellenlängenbereiche praktisch dchlässig sind.
  • Wenn also die Spektrallinie der Lichtquelle nicht mit der Absorptionslinie des Atomstrahls 32 überlappt, wird die volle einfallende Intensität der Zelle 37 übermittelt. Wenn andererseits die Absorptionslinie des Atomstrahls 37 mit der einfallenden Spektrallinie überlappt, wird die Intensität des übermittelten Lichts wegen der Absorption durch den Atomstrahl vermindert.
  • Wenn man die Absorptionslinie des Atomstrahls über die einfallende Spektrallinie von einer Kante ihres Profils zur anderen wandern läßt, wird demgemäß die Intensitätsverminderung des übermittelten Lichts sich wegen des wechselnden Betrags der Absorption durch den Dampf verändern.
  • In der Vorrichtung der Fig. 2 wird dieses. d. Ii das Wandern der Absorptionslinie des Atomstrahls 32 über die Spektrallinie hinweg, durch Anwendung eines magnetischen Felds auf den Atomstrahl 32 erreicht. Dabei wird im allgemeinen die Absorptionslinie in mehrere Komponenten aufgespalten. Obgleich die Erfindung häufig durchführbar sein kann, indem man alle die aufgespaltenen Komponenten ohne weitere Abwandlung verwendet, ist es erwünscht, möglichst viele dieser Komponenten auszuschalten, um die Deutung der Ergebnisse zu erleichtern und Mehrdeutigkeit zu vermeiden. Die Art der Verwendung eines elektrischen Feldes, d. h. des Starkeffekts, statt des magnetischen Felds ist für den Fachmann ohne weiteres klar.
  • Ein durch den Elektromagneten 40, dessen Induktionslinien parallel zum einfallenden Licht sind, erzeugtes magnetisches Feld wird auf dem Atomstrahi 32 angewandt. Wenn das einfallende Licht unpolarisiert ist, wird die Absorptionslinie in zwei Komponenten aufgespalten, von denen die eine linksdrehend zirkular polarisiertes Licht und die andere rechtsdrehend zirkular polarisiertes Licht absorbiert. In der Vorrichtung der Fig. 2 ist jedoch der einfallende Strahl in einer Richtung zirkular polarisiert, so daß nur eine Komponente des Atomstrahls 32 absorbieren kann.
  • Die Komponente ist gegenüber der ursprünglichen Lage um einen der Größe des magnetischen Feldes proportionalen Betrag verschoben. Angenommen, daß die spektrale Bande des einfallenden Lichts in unmittelbarer Nachbarschaft, jedoch außerhalb der Absorptionsspektrallinie des Atomstrahls liegt oder diese nur teilweise überlappt, so wandert die Absorptionslinie des Atomstrahls mit wachsender magnetischer Induktion des Magnetfeldes über das Spektralprofil und absorbiert so wechselnde Mengen Licht je nach der Lage der Absorptionslinie relativ zur Emissionsspektrallinie. Die Ges amtintensität des übermittelten Lichts wird dann in irgendeiner Stellung oder kontinuierlich über den ganzen Bereich der Verschiebung hinweg durch den Detektor 37, Verstärker 38 und Schreiber 39 gemessen oder aufgezeichnet, und von der Aufzeichnung der Intensität des durch den Atomstrahl übermittelten Lichts als Funktion der Größe und Polarität des angewandten Magnetfelds kann das Spektrallinienprofil mittels bekannter mathematischer Beziehungen abgeleitet werden. Eine geeignete Art, eine solche Transmissionskurve aufzuzeichnen, ist, den verstärkten Ausgangsstrom vom Verstärker 38 auf den Y-Achse-Eingang eines XY-Schreibers zu geben, dessen X-Achse durch eine von dem magnetischen Feld, weiches man auf den Atomstrahl 32 einwirken läßt, abgeleitete Spannung, welche vorzugsweise eine lineare Funktion des Feldes ist, angetrieben wird. Beispielsweise läßt man im Fall eines Elektromagneten mit einem Luftkern den Strom durch die Spule und durch einen Standardwiderstand R gen, der einen Spannungsabfall V=iR liefert, weicher die X-Achse des Schreibers antreibt.
  • Andere Arten, eine Spannung von dem magnetischen Feld abzuleiten, liegen für einen Fachmann auf der Hand.
  • Ein weiteres Verfahren ist, den gewöhnlichen XY-Schreiber durch ein Oszilloskop zu ersetzen und für die Kippspannung einen Wechselstrom zu verwenden.
  • Durch bekannte Mittel wird die Transmissionskurve als Funktion der Stromstärke und daher des magnetischen Feldes auf dem Oszilloskopschirm abgebildet.
  • In Fig. 3 der Zeichnungen ist eine abgewandelte Form der erfindungsgemäßen Vorrichtung gezeigt, die zum Messen der Intensität des durch den absorbierenden Atomstrahl resonanzgestreuten Lichts dienen soll, wobei ein durch die Blende 41 tretender paralleler Lichtstrahl auf den absorbierenden Atomstrahl 42 fällt. Das durch den Atomstrahl in einem spitzen Winkel mit der Einfallsrichtung gestreute Licht wird nach Durchtritt durch ein Filter 43, einen Polarisator 44 und eine Viertelwellenlängenplatte 45 durch eine Linse 46 gesammelt und auf einen 5 ekundärelektronenvervielfältiger 47 geworfen. Die Ausgangsleistung des Sekundärelektronenvervielfältigers wird durch einen Verstärker 48 verstärkt und darch einen. Schreiber 49 aufgezeichnet. Ein Elektromagnet 50 erzeugt ein zum in den Atom strahl 42 eintretenden und ihn verlassenden Licht paralleles magnetisches Fild.
  • Die in einer gegebenen Richtung in feste Einheitswinkel gestreute Lichtmenge ist proportional der absorbierten Lichtmenge. Das Prinzip und die Durchführung des Abtastens eines zu untersuchenden Profils sind' für die Anordnung der Fig. 3 die gleichen, wie oben für die Anordnung der Fig. 2 beschrieben, d. h., die spektrale Absorptionslinie wird durch Anlegen eines magnetischen Feldes in eine Anzahl von Komponenten aufgespalten, und die Anzahl der Komponenten wird durch die oben beschriebenen Maßnahmen auf eine Mindestzahl, vorzugsweise nur eine, beschränkt. Diese eine Absorptionslinile läßt man dann über den zu untersuchenden Teil des Spektrums wandern.
  • Obwohl es im allgemeinen wünschenswert ist, in beiden Fällen, bei Streuung und Absorption, Sonden kleinster Breite als Absorptionsmedium zu verwenden, is die Erfindung im Prinzip nicht hierauf beschränkt.
  • Dies wird an Hand weiterer Skizzen erläutert. Die Fig. 7, 8 und 9 zeigen schematisch die drei möglichen Fälle, in denen jeweils wieder Streuung oder Absorption gemessen werden kann. Alle drei Figuren 7, 8 und 9 sind vereinfachte Darstellungen der Anordnungen von Fig. 2 und 3. Eine Lichtquelle L7 bzw. L5 bzw. L9 bestrahlt einen absorbierenden Atomstrahl A7 bzw. As bzw. Ag, und die photoelektrischen Zellen ZT7, ZTs, ZT9 messen die Intensität des hindurchtretenden bzw. die Zellen Zs7, Zs5, Zs9 messen die Intensität des gestreuten Lichts. Es sind dann theoretisch drei Fälle möglich - das Profil der absorbierenrenden Bande kann schmaler (Fig. 7), gleich breit (Fig. 8) oder breiter (Fig. 9) sein als das Profil der Lichtquelle. Dies ist durch die Form der in die Lichtquellen oder den Atomstrahl eingezeichneten Profile angedeutet. Die einfachste und in der Praxis klarste Anordnung ist die von Fig. 7. Die zu untersuchende, unbekannte Linie der Lichtquelle L7 hat ein im Verhältnis zur Sonde A7 breites Profil. Im Idealfall, dessen Profile in größerem Maßstab in Fig. 4 und 5 dargestellt sind, ist das Profil der Sonder, schmal und rechteckig. Wenn man dann die Sonde A4 mittels der genannten Effekte durch das breite Profil von L wandern läßt, so wird an den Stellungen 51, 52, 53, 54, 55, 56 und 57 der Fig. 4 jeweils ein schmaler Streifen absorbiert, der dann resonanzgestreut wird und dessen Intensität 51', 52' bis 57' in Fig. 5 eine fast genaue, proportionale Funktion des Profils der Fig. 4 ist. Da eine Photozelle das Integral der gesamten durch den Atomstrahl hindurchtretenden Lichtmenge registriert, ist die Verringerung durch ein sehr schmales Absorptionsband sehr gering und direkt nicht genau meßbar. Die Absorptionsintensität kann jedoch mittels der vorher besprochenen Differentialmethode in analoger Weise bestimmt werden.
  • Fig. 8 zeigt die Anordnung des ebenfalls praktischen Falles, in dem Lichtstrahl L14 und Sonder34 ein Profil gleicher Breite haben. Dies kann z. B. der Fall sein, wenn beide von demselben Atomdampf stammen und der Atomstrahl zur Messung der Temperatur oder Dampfgeschwindigkeit verwendet wird. Man läßt das Sondenprofil A mittels der genannten Effekte durch das Emissionsprofil L wandern.
  • Fig. 9 stellt den Fall dar, in dem die Sonde AL7 ein breiteres Profil hat als die Lichtquelle L17. Praktisch ist dieser Fall zu Messungen weniger geeignet, wenn auch unter Umständen verwendbar.
  • Wenn die ausgewählte Absorptionslinie des durch Resonanz zerstreuten Atomstrahls nicht schmaler ist als die in Fig. 4 dargestellte Linie, sondern etwa die gleiche Breite besitzt, wie es bei identischen Linien identischer Elemente der Fall ist, so kann der Zeeman- oder Starkeffekt dazu verwendet werden, die Absorptionslinie zu verschieben, bis eine vollkommene Überdeckung erreicht ist. Wenn somit die Emissionslinie durch Wärmeeinwirkung oder einen Dopplereffekt verschoben worden ist, so dient die Energie des auf die absorbierende Linie ausgeübten Zeeman- oder Starkeffekts, die erforderlich ist, um beide Linien zur vollkommenen Überdeckung zu bringen, dazu, die auf die ausgestrahlte Linie einwirkende Wärmewirkung oder den Dopplereffekt zu messen.
  • Eine weitere Abwandlung, welche in der Vorrichtung der Fig. 2 oder 3 vorgenommen werden kann, besteht darin, die Lichtquelle selbst an Stelle des Atomstrahls der Einwirkung eines Magnetfeldes zu unterwerfen. Es ist häufig möglich, eine einzelne Spektralfeinlinie der Lichtquelle aufzuspalten und unerwünschte Doppelbilder zu entfernen wie es im Zusammenhang mit Fig. 2 am Atomstrahl erläutert wurde, ohne in andere störende Wellenbereiche zu kommen. Der absorbierende Atomstrahl wird dann stationär in Ruhe verbleiben, und die Emissionslinie der Lichtquelle wandert dann unter dem Einfluß des Zeemaneffektes durch denAtomstrahl hindurch, d. h., man kann sagen, daß der Atomstrahl durch die Emissionslinie abgetastet wird. Am entstehenden Resonanzstreu- bzw. Absorptionsprofil ändert dies aber nichts, da nur die relativen Stellungen der emittierenden Linie und des absorbierenden Atomstrahles maßgebend sind. Natürlich ist diese Arbeitsweise nur möglich, wenn die Lichtquelle im Arbeitsbereich des Experimentators, z. B. im Labor, ist.
  • Typische praktische Verwendungen für die erfindungsgemäßen Verfahren und Vorrichtungen werden in den folgenden Beispielen beschrieben.
  • Beispiel 1 Isotopenanalyse Die relative Häufigkeit der Isotopen einer Quecksilberprobe wurde mittels der Vorrichtung der Fig. 2 bestimmt, indem man die Strahlung eines diese Probe enthaltenden Niederdruck-Quarzentladungsrohrs durch einen aus dem Dampf eines gereinigten Quecksilberisotops, nämlich Hut98, bestehenden Atomstrahls leitete.
  • Das Filter 33 war ein Ultraviolettfilter, welches nur die 2536-AResonanzlinie des Quecksilbers durchließ, der Polarisator 34 war ein Nicol-Prisma mit Glyzerinzement, und die Viertelwellenlängenplatte 35 bestand aus Quarz. Aus der Verminderung der Intensität des übermittelten Lichts, während man die aufgespaltene Absorptionslinienkomponente über die Emissionslinie jedes Isotops wandern ließ, konnte die Intensität des von jenem Isotop ausgestrahlten Lichts bestimmt werden.
  • Das Verhältnis der auf jedes Isotop zurückzuführenden Intensitäten ergab das Verhältnis der Häufigkeit dieser Isotopen.
  • Beispiel 2 Isotopenanalyse In einem weiteren Versuch wurde die Häufigkeit der nur einen kleinen Bruchteil der Gesamtmenge bildenden Isotopen bestimmt. Zu diesem Zweck wurde das gereinigte Quecksilberisotop Dgl98 als Lichtquelle verwendet, indem man es als strahlendes Medium in einem Entladungsrohr oder als ein resonanzstreuendes Medium in einem Atomstrahl verwendete, und die Probe mit der zu bestimmenden Isotopezuasammensetzung stellte einen anderen als absorbierendes Medium wirkenden Atom strahl dar.
  • Die emissions- oder resonanzgestreute Linie des gereinigten Isotops Dgl98 wurde, wie oben beschlrieben, durch magnetische Felder aufgespalten und ver schoben, und eine der Linien wählte man mittels eines Nicol-Prismas und einer Viertelwellenlängenplatte aus und ließ sie über die Absorptionslinien der verschiedenen Isotopen der zu untersuchenden Probe wandern.
  • Aus der Verminderung der Intensität des über mittelten Lichts beim Übereinstimmen der Emissionslinienkomponente mit jeder der Isotopenabsorptionslinien wurde die Häufigkeit dieser Isotopen auf übliche Weise bestimmt.
  • PATBNTANSPRUCHB: 1. Verfahren zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlängenbereiches, wobei ein Lichtbündel zunächst in einen Atomstrahl als absorbiert rendes Medium geleitet und das durch dieses hadurchtretende oder gestreute Licht gemessen wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle oder das absorbierende Medium durch Zeeentn- oder Starkeffekt beeinflußt wird.

Claims (1)

  1. 2. Vorrichtung zur Durchfbrung des Verfahrens nach Anspruch 1, im Sinne einer Beeinflussung durch " Zeemaneffekt, gekennzeichnet durch einen Elektromagneten, der derart ange ordnet ist, daß ein Magnetfeld parallel zum Lichtstrahl erzeugt wird.
    3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, im Sinne einer Beeinflussung durch Stareffekt, dadurch gekennzeichnet, daß ein elektrisches Feld an das Absorptionsmedium angelegt wird.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Australische Patentschrift Nr. 163 586.
DEJ19298A 1961-01-17 1961-01-17 Verfahren und Vorrichtung zum spektroskopischen Abtasten eines Wellenlaengenbereiches Pending DE1146278B (de)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2165106A1 (de) * 1971-01-05 1972-07-27 Varian Techtron Pty Ltd Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Atomspektren
DE3223334A1 (de) * 1982-06-23 1984-01-05 Peter Dr. 6296 Waldernbach Wirz Verfahren fuer die spektroskopie und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE3611757A1 (de) * 1985-04-08 1986-10-16 Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo Atomabsorptionsspektrophotometer
WO1989008831A1 (en) * 1988-03-18 1989-09-21 Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co. Gmbh Atomic absorption spectrometer

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