SU614367A1 - Флуоресцентный рентгеновский спектрометр - Google Patents
Флуоресцентный рентгеновский спектрометрInfo
- Publication number
- SU614367A1 SU614367A1 SU752174672A SU2174672A SU614367A1 SU 614367 A1 SU614367 A1 SU 614367A1 SU 752174672 A SU752174672 A SU 752174672A SU 2174672 A SU2174672 A SU 2174672A SU 614367 A1 SU614367 A1 SU 614367A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- ray
- spectrometer
- circle
- distance
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
- G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
1
Изойретение относитс к технике рентгеноспектрального флуоресцентного анализа.
Известные рентгеновские флуоресцентные спектрометры,, содержащие рентгеновскую трубку, держатель образца , фокусирующий кристалл-анализатор и детектор рентгеновского излучени 1.
Дл получени хорошей светосилы в таких спектрометрах необходимо использовать мс дные рентгеновские трубки, что значительно увеличивает габариты спектрометра.
Дл повышени светосилы спектрометров рентгеновского излучени примен ют кристаллы-анализаторы с большим раствором угла и источники возбуждающего излучени , дающие ленточный пучок электронов |j2 .
Наиболее близок по технической сущности к предложенному - флуоресцентный рентгеновский спектрометр, содержапшй источник рентгеновского излучени , держатель образца,фокусирующий кристаланализатор ,.положение которого определ ет положение фокусирующей окружности, детектор рентгеновского излучени з.
Недостатке этого устройства вл етс низка светосила.
Цель изобретени заключаетс в том, чтобы повысить светосилу спектрометра .
Поставленна цель достигаетс тем, что рассто ние от фокуса источника рентгеновского излучени до поверхности образца не превышает четверти высоты кристалла-анализатора, а рассто ние от поверхности образца до фокусирующей окружности не превышает четверти произведени диаметра фокусирующей окружности на отношение высоты кристалла-анализатора к его длине.
На фиг. 1 представлена оптическа схема флуоресцентного рентгеновского спектрометра; на фиг. 2 - график интенсивности флуоресценции освещаемых участков образца в зависимости от рассто ни их ДО центра освещенной области в единицах рассто ни от фокусного п тна трубки до центра освещенной области .
Claims (3)
- Флуоресцентный рентгеновский спектрометр содержит торцовую рентгеновскую трубку 1 прострельного типа с фокусным п тном 2, держатель образца с образцом 3, исследуемый участок которого имеет высоту а и ширину , входную 4 и приемную 5 щели, расположенные на фокальном круге 6, фокусиругстций кристалл-анализатор 7 длиной и высотой Н , расположенный за фокаль ным -кругом, и детектор 8 рентгеновско излучени . Первичное излучение рентгеновской трубки 1t исход щее из фокусного п тна 2, освещает образец 3, в котором возбуждаетс вторичное флуоресцентное рентгеновское излучение. Флуоресцентное излучение образца прохо;Е|ит: через BxoAHjno щель 4, отражаетс от кристалла-анализатора 1ф фокусиру сь на приемной щели 5, и регистрируетс детектор « 8 рентгеновского излучени BыЬoтa а исследуемого участка .образца ограничена высотой кристалла-анализатора и ргизнаК . Ширина исследуемого участка образца овусловлена рассто нием от его аоверхности до фокального круга и рав ыа (ФигЛ) :Ъ--| ,. где. Я рассто ние от входной ще/д до кристалла-анализатора ; D диаметр фркального круга, 9 - угол Брег га. Рассто ние fi от фокусного п тна 2до поверхности образца 3 не превыша ет четверти высоты И кристалла-анализатора 7.Так как крайние точки исследуемого участка поверхности образц 3отсто т.от центра поверхности на ве личину -j-i - , то такое рассто ние от фокусного п тна 2 до поверхности образца 3 позвол ет осветить исследуе мый участок поверхности практически всем потоке излучени от- -ренфг-виоах ш кой трубки I в вертикальной плоскости {см .фиг. 2), Держатель образца расположен так, что рассто ние t« QTJ поверхности образца 3 до фокального круга б в спектрометре не больше PИ этом ширина в исследуемого участ ка поверхности образца 3 меньше или равна , т.е. в горизонтальной плоскости осве1ценност.ь исследуемого учасхка поверхности образца 3 равномерна (см.фиг.2). Чувствительность фокусирующего ре геновского спектрометра определ етс освещенностью исследуемого участка п верхности образца. yMSHbtrjeHHe исслед МОГ.О, участка поверхности приводит к (е ьи1ёнию необходимого потока излучени рентгеновской трубки,а тем самьв и к повьааению светрс лы спектрометра , ч При выполнении требований: fl I - освещенность исследуемого участка поверхности образца велика, а площгдфь исследуемого Участка мини67 мальна, т.е. светосила спектрометра аксимальна. Схема спектрометра реализуетс при образце, расположенном как вне, так и внутри -фокального: круга, однако наилучшие результаты получают при расположении образца вне фокального круга. Исследуемый участок поверхности образца в предлагаемом варианте спектрометра мал.Поэтому дл устранени результатов анализа образец в процессе измерени целесообразно перемещать. Повышение светосилы флуоресцентного рентгеновского спектрометра позвол ет при сохранении мощности рентгеновской трубки повысить чувствительность в 10-30 раз или при сохранении чувствительности снизить мощность рентгеновской трубки на два-три пор дка. Например , применение малсмощной рентгеновской трубки прострельного типа, имеющей малое рассто ние от фокусного п тна до выходного окна, резко снижает габариты спектрометра и его себестоимость . Формула изобретени Флуоресцентный рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновского излучени , держатель образца, фокусирующий кристалл-аналидатор , положение которого определ ет положение фокусирующей окружности, и детектор излучени , отличающийс тем, что, с целью повышени светосилы спектрометра, источник рентгеновского излучени и держатель образца расположены таким образ т, что рассто ние от Фокуса источника рентгеновского излучени до поверхности образца не превышает Четверти высоты кристалла-анализатора, а рассто ние от поверхности образца до фокусирующей окружности не превышает четверти произведени диаметра фокусирующей окружности на отношение высоты кристалла-анализатора к его длине. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе: 1 .Toghio Stiiraiwa pnd Nofau1(at«u Fujitio. Miefo feuopescent X- dgahofcsset. Advances in X-Kav Anatysis ,v.-HjPEenum , Jofk,Y96e.
- 2.ВЕ ложенна за вка ФРГ № 2329190, КЛ..42 t 3/08, 1973.
- 3.Русанов A. A. Рентгенографи металлов, ч. Ш М., МИФИ, 1969, с. 99.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU752174672A SU614367A1 (ru) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр |
US05/724,231 US4091282A (en) | 1975-09-26 | 1976-09-17 | X-ray fluorescence spectrometer |
NLAANVRAGE7610384,A NL172594C (nl) | 1975-09-26 | 1976-09-17 | Een met roentgenstralen werkende fluorescentiespectrometer. |
DE2642637A DE2642637C2 (de) | 1975-09-26 | 1976-09-22 | Röntgenfluoreszenzspektrometer |
FR7628628A FR2325926A1 (fr) | 1975-09-26 | 1976-09-23 | Spectrometre radioscopique a fluorescence |
GB39475/76A GB1564534A (en) | 1975-09-26 | 1976-09-23 | Ray fluorescence spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU752174672A SU614367A1 (ru) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU614367A1 true SU614367A1 (ru) | 1978-07-05 |
Family
ID=20632495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU752174672A SU614367A1 (ru) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4091282A (ru) |
DE (1) | DE2642637C2 (ru) |
FR (1) | FR2325926A1 (ru) |
GB (1) | GB1564534A (ru) |
NL (1) | NL172594C (ru) |
SU (1) | SU614367A1 (ru) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4417355A (en) * | 1981-01-08 | 1983-11-22 | Leningradskoe Npo "Burevestnik" | X-Ray fluorescence spectrometer |
NL8300420A (nl) * | 1983-02-04 | 1984-09-03 | Philips Nv | Roentgen analyse apparaat. |
US4785470A (en) * | 1983-10-31 | 1988-11-15 | Ovonic Synthetic Materials Company, Inc. | Reflectivity and resolution X-ray dispersive and reflective structures for carbon, beryllium and boron analysis |
NL8700488A (nl) * | 1987-02-27 | 1988-09-16 | Philips Nv | Roentgen analyse apparaat met saggitaal gebogen analyse kristal. |
GB2214769A (en) * | 1988-03-04 | 1989-09-06 | Le N Proizv Ob Burevestnik | Multichannel x-ray spectrometer |
RU94022820A (ru) * | 1994-06-14 | 1996-04-10 | К.В. Анисович | Рентгеновский флюоресцентный спектрометр |
DE29517080U1 (de) * | 1995-10-30 | 1997-03-06 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80636 München | Vorrichtung für die Röntgenfluoreszenzmikroskopie |
CN101883980B (zh) * | 2007-03-15 | 2013-06-12 | X射线光学系统公司 | 用于确定样品价态的x射线荧光方法 |
JP7418208B2 (ja) | 2016-09-15 | 2024-01-19 | ユニバーシティ オブ ワシントン | X線分光計及びその使用方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2805343A (en) * | 1954-07-12 | 1957-09-03 | Andrew R Lang | Diffractometer |
US2805341A (en) * | 1954-07-12 | 1957-09-03 | Andrew R Lang | Diffractometer |
GB1148646A (en) * | 1967-02-16 | 1969-04-16 | Cambridge Instr Co Ltd | X-ray microanalysers |
-
1975
- 1975-09-26 SU SU752174672A patent/SU614367A1/ru active
-
1976
- 1976-09-17 NL NLAANVRAGE7610384,A patent/NL172594C/xx not_active IP Right Cessation
- 1976-09-17 US US05/724,231 patent/US4091282A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-09-22 DE DE2642637A patent/DE2642637C2/de not_active Expired
- 1976-09-23 GB GB39475/76A patent/GB1564534A/en not_active Expired
- 1976-09-23 FR FR7628628A patent/FR2325926A1/fr active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL172594C (nl) | 1983-09-16 |
FR2325926B1 (ru) | 1978-11-03 |
DE2642637C2 (de) | 1982-02-11 |
FR2325926A1 (fr) | 1977-04-22 |
NL172594B (nl) | 1983-04-18 |
DE2642637A1 (de) | 1977-04-07 |
US4091282A (en) | 1978-05-23 |
NL7610384A (nl) | 1977-03-29 |
GB1564534A (en) | 1980-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4195930A (en) | Optical Raman microprobe with laser | |
US3556659A (en) | Laser-excited raman spectrometer | |
SU614367A1 (ru) | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр | |
JP2003515164A (ja) | X線蛍光装置 | |
US3460880A (en) | Point illumination and scanning mechanism for microscopes | |
US4417355A (en) | X-Ray fluorescence spectrometer | |
JP2006519364A (ja) | 分光光度計 | |
GB2158231A (en) | Laser spectral fluorometer | |
US3963922A (en) | X-ray fluorescence device | |
JP2002189004A (ja) | X線分析装置 | |
JP2007017350A (ja) | X線分析装置 | |
JP2002195963A (ja) | X線分光装置およびx線分析装置 | |
US3005098A (en) | X-ray emission analysis | |
KR100703819B1 (ko) | 형광 엑스-레이 분석장치 | |
US3155827A (en) | Electron microscope with a secondary electron source utilized for electron probe analysis | |
US3247759A (en) | Spectrometer with multiple entrance slits | |
JPH02259515A (ja) | ケイ光x線膜厚測定装置 | |
SU974230A2 (ru) | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр | |
US3463592A (en) | Shifting beam microspectrophotometer with means for selectively varying paths of reference and sample beams through a common optical system | |
SU320195A1 (ru) | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр | |
SU273005A1 (ru) | Рентгеновска трубка дл возбуждени спектров флуоресценции | |
JP3860641B2 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
SU972348A2 (ru) | Флуоресцентный рентгеновский анализатор с рентгеновским зондом | |
WO1983001111A1 (en) | Apparatus for the measurement of fluorescence | |
US3503686A (en) | Atomic absorption spectrophotometer |