RU94022820A - Рентгеновский флюоресцентный спектрометр - Google Patents
Рентгеновский флюоресцентный спектрометрInfo
- Publication number
- RU94022820A RU94022820A RU94022820/25A RU94022820A RU94022820A RU 94022820 A RU94022820 A RU 94022820A RU 94022820/25 A RU94022820/25 A RU 94022820/25A RU 94022820 A RU94022820 A RU 94022820A RU 94022820 A RU94022820 A RU 94022820A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- sample
- tube
- line
- angle
- ray
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Abstract
В рентгеновском флюоресцентном спектрометре рентгеновская трубка 1 установлена относительно держателя 3 образца так, что максимальная освещенность поверхности образца 4 при напряжении рентгеновской трубки 50 кВ составляет не менее 15 Z эрг/смВт, где Z - атомный номер материала анода источника рентгеновского излучения, а расстояние r от входной щели 7 до центра 0 отбора излучения образца определяется соотношением r ≅= hD/L, где h - расстояние между фокусом F трубки 1 и образцом 4, D - диаметр фокальной окружности 6 и L - длина кристалла-анализатора 5. Для увеличения светосилы спектрометра путем уменьшения расстояния h при обеспечении воспроизводимости результатов измерении, угол β между линией FM, соединяющей фокус трубки 1 с точкой максимальной освещенности на поверхности образца 4, и линией FO, соединяющей фокус трубки с центром зоны отбора излучения образца, равен [(0,6-1,5)L/D-γ], где γ - угол наклона торца трубки 1 к поверхности образца 4, а угол v между указанной линией FO и линией 10, проходящей через входную щель 7 и центр кристалла-анализатора 5, равен (0,8-1,2)π/2.
Claims (1)
- В рентгеновском флюоресцентном спектрометре рентгеновская трубка 1 установлена относительно держателя 3 образца так, что максимальная освещенность поверхности образца 4 при напряжении рентгеновской трубки 50 кВ составляет не менее 15 Z эрг/см2Вт, где Z - атомный номер материала анода источника рентгеновского излучения, а расстояние r от входной щели 7 до центра 0 отбора излучения образца определяется соотношением r ≅= hD/L, где h - расстояние между фокусом F трубки 1 и образцом 4, D - диаметр фокальной окружности 6 и L - длина кристалла-анализатора 5. Для увеличения светосилы спектрометра путем уменьшения расстояния h при обеспечении воспроизводимости результатов измерении, угол β между линией FM, соединяющей фокус трубки 1 с точкой максимальной освещенности на поверхности образца 4, и линией FO, соединяющей фокус трубки с центром зоны отбора излучения образца, равен [(0,6-1,5)L/D-γ], где γ - угол наклона торца трубки 1 к поверхности образца 4, а угол v между указанной линией FO и линией 10, проходящей через входную щель 7 и центр кристалла-анализатора 5, равен (0,8-1,2)π/2.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU94022820/25A RU94022820A (ru) | 1994-06-14 | 1994-06-14 | Рентгеновский флюоресцентный спектрометр |
| AU28107/95A AU2810795A (en) | 1994-06-14 | 1995-06-13 | X-ray fluorescence spectrometer |
| PCT/RU1995/000127 WO1995034807A1 (en) | 1994-06-14 | 1995-06-13 | X-ray fluorescence spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU94022820/25A RU94022820A (ru) | 1994-06-14 | 1994-06-14 | Рентгеновский флюоресцентный спектрометр |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU94022820A true RU94022820A (ru) | 1996-04-10 |
Family
ID=20157279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU94022820/25A RU94022820A (ru) | 1994-06-14 | 1994-06-14 | Рентгеновский флюоресцентный спектрометр |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| AU (1) | AU2810795A (ru) |
| RU (1) | RU94022820A (ru) |
| WO (1) | WO1995034807A1 (ru) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU614367A1 (ru) * | 1975-09-26 | 1978-07-05 | Предприятие П/Я М-5659 | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр |
| US4134012A (en) * | 1977-10-17 | 1979-01-09 | Bausch & Lomb, Inc. | X-ray analytical system |
| US4417355A (en) * | 1981-01-08 | 1983-11-22 | Leningradskoe Npo "Burevestnik" | X-Ray fluorescence spectrometer |
| DE3125803A1 (de) * | 1981-06-30 | 1983-01-13 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Kristall-roentgen-sequenzspektrometer |
| GB2208925A (en) * | 1987-08-25 | 1989-04-19 | Le N Proizv Ob Burevestnik | Multichannel x-ray spectrometer |
-
1994
- 1994-06-14 RU RU94022820/25A patent/RU94022820A/ru unknown
-
1995
- 1995-06-13 AU AU28107/95A patent/AU2810795A/en not_active Abandoned
- 1995-06-13 WO PCT/RU1995/000127 patent/WO1995034807A1/ru active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU2810795A (en) | 1996-01-05 |
| WO1995034807A1 (en) | 1995-12-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Winefordner et al. | Determination of Zinc, Cadmium, and Mercury by Atomic Fluorescence Flame Spectormetry. | |
| Santosa | Rapid and simultaneous multi-element analysis of atmospheric particulate matter using inductively coupled plasma mass spectrometry with laser ablation sample introduction | |
| US4680467A (en) | Electron spectroscopy system for chemical analysis of electrically isolated specimens | |
| JP2003515164A (ja) | Ｘ線蛍光装置 | |
| US4417355A (en) | X-Ray fluorescence spectrometer | |
| Barker et al. | Determination of ammonium, amide, amino, and nitrate nitrogen in plant extracts by a modified Kjeldahl method. | |
| Mukhtar et al. | Application of total-reflection X-ray fluorescence spectrometry to elemental determinations in water, soil and sewage sludge samples | |
| US4382181A (en) | Detection of atoms using monochromatic X-rays | |
| SU614367A1 (ru) | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр | |
| RU94022820A (ru) | Рентгеновский флюоресцентный спектрометр | |
| Yuying et al. | Beijing synchrotron radiation total-reflection X-ray fluorescence analysis facility and its applications on trace element study of cells | |
| Nobiling et al. | A microscope fluorimeter using multiple‐wavelength excitation for ultrasensitive single‐cell emission spectrometry: Microfluorimetry on the single‐cell level: prospects and problems | |
| US4806754A (en) | High luminosity spherical analyzer for charged particles | |
| Kirchgessner et al. | Application of Echelle Spectrographs to Quantitative Analysis of Boron in Steel | |
| Nau et al. | Photometric instrument with automatic switching between photon counting and analog modes | |
| Ma et al. | Laser-based indirect fluorometric detection and quantification in thin-layer chromatography | |
| RU2095883C1 (ru) | Газовый электролюминесцентный детектор | |
| Lee et al. | The Spectrographic Determination of Uranium 235. Part II. Using a Direct-Reading Attachment and a Hollow Cathode Source | |
| CN220307442U (zh) | 一种用于x射线仪器的光子阻挡器与光电二极管集成部件 | |
| RU2168708C1 (ru) | Способ освещения входной щели спектрального прибора | |
| US3583811A (en) | Electrode | |
| SU873074A1 (ru) | Флуоресцентный рентгеновский спектрометр | |
| SU1378571A1 (ru) | Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа материалов на примеси легких элементов | |
| RU2114420C1 (ru) | Способ юстировки дифрактометра | |
| DE19735144A1 (de) | Reflexionsfluorimeter |