DE19900308B4 - Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor - Google Patents

Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor Download PDF

Info

Publication number
DE19900308B4
DE19900308B4 DE1999100308 DE19900308A DE19900308B4 DE 19900308 B4 DE19900308 B4 DE 19900308B4 DE 1999100308 DE1999100308 DE 1999100308 DE 19900308 A DE19900308 A DE 19900308A DE 19900308 B4 DE19900308 B4 DE 19900308B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mirror
diffraction grating
entrance aperture
radius
dispersion prism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE1999100308
Other languages
English (en)
Other versions
DE19900308A1 (de
Inventor
Heinz Falk
Alexander Termanis
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Spectro Analytical Instruments GmbH and Co KG
Original Assignee
Spectro Analytical Instruments GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Spectro Analytical Instruments GmbH and Co KG filed Critical Spectro Analytical Instruments GmbH and Co KG
Priority to DE1999100308 priority Critical patent/DE19900308B4/de
Publication of DE19900308A1 publication Critical patent/DE19900308A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19900308B4 publication Critical patent/DE19900308B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • G01J3/1809Echelle gratings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/14Generating the spectrum; Monochromators using refracting elements, e.g. prisms
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

Optisches Spektrometer bestehend aus einer Eintrittsapertur, einem Kollimatorspiegel, einem Echelle-Beugungsgitter, einem Dispersionsprisma, wobei die Dispersionsebene des Echelle-Beugungsgitters parallel zur brechenden Kante des Dispersionsprismas verläuft, einem Kameraspiegel und einem zweidimensional segmentierten Empfänger, dadurch gekennzeichnet, daß der Kollimatorspiegel eine torische Oberfläche besitzt, die Eintrittsaperturebene im Abstand des halben Torusradius R(p) parallel zur brechenden Kante des Dispersionsprismas angeordnet ist, ferner der in der dazu senkrechten Ebene liegende Torusradius R(s) um 1.5% bis 2.5% kleiner ist als R(p), ferner das Zentrum der Eintrittsapertur mit dem Scheitelradius des Kollimatorspiegels einen Winkel von etwa 5° bildet, ferner das Dispersionsprisma etwa mittig zwischen Echelle-Beugungsgitter und sphärischem Kameraspiegel angeordnet ist, ferner das Echelle-Beugungsgitter etwa symmetrisch zwischen dem Scheitel des Kollimatorspiegels und dem Zentrum des Dispersionsprismas angeordnet ist, ferner der ebene segmentierte Empfänger vom Scheitel des sphärischen Kameraspiegels im Abstand von dessen halbem Krümmungsradius R(k) angeordnet ist, wobei R(k) etwa gleich 0,9·R(p) ist und der Abstand zwischen den Zentren...

Description

  • 1. Hintergrund der Erfindung
  • Die Anforderungen an optische Spektrometer für die analytische Chemie sind auf Grund der Forderungen nach einer Ausweitung des verfügbaren Spektralbereiches und gleichzeitiger Erhöhung des spektralen Auflösungsvermögens gewachsen. Als Beispiel sei hier der Einsatz optischer Spektrometer für Emissionsanalyse mittels ICP (Inductive Coupled Plasma) genannt, wobei der Spektralbereich bis in den kurzwelligen Bereich von 120 nm mit einem gewünschten spektralen Auflösungsvermögen von kleiner 10 pm erweitert wurde [1]. Inzwischen konnte gezeigt werden, daß die oben genannten Forderungen nur mit erheblichem Aufwand durch Spektrometeranordnungen mit eindimensionaler Verteilung der Spektralelemente erfüllt werden können. Vielmehr eignen sich dazu Geräte, welche eine zweidimensionale Anordnung der Spektralelemente verwenden, z. B. durch Spektrometer mit gekreuzter Dispersion zumeist durch Kombination von einem Schelle-Beugungsgitter mit einem Dispersionsprisma als Querdisperser [2]. Eine entscheidende Voraussetzung für die praktische Nutzung zweidimensionaler Spektralverteilungen ist die Verfügbarkeit geeigneter segmentierter Detektoren für die nachzuweisende Strahlung.
  • Die bisher realisierten Schelle-Spektrometer mit Flächenempfängern sind noch relativ groß, mit typischen Brennweiten von 300 bis 500 mm [2, 3]. Nachteile der bestehenden Anordnungen sind neben der Baugröße ein relativ komplizierter optischer Aufbau und die Notwendigkeit der Verwendung speziell angepaßter segmentierter Detektoren (Arrays), deren Entwicklung einerseits Kosten mit sich bringt und andererseits Designänderungen infolge wechselnder Anwendungsforderungen erschwert.
  • Die erfindungsgemäß zu lösende Aufgabe besteht also darin, ein optisches Spektrometer mit zweidimensionalem Detektor vorzustellen, welches im Spektralbereich von 120 bis 900 nm einsetzbar ist, dessen größte lineare Abmessung etwa kleiner 150 mm ist und mit handelsüblichen Arrays, wie zum Beispiel den in Videorecordern eingesetzten CCD-Detektoren, ausgerüstet werden kann.
  • 2. Erfindungsbeschreibung
  • Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, indem die Bauelemente eines zweidimensional dispergierenden Spektrometers, bestehend aus Eintrittsapertur, erstem Konkavspiegel, Echellegitter, Prisma, zweitem Konkavspiegel und Array-Detektor derart angeordnet werden, daß die im genutzten Spektralbereich auftretenden Aberrationen vernachlässigbar klein werden. Im Einzelnen besitzt der erste Konkavspiegel, der Kollimator, eine optimierte torische Oberfläche mit unterschiedlichen Krümmungsradien senkrecht und parallel zur Einfallsebene, wobei der Mittelpunktsstrahl durch die Eintrittsapertur und das Zentrum des Kollimators mit dem von letzterem reflektierten Strahl zum Zentrum des Echelle-Gitters einen möglichst kleinen Winkel von ca. 10° einschließt. Analog erscheint das in Ausbreitungsrichtung der Strahlung hinter dem Echelle-Gitter angeordnete Dispersionsprisma unter einem relativ kleinen Winkel von ca. 20° gegenüber dem Mittelpunktsstrahl Kollimator zum Echelle-Gitter. Durch die vorher definierte Anordnung wird der hinter dem Dispersionsprisma angeordnete zweite Konkavspiegel, der sphärische Kameraspiegel, mit seinem Zentrum nur um wenige Winkelgrad gegenüber dem Mittelpunktsstrahl durch die Eintrittsapertur in Richtung Schelle-Beugungsgitter angeordnet.
  • Im Vergleich zu bekannten Echelle-Spektrometern mit zweidimensionaler Dispersion ist die erfindungsgemäße Anordnung geeignet mit einer minimalen Anzahl von optischen Elementen eine weitgehend stigmatische Abbildung der Eintrittsapertur in die Detektorebene zu erreichen. Zum Beispiel kann dieses Ergebnis bei bekannten Anordnungen nur durch zusätzliche optische Elemente, wie Schmidt-Platte und Feld-Korrekturspiegel (3) oder einem tetraedrischem Aufbau mit zusätzlichen Aperturbegrenzern (4) erreicht werden. In allen diesen Fällen läßt sich der Aufbau nicht soweit verkleinern wie die erfindungsgemäße Lösung.
  • 3. Ausführungsbeispiel
  • Die erfindungsgemäße Anordnung soll nachfolgend an einem Beispiel näher erläutert werden.
  • Ein schematischer Aufbau der erfindungsgemäßen Anordnung ist in 1 etwa maßstabsgerecht als Draufsicht dargestellt. Die Grundfläche der Montageplatte (8) beträgt etwa 120·90 mm2. Die zu analysierende Strahlung tritt durch die Eintrittsapertur (1) ein. Der Verlauf der Strahlung ist durch die mit Pfeilen versehenen Zentralstrahlen gekennzeichnet. Die von der Strahlung ausgefüllten Raumwinkel sind jeweils durch die Begrenzungen der optischen Bauelemente vorgegeben und sind in 1 zur Vereinfachung nicht eingezeichnet. Das Öffnungsverhältnis beträgt ca. f/10. Nach Durchtritt der Strahlung durch die Eintrittsapertur (1) mit einem typischen Durchmesser von 30 μm wird sie durch den torischen Spiegel mit 70 mm Brennweite parallelisiert und trifft auf das Schelle-Beugungsgitter (3) mit ca. 50 Strichen/mm parallel zur Zeichenebene. Die vom Echelle-Gitter senkrecht zur Zeichenebene gebeugte Strahlung gelangt auf das Dispersionsprisma (4) mit einem brechenden Winkel von ca. 55°, von welchem es innerhalb der Zeichenebene zerlegt wird. Die nun in zwei zueinander senkrechte Richtungen zerlegte Strahlung gelangt auf den Kameraspiegel (5), dessen optisch wirksame Fläche etwa das Vierfache der Fläche des Kollimatorspiegels (2) entspricht. Vom Kameraspiegel (5) wird die dispergierte Strahlung auf den zweidimensional segmentierten Strahlungsempfänger (6) in Form eines Echellogrammes abgebildet. Die Ansteuerung des Empfängers und die Datenvorverarbeitung erfolgen mit Hilfe der Elektronikkarte (7).
  • In 2 ist der vom Echellogramm bedeckte Teil des segmentierten Empfängers dargestellt. Die von Linien des Eisenspektrums belegten Pixel sind als kleine Quadrate in 2 eingetragen. Die Ausschnittsvergrößerung zeigt benachbarte Eisenlinien, welche noch getrennt werden können.
  • 4. Literatur:
    • 1 P. Heitland, K. Krengel-Rothensee und U. Richter, GIT Laborfachzeitschr. 42, 779 (1998).
    • 2 M. J. Pilon, M. B. Denton, R. G. Schleicher, P. M. Moran and S. B. Smith, JR., Appl. Spectrosc. 44, 1613 (1990).
    • 3 T. W. Barnard, M. I. Crockett, J. C. Ivaldi and P. L. Lundberg, Anal. Chem. 65, 1225 (1993).
    • 4 H. Becker-Roß und S. V. Florek, Spectrochim. Acta B 52, 1367 (1997).

Claims (7)

  1. Optisches Spektrometer bestehend aus einer Eintrittsapertur, einem Kollimatorspiegel, einem Echelle-Beugungsgitter, einem Dispersionsprisma, wobei die Dispersionsebene des Echelle-Beugungsgitters parallel zur brechenden Kante des Dispersionsprismas verläuft, einem Kameraspiegel und einem zweidimensional segmentierten Empfänger, dadurch gekennzeichnet, daß der Kollimatorspiegel eine torische Oberfläche besitzt, die Eintrittsaperturebene im Abstand des halben Torusradius R(p) parallel zur brechenden Kante des Dispersionsprismas angeordnet ist, ferner der in der dazu senkrechten Ebene liegende Torusradius R(s) um 1.5% bis 2.5% kleiner ist als R(p), ferner das Zentrum der Eintrittsapertur mit dem Scheitelradius des Kollimatorspiegels einen Winkel von etwa 5° bildet, ferner das Dispersionsprisma etwa mittig zwischen Echelle-Beugungsgitter und sphärischem Kameraspiegel angeordnet ist, ferner das Echelle-Beugungsgitter etwa symmetrisch zwischen dem Scheitel des Kollimatorspiegels und dem Zentrum des Dispersionsprismas angeordnet ist, ferner der ebene segmentierte Empfänger vom Scheitel des sphärischen Kameraspiegels im Abstand von dessen halbem Krümmungsradius R(k) angeordnet ist, wobei R(k) etwa gleich 0,9·R(p) ist und der Abstand zwischen den Zentren von Eintrittsapertur und segmentiertem Empfänger kleiner als 0,9·R(p) gewählt ist und der Scheitelradius des Kameraspiegels mit dem Zentrum des segmentierten Empfängers einen Winkel von etwa 6° bildet.
  2. Optisches Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der torische Kollimatorspiegel aus Metall besteht, welches mit Hilfe eines optische Qualität gewährleistenden Herstellungsverfahrens bearbeitet wurde.
  3. Optisches Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Komponenten Kollimatorspiegel, Beugungsgitter, Prisma und Kameraspiegel unter Einhaltung der erforderlichen Lagetoleranzen fest auf eine mechanisch stabile Trägerplatte montiert, insbesondere auf die Trägerplatte geklebt sind.
  4. Optisches Spektrometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägerplatte aus Metall besteht.
  5. Optisches Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Eintrittsapertur durch einen Lichtwellenleiter, insbesondere einen solchen mit dem erforderlichen Durchmesser von ca. 20 μm gebildet wird.
  6. Optisches Spektrometer nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Eintrittsapertur einen rechteckigen Querschnitt besitzt, wobei insbesondere die zur brechenden Kante des Dispersionsprismas parallele Seite der Eintrittsapertur kürzer ist als die dazu senkrechte Seite.
  7. Optisches Spektrometer nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß sich der gesamte optische Aufbau in einem thermostatisierten gasdichten Gehäuse befindet, wobei letzteres mit einem transparenten Gas, vorzugsweise mit Argon gefüllt ist.
DE1999100308 1999-01-07 1999-01-07 Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor Expired - Fee Related DE19900308B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999100308 DE19900308B4 (de) 1999-01-07 1999-01-07 Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999100308 DE19900308B4 (de) 1999-01-07 1999-01-07 Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19900308A1 DE19900308A1 (de) 2000-07-13
DE19900308B4 true DE19900308B4 (de) 2010-11-25

Family

ID=7893700

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1999100308 Expired - Fee Related DE19900308B4 (de) 1999-01-07 1999-01-07 Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19900308B4 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004004666B3 (de) * 2004-01-30 2005-09-15 Daimlerchrysler Ag Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätsbestimmung einer Schweissnaht oder einer thermischen Spritzschicht und Verwendung
US7812311B2 (en) 2005-06-03 2010-10-12 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for two-dimensional spectroscopy
WO2007064830A1 (en) * 2005-12-02 2007-06-07 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for two-dimensional spectroscopy
CA2679029A1 (en) 2007-02-23 2008-08-28 Thermo Niton Analyzers Llc Hand-held, self-contained optical emission spectroscopy (oes) analyzer
CA2679025A1 (en) 2007-02-23 2008-08-28 Thermo Niton Analyzers Llc Fast and precise time-resolved spectroscopy with linear sensor array

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3516183A1 (de) * 1984-07-02 1986-01-09 Jenoptik Jena Gmbh, Ddr 6900 Jena Optisches system fuer spektralgeraete
DE3840106A1 (de) * 1987-11-27 1989-06-08 Outokumpu Oy Messfuehler fuer ein tragbares analysegeraet
DE4223212A1 (de) * 1992-07-15 1994-01-20 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Gitter-Polychromator
DE3811922C2 (de) * 1988-04-09 1994-09-15 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Atomemissions-Spektrometer
DE3811923C2 (de) * 1988-04-09 1995-02-02 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Atomemissionsspektrometer mit Untergrundkompensation
DE4410036A1 (de) * 1994-03-23 1995-09-28 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Zweistrahl-Polychromator
DE19518598A1 (de) * 1995-05-20 1996-11-21 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung und Verfahren zur Auswertung der von einem induktiv gekoppelten Plasma emittierten Spektrallinien
JPH10227693A (ja) * 1997-02-14 1998-08-25 Nec Corp 分光計

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3516183A1 (de) * 1984-07-02 1986-01-09 Jenoptik Jena Gmbh, Ddr 6900 Jena Optisches system fuer spektralgeraete
DE3840106A1 (de) * 1987-11-27 1989-06-08 Outokumpu Oy Messfuehler fuer ein tragbares analysegeraet
DE3811922C2 (de) * 1988-04-09 1994-09-15 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Atomemissions-Spektrometer
DE3811923C2 (de) * 1988-04-09 1995-02-02 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Atomemissionsspektrometer mit Untergrundkompensation
DE4223212A1 (de) * 1992-07-15 1994-01-20 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Gitter-Polychromator
DE4410036A1 (de) * 1994-03-23 1995-09-28 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Zweistrahl-Polychromator
DE19518598A1 (de) * 1995-05-20 1996-11-21 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung und Verfahren zur Auswertung der von einem induktiv gekoppelten Plasma emittierten Spektrallinien
JPH10227693A (ja) * 1997-02-14 1998-08-25 Nec Corp 分光計

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
H. Becker-Roß u.a.: Spectrochim. Acta B 52, 1367 (1997) *
M.J. Pilon u.a.: Appl. Spectrosc. 44, 1613 (1990) *
P. Heitland u.a.: GIT Laborfachzeitschrift 42, 779 (1998) *
P. Heitland u.a.: GIT Laborfachzeitschrift 42, 779 (1998) M.J. Pilon u.a.: Appl. Spectrosc. 44, 1613 (1990) T.W. Barnard u.a.: Anal. Chem. 65, 1225 (1993) H. Becker-Roß u.a.: Spectrochim. Acta B 52, 1367 (1997)
T.W. Barnard u.a.: Anal. Chem. 65, 1225 (1993) *

Also Published As

Publication number Publication date
DE19900308A1 (de) 2000-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69634317T2 (de) Optisches Spektrometer zur Erfassung von Spektren in unterschiedlichen Bereichen
DE4038638A1 (de) Diodenzeilen-spektrometer
EP1288652B1 (de) Röntgenstrahlen-Diffraktometer mit röntgenoptischen Elementen zur Ausbildung mehrerer Strahlpfade
DE102006017705B4 (de) Spektralanalytische Einheit mit einem Beugungsgitter und Laserscanning-Mikroskop
EP1590640A2 (de) Kompakt-spektrometer
EP0442596B1 (de) Echelle-Polychromator
DE19853754B4 (de) Simultanes Doppelgitter-Spektrometer mit Halbleiterzeilensensoren oder Photoelektronenvervielfachern
WO2008043457A1 (de) Hochempfindliche spektralanalytische einheit
DE69722551T2 (de) Spektrometer mit einem orientiert-geformten Schlitz
DE19900308B4 (de) Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor
DE102016210434A1 (de) Optische Positionsmesseinrichtung
DE102007028505A1 (de) Spektrometeranordnung
DE102015108818A1 (de) Anordnung zur Spektroskopie und Verfahren zur Herstellung der Anordnung
DE3213149C2 (de) Optisches System zur Änderung der Bildstellung
DE2944567A1 (de) Optisches system fuer spektralgeraete
EP2502087B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum lokalisieren von modulierten, optischen strahlungsquellen
EP4168734A1 (de) Chromatisch konfokale messvorrichtung
EP0454284A1 (de) Spektrometer
DE4201024A1 (de) Tragbares spektralphotometer zur in situ untersuchung des absorptionsspektrums eines stoffes
DE10011462C2 (de) Optisches Spektrometer mit Astigmatismuskompensation
DE19523140A1 (de) Mehrkanal-Spektrometer mit Zeilensensor
DE10160472A1 (de) Röntgen-optisches System und Verfahren zur Abbildung einer Quelle
DE102008054733B4 (de) Spektrometer mit mehreren Gittern
EP0021253A1 (de) Einrichtung für die Röntgenfluoreszenzanalyse
DE19814660C1 (de) Gitterspektrometer und Verfahren zur Messung spektraler Intensitäten von weißem Licht

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8110 Request for examination paragraph 44
8364 No opposition during term of opposition
R020 Patent grant now final

Effective date: 20110225

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20130801