DE3708235A1 - Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial - Google Patents
Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterialInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung
von Leiterbahnen an aus Aluminium-Nitrid Al N bestehenden
Substratmaterial für IC-Träger, gemäß Oberbegriff des Patent
anspruchs 1.
Es ist bekannt, daß Aluminium-Nitrid, insbesondere nach dem
Heißpreß-Sinterverfahren hergestellt, eine sehr gute Wärmeleit
fähigkeit aufweist, die bis zu acht mal so groß sein kann wie
diejenige von Al2O3. Dagegen ist sein Wärmedehnungskoeffizient
kleiner als derjenige von Al2O3. Aluminium-Nitrid ist deshalb
als Substratmaterial für IC-Träger (IC = Integrated Circuit) be
sonders geeignet, vergleiche "IEEE Trans. Components, Hybrids &
Manuf. Technol." (USA, Juni 1985) Band CHMT-8, Nr. 2, Seiten 247
bis 252. In dieser Literaturstelle ist auch beschrieben, daß das
Al N-Substrat metallisiert werden kann bei guten Adhäsions
eigenschaften durch die konventionellen Verdampfungs- und
"Sputtering"-Methoden.
Es stellte sich die Aufgabe, Leiterbahnen in das Al N-Substrat
auf genauere und elegantere Weise, d. h. insbesondere mit weni
ger Arbeitsschritten einzubringen, was im Hinblick auf den
hohen Miniaturisierungsgrad (Abstände im Zehntelmillimeterbe
reich) von besonderer Bedeutung ist. Es wurde eine überraschend
einfache Lösung dieser Aufgabe gefunden, die darin besteht, daß
das in Form von Streifen, Platten oder dergleichen vorliegende
Substratmaterial entsprechend den vorgegebenen Leiterbahnen-
Muster mit einer elektromagnetischen Strahlung einer solchen
Energiedichte und Einwirkungsdauer pro Flächeneinheit bestrahlt
wird, daß in den bestrahlten Zonen das Al N in metallisches Alu
minium unter Abgabe von Stickstoff zerfällt.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform wird die partielle Um
wandlung des Al N in metallisches Al mittels Laserbestrahlung
herbeigeführt. Diese Laserbestrahlung läßt sich besonders vor
teilhaft auch und gerade bei gesintertem Al N aus Substratmate
rial anwenden.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung wird zur Bestrahlung ein
Excimer-Laser insbesondere ein XeCl-Laser, mit einer Energie
dichte von ca. 3 J/cm2 und der Wellenlänge λ = 308 nm verwen
det.
Die mit der Erfindung erzielbaren Vorteile sind vor allem in
folgendem zu sehen: Gerade in Verbindung mit dem Merkmal, das
die IC-Träger für direkte Druckkontaktierung ("surface
mounting") verwendet werden, ist eine gute Wärmeableitung durch
das Al N-Substrat notwendig, und es werden auch bei der dabei
erreichbaren hohen Dichte der Kontakte unerwünschte Verschie
bungen durch Wärmeausdehnungen vermieden.
Unter elektromagnetischer Bestrahlung wird im Rahmen der Erfin
dung insbesondere eine Bestrahlung mit Lasern verstanden. Das
Substratmaterial wird dazu - gegebenenfalls wiederholt - mit
Laserpulsen bestrahlt. Durch die kurzzeitige Einkoppelung einer
hohen optischen Leistung wird dabei oberflächlich die Zerfalls
temperatur des Al N überschritten und/oder Al N photolytisch
zersetzt. Unter Abgabe des (gasförmigen) Stickstoffes bildet
sich eine leitfähige Al-Schicht. Eine derartige Umsetzung wurde
z. B. bei Bestrahlung von gesintertem Al N mit einem XeCl-Laser
bei ca. 3 J/cm2 beobachtet.
Das Verfahren nach der Erfindung kann zum strukturierten Umsatz,
d. h. zur direkten Bildung der Leiterbahnen, verwendet werden.
Zum Beispiel entstehen bei Projektion einer Maske mit Laserbe
strahlung sauber begrenzte, mechanisch beständige, leitfähige
Strukturen. Optisch ist keine Begrenzung hinsichtlich der gefor
derten Abstandstoleranzen erkennbar, d. h. die geforderten Ab
standstoleranzen lassen sich mit dem Laserbestrahlungsverfahren
leicht einhalten, und es wären sogar geringere Abstände mög
lich, wenn diese nicht nach unten durch die vorgeschriebenen
Kriechwege begrenzt wären.
Falls erforderlich, können die mit dem Laser erzeugten Struktu
ren auch als Grundlage für die weitere Metallisierung mit kon
ventionellen Methoden genutzt werden, d. h., die metallisch
blanken Al-Kontaktierungsflächen oder Leiterbahnen könnten als
Basis für das Aufbringen weiterer metallischer Schichten die
nen.
Im folgenden wird das Verfahren nach der Erfindung anhand eines
Beispiels und einer einzigen, in der Zeichnung dargestellten
Figur noch näher erläutert:
Die einzige Figur zeigt schematisch eine Einrichtung zur Durch
führung des Verfahrens nach der Erfindung mit einem Laser, des
sen Strahlenbündel mit relativ großflächigem Querschnitt zu
nächst eine Maske und dann eine Abbildungslinse durchsetzt,
welch letztere die von der Maske durchgelassenen Strahlen auf
das Al N-Substrat in Form einer aufrechtstehenden Platte fokus
siert.
Im einzelnen ist der Laser mit 1 bezeichnet, sein Strahlenbün
del generell mit 2, der Strahlenabschnitt zwischen Laser und
Maske 3 mit 2.0, derjenige zwischen Maske 3 und Abbildungslinse
4 mit 2.1 und derjenige zwischen Abbildungslinse 4 und Al N-
Substrat 5 mit 2.3.
Laser 1, Maske 3, Abbildungslinse 4 und Substrat 5 können auf
einer optischen Bank angeordnet sein, deren Tischfläche bei 6
schematisch angedeutet ist und die es ermöglicht, in Strahl
hauptrichtung x die axialen Abstände x 0 zwischen Laser 1 und
Maske 3, x 1 zwischen Maske 3 und Abbildungslinse 4 sowie x 2
zwischen Abbildungslinse 4 und Substrat 5 zu verändern und zu
optimieren und auch die genannten Elemente 1, 3, 4, 5 in Quer
richtung, d. h. in Richtung y und z zu justieren.
Die Maske 3 besteht aus einem Rahmen 3.1 und einem kreisförmi
gen Einsatzteil 3.2, welches in einem etwa L-förmigen Bereich
eine Aussparung 7 aufweist, und somit in diesem ausgesparten
Bereich die Laserstrahlen durchläßt, wogegen sie im übrigen Be
reich abgeschirmt werden. Die Aussparung 7 kann man auch als
ein vergrößertes Leiterbahnen-Muster bezeichnen, welches somit
einen Anteil 2.1 des originären Laserstrahls 2.0 von ent
sprechendem Querschnitt durchläßt und auf die Abbildungslinse 4
projiziert, welche ihrerseits das auf sie projizierte Leiter
bahnen-Muster verkleinert und höhen- sowie seiten-vertauscht
auf das Al N-Substrat 5 fokussiert, so daß nach einer bestimmten
Einwirkungsdauer des Laserstrahlabschnitts 2.3 auf dem
Al N-Substrat ein gewünschtes Leiterbahnen-Muster 70 aus metal
lisch-blankem Al entsteht.
Die Abbildungslinse 4 ist in einem Linsenrahmen 4.1 gefaßt, die
Linse 4 selbst ist eine konvexe, eine konkav-konvexe oder eine
plan-konvexe Linse, die gleichsam als Brennglas funktioniert.
Beim durchgeführten Versuch war der Laser 1 ein XeCl-Excimerla
ser mit den Daten:
- optische Pulsenergie: 1 bis 2 J
Wellenlänge: 308 nm
Pulsdauer: 50 ns
Strahlquerschnitt: 40 × 50 mm2
Strahlhomogenität: ± 5% über einen verwendeten Strahlquer schnitt von 30 × 40 mm2.
Der Laserstrahl 2 wurde mit einer zylindrischen Suprasilquarz-
Linse 4 von 208 mm Brennweite so auf das Al N-Substrat 5 fokus
siert, daß eine belichtete Rechteckfläche 70 von 15 × 0,7 mm2
und eine Energiedichte von 8 J/cm2 je Puls entstand.
Als Substrat 5 wurde heißisostatisch nachverdichtetes Al N der
Firma Elektroschmelze Kempten in Plattenform 25 × 14 × 0,67 mm3
verwendet. Der spezifische Widerstand des Materials betrug nach
Herstellerangaben 2 × 1011 Ω · cm.
Nach Bestrahlung mit 100 Pulsen wurde zwischen den Enden der
der belichteten Fläche entsprechenden Leiterbahn 70 ein Wider
stand pro Längeneinheit von 50 Ω/cm bemessen.
Das beschriebene Verfahren kann in mehreren Schritten durchge
führt werden, indem nacheinander die Bestrahlung durch Masken 3
mit den verschiedenen Leiterbahnenabschnitten entsprechenden
Aussparungen 7 verwendet werden und das Substrat 5 nach jedem
Teilstück der erzeugten Leiterbahn entsprechend verschoben
wird. Es ist weiterhin vorteilhaft, die durch das Bestrahlen
erzeugten metallisch-blanken Oberflächen der Leiterbahnen, also
im Beispiel die Leiterbahn 70, als Basis für die weitere Metal
lisierung mit konventionellen Methoden zu verwenden. Hierfür
kommen z. B. in Betracht: Aufdampfen von Al im Vakuum oder Gal
vanisieren.
Claims (5)
1. Verfahren zur Herstellung von Leiterbahnen an aus Aluminium-
Nitrid Al N bestehendem Substratmaterial für IC-Träger,
dadurch gekennzeichnet, daß das in Form
von Streifen, Platten oder dergleichen vorliegende Substratma
terial entsprechend den vorgegebenen Leiterbahnen-Muster mit
einer elektromagnetischen Strahlung einer solchen Energiedich
te und Einwirkungsdauer pro Flächeneinheit bestrahlt wird, daß
in den bestrahlten Zonen das Al N in metallisches Aluminium
unter Abgabe von Stickstoff zerfällt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß gesintertes Al N verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß die partielle Umwandlung mittels
Laserbestrahlung herbeigeführt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß zur Bestrahlung ein Excimer-Laser, ins
besondere ein XeCl-Laser mit einer Energiedichte von mindestens
3 J/m2 und der Wellenlänge λ = 308 nm verwendet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die durch das Bestrahlen er
zeugten metallisch-blanken Oberflächen der Leiterbahnen als
Basis für die weitere Metallisierung mit konventionellen Metho
den, z. B. Aufdampfen von Al im Vakuum, Galvanisieren oder der
gleichen, dienen.
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DE19873708235 DE3708235A1 (de) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial |
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DE (1) | DE3708235A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4401612A1 (de) * | 1994-01-20 | 1995-07-27 | Resma Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung elektrisch leitender Bereiche auf Metallverbindungen enthaltenden isolierenden Keramikwerkstücken |
EP1845170A2 (de) * | 2006-04-12 | 2007-10-17 | LPKF Laser & Electronics AG | Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur |
WO2007115546A2 (de) * | 2006-04-12 | 2007-10-18 | Lpkf Laser & Electronics Ag | Verfahren zur herstellung einer leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte leiterbahnstruktur |
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1987
- 1987-03-13 DE DE19873708235 patent/DE3708235A1/de not_active Withdrawn
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE4401612A1 (de) * | 1994-01-20 | 1995-07-27 | Resma Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung elektrisch leitender Bereiche auf Metallverbindungen enthaltenden isolierenden Keramikwerkstücken |
EP1845170A2 (de) * | 2006-04-12 | 2007-10-17 | LPKF Laser & Electronics AG | Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur |
WO2007115546A2 (de) * | 2006-04-12 | 2007-10-18 | Lpkf Laser & Electronics Ag | Verfahren zur herstellung einer leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte leiterbahnstruktur |
DE102006017630A1 (de) * | 2006-04-12 | 2007-10-18 | Lpkf Laser & Electronics Ag | Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur |
EP1845170A3 (de) * | 2006-04-12 | 2007-11-21 | LPKF Laser & Electronics AG | Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur |
WO2007115546A3 (de) * | 2006-04-12 | 2007-12-27 | Lpkf Laser & Electronics Ag | Verfahren zur herstellung einer leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte leiterbahnstruktur |
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