DE3708235A1 - Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial - Google Patents

Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial

Info

Publication number
DE3708235A1
DE3708235A1 DE19873708235 DE3708235A DE3708235A1 DE 3708235 A1 DE3708235 A1 DE 3708235A1 DE 19873708235 DE19873708235 DE 19873708235 DE 3708235 A DE3708235 A DE 3708235A DE 3708235 A1 DE3708235 A1 DE 3708235A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
conductor tracks
aln
substrate material
laser
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19873708235
Other languages
English (en)
Inventor
Klaus-Joachim Dr Schmatjko
Gerhard Dr Endres
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19873708235 priority Critical patent/DE3708235A1/de
Publication of DE3708235A1 publication Critical patent/DE3708235A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/15Ceramic or glass substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/105Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by conversion of non-conductive material on or in the support into conductive material, e.g. by using an energy beam
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/10Using electric, magnetic and electromagnetic fields; Using laser light
    • H05K2203/107Using laser light
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1136Conversion of insulating material into conductive material, e.g. by pyrolysis

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung von Leiterbahnen an aus Aluminium-Nitrid Al N bestehenden Substratmaterial für IC-Träger, gemäß Oberbegriff des Patent­ anspruchs 1.
Es ist bekannt, daß Aluminium-Nitrid, insbesondere nach dem Heißpreß-Sinterverfahren hergestellt, eine sehr gute Wärmeleit­ fähigkeit aufweist, die bis zu acht mal so groß sein kann wie diejenige von Al2O3. Dagegen ist sein Wärmedehnungskoeffizient kleiner als derjenige von Al2O3. Aluminium-Nitrid ist deshalb als Substratmaterial für IC-Träger (IC = Integrated Circuit) be­ sonders geeignet, vergleiche "IEEE Trans. Components, Hybrids & Manuf. Technol." (USA, Juni 1985) Band CHMT-8, Nr. 2, Seiten 247 bis 252. In dieser Literaturstelle ist auch beschrieben, daß das Al N-Substrat metallisiert werden kann bei guten Adhäsions­ eigenschaften durch die konventionellen Verdampfungs- und "Sputtering"-Methoden.
Es stellte sich die Aufgabe, Leiterbahnen in das Al N-Substrat auf genauere und elegantere Weise, d. h. insbesondere mit weni­ ger Arbeitsschritten einzubringen, was im Hinblick auf den hohen Miniaturisierungsgrad (Abstände im Zehntelmillimeterbe­ reich) von besonderer Bedeutung ist. Es wurde eine überraschend einfache Lösung dieser Aufgabe gefunden, die darin besteht, daß das in Form von Streifen, Platten oder dergleichen vorliegende Substratmaterial entsprechend den vorgegebenen Leiterbahnen- Muster mit einer elektromagnetischen Strahlung einer solchen Energiedichte und Einwirkungsdauer pro Flächeneinheit bestrahlt wird, daß in den bestrahlten Zonen das Al N in metallisches Alu­ minium unter Abgabe von Stickstoff zerfällt.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform wird die partielle Um­ wandlung des Al N in metallisches Al mittels Laserbestrahlung herbeigeführt. Diese Laserbestrahlung läßt sich besonders vor­ teilhaft auch und gerade bei gesintertem Al N aus Substratmate­ rial anwenden.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung wird zur Bestrahlung ein Excimer-Laser insbesondere ein XeCl-Laser, mit einer Energie­ dichte von ca. 3 J/cm2 und der Wellenlänge λ = 308 nm verwen­ det.
Die mit der Erfindung erzielbaren Vorteile sind vor allem in folgendem zu sehen: Gerade in Verbindung mit dem Merkmal, das die IC-Träger für direkte Druckkontaktierung ("surface mounting") verwendet werden, ist eine gute Wärmeableitung durch das Al N-Substrat notwendig, und es werden auch bei der dabei erreichbaren hohen Dichte der Kontakte unerwünschte Verschie­ bungen durch Wärmeausdehnungen vermieden.
Unter elektromagnetischer Bestrahlung wird im Rahmen der Erfin­ dung insbesondere eine Bestrahlung mit Lasern verstanden. Das Substratmaterial wird dazu - gegebenenfalls wiederholt - mit Laserpulsen bestrahlt. Durch die kurzzeitige Einkoppelung einer hohen optischen Leistung wird dabei oberflächlich die Zerfalls­ temperatur des Al N überschritten und/oder Al N photolytisch zersetzt. Unter Abgabe des (gasförmigen) Stickstoffes bildet sich eine leitfähige Al-Schicht. Eine derartige Umsetzung wurde z. B. bei Bestrahlung von gesintertem Al N mit einem XeCl-Laser bei ca. 3 J/cm2 beobachtet.
Das Verfahren nach der Erfindung kann zum strukturierten Umsatz, d. h. zur direkten Bildung der Leiterbahnen, verwendet werden. Zum Beispiel entstehen bei Projektion einer Maske mit Laserbe­ strahlung sauber begrenzte, mechanisch beständige, leitfähige Strukturen. Optisch ist keine Begrenzung hinsichtlich der gefor­ derten Abstandstoleranzen erkennbar, d. h. die geforderten Ab­ standstoleranzen lassen sich mit dem Laserbestrahlungsverfahren leicht einhalten, und es wären sogar geringere Abstände mög­ lich, wenn diese nicht nach unten durch die vorgeschriebenen Kriechwege begrenzt wären.
Falls erforderlich, können die mit dem Laser erzeugten Struktu­ ren auch als Grundlage für die weitere Metallisierung mit kon­ ventionellen Methoden genutzt werden, d. h., die metallisch blanken Al-Kontaktierungsflächen oder Leiterbahnen könnten als Basis für das Aufbringen weiterer metallischer Schichten die­ nen.
Im folgenden wird das Verfahren nach der Erfindung anhand eines Beispiels und einer einzigen, in der Zeichnung dargestellten Figur noch näher erläutert:
Die einzige Figur zeigt schematisch eine Einrichtung zur Durch­ führung des Verfahrens nach der Erfindung mit einem Laser, des­ sen Strahlenbündel mit relativ großflächigem Querschnitt zu­ nächst eine Maske und dann eine Abbildungslinse durchsetzt, welch letztere die von der Maske durchgelassenen Strahlen auf das Al N-Substrat in Form einer aufrechtstehenden Platte fokus­ siert.
Im einzelnen ist der Laser mit 1 bezeichnet, sein Strahlenbün­ del generell mit 2, der Strahlenabschnitt zwischen Laser und Maske 3 mit 2.0, derjenige zwischen Maske 3 und Abbildungslinse 4 mit 2.1 und derjenige zwischen Abbildungslinse 4 und Al N- Substrat 5 mit 2.3.
Laser 1, Maske 3, Abbildungslinse 4 und Substrat 5 können auf einer optischen Bank angeordnet sein, deren Tischfläche bei 6 schematisch angedeutet ist und die es ermöglicht, in Strahl­ hauptrichtung x die axialen Abstände x 0 zwischen Laser 1 und Maske 3, x 1 zwischen Maske 3 und Abbildungslinse 4 sowie x 2 zwischen Abbildungslinse 4 und Substrat 5 zu verändern und zu optimieren und auch die genannten Elemente 1, 3, 4, 5 in Quer­ richtung, d. h. in Richtung y und z zu justieren.
Die Maske 3 besteht aus einem Rahmen 3.1 und einem kreisförmi­ gen Einsatzteil 3.2, welches in einem etwa L-förmigen Bereich eine Aussparung 7 aufweist, und somit in diesem ausgesparten Bereich die Laserstrahlen durchläßt, wogegen sie im übrigen Be­ reich abgeschirmt werden. Die Aussparung 7 kann man auch als ein vergrößertes Leiterbahnen-Muster bezeichnen, welches somit einen Anteil 2.1 des originären Laserstrahls 2.0 von ent­ sprechendem Querschnitt durchläßt und auf die Abbildungslinse 4 projiziert, welche ihrerseits das auf sie projizierte Leiter­ bahnen-Muster verkleinert und höhen- sowie seiten-vertauscht auf das Al N-Substrat 5 fokussiert, so daß nach einer bestimmten Einwirkungsdauer des Laserstrahlabschnitts 2.3 auf dem Al N-Substrat ein gewünschtes Leiterbahnen-Muster 70 aus metal­ lisch-blankem Al entsteht.
Die Abbildungslinse 4 ist in einem Linsenrahmen 4.1 gefaßt, die Linse 4 selbst ist eine konvexe, eine konkav-konvexe oder eine plan-konvexe Linse, die gleichsam als Brennglas funktioniert.
Beim durchgeführten Versuch war der Laser 1 ein XeCl-Excimerla­ ser mit den Daten:
  • optische Pulsenergie: 1 bis 2 J
    Wellenlänge: 308 nm
    Pulsdauer: 50 ns
    Strahlquerschnitt: 40 × 50 mm2
    Strahlhomogenität: ± 5% über einen verwendeten Strahlquer­ schnitt von 30 × 40 mm2.
Der Laserstrahl 2 wurde mit einer zylindrischen Suprasilquarz- Linse 4 von 208 mm Brennweite so auf das Al N-Substrat 5 fokus­ siert, daß eine belichtete Rechteckfläche 70 von 15 × 0,7 mm2 und eine Energiedichte von 8 J/cm2 je Puls entstand.
Als Substrat 5 wurde heißisostatisch nachverdichtetes Al N der Firma Elektroschmelze Kempten in Plattenform 25 × 14 × 0,67 mm3 verwendet. Der spezifische Widerstand des Materials betrug nach Herstellerangaben 2 × 1011 Ω · cm.
Nach Bestrahlung mit 100 Pulsen wurde zwischen den Enden der der belichteten Fläche entsprechenden Leiterbahn 70 ein Wider­ stand pro Längeneinheit von 50 Ω/cm bemessen.
Das beschriebene Verfahren kann in mehreren Schritten durchge­ führt werden, indem nacheinander die Bestrahlung durch Masken 3 mit den verschiedenen Leiterbahnenabschnitten entsprechenden Aussparungen 7 verwendet werden und das Substrat 5 nach jedem Teilstück der erzeugten Leiterbahn entsprechend verschoben wird. Es ist weiterhin vorteilhaft, die durch das Bestrahlen erzeugten metallisch-blanken Oberflächen der Leiterbahnen, also im Beispiel die Leiterbahn 70, als Basis für die weitere Metal­ lisierung mit konventionellen Methoden zu verwenden. Hierfür kommen z. B. in Betracht: Aufdampfen von Al im Vakuum oder Gal­ vanisieren.

Claims (5)

1. Verfahren zur Herstellung von Leiterbahnen an aus Aluminium- Nitrid Al N bestehendem Substratmaterial für IC-Träger, dadurch gekennzeichnet, daß das in Form von Streifen, Platten oder dergleichen vorliegende Substratma­ terial entsprechend den vorgegebenen Leiterbahnen-Muster mit einer elektromagnetischen Strahlung einer solchen Energiedich­ te und Einwirkungsdauer pro Flächeneinheit bestrahlt wird, daß in den bestrahlten Zonen das Al N in metallisches Aluminium unter Abgabe von Stickstoff zerfällt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß gesintertes Al N verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die partielle Umwandlung mittels Laserbestrahlung herbeigeführt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß zur Bestrahlung ein Excimer-Laser, ins­ besondere ein XeCl-Laser mit einer Energiedichte von mindestens 3 J/m2 und der Wellenlänge λ = 308 nm verwendet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die durch das Bestrahlen er­ zeugten metallisch-blanken Oberflächen der Leiterbahnen als Basis für die weitere Metallisierung mit konventionellen Metho­ den, z. B. Aufdampfen von Al im Vakuum, Galvanisieren oder der­ gleichen, dienen.
DE19873708235 1987-03-13 1987-03-13 Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial Withdrawn DE3708235A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873708235 DE3708235A1 (de) 1987-03-13 1987-03-13 Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19873708235 DE3708235A1 (de) 1987-03-13 1987-03-13 Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3708235A1 true DE3708235A1 (de) 1988-09-22

Family

ID=6323033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19873708235 Withdrawn DE3708235A1 (de) 1987-03-13 1987-03-13 Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3708235A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4401612A1 (de) * 1994-01-20 1995-07-27 Resma Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung elektrisch leitender Bereiche auf Metallverbindungen enthaltenden isolierenden Keramikwerkstücken
EP1845170A2 (de) * 2006-04-12 2007-10-17 LPKF Laser & Electronics AG Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur
WO2007115546A2 (de) * 2006-04-12 2007-10-18 Lpkf Laser & Electronics Ag Verfahren zur herstellung einer leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte leiterbahnstruktur

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4401612A1 (de) * 1994-01-20 1995-07-27 Resma Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung elektrisch leitender Bereiche auf Metallverbindungen enthaltenden isolierenden Keramikwerkstücken
EP1845170A2 (de) * 2006-04-12 2007-10-17 LPKF Laser & Electronics AG Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur
WO2007115546A2 (de) * 2006-04-12 2007-10-18 Lpkf Laser & Electronics Ag Verfahren zur herstellung einer leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte leiterbahnstruktur
DE102006017630A1 (de) * 2006-04-12 2007-10-18 Lpkf Laser & Electronics Ag Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur
EP1845170A3 (de) * 2006-04-12 2007-11-21 LPKF Laser & Electronics AG Verfahren zur Herstellung einer Leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte Leiterbahnstruktur
WO2007115546A3 (de) * 2006-04-12 2007-12-27 Lpkf Laser & Electronics Ag Verfahren zur herstellung einer leiterbahnstruktur sowie eine derart hergestellte leiterbahnstruktur

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68910864T2 (de) Selektive Plattierung durch Abtragen mittels eines Lasers.
DE2911660C2 (de) Halbleiterbauelement
EP0727925A1 (de) Verfahren zur strukturierten Metallisierung der Oberfläche von Substraten
DE3423172A1 (de) Verfahren zur herstellung einer solarbatterie
EP0679052A1 (de) Verfahren zur strukturierten Metallisierung der Oberfläche von Substraten
DE2937050C2 (de)
DE102017219463A1 (de) Drahtgewickelte spulenkomponente und verfahren zur herstellung einer drahtgewickelten spulenkomponente
DE2333178C3 (de) Spiegel und Verfahren zu seiner Herstellung
EP0135120A1 (de) Keramik-Metall-Element
DE19536434A1 (de) Verfahren zur Montage eines Halbleiterbauelements
DE2700135C2 (de) Verfahren zum Herstellen von Farbauswahlmitteln für eine Farbbildröhre vom Nachfokussierungstyp
DE1765783B1 (de) Verfahren zur herstellung einer mehrzahl von fuer den einbau in gedruckte schaltungen geeigneten halterungen
DE2624781B2 (de) Elektronenemittierende Elektrode und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE69008459T2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Substrates für Dickschichtschaltkreise.
DE2937051A1 (de) Flachpaket zur aufnahme von elektrischen mikroschaltkreisen und verfahren zu seiner herstellung
EP0020986B1 (de) Verfahren zum Herstellen von Trenndüsenelementen zur Trennung gas- oder dampfförmiger Gemische, insbesondere Isotopengemische
DE2934407A1 (de) Verfahren zur loet- oder schweissverbindung eines bauteils mit einem substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer strahlung, insbesondere laserstrahlung und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE3408848C2 (de) Verfahren zur Herstellung von Vielkanalplatten
DE3708235A1 (de) Verfahren zur herstellung von leiterbahnen an aus aluminium-nitrid a1 n bestehendem substratmaterial
DE3440109C2 (de)
DE3324968C2 (de)
DE2852440C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Eingangsbildschirms für einen Bildverstärker
EP0010222B1 (de) Steuerplatte für einen flachen Plasmabildschirm
DE2700141A1 (de) Farbbildroehre und verfahren zu deren herstellung
DE3390451C2 (de) Verfahren zum Laser-L¦ten

Legal Events

Date Code Title Description
8120 Willingness to grant licenses paragraph 23
8139 Disposal/non-payment of the annual fee