DE2934407A1 - Verfahren zur loet- oder schweissverbindung eines bauteils mit einem substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer strahlung, insbesondere laserstrahlung und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens - Google Patents
Verfahren zur loet- oder schweissverbindung eines bauteils mit einem substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer strahlung, insbesondere laserstrahlung und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrensInfo
- Publication number
- DE2934407A1 DE2934407A1 DE19792934407 DE2934407A DE2934407A1 DE 2934407 A1 DE2934407 A1 DE 2934407A1 DE 19792934407 DE19792934407 DE 19792934407 DE 2934407 A DE2934407 A DE 2934407A DE 2934407 A1 DE2934407 A1 DE 2934407A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- radiation
- component
- solder
- pulse
- chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K1/00—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
- B23K1/005—Soldering by means of radiant energy
- B23K1/0056—Soldering by means of radiant energy soldering by means of beams, e.g. lasers, E.B.
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/0604—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by a combination of beams
- B23K26/0619—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by a combination of beams with spots located on opposed surfaces of the workpiece
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/064—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
- B23K26/0652—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms comprising prisms
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/067—Dividing the beam into multiple beams, e.g. multifocusing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2101/00—Articles made by soldering, welding or cutting
- B23K2101/36—Electric or electronic devices
- B23K2101/42—Printed circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
- H05K2201/10636—Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/10—Using electric, magnetic and electromagnetic fields; Using laser light
- H05K2203/107—Using laser light
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3494—Heating methods for reflowing of solder
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
O .' J β.· B-
München, den 24.August 1979 Anwaltsaktenzch.: 27 - Pat.
Raytheon Company, 141 Spring Street, Lexington, Massachusetts
02173, Vereinigte Staaten von Amerika
Verfahren zur Lot- ooer Schweissverbindung eines Bauteils
mit einem Substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer Strahlung, insbesondere La serstrahlung und Einrichtung
zur Durchführung dee Verfahrens.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Lot- oder
Schweissverbindung eines Bauteils mit einem Substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer Strahlung, insbesondere
Laserstrahlung, sowie auf eine Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.
Keramische Kondensatorchips werden in Hybrid-Schaltungseinheiten
und in gedruckten Schaltungseinheiten in grossem Umfange verwendet, da sie robust sind, eine gute Raumausnutzung
ergeben, in einem weiten Bereich anwendbar und kostenmässig interessant sind. Im allgemeinen werden die
Täfelchen oder Chips in der Weise hergestellt, daß rechteckige Elektrodenplatten und dielektrische Schichten aufeinandergeschichtet
werden, wobei die Elektrodenplatten abwechselnd mit zwei Anschlußbändern an den einander gegenüberliegenden
Enden des Täfelchens oder Chips angeschlossen werden. Ein wesentlicher Prozentsatz keramischer
030010/0885
Kondensatorchips werden unter Verwendung von Bariumtitanat-Keramikmaterial
als dielektrischem Material gebildet, wobei die Stärke beispielsweise 25,4 pm beträgt. Als Material für
die Elektrodenplatten dient häufig Paladiumsilber in einer Stärke in der Grössenordnung von beispielsweise 2,54 pm.
Es ist üblich, zum Verbinden der Anschlußbänder mit der Schaltung der Schaltungseinheit Lötverbindungen einzusetzen.
Zur Herstellung der Lötverbindungen des Kondensatorchips und der Bauteile des Chips kann man einen Handlötknlben verwenden,
bei welchem jedoch die Gefahr besteht, daß nicht nur das Schaltungsbauteil, sondern auch die Schaltungseinheit
beschädigt werden kann. Wenn beispielsweise Wärme durch Leitung in das Schaltungsbauteil einziehen kann, so kann
sich ein Innendruck durch Sasmoleküle bilden, welche innerhalb
des Bauteils eingeschlossen sind und welche sich bei der Ausdehnung des Gases nicht rasch genug entspannen können.
Wenn ferner die einander benachbarten Schichten des Bauelementes bezüglich der thermischen Ausdehnungskoeffizienten ungenügend
aufeinander abgestimmt sind, so können sich in dem Bauelement Scherspannungen aufbauen. Selbst wenn die Werkstoffe
des Bauelementes so gewählt sind, daß sie ähnliche oder gleiche thermische Ausdehnungskoeffizienten besitzen,
so haben sie im allgemeinen unterschiedliche Wärmeleitfähigkeiten,
so daß zwischen den -Schichten Temperaturgradienten entstehen und wiederum auf Grund unterschiedlicher Ausdehnung
Scherspannungen oder Schubspannungen auftreten. Auch können Spannungen in den Lötverbindungen entstehen, was im wesentlichen
zwei Ursachen hat. Zum einen kann sich während des Erhitzens das Chip frei ausdehnen, während der betreffende
Bereich der Schaltungseinheit an der Ausdehnung durch die mechanische Einspannung gehindert ist, welche durch die umgebenden
kühleren Materialbereiche der Schaltungseinheit bewirkt ist. In dem betreffenden örtlichen Bereich der Schaltungseinheit
treten wohl Druckspannungen auf, es findet jedoch keine Ausdehnung statt. Wenn dann eine Abkühlung auf
0 30010/0885
9 293*407
Raumtemperatur erfolgt ist, so befinden sich das Chip und die Lötverbindungen unter Zugspannung, da das Chip teilweise
durch das nun verfestigte Lot daran gehindert wird, sich auf die ursprüngliche Länge zusammemzuziehen.
Zum anderen treten, wenn die Lötverbindungen nacheinander gefertigt werden, in den Verbindungspunkten und im Chip
wesentliche Spannungen auf, weil das Chip während der Herstellung der zweiten Lötverbindung minimale Auflage besitzt.
Die zuvor erwähnten inneren Spannungen des Bauteils können zu dessen Zerstörung oder Fehlerhaftigkeit führen und vermindern
daher wesentlich die Zuverlässigkeit einer entsprechend gefertigten Schaltungseinheit. Beispiele für bauliche
Fehler, welche durch die Spannungen erzeugt werden, sind Abblättern, Flaterialverwerfung, Hohlräume und Sprünge. Die
entsprechenden, hierdurch bewirkten Schaltungsfehler können Kurzschlüsse, Unterbrechungen oder Änderungen der kapazitiven
Eigenschaften sein. Auf die Lötverbindungen einwirkende Spannungen
können auch in schlechten Kontakten resultieren.
Zum Löten von Kondensatorchips hat man bisher verschiedene Techniken verwendet, wobei häufig der Handlötkolben verwendet
wurde. Andere Verfahren verwenden Lötflammen, Heissluft oder fokussierte Strahlungsenergie.
Durch die Erfindung soll die Aufgabe gelöst werden, eine Lötverbindung oder Schweissverbindung eines Bauteils, insbesondere
eines Kondensatorchips, mit einem Substrat oder Träger in solcher Weise herstellen zu können, daß die auf
das Bauteil wirkenden inneren Spannungen minimal gehalten werden und auch nur minimale Spannungen in den Lötverbindungs-
oder Schweißverbindungspunkten auftreten.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren zur
Lot- oder Schweißverbindung eines Bauteils mit einem Substrat
030010/0885
mittels kurzwelliger elektromagnetischer Strahlung, insbesondere
Laserstrahlung durch die im kennzeichnenden Teil des anliegenden Anspruches angegebenen Merkmale gelöst.
Durch die Erfindung wird auch eine Einrichtung zur Durchführung
dieses Verfahrens vorgeschlagen.
Im einzelnen wird elektromagnetische Strahlungsenergie mit einer Wellenlänge im Bereich von 1 mm bis 1 nm bereitgestellt
und in eine Mehrzahl von Strahlungsbündeln aufgeteilt, welche auf im Abstand voneinander gelegene Auftreffbereiche
eines Trägers gerichtet werden, auf welchem das zu befestigende Bauteil festgelötet oder festgeschweiBt
werden soll. Die Strahlungsenergie ist vorzugsweise gepulste kohärente Laserenergie mit einer Impulsbreite von weniger
als 10 Millisekunden, einer Pulswiederholungsfrequenz von
weniger als 10 Impulsen je Sekunde und einer Dauer einer Impulsfolge von weniger als 1 Sekunde. Vorzugsweise sind
diese Parameter der Impulse wählbar oder einstellbar, so daß für die verschiedenen Anwendungsfälle die optimalen
Arbeitsbedingungen hergestellt werden können.
Die vorgeschlagene -Einrichtung kann vornehmlich zur Herstellung von Lötverbindungen eingesetzt werden. Beispielsweise
kann die Einrichtung dazu dienen, Bauteile in Chipform an Schaltungseinheiten festzulöten. In diesem Anwendungsfall wählt man vorzugsweise die Wellenlänge der Strahlung
zu 1,06 Mm und die Impulsbreite zu 4 bis B Millisekunden.
Es kann zweckmässig sein, die Schaltungseinheit, mit welcher ein Schaltungsbauteil zu verbinden ist, auf einem Koordinaten
tisch oder Kreuzsupporttisch zu lagern, welcher durch einen Mikroprozessor gesteuert wird und dazu dient, während des
Lötens der chipartigen Bauteile die Schaltungseinheit oder die Trägerplatte genau zu positionieren.
Zweckmässige Ausgestaltungen und Weiterbildungen der hier
angegebenen Einrichtung sind im übrigen Gegenstand der an-
030010/0885
liegenden Ansprüche, deren Inhalt hierdurch ausdrücklich zum Bestandteil der Beschreibung gemacht wird, ohne den
Wortlaut an dieser Stelle zu wiederholen. Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele unter Bezugnahme auf die Zeichnung
näher beschrieben. In den Zechnungen stellen dar:
Fig. 1 eine schematische Ansicht zur Erläuterung der Wirkungsweise einer Einrichtung
der vorliegend angegebenen Art,
Fig. 2 eine perspektivische Darstellung eines Laser-Lötgerätes in seiner äusserlichen
Erscheinungsform,
Fig. 3 eine teilweise im Schnitt gezeichnete Seitenansicht eines Kor.densatorchips,
welches an einer Schaltungseinheit festgelötet ist,
Fig.4A Diagramme zur Erläuterung der Beziehung
für den Verschiebungswinkel für zwei verschiedene Dicken t, und t? der Lötschicht
bei einem gegebenen Verschiebungsweg und
Fig. 5 eine graphische Darstellung zur Erläuterung der Abhängigkeit der Zugspannung
im Chip von der Temperatur für zwei verschiedene Lotschichtdicken.
Figur 1 zeigt eine Darstellung zur Erläuterung der Wirkungsweise einer Einrichtung der hier vorgeschlagenen Art. Zwei Laserstrahlenbündel
2 und 4 werden dadurch erzeugt, daß ein Strahlungsbündel 6 kohärenter Laserstrahlung auf eine Doppelschlitzblende
8 gerichtet wird. Vorzugsweise wählt man die Blends aus einer grösseren Zahl von Blenden aus, so daß Länge und
Abstand der Schlitze für die verschiedenen Anwendungsfälle
verändert werden können. Als Quelle für die Laserstrahlung
030010/0885
kann ein handelsüblicher Laser, beispielsweise ein von der Firma Raytheon Company unter der Bezeichnung SS-3B0 auf den
Markt gebrachter Laser verwendet werden. Vorzugsweise wird Laserstrahlung mit einer Wellenlänge von etwa 1,o6 pm aus
den habhfolgend angegebenen Gründen eingesetzt. Auf die bevorzugte
Impulsbreite, die zweckmässige Impulswiederholungsfrequenz und die insgesamt erforderliche Energiemenge sei
weiter unter eingegangen. Die in den beiden Strahlungsbündeln verfügbare Gesamtenergie wird dadurch überwacht, daß die
Strahlungsbündel durch einen Strahlteilungsspiegel 10 geführt werden, welcher auf dem einschlägigen Fachgebiet bekannt ist
und einen Anteil von 1 % der einfallenden Strahlungsenergie in der aus Figur 1 ersichtlichen Weise auf eine übliche Energiemeß-
und Überwachungseinrichtung 12 lenkt. Die verbleibenden 99% der einfallenden Strahlungsenergie der beiden Strahlenbündel werden von dem Strahlteilungsspiegel 10 aus zu einem
Reflexionsprisma 14 geführt, dessen Aufgabe es ist, einen
Abstand zwischen den Strahlenbündel herzustellen, welcher ausreichend gross ist, um dann in der aus Figur 1 ersichtlichen
Weise die Strahlungsbündel gleichzeitig gegen die einander gegenüberliegenden Enden eines Bauteils 16 zu richten. Hierauf
geht jedes Strahlenbündel durch eine übliche Zylinderlinse 1B
bzw. 20, um den Querschnitt des Strahlenbündels zu reduzieren und zu formen, wobei Einzelheiten des bevorzugten Ausführungsbeispiels diesbezüglich weiter unten bescbbieben werden. Jedes
fokussierte Strahlenbündel trifft nun auf einen Leistungs-Strahlteilungsspiegel
22 bzw. 24 auf, welcher bei der Frequenz der elektromagnetischen Energie die charakteristische Eigenschaft
besitzt, 99% der Energie des Strahlenbündels in Richtung auf die Trägerunterlage 32 zu reflektieren, auf welcher eine
Verflüssigung des Lotes stattfinden soll. Die Strahlteilungsspiegel
22 und 24 lassen die verbleibenden 1% der Energie zu Energieüberwachungseinrichtungen 26 bzw. 28 durch. Wie in
Figur 1 angedeutet, kann die Stellung des Strahlteilungsspiegels 24 einstellbar sein, so daß die Strahlenbündel so geführt
werden können, daß sie in der Ebene der herzustellenden
— R —
030010/0885
Lötverbindung in unterschiedlichen Abständen auftreffen, um ein gleichzeitiges Verlöten an beiden Enden von Schaltungsbauteilen
unterschiedlicher Größe zu ermöglichen. Eine zusätzliche Einstellbarkeit kann durch eine schrittweise
Veränderbarkeit der Stellung des Spiegels 22 in ähnlicher Weise wie bei dem einstellbaren Spiegel 24 verwirklicht werden.
Man erkennt weiter aus Figur 1 , das zu 100% reflektierende
Spiegel 34 und 36 die Bilder entsprechend dem sichtbaren Licht 38 bzw. 40 aus der Ebene, in welcher die Lötverbindung
hergestellt wird, zu Fernsehaufnahmekameras 42 bzw. 44
übertragen, um die Lage eines Bauteils 16 relativ zu den Sichtlinien auszurichten, längs welcher dann nach dem Einschalten
die Laserstrahlenbündel verlaufen. Das sichtbare Licht kann zu den zu verlötenden Bereichen mittels nicht dargestellter
faseroptischer Mittel geführt werden. Diesbezügliche Einzelheiten
sind dem einschlägigen Fachmann bekannt.
Wie aus Figur 2 zu entnehmen ist, kann im Betrieb eine Schutzklappe
46 von der Bedienungsperson geöffnet werden, um einen gebräuchlichen, in Figur 2 nicht gezeigten Koordinatentisch
zugänglich zu machen. Auf dem Koordinatentisch wird eine in
Figur 3 mit 70 bezeichnete gedruckte Schaltungseinheit starr befestigt und ein chipartiges Bauteil 16 wird über die Leiterbereiche
74 gelegt, welche Teil der gedruckten Schaltung bilden und mit welchen das betreffende Chip zu verlöten ist.
Nachdem die Schutzklappe 46 wieder geschlossen ist, wird das Steuerpult 48 für den Koordinatentisch, welches Grobeinstellmittel
und Feineinstellmittel für beide Achsenrichtungen besitzt, in der Weise bedient, daß die gedruckte Schaltung
in eine Stellung kommt, in welcher beim Einschalten des Lasers die im Zusammenhang mit Figur 1 erwähnten beiden Strahlenbündel
gleichzeitg jeweils auf die Basis der einander gegenüberliegenden Enden des betreffenden Chips auftreffen. Die richtige
Positionierung des Koordinatentisches kann mittels Fernsehmonitoren 52 und 54 durchgeführt werden, welche mit den im
030010/0885
Zusammenhang mit Figur 1 erwähnten Fernsehaufnahmekameras verbunden
sind und welche transparente Auflagen 56 und 57 aufweisen, um den Bereich und die Lage der Laserstrahlenbündel nach
dem Einschalten des Lasers aufzuzeigen. Nachdem unter Verwendung des Steuerpultes oder Steuerfeldes 58 für die Lasersteuerung
die Parameter der Laserimpulse in der nachfolgend angegebenen Weise gewählt sind, wird der Laser eingeschaltet.
Die von dem Lot an den Leiterbareichen und dem Lot an dem Chip absorbierte Laserstrahlungsenergie wird in thermiebhe
Energie umgewandelt, was zu einer Verflüssigung des Lotes
führt. Wird dann die Energie abgeschaltet und kann das Lot erkalten, so ist eine Lötverbindung an jedem Ende des chipförmigen
Bauteils geschaffen, durch welche dieses Bauteil mit der Schaltung auf der Schaltungsträgerplatte verbunden ist. Auf dem
Lasersteuerfeld 58 werden die durch die Einrichtung 12 bestimmte
Gesamtenergie und die von den Einheiten 26 und 28 bestimmten einzelnen Strahlenergien angezeigt.
Bei einer anderen, in der Zeichnung nicht gezeigten Ausführungsform dient ein Mikroprozessor zur Steuerung der Einstellung
des Koordinatentisches und zur Anregung des Lasers derart, daß eine Mehrzahl von Chips der Reihe nach mit einem Träger
verlötet werden, ohne daß eine Bedienungsperson einzugreifen braucht. Sowohl bei automatischer Einstellung, als auch bei
Handeinstellung können die Koordinaten des Koordinatentisches digital auf Anzeigefeldern 59 des Steuerpultes angezeigt werden
.
Die zuvor beschriebene Einrichtung ermöglicht das Herstellen von Lötverbindungen in einer Technik, welche gegenüber bisher
bekannten Verfahren wesentliche Vorteile hat. Die Verbesserungen und Vorteile resultieren im wesentlichen aus der gleichzeitigen
Verflüssigung des Lotes an beiden Enden des Chips, wobei eine Bedienungsperson der betreffenden Einrichtung die
verschiedenen Parameter des Lötvorganges hochgenau einstellen
-B-
030010/0885
Wie eingangs bereits gesagt und in Figur 3 dargestellt, werden Kondensatorchips im allgemeinen in der Weise hergestellt,
daß rechteckige Elektrodenplatten 60 und dielektrische Schichten 62 aufeinander gestapelt werden, wobei die Elektrodenplatten abwechselnd mit einem von zwei an den einander gegenüberliegenden
Enden des Chips befindlichen Anschlußbändern verbunden werden. Beispielsweise sind die Elektrodenplatten
aus Paladiumsilber hergestellt, während das Dielektrikum ein keramisches Material ist. Bei der Herstellung kann ein
Chip in Lot eingetaucht werden, so daß sich an den Enden eine Lotansammlung 66 ergibt. Es ist bekannt, daß dann, wenn
zwei Materialstreifen mit unterschiedlichem thermischem Ausdehnungskoeffizienten
längs einer Berührungsfläche miteinander verbunden und gleich erwärmt werden, der Konstruktionsverband sich auf der Seite des Materials mit dem niedrigeren
thermischen Ausdehnungskoeffizienten konkav durchbiegt, wie
dies vom Bimetallstreifen bekannt ist. In jedem Material
existiert ein neutraler Bereich, welcher der Ort spannungsloser Punkte ist und eine Grenzfläche zwischen den Bereichen
der Druckspannung und den Bereichen der Zugspannung darstellt. Die maximalen Druckspannungen und maximalen Zugspannungen
treten im allgemeinen an den Oberflächen des Materials auf. Im Falle eines Kondensatorchips, bei welchem die Biegemomente
aufeinander folgender Schichten des keramischen Materials und der Elektrodenplatten sich das Gleichgewicht
halten, so daß die Grenzflächen plangehalten werden, sind die Spannungen in der Mitte jeder Schicht minimal und an den
Grenzflächen maximal. Im Falle eines Kondensatorchips können weiter die aneinandergrenzenden Schichten zwar gleiche thermische
Ausdehnungskoeffizienten besitzen, doch haben die verschiedenen
Werkstoffe im allgemeinen unterschiedliche Temperaturleitzahlen, so daß sich Spannungen aufgrund unterschiedlicher
Ausdehnung ausbilden, welche durch unterschiedliche Temperaturen und nicht durch unterschiedliche thermische
Ausdehnungskoeffizienten Entstanden ist. Die Temperaturleitzahl
eines Materials ist definiert als seine Wärmeleitfähigkeit
dividiert durch das Produkt seiner spezifischen Wärme
030010/0885
und seiner Dichte. Um also eine Beschädigung eines Kondensatorchips
oder eines chipförmigen Bauteils zu verhindern, ist es im allgemeinen von Wichtigkeit, die Wärme möglichst gering zu
halten, welche während des Lötvorganges in das betreffende Chip,, einziehen kann.
Die vorliegend angegebene Einrichtung zur Herstellung einer Lot- oder Schweißverbindung ermöglicht eine sehr genaue Steuerung
bezüglich der Menge und des zeitlichen Verlaufes der Energie, welche der Lötstelle zugeführt wird, so daß sich die Möglichkeit
ergibt, die in das Chip einziehende Wärmemenge minimal zu halten. Die Grundgleichung für die Energie, welche zum Erschmelzen
einer Substanz erforderlich ist, lautet folgendermaßen :
t.M /V =
Hierin sind E^ die erforderliche Schmelzenergie in Joule,
V das zu erschmelzende Materialvolumen in Kubikzentimeter, c
die Dichte des Werkstoffs in g/cm^ , C die spezifische Wärme des Materials in cal/g C. A' ist die Schmelztemperatur abzüglich
der Anfangstemperatur des Werkstoffes in Grad C und H ist die Schmelzwärme in cal/g. Im allgemeinen soll Lot
auf etwa 30° bis 50° über seinen Schmelzpunkt erhitzt werden,
um eine gute Benetzung zu erzielen. Die für die Lotverflüssigung
erforderliche Gesamttemperatur ist daher etwa durch folgende
Gleichung gegeben:
Br/v
Hierin ist λΤΟ. die gewünschte Verflüssigungstemperatur abzüglich
der Schmelztemperatur.
Es sei von einem Kondensatorchip der Größe A ausgegangen, welches Abmessungen von 0,89 mm χ 1,4 mm χ 16,5 mm besitzt. Die An-
- 10 -
030010/0885
293U07
chlüsse an den Enden weisen eine Schicht von 5,1 um Silber
und 3B um Kupfer, gefolgt von einer Schicht von 38 pm
Tauch-Lotauftrag auf, wobei das Lot 63% Zinn und 37% Blei enthält. Sämtliche drei Werkstoffe erreichen bei der Lötung
eine Temperatur von 215° C oder 32 C über der Eutektikumstemperatur
des verwendeten Lotes. Die erforderliche Gesamtenergie zur Verflüssigung des Lotes an jeder Lotstelle
beträgt o,434 Joule. Wird weiter angenommen, daß am Lot ein Reflexionsfaktor von 50% anzusetzen ist und der
optische Übertragungsweg einen Übertragungsfaktor von 90% hat, so müssen bei den angegebenen Bedingungen annähernd
0,964 Joule in jedem Strahlenbündel bereitgestellt werden. In entsprechender Weise sind beispielsweise 3,7 Joule je
Strahlenbündel bevorzugtermaßen vorzusehen, wenn ein Kondensatorchip der Größe F mit Abmessungen von 6,0 mm χ 1,9 mm x5,3mm
festgelötet werden sollen. Mit einer Einrichtung der hier angegebenen Art wurden Versuchsreihen durchgeführt und die wirksamen
Energien wurden für verschiedene Kombinationen von Doppelschlitzblenden und Laserparametern aufgezeichnet. Die
präzise Energiemenge, wie sie oben theoretisch errechnet wurde, kann mit Abweichungen, die sich aus praktischen Überlegungen
ergeben, durch die hier vorgeschlagene Einrichtung mit einem hohen Grad an Reproduzierbarkeit und Zuverlässigkeit
abgegeben werden.
Das zuvor erwähnte Lasermodell SS 380 ist ein Neodym-Yttrium-Aluminium-Granatlaser
(NdYAG), dessen Laserenergie eine Wellenlänge von 1,06 μίτι aufweist. Die Impulsbreite ist
von 2 Millisekunden bis 10 Millisekunden einstellbar und die Pulswiederholungsfrequenz ist wählbar, so daß man 6 oder
oder 2 oder einen Impuls je Sekunde erhält oder von Hand Einzelimpulse auslösen kann. Die Maximalleistung beträgt 40 Watt.
In einer praktischen Ausführungsform der hier vorgeschlagenen
Einrichtung wurde der SS 380-Laser modifiziert, so daß eine noch größere Vielseitigkeit erreicht wurde. Es waren dann
Impulsbreiten bis zu 30 Millisekunden in Schritten von
- 11 -
030010/0885
/If-
0,1 Millisekunden verfügbar. Bei einer Leistung von 50 Watt konnten 30 3oule je abgegebener Impuls freigesetzt werden.
Weiter war ein ImpuIsburstbetrieb oder Impulsfolgebetrieb
einstellbar, bei welchem über 10 Impulse je Sekunde erzeugt werden konnten.
Die Verwendung einer Wellenlänge von 1,06 pm verringert die Lichtreflexion am Lot auf einen minimalen Wert im Vergleich
zu der Wellenlänge von 10,6 um eines Kohlendioxidlasers.
Bei erhöhter Energieabsorption durch das Lot wird ein geringerer Energieanteil zu dem Chip hin resultiert, so
daß die Spannungen im Chip geringer bleiben. Nachdem ferner kohärente Energie verwendet wird, können die Zylinderlinsen
so ausgebildet werden, daß eine präzise Fokussierung im wesentlichen sämtlicher Energie möglich ist, derart, daß unmittelbar
auf das Chip treffende EBergieanteile praktisch ausgeschlossen werden. Weiter ist der bevorzugte zeitliche
Verlauf der Energie des Lasers eine Folge von Impulsen verhältnismässig
geringer Impulsbreite. Soll beispielsweise ein Kondensatorchip der Größe A gelötet werden, so zeigt es
sich, daß vorzugsweise sechs Impulse mit einer Pulswiederholungsfrequenz
von 6 Impulsen je Sekunde abgegeben werden und jeder Impuls eine seitliche Breite von 4 bis 6 Millisekunden
aufweist. Die in diesem Fall verwendete Doppelschlitzblende liefert Strahlenbündel mit einer Tiefe annähernd gleich
der Tiefenabmessung von 0,9 mm, wie in Figur 3 gezeigt. Weiter wird die Laseramplitude auf 20% des Maximums eingestellt.
Vorzugsweise ändert man die Amplitude beim Wechsel von einer Bauteilgröße zur anderen nicht. Vielmehr wird die Blendenöffnung
der Doppelschlitzblende verändert und es werden die Pulswiederholungsfrequenz, die Pulsbreite und die Impulsdauer
so eingestellt, daß sich für den jeweiligen Anwendungsfall
die optimalen Arbeitsverhältnisse ergeben.
Die Folge schmaler I. ,pulse, wie sie zuvor angegeben ist,
führt zu einem wirksamen Schutz gegen eine Beschädigung der
- 12 -
030010/0885
Bauteile während und unmittelbar nach der Lötung. Zum
einen ist zu berücksichtigen, daß die Wärmeabgabe des flüssigen Lotes wesentlich größer ist als diejenige des
Lotes im festen Zustand. Demgemäß wird ein verhältnismäßig großer Prozentsatz der Warne, welche dem Lot zugeführt
wird, nach dessen Aufschmelzen in das Bauteil eingeführt. Es ergibt sich somit, daß dann, wenn die dem Lot
zugeführte Energie genau in kleinen Schritten derart gesteuert wird, daß das Lot nur für kurze Zeit, beispielsweise
für Millisekunden in den flüssigen Zustand übergeht, die Wärmemenge, welche in das Bauteil eintritt, minimal
gehalten werden kann. Zum anderen ist für einen gegebenen Punkt innerhalb des Kondensatorchips die Spannung maximal,
wenn der Temperaturunterschied zwischen den Elektrodenplatten und den dielektrischen Schichten ebenfalls maximal
ist. Untersuchungen haben gezeigt, daß ein maximaler Temperaturunterschied nach annähernd 3 Zeitkonstanten auftritt,
wobei eine Zeitkonstante definiert ist als diejenige Zeit, in welcher ein Punkt auf 63% seiner Maximaltemperatur
aufgrund von Wärmezufuhr zu dem Werkstoff kommt. Dies ist verständlich, nachdem , wenn die Temperatur ganz
allmählich über eine verhältnismäßig lange Zeitdauer erhöht wird, die unterschiedlichen Temperaturleitzahlen der
Schichten verhältnismäßig wenig Einfluß haben und der Unterschied der Temperatur zwischen zwei Schichten sehr klein
ist. Nimmt man an, daß die jeweiligen thermischen Ausdehnungskoeffizienten
gut aufeinander abgestimmt sind, so werden bis zu einer gewissen Grenze die Spannungen geringer, wenn
die Anzahl der Zeitkonstanten vergrößert wird. Wenn ferner die Anzahl der Zeitkonstanten unter 3 Zeitkonstanten verringert
wird, so hat der Werkstoff nicht genügend Zeit zu reagieren. In den meisten industriellen Anwendungsfällen
spielt die Produktionsgeschwindigkeit eine wesentliche Rolle, so daß es nicht möglich ist, die Zeit zur langsamen Temperaturerhöhung
der Bauteile wesentlich auszudehnen. Um daher die Spannungen minimal zu halten, ist es notwendig, den Wärme-
- 13 -
030010/0885
übergang auf das Lot so rasch wie möglich durchzuführen. Die
Impulse von 4 bis 6 Millisekunden ermöglichen eine Einführung von Wärme in das Lot in einer Zeit, welche wesenlich kürzer
ist, als eine Zeit konstante.
Die gleichzeitige Lötung beider Enden eines Kondensatorchips
durch die Verwendung von zwei Laserstrahlen führt zu einer wesentlichen Verbesserung bezüglich der Spannungsentlastung
gegenüber entsprechenden bekannten Verfahren. Im einzelnen ist nach der Abkühlung in den Lötverbindungen eine geringere
Spannung wirksam und entsprechend sind die auf das Chip wirkenden Spannungen kleiner. Die gleichzeitige Verflüssigung
des Lotes an beiden Enden des Bauteiles ohne eine Berührung von außen gibt dem Bauteil die Möglichkeit, auf dem flüssigen
Lot zu schwimmen. Auf diese Weise wird eine ausreichende Dicke der Lotschicht zwischen dem Bauteil und der Trägerplatte der
gedruckten Schaltung erreicht. Vornehmlich strebt man an, daß nicht weniger als 0,064 mm Lotschicht unter dem Chip erstarren,
um die Spannungen in dem Chip und eine Ermüdung im Lot aufgrund plastischer Verformung zu begrenzen.
Betrachtet man die Figuren 4A und 4B, so ergibt sich, daß bei einem gegebenen Verschiebungsweg O an jedem Ende des
Bauteils zur Aufnahme der während des Lötens auftretenden Ausdehnung des Bauteils, welche größer als diejenige der gedruckten
Schaltung ist, der Verschiebungswinkel Q kleiner wird, wenn die Dicke der betreffenden Lotschicht vergrößert
wird. In den Figuren 4A und 4B ist der Winkel u^kleiner
als der Winkel 6? , nachdem die Schichtstärke ty größer als
die Schichtstärke t. ist. In Figur 5 sind empirisch die Daten
aufgezeichnet, welche erkennbar machen, daß die Zugspannung, welche auf das Bauteil nach der Abkühlung wirkt, verringert
wird, wenn die Dicke der Lotschicht von 0,076 mm auf 0,254 mm
vergrößert wird. Das gleichzeitige Verflüssigen des Lotes vermeidet auch im wesentlichen vertikal gerichtete Kräfte,
welche auf das Chip wirken würden, wenn zuerst ein Ende und
- 14 -
030010/0885
danach erst das andere Ende festgelötet würde.
Im Rahmen der vorstehend angegebenen Gedanken bietet sich dem Fachmann noch eine Reihe von Abwandlungsmöglichkeiten.
Beispielsweise sind zwar die obigen Überlegungen in erster Linie in Verbindung mit Chips und insbesondere Kondensatorchips
angestellt, doch kann die hier beschriebene Löttechnik auch auf andre Bauelemente angewendet werden.
- 15 -
030010/0885
Claims (1)
- Patentansprüche.Verfahren zur Lot- oder Schweißverbindung eines Bauteils mit einem Substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer Strahlung, insbesondere Laserstrahlung, dadurch gekennzeichnet, daß diese Strahlung in einer Wellenlänge im Bereich von 1 mm bis 1 nm bereitgestellt wird, daß diese Strahlung dann in eine Mehrzahl gleichzeitig auftretender Strahlenbündel im wesentlichen gleicher Energie aufgeteilt wird, daß die Strahlenbündel nach einwärts verlaufend gegen die einander gegenüberliegenden Enden des zu verbindenden Bauteils gerichtet werden, um Lot zu verflüssigen oder eine Schweißung vorzunehmen, und daß die Strahlenbündel dann wieder beseitigt werden, um im wesentlichen gleichzeitig Verbindungsstellen zur Befestigung des Bauteils am Substrat zu bilden.2t Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Quelle (B) elektromagnetischer Strahlung in einer Wellenlänge im Bereich von 1 mm bis 1 nm vorgesehen ist, daß die Strahlung dieser Strahlungsquelle mittels einer Strahlteileinrichtung (14} in die Strahlenbündel aufgeteilt wird, welche räumlibh getrennt voneinander geführt sind und daß Strahlführungsmittel (22, 24) vorgesehen sind, um die Strahlenbündel auf die Bereiche zu richten, in denen Verbindungsstellen hergestellt werden sollen.3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlenbündel pulsierende kohärente Laserstrahlung führen, wobei die Impulsbreiten kleiner als 10 Millisekunden sind, die Impulswiederholungsfrequenz unter 10 Impulse je Sekunde beträgt und die Dauer einer Impulsfolge oder eines Impulsstoßes weniger als 1 Sekunde ist.4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Energie der Impulsfolge oder des Impulsstoßes wählbar ist.- 16 -030010/0885ORIGINAL INSPECTED5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß eine Strahlungsquelle verwendet wird, deren Wellenlänge 1,06 um beträgt.6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Impulsbreite im Bereich von 4 Millisekunden bis 6 Millisekunden liegt.7. Einrichtung nabh einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die zu verbindenden Teile auf einer
Halterung, insbesondere einer mittels eines Mikroprozessors steuerbaren Koordinatentisch, befestigt sind.- 17 -
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US93667178A | 1978-08-24 | 1978-08-24 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2934407A1 true DE2934407A1 (de) | 1980-03-06 |
Family
ID=25468940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19792934407 Withdrawn DE2934407A1 (de) | 1978-08-24 | 1979-08-24 | Verfahren zur loet- oder schweissverbindung eines bauteils mit einem substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer strahlung, insbesondere laserstrahlung und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5530895A (de) |
CA (1) | CA1123920A (de) |
DE (1) | DE2934407A1 (de) |
FR (1) | FR2434002A1 (de) |
GB (1) | GB2038220B (de) |
IT (1) | IT1120489B (de) |
NL (1) | NL7906042A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0085278A1 (de) * | 1982-01-28 | 1983-08-10 | Battelle Development Corporation | Verfahren zum Verändern von Materialeigenschaften durch einen geteilten Laserstrahl |
DE3539933A1 (de) * | 1985-11-11 | 1987-05-14 | Nixdorf Computer Ag | Vorrichtung zum aufloeten elektronischer bauelemente auf eine schaltungsplatine |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0347730Y2 (de) * | 1985-04-18 | 1991-10-11 | ||
JPH0677811B2 (ja) * | 1986-01-20 | 1994-10-05 | 株式会社ハイベツク | 自動半田付け装置 |
JPH0783036B2 (ja) * | 1987-12-11 | 1995-09-06 | 三菱電機株式会社 | キヤリアテープ |
JPH02138066U (de) * | 1989-04-17 | 1990-11-19 | ||
US5309545A (en) * | 1990-08-27 | 1994-05-03 | Sierra Research And Technology, Inc. | Combined radiative and convective rework system |
US5060288A (en) * | 1990-08-27 | 1991-10-22 | Sierra Research And Technology, Inc. | Infrared heater array for IC soldering |
DE19833368C1 (de) * | 1998-07-24 | 2000-02-17 | Schott Glas | Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Bauteilen aus sprödbrüchigen Werkstoffen |
JP2005347415A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Miyachi Technos Corp | 電気部品実装方法 |
DE502005007859D1 (de) | 2004-10-06 | 2009-09-17 | Limo Patentverwaltung Gmbh | Laseranordnung |
WO2006037370A1 (de) * | 2004-10-06 | 2006-04-13 | Hentze-Lissotschenko Patentverwaltungs Gmbh & Co. Kg | Laseranordnung |
CN110948079B (zh) * | 2019-12-24 | 2023-10-10 | 武汉嘉铭激光股份有限公司 | 一种双激光锡焊的组合装置及其焊接方法 |
CN114682948B (zh) * | 2022-03-04 | 2023-10-31 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 片式元器件的可焊性测试方法、装置及系统 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1565832A1 (de) * | 1966-09-06 | 1970-02-12 | Siemens Ag | Optische Anordnung fuer Laserstrahlen |
DE2214884A1 (de) * | 1971-03-26 | 1972-11-23 | United Kingdom Atomic Energy Authority, London | Verfahren und Gerät zum optischen Bearbeiten von Werkstoffen |
DE2127632A1 (en) * | 1971-06-03 | 1972-12-14 | Siemens Ag | Multiple joint laser welder - with phase hologramme beam divider |
DE2652413A1 (de) * | 1975-11-21 | 1977-05-26 | Boc Ltd | Fernsehaufnahmeeinrichtung zur beobachtung einer laserstrahlimpulsbearbeitung eines werkstuecks |
US4083629A (en) * | 1976-11-29 | 1978-04-11 | Gte Laboratories Incorporated | Beam splitting system for a welding laser |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3524046A (en) * | 1968-04-26 | 1970-08-11 | Aluminum Co Of America | Apparatus and method for piercing holes in elastomeric articles |
JPS5539434B2 (de) * | 1972-08-25 | 1980-10-11 | ||
JPS5310937B2 (de) * | 1973-05-18 | 1978-04-18 | ||
JPS5148917B2 (de) * | 1973-10-26 | 1976-12-23 | ||
JPS5297696U (de) * | 1976-01-21 | 1977-07-22 |
-
1979
- 1979-07-13 CA CA331,825A patent/CA1123920A/en not_active Expired
- 1979-07-20 GB GB7925327A patent/GB2038220B/en not_active Expired
- 1979-07-31 FR FR7919725A patent/FR2434002A1/fr active Granted
- 1979-08-07 IT IT49988/79A patent/IT1120489B/it active
- 1979-08-07 NL NL7906042A patent/NL7906042A/nl not_active Application Discontinuation
- 1979-08-24 JP JP10805979A patent/JPS5530895A/ja active Granted
- 1979-08-24 DE DE19792934407 patent/DE2934407A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1565832A1 (de) * | 1966-09-06 | 1970-02-12 | Siemens Ag | Optische Anordnung fuer Laserstrahlen |
DE2214884A1 (de) * | 1971-03-26 | 1972-11-23 | United Kingdom Atomic Energy Authority, London | Verfahren und Gerät zum optischen Bearbeiten von Werkstoffen |
DE2127632A1 (en) * | 1971-06-03 | 1972-12-14 | Siemens Ag | Multiple joint laser welder - with phase hologramme beam divider |
DE2652413A1 (de) * | 1975-11-21 | 1977-05-26 | Boc Ltd | Fernsehaufnahmeeinrichtung zur beobachtung einer laserstrahlimpulsbearbeitung eines werkstuecks |
US4083629A (en) * | 1976-11-29 | 1978-04-11 | Gte Laboratories Incorporated | Beam splitting system for a welding laser |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0085278A1 (de) * | 1982-01-28 | 1983-08-10 | Battelle Development Corporation | Verfahren zum Verändern von Materialeigenschaften durch einen geteilten Laserstrahl |
DE3539933A1 (de) * | 1985-11-11 | 1987-05-14 | Nixdorf Computer Ag | Vorrichtung zum aufloeten elektronischer bauelemente auf eine schaltungsplatine |
US4792658A (en) * | 1985-11-11 | 1988-12-20 | Nixdorf Computer Ag | Device for soldering electronic structural elements of a circuit plate bar |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT1120489B (it) | 1986-03-26 |
GB2038220B (en) | 1982-10-20 |
FR2434002B1 (de) | 1983-08-12 |
IT7949988A0 (it) | 1979-08-07 |
NL7906042A (nl) | 1980-02-26 |
JPS6349594B2 (de) | 1988-10-05 |
CA1123920A (en) | 1982-05-18 |
FR2434002A1 (fr) | 1980-03-21 |
GB2038220A (en) | 1980-07-23 |
JPS5530895A (en) | 1980-03-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2934407A1 (de) | Verfahren zur loet- oder schweissverbindung eines bauteils mit einem substrat mittels kurzwelliger elektromagnetischer strahlung, insbesondere laserstrahlung und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
US4327277A (en) | Method for laser soldering | |
DE60027820T2 (de) | Vorrichtung mit einem optischen System zur Laserwärmebehandlung und ein diese Vorrichtung verwendendes Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen | |
DE2527622A1 (de) | Einrichtung zur formung des querschnittes eines laserstrahlenbuendels und verwendung derselben | |
DE68904640T2 (de) | Eine von einem laser unterstuetzte heizstange zum mehrfachverbinden von leitern. | |
DE112004000581B4 (de) | Verfahren zum Schneiden von Glas | |
DE3042085C2 (de) | Halbleiteranordnung | |
EP1871566B1 (de) | Verfahren zum feinpolieren/-strukturieren wärmeempflindlicher dielektrischer materialien mittels laserstrahlung | |
DE1416028B2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines als Dickenscherungsschwinger wirkender Wandlers | |
DE3423172A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer solarbatterie | |
DE2900356A1 (de) | Halbleiterlaser-vorrichtung | |
DE3902158A1 (de) | Verfahren zur entfernung eines isolierueberzuges eines elektrischen leitungsdrahtes und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE112009001456T5 (de) | Glasverschmelzungsverfahren | |
EP2915785B1 (de) | Verfahren zum laserinduzierten Fügen eines glasartigen Fügepartners mit einem zweiten Fügepartner mithilfe ultrakurzer Laserpulse | |
WO2022122251A1 (de) | Laserbearbeitung eines materials mittels gradienten-filterelement | |
DE2333178B2 (de) | Spiegel und verfahren zu seiner herstellung | |
DE1627762B2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung | |
DE4446289A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Mikroverbindung von Kontaktelementen | |
DE4341017C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Verbundglasscheibe mit in der thermoplastischen Zwischenschicht angeordneten Metalldrähten und Anwendung des Verfahrens | |
DE3827297C2 (de) | ||
DE19839343A1 (de) | Verfahren zum Bearbeiten eines Bauteils oder einer Bauteilanordnung mittels elektromagnetischer Strahlung sowie Vorrichtung zum Fügen, insbesondere Verlöten | |
DE3390451C2 (de) | Verfahren zum Laser-L¦ten | |
DE112019005450T5 (de) | Laserbearbeitungsverfahren | |
EP0384933B1 (de) | Gaslaser und Herstellungsverfahren | |
DE2051017C3 (de) | Kristallbeugungsvorrichtung und Verfahren zu deren Herrstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: B23K 26/00 |
|
8130 | Withdrawal |