DE3516954A1 - Montierte integrierte schaltung - Google Patents

Montierte integrierte schaltung

Info

Publication number
DE3516954A1
DE3516954A1 DE19853516954 DE3516954A DE3516954A1 DE 3516954 A1 DE3516954 A1 DE 3516954A1 DE 19853516954 DE19853516954 DE 19853516954 DE 3516954 A DE3516954 A DE 3516954A DE 3516954 A1 DE3516954 A1 DE 3516954A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
integrated circuit
semiconductor substrate
responding
fast
attached
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19853516954
Other languages
English (en)
Inventor
Tushar A. Westlake Village Calif. Gheewala
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Gigabit Logic Inc
Original Assignee
Gigabit Logic Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Gigabit Logic Inc filed Critical Gigabit Logic Inc
Publication of DE3516954A1 publication Critical patent/DE3516954A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/147Semiconductor insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/4501Shape
    • H01L2224/45012Cross-sectional shape
    • H01L2224/45014Ribbon connectors, e.g. rectangular cross-section
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01014Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0102Calcium [Ca]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01042Molybdenum [Mo]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01058Cerium [Ce]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01063Europium [Eu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01075Rhenium [Re]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01088Radium [Ra]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/1026Compound semiconductors
    • H01L2924/1032III-V
    • H01L2924/10329Gallium arsenide [GaAs]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/15165Monolayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15172Fan-out arrangement of the internal vias
    • H01L2924/15173Fan-out arrangement of the internal vias in a single layer of the multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19043Component type being a resistor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)

Description

HOFFMANN · EITLE <& PARTNER 35 1695 A
PATENT- UND RECHTSANWÄLTE PATENTANWÄLTE DIPL.-ING. W. EITLE · DR. RER. NAT. K. HOFFMANN · DIPL.-ΙΝΘ. W. LEHN DIPL.-ING. K. FOCHSLE · DR. RER. NAT. B. HANSEN · DR. RER. NAT. H-A. BRAUNS · DIPL.-INQ. K. GDRS DIPL.-ΙΝβ. K. KOHLMANN · RECHTSANWALT A. NETTE
- 4 - 42 022 Gh/ms
GIGABIT LOGIC, INC. Newbury Park / USA
Montierte integrierte Schaltung
Die Erfindung betrifft das Montieren oder Anordnen einer schnellansprechenden (high speed) integrierten Schaltung derart, daß genaue Kontrolle oder Steuerung der Übertragungsleitungen gegeben ist, welche die schnell ansprechende integrierte Schaltung, beispielsweise eine Galliumarsenid (GaA.s) -integrierte Schaltung mit anderen Komponenten j. verbinden, beispielsweise mit Widerständen und Konden-
satoren oder Kapazitäten, die der schnellansprechenden
* integrierten Schaltung eng zugeordnet sind. Es ist weiter-
hin erwünscht, die Übertragungsleitungen genau zu kontrollieren oder zu steuern, welche die schnellansprechende integrierte Schaltung mit Eingangs/Ausgangs-Anschlüssen einer keramischen Montageplatte oder dgl. verbinden. Feine Leiterbreitensteuerung oder -kontrolle ermöglicht genaue Steuerung der Impedanz der übertragungsleitung und ermöglicht weiterhin hohe Dichte der Signalleitungen und der Eingangs/Ausgangs-Leitungen. Kleine Leiterbreite führt zu zusätzlichem Raum, so daß Erdungsleitungen oder eine Erdungsebene zwischen die Signalübertragungsleitungen eingesetzt werden können, wodurch sich eine Verringerung des übersprechens ergibt. Vergleichbare feine Leiter in keramischen Montageplatten oder dgl. sind auf eine Leiterstärke von 100 um beschränkt, wohingegen Metallinien oder Metalleitungen einer Stärke von 2 bis 3 μια an einem glatten Halbleitersubstrat routinemäßig gebildet werden können.
ARABELLASTRASSE 4 . D-SOOO MÜNCHEN 81 ■ TELEFON CO 89J 9110 87 . TELEX 5-29619 CPATHEJ · TELEKOPIERER 9183 5β
Es ist weiterhin erwünscht, Übertragungsleitungen mit sehr niedriger Impedanz zu schaffen für das Umgehen von Energiezufuhrstörungen. übertragungsleitungen mit extrem niedrigerer Impedanz werden während der Bearbeitung oder Verarbeitung von Halbleitern routinemäßig hergestellt, indem Isolatoren wie SiC^ und Si-N. an dem Halbleitersubstrat angelagert werden. Diese Isolatoren werden an dem Halbleitermaterial mit einer Dicke in der Größe von 1000 8 angelagert. Solche dünnen Dielektrika ermöglichen die Herstellung von Übertragungsleitungen mit sehr niedriger Impedanz. Auf eine Standardweise können Dioden an dem Halbleitersubstrat gebildet werden nahe der schnellansprechenden GaAs-integrierten Schaltung, und zwar als Schutz gegen statische Entladung. Transistoren, die in der gleichen Weise gebildet sind, können nahe der GaAs-integrierten Schaltung als Off-Chip-Treiber verwendet werden. Das Siliziumhalbleitersubstrat ermöglicht weiterhin die Verwendung von Vorrichtungen mit nichtlinearer Impedanz und von Klemmvorrichtungen nahe der integrierten GaAs-Schaltung oder einer anderen schnellansprechenden integrierten Schaltung.
Auf dem hier in Rede stehenden Gebiet ist es ein Zweck, eine Montage für schnellansprechende integrierte Schaltungen zu schaffen derart, daß Tragbauteile und die Übertragungsleitungen der Trägerplatte oder dgl., die Schnellansprechcharakteristiken der integrierten Schaltung nicht beeinträchtigen oder hemmen. Die Gesichtspunkte bei der Gestaltung irgendeiner Montage einer schnellansprechenden 0 integrierten Schaltung sind eine Kombination von mechanischen, elektrischen und physikalischen Gesichtspunkten.
Geraäß der vorliegenden Erfindung und gemäß nachstehend beschriebender Ausführungsformen der Erfindung ist eine verbesserte Form einer Montage einer integrierten GaAs-
Schaltung geschaffen. Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist die integrierte GaAs-Schaltung an einem Halbleitersubstrat angebracht, und zwar entweder mittels Epoxyharz, einer Lötverbindung oder einer eutektischen Bindung, und die elektrischen Anschlüsse sind ausgeführt durch Drahtverbindungen zwischen dem Halbleitersubstrat und der integrierten GaAs-Schaltung. Die GaAs-Schaltung kann auch "Flip-montiert" ("flip-mounted") sein, wobei dann eine Vielzahl von Lötmittelkugeln (auch als C4s bekannt) verwendet werden. In diesem Fall werden die Eingangsleitungen, die Ausgangsleitungen, die Energieleitungen und die Erdungsleitungen von der integrierten GaAs-Schaltung direkt an die Signalleitungen an dem Halbleitersubstratträger gelötet. Die Signalübertragungsleitungen werden an dem Halbleitersubstratträger hergestellt, der weiterhin Kondensatoren niedriger Impedanz enthält, die dazu verwendet werden, Energiezufuhrstörungen zu umgehen, die an den Energiezufuhrleitungen vorhanden sein können. Das Halbleitersubstrat kann auch Widerstände, Filter, Impedanzanpassungsnetze, Impedanztransformatoren und aktive Halbleitervorrichtungen tragen wie beispielsweise Dioden, bipolare Transistoren, Feldeffekttransistoren und Spannungsregler. Arbeitsweisen zum Herstellen solcher Vorrichtungen oder Halbleitersubstrate sind bekannt.
Das Halbleitersubstrat wird dann in einer keramischen Packung bzw. in einer keramischen Platte oder dgl. montiert, die Eingangs- und Ausgangsanschlüsse der schnellansprechenden integrierten Schaltung und des Halbleitersubstrates zu einer gedruckten Stromkreistafel oder Stromkreiskarte schafft. Die keramische Montageplatte schafft einen Schutz gegenüber Umgebungsgefahren wie Stöße, Feuchtigkeit, korrodierende Chemikalien und dgl. Weiterhin können viele Halbleitersubstratträger an einer einzigen keramischen Packung oder an einer einzigen gedruckten Stromkreistafel montiert werden, wobei diese Arbeitsweise
der Montage zweckmäßig ist für die Konstruktion von Hybridschaltungen. Die Verwendung eines Halbleitersubstrats ermöglicht feine Steuerung über die Linienbreite oder Leitungsbreite der übertragungsleitung und der Impedanz und sie ermöglicht die Verwendung oder Anbringung von aktiven und passiven elektrischen Vorrichtungen an dem Substratträger.
Demgemäß ist es ein Zweck der vorliegenden Erfindung, eine verbesserte Packung oder Montage für schnellansprechende integrierte Schaltungen zu schaffen.
Ein anderer Zweck der Erfindung besteht darin, eine Substratträgerpackung bzw. eine Substratträgermontage zu schaffen, bei welcher die Breite der übertragungsleitung genau gesteuert werden kann und bei welcher die Trägerpackung oder Trägermontage die Charakteristiken der schnellansprechenden integrierten Schaltung ergänzt oder vervollständigt.
Ein weiterer Zweck der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Trägerpackung bzw. eine Trägerplatte für eine integrierte Schaltung schaffen, bei welcher passive elektronische Komponenten wie beispielsweise Widerstände und Kondensatoren oder Kapazitäten ein Teil der Trägerpackung sind.
Ein weiterer Zweck der vorliegenden Erfindung besteht darin, aktive Halbleitervorrichtungen in einer Substratträgerpackung "oder -montage vorzusehen oder einzuschließen, welche die Charakteristiken der schnellansprechenden integrierten Schaltung, welche die Packung oder Montage trägt, ergänzen oder vervollständigen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung beispielsweise erläutert.
Fig. 1 ist eine schaubildliche Ansicht einer schnellansprechenden integrierten Schaltung und deren Verbindung mit einem Halbleitersubstratträger, der Übertragungsleitungen und zugehörige Tragvorrichtungen trägt wie beispielsweise Widerstände, Bypass-Kondensatoren, Impedanzanpassungs-Kondensatoren, Transistoren und Spannungsregler,
Fig. 2 zeigt eine integrierte GaAs-Schaltung, die an Halbleiterträgerchips angebracht sind, die ihrerseits an einer mehrlagigen gedruckten Stromkreistafel angebracht sind,
Fig. 3 ist eine schaubildliche Ansicht einer schnellansprechenden integrierten Schaltung und deren Verbindung mit einem Halbleitersubstratträger, der Übertragungsleitungen enthält, die von einer Er
dungsebene umgeben sind,
Fig. 4 zeigt eine Mikrostrip-Signalleitung an der Oberseite eines Isolators, der seinerseits auf einer Erdungsebene ruht..
In Fig. 1 ist eine integrierte GaAs-Schaltung 28 dargestellt, die mittels eines leitenden Epoxyharzes, beispielsweise eines Epoxyharzes auf Polyimidbasis oder 0 mittels eines Silberepoxyharzes an ein Halbleitersubstrat 34 gebunden ist, welches seinerseits an einem keramischen Träger 10 angebracht ist. Es gibt viele Arten, um die integrierte Schaltung 28 an das Halbleitersubstrat 34 zu binden. Bei einer Arbeitsweise wird ein Epoxyharztropfen (oder ein Tropfen aus Polyimid) auf das Sub-
strat gebracht und die integrierte GaAs-Schaltung wird auf dem Substrat angeordnet, dann sanft gerieben und bei 200 bis 300°C gehärtet bzw. getrocknet. Bei einer anderen Arbeitsweise werden die integrierte GaAs-Schaltung und der Substratträger bei höheren Temperaturen von 300 bis 500°C auf Standardweise miteinander verlötet. Die elektrische Verbindung zwischen der integrierten Schaltung 28 und dem Halbleitersubstrat 34 ist durch eine Drahtverbindung 30 erhalten. Diese Verbindung kann auch erhalten werden durch Verlöten von Vierkantleitern oder von Drähten anderer Gestalt, beispielsweise von Drähten, wie sie bei automatischen Bandverbindungen verwendet werden, bei denen der Querschnitt des Drahtes rechteckig ist. Eine Signalübertragungsleitung 20 wird dazu verwendet, eine Eingangsleitung oder eine Ausgangsleitung der integrierten Schaltung 28 mit Komponenten zu verbinden, wie beispielsweise einem Anpassungskondensator 26, der auf Standardweise körperlich an dem Halbleitersubstrat 34 angelagert ist und ein Teil von diesem darstellt. Ein Draht oder Leiter 46, der auch eine Lötverbindung, eine Schweißung, ein Band oder ein Stab sein kann, verbindet dann den Anpassungskondensator 26 an dem Halbleitersubstrat 34 mit einem Eingangs- oder Ausgangsanschluß 24, der an dem keramischen Chipträger 10 angeordnet ist. Die Eingangs/Ausgangs-Leitung 24 ist weiterhin körperlich mit einer Eingangs/Ausgangs-Leitung 22 verbunden, welche die gesamte Packung oder Montage mit anderen elektronischen Stromkreisen oder Schaltungen in einem System elektrisch verbindet. Der GaAs-Chip 28 0 ist gemäß der Darstellung mit einem Bypass-Kondensator 14 verbunden, der an dem Halbleitersubstrat 3 4 angelagert ist. Der Bypass-Kondensator 14 ist seinerseits über einen Draht 18 mit einer Eingangs/Ausgangs-Leitung 12 verbunden, die an dem keramischen Chipträger angeordnet ist.
Ein Widerstand 32 ist auf Standardweise an dem Halbleitersubstrat 34 angelagert und er ist mittels Drähten .mit einer übertragungsleitung 36 und mit der integrierten GaAs-Schaltung 28 verbunden. Der Widerstand 32 ist weiterhin mittels eines Drahtes 38 mit dem keramischen Trägerchip 10 verbunden.
Aktive elektrische Vorrichtungen, wie beispielsweise ein Spannungsregler 16, können, wie dargestellt, an dem HaIbleitersubstrat 34 körperlich angelagert sein. Übertragungsleitungen 42 verbinden den Spannungsregler 16 über Drähte 43 mit dem GaAs-Chip 28.. Drähte 44 werden dazu verwendet, den Spannungsregler 16 mit dem keramischen Chipträger 10 zu verbinden.
Fig. 3 zeigt eine Erdebene oder Erdungsebene 50 an dem Halbleitersubstrat 34, welche die Signalleitungen 52 umgibt und das übersprechen zwischen Signalen minimiert. Die Impedanz der übertragungsleitung kann gesteuert werden durch Ändern des Abstandes zwischen der Erdungsebene 50 und der Übertragungsleitung. Die Signalleitungen 52 können sogenannte koplanare Übertragungsleitungen sein, wie es in Fig. 3 dargestellt ist, oder sie können auch Mikrostrip-Leitungen 54 sein, wie es in Fig. 4 dargestellt ist. Fig. 4 zeigt eine Signalleitung 54, die an einem Isolator 56 angebracht ist, der seinerseits an einer Erdungsebene oder Erdebene 50 angebracht ist. Die Dimensionen der Signalleitungen 52 und 54 und des Dielektrikums 56 sind .so gewählt, daß die gewünschte Impedanz erhalten wird. Die Erdebene 50 an dem Halbleitersubstrat 34 ist mit Erdungsebenen oder Erdebenen (nicht dargestellt) an der integrierten Schaltung 28 elektrisch verbunden.
Fig. 2 zeigt mehrere integrierte GaAs-Schaltungen 28, die
mit ihren Halbleitersubstraten 3 4 verbunden sind, die ihrerseits an eine mehrlagige gedruckte Stromkreiskarte 48 gebunden sind. Die integrierten Schaltungen 28 und ihre Halbleitersubstrate 34 sind mittels Drähten 50a verbunden, die Standardspuren von gedruckten Stromkreiskarten sind. Die mehrlagige gedruckte Stromkreiskarte :48 hat verschiedene Stromkreisschichten, welche die Halbleitersubstrate 34 elektrisch verbinden oder anschließen.
Im Rahmen der Erfindung sind verschiedene Änderungen möglich.
< /IX. - Leerseite

Claims (8)

  1. PATENT- UND RECHTSANWÄLTE ί
    PATENTANWÄLTE DIPL.-ING. W. EITLE - DR. RER. NAT. K. HOFFMANN - DIPL.-ING. W. LEHN _,
    DIPL.-ING.K. FOCHSLE - DR. RER. NAT. B. HANSEN · DR. RER. NAT. H-A. BRAUNS - DIPL.-ING. K. GORG DIPL.-ING. K. KOHLMANN ■ RECHTSANWALT A. NETTE
    42 022 Gh/ms
    GIGABIT LOGIC, INC.
    Newbury Park / USA
    Montierte integrierte Schaltung
    Patentansprüche
    In einer Packung enthaltene schnellansprechende integrierte Schaltung, gekenn ζ e ichnet durch Halbleitersubstratmittel (34), an denen eine integrierte Schaltung (28) angebracht ist und die übertragungsleitungen mit gesteuerter Impedanz, Erdleitungen und elektronische Komponenten schaffen können, die mit der integrierten Schaltung verbunden sind.
  2. 2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß die integrierte Schaltung (28) eine schnellansprechende integrierte GaAs-Schaltung ist, und daß die Halbleitersubstratmittel (3 4) ein Halbleiter auf Siliziumbasis sind.
  3. 3. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß die Halbleitersubstratmittel (34) an einer KunststoffChipträgereinrichtung angebracht sind, die elektrische Anschlüsse und Schutz gegen Verunreinigung schaffen kann.
  4. 4. In einer Packung enthaltene schnellansprechende integrierte Schaltung, gekennzeichnet durch
    ARABELLASTRASSE 4 - D-800O MÖNCHEN 81 - TELEFON COSiT) 911Ο87 - TELEX 5-29619 CPATHE3 · TELEKOPIERER 918356
    eine Mehrzahl von Halbleitersubstraten (34), die an einer Schaltungseinrichtung angebrachte integrierte Schaltungen (28) enthalten und die Übertragungsleitungen mit gesteuerter Impedanz, Erdleitungen und elektronische Komponenten schaffen können, die mit den integrierten Schaltungen verbunden sind.
  5. 5. In einer Packung enthaltene schnellansprechende integrierte Schaltung, dadurch gekennzeichnet, daß .passive Komponenten an einem Halbleitersubstrat (34) vorgesehen sind, welches eine schnellansprechende integrierte Schaltung (28) trägt, die passiven Komponenten an dem Halbleitersubstrat angeordnete Energiezufuhrleitungen kapazitiv umgehen, und daß die passiven Komponenten rückwärts vorgespannte Diodenverbindungen sind.
  6. 6. In einer Packung enthaltene schnellansprechende integrierte Schaltung, dadurch gekennzeichnet, daß ein Halbleitersubstratträger vorgesehen ist, an welchem eine integrierte Schaltung angebracht ist, und daß schnellansprechende Signalleitungen des Halbleitersubstratträgers an Anpassungswiderständen endigen, die einen Teil des Halbleitersubstratträgers darstellen.
  7. 7. In einer Packung enthaltene schnellansprechende integrierte Schaltung, gekennzeichnet durch koplanare Mikrostrip-Leitungen (54), die an einem Isolator (56) , der sich an einem Halbleitersubstratträger befindet, angeordnet sind und die mit einer integrierten Schaltung verbunden sind, die an dem Halbleitersubstratträger angeordnet sind..
  8. 8. In einer Packung enthaltene schnellansprechende integrierte Schaltung, g e k e η η ζ e i c h η e t durch eine Halbleitersubstrateinrichtung, an welcher eine integrierte Schaltung angebracht ist und welche Übertragungsleitungen mit gesteuerter Impedanz schaffen kann.
DE19853516954 1984-05-14 1985-05-10 Montierte integrierte schaltung Withdrawn DE3516954A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US60972884A 1984-05-14 1984-05-14

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3516954A1 true DE3516954A1 (de) 1985-11-14

Family

ID=24442081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19853516954 Withdrawn DE3516954A1 (de) 1984-05-14 1985-05-10 Montierte integrierte schaltung

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPS6116539A (de)
DE (1) DE3516954A1 (de)
FR (1) FR2564244B1 (de)
GB (1) GB2160707B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1310996A2 (de) * 2001-11-09 2003-05-14 ATI Technologies Inc. Direktverbundenes Mehrchipmodul, seine Herstellungsmethode und Elektronikgehäuse damit

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4754317A (en) * 1986-04-28 1988-06-28 Monolithic Memories, Inc. Integrated circuit die-to-lead frame interconnection assembly and method
US4774635A (en) * 1986-05-27 1988-09-27 American Telephone And Telegraph Company At&T Bell Laboratories Semiconductor package with high density I/O lead connection
FR2623662B1 (fr) * 1987-11-20 1990-03-09 Labo Electronique Physique Dispositif de connexion pour circuits integres numeriques ultra-rapides
JPH0226243U (de) * 1988-08-08 1990-02-21
US5089878A (en) * 1989-06-09 1992-02-18 Lee Jaesup N Low impedance packaging
US5063177A (en) * 1990-10-04 1991-11-05 Comsat Method of packaging microwave semiconductor components and integrated circuits

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0007993A1 (de) * 1978-07-12 1980-02-20 Siemens Aktiengesellschaft Leiterplatte zur Halterung und elektrischen Verbindung von Halbleiterchips
JPS5687395A (en) * 1979-12-18 1981-07-15 Fujitsu Ltd Semiconductor device
CA1115852A (en) * 1980-01-09 1982-01-05 Jacques R. St. Louis Mounting and packaging of silicon devices on ceramic substrates, and assemblies containing silicon devices
JPS6041861B2 (ja) * 1980-03-25 1985-09-19 三菱電機株式会社 半導体装置
JPS57154861A (en) * 1981-03-20 1982-09-24 Hitachi Ltd Package
US4437141A (en) * 1981-09-14 1984-03-13 Texas Instruments Incorporated High terminal count integrated circuit device package
GB2117564B (en) * 1982-03-26 1985-11-06 Int Computers Ltd Mounting one integrated circuit upon another
JPS58210650A (ja) * 1982-06-01 1983-12-07 Fujitsu Ltd 半導体装置
GB2136203B (en) * 1983-03-02 1986-10-15 Standard Telephones Cables Ltd Through-wafer integrated circuit connections

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1310996A2 (de) * 2001-11-09 2003-05-14 ATI Technologies Inc. Direktverbundenes Mehrchipmodul, seine Herstellungsmethode und Elektronikgehäuse damit
EP1310996A3 (de) * 2001-11-09 2004-12-15 ATI Technologies Inc. Direktverbundenes Mehrchipmodul, seine Herstellungsmethode und Elektronikgehäuse damit

Also Published As

Publication number Publication date
FR2564244A1 (fr) 1985-11-15
JPS6116539A (ja) 1986-01-24
GB2160707B (en) 1988-10-19
FR2564244B1 (fr) 1988-12-02
GB8512092D0 (en) 1985-06-19
GB2160707A (en) 1985-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3852291T2 (de) Automatische Bandmontagen-Packung für einen Halbleiterchip mit Entkupplung.
DE60026978T2 (de) Mehrchipgehäuse mit integrierten rf-fähigkeiten
DE69529646T2 (de) Packung mit Lötballgitter für eine integrierte Schaltung
DE3885112T2 (de) Gehäuse einer integrierten Schaltung.
DE68916784T2 (de) Integrierte Schaltungspackung.
DE69535250T2 (de) Flip-Chip mit wärmeleitender Schicht
DE69321052T2 (de) Oberflächenmontierte Hybrid-Mikroschaltung
DE2554965C2 (de)
DE19520700B4 (de) Halbleiterbausteinanordnung
EP0022176B1 (de) Modul für Schaltungschips
DE69326112T2 (de) Umhüllte Halbleiteranordnung
DE10033977B4 (de) Zwischenverbindungsstruktur zum Einsatz von Halbleiterchips auf Schichtträgern
DE3780915T2 (de) Biegsamer film-chiptraeger mit entkopplungskondensatoren.
DE4027072C2 (de) Halbleiteranordnung
DE10002852A1 (de) Abschirmeinrichtung und elektrisches Bauteil mit einer Abschirmeinrichtung
DE10301512A1 (de) Verkleinertes Chippaket und Verfahren zu seiner Herstellung
DE3538933A1 (de) Leistungshalbleitermodul
DE10258722A1 (de) Integrierter Schaltkreis, Halbleiterbauelement, Halbleiterbauelementpackung und Datenverarbeitungssystem
DE2920564A1 (de) Duennfilm-leitungen fuer elektronische schaltkreise
DE102013105352A1 (de) Mehrchip-Verpackung und Verfahren zu deren Herstellung
DE69524724T2 (de) Elektronische schaltungspackung
EP1708346A2 (de) Aktive primärseitige Schaltungsanorndung für ein schaltnetzteil
DE102018124419A1 (de) Halbleiterchippackage und verfarhen zum herstellen desselben
DE4239598A1 (de)
DE69902862T2 (de) Monolithische integrierte mikrowellenschaltungen aus galliumarsenid mit thermisch leitenden hockerkontakten

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee