DE3438437A1 - Transparenter, elektrisch leitender film - Google Patents
Transparenter, elektrisch leitender filmInfo
- Publication number
- DE3438437A1 DE3438437A1 DE19843438437 DE3438437A DE3438437A1 DE 3438437 A1 DE3438437 A1 DE 3438437A1 DE 19843438437 DE19843438437 DE 19843438437 DE 3438437 A DE3438437 A DE 3438437A DE 3438437 A1 DE3438437 A1 DE 3438437A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- film
- group
- transparent
- substrate
- element selected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 239000012789 electroconductive film Substances 0.000 title claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 203
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 105
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 73
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 43
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 32
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 25
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 claims description 20
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 13
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 12
- -1 polyethylene Polymers 0.000 claims description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 10
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 claims description 9
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 7
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 7
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 5
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 claims description 4
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 claims description 3
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 3
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 claims description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 claims description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 claims description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 claims description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 claims description 2
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 claims description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 claims description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- DZXKSFDSPBRJPS-UHFFFAOYSA-N tin(2+);sulfide Chemical compound [S-2].[Sn+2] DZXKSFDSPBRJPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 description 23
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 21
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 20
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 20
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 20
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 17
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 16
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 14
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 13
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 13
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 11
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 9
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 5
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 5
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 3
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N heliogen blue Chemical compound [Cu].[N-]1C2=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=NC([N-]1)=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=N2 RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 2
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 2
- FKNIDKXOANSRCS-UHFFFAOYSA-N 2,3,4-trinitrofluoren-1-one Chemical compound C1=CC=C2C3=C([N+](=O)[O-])C([N+]([O-])=O)=C([N+]([O-])=O)C(=O)C3=CC2=C1 FKNIDKXOANSRCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000002196 Pyroceram Substances 0.000 description 1
- 239000004990 Smectic liquid crystal Substances 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003098 cholesteric effect Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 239000006089 photosensitive glass Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- WVIICGIFSIBFOG-UHFFFAOYSA-N pyrylium Chemical compound C1=CC=[O+]C=C1 WVIICGIFSIBFOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000000682 scanning probe acoustic microscopy Methods 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- KXCAEQNNTZANTK-UHFFFAOYSA-N stannane Chemical compound [SnH4] KXCAEQNNTZANTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000080 stannane Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VXKWYPOMXBVZSJ-UHFFFAOYSA-N tetramethyltin Chemical compound C[Sn](C)(C)C VXKWYPOMXBVZSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004078 waterproofing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
- C03C17/225—Nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3429—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating
- C03C17/3435—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising a nitride, oxynitride, boronitride or carbonitride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3429—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating
- C03C17/3441—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising carbon, a carbide or oxycarbide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3429—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating
- C03C17/3464—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising a chalcogenide
- C03C17/347—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising a chalcogenide comprising a sulfide or oxysulfide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3429—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating
- C03C17/3482—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising silicon, hydrogenated silicon or a silicide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/301—AIII BV compounds, where A is Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/301—AIII BV compounds, where A is Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
- C23C16/303—Nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/32—Carbides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/34—Nitrides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022466—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1884—Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
- C03C2217/28—Other inorganic materials
- C03C2217/281—Nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
- C03C2217/28—Other inorganic materials
- C03C2217/282—Carbides, silicides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
- C03C2217/28—Other inorganic materials
- C03C2217/287—Chalcogenides
- C03C2217/288—Sulfides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
- C03C2217/29—Mixtures
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Description
BERG · STAPF · SCHWABE · SANDMAIR
PATENTANiVALTP "' ] "
STUNTZSTRASSE 16 · SPC-O Mf1NCHEN-EC - O 4 O U 4 3 7
-9-
Anwaltsakte 33 788
Ricoh Company, Ltd. Tokyo, Japan
Transparenter, elektrisch leitender Film
• (089J 98 82 72 - 74 Telex: 5 24 560 BERG d Bankkonten: Bayer. Vereinsbank München 453100 (BLZ 700 202 70)
Telegramme (cable) Telekopierer: (089) 983049 Hypo-Bank München 4410122850 (BLZ 70020011) Swift Code HYPO DF M>.<
BERGSTAPFPATENT München KaIIe Intotec 6350 Gr Il+ 111 Postscheck München 65343-808 (BLZ 70010080)
Beschreibung
Die Erfindung betrifft einen transparenten, elektrisch leitenden Film, sie betrifft insbesondere einen transparenten,
elektrisch leitenden Film, der als transparente Elektrode in verschiedenen optischen Einrichtungen,
beispielsweise in Solarzellen, optischen Bildsensoren und Flüssigkristallanzeigetafeln, verwendet werden kann.
Bei den bekannten optischen Einrichtungen, wie z.B. Solarzellen, optischen Bildsensoren und Flüssigkristall-Anzeigetafelniist
ein transparenter, elektrisch leitender Film aus der Familie der Oxide, beispielsweise aus
In~O- und SnO,, ,auf ein transparentes Substrat aus Glas
oder einem Polymeren als transparente Elektrode aufgebracht. Andererseits wurde die Erforschung und Entwicklung
von optischen Einrichtungen, in denen amorphes Silicium (nachstehend als a-Silicium bezeichnet) verwendet
wird, in den letzten Jahren sehr aktiv betrieben und optische a-Silicium-Einrichtungen, wie z.B. a-Silicium-Solarzellen,
optische a-Silicium-Bildsensoren und Anzeigeeinheiten, in denen a-Silicium als Licht emittierendes
Material verwendet wird, sind mindestens zum Teil im Handel erhältlich.
Bei Verwendung eines Materials der a-Silicium-Familie
trat jedoch bei den bekannten transparenten Elektroden in der Regel ein Problem in bezug auf die Beeinträchtigung
(Verschlechterung) des Grenzflächen- bzw. tibergangsflächenzustandes
auf. Das heißt, bei der Herstellung eines Films aus a-Silicium ist es übliche Praxis,
auf das Glimmentladungszersetzungsverfahren unter Ver-Wendung von Monosilan (SiH4) als Ausgangsmaterial zurückzugreifen.
In diesem Falle reagieren jedoch die in dem obengenannten transparenten, elektrisch leitenden Film
aus der Oxidfamilie, der als transparente Elektrode auf
das Substrat aufgebracht ist, enthaltenen Sauerstoffatome mit den im Plasma erzeugten Wasserstoffradikalen
unter Bildung von H3O. Die Bildung von H2O wirkt sich aus
auf das Adhäsionsvermögen und/oder den Oberflächenzustand
eines a-Silicium-Materials und dadurch besteht die Möglichkeit, daß der Grenz- bzw. übergangsflächenzustand
der resultierenden transparenten Elektrode in signifikanter Weise beeinträchtigt (verschlechtert) wird. Selbst
wenn eine transparente Elektrode hergestellt wird, diffundieren an der Grenzfläche zwischen In2O3 und a-Si:H
beispielsweise In, 0 und Si voneinander weg unter Bildung von neuen Verbindungen, wie z.B. SiO2* wodurch die
Erzielung einer ausgezeichneten Grenzfläche (Übergangsfläche) verhindert wird, was signifikante nachteilige
Effekte auf die Eigenschaften der Einrichtung haben könnte.
Wie vorstehend angegeben, bestanden die bekannten transparenten Elektroden in der Regel aus einem Oxid eines
Halbleitermaterials, wie z.B. ITO (Indiumzinnoxid), SnO2,
SnO^rSb und TiO2/Ag/TiO„. Die Verwendung eines solchen
Oxidmaterials zur Herstellung einer transparenten Elektrode bringt jedoch im allgemeinen mehrere Nachteile mit
sich. So wird beispielsweise Glas in der Regel als Trägerplatte oder Substrat verwendet, auf das die gewünschte
transparente Elektrode aufgebracht wird, wobei Alkaliionen, wie z.B. Na und K , leicht in die auf das Glassubstrat
aufgebrachte transparente Elektrode diffundieren unter Erzeugung von Akzeptorniveaus darin. Die Folge
davon ist, daß durch diese Akzeptorniveaus Donoren eingefangen werden, wodurch die elektrische Leitfähigkeit der
transparenten Elektrode verringert wird, so daß die Eigenschaften der Einrichtung beeinträchtigt (verschlechtert)
werden. Außerdem tritt eine solche Abnahme der elektrische Leitfähigkeit lokal auf, so daß in bezug
auf die elektrische Leitfähigkeit der transparenten Elektrode Unregelmäßigkeiten entstehen, wodurch eine ungleichförmige
Charakteristik erzeugt wird. Dieses Problem wird besonders gravierend, wenn eine transparente Elektro-
de mit einer größeren Fläche hergestellt werden soll, und
die daraus resultierenden Einrichtungen weisen dann eine geringe Zuverlässigkeit und Haltbarkeit auf.
Insbesondere ist im Falle einer transparenten Elektrode der Oxid-Familie diese eher chemisch instabil und sie
wird allmählich zersetzt, beispielsweise aufgrund des Wassergehalts in der Atmosphäre, so daß ihre elektrische
Leitfähigkeit geringer wird, wodurch die für eine beabsichtigte optische Einrichtung erforderlichen Eigenschaften
beeinträchtigt (verschlechtert) werden. Wie weiter oben angegeben, wird im Falle einer a-Si:H-Solarzelle,
z.B. dann, wenn ein transparenter und elektrisch leitender Film in der Plasmazersetzungsatmosphäre von SiH4
erzeugt wird, eine transparente Elektrode der Oxid-Familie, wie z.B. aus ITO, da sie in einer reduzierenden
Atmosphäre vorliegt, unvermeidlich reduziert. Als Folge davon diffundiert das reduzierte Metall Indium in den
Film aus a-Si:H, wodurch die Eigenschaften als Solarzelle
beeinträchtigt (verschlechtert) werden. Dies gilt allgemein auch für andere transparente Elektroden der
Oxid-Familie.
Hauptziel der vorliegenden Erfindung ist es daher, die vorstehend beschriebenen Nachteile des Standes der Technik
zu vermeiden und einen verbesserten Film aus einem transparenten und elektrisch leitenden Material zu schaffen.
Ziel der Erfindung ist es ferner, einen neuen transparenten, elektrisch leitenden Film zu schaffen, der sich
besonders gut eignet für die Verwendung als transparente Elektrode in verschiedenen Einrichtungen. Ziel der
Erfindung ist es außerdem, eine verbesserte, zuverlässige und im Betrieb stabile Einrichtung zu schaffen. Ein
weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, einen transparenten, elektrisch leitenden Film zu schaffen, der einen
ausgezeichneten Grenz- bzw. übergangsflächen-Zustand
aufweist und bei dem auch dann keine Beeinträchtigung (Verschlechterung) der Eigenschaften auftritt, wenn er
/13
in optischen Einrichtungen, wie z.B. Solarzellen, optischen
Bildsensoren und Anzeigeeinheiten eingesetzt wird, in denen a-Si-Material verwendet wird.
Weitere Ziele, Merkmale und Vorteile der Erfindung gehen aus der nachfolgenden detaillierten Beschreibung in Verbindung
mit den beiliegenden Zeichnungen hervor. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Bildsensors vom photoelektrischen Typ gemäß einer Ausführungs
form der Erfindung;
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Bildsensors vom Sandwich-Typ gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung;
Fig. 3 eine schematische Darstellung eines Plasma-
CVD-Systems;
20
20
Fig. 4 eine schematische Darstellung der Struktur eines elektrophotographischen lichtempfindlichen
Elements gemäß einer Ausführungsform der Erf indung;
25
25
Fig. 5 eine schematische Darstellung einer gegenüber
derjenigen der Fig. 4 modifizierten Struktur;
Fig. 6 eine schematische Darstellung einer Solarzelle oder Batterie gemäß einer Ausführungsform der
Erfindung;
Fig. 7 eine teilweise weggeschnittene perspektivische Ansicht der Struktur einer Gleichstrom-Plasma-Anzeigeeinrichtung
gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung;
Fig. 8 eine teilweise weggeschnittene perspektivische Ansicht der Struktur einer Wechselstrom-Plasma-Anzeigeeinrichtung
gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 9 eine schematische Darstellung einer elektrophoretischen Anzeigeeinrichtung gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung;
Fig. 10 eine schematische Darstellung eines Informationsauf Zeichnungsmediums gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung;
Fig. 11a bis 11d schematische Darstellungen der verschiedenen Stufen der Aufzeichnung von Informationen
auf dem Aufzeichnungsmedium gemäß Fig. 10;
Fig. 12 eine schematische Darstellung eines optischen Modulators gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 13 eine schematische Darstellung einer Dünnfilm-Transistoreinrichtung
gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 14 eine ebene Draufsicht auf die Struktur der in Fig. 13 dargestellten Einrichtung, von oben
betrachtet;
Fig. 15 eine schematische Darstellung eines thermoelektrischen Umwandlungselements gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 16 eine schematische Darstellung, die im Prinzip die elektrische Struktur einer Informationsein
gabeeinheit gemäß einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
Fig. 17 eine schematische Darstellung der Hardware-Struktur der in Fig. 16 gezeigten Einrichtung;
Fig. 18 eine schematische Darstellung einer photoelektrisehen
Umwandlungseinrichtung gemäß einer Aus
führungsform der Erfindung;
Fig. 19 eine schematische Darstellung einer Kameraröhre
gemäß einer Ausführungsform der Erfindung; 10
Fig. 20 eine schematische Darstellung eines Schaltelements gemäß einer Ausführungsform der Erfindung
vom Lichttransmissionstyp;
Fig. 21 eine schematische Darstellung einer Einheit, in der das optische Schaltelement gemäß Fig.
mit einem Elektrolumineszenzelement kombiniert ist;
Fig. 22 eine schematische Darstellung einer optischen Flüssigkristall-Einrichtung vom Licht reflektie
renden Typ gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 23 eine schematische Darstellung eines Licht emittierenden Dünnschicht-Elements gemäß einer Aus
führungsform der Erfindung; und
Fig. 24 eine schematische Darstellung eines selektiven Lichttransmissions-Elements gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung.
Gegenstand der Erfindung ist ein transparenter, elektrisch leitender Film, der insbesondere verwendet werden kann
als transparente Elektrode in verschiedenen Typen von optischen Einrichtungen. Gemäß dem Prinzip der vorliegenden
Erfindung werden Elemente, wie z.B. In, Sn, Cl und Pb,ausgewählt aus den Gruppen III und IV des Periodischen
Systems der Elemente, um die gewünschte elektrische
Leitfähigkeit zu erzielen. Andererseits wird zur Erzielung
der gewünschten Transparenz oder Lichttransmissionseigenschaften, da es erforderlich ist, die optische Bandlücke
zu verbreitern (zu erweitern), irgendeines der Elemente N, C und S aus dem Periodischen System ausgewählt. Vorzugsweise
ist in dem Film Wasserstoff enthalten, weil er eine reduzierende Atmosphäre schaffen kann. Auf diese
Weise wird gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ein transparenter, elektrisch leitender Film
hergestellt aus einem Element, das ausgewählt wird aus der Gruppe III oder aus der Gruppe IV des Periodischen
Systems der Elemente, einem Element, das ausgewählt wird aus der Gruppe N, C und S, und H unter Anwendung einer geeigneten
Filmbildungstechnik.
Wenn man beispielsweise Sn als ausgewähltes Element aus der Gruppe IV des Periodischen Systems der Elemente, N
als ausgewähltes Element aus der Gruppe N, S und C und H verwendet, kann man einen Film aus Sn N1- :H erhalten,
der transparent und elektrisch leitend ist. Zur Herstellung eines solchen Films können Stannan (SnH.) und N2
oder NH.~ als Ausgangsgase verwendet werden und es können
Filmbildungsverfahren, wie z.B. Plasma-CVD—(Glimmentladungszersetzungs-Verfahren),
HOMOCVD- und Licht-CVD-Verfahren, angewendet werden. Bei einem anderen Verfahren
kann ein organisches Metallgas, wie z.B. Tetramethylζinn
(Sn(CH-J4), verwendet werden und ein Film kann hergestellt
werden unter Anwendung eines solchen Verfahrens, wie MOCVD, Plasma-CVD, HOMOCVD und Licht-CVD. Gemäß einem weiteren
Verfahren kann der erfindungsgemäße Film hergestellt werden unter Anwendung eines Reaktionszerstäubungsverfahrens
unter Verwendung von Sn als Target in einer Ar-N3- oder
NH--H2-Atmosphäre. Ein weiteres Filmbildungsverfahren
ist eine Kombination aus der Vakuumabscheidung von Sn
und der elektrischen Entladung von N2, H2. Diese Filmbildungsverfahren
sind alle dem Fachmann bekannt.
Es sei darauf hingewiesen, daß ein Substrat oder eine Trägerplatte, auf das (die) ein transparenter, elektrisch
leitender Film gemäß der vorliegenden Erfindung aufgebracht ist, aus irgendeinem gewünschten Material bestehen
kann und daß es (sie) in der Regel besteht aus Glas oder einem Polymeren. Darüber hinaus kann zur Kontrolle bzw.
Regelung der elektrischen Leitfähigkeit des erfindungsgemäßen transparenten, elektrisch leitenden Films ein
Zusatz, wie z.B. B und P, gewünschtenfalls in einer geeigneten
Menge zugegeben werden.
Es ist klar, daß der erfindungsgemäße transparente und
elektrisch leitende Film stark reduzierend ist im Vergleich zu den bekannten Filmen und daß somit selbst dann,
wenn er in einem Plasma (insbesondere in dem Glimmentladungszersetzungsverfahren,
in dem SiH, und H? verwendet
werden, oder in dem Reaktionszerstäubungsverfahren in H2)
verwendet wird, an der Grenzfläche (Übergangsfläche) kein H2O gebildet wird, wodurch sichergestellt wird, daß
eine ausgezeichnete Haftfestigkeit erhalten wird. Noch wichtiger ist, daß der resultierende Film keinen Sauerstoff
enthält, so daß an der Grenzfläche (Übergangsfläche) keine unerwünschte chemische Bindung und keine
Diffusion auftreten, wodurch eine Beeinträchtigung (Verschlechterung) der Eigenschaften verhindert werden kann.
Bei der Verwendung als transparente Elektrode in einer optischen Einrichtung, in der a-Si-Material verwendet
wird, kann er zur Verbesserung der Qualität der Einrichtung und der Ausbeute bei der Herstellung beitragen.
Wie vorstehend angegeben, handelt es sich bei dem Gegenstand der vorliegenden Erfindung im Prinzip um einen
transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn,
Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S, enthält.
Nachstehend wird die Erfindung an Hand verschiedener spezifischer optischer Einrichtungen, auf die das Prinzip
der vorliegenden Erfindung angewendet wird, näher beschrieben.
Die Fig. 1 zeigt einen optischen Bildsensor vom photoelektrischen Typ, der gemäß einer Ausführungsform der Erfindung
aufgebaut ist. Wie dargestellt, umfaßt der Sensor ein Glassubstrat 1, einen transparenten und elektrisch leitenden
Film 2, der auf die obere Oberfläche des Substrats 1 aufgebracht ist, und eine auf den Film 2 in dem gewünschten
Muster aufgebrachte photoleitfähige Schicht 3. Eine Rückseitenelektrode 4 ist auf den Film 2 aufgebracht und
eine weitere Rückseitenelektrode 4 ist auch auf den photoleitfähigen Film 3 aufgebracht. Die gesamte Struktur
wird von einem Bleirahmen 5 getragen. Bei der dargestellten Ausführungsform muß der Elektrodenfilm 2 transparent
sein, da Licht vom Boden her auftrifft, wie durch den Pfeil dargestellt.
Die Fig. 2 zeigt ebenfalls einen optischen Bildsensor vom photochemischen Typ mit einer umgekehrten Struktur, verglichen
mit der Struktur gemäß Fig. 1, und demzufolge fällt bei dieser Ausführungsform Licht von oben her ein,
wie dargestellt. Es sei darauf hingewiesen, daß zur Herstellung der photoleitfähigen Schicht 3 a-Si:H, CdS,
CdSe oder dgl. verwendet werden kann.
Bei einem bekannten optischen Bildsensor mit einem solchen Aufbau wird in der Regel ein transparenter Elektrodenfilm
aus einem Metalloxid, wie z.B. ITO, verwendet. Wenn jedoch die photoleitfähige Schicht 3 aus a-Si:H hergestellt
werden soll, wird die Schicht 3 erzeugt durch Zersetzung von SiH.-Gas unter Anwendung des Plasma-CVD-Verfahrens.
In diesem Falle wird der auf der Glasplatte 1 erzeugte transparente Elektrodenfilm 2 der Plasmaatmosphäre ausgesetzt.
Unter diesen Umständen entstehen dann, wenn der
Elektrodenfilm 2 aus einem Metalloxid besteht, in dem
Plasma zahlreiche Wasserstoffradikale und sie reagieren mit
dem in dem Elektrodenfilm vorhandenen Sauerstoff, wodurch eine Abnahme der elektrischen Leitfähigkeit bewirkt wird.
Selbst wenn die photoleitfähige Schicht 3 aus CdS, CdSe oder dgl. hergestellt werden soll, diffundieren Alkaliionen,
wie z.B. Na und K , aus dem Glassubstrat 1 in den Metalloxid-Elektrodenfilm, wodurch die elektrische
Leitfähigkeit des Metalloxid-Elektrodenfilms herabgesetzt wird.
Andererseits besteht gemäß einer Ausführungsform der Erfindung der transparente Elektrodenfilm 2 aus einem reduzierenden
Material, das Licht hindurchläßt und keinen Sauerstoff enthält. Bei einer bevorzugten Ausführungsform enthält der transparente Elektrodenfilm 2 ein erstes
Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S.
Daher kann der erfindungsgemäße transparente Elektrodenfilm 2 die folgenden Zusammensetzungen bzw. Verbindungen
als Grundmaterial enthalten:
SnxCl-x' SnxNl-x' SnxSl-x' PbxCl-x' PbxNl-x'
PbxSl-x' InxCl-x' InxNl-x' InxSl-x
Es sei darauf hingewiesen, daß in jeder der obengenannten Verbindungen der Wert χ größer als 0, jedoch kleiner
als 1 ist. Den obigen Verbindungen wird vorzugsweise Wasserstoff zugesetzt, wodurch Hydride entstehen, wie
z.B.:
PbxNl-x:H' PVWH' PbxSl-x!H'.Inx<WH'
ΙηΛ_χ:Η, und Ιηχ5;ι_χ:Η.
Zur Kontrolle bzw. Steuerung der elektrischen Leitfähigkeit kann ein Element, ausgewählt aus der Gruppe IHa
des Periodischen Systems der Elemente, die umfaßt B, Al, Ga, In und Tl, oder ein Element aus der Gruppe Va
3Λ38437 des Periodischen Systems der Elemente, die umfaßt N, P,
As, Sb und Bi, gewünschtenfalls als Verunreinigung in einer Menge innerhalb des Bereiches zwischen 1 ppm und
2 0 Atom-% zugegeben werden.
5
5
Bei einem solchen transparenten Elektrodenfilm 2 kann
selbst dann, wenn der photoleitfähige Film 3 als ein a-Si:H-Film unter Anwendung des Plasma-CVD-Verfahrens
unter Verwendung von Silangas hergestellt wird, da eine reduzierende Atmosphäre entsteht, die mit den Wasserstoffradikalen
nicht reagiert, eine Verminderung der elektrischen Leitfähigkeit in dem transparenten Elektrodenfilm
minimal gehalten werden. Wichtig ist, daß die aus dem Glassubstrat 1 herauswandernden Alkaliionen ebenfalls
daran gehindert werden, leicht in den Elektrodenfilm 2 zu diffundieren, so daß der Elektrodenfilm 2 eine hohe
elektrische Leitfähigkeit und Haltbarkeit behalten kann. In entsprechender Weise besteht dann, selbst wenn die
photoleitfähige Schicht aus a-Si:H mit dem in der Fig.
gezeigten Aufbau besteht, da der transparente Elektrodenfilm 2 kein Sauerstoff enthält, für den Sauerstoff keine
Möglichkeit, in den photoleitfähigen Film 3 zu diffundieren
unter Beeinträchtigung (Verschlechterung) seiner Eigenschaften.
Wie vorstehend beschrieben, wird gemäß dieser Ausführungsform der Erfindung verhindert, daß die elektrische
Leitfähigkeit des transparenten Elektrodenfilms 2 abnimmt,
beispielsweise durch Einführen von Alkaliionen aus der benachbarten Schicht, so daß der resultierende
transparente Elektrodenfilm 2 eine hohe Haltbarkeit und Stabilität aufweist. Die Folge davon ist, daß selbst dann,
wenn die Einrichtung so gestaltet ist, daß sie eine größere spezifische Oberfläche aufweist, kleine ünregelmäßigkeiten
in bezug auf den Wert der elektrischen Leitfähigkeit auftreten, so daß über die gesamte Oberfläche
einheitliche Eigenschaften erhalten werden können. Daneben
werden die elektrische Leitfähigkeit und die Lichtdurchlässigkeit des transparenten Elektrodenfilms 2 verbessert,
wodurch der Gesamtwirkungsgrad der photoelektrischen Umwandlung als optischer Bildsensor zunehmen kann.
Wie weiter oben angegeben, kann der transparente Elektrodenfilm 2 nach irgendeinem bekannten Filmherstellungsverfahren
hergestellt werden und die bevorzugten Verfahren umfassen das CVD-, Plasma-CVD-, Licht-CVD- und reaktive
Zerstäubungs-Verfahren. Am meisten bevorzugt ist insbesondere das Plasma-CVD-Verfahren. Wenn der transparente
Elektrodenfilm 2 nach dem Plasma-CVD-Verfahren hergestellt wird, wird eine organische Metallverbindung, wie
Ζ·Β· Sn(CH3J4, Sn(C2H5J4, Sn(C3H7J4,
Sn<C4H9)4/ Pb(C2H5J4, PbC4H9J4, In(CH3J3, In(C3H5J3,
In(C3H7)3 and In(C4Hg)3
eingeführt, verdünnt durch ein geeignetes Trägergas, wie z.B. He, Ar, H3 und N3, und gleichzeitig wird ein weiteres
Gas eingeleitet, ausgewählt mindestens aus einem Kohlenstoff enthaltenden Gas, wie z.B. einem Gas der Kohlenwasserstoff
amilie, beispielsweise CH4, C 2 H6' C3H8' C2H4 und
C3H3, einem Stickstoff enthaltenden Gas, wie z.B. N3
und NH3, und einem Schwefel enthaltenden Gas, wie z.B.
H2S* Es sei darauf hingewiesen, daß ein Hydrid in der
Form Sn C :H hier angenommen wird. Der transparente χ ι —χ
Elektrodenfilm 2 wird vorzugsweise in einer Dicke von 50
bis 10 000 S hergestellt.
Die Fig. 3 erläutert ein Plasma-CVD-System zur Durchführung
des Plasma-CVD-Verfahrens zur Herstellung des transparenten
Elektrodenfilms 2. Wie dargestellt, umfaßt das System eine Reaktionskammer 6 und ein Paar einander
gegenüberliegende Elektroden 7, 8, die im Innern der Reaktionskammer 6 angeordnet sind, wobei das Glassubstrat
1 auf der Elektrode 8 aufliegt. Eine in einem Verdampfer enthaltene organische Metallverbindung wird in die Reaktionskammer
6 zusammen mit einem Trägergas aus einem
Gasreservoir 10 und einem Kohlenstoff enthaltenden Gas aus einem anderen Gasreservoir 11 eingeführt. Das System
umfaßt auch Strömungsmesser 12 und einen Druckmesser (Manometer) 13. Zwischen den einander gegenüberliegenden Elektroden
7 und 8 wird eine RF-Spannung von einer RF-Spannungsquelle 14 so angelegt, daß zwischen den Elektroden 7
und 8 eine Glimmentladung auftritt unter Erzeugung eines Plasmas dazwischen, in dem das aus dem Verdampfer 9 eingeführte
Ausgangsmaterialgas zersetzt wird, wodurch sich auf dem Glassubstrat 1 ein transparenter Elektrodenfilm 2
bildet. Während dieses Verfahrens wird die Reaktionskammer 6 durch eine Vakuumpumpe evakuiert und bei einem vorgegebenen
negativen Druck gehalten.
Der auf diese Weise erzeugte optische Bildsensor kann in verschiedenen Einrichtungen verwendet werden, beispielsweise
in Faksimile-Vorrichtungen, OCR, Kameras, Fernsehempfängern,
Rotationskodierern und Robotern.
in der Fig. 4 ist ein elektrophotographisches lichtempfindliches
Element mit einem Aufbau gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dargestellt. Das dargestellte
lichtempfindliche Element umfaßt einen transparenten Träger 16 aus einem Polyesterfilm, einen transparenten,
elektrisch leitenden Film 17 auf dem Träger 16 und eine photoleitfähige Schicht (PVK/TNF) 18 auf dem Film 17.
Auch bei dieser Ausführungsform ist der transparente,
elektrisch leitende Film 17 als reduktiver Film ausgebildet, der keinen Sauerstoff enthält, ähnlich wie der
transparente; elektrisch leitende Film 2 der oben beschriebenen
Ausführungsform.
Dieser Typ eines lichtempfindlichen Elements hat, da das
Licht für die Bildbelichtung und die Entfernung der restliehen Ladung von der Seite her einfällt, wo der transparente
Träger 16 vorgesehen ist, gute Reinigungseigenschaften und eine gute Haltbarkeit. Ein lichtempfindliches
Element für die Verwendung in einem elektrophotographisehen
Verfahren muß eine signifikant große spezifische Oberfläche und einheitliche Eigenschaften über die gesamte Oberfläche
haben. Bei Verwendung eines bekannten transparenten, elektrisch leitenden Films aus Metalloxid ist es, da er
chemisch instabil ist und dazu neigt, daß seine elektrische Leitfähigkeit abnimmt (beeinträchtigt wird), wodurch die elektrischen Leitfähigkeitseigenschaften über die gesamte Oberfläche ungleichmäßig werden, schwierig, ein
chemisch instabil ist und dazu neigt, daß seine elektrische Leitfähigkeit abnimmt (beeinträchtigt wird), wodurch die elektrischen Leitfähigkeitseigenschaften über die gesamte Oberfläche ungleichmäßig werden, schwierig, ein
lichtempfindliches Element mit einer größeren Oberfläche
herzustellen, das über die gesamte Oberfläche einheitliche Eigenschaften aufweist. Andererseits besteht bei der
erfindungsgemäßen Ausführungsform mit dem transparenten,
elektrisch leitenden Film 17, der beispielsweise aus
Sn N1- :H besteht, nicht die Möglichkeit, daß eine Beeinträchtigung
(Verschlechterung) der elektrischen Leitfähigkeit auftritt, und daher können einheitliche Eigenschaften
über die gesamte Oberfläche erzielt werden.
Wenn das photoleitfähige Element in Form eines Bandes
(Streifens) hergestellt wird, wirkt während der Herstellung eine signifikante mechanische Spannung darauf ein.
Da jedoch das erfindungsgemäße lichtempfindliche Element eine weit höhere Beständigkeit gegen Spannungen als ein
Da jedoch das erfindungsgemäße lichtempfindliche Element eine weit höhere Beständigkeit gegen Spannungen als ein
bekannter transparenter elektrisch leitender Film aus
Metalloxid besitzt, weist diese erfindungsgemäße Ausführungsform
eine erhöhte Haltbarkeit auf.
Die photoleitfähige Schicht 18 kann aus Kupferphthalocyanin,
Pyrylium oder amorphem Si hergestellt werden. Wenn a-Si zur Herstellung der Schicht 18 verwendet wird,
diffundiert dann, wenn ein transparenter, elektrisch
leitender Film auf die Schicht 18 aus einem Metalloxid
aufgebracht wird, der in dem elektrisch leitenden Film
enthaltene Sauerstoff in die photoleitfähige Schicht 18, wodurch die Photoleitfähigkeitseigenschaften beeinträchtigt (verschlechtert) werden. Andererseits tritt bei der Ausführungsform der Erfindung, da der transparente,
diffundiert dann, wenn ein transparenter, elektrisch
leitender Film auf die Schicht 18 aus einem Metalloxid
aufgebracht wird, der in dem elektrisch leitenden Film
enthaltene Sauerstoff in die photoleitfähige Schicht 18, wodurch die Photoleitfähigkeitseigenschaften beeinträchtigt (verschlechtert) werden. Andererseits tritt bei der Ausführungsform der Erfindung, da der transparente,
elektrisch leitende Film 17 keinen Sauerstoff enthält, keine Diffusion des Sauerstoffs in die photoleitfähige
Schicht 18 auf, so daß keine Verschlechterung (Beeinträchtigung) der Photoleitfähigkeitseigenschaften als Folge der
° Diffusion des Sauerstoffs auftritt.
Die Fig. 5 zeigt eine modifizierte Struktur, bei der eine
Schutzschicht 19 auf die photoleitfähige Schicht 18 aufgebracht ist.
10
10
Das dargestellte lichtempfindliche Element kann mit Vorteil
in Kopierern, Laserprintern, LED-Printern, Flüssigkristall-Printern und elektrophotographischen Anzeigeeinrichtungen
verwendet werden.
15
15
In der Fig. 6 ist eine weitere Ausführungsform der Erfindung bei Anwendung auf eine Solarzelle dargestellt. Die in
Fig. 6 dargestellte spezifische Struktur ist eine a-Si-Solarzelle und sie umfaßt ein Glassubstrat 20, eine auf das
Substrat 20 aufgebrachte transparente Elektrode 21, eine auf die Elektrode 21 aufgebrachte a-Si:H-Schicht 22 vom
P-Typ, eine auf die Schicht 22 aufgebrachte a-Si:H-Schicht 2 3 vom i-Typ, eine auf die Schicht 23 aufgebrachte a-Si:H-Schicht
24 vom N-Typ und eine auf die Schicht 24 aufge-
2^ brachte Al-Elektrode 25. Diese Struktur ist dadurch charakterisiert,
daß sie die transparente, elektrisch leitende Elektrodenschicht 21 aufweist, die in bezug auf ihre
Zusammensetzung und ihr Herstellungsverfahren dem transparenten, elektrisch leitenden Film 2 der weiter oben be-
^O schriebenen Ausführungsform ähnelt. Der Elektrodenfilm 21
ist somit ausgebildet als reduktiver, transparenter und elektrisch leitender Film.
Infolgedessen ist die Ausführungsform der Erfindung mit der
transparenten Elektrode 21 einem typischen bekannten transparenten, elektrisch leitenden Film aus Metalloxid,
in dem ITO zur Herstellung eines transparenten Elektrodenfilms verwendet wird, überlegen nicht nur in bezug auf
den Wirkungsgrad der photoelektrischen Umwandlung, sondern auch in bezug auf die Haltbarkeit. Nach der Herstellung
einer Solarzelle mit dem in der Fig. 6 dargestellten Aufbau wurde die Grenzfläche zwischen der transparenten Elektrode
21 und der a-Si-Schicht 22 unter Anwendung des Auger-Elektronenspektroskopie-Verfahrens
untersucht und es wurde ein Anzeichen einer sehr geringen Diffusion der Grundelemente, wie z.B. Sn, Pb und In, welche die transparente
Elektrode 21 bilden, in die a-Si-Schicht 22-24 gefunden. Darüber hinaus wurde gefunden, daß die Spur einer
Diffusion von Alkaliionen, wie z.B. Na , aus dem Glassubstrat 20 in die transparente Elektrode 21 sehr gering ist,
so daß praktisch keine Beeinträchtigung (Verschlechterung) der elektrischen Leitfähigkeit in der Elektrode 21
auftritt.
Es sei darauf hingewiesen, daß die Erfindung zwar vorstehend unter Bezugnahme auf eine a-Si-Solarzelle beschrieben
worden ist, daß sie jedoch keineswegs darauf beschränkt ist, sondern auch auf andere Typen von Solarzellen
anwendbar ist. Die Solarzelle mit dem erfindungsgemäßen Aufbau kann mit Vorteil in photoelektrischen Umwandlungseinrichtungen
sowie in optischen Kommunikationseinrichtungen verwendet werden.
In den Fig. 7 und 8 sind Plasmaanzeigeeinrichtungen mit einem Aufbau gemäß weiteren Ausführungsformen der Erfindung
dargestellt. Die Fig. 7 erläutert eine Plasmaanzeigeeinrichtung vom Gleichstrom-Typ und die Fig. 8 erläutert
eine Plasmaanzeigeeinrichtung vom Wechselstrom-Typ.
Wie in der Fig. 7 dargestellt, umfaßt die Plasmaanzeigeeinrichtung
vom Gleichstrom-Typ eine Rückseiten-Glasplatte 26, die mit Abtastrillen 27 auf einer Oberfläche ausgestattet
ist, die einen Abstand voneinander haben und sich in einer vorgegebenen Richtung erstrecken, und längliche Abtastanoden
28, die so angeordnet sind, daß sie auf dem
Boden der jeweiligen Abtastrillen 27 ruhen. Die Anzeigeeinrichtung
umfaßt auch ein Frontglas 29, das seinerseits einen transparenten, elektrisch leitenden Film 30 als
Anzeigeanode umfaßt, der eine einzelne Anzeigezelle 31 definiert.Die Einrichtung umfaßt auch eine Zellplatte 33
aus einer lichtempfindlichen Glasplatte einer Dicke von etwa 1 mm, die durch Ätzen mit einer Vielzahl von elektrischen
Entladungslöchern 32 versehen worden ist, und Kathoden 34, die sich senkrecht zu den Anoden 28 erstrecken,
sandwichartig eingeschlossen zwischen den Platten 26 und 33. Um den Umfang herum ist ein Versiegelungsmaterial 35
aus beispielsweise einem Material mit niedrigem Schmelzpunkt, wie Pyroceram, vorgesehen zur Versiegelung bzw.
Abdichtung der gesamten Struktur.
Die Fig. 8 erläutert eine Plasmaanzeigeeinheit vom Wechselstromtyp
mit einem Aufbau gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung, die umfaßt eine Frontglasplatte
36, einen transparenten, elektrisch leitenden Film 37, ausgebildet als eine Elektrode auf der Platte 36, und
eine dielektrische Schicht 38 auf dem Elektrodenfilm 37. Die Einheit umfaßt auch eine hintere Glasplatte 39, Elektroden
40 auf der Platte 39 und eine dielektrische Deckschicht 41 auf den Elektroden 40 und der Platte 39. Die
Platten 36 und 39 sind einander gegenüberliegend angeordnet mit einem Abstandhalter 42, der sandwichartig
zwischen den dielektrischen Schichten 38 und 41 angeordnet ist, und unter diesen Bedingungen wird ein Versiegelungs-
bzw. Abdichtungsmaterial 43, wie z.B. Glaspulver, aufgebracht, um den definierten Zwischenraum zwischen den
einander gegenüberliegend angeordneten Plattenverbindstrukturen abzudichten bzw. zu versiegeln. Danach wird
das gewünschte Gas 44 in den so definierten Zwischenraum eingeblasen. Gewünschtenfalls kann eine Schutzschicht
auf eine oder beide dielektrischen Schichten 38 und 41 aufgebracht werden. Bei der erläuterten Ausführungsform
beträgt der Zwischenraum zwischen den Glasplatten 36 und 39 etwa 100 μΐη und das Gas, beispielsweise Ne oder Ne +
Xe, wird unter einem Druck von etwa 300 Torr eingeblasen.
Bei dieser Struktur ist dann, wenn von außen eine Spannung angelegt wird, die angelegte Spannung gleichmäßig
über die dielektrischen Schichten 38, 41 und den Zwischenraum
für die elektrische Entladung verteilt. Da an diese Struktur eine Wechselspannung angelegt wird,
tritt in dem Zwischenraum intermittierend eine elektrische Entladung auf, so daß entsprechend damit intermittierend
Licht emittiert wird.
Erfindungsgemäß bestehen der transparente Elektrodenfilm
30 im Falle der in Fig. 7 dargestellten Einheit vom Gleichstrom-Typ und der transparente Elektrodenfilm 3 7
im Falle der in Fig. 8 dargestellten Einheit vom Wechselstrom-Typ aus einem reduktiven, transparenten und elektrisch
leitenden Film, der keinen Sauerstoff enthält, ähnlich wie der transparente Elektrodenfilm 2 der weiter
oben beschriebenen Ausführungsform.
Dementsprechend werden bei der in Fig. 7 dargestellten Einheit vom Gleichstrom-Typ, da der transparente Elektrodenfilm
30 den elektrischen Entladungslöchern 32 ausgesetzt wird, wenn er aus einem bekannten transparenten
Elektrodenfilm, beispielsweise SnO2,besteht, seine Eigenschaften
beeinträchtigt (verschlechtert) als Folge der von einem Plasma ausgeübten Effekte. Eine solche Beeinträchtigung
(Verschlechterung) kann jedoch dadurch verhindert werden, daß man den Film 30 entsprechend den Lehren
der vorliegenden Erfindung aufbaut. Bei einem Aufbau gemäß den Lehren der vorliegenden Erfindung tritt außerdem
keine Diffusion von Alkaliionen aus dem Glassubstrat in den Elektrodenfilm auf, der Elektrodenfilm kann seine
hohe elektrische Leitfähigkeit behalten. Da die elektrisehe Leitfähigkeit und die Lichtdurchlässigkeit des Elektrodenfilms
30 erhöht werden kann, kann auch der Lichtemissionswirkungsgrad als Anzeigeeinheit verbessert werden.
Diese Argumente gelten auch für die in Fig. 8 darge-
stellte Anzeigeeinheit vom Wechselstrom-Typ.
Die dargestellten Plasma-AnZeigeeinheiten können auf
Fernsehempfänger, Meßeinrichtungen, Anzeigetafeln, POS-Terminals, Fahrzeugträgeranzeigeeinrichtungen, Luftraumkontrolleinrichtungen,
Radars und Werkzeugmaschinen angewendet werden.
In der Fig. 9 ist eine elektrophoretische Anzeigeeinheit dargestellt, die gemäß einer weiteren Ausführungsform der
Erfindung aufgebaut ist. Die in Fig. 9 dargestellte Struktur bezieht sich auf eine elektrophoretische Anzeigeeinheit,
in der einzelne Teilchen verwendet werden. Die dargestellte Anzeigeeinheit umfaßt eine Glasplatte 45, auf
der sich ein transparenter Elektrodenfilm 46 befindet, und ein Substrat 47, auf dem sich eine Vielzahl von Elektroden
48a und 48b, beispielsweise aus Al, befinden, die einander gegenüberliegend angeordnet sind mit einem Abstandhalter
4 9 dazwischen, der sandwichartig dazwischen eingesiegelt ist. Der so definierte versiegelte Zwischenraum
ist beispielsweise mit einem schwarzen organischen dielektrischen Medium 50 zusammen mit weißen elektrophoretischen
Teilchen 51, beispielsweise TiO„- und ZnO-Teilchen,
gefüllt. Bei diesem Aufbau wird eine Spannung zwischen dem transparenten Elektrodenfilm 4 6 und den
Elektroden 48a oder 48b so angelegt, daß die elektrophoretischen Teilchen 51 entweder von dem transparenten Elektrodenfilm
46 oder von den Elektroden 48a und/oder 48b, je nach Richtung des dazwischen erzeugten elektrischen
Feldes, angezogen werden. Bei der dargestellten Ausführungsform werden die weiß gefärbten elektrophoretischen Teilchen
51 teilweise von den Elektroden 48a und teilweise von dem transparenten Elektrodenfilm 46 angezogen, so daß
bei der Betrachtung von oben her die linke Hälfte eine schwarze Farbe anzeigt und die rechte Hälfte eine weiße
Farbe anzeigt.
Außerdem besteht bei der erfindungsgemäßen Ausführungsform
2?
der transparente Elektrodenfilm 46 aus einem reduktiven,
transparenten und elektrisch leitenden Film ohne Sauerstoffgehalt, der in bezug auf die Zusammensetzung sowie
in bezug auf die Herstellung dem transparenten Elektrodenfilm 2 der weiter oben beschriebenen Ausführungsform
ähnelt. Es sei darauf hingewiesen, daß, obgleich die in der vorstehend beschriebenen Ausführungsform verwendeten
Teilchen der gleichen Art sind, sie zwei oder mehr verschiedene Arten von Teilchen umfassen können. Die
dargestellte elektrophoretische Anzeigeeinheit kann in photoelektrischen Umwandlungseinrichtungen und optischen
Kommunikationseinrichtungen verwendet werden.
Nachstehend wird unter Bezugnahme auf die Fig. 10 und 11
ein InformationsaufZeichnungselement beschrieben, das einen Aufbau gemäß einer weiteren Ausführungsform der
Erfindung hat.
Wie in der Fig. 10 dargestellt, umfaßt das erfindungsgemäße
Aufzeichnungselement ein Glassubstrat 52, einen
transparenten Elektrodenfilm 53, eine photoleitfähige Schicht 54 und eine thermoplastische Harzschicht 55,
die in der genannten Reihenfolge aufeinander aufgebracht sind. Die photoleitfähige Schicht 54 besteht vorzugsweise
aus einem Material, wie z.B. einem Polyvinylcarbazol/-Trinitrofluorenon-Komplex,
Kupferphthalocyanin, amorphem Siliciumhydrid, Selen/Tellur und Arsen/Selen. Andererseits
besteht die thermoplastische Harzschicht 55 vorzugsweise aus einem Material, wie Polyethylen, Polypropylen,
Polystyrol und Polyvinylchlorid.
Die Fig. 11a bis 11d erläutern eine Folge von Stufen zur Durchführung der Aufzeichnung unter Verwendung eines
solchen InformationsaufZeichnungselements. Zuerst wird, wie in Fig. 11a dargestellt, unter Verwendung einer
Coronaaufladungseinheit 56 die Oberfläche der thermoplastischen Harzschicht 55 in einer vorgegebenen Polarität
gleichmäßig aufgeladen. Dann läßt man Licht mit der
3A38A37 gewünschten Bildinformation von einer Seite auf das Aufzeichnungselement
auftreffen. In der in Fig. 11b dargestellten Stufe erfolgt die Bildbelichtung von der Seite her,
auf der die thermoplastische Harzschicht 55 vorgesehen ist. Dann wird die Oberfläche der thermoplastischen Harzschicht
55, wie in Fig. 11c dargestellt, erneut aufgeladen. Schließlich wird, wie in Fig. 11d dargestellt, ein Strom
durch den transparenten Elektrodenfilm 53 geschickt, um das Aufzeichnungselement zu erhitzen, so daß diejenigen
Teile der thermoplastischen Harzschicht 55, die eine höhere Ladungsdichte aufweisen, als Folge der stärkeren Coulomb-Kräfte
dünner werden, wodurch ein Frostbild entsteht. Das auf diese Weise erzeugte Frostbild kann unter Verwendung
eines optischen Schlieren-Systems reproduziert werden.
Wenn das einmal erzeugte Frostbild gelöscht werden soll, braucht nur das Aufzeichnungselement auf eine Temperatur
etwas höher als die für die Entwicklung angewendete Temperatur erhitzt zu werden. Wenn es auf diese Weise erhitzt
wird, verschwindet das Ladungsbild und die thermoplastische Harzschicht 55 wird wieder flach (eben), hauptsächlich
aufgrund der Oberflächenspannung. Es ist leicht verständlich, daß der transparente Elektrodenfilm 53 dieser Ausführungsform
der Erfindung gebildet wird durch einen reduktiven, transparenten und elektrisch leitenden Film ohne
Sauerstoffgehalt, der in bezug auf seine Zusammensetzung
und das Herstellungsverfahren dem transparenten Elektrodenfilm 2 der weiter oben beschriebenen Ausführungsform
ähnelt.
Das erfindungsgemäße Aufzeichnungselement kann in holographischen
Speichern und Mikrophotographien mit Vorteil verwendet werden.
In der Fig. 12 ist ein optischer Modulator dargestellt, der einen Aufbau gemäß einer weiteren Ausführungsform der
Erfindung hat. Der in Fig. 12 dargestellte optische Modulator hat den Aufbau eines optischen Modulators vom
Pockels-Typ und er umfaßt einen elektrooptischen Kristall
57, dessen Brechungsindex sich durch Anlegen eines elektrischen Feldes ändert. Ein solches Material umfaßt
einen Kristall vom ferroelektrischen Perovskit-Typ, wie z.B. LiNbO3 und LiTaO3, KDP, ADP oder KD2PO4(DKDP).
Auf beiden Oberflächen des elektrooOtischen Kristalls 57
sind transparente Elektrodenfilme 58, 59 vorgesehen, die mit einer Antriebsquelle 60 elektrisch verbunden sind.
Vor und hinter dem elektrooptischen Kristall 57 sind ein Input-Polarisator 61 und ein Output-Polarisator 62 angeordnet.
Der Kristall 57 und die Polarisatoren 61 und 62 sind so angeordnet, daß ihre Ebenen parallel zueinander
ausgerichtet sind. Der Input-Polarisator 61 ist so ausgerichtet,
daß seine Polarisationsachse um 4 5° gedreht ist gegenüber der Hauptkristallachse X des elektrooptischen
Kristalls 57und in entsprechender Weise ist der Output-Polarisator 62 so orientiert, daß seine Polarisationsachse
um -4 5° gedreht ist gegenüber der Hauptachse X.
Hier wird die Achse, die senkrecht zur Hauptachse X angeodnet ist und eine Ebene parallel zur Ebene des Kristalls
57 definiert, als Achse Y bezeichnet und die andere Achse, die senkrecht zu beiden Achsen X und Y ist, wird als
Achse Z bezeichnet und eine so definierte rechteckige Koordinate ist wie in der Fig. 12 dargestellt orientiert.
Unter diesen Bedingungen ist nun zu prüfen, was passiert, wenn Licht in der Z-Richtung einfällt. Wenn kein elektrisches
Feld an den Kristall 57 angelegt ist, wird kein Licht hindurchgelassen, da die Polarisationsachsen der
beiden Polarisatoren 61 und 62 senkrecht zueinander verlaufen. Wenn dagegen eine Spannung zwischen den transparenten
Elektrodenfilmen 58 und 59 angelegt wird, ändern sich die Brechungsindices n.. und n2 des elektrooptischen
Kristalls 57 in den X- und Y-Richtungen, wodurch eine Phasendifferenz ρ = (2ΐΓ/λ ) . (n1 - ^2). 1 entsteht, worin
1 die Dicke des Kristalls 57 angibt. Das durch den Kristall 57 auf diese Weise transmittierte Licht weist eine
elliptische Polarisation auf und das Licht, das den Out-
put-Polarisator 62 passiert hat, hat eine Intensität I =
I . sin (P/2), worin IQ die Lichtintensität des einfallenden
Lichtes ist. Auf diese Weise tritt eine Lichtmodulation auf.
Bei der erfindungsgemäßen Ausführungsform bestehen die
transparenten Elektrodenfilme 58 und 59 aus einem reduktiven, transparenten und elektrisch leitenden Film, der in
seiner Zusammensetzung und im Herstellungsverfahren dem transparenten Elektrodenfilm 2 der weiter oben beschriebenen
Ausführungsform ähnelt. Der dargestellte optische Modulator kann mit Vorteil in optischen Schaltern, optischen
Verschlüssen und Anzeigeelementen verwendet werden.
In den Fig. 13 und 14 ist ein Dünnfilmtransistor (TFT)
dargestellt, der unter Anwendung des Pinzips der vorliegenden Erfindung hergestellt wurde. Bei der Herstellung der
in den Fig. 13 und 14 gezeigten Struktur wird zuerst ein Substrat 63 aus Glas oder dgl. hergestellt und ein transparenter
Elektrodenfilm 64 wird darauf aufgebracht, der dann durch Ätzen in das gewünschte Muster gebracht wird.
Dann wird auf das Substrat 63 eine Gate-Elektrode 65 aus Cr (oder Al) unter Anwendung bekannter Abscheidungsund
Ätzverfahren aufgebracht. Dann wird unter Anwendung des Plasma-CVD-Verfahrens ein isolierender Film 66 aus
S1-.N. oder SiO2 gebildet. Danach wird eine Halbleiterschicht
67 aus a-Si:H auf die isolierende Schicht 66 aufgebracht und die Halbleiterschicht 67 wird teilweise
weggeätzt, so daß eine in geeigneter Weise gemusterte Halbleiterschicht 6 7 zurückbleibt. Schließlich werden
unter Anwendung geeigneter Abscheidungs- und Ätzverfahren Quellen- und Ablauf-Elektroden 68 und 69 jeweils aus
Al (oder Cr) gebildet. Ein solcher Dünnfilmtransistor
kann mit Vorteil beispielsweise in einer Flüssigkristall-Anzeigetafel verwendet werden. Zu diesem Zweck ist der
transparente Elektrodenfilm 64 mit der Ablaufelektrode 6 9
verbunden. Wie ohne weiteres ersichtlich, besteht der transparente Elektrodenfilm 64 aus einem reduktiven,
transparenten und elektrisch leitenden Film ohne Sauerstoffgehalt,
der in bezug auf seine Zusammensetzung und sein Herstellungsverfahren dem transparenten Elektrodenfilm
2 der weiter oben beschriebenen Ausführungsform ähnelt.
Gemäß dem Stand der Technik wird ein TFT, da in ihm ein transparenter Elektrodenfilm aus Metalloxid verwendet wird,
während der Bildung eines Halbleiterfilm aus einem a-Si:H einer reduzierenden Atmosphäre ausgesetzt, so daß die
Neigung besteht, daß die elektrische Leitfähigkeit des Elektrodenfilms abnimmt und seine elektrischen Eigenschaften
beeinträchtigt (schlechter) werden. Daneben besteht bei einem solchen bekannten Elektrodenfilm die Neigung,
daß er chemisch instabil ist und nicht gleichförmig ist, so daß eine größere Streuung auftritt, wenn die Dichte
des TFT zunimmt. Darüber hinaus tritt auch eine Abnahme der elektrischen Leitfähigkeit auf, die aus der Diffusion
der Alkaliionen aus dem Glassubstrat 6 3 resultiert.
Es trifft zu, daß die Eigenschaften eines Dünnfilmtransistors
hauptsächlich bestimmt werden durch die Dicken, die Materialien und die geometrischen Parameter der isolierenden
Schicht 66 und der a-Si:H-Schicht (Halbleiterschicht 67). Daher bieten die erfindungsgemäßen TFT-Einrichtungen,
verglichen mit dem Stand der Technik, wenn man annimmt, daß die Einrichtungen praktisch nach
den gleichen Herstellungsverfahren hergestellt worden sind, die folgenden Vorteile: an erster Stelle ist erfindungsgemäß
das Verhältnis von Ablaufstrom I« zur
Gate-Spannung V0 an/aus höher. Es tritt eine sehr geringe
Differenz in den Betriebseigenschaften zwischen den Elementen auf und somit können einheitliche Betriebseigenschaften
erzielt werden, selbst wenn die Herstellung bei hoher Integration erfolgt. Außerdem werden
die Betriebseigenschaften durch Alterung nicht nachteilig
beeinflußt und er weist somit eine hohe Haltbarkeit auf. Der dargestellte Dünnfilmtransistor kann mit Vorteil
in einer Flüssigkristall-Tafel oder in einem Bildsensor
verwendet werden.
In der Fig. 15 ist ein thermoelektrisches Umwandlungselement
dargestellt, das gemäß einer Ausführungsform der Erfindung aufgebaut ist. Die Fig. 15 zeigt eine Struktur
eines thermoelektrischen Umwandlungselements, das versehen ist mit einem transparenten f Wärme erzeugenden Element
und das umfaßt ein transparentes Substrat 70 aus Glas oder dgl., eine tränsparente/Wärme erzeugende Schicht
71, die auf das Substrat 70 aufgebracht ist, und eine transparente Schutzschicht 72. Die transparente Schutzschicht
72 kann hier vorzugsweise aus einem anorganischen Material, beispielsweise SiO- und TiO-, oder einem wärme-
IQ beständigen hochpolymeren Material, wie z.B. Polyimid,
Polyimidamid und Polydiphenyläther, bestehen, sie kann
aber auch aus einem Harz der Polyesterfamilie bestehen, wenn die angewendete Temperatur nicht so hoch ist.
Wenn bei dieser Struktur ein Strom durch die transparente,
Wärme erzeugende Schicht 71, verbunden mit einer elektrischen Stromquelle, geschickt wird, wird durch Joul'sche
Erwärmung Wärme erzeugt. Durch Kontrolle bzw. Steuerung des hindurchgeschickten Stroms kann sie als Wärmequelle
verwendet werden, welche die gewünschte Wärmemenge liefert. Hier besteht die transparente Wärme erzeugende
Schicht 71 vorzugsweise aus einem reduktiven, transparenten und elektrisch leitenden Film, der in bezug auf seine
Zusammensetzung und das Herstellungsverfahren dem transparenten Elektrodenfilm 2 der weiter oben beschriebenen
Ausführungsform ähnelt. Bei einem typischen bekannten Wärme erzeugenden Element, das transparentes Metalloxid
enthält, nimmt die elektrische Leitfähigkeit allmählich ab und der thermoelektrische Umwandlungsgrad nimmt
ebenfalls allmählich ab, hauptsächlich als Folge der Diffusion von Alkaliionen. Insbesondere werden als Folge
von lokalen Unregelmäßigkeiten der elektrischen Leitfähigkeit
die thermoelektrischen Umwandlungseigenschaften deut-
33"
lieh uneinheitlich, wenn es so geformt wird, daß es eine
größere Oberfläche hat. Andererseits sind erfindungsgemäß die thermoelektrisehen Umwandlungseigenschaften
stabil und man erhält eine ausgezeichnete Wahrnehmbarkeit,
da die transparente Wärme erzeugende Schicht 71 in bezug auf ihre elektrische Leitfähigkeit und ihre Lichtdurchlässigkeit
für einen längeren Zeitraum stabil ist. Darüber hinaus kann eine Gleichmäßigkeit der Eigenschaften auch
dann gewährleistet werden, wenn es so hergestellt wird, daß es eine größere Oberfläche hat.
Das dargestellte thermoelektrische Umwandlungselement kann mit Vorteil als Spiegel und Linsen in verschiedenen
Typen von Büroautomationseinrichtungen zur Verhinderung der Bildung von Nebel oder Beschläge auf der Oberfläche, als
Kühlschrankgehäuse zur Verhinderung der Bildung von Nebel oder Beschlägen auf der Oberfläche, als Kühlschrankgehäuse
zur Verhinderung der Bildung von Beschlägen darauf und als Entfroster für Automobile verwendet werden.
Wenn die erfindungsgemäße Struktur auf die Oberfläche eines
Spiegels oder einer Linse angewendet werden soll, kann ein solcher Spiegel oder eine solche Linse als ein Substrat
verwendet werden und die transparente, Wärme erzeugende Schicht 71 kann direkt darauf aufgebracht werden.
In den Fig. 16 und 17 ist eine Informationsinputeinrichtung
vom Tafel-Typ dargestellt, die einen Aufbau gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung hat.
Die Fig. 16 zeigt in schematischer Darstellung das Nachweisprinzip
der erfindungsgemäßen Informationsinputeinrichtung vom elektromagnetischen Induktionstyp. Angenommen,
eine Anzeigefeder, die an ihrer Spitze mit einem Permanentmagneten oder Elektromagneten versehen ist
und darin eingearbeitet ist, befindet sich mit ihrer Spitze in einer Position B. Während Stromimpulse den
Antriebsspulen D- bis D-, nacheinander zugeführt werden,
werden die Schalter SW. bis SW3, die mit jeweiligen
Meßspulen S- bis S- verbunden sind, für eine kurze Zeitspanne
ebenfalls nacheinader geschlossen. Die zeitliche Abstimmung des Betriebs jedes der Schalter ist so, daß
der Schalter SW1 geschlossen gehalten wird, bis ein Stromimpuls
auf jede der Antriebsspulen D1 bis D- aufgegeben
worden ist, und die Schalter SW2 und SW3 werden in entsprechender
Weise betätigt und diese Operationsreihenfolge wird wiederholt durchgeführt. Unter den dargestellten
Bedingungen wird somit nur dann, wenn ein Stromimpuls die Antriebsspule D9 bei geschlossenem Schalter SW9
passiert, eine elektromotorische Kraft in der Meßspule S9 durch elektromagnetische Induktion erzeugt, die dann
durch einen Verstärkerstromkreis A verstärkt und auf einen Signalverarbeitungsstromkreis (nicht dargestellt)
übertragen wird, wodurch die Position B als Kreuzungspunkt zwischen der Antriebsspule D9 und der Meßspule S9
bestimmt werden kann.
Die Fig. 17 erläutert eine Hardware-Struktur, welche die
in Fig. 16 dargestellte Meß- bzw. Nachweisfunktion durchführen kann, und sie umfaßt Substrate 73 und 74 aus einem
isolierenden Material, wie z.B. Glas, und transparente Elektrodenfilme 75 und 76, die in dem gewünschten
Muster hergestellt sind, wodurch die Antriebs- und Meßspulen definiert werden. Jede der so defnierten Spulen
hat eine Dichte innerhalb des Bereiches von 0,5 bis 5 Schleifen/mm. Auf den transparenten Elektrodenfilm 75
wird eine transparente Schutzschicht 77 aufgebracht. In der erläuterten Ausführungsform bestehen die transparenten
Elektrodenfilme 75 und 76, welche die jeweiligen Antriebs- und Meßspulen definieren, jeweils aus einem
reduktiven, transparenten und elektrisch leitenden Film, der bezüglich der Zusammensetzung und des Herstellungsverfahrens
dem transparenten Elektrodenfilm 2 der weiter oben beschriebenen Ausführungsform ähnelt.
In einer Vorrichtung gemäß Stand der Technik tritt eine Verschlechterung der elektrischen Leitfähigkeit auf,
da ein transparenter Elektrodenfilm aus Metalloxid verwendet
wird, der dann die Genauigkeit des Nachweises bzw. der Messung der vorgesehenen Position beeinträchtigt.
Darüber hinaus besteht bei der Struktur gemäß Stand der Technik die Gefahr, daß lokale Unregelmäßigkeiten in der
elektrischen Leitfähigkeit auftreten, so daß eine Streuung in der Input-Charakteristik vorliegt, wenn die
Größe der Informationsinputoberflache vergrößert wird.
Da die elektrische Leitfähigkeit höchstens in der Größen-
4
Ordnung von 10 1/Ohm . cm liegt, wird darüber hinaus auch die Meßgenauigkeit beeinträchtigt, wenn die Oberflächengröße vergrößert wird. Andererseits können bei der dargestellten Ausführungsform der Erfindung, da die transparenten Elektroden 75 und 76 stabile Eigenschaften für einen längeren Zeitraum haben und keine Abnahme der elektrischen Leitfähigkeit auftritt, jederzeit eine stabile Positionsmessung und stabile Inputeigenschaften erwartet werden. Wenn die Fläche des Input-Schirmes vergrößert wird, entsteht darüber hinaus praktisch keine Streuung in der Inputcharakteristik. Es sei darauf hingewiesen, daß, obgleich die dargestellte Ausführungsform als Einrichtung vom elektromagnetischen Induktionstyp beschrieben worden ist, die vorliegende Erfindung auch anwendbar ist auf eine Einrichtung vom elektrostatischen Kapazitanz-Typ, bei der eine vorgesehene Position durch Messung des in einen Kondensator fließenden AufladungsStroms, definiert durch die Anzeigefeder und den transparenten Elektrodenfilm bestimmt (gemessen) wird.
Ordnung von 10 1/Ohm . cm liegt, wird darüber hinaus auch die Meßgenauigkeit beeinträchtigt, wenn die Oberflächengröße vergrößert wird. Andererseits können bei der dargestellten Ausführungsform der Erfindung, da die transparenten Elektroden 75 und 76 stabile Eigenschaften für einen längeren Zeitraum haben und keine Abnahme der elektrischen Leitfähigkeit auftritt, jederzeit eine stabile Positionsmessung und stabile Inputeigenschaften erwartet werden. Wenn die Fläche des Input-Schirmes vergrößert wird, entsteht darüber hinaus praktisch keine Streuung in der Inputcharakteristik. Es sei darauf hingewiesen, daß, obgleich die dargestellte Ausführungsform als Einrichtung vom elektromagnetischen Induktionstyp beschrieben worden ist, die vorliegende Erfindung auch anwendbar ist auf eine Einrichtung vom elektrostatischen Kapazitanz-Typ, bei der eine vorgesehene Position durch Messung des in einen Kondensator fließenden AufladungsStroms, definiert durch die Anzeigefeder und den transparenten Elektrodenfilm bestimmt (gemessen) wird.
Da die in der Fig. 17 dargestellte Informationsinputeinrichtung
aus Strukturelementen besteht, die alle Licht hindurchlassen, kann sie in Form einer Einheit vorliegen,
aufgebracht auf eine CRT-Anzeigeeinrichtung, eine Elektrolumineszenz-Anzeigeeinrichtung oder eine
Flüssigkristall-Anzeigeeinrichtung. Die dargestellte Ausführungsform kann daher mit Vorteil angewendet werden
auf Dateninput-Terminals von Computersystemen und Wortverarbeitungssystemen
.
In den Fig. 18 und 19 ist ein photoelektrisches Umwandlungselement
dargestellt, das einen Aufbau gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung hat.
Die Fig. 18 zeigt das Prinzip dieser Ausführungsform und umfaßt auf einem lichtdurchlässigen Substrat 78 aus
Glas oder dgl. Signalelektroden 79 in dem gewünschten Muster, die jeweils ein Bildelement definieren, und eine
photoleitfähige Schicht 80 auf dem Substrat 79 auf ihrer gegenüberliegenden oder hinteren Oberfläche. Die Signalelektorden
79 bestehen hier aus einem transparenten und elektrisch leitenden Material. Die photoleitfähige Schicht
80 besteht vorzugsweise aus einem Material, wie z.B. Sb3S3, PbO, CdS und a-Si:H. Vorgesehen sind auch, wie in
Fig. 18 dargestellt, eine Elektronenpistole 81, eine Ablenkspule 82, ein RegelStromkreis 83, eine Energiequelle
84 und Schalter 85 und 86.
Beim Betrieb werden dann, wenn Licht mit der Bildinformation von der Seite her eingestrahlt wird, auf der das
transparente Substrat 78 vorgesehen ist, während eine Spannung in der Größenordnung von mehreren 10 Volt an die
Signalelektroden79 angelegt wird, wobei der Schalter 86 offen und der Schalter 85 geschlossen sind, in der photoleitfähigen
Schicht 80 in Abhängigkeit von der lokalen Intensität des darauf auftreffenden Lichtes Elektronen-Loch-Paare
erzeugt, so daß sich die Elektronen zu den Signalelektroden 79 bewegen, während die Löcher sich zu
der Rückseite (Elektronenstrahlabtastoberflache) der photoleitfähigen
Schicht 80 bewegen. Als Folge davon reichern sich an der Rückseite der photoleitfähigen Schicht 80
Ladungen an, deren Menge variiert in Abhängigkeit von der Intensität des darauf auftreffenden Lichtes.
Wenn die rückseitige Oberfläche der photoleitfähigen
Schicht 80 dann durch einen von einer Elektronenpistole 81 emittierten Elektronenstrahl abgetastet wird bei geschlossenem
Schalter 85 und geöffnetem Schalter 86 fließt
* der Elektronenstrahl in die photoleitfähige Schicht 80
in Abhängigkeit von der Höhe des Oberflächenpotentials an dieser Abtastoberfläche und dieser Strom kann durch die
entsprechenden Signalelektroden 79 für die Übertragung auf den Kontroll- bzw. RegelStromkreis 83 aufgenommen
werden.
Bei der in Fig. 18 dargestellten Ausführungsform werden die Sginalelektroden 79 aus einem reduktiven, transparenten
und elektrisch leitenden Film hergestellt, der in bezug auf seine Zusammensetzung und das Herstellungsverfahren
dem transparenten Elektrodenfilm 2 der weiter oben beschriebenen Ausführungsform ähnelt. Entsprechend ist
im Vergleich zu einer Struktur gemäß Stand der Technik, in der ein transparenter Elektrodenfilm aus einem Metalloxid
verwendet wird, die dargestellte Ausführungsform der Erfindung chemisch stabiler und da keine Abnahme der
elektrischen Leitfähigkeit auftritt, ungeachtet der Art des Materials, aus dem das Substrat besteht, kann eine
stabile photoelektrische Umwandlungscharakteristik für einen längeren Zeitraum erzielt werden. Außerdem entstehen
keine lokalen Unregelmäßigkeiten in der Charakteristik, selbst wenn die Einrichtung so gestaltet wird,
daß sie eine vergrößerte Oberfläche hat.
In der Fig. 19 ist eine Fernsehkameraeinheit dargestellt,
die aufgebaut ist unter Verwendung eines erfindungsgemäßen photoelektrischen Umwandlungselements. Die Kameraeinheit
umfaßt eine Heizeinrichtung 87, eine Kathode 88, Gitter 89-91, eine Ausrichtungsspule 92, eine Ablenkspule 93
und eine Konvergenzspule 94. Das Prinzip der Arbeitsweise
dieser Einheit ähnelt demjenigen der in Fig. 18 dargestellten
Einheit.
in den Fig. 20 und 21 sind optische Schaltelemente vom
Lichttransmissionstyp dargestellt, die aufgebaut sind gemäß weiteren Ausführungsformen der Erfindung.
mr
Die Fig. 20 zeigt die Grundstruktur und umfaßt, wie dargestellt, transparente Elektrodenfilme 97 und 98, die auf
einem lichtdurchlässigen Substrat 95 aus Glas oder dgl. bzw. einem anderen lichtdurchlässigen Substrat 96, das flexibel
ist, angeordnet sind, die einander gegenüberliegend angeordnet sind mit einem Abstandhalter 99, der sandwichartig
dazwischen eingeschlossen ist. Das Substrat 96 besteht vorzugsweise aus einem Film aus einem Harzmaterial, wie
z.B. Polyethylen und Polyester.
Bei einem so aufgebauten Schaltelement vom Lichttransmissionstyp werden dann, wenn das flexible Substrat 96 beispielsweise
mit einem Finger oder dgl. niedergedrückt wird, die transparenten Elektrodenfilme 97 und 98 miteinander
in Kontakt gebracht, so daß die Terminals T7. und T_ elektrisch
miteinander verbunden werden, so daß auf dem Schalter der"An'-Zustand entsteht. Wenn andererseits der
Finger weggenommen wird, kehrt das flexible Substrat 96 in seine ursprüngliche Position aufgrund seiner eigenen
Flexibilität zurück, so daß die Filme 97 und 98 wieder getrennt voneinander sind, wodurch der Aus*'-Zustand des
Schalters entsteht. Bei der hier dargestellten Ausführungsform besteht jeder der transparenten Elektrodenfilme
97 und 98 vorzugsweise aus einem reduktiven, transparenten und elektrisch leitenden Film, der in bezug auf die Zusammensetzung
und das Herstellungsverfahren dem transparenten Elektrodenfilm der weiter oben beschriebenen Ausführungsform
ähnelt.
Bei einer solchen Struktur ist die Ausführungsform der Erfindung, verglichen mit einer Einrichtung gemäß Stand
der Technik, die einen transparenten Elektrodenfilm aus einem Metalloxid umfaßt, chemisch stabiler und die stabile
Schaltcharakteristik kann für einen längeren Zeitraum erwartet werden, ungeachtet der Art des Substrats und
der Verwendungszustände. Da die transparenten Elektrodenfilme
97 und 98 einen extrem niedrigen Widerstand haben, kann sie darüber hinaus auch für einen Stromkreis mit
einer geringen Endimpedanz ohne Probleme verwendet werden.
Da die transparenten Elektrodenfilme 97 und 98 eine einheitliche (gleichmäßige) elektrische Leitfähigkeit besitzen,
tritt ferner praktisch keine Streuung der Charakteristik zwischen den Elementen auf, so daß sie geeignet ist für die
Anwendung auf Einrichtungen mit vergrößerter Oberfläche und eine ausgezeichnete Produktivität ergibt.
Die Fig. 21 zeigt eine modifizierte Struktur, die aufgebaut
ist als eine Kombination aus dem in Fig. 2 0 dargestellten Schaltelement und einem Elektrolumineszenzelement.
Wie dargestellt, umfaßt die Struktur gemäß Fig. 21 einen transparenten Elektrodenfilm 100, der hinsichtlich der
Zusammensetzung jedem der transparenten Elektrodenfilme 97 und 98 ähnelt. Die dargestellte Struktur umfaßt auch
ein Paar isolierende Filme 101 und 102 und eine Licht emittierende Schicht 103, die sandwichartig zwischen den
isolierenden Schichten 101 und 102 eingeschlossen ist. Die Licht emittierende Schicht 103 enthält ZnS als eine
Hauptkomponente und einen Zusatz, wie z.B. Mn, TbF- und SmF . Vorgesehen ist ferner, wie dargestellt, auch eine
als Reflektor dienende Al-Elektrode 104 und auf der Al-Elektrode
104 ist ein Substrat 105 vorgesehen. Eine Antriebsquelle 106 steht damit in Verbindung, wie dargestellt.
Bei einem solchen Aufbau entsteht dann, wenn das biegsame Substrat 96 beispielsweise mit einem Finger heruntergedrückt
wird, ein geschlossener Stromkreis, so daß Licht von der Licht emittierenden Schicht 103 nach außen
emittiert werden kann. Daher eignet sich das dargestellte optische Schaltelement besonders gut für die Verwendung
als Inputeinrichtung, die über einer Anzeigeeinheit angeodnet ist, oder als eine Operationstafel, die auf verschiedenen
Markierungen aufgebracht ist.
Die Fig. 22 zeigt ein optisches Flüssigkristall-Funktionselement vom Reflexionstyp, das aufgebaut ist gemäß
einer weiteren Ausführungsform der Erfindung. Das dargestellte Element umfaßt ein Paar Glassubstrate 111 und
te
und 112, die an ihren jeweiligen entgegengesetzten Enden mit transparenten Elektrodenfilmen 113 und 114 versehen
sind. Eine versiegelte Kammer wird dadurch erhalten, daß man einen Abstandhalter 115 sandwichartig zwischen die
transparenten Elektrodenfilme 113 und 114 einbringt und ein Flüssigkristall wird in die Kammer eingefüllt, so daß
eine Flüssigkristall-Schicht 116 entsteht. Vorgesehen ist auch eine Antriebsenergiequelle 117, die zwischen den
Elektrodenfilmen 113 und 114 angeordnet und damit verbunden
ist. Ein Paar Polarisatoren 118 und 119 ist vorgesehen,
einer an der äußeren Seite jedes der entsprechenden Glassubstrate 111 und 112. Am Boden ist, wie dargestellt,
eine Reflexionsplatte 120 angeordnet.
Bei dieser Struktur wird unter der Bedingung, daß ein elektrisches Feld an die Flüssigkristallschicht 116 angelegt
wird durch Anlegen einer Spannung zwischen den transparenten Elektrodenfilmen 113 und 114, wenn Referenzlicht durch die
Flüssigkristallschicht 116 von der Seite her einfallen ge-
2^ lassen wird ,an der derPolarisator 118 vorgesehen ist, das
Licht moduliert, während es die Flüssigkristallschicht 116 passiert, wodurch das Licht teilweise gestreut und
teilweise reflektiert wird durch die Reflexionsplatte 120, so daß es den Polarisator 118 erneut nach außen passiert.
Als Flüssigkristall kann ein solcher aus irgendeinem bekannten
Material, beispielsweise aus Flüssigkristallverbindungen vom nematischen Typ, aus Flüssigkristallverbindungen
vom cholesterischen Typ und aus Flüssigkristallverbindungen vom smektischen Typ verwendet werden.
Bei der dargestellten Ausführungsform der Erfindung besteht jeder der transparenten Elektrodenfilme 113 und 114 aus
einem reduktiven, transparenten und elektrisch leitenden Film ohne Sauerstoffgehalt, enthält jedoch ein erstes
Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S,
wie weiter oben in bezug auf die anderen Ausführungsformen erwähnt. Daher können alle Vorteile, die mit den obenge-
nannten anderen Ausführungsformen erzielt werden können,
auch mit dieser Ausführungsform der Erfindung erzielt werden.
Die Fig. 2 3 zeigt ein Licht emittierendes Dünnfilm-Element,
das eine Elektrolumineszenzschicht enthält, das aufgebaut ist gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung.
Wie dargestellt, umfaßt die erfindungsgemäße Ausführungsform ein Glassubstrat 121, eine isolierende Schicht 123,
eine Elektrolumineszenzschicht 124, eine isolierende Schicht 125 und eine Metallelektrode 126 aus Al, die in der
genannten Reihenfolge aufeinander aufgebracht sind. Die isolierenden Schichten 123 und 125 bestehen in der Regel
aus Si3N4 und die Licht emittierende oder Elektrolumineszenzschicht
124 besteht aus a-Si:C:H. Wenn bei diesem Aufbau eine Wechselspannung zwischen den Elektroden 122
und 126 mittels einer Wechselspannungsquelle 127 angelegt wird, wird von der Elektrolumineszenzschicht 124 Licht
emittiert, wobei die Intensität von dem an die Schicht 124 angelegten elektrischen Feld abhängt.
Auch bei dieser Ausführungsform wird der transparente Elektrodenfilm 122 hergestellt aus einem reduktiven, transparenten
und elektrisch leitenden Film ohne Sauerstoffgehalt, wie in bezug auf die weiter oben beschriebenen Ausführungsformen
angegeben. Bei einer solchen Struktur werden, da der Elektrodenfilm 122 von reduktiver Natur ist und
keinen Sauerstoff enthält, die in dem Glassubstrat 121 enthaltenen Alkaliionen daran gehindert, in den Elektrodenfilm
122 zu diffundieren, so daß auch nach einer Langzeitverwendung bei dem Elektrodenfilm 122 keine Abnahme der elektrischen
Leitfähigkeit auftritt und er seine ausgezeichnete Haltbarkeit und Beständigkeit gegen Änderungen der Umgebungsbedingungen
beibehalten kann.
Infolgedessen kann das erfindungsgemäße, Licht emittierende
Dünnfilm-Element einen verbesserten Lichtemissions-Wirkungsgrad und eine verbesserte Zuverlässigkeit ergeben.
Wenn das Element so hergestellt wird, daß es eine vergrößerte Oberfläche hat, entstehen ferner keine lokalen Unregelmäßigkeiten
in der Charakteristik.
Wenn die isolierenden Schichten 123 und 125 aus Si3N4 und
die Licht emittierende Schicht 124 aus a-Si:C:H hergestellt werden, wie in der erfindungsgemäßen Ausführungsform, ist
es übliche Praxis, das Piasma-CVD-Verfahren zur Herstellung
dieser Schichten anzuwenden. Selbst dann treten, da der transparente Elektrodenfilm 122 keinen Sauerstoff enthält
und somit reduktiver Natur ist, keine speziellen Probleme auf, selbst wenn er bei dem Plasma-CVD-Verfahren
einer reduzierenden Atmosphäre ausgesetzt wird. Es tritt nur eine sehr geringe Diffusion von Sn, Pb oder In in die
isolierenden Schichten 123 und 125 und die Licht emittierende Schicht 124 auf, so daß keine Verschlechterung der
Eigenschaften (Charakteristik) auftritt.
Die Fig. 24 erläutert ein selektives Lichttransmissionselement, das gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung
aufgebaut ist, das die Transmission von Licht mit einem spezifischen Wellenlängenbereich erlaubt und geeignet
ist für die Verwendung in optischen Filtern, Wärmeflußreflektoren und transparenten Wärmeisolatoren. Wie dargestellt,
umfaßt die erfindungsgemäße Ausführungsform ein Substrat 131 und eine transparente Überzugsschicht 132, die
darauf aufgebracht ist. Das Substrat 131 wird hergestellt aus einem Material, das die Transmission von Licht mit einem
spezifischen Wellenlängenbereich, vorzugsweise mindestens im sichtbaren Wellenlängenbereich, erlaubt, wie z.B. Glas
und Polyester. Die transparente Überzugsschicht 132 wird hergestellt aus einem reduktiven, transparenten und elektrisch
leitenden Film ohne Sauerstoffgehalt, der jedoch ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und
In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe
C, N und S, enthält. Bei der erfindungsgemäßen Ausführungsform wird die Schicht 132 vorzugsweise so hergestellt, daß
sie eine Dicke innerhalb des Bereiches zwischen 100 und 10 000 % hat.
5
5
Bei einem solchen selektiven Lichttransmissionselement ist die Durchlässigkeit für Licht im sichtbaren Bereich höher,
beispielsweise 85 % oder mehr, verglichen mit einem Element gemäß Stand der Technik, bei dem die Überzugsschicht 132
aus einem dünnen Film aus einem Halbleiteroxid hergestellt ist, und dadurch werden die optischen Verluste bei der erfindungsgemäßen
Ausführungsform minimal gehalten. Daneben weist die erfindungsgemäße Ausführungsform im Bereich von
infrarotem Licht ein Reflexionsvermögen von 90 % oder mehr
auf, so daß sie als ausgezeichneter transparenter Wärmeisolator verwendet werden kann. Da die transparente Überzugsschicht
132 gemäß der Ausführungsform der Erfindung ferner einheitlicheund ausgezeichnete Eigenschaften in
bezug auf die elektrische Leitfähigkeit ergeben kann, werden Rückstände xind unerwünschte Fremdmaterialien auch
dann nicht leicht abgeschieden, wenn sie als Wärmeflußfilter
oder Wärmespiegel verwendet wird, so daß nur eine sehr geringe Beeinträchtigung der Eigenschaft der selektiven
Lichttransmission erfolgt. Da die transparente überzugsschicht 132 außerdem keinen Sauerstoff enthält und somit
reduktiver Natur ist, ist sie chemisch stabil und die optischen Eigenschaften werden auch über einen längeren
Zeitraum selbst in einer reduzierenden Atmosphäre nicht beeinträchtigt (verschlechtert), wobei der zusätzliche
Vorteil erzielt wird, daß einheitliche Eigenschaften auch
dann erhalten werden können, wenn die Einrichtung mit einer größeren Oberfläche hergestellt wird.
Ähnlich wie bei den weiter oben beschriebenen Ausführungsformen kann die transparente Überzugsschicht 132 nach
irgendeinem bekannten Filmbildungsverfahren hergestellt werden und zu den bevorzugten Verfahren gehören die
CVD-, Plasma-CVD-, Licht-CVD- und reaktiven Zerstäubungsverfahren.
Unter diesen ist das Plasma-CVD-Verfahren am meisten bevorzugt. In diesem Falle wird eine organische
Metallverbindung, wie z.B. Sn(CH3J4, Sn(C2H5J4, Sn(C3H7)-,
Sn(C4H9J4, Pb(C2H5J4, Pb(C4Hg)4, In(CH3)3, In (C3H5)3,
In(C3H7J3 und In(C4H9J3 verdünnt durch Einführen derselben
in ein geeignetes Trägergas, wie z.B. He, Ar, H- und
N^, und gleichzeitig wird mindestens eines der folgenden
Gase selektiv zugegeben: ein Kohlenstoff enthaltendes Gas, wie z.B. ein Gas der Kohlenwasserstoffamilie, beispielsweise
CH4, C2Hg, C3Hg, C3H4 und C3H2, ein Stickstoff enthaltendes
Gas, wie z.B. N3 und NH3, und ein Schwefel enthaltendes
Gas, wie z.B. H-S. Es sei darauf hingewiesen, daß hier ein Hydrid, wie z.B. Sn C1 :H angenommen wird. Wenn
eine Verunreinigung zugegeben werden soll, wird ein Verunreinigungsgas, wie z.B. B3H,, AlCl3, PH3 und AsH3 in
einer regulierten Menge zugegeben.
Die Erfindung wurde zwar vorstehend unter Bezugnahme auf bevorzugte Ausführungsformen näher erläutert, es ist jedoch
für den Fachmann selbstverständlich, daß sie darauf keineswegs beschränkt ist, sondern daß verschiedene Modifikationen,
andere Konstruktionen und Äquivalente ebenfalls angewendet werden können, ohne daß dadurch der Rahmen der
vorliegenden Erfindung verlassen wird.
Claims (36)
1. Transparenter, elektrisch leitender Film, dadurch gekennzeichnet , daß er enthält mindestens
ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe III und/- oder iv des Periodischen Systems der Elemente, sowie ein
zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe N, C und S. 10
2. Film nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
es sich bei dem ersten Element, ausgewählt aus der Gruppe
III des Periodischen Systems der Elemente, um Indium oder Thallium handelt.
3. Film nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
es sich bei dem ersten Element, ausgewählt aus der Gruppe
IV des Periodischen Systems der Elemente,um Zinn oder
Blei handelt.
4. Film nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß er außerdem Wasserstoff enthält.
5. Film nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß er ein Substrat aufweist, auf das der
Film aufgebracht ist.
6. Film nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat aus einem transparenten Material besteht.
7. Film nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem transparenten Material um Glas oder ein
Polymeres handelt.
8. Reduktiver, transparenter und elektrisch leitender Film, dadurch gekennzeichnet, daß er enthält ein erstes
Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C,
N und S.
9. Film nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
er außerdem Wasserstoff enthält.
10. Film nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß er außerdem mindestens ein zusätzliches Element, ausgewählt
aus der Gruppe IHa und/oder Va des Periodischen Systems der Elemente, als eine Verunreinigung enthält.
11. Film nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß er hauptsächlich aus einer Verbindung besteht, die ausgewählt
wird aus der Gruppe Sn C1- , Sn N1- , Sn S1- ,
X I *™"X X I ~X X I *™"X
Pb C1 , Pb N1 , Pb S1 , In C1 , In N1 und
χ 1-x χ 1-x χ 1-x χ 1-x χ 1-x
In S1- , worin χ größer als 0, jedoch kleiner als 1 ist.
12. Film nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß er hauptsächlich aus einem Hydrid besteht, das ausgewählt
wird aus der Gruppe Sn C, :H, SnxN1 :H,
SnxS^H, PbxC1-x:H, Pb^1 ^ :Hf Ρ^81-χϊΗ, Ii^C^H,
In N1 :H und In S1 :H, worin χ größer als Null, jedoch
X I —X X I —X
kleiner als 1 ist.
13. Film nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Gruppe IHa des Periodischen Systems der Elemente
B, Al, Ga, In und Tl umfaßt und daß die Gruppe Va des Periodischen Systems der Elemente N, P, As, Sb und Bi
umfaßt.
14. Film nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß er die Verunreinigung in einer Menge innerhalb des Bereiches
zwischen 1 ppm und 20 Atom-% enthält.
15. Struktur, gekennzeichnet durch: ein Glassubstrat;
einen auf das Substrat aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der enthält ein erstes Element,
ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein
zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S; eine auf den Film aufgebrachte photoleitfähige Schicht;
und
eine auf die photoleitfähige Schicht aufgebrachte gegenüberliegende
elektrisch leitende Schicht.
16. Struktur nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
daß die photoleitfähige Schicht besteht aus einem Material, das ausgewählt wird aus der Gruppe amorphes Si:H,
CdS und CdSe.
17. Struktur, gekennzeichnet durch: ein Glassubstrat;
eine auf das Substrat aufgebrachte gegenüberliegende elektrisch leitende Schicht;
eine auf die gegenüberliegende elektrisch leitende Schicht aufgebrachte photoleitfähige Schicht; und
einen auf die photoleitfähige Schicht aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein
erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe
C, N und S, enthält.
18. Struktur, gekennzeichnet durch: einen transparenten Träger;
einen auf den Träger aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein erstes Element, ausgewählt
aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S, enthält;
und
eine auf den Film aufgebrachte photoleitfähige Schicht.
19. Struktur nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem Träger um einen Polyesterfilm handelt.
20. Struktur nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekenn-
zeichnet, daß die photoleitfähige Schicht aus amorphem Si besteht.
21. Struktur nach einem der Ansprüche 18 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß sie außerdem eine auf die
photoleitfähige Schicht aufgebrachte Schutzschicht aufweist.
22. Struktur, gekennzeichnet durch: ein Glassubstrat;
einen auf das Substrat aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein erstes Element, ausgewählt
aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S, enthält;
eine auf den Film aufgebrachte a-Si:H-Schicht vom P-Typ; eine auf die Schicht vom P-Typ aufgebrachte a-Si:H-Schicht
vom i-Typ;
eine auf die Schicht vom i-Typ aufgebrachte a-Si:H-Schicht vom N-Typ; und
eine auf die Schicht vom N-Typ aufgebrachte elektrisch leitende Schicht.
23. Struktur, gekennzeichnet durch: eine erste Glasplatte;
einen auf die erste Glasplatte aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein erstes Element,
ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S, enthält;
eine der ersten Glasplatte gegenüberliegend angeordnete zweite Glasplatte, die über einen vorgegebenen Abstand
davon getrennt ist;
eine auf die zweite Glasplatte aufgebrachte elektrisch leitende Einrichtung;
eine Abdichtungs- bzw. Versiegelungseinrichtung zum Abdichten bzw. Versiegeln eines Zwischenraums zwischen der
ersten und der zweiten Platte; und eine Kontrolleinrichtung zum Kontrollieren des Anlegens
einer Spannung zwischen dem Film und der elektrisch leitenden Einrichtung.
24. Struktur nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß sie außerdem umfaßt ein in den versiegelten Zwischenraum
eingefülltes nicht-transparentes, elektrisch isolierendes Medium und elektrophoretische Teilchen mit einer
vorgegebenen Farbe, die eingetaucht in dem Medium beweglich sind.
25. Struktur, gekennzeichnet durch: ein Glassubstrat;
einen auf das Substrat aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein erstes Element, ausgewählt
aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S, enthält;
eine auf den Film aufgebrachte photoleitfähige Schicht; und
eine auf die photoleitfähige Schicht aufgebrachte thermoplastische Harzschicht.
eine auf die photoleitfähige Schicht aufgebrachte thermoplastische Harzschicht.
26. Struktur nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß die thermoplastische Harzschicht besteht aus einem
Material, das ausgewählt wird aus der Gruppe Polyethylen, Polypropylen, Polystyrol und Polyvinylchlorid.
27. Struktur, gekennzeichnet durch:
einen elektrooptischen Kristall mit einer ersten Oberfläche und einer der ersten Oberfläche gegenüberliegenden
zweiten Oberfläche;
einen auf die erste Oberfläche aufgebrachten ersten transparenten,
elektrisch leitenden Film; einen auf die zweite Oberfläche aufgebrachten zweiten
transparenten, elektrisch leitenden Film, wobei sowohl der erste Film als auch der zweite Film enthält
ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der
Gruppe C, N und S; und
eine Einrichtung zum Anlegen einer Spannung zwischen dem ersten Film und dem zweiten Film.
28. Struktur nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß sie außerdem umfaßt einen ersten Polarisator, der
dem ersten Film gegenüberliegend angeordnet ist, und einen zweiten Polarisator, der dem zweiten Film gegenüberliegend
angeordnet ist.
29. Struktur, gekennzeichnet durch: ein Substrat;
einen auf das Substrat in dem gewünschten Muster aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der
enthält ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, und ein zweites Element, ausgewählt aus
der Gruppe C, N und S;
eine auf das Substrat aufgebrachte Gate-Elektrode; eine auf dem Film und der Gate-Elektrode aufliegende
elektrisch isolierende Schicht;
ein auf die isolierende Schicht im allgemeinen oberhalb der Gate-Elektrode angeordnetes Halbleitermaterial; und
ein Paar einander gegenüberliegender Elektroden auf der isolierenden Schicht, die jeweils mit einem Teil des
Halbleitermaterials in Kontakt stehen.
30. Struktur nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem Halbleitermaterial um mit einer ausgewählten
Verunreinigung dotiertes a-Si handelt.
31. Struktur nach Anspruch 30, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat aus Glas besteht.
32. Struktur, gekennzeichnet durch: ein transparentes Substrat;
einen auf das Substrat aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S,enthält
einen auf das Substrat aufgebrachten transparenten, elektrisch leitenden Film, der ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S,enthält
und der beim Hindurchleiten eines elektrischen Stromes durch Joul'sehe Erwärmung Wärme erzeugt; und
eine auf den Film aufgebrachte transparente Schutzschicht.
33. Struktur, gekennzeichnet durch:
ein erstes elektrisch isolierendes Substrat; einen auf das erste Substrat in einem gewünschten Muster
aufgebrachten ersten transparenten, elektrisch leitenden Film, der dadurch wirksam als Spule fungiert;
ein auf den ersten Film aufgebrachtes zweites elektrisch isolierendes Substrat; und
einen auf das zweite Substrat in dem gewünschten Muster aufgebrachten zweiten transparenten, elektrisch leitenden
Film, der dadurch wirksam als Spule fungiert; eine erste Kontrolleinrichtung zum Kontrollieren des
Anlegens eines Stromimpulses an den ersten Film; und eine zweite Kontrolleinrichtung zum Kontrollieren des
Anschließens des zweiten Films an einen äußeren Stromkreis,
wobei sowohl der erste Film als auch der zweite Film enthalten ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn,
Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der Gruppe C, N und S.
34. Struktur nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet,
daß auf das erste Substrat mehr als ein erster Film aufgebracht ist, die in Form einer Reihe angeordnet sind,
und daß auf das zweite Substrat mehr als ein zweiter Film aufgebracht ist, die in Form einer anderen Reihe
angeordnet sind, so daß durch diese ersten und zweiten Filme ein Matrixformat definiert ist.
35. Struktur, gekennzeichnet durch: ein transparentes Substrat;
eine Vielzahl von in dem gewünschten Muster auf das ■ Substrat aufgebrachten Signalelektroden, wobei jede
Elektrode enthält ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element,
ausgewählt aus der Gruppe C, N und S; und eine auf die Vielzahl von Signalelektroden aufgebrachte
photoleitfähige Schicht.
36. Struktur, gekennzeichnet durch:
ein erstes Licht transmittierendes Substrat; einen auf das Substrat aufgebrachten ersten transparenten,
elektrisch leitenden Film;
ein zweites Licht transmittierendes flexibles Substrat, das dem ersten Substrat gegenüberliegend angeordnet ist und durch einen vorgegebenen Abstand von diesem getrennt ist;
ein zweites Licht transmittierendes flexibles Substrat, das dem ersten Substrat gegenüberliegend angeordnet ist und durch einen vorgegebenen Abstand von diesem getrennt ist;
einen zweiten transparenten, elektrisch leitenden Film, der auf das zweite Substrat aufgebracht ist, das diesem
gegenüberliegt, jedoch normalerweise von dem zweiten Film getrennt ist, wobei der zweite Film mit dem
ersten Film in Kontakt kommt, wenn das zweite Substrat verformt wird, beispielsweise durch Niederdrücken mit
einem Finger; und
eine Abstandhaltereinrichtung, um einen Zwischenraum zwischen dem ersten und zweiten Film aufrechtzuerhalten,
wenn das zweite Substrat nicht niedergedrückt wird, wobei sowohl der erste Film als auch der zweite Film enthalten
ein erstes Element, ausgewählt aus der Gruppe Sn, Pb und In, sowie ein zweites Element, ausgewählt aus der
Gruppe C, N und S.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58195181A JPS6089573A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 透明導電膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3438437A1 true DE3438437A1 (de) | 1985-05-02 |
Family
ID=16336794
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19843438437 Ceased DE3438437A1 (de) | 1983-10-20 | 1984-10-19 | Transparenter, elektrisch leitender film |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5057244A (de) |
JP (1) | JPS6089573A (de) |
DE (1) | DE3438437A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0534425A2 (de) * | 1991-09-25 | 1993-03-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Photovoltaische Vorrichtung |
EP0534416A3 (en) * | 1991-09-24 | 1993-12-29 | Canon Kk | Solar cell |
DE102013106045A1 (de) * | 2013-06-11 | 2014-12-11 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Kapazitive, keramische Druckmesszelle und Verfahren zu ihrer Herstellung |
CN111646708A (zh) * | 2020-07-07 | 2020-09-11 | 浙江山蒲照明电器有限公司 | 一种玻璃管内壁喷涂机构 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5108658A (en) * | 1991-01-24 | 1992-04-28 | Amoco Corporation | Light metal oxide-based amorphous conductor |
US5559399A (en) * | 1992-06-11 | 1996-09-24 | Norden Systems, Inc. | Low resistance, thermally stable electrode structure for electroluminescent displays |
JPH06140650A (ja) * | 1992-09-14 | 1994-05-20 | Sanyo Electric Co Ltd | 透光性導電酸化膜の改質方法とこれを用いた光起電力装置の製造方法 |
US5751452A (en) * | 1993-02-22 | 1998-05-12 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Optical devices with high polymer material and method of forming the same |
US6710540B1 (en) * | 1995-07-20 | 2004-03-23 | E Ink Corporation | Electrostatically-addressable electrophoretic display |
US7352353B2 (en) * | 1995-07-20 | 2008-04-01 | E Ink Corporation | Electrostatically addressable electrophoretic display |
FR2773897A1 (fr) * | 1998-01-22 | 1999-07-23 | Sagem | Dispositif de prise d'empreintes |
US7256766B2 (en) * | 1998-08-27 | 2007-08-14 | E Ink Corporation | Electrophoretic display comprising optical biasing element |
JP3679771B2 (ja) * | 2002-03-19 | 2005-08-03 | 三洋電機株式会社 | 光起電力装置、及び光起電力装置の製造方法 |
ATE323787T1 (de) * | 2002-12-18 | 2006-05-15 | Cardinal Cg Co | Plasmaunterstützte filmabscheidung |
JP4111816B2 (ja) * | 2002-12-19 | 2008-07-02 | シャープ株式会社 | 半導体レーザ装置および光ピックアップ |
JP4742497B2 (ja) * | 2003-12-16 | 2011-08-10 | セイコーエプソン株式会社 | 情報表示装置 |
WO2005106896A1 (en) * | 2004-04-23 | 2005-11-10 | Arkema Inc. | Electroconductive tin oxide having high mobility and low electron concentration |
TWI303760B (en) * | 2004-11-19 | 2008-12-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Computer having thermoelectric device |
KR20080027405A (ko) * | 2006-09-22 | 2008-03-27 | 삼성전자주식회사 | 전계 방출 장치 및 이의 구동 방법 |
US20110056924A1 (en) * | 2009-09-10 | 2011-03-10 | Benjamin Park Townsend | Solar defrost panels |
US8089687B2 (en) * | 2009-12-21 | 2012-01-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Electro-optical display systems |
US7957054B1 (en) | 2009-12-21 | 2011-06-07 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Electro-optical display systems |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE144582C (de) * | ||||
US3239368A (en) * | 1962-04-26 | 1966-03-08 | Nra Inc | Method of preparing thin films on substrates by an electrical discharge |
US3808035A (en) * | 1970-12-09 | 1974-04-30 | M Stelter | Deposition of single or multiple layers on substrates from dilute gas sweep to produce optical components, electro-optical components, and the like |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4320249A (en) * | 1979-08-13 | 1982-03-16 | Shunpei Yamazaki | Heterojunction type semiconductor photoelectric conversion device |
US4673589A (en) * | 1986-02-18 | 1987-06-16 | Amoco Corporation | Photoconducting amorphous carbon |
-
1983
- 1983-10-20 JP JP58195181A patent/JPS6089573A/ja active Pending
-
1984
- 1984-10-19 DE DE19843438437 patent/DE3438437A1/de not_active Ceased
-
1986
- 1986-01-06 US US06/816,685 patent/US5057244A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE144582C (de) * | ||||
US3239368A (en) * | 1962-04-26 | 1966-03-08 | Nra Inc | Method of preparing thin films on substrates by an electrical discharge |
US3808035A (en) * | 1970-12-09 | 1974-04-30 | M Stelter | Deposition of single or multiple layers on substrates from dilute gas sweep to produce optical components, electro-optical components, and the like |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0534416A3 (en) * | 1991-09-24 | 1993-12-29 | Canon Kk | Solar cell |
US5324365A (en) * | 1991-09-24 | 1994-06-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Solar cell |
EP0534425A2 (de) * | 1991-09-25 | 1993-03-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Photovoltaische Vorrichtung |
EP0534425A3 (en) * | 1991-09-25 | 1993-12-29 | Canon Kk | Photovoltaic device |
US5342452A (en) * | 1991-09-25 | 1994-08-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Photovoltaic device |
DE102013106045A1 (de) * | 2013-06-11 | 2014-12-11 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Kapazitive, keramische Druckmesszelle und Verfahren zu ihrer Herstellung |
US9958350B2 (en) | 2013-06-11 | 2018-05-01 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Capacitive, ceramic pressure-measuring cell and method for the production thereof |
CN111646708A (zh) * | 2020-07-07 | 2020-09-11 | 浙江山蒲照明电器有限公司 | 一种玻璃管内壁喷涂机构 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6089573A (ja) | 1985-05-20 |
US5057244A (en) | 1991-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3438437A1 (de) | Transparenter, elektrisch leitender film | |
DE2954552C2 (de) | ||
DE3316649C2 (de) | ||
DE3215151C2 (de) | ||
DE69333252T2 (de) | Elektrochrome vorrichtung | |
DE2550933C2 (de) | Halbleiterphotodiode für ein mit Wechselstrom betriebenes Lichtventil und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2554162A1 (de) | Abbildungsverfahren | |
DE2933411A1 (de) | Festkoerper-abbildungs-bauelement | |
DE1589429A1 (de) | Elektrooptische Vorrichtungen | |
CN101424839A (zh) | 液晶显示装置 | |
DE2713718C2 (de) | Optisches Lichtventil | |
DE3201081A1 (de) | Photoleitfaehiges element | |
DE69905960T2 (de) | Abblendbarer Spiegel in elektrochromer Festkörperbauweise | |
CH616245A5 (de) | ||
DE3303700C2 (de) | ||
DE3200376C2 (de) | ||
DE3515225A1 (de) | Bilderzeugungsvorrichtung | |
DE3443823C2 (de) | ||
DE3311835A1 (de) | Fotoleitfaehiges aufzeichnungselement | |
DE2431770C3 (de) | Elektrofotografisch es Aufzeichnungsmaterial | |
DE2741440A1 (de) | Elektrochromatische anzeigevorrichtung | |
DE3309627C2 (de) | ||
DE3631328C2 (de) | ||
DE60205022T2 (de) | Optisch adressierbarer, ortsauflösender lichtmodulator (oaslm) mit dielektrischem spiegel, der schichten aus amorphem, hydriertem kohlenstoff enthält | |
DE3242611C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: SCHWABE, H., DIPL.-ING. SANDMAIR, K., DIPL.-CHEM. |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: C23C 16/30 |
|
8131 | Rejection |