DE3425707C2 - Optisches Plattengerät - Google Patents

Optisches Plattengerät

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DE3425707C2
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Nobuhide Hachioju Tokio/Tokyo Matsubayashi
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Abstract

Der optische Kopf (1) eines optischen Plattengeräts sendet einen Lichtstrahl (5) auf eine optische Platte (3) aus und bildet Vertiefungen in der optischen Platte (3), wodurch ein Signal gespeichert wird. Ein Detektor (7) detektiert eine relative Neigung zwischen dem optischen Kopf (1) und der optischen Platte (3) und erzeugt ein Signal, das dieser relativen Neigung entspricht. Eine Korrekturschaltung (9) für die Strahlintensität korrigiert die Intensität des Lichtstrahls (5) in Abhängigkeit von der relativen Neigung, um einwandfreie Vertiefungen zu bilden. Die Intensität des Lichtstrahls (5) wird mit der Zunahme der relativen Neigung erhöht.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein optisches Plattengerät mit einem optischen Kopf zur Aussendung eines Lichtstrahls auf eine Aufnahmeplatte und zur Bildung von Vertiefungen in der Aufnahmeplatte zur Speicherung eines Signals, mit einer Detektionseinrichtung zur Erkennung einer relativen Neigung zwischen dem optischen Kopf und der Speicherplatte und zur Erzeugung eines Signals in Abhängigkeit von einem Winkel der relativen Neigung und mit einer Korrektureinrichtung, der das von der Detektionseinrichtung erzeugte Signal zugeführt wird.
  • Es sind konventionelle optische Plattengeräte bekannt, wie es in Fig. 1 dargestellt ist. Darin wird ein Lichtstrahl 5, beispielsweise ein Laserstrahl, von einem optischen Kopf 1 auf eine optische Platte 3 emittiert, um darin Vertiefungen zu bilden, wodurch die Signale gespeichert werden. Um Signale in die optische Platte 3, die mit einer konstanten Winkelgeschwindigkeit rotiert, mit Hilfe des konventionellen optischen Plattengeräts einzuschreiben, wird ein Lichtstrahl 5 mit einer vorbestimmten, von dem Abstand r von dem Mittelpunkt der optischen Platte 3 abhängigen Intensität auf die optische Platte 3 emittiert, wie dies Fig. 2 zeigt.
  • In Fig. 2 bezeichnet das Bezugssymbol r 0 die innerste Vorrille. Wenn der optische Kopf 1 um einen Winkel R (bezüglich des Einfallwinkels des Lichtstrahls 5 auf die optische Platte 3) relativ zu der optischen Platte 3 während der Aussendung des Lichtstrahls 5 auf die optische Platte 3 geneigt ist, wird der auf der optischen Platte 3 gebildete Lichtfleck des Strahls 5 durch einen Streukreis verzerrt (d. h. eine einwandfreie Fokussierung kann nicht entstehen). Die relative Neigung R zwischen dem optischen Kopf 1 und der optischen Platte 3 kann durch eine Neigung, Verformung oder Vibration der optischen Platte 3 entstehen. Wenn die relative Neigung R Null ist, entspricht die Intensitätsverteilung des Lichtflecks des Strahls 5 auf der optischen Platte 3 einer in Fig. 3a dargestellten Kurve. Wenn jedoch eine relative Neigung R existiert, ist die Intensität im Mittelpunkt des Lichtflecks des Strahls 5 verringert, wie Fig. 3b erkennen läßt. Zusätzlich zu diesem Nachteil wird die rechtsseitige Intensitätsverteilung unsymmetrisch zur linksseitigen und verbreitert sich. Daraus resultiert, daß die Länge L der in der optischen Platte 3 gebildeten Vertiefungen durch die vorhandene relative Neigung R kleiner wird als die einwandfreie Länge LO (vgl. Fig. 4). Wenn weiterhin die relative Neigung R zunimmt, wird die Intensität des Lichtflecks des Strahls 5 auf der optischen Platte 3 kleiner als eine Intensität PO (Schwelleistung PO). Die Schwelleistung PO gibt die minimale Energie des Lichtstrahls 5 an, bei der ein Signal auf der optischen Platte 3 gespeichert werden kann, (d. h. bei der eine Vertiefung ausgebildet wird). Wenn die relative Neigung R groß ist, kann kein Signal auf der optischen Platte 3 gespeichert werden (d. h. keine Vertiefungen werden gebildet). Darüber hinaus wird die Intensitätsverteilung des Lichtflecks des Strahls 5 auf der optischen Platte breit, wenn die relative Neigung R vorhanden ist, wie dies oben beschrieben und in Fig. 3b dargestellt ist. Fig. 5 verdeutlicht, daß aus diesem Grund das Flattern (Jitter) J des aufzunehmenden Signals wächst. In herkömmlichen optischen Plattengeräten wächst die Fehlerrate des wiedergegebenen Signals, wenn ein gespeichertes Signal mit einer relativen Neigung R wiedergegeben wird, was nachteilig ist.
  • Ein optisches Plattengerät der eingangs erwähnten Art ist durch die EP-OS 79 109 bekannt. Zur Korrektur der Neigung zwischen dem optischen Kopf und der Aufnahmeplatte wird der optische Kopf relativ zur Aufnahmeplatte geschwenkt. Hierzu dient eine Anordnung des optischen Kopfes in einer Hülse mit schrägen Wänden, wobei der optische Kopf entlang den Wänden der Hülse longitudinal und magnetisch gesteuert verfahrbar ist. Die Kompensation der Neigung erfordert daher einen relativ großen mechanischen Aufwand sowie eine aufwendige magnetische Steuerung der Bewegung des Kopfes innerhalb der Hülse.
  • In der DE-OS 29 16 758 wird die Steuerung der Laser-Ausgangsleistung eines optischen Plattengerätes zur Erzielung eines möglichst konstanten Tastverhältnisses beschrieben. Eine Verschlechterung des Tastverhältnisses entsteht bei einer spiralförmig bespielten Platte, die mit einer konstanten Geschwindigkeit umläuft, bekanntlich durch die verschiedenen Bahngeschwindigkeiten im Außenbereich und im Innenbereich der Platte. Ein Hinweis zur Beseitigung der Nachteile eines bestehenden Neigungswinkels zwischen dem optischen Kopf und der Aufnahmeplatte ist dieser Schrift nicht zu entnehmen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein optisches Plattengerät der eingangs erwähnten Art zu erstellen, das eine einwandfreie Aufnahme bzw. Wiedergabe eines Signals ohne aufwendige mechanische Verschiebungen erlaubt, wenn eine relative Neigung zwischen der optischen Platte und dem optischen Kopf vorhanden ist.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Korrektureinrichtung eine Einrichtung zur derartigen Vergrößerung des Energieinhalts des vom Kopf ausgesandten Lichtstrahls proportional zur Vergrößerung des Winkels der relativen Neigung aufweist, daß Vertiefungen vorbestimmter Größe erzeugt werden.
  • Bei dem erfindungsgemäßen optischen Plattengerät wird der Lichtstrahl zur Aufnahme der Information auf die Platte korrigiert, wenn eine relative Neigung zwischen der Aufnahmeplatte und dem optischen Kopf besteht. Dadurch werden einwandfreie Vertiefungen gebildet, auch wenn eine relative Neigung vorhanden ist. Entsprechend der Neigung zwischen dem optischen Kopf und der Aufnahmeplatte wird der Energieinhalt des ausgesandten Lichtstrahls verändert. Durch die Neigung wird die Länge der durch den Lichtstrahl produzierten Vertiefungen an sich verringert und im Extremfall werden aufgrund der Neigung überhaupt keine Vertiefungen gebildet. Durch die Erhöhung des Energieinhalts wird eine Vergrößerung der Länge der Vertiefung erzeugt, die so eingestellt wird, daß die durch die Neigung hervorgerufene Verringerung der Länge der Vertiefung gerade kompensiert wird. Die Information kann dadurch fehlerfrei auf der Aufnahmeplatte gespeichert werden. Daher nimmt auch das Flattern des Signals nicht zu, wenn eine relative Neigung vorhanden ist.
  • Ersichtlich kommt es für die Erfindung auf die Korrektur der auf die Aufnahmeplatte gebrachten Lichtstrahlenergie an, um die Vertiefungen auszubilden. Die Korrektur der Energie kann durch eine entsprechende Korrektur der Strahlintensität erreicht werden. Eine alternative Lösung besteht darin, die Intensität unverändert zu lassen und lediglich die Strahldauer zu verändern, um die wirksame Energiemenge zu verändern. Selbstverständlich ist auch eine Kombination der beiden beschriebenen Möglichkeiten denkbar.
  • Die Erfindung soll im folgenden anhand von in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert werden. Es zeigt
  • Fig. 1 eine schematische Darstellung zur Erläuterung der Informationsspeicherung auf einer optischen Platte in einem herkömmlichen optischen Plattengerät;
  • Fig. 2 eine Kurve zur Erläuterung des Zusammenhangs zwischen dem Abstand von dem Mittelpunkt der optischen Platte und der Intensität des Lichtstrahls;
  • Fig. 3a und 3b jeweils Kurven zur Darstellung der Intensitätsverteilung von auf der optischen Platte gebildeten Lichtpunkten;
  • Fig. 4 eine Kurve zur Erläuterung des Zusammenhangs zwischen der relativen Neigung der Aufnahmeplatte zum optischen Kopf und der Länge der erzeugten Vertiefung;
  • Fig. 5 eine Kurve zur Erläuterung des Zusammenhangs zwischen der relativen Neigung und dem Signalflattern;
  • Fig. 6 eine Kurve zur Erläuterung des Zusammenhangs zwischen der relativen Neigung, der Intensität des Lichtstrahls, der Länge der Vertiefung und dem Flattern;
  • Fig. 7a bis 7c jeweils Kurvendarstellungen zur Erläuterung des Zusammenhangs zwischen der relativen Neigung und der Intensität des Lichtstrahls;
  • Fig. 8 eine geschnittene Teildarstellung, die einen verformten Abschnitt der optischen Platte zeigt;
  • Fig. 9a bis 9c zeitliche Kurvenverläufe jeweils von Spurfehlersignalen;
  • Fig. 10 ein Blockschaltbild eines optischen Plattengeräts gemäß einer erfindungsgemäßen Ausführungsform;
  • Fig. 11 ein Schaltbild eines Hüllkurvengenerators zur Erzeugung eines Hüllkurvensignals in Abhängigkeit von dem Spurfehlersignal;
  • Fig. 12a bis 12e jeweils Impulsübersichten zur Erläuterung der Zeitsteuerungen eines Rückstellsignals ERS;
  • Fig. 13 ein Schaltbild einer Strahlkorrekturschaltung zur Korrektur des Lichtstrahls in Abhängigkeit von der relativen Neigung;
  • Fig. 14 eine Kurve eines Signals Er;
  • Fig. 15a bis 15c jeweils Kurven zur Erläuterung des Zusammenhangs zwischen der relativen Neigung und der Lichtstrahl- Aussendezeit;
  • Fig. 16 eine Korrekturschaltung für die Emissionszeit des Lichtstrahls in Abhängigkeit von der relativen Neigung; und
  • Fig. 17a bis 17c Impulsübersichten von Signalen, die durch die Korrekturschaltung aus Fig. 16 erzeugt worden sind.
  • Wie bereits oben erläutert worden ist, steigt das Signalflattern an, wenn zwischen einer optischen Platte 3 und einem optischen Kopf 1 eine relative Neigung R besteht. Wenn andererseits die Intensität des Lichtstrahls 5 ansteigt, wächst die Länge L der Vertiefung, aber das Flattern nimmt ab. Dieser Zusammenhang ist in Fig. 6 dargestellt. In dieser Figur gibt die Kurve A das Flattern J an, wenn die Intensität des Lichtstrahls 5 groß ist. Kurve B charakterisiert das Flattern J, wenn die Intensität des Lichtstrahls 5 klein ist. Kurve C charakterisiert die Länge L der Vertiefung für eine hohe Intensität des Lichtstrahls 5 und Kurve D die Länge L der Vertiefung für eine niedrige Intensität des Lichtstrahls 5. Die relative Neigung R ist auf die Abszisse aufgetragen. Bei der Betrachtung der Fig. 6 sei eine relative Neigung R angenommen. Wenn die Intensität des Lichtstrahls 5 in Abhängigkeit von der relativen Neigung R korrigiert wird, werden Vertiefungen erzeugt, die eine richtige Länge L haben, wodurch das Flattern des Signals verringert wird.
  • Die Größe der korrigierten Intensität des Lichtstrahls 5 über die Lichtstrahl-Emissionszeit ist in den Fig. 7a bis 7c dargestellt. Fig. 7a gilt für den Fall, wenn die relative Neigung R Null ist. Fig. 7b stellt den Fall einer geringen relativen Neigung R und Fig. 7c den Fall einer großen relativen Neigung R dar.
  • Die Teildarstellung in Fig. 8 zeigt einen Schnitt durch einen verformten Teil einer optischen Platte 10. Dabei bezeichnet die Bezugsziffer 12 ein zentrales Loch der optischen Platte 10. Spurfehlersignale ET, die von dem optischen Kopf 1 erzeugt werden, sind in den Fig. 9a, 9b und 9c dargestellt, wenn der Lichtfleck über die Punkte A, B und C der optischen Platte 10 in Fig. 8 läuft. Da die relative Neigung R der optischen Platte 10 am Punkt B praktisch Null ist, fluktuiert das Spurfehlersignal ET um den Nullpegel herum. An den Punkten A oder C ist jedoch eine relative Neigung R durch die Verformung der optischen Platte 10 vorhanden. Dadurch weichen die einfallenden und reflektierten Winkel des Lichtstrahls 5 auf der optischen Platte 10 voneinander ab. Demgemäß ändert sich die Hüllkurve des Spurfehlersignals, wie die Fig. 9b und 9c verdeutlichen. Wenn die Hüllkurve des Spurfehlersignals durch Verwendung einer optischen Platte mit einer vorbestimmten relativen Neigung gemessen wird, kann die relative Neigung R im Zusammenhang mit der bekannten Hüllkurve und der Hüllkurve des Spurfehlersignals ET der optischen Platte 10 bestimmt werden. Wenn der Winkel der relativen Neigung R in Abhängigkeit von dem Spurfehlersignal ET berechnet und der Lichtstrahl 5 korrigiert wird, können einwandfreie Vertiefungen gebildet werden.
  • Fig. 10 ist ein Blockschaltbild eines optischen Plattengerätes gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Ein Detektor 7 für die relative Neigung erzeugt ein von der relativen Neigung R abhängiges Signal aus dem Spurfehlersignal des optischen Kopfes 1. In Abhängigkeit von der durch den Detektor 7 festgestellten relativen Neigung R erzeugt eine Korrekturschaltung 9 für die Lichtstrahlintensität ein Signal zur Korrektur des Lichtstrahls 5 in der Weise, daß einwandfreie Vertiefungen gebildet werden. Der optische Kopf 1 erzeugt dann einen Lichtstrahl 5 in Abhängigkeit von dem Ausgangssignal der Korrekturschaltung 9 für die Lichtstrahlintensität.
  • Fig. 11 zeigt die detaillierte Anordnung des Detektors 7 für die relative Neigung. Eine Ausgangsklemme eines Komparators 16 ist mit der Anode einer Diode 20 verbunden. Die Katode der Diode 20 ist an den invertierenden Eingang des Komparators 16 angeschlossen. Dieser Eingang des Komparators 16 liegt über einen Kondensator 18 an Masse. Ein Ende eines Strompfades eines Feldeffekttransistors (FET) 24 ist mit der Katode der Diode 20 verbunden. Das andere Ende des Strompfades liegt an Masse. Die Katode der Diode 20 ist außerdem an den nicht invertierenden Anschluß eines Operationsverstärkers 22 angeschlossen. Der Ausgang dieses Verstärkers 22 ist mit seinem invertierenden Eingang verbunden. Das Spurfehlersignal ET gelangt auf den nicht invertierenden Eingang des Komparators 16. Der Komparator 16 vergleicht die von dem aufgeladenen Kondensator 18 gelieferte Spannung mit der Spannung des Spurfehlersignals ET. Wenn die Spannung des Spurfehlersignals ET größer ist als die Spannung des Kondensators 18, erzeugt der Komparator 16 eine positive Spannung. Der Komparator 16 lädt den Kondensator 18, bis die Ladespannung ( Spannung an dem invertierenden Eingang des Komparators 16) gleich der maximalen Spitzenspannung des Spurfehlersignals ET wird. Die Ladespannung (d. h. der maximale Spitzenwert des Spurfehlersignals ET) am Kondensator 18 gelangt an den nicht invertierenden Eingang des Verstärkers 22. Das Ladepotential von dem Kondensator 18, das auf den nicht invertierenden Eingang des Verstärkers 22 gelangt, wird als Hüllkurvensignal EB verarbeitet. Auf diese Weise wird aus den Maximalwerten des Spurfehlersignals ET das Hüllkurvensignal EB erzeugt. Um jeweils ein aktuell gültiges Hüllkurvensignal EB zu erhalten, das als Funktion der Zeit variiert, wird der Kondensator 18 in einem geeigneten Zeitintervall jeweils entladen. Mit anderen Worten wird ein Rückstellsignal ERS auf das Gate des FET 24 geleitet, um ihn einzuschalten. Auf diese Weise wird das aktuell erneuerte Hüllkurvensignal EB erhalten. Die Zeitpunkte, zu denen das Rückstellsignal ERS auf das Gate des FET 24 gelangt, sind in den Fig. 12a bis 12e dargestellt. Fig. 12a zeigt die Arbeitszeitpunkte eines (nicht dargestellten) Schwingspulenantriebs für den optischen Kopf 1. Wie Fig. 12b zeigt, wird synchron mit dem Stopzeitpunkt des Schwingspulenantriebs ein einzelner Impuls mit einer geeigneten Pulsbreite erzeugt. Synchron mit dem nachlaufenden Ende des Einzelimpulses wird das Rückstellsignal ERS erzeugt, wie Fig. 12c zeigt. Das Hüllkurvensignal EB wird aktualisiert, wenn ein vorbestimmtes Zeitintervall (entsprechend der Pulsbreite des Einzelpulses) vergangen ist, nachdem der optische Kopf 1 gestoppt worden ist. Das Rückstellsignal ERS aus Fig. 12e wird produziert, wenn die Spurenregelung ausgeschaltet ist (zurückläuft), vgl. Fig. 12d. Wenn das Rückstellsignal ERS zu dem o. g. Zeitpunkt erzeugt wird, kann das aktualisierte Hüllkurvensignal EB in einer Position des optischen Kopfes nach seiner Bewegung erhalten werden.
  • Unter den Methoden zur Detektion des Spurfehlers werden die folgenden am häufigsten gebraucht:
    • 1. eine Dreistrahlmethode
      2. eine Gegentaktmethode und
      3. ein Überlagerungsverfahren

  • Der Detektor für die relative Neigung, der in Fig. 11 dargestellt ist, ist für alle der erwähnten Methoden benutzbar. Die Anordnung des Detektors für die relative Neigung ist nicht auf die in Fig. 11 dargestellte Schaltung beschränkt und jeder konventionelle Hüllkurvendetektor kann statt seiner benutzt werden.
  • Fig. 13 zeigt eine Anordnung der Korrekturschaltung 9 für die Strahlintensität aus Fig. 10. In Fig. 13 wird das Hüllkurvensignal EB dem invertierenden Eingang eines Differenzverstärkers 26 zugeführt. Am nicht invertierenden Eingang des Differenzverstärkers 26 liegt eine konstante Spannung EO an. Die Spannung EO wird in Abhängigkeit von dem Reflexionsvermögen o. ä. der optischen Platte vorgewählt. Die Spannung EO ist gleich der Spannung des Hüllkurvensignals EB, wenn die relative Neigung R Null ist. Der Ausgang des Differenzverstärkers 26 ist mit dem Eingang eines Betragselements 28 verbunden. Der Ausgang des Betragselements 28 ist mit einem Eingang I 1 einer Multiplizierstufe 30 verbunden. An den Ausgang der Multiplizierstufe 30 ist ein Eingang eines Addierverstärkers 32 angeschlossen. Ein Signal Er gelangt auf den anderen Eingang des Addierverstärkers 32 und auf den anderen Eingang I 2 der Multiplizierstufe 30. Das Signal Er entspricht einem Abstand r (dem Abstand zwischen dem Mittelpunkt der optischen Platte 3 und der Position des Lichtfleckes des Strahls 5), vgl. Fig. 14. Das Signal Er kann in einfacher Weise von einem (nicht dargestellten) Positionsdetektor erhalten werden, der die Position des optischen Kopfes 1 detektiert. Der Ausgang des Addierverstärkers 32 ist mit einem Laserdiodentreiber LDD 34 (laser diode driver) verbunden. An die LDD 34 ist eine Laserdiode LD 36 und eine PIN-Diode 38 angeschlossen.
  • Die Wirkungsweise der Schaltung aus Fig. 13 ist wie folgt: Der Differenzverstärker 26 berechnet die Differenz zwischen der Spannung des Hüllkurvensignals EB und der Spannung EO und erzeugt ein Signal E 26. Das Betragselement 28 errechnet den Absolutwert des Signals E 26, um beispielsweise den Korrekturbetrag am Punkt A in Fig. 10 an dem am Punkt C anzupassen. Das Betragselement 28 erzeugt ein Signal E 28, das dem Absolutwert des Signals E 26 entspricht. Die Multiplizierstufe 30 multipliziert das Signal E 28 mit dem Signal E 26. Das Produkt wird in geeigneter Weise verstärkt. Die Multiplizierstufe 30 erzeugt ein Signal E 30. Der Grund dafür, daß das Signal E 28 mit dem Signal Er multipliziert wird, liegt darin, daß die Lichtintensität des Strahls 5 und somit der zu korrigierende Betrag in Abhängigkeit von dem Abstand r vom Mittelpunkt variiert, wie Fig. 2 zeigt. Auf diese Weise kann die Korrektur für eine optimale Spurjustierung vorgenommen werden. Der Addierverstärker 32 addiert das Signal E 30 zu dem Signal Er und verstärkt den resultierenden Wert mit einem geeigneten Verstärkungsfaktor. Der Addierverstärker 32 erzeugt ein Signal E 32. Das Signal E 30 entspricht dem Korrekturbetrag des Lichtstrahls 5, während das Signal Er der Originalintensität des Lichtstrahls 5 an dem Punkt mit dem Abstand r vom Mittelpunkt entspricht. Der LDD 34 steuert die Laserdiode 36 so, daß die Emissionsmenge der LD 36 dem Wert entspricht, der durch das Signal E 32 vorgegeben ist. Der LDD 34 korrigiert so die Emissionsmenge der LD 36 in Abhängigkeit von der relativen Neigung R. Dabei detektiert die PIN-Diode 38 die Emissionsintensität der LD 36 und liefert ein Signal, das der Intensität des LDD 34 entspricht. Der LDD 34 steuert die Emissionsmenge der LD 36 in Abhängigkeit von dem rückgekoppelten Signal. Mit anderen Worten wird eine automatische Leistungsregelung (APC - automatic power control) durchgeführt. Durch die in Fig. 13 dargestellte Schaltung wird die Intensität des Lichtstrahls 5 in Abhängigkeit von der relativen Neigung R korrigiert. Dadurch kann eine korrekte Länge L der Vertiefung garantiert und das Flattern J vermindert werden, auch wenn eine relative Neigung R existiert. Dadurch kann die Fehlerrate des wiedergegebenen Signals erheblich vermindert werden, wenn die gespeicherte Information wiedergegeben wird.
  • In dem oben dargestellten Ausführungsbeispiel wird die Lichtintensität des Strahls 5 in Abhängigkeit von der relativen Neigung R korrigiert. Es ist jedoch auch möglich, die Emmissionszeit des Lichtstrahls 5 statt dessen in Abhängigkeit von der relativen Neigung R zu korrigieren. Die Fig. 15a bis 15c zeigen jeweils den Zusammenhang zwischen der Intensität des Lichtstrahls und der Emissionszeit. Fig. 15a zeigt den Fall, in dem die relative Neigung R ist. Fig. 15b gilt für eine kleine relative Neigung und Fig. 15c für eine große relative Neigung R. Wenn die relative Neigung R klein ist, wird die Emissionszeit um das Zeitintervall t 1 verlängert, wie Fig. 15b zeigt. Wenn die relative Neigung R groß ist, wird die Emissionszeit um ein Zeitintervall t 2 (t 2 > t 1) verlängert, wie in Fig. 15c dargestellt ist. Es ist zu beachten, daß die Intensität des Lichtstrahls 5 in allen Fällen die gleiche ist. Auf diese Weise wird die Emissionszeit des Lichtstrahls 5 so korrigiert, daß Vertiefungen jeweils mit einer korrekten Länge LO gebildet werden.
  • Fig. 16 zeigt eine Anordnung einer Korrekturschaltung für die Lichtstrahl-Emissionszeit. Bei dieser Schaltung werden Schreibdaten WD auf eine optische Platte 3 geschrieben, wenn der Lichtstrahl auf "H"-Pegel eingestellt ist. Die Schreibdaten gelangen auf einen Inverter 48. Das Ausgangssignal des Inverters 48 ist mit einer Verzögerungsschaltung 40 verbunden. An den Ausgang der Verzögerungsschaltung 40 schließt sich der Eingang eines Inverters 50 an. Der Ausgang des Inverters 50 ist mit einer Verzögerungsschaltung 42 verbunden. An den Ausgang der Verzögerungsschaltung 42 schließt sich wiederum der Eingang eines Inverters 52 an. Mit dem Ausgang des Inverters 52 ist der Eingang eines Inverters 54 verbunden. Der Ausgang des Inverters 54 gelangt auf einen Eingang eines ODER-Gatters 56. Die Schreibdaten WD gelangen weiterhin auf den anderen Eingang des ODER-Gatters 56. Die Verzögerungsschaltung 40 weist folgenden Aufbau auf. Die Anode einer Varicap-Diode (Diode mit variabler Kapazität) ist mit einem Ende eines Kondensators 40 C verbunden. Das andere Ende des Kondensators 40 C liegt am Eingang des Inverters 50 und an einem Ende eines Widerstands 40 B an. Das andere Ende des Widerstands 40 B ist mit dem Ausgang des Inverters 48 verbunden. Das andere Ende des Kondensators 40 C liegt über einen Kondensator 40 D an Masse. Die Verzögerungsschaltung 42 umfaßt eine Varicap-Diode 42 A, einen Widerstand 42 B und zwei Kondensatoren in derselben Anordnung wie die Verzögerungsschaltung 40. Eine detaillierte Beschreibung kann daher entfallen. Ein Differenzverstärker 26, ein Betragselement 28, eine Multiplizierstufe 30 und ein Addierverstärker 32 sind in derselben Weise angeordnet, wie die gleichen Elemente in Fig. 13. Der Ausgang des Addierverstärkers 32 ist mit der Katode der Varicap-Diode 40 A in der Verzögerungsschaltung 40 verbunden. In gleicher Weise ist der Ausgang des Addierverstärkers 32 mit der Katode der Varicap-Diode in der Verzögerungsschaltung 42 verbunden.
  • Die Funktion der in Fig. 16 dargestellten Schaltung soll im folgenden anhand der Fig. 17a bis 17c erläutert werden:
  • Die Schreibdaten WD für die optische Platte 3, wie sie in Fig. 17a dargestellt sind, gelangen auf den anderen Eingang des ODER-Gatters 56. Das Schreibsignal WD gelangt außerdem auf die Verzögerungsschaltung 40 über den Inverter 48. Das Ausgangssignal von der Verzögerungsschaltung 40 wird auf die Verzögerungsschaltung 42 über den Inverter 50 geleitet. Das Ausgangssignal der Verzögerungsschaltung 42 erscheint als Signal WDD nach den Invertern 52 und 54. Das Signal WDD gelangt auf einen Eingang des ODER-Gatters 56. Das Signal WDD wird um Δ t von dem Schreibsignal WD verzögert, wie Fig. 17b zeigt. Das Signal WD und das Signal WDD sind logisch über das ODER-Gatter 56 miteinander verknüpft und das resultierende Ausgangssignal bildet das Signal D. Das Signal D hat einen hohen Pegel während einer Dauer, die um Δ t größer ist als die des Signals WD. Der LDD 34 aus Fig. 13 steuert die LD 36 in Abhängigkeit von dem Signal D, wodurch die Emissionszeit der LD 36 korrigiert wird. Wie oben erläutert worden ist, variieren die auf die Varicap-Dioden 40 A und 42 A (d. h. die Spannung des Signals E 32) in Abhängigkeit von der relativen Neigung R, wodurch die Verzögerungszeit Δ t und somit die Korrektur der Emissionszeit des Lichtstrahls 5 gesteuert wird.
  • Bei der beschriebenen Anordnung werden einwandfreie Vertiefungen gebildet und das Flattern J vermindert, auch wenn eine relative Neigung R existiert. Zusätzlich zu diesen Vorteilen können die Fehlerraten bei dem wiedergegebenen Signal verringert werden.
  • In dem beschriebenen Ausführungsbeispiel verändern die Kapazitäten der Varicap-Dioden 40 A und 42 A die Verzögerungszeiten der Verzögerungsschaltungen 40 und 42. Die vorliegende Erfindung ist jedoch nicht auf diese Anordnung beschränkt. Beispielsweise können Feldeffekttransistoren anstelle der Widerstände 40 B und 42 B eingesetzt werden. In diesem Fall werden die Widerstände der Feldeffekttransistoren gesteuert. In der in Fig. 16 dargestellten Schaltung sind zwei Verzögerungsschaltungen 40 und 42 vorgesehen. Die Anzahl der Verzögerungsschaltungen ist jedoch nicht auf zwei beschränkt, sondern kann willkürlich gewählt werden. In den in den Fig. 13 und 16 gezeigten Schaltungen kann der Addierverstärker 32 drei Eingänge aufweisen. In diesem Fall wird das Signal E 30 von der Multiplizierstufe 30 auf den ersten Eingang, eine Signalkomponente des Signals Er, das sich als Funktion des Abstandes r ändert, auf den zweiten Eingang und eine Gleichstromkomponente des Signals Er auf den dritten Eingang geleitet.
  • In dem beschriebenen Ausführungsbeispiel wird die Intensität oder die Emissionszeit des Lichtstrahls in Abhängigkeit von der relativen Neigung R kompensiert. Die vorliegende Erfindung ist jedoch darauf nicht beschränkt. Beispielsweise können die Intensität und die Emissionszeit des Lichtstrahls gemeinsam korrigiert werden. Alternativ hierzu kann die Intensität des Lichtstrahls erhöht und die Emissionszeit verkürzt werden, um Vertiefungen mit einer einwandfreien Länge zu bilden. In diesem Fall können die Veränderungen der Emissionszeiten der Laserdiode 36 groß sein.

Claims (5)

1. Optisches Plattengerät mit einem optischen Kopf (1) zur Aussendung eines Lichtstrahls (5) auf eine Aufnahmeplatte (3) und zur Bildung von Vertiefungen in der Aufnahmeplatte (3) zur Speicherung eines Signals, mit einer Detektionseinrichtung (7) zur Erkennung einer relativen Neigung zwischen dem optischen Kopf (1) und der Speicherplatte (3) und zur Erzeugung eines Signals in Abhängigkeit von einem Winkel der relativen Neigung und mit einer Korrektureinrichtung (9), der das von der Detektionseinrichtung (7) erzeugte Signal zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrektureinrichtung (9) eine Einrichtung zur derartigen Vergrößerung des Energieinhalts des vom Kopf (1) ausgesandten Lichtstrahls (5) proportional zur Vergrößerung des Winkels der relativen Neigung aufweist, daß Vertiefungen vorbestimmter Größe erzeugt werden.
2. Plattengerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrektureinrichtung (9) eine Einrichtung zur Korrektur der Intensität des von dem optischen Kopf (1) ausgesandten Lichtstrahls (5) enthält.
3. Plattengerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrektureinrichtung (9) eine Einrichtung zur Korrektur der Emissionszeit des von dem optischen Kopf (1) ausgesandten Lichtstrahls (5) enthält.
4. Plattengerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der optische Kopf (1) ein Spurfehlersignal erzeugt und daß die Detektionseinrichtung (7) die relative Neigung gemäß dem Spurfehlersignal detektiert.
5. Plattengerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektionseinrichtung (7) die relative Neigung gemäß einem Hüllkurvensignal des Spurfehlersignals erkennt.
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