DE3417498A1

DE3417498A1 - Speichereinrichtung fuer integrierte schaltkreise

Info

Publication number: DE3417498A1
Application number: DE19843417498
Authority: DE
Inventors: Nicholas J. Wellesley Hills Mass. Cedrone; Kenneth R. Lincoln Mass. Lee
Original assignee: Daymarc Corp
Current assignee: Daymarc Corp
Priority date: 1983-05-23
Filing date: 1984-05-11
Publication date: 1984-11-29
Also published as: JPH0531298B2; US4546404A; JPS59225542A

Description

HOEGER, STELLRECRT-Ä -PARTNER

P A T E "N' T A N W- Ά Τ.- -T E - Q/ 1 7/ QO

UHLANDSTRASSE 14 c D 7000 STUTTGART 1 _ g _

A 46 073 u Anmelderin: Daymarc Corporation

2.Mai 1984 301 Second Avenue

x-35 Waltham

Massachusetts 02154 U.S.A.

Beschreibung

Speichereinrichtung für integrierte Schaltkreise

Die Erfindung betrifft eine Speichereinrichtung für ein Prüfgerät für integrierte Schaltkreise. Dabei handelt es sich um eine Speichereinrichtung, die ununterbrochen integrierte Schaltkreise empfängt, sie speichert und dann an eine Prüfeinrichtung abgibt.

Bei der Herstellung und der Verwendung von integrierten Schaltkreisen (ICs) ist es notwendig, dieselben zuverlässig und schnell zu prüfen. Viele ICs müssen zur Simulation tatsächlicher Betriebsbedingungen vor dem Prüfen gleichmässig auf eine bestimmte Temperatur erwärmt werden. Dazu muss ein modernes und schnell arbeitendes Prüfgerät eine zeitliche Verzögerungs- und Speichereinrichtung umfassen, die die IC■s während eines Zeitraums auf eine bestimmte Temperatur aufwärmen kann. Die Speichereinrichtung muss ebenso in der Lage sein, erstens die IC's von "Röhren" oder "Stöcken" aufzunehmen, in welchen sie in einer linearen End-zu-End-Anordnung gespeichert sind, zweitens diese schnell und zuverlässig an einer Eingabestelle für einen Test-

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platz abzugeben und drittens jeden IC mit Standard-Dimensionen mit einer geringfügigen oder ohne Unterbrechung des Prüfvorganges und ohne Verringerung des Durchsatzes der Speichereinrichtung zu speichern.

Ein bekanntes Verfahren zur Speicherung mit zeitlicher Verzögerung besteht darin, die IC's aus einer Röhre in eine oder mehrere Halteschienen zu laden, die im wesentlichen parallel zueinander und in einem Kreis angeordnet sind. Diese Anordnung dreht sich um die gemeinsame Drehachse, die in der Mitte des Kreises gelegen und bezüglich der Grundfläche geneigt ist. Mit dieser zum Stand der Technik gehörenden Vorrichtung werden die ICs in einer Winkelstellung auf die Schienen geladen und in einer anderen Stellung abgegeben. Die zeitliche Verzögerung und die Erwärmung erfolgt, während sich die Schienen zwischen diesen Stellungen drehen. Die in einer Schiene gehaltenen IC's werden lose gepackt, d.h. es existriert ein gewisses "Spiel" oder ein Zwischenraum in der Aufeinanderfolge. Dieses Merkmal ist wichtig, damit die ICs frei auf der Schiene entianggleiten und ICs unterschiedlicher Grossen aufgenommen werden können.

Die Lösung mit den "rotierenden Schienen" wurde jedoch nicht in grossem Masse angenommen. Ein prinzipieller Grund besteht darin, dass, wenn die Schienen rotieren, die auf den Schienen gespeicherten ICs ihre Lage in Bezug zueinander verändern, so dass sich gewöhnlich einige von ihnen an den Führungsflächen der Schienen verkeilen. Sobald nun die Aufeinanderfolge der ICs auf einer Schiene derartig gestört ist, -kann diese die "hinter" der Störungsstelle liegenden ICs nicht abgeben. Dies unterbricht den Fluss

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der ICs zu der Prüfeinrichtung und verringert die Arbeitsgeschwindigkeit des gesamten Prüfgeräts (die ICs haben im allgemeinen einen rechtwinkligen, kastenähnlichen Körper, der gewöhnlich aus Keramik (oder Plastik) gebildet ist und Anschlüsse aufweist, die von entgegengesetzten Seitenflächen aus dem Körper herausragen und im wesentlichen in eine Richtung zeigen, die senkrecht auf einer Fläche des Körpers steht).

Bei einer anderen Lösung des Speicherproblems wurde ein Karussell mit ICs beschickt, das sich im wesentlichen in einer horizontalen Ebene erstreckt. Die ICs sind um den Aussenumfang des Karussels herum angeordnet. Das Karussell dreht jeden IC von einer Ladestelle zu einer Entladestelle. Während dieser Drehung sind die IC's in einer geheizten Umgebung, die sie auf die gewünschte Prüftemerpatur bringt. Das Modell 1157 HL des von der Daymarc Corporation hergestellten Prüfgeräts, der die vorliegende Patentanmeldung übertragen ist, verwendet diese Karussell-Lösung. Obwohl das Karussell gut arbeitet, erfordert es eine genaue und teuere Herstellung einer Vielzahl von Teilen. Zusätzlich können bei normalem Betrieb die kleinen Spielräume der am Umfang des Karussells angeordneten öffnungen verstellt werden, was eine Störung einiger der IC-Haltestellen auf dem Karussell zur Folge hat. Ausserdem kann die horizontale Ausrichtung des Karussells Einschränkungen verursachen hinsichtlich des Typs einer verwendbaren Prüfschaltung oder hinsichtlich des Zwischenraums zwischen der Prüfschaltung und dem Platz, an welchem die ICs mit der Prüfschaltung verbunden und geprüft werden. Diese geometrischen Betrachtungen können ziemlich wichtig sein, da viele ICs Höchstgeschwindigkeitsbauelemente sind und die Qualität

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und Zuverlässigkeit der Prüfung davon abhängt, dass der Prüfschaltkreis sehr dicht bei dem zu prüfenden IC liegt. Es sind jedoch verschiedene Anordnungen bei Verwendung eines horizontalen Karussells möglich, die das Prüfgerät nicht einschränken.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Speichereinrichtung der eingangs beschriebenen Art derart zu verbessern, dass diese zuverlässig und schnell eine Reihe lose gepackter ICs lädt und wieder ablädt, so dass eine Prüfeinrichtung beschickt werden kann.

Diese Aufgabe wird bei einer Speichereinrichtung der eingangs beschriebenen Art durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 beschriebenen Merkmale gelöst.

Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sine Gegenstand der Unteransprüche.

Ein Vorteil dieser Erfindung besteht darin, dass eine Speichereinrichtung zur Verfügung steht, die, verglichen mit den momentan in Gebrauch befindlichen IC-Speichereinrichtungen des Karussell-Typs, kostengünstiger herzustellen ist.

Ein weiterer Vorteil der Erfindung besteht darin, dass eine IC-Speichereinrichtung mit den vorher erwähnten Vorteilen zur Verfügung gestellt werden kann, die IC's jeglicher Standard-Grössen ohne Störungen aufnehmen, speichern und abgeben kann.

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Ein zusätzlicher Vorteil besteht in der Möglichkeit, eine Speichereinrichtung mit den vorstehend beschriebenen Vorteilen zur Verfügung zu stellen, die verhältnismässig robust ist und keine empfindlichen Einstellvorrichtungen oder Teile benötigt, die bei normalem Betrieb leicht beschädigt werden.

Schliesslich besteht ein weiterer Vorteil der Erfindung darin, eine Speichereinrichtung zur Verfügung zu stellen, die kompakt ist und an eine Prüfeinrichtung derart angepasst werden kann, dass sie die Art der Prüfschaltkreise oder ihre Anordnung bezüglich der Prüfeinrichtung nicht einschränkt.

Die Erfindung umfasst eine Speichereinheit mit Zeitverzögerung, die automatisch und kontinuierlich integrierte Schaltkreise (ICs) aufnimmt, speichert und abgibt und die um einen Rahmen angeordnet ist, der sich um eine bezüglich der horizontalen geneigte Drehachse dreht. In einer bevorzugten Ausführungsform umfasst der Rahmen eine zentrale Achse, die sich entlang der Drehachse erstreckt, und zwei drehbar auf der Achse gelagerte Endplatten. An den Endplatten ist wiederum ein Satz im wesentlichen paralleler, langgestreckter Führungsschienen drehbar gelagert, die konzentrisch um die Drehachse angeordnet sind. Jede der Führungsschienen nimmt eine Reihe von ICs auf, die in die Speichereinheit in lose gepackter, linearer End-2u-End-Anordnung hinein und aus dieser herausgleiten, speichert sie und gibt sie dann wieder ab. Die Speichereinrichtung weist ein Antriebssystem auf, das den Rahmen und die von dem Rahmen getragenen Führungsschienen schrittweise in eine Reihe von Winkelstellungen weiterbewegt/ die eine IC-Belade- und eine IC-Entladestellung umfassen.

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Die Speichereinrichtung umfasst eine mechanische Vorrichtung/ die die in den Führungsschienen gehaltenen ICs in einer im wesentlichen konstanten Winkelstellung bezüglich der Horizontalen trotz der Tatsache hält, dass sich der Rahmen als Ganzes, einschliesslich des Satzes von Führungsschienen, dreht. Obwohl das Endresultat durch Verwendung von Riemen oder Ketten auch erreicht werden kann, besitzt die bevorzugte Ausführungsform der mechanischen Vorrichtung ein Zahnradsystem, das ein stationäres, auf jedem Ende der zentralen Achse gehaltenes Zahnrad, einen Satz von um jedes der feststehenden Zahnräder angeordneten und mit diesem in Eingriff stehenden Planetenzahnrädern und Zahnräder umfasst, die fest auf jedem Ende der Führungsschienen gehalten sind und mit einem der Planetenzahnräder in Eingriff stehen.

Die Führungsschienen weisen ein im wesentlichen röhrenförmiges Trägerteil auf. Innerhalb des röhrenförmigen Gebildes sind ein nach oben offener Kanal und ein gegenüberliegendes Schienenteil angeordnet, die gemeinsam eine Reihe von ICs führen, wenn diese in die Führungsschiene hinein- und aus dieser herausgleiten und diese in einem gewissen Masse festhalten, während sie in der Führungsschiene gespeichert sind. Der Kanal besitzt ein glattes, im wesentlichen flaches Bodenteil und Seitenwände, die einen.-genügend grossen 'Abstand voneinander aufweisen, so dass sie den breitesten Standard-IC aufnehmen können. Das Bodenteil ist vorzugsweise lose in dem röhrenförmigen Trägerteil gehalten, so dass Schwingungen der Führungsschienen möglich sind, die eine Bewegung der IC's bei einem kleinen Neigungswinkel erleichtern. Schmale ICs werden durch die "Innenseiten"

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ihrer Anschlüsse geführt (genauso werden breite ICs geführt, wenn die "äussere" Seitenwand fehlt). Die Lage des Schienenteils ist in vertikaler Richtung einstellbar, so dass ICs verschiedener Dicke aufgenommen werden können. Das untere Ende einer jeden Führungsschiene ist wahlweise durch ein bewegliches Halteelement oder einen Verschluss abgeschlossen. Der Verschluss ist bevorzugterweise ein schwenkbares Teil, das in Richtung einer geschlossenen Stellung vorgespannt ist und die ICs in der Führungsschiene hält. Wenn die dazugehörige Schiene in der Entladestellung ist, bewegt ein Nockenteil den Verschluss in eine geöffnete Stellung.

Der Rahmen und die Führungsschienen sind in einem geschlossenen Gehäuse gelagert, das vorzugsweise isoliert ist und ein Heizungssystem umfasst. Die Wände des Gehäuses oder damit verbundene mechanische Teile tragen zwei Klammern, die Befestigungsteile der zentralen Achse aufnehmen, so dass ein Auswechseln des gesamten Rahmens durch Einsetzen ■ vorgesehen ist. Die Speichereinrichtung umfasst ebenfalls bevorzugterweise eine Antriebswelle (cdei ein gleichwertiges Element^ wie z.B. einen Antriebsriemen)/ die sich im wesentlichen parallel zur Drehachse des Rahmens erstreckt. Auf der Antriebswelle befestigte Antriebszahnräder sind mit Zahnrädern in Eingriff, die mit der zentralen Achse in Verbindung stehen. In der bevorzugten Ausführungsform sind die Endplatten des Rahmens selbst drehbare Zahnräder, die in die Antriebszahnräder eingreifen.

Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung sowie der beigefügten zeichnerischen Darstellung einiger Ausführungsformen der Erfindung. In der Zeichnung zeigen:

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Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Prüfgeräts für integrierte Schaltkreise;

Fig. 2 eine perspektivische Ansicht eines Rahmens einer Speichereinrichtung;

Fig. 3 eine Seitenansicht des Rahmens in Fig. 2;

Fig. 4 eine vereinfachte Frontansicht des Rahmens in Fig. 2;

Fig. 5 eine detaillierte Frontansicht ähnlich Fig. 4 und

Fig. 6 einen Querschnitt durch eine Führungsschiene .

Fig. 1 zeigt ein Prüfgerät 12 für integrierte Schaltkreise (ICs), das eine Speichereinrichtung 14, eine Prüfeinrichtung 16, eine Sortiereinrichtung 18 und eine Prüfschaltung 20 umfasst, welche an einem Gestell 21 gehalten und unmittelbar neben einem Prüfplatz für die IC's in der Prüfeinrichtung 16 angeordnet sind. Die Speichereinrichtung 14 besitzt ein äusseres isoliertes Gehäuse 22. Dieses ist im wesentlichen kastenförmig und weist eine aufklappbare Tür 22a auf, die einen einfachen Zugang zu dem Inneren des Gehäuses ermöglicht, in dem ein Rahmen 24 (Fig. 2 bis 5) und dazugehörige, an dem Rahmen 24 gehaltene Führungsschienen 26 (Fig. 2 bis 6) eingebaut sind. Das Gehäuse umfasst ebenfalls gewöhnliche Heizungselemente und Steuereinrichtungen (nicht gezeichnet), mit denen die Temperatur der in der Speichereinrichtung gehal-

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tenen ICs in dem Zeitraum zwischen dem erstmaligen Laden eines IC's in die Speichereinrichtung und dessen Abgabe zum Prüfen an die Prüfeinrichtung 16 auf eine bestimmte Vorprüftemperatür T erhöht werden kann.

Das ganze Gehäuse 22 sowie der Rahmen 24 sind um einen spitzen Winkel A bezüglich der Horizontalen (dargestellt durch die gestrichelte Linie 25) geneigt. Aufgrund dieser geneigten Anordnung werden die am höher gelegenen Ende 14a der Speichereinrichtung 14 in diese eingelegten ICs infolge der Schwerkraft deren unterem Ende 14b zugeführt, von wo aus sie an die Prüfeinrichtung 16 abgegeben werden. Ein wichtiger Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ist der; dass die Speichereinrichtung erstens verhältnismässig kompakt und zweitens auf der der Prüfschaltung 20 entgegengesetzten Seite der Prüfeinrichtung 16 angeordnet ist, so dass sie nicht die Grosse, die Anordnung oder die Lage der Prüfschaltung 20 bezüglich der Prüfeinrichtung 16 begrenzt oder einengt. Das ist wichtig, da für viele Prüfvorgänge die Qualität des Prüfvorgangs empfindlich von der Entfernung zwischen der Prüfschaltung 20 und dem am Prüfplatz einer Prüfung unterzogenen IC abhängt.

Die Fig. 2 bis 4 zeigen den Rahmen 24, der um eine zentrale Achse 28 angeordnet ist und zwei Endplatten 30, 30 aufweist, welche ihrerseits drehbar an entgegengesetzten Enden der Achse 28 gehalten und im wesentlichen senkrecht zur Achse ausgerichtet sind. Jede der Führungsschienen 26 ist in den Endplatten 30 und in einem gleichen Winkelabstand auf einem zur Achse 28 konzentrisch verlaufenden Kreisbogen drehbar gelagert. Die Endplatten 30 und die Führungsschienen 26

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drehen sich schrittweise um eine Drehachse 32, die koaxial zur zentralen Längsachse der Achse 28 verläuft. Wenn der Rahmen 24 schrittweise weiterbewegt wird, dreht sich jede Führungsschiene 26 nach der anderen zwischen einer Zahl bestimmter Winkelstellungen n, die mindestens gleich der Zahl der Führungsschienen 26 ist. In der Zeichnung sind acht Führungsschienen 26 dargestellt und jede Winkelstellung ist infolgedessen 45 von der benachbarten Stellung entfernt. Eine Stellung, die von der Führungsschiene 26' in den Fig. 2 und 5 eingenommen wird, ist eine Beladestellung, in welcher während eines momentanen Stillstands der Führungsschiene 26' aus einer Röhre eine Reihe von ICs in die Führungsschiene 26' eingeführt wird. Eine andere Stellung, die in den Fig. 2 und 5 von der Schiene 26" eingenommen wird, ist eine Entladestellung, in welcher die Reihe der ICs (die ebenfalls längs der Führungsschiene 26" in einer lose gepackten, linearen End-zu-End-Anordnung gespeichert sind) infolge des Einflusses der Schwerkraft von der Führungsschiene 26" an die Prüfeinrichtung 16 abgegeben wird. Die Be- und Entladestellungen sind so gewählt, dass eine Reihe von ICs, die zur Speicherung in eine Führungsschiene 26 geladen wird, um n-1 Winkelpositionen gedreht werden muss, bevor sie die Endladestellung erreicht.(Selbstverständlich sind auch Drehungen um n-2, n-3 oder weniger Stellungen möglich, sie führen jedoch zu einer Abnahme des Speicherzeitraums in der Speichereinheit 14).

In dem Gehäuse 22 ist neben dem Rahmen 24 und im wesentlichen parallel zu diesem eine Antriebswelle 34 (Fig. 2) angeordnet. Die Antriebswelle 34 trägt mit dieser verbundene Antriebszahnräder 36, 36, die mit der Welle ver-

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verbunden und dazu bestimmt sind, in auf dem Umfang einer jeden Endplatte 30 ausgebildete Zähne einzugreifen. Die Antriebswelle 34 wird durch einen gewöhnlichen Motor (nicht gezeichnet) angetrieben, der ebenfalls in dem Gehäuse 22 angeordnet ist.

Wie Fig. 2 zeigt, hat jede Führungsschiene 26 eine im wesentlichen röhrenähnliche Form und erstreckt sich zwischen den Endplatten 30 entlang ihrer Drehachse 26a. Die Achsen 2 6a verlaufen gegenseitig parallel zueinander und parallel zur Drehachse 32. Wie man am besten aus den Fig. 3, 5 und 6 sieht, hat jede Führungsschiene 26 ein röhrenförmiges, äusseres Trägerteil 40 mit einer öffnung 42 im Bereich eines Kreissegments, die nahezu über dessen gesamte Länge verläuft (Fig.5), Dieses hohle Trägerteil 40 hält ein im wesentlichen flaches Bodenteil 44, das zusammen mit Seitenwänden 40a und 40b des Trägerteils 40 einen nach oben offenen Kanal 46 bildet, welcher die ICs aufnimmt, hält und führt.

Die den Kanal 46 bildenden Teile sind vorzugsweise aus einem Material hergestellt, das, bezogen auf das das Gehäuse der ICs bildende Material einen vergleichbar geringen Reibungskoeffizienten besitzt, so dass die Gleitbewegung der ICs durch die Führungsschiene 26 erleichtert wird. Darüberhinaus ist das Bodenteil 44 vorzugsweise lose in dem Kanal 46 gehalten, so dass es in erzwungene Schwingungen versetzt werden kann, um die auf die ICs wirkende Gleitreibung zu verringern und eine "schwimmende" Bewegung entlang des Kanals 46 zu bewirken. Dies gestattet, einen kleineren Winkel A zu verwenden, und infolgedessen

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besitzen die die Speichereinheit 14 verlassenden ICs eine geringere Geschwindigkeit als bei einem steileren Winkel A.

Die Breite des Bodenteils 44 und der seitliche Abstand der Seitenwände 40a, 40b ist gross genug, so dass der grösste IC 50 mit Standardabmessungen (wie in Fig. 6 gezeichnet) untergebracht werden kann. Kleinere ICs 50' liegen auf dem Bodenteil 44, wobei eine Seite an der inneren Wand 40b anliegt, wie es in Fig. 6 mit durchgezogenen Linien dargestellt ist. In jedem Fall ist ein Schienenteil 48 mit einem plattenähnlichen Träger 48a und mit einem Gurt 48b an seinem unteren Ende gegenüber dem Kanal 46 vorgesehen und seitlich an einer Stelle angeordnet, an der der Flansch 48b unabhängig von der Grosse der ICs zwischen den nach oben weisenden Anschlüssen 50a der IC's liegt. Das Schienenteil 48 und besonders der Flansch 48b, der vorzugsweise dicht an den oberen Flächen der IC's anliegt, bilden daher zusammen mit den Kanälen 46 eine sichere Führung, die erstens dazu beiträgt, die ICs verschiedener Breite trotz ihres losen Packungszustandes in der gewünschten linearen Anordnung zu halten, und zweitens die ICs führt, wenn sie in die Führungsschiene 46 geladen oder von dieser abgegeben werden.

Wie am besten den Fig. 3 und 6 zu entnehmen ist, ist das Schienenteil 48 bezüglich des Bodenteils 44 in vertikaler Richtung einstellbar, wobei Nockenplatten 52 Verwendung finden, die jweils drehbar an einem Stift 54 gehalten sind, der seinerseits an einem benachbarten Teil des Tragteils 40 befestigt ist. Eine unter dem Kopf des Stiftes 54 gehaltene Feder 56 drückt jede Nockenplatte in eine an der

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gegenüberliegenden Fläche des Trägers 48a flächig anliegende Stellung. Der gekrümmte, mit jedem Schienenteil 48 in Verbindung stehende Teil der zwei Nockenplatten 52 bestimmt dessen vertikale Lage; Die Lage des Schienenteils 48 ist so eingestellt, dass eine genaue, aber lose Kontrolle über die Ausrichtung und Lage der ICs mit unterschiedlich dicken Gehäusen ermöglicht wird.

Ein Hauptmerkmal der vorliegenden Erfindung ist ein Zahnradsystem 60, das jede der Führungsschienen 26 in einer im wesentlichen konstanten Winkeleinstellung bezüglich der horizontalen hält, wenn sich der Rahmen 24 schrittweise durch die η WinkelStellungen bewegt. Zu diesem Zweck ist jede Führungsschiene 26 drehbar in den Endplatten 30 gelagert (genau wie bei einer gewöhnlichen Lagerung) und trägt an ihren beiden Enden ein Zahnrad 62. In ähnlicher Weise sind Zahnräder 64 auf gegenüberliegenden Enden der zentralen Achse 28 neben den äusseren Flächen der Endplatten 30, 30 gehalten- (Es ist zu beachten, dass die Achse 28 unter der Voraussetzung, dass die Zahnräder 64 und die Endplatten 30, 30 in geeigneter Weise befestigt sind, weggelassen werden kann)-Jede der Endplatten 30 trägt einen Satz von η frei drehbar gelagerten Planetenzahnrädern 66. Die Planetenzahnräder 66 auf jeder Endplatte 30 sind mit dem Zahnrad 64 auf der Achse 28 und einem der Zahnräder 62 auf einer Führungsschiene 26 in Eingriff. Die Planetenzahnräder 66 sind nicht miteinander in Eingriff. Die Übersetzungsverhältnisse einer jeden der Zahnrädergruppen 62, 64, 66 sind so gewählt, dass die Zahnräder 62, 66 sich um das feststehende Zahnrad 64 der Achse 28 drehen, wenn der Rahmen 24 gedreht wird, damit die Winkelstellung des Zahnrades 62 bezüglich der Horizontalen

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konstant bleibt. Da das Zahnrad 62 mit der frei drehbaren Führungsschiene 26 verbunden und koaxial zu der Drehachse der dazugehörigen Führungsschiene 26 ausgerichtet ist, bleibt diese ebenfalls in einer konstanten Winkelstellung.

Wenn sich die Endplatten 30 gegen den Uhrzeigersinn drehen, wie in Fig. 4 gezeigt, walzen sich die auf den Endplatten 30 gelagerten Planetenzahnräder 66 ebenfalls gegen den Uhrzeigersinn auf dem feststehenden Zahnrad 64 ab. Dadurch wird jedes der Zahnräder 62 der Führungsschienen 26 im Uhrzeigersinn angetrieben. Wenn, wie dargestellt, der Durchmesser des Zahnrades 64 und der des Zahnrades 62 der Führungsschiene 26 gleich sind, dann werden die Führungsschienen 26, vorausgesetzt sie sind mit horizontaler Ausrichtung am Rahmen 24 montiert und gehalten, diese Ausrichtung beibehalten (wobei die Bodenteile 4 4 bei Betrachtung in einer Ebene senkrecht zu den Drehachsen parallel zur Horizontalen ausgerichtet sind).

Obwohl ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel des Zahnradsystems 60 dargestellt und beschrieben wurde, ist es klar, dass mit anderen mechanischen Anordnungen dasselbe Endergebnis erreicht werden kann. Zum Beispiel ist es möglich, die gewünschte Drehung der Führungsschienen 26 im Zusammenhang mit der Drehung des Rahmens 24 durch Verwendung eines Zahnradsystems des oben beschriebenen Typs an nur einem Ende des Rahmens 24 anstatt an beiden Enden zu erreichen. Es ist ebenfalls möglich, dieselbe Umlaufbewegung der Führungsschienen 26 durch Verwendung von festen Antriebssystemen, die keine Zahnräder umfassen, zu erzielen. Zum Beispiel können mehrere Riemen 90 (Fig. 5) oder Ketten

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eine mit der den Planetenzahnrädern 66 vergleichbare Funktion bewirken. Wenn Riemen 90 oder Ketten verwendet werden, sollte die zentrale Riemenscheibe oder das zentrale Zahnrad 64 ebenfalls denselben Durchmesser wie die Riemenscheiben oder Zahnräder 62 besitzen.

Die zentrale Achse 28 trägt ebenfalls an ihren äusseren Enden Befestigungsteile 70, 72. Das Befestigungsteil 70 weist einen Vorsprung 70a auf, der in eine dazu passende Vertiefung eingepasst wird, so dass eine Drehung von diesen verhindert wird.

Das obere Ende einer jeden Führungsschiene 26 ist offen, so dass sie eine Reihe von ICs von einem beliebigen Ladesystem aufnehmen kann. Das untere Ende ist gewöhnlich durch einen Verschluss 80 verschlossen, der an einem Zapfen 82 schwenkbar gelagert ist. Ein Teil 80a eines jeden Verschlusses versperrt das untere Ende der Führungsschiene 26, so dass die in der Führungsschiene 26 gespeicherten ICs am Herausgleiten gehindert werden. Eine Feder 84 drückt den Verschluss 80 in die geschlossene Stellung, wie in Fig. 5 in Verbindung mit der Führungsschiene 26' dargestellt. Wenn der Rahmen 24 eine Führungsschiene 26 in die Entladestellung dreht, drückt eine Rolle auf einer feststehenden Nockenstange 86 auf ein Halteteil 80b des Verschlusses 80 und bewirkt, dass der Verschluss 80 sich gegen die Kraft der Feder 84 in eine offene Stellung dreht, wie in Verbindung mit der Führungsschiene 26" in Fig. 5 dargestellt. In der offenen Stellung gibt das Halteteil 80b den Kanal 46 frei und die in der Führungsschiene 26" gespeicherten ICs können frei aus der Führungsschiene 26"

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heraus und in die Prüfeinrichtung 16 hineingleiten. Wie dargestellt, ist die Nockenstange 86 ebenfalls auf der Achse 28 gehalten.

Während die Erfindung hinsichtlich einer bevorzugten Ausführungsform beschrieben wird, ist es selbstverständlich, dass daraus der Fachmann verschiedene Ab- und Umänderungen entnehmen kann. Diese Ab- und Umänderungen sollen ebenfalls im Schutzbereich der Patentansprüche liegen.

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Patentansprüche

IfJ Speichereinrichtung für ein Prüfgerät für integrierte ^-s Schaltkreise, gekennzeichnet durch

einen Satz langgestreckter Führungsschienen (26) , von denen jede eine Vielzahl der integrierten Schaltkreise in einer relativ losen, Ende an Ende anliegenden Anordnung aufnehmen kann.

einen Rahmen (24), der die Führungsschienen (26) trägt, wobei der Rahmen (24) eine Drehachse (32) besitzt und die Führungsschienen (26) um die Drehachse (32) angeordnet sind,

Vorrichtungen zum schrittweisen Drehen des Rahmens (24) um die Drehachse (32) in eine bestimmte Zahl von Winkelstellungen, die eine Beladestellung, in welcher die integrierten Schaltkreise in eine der Führungsschienen (26) geladen werden können, und eine Entladestellung umfassen, in welcher die integrierten Schaltkreise von einer der Führungsschienen (26) abgegeben werden, und

Vorrichtungen zum Halten der Führungsschienen (26) in einer im wesentlichen konstanten Winkelstellung

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bezüglich der Horizontalen, wenn sich der Rahmen (24) in die Winkelstellungen dreht.

2. Speichereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die zentrale Drehachse (32) und die Führungsschienen (26) bezüglich der Horizontalen (25) so geneigt sind, dass die integrierten Schaltkreise unter Ausnutzung der Schwerkraft in die Führungsschienen (26) geladen und von diesen abgegeben werden.
3. Speichereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Führungsschienen (26) bezüglich des Rahmens (24) um ihre eigene Längsachse drehbar ist und dass 'die die Winkelstellung aufrecht erhaltenden Vorrichtungen Zahnräder (62, 64, 66) umfassen, die an jeder der Führungsschienen (26) angreifen und deren Winkelstellung bezüglich deren Längsachse steuern.
4. Speichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1, 2 oder ;·.-■ 3, dadurch gekennzeichnet, dasr der Rahmen (24) eine zentrale Achse (28) aufweist, um die sich der Rahmen (24) dreht, und zwei quer zu der zentralen Achse (28) angeordnete und an dieser gehaltene Endplatten (30) umfasst.
5. Speichereinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Zahnräder mindestens ein auf der Achse (28) nahe einer der Endplatten (30) gehaltenes Zahnrad (64) und einen Satz von Planetenzahnrädern (66) umfassen, die frei drehbar auf den Endplatten (30) gelagert sind und von denen jedes mit dem auf der Achse (28) gehaltenen Zahnrad (64) in Eingriff ist.

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6. Speichereinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Zahnräder weiterhin auf den Enden der Führungsschienen (26) gehaltene Zahnräder (62) umfassen, die mit einem dazugehörigen Planetenzahnrad

(66) in Eingriff sind, wodurch die Drehung des Rahmens (24) eine Drehung der Planetenzahnräder (66) und der Zahnräder (62) der Führungsschienen (26) bewirkt und somit für die im wesentlichen konstante Winkelstellung sorgt.
7. Speichereinrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass diese ein Gehäuse (22) besitzt, das den Rahmen (24) und die Führungsschienen

(26) umschliesst, wobei das Gehäuse (22) zwei in einem Abstand voneinander angeordnete Befestigungsklammern umfasst und wobei die zentrale Achse (28) Endstücke (70, 72) besitzt, die auswechselbar in den Befestigungsklammern gehalten sind.
8. Speichereinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse isoliert ist.
9. Speichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Führungsschienen (26) einen nach oben offenen Kanal (46) besitzt, der die integrierten Schaltkreise speichert und führt.
10. Speichereinrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Führungsschienen ein Schienenteil (48) umfasst, das gegenüber dem Kanal (46) iin Abstand angeordnet ist und eine weitere Steuerung und Führung der Ausrichtung und Bewegung der integrierten Schaltkreise in den Führungsschienen (26) vorsieht.

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11. Speichereinrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Führungsschienen (26) zusätzlich ein Trägerteil (40) besitzt, das das Schienenteil (48) und den Kanal (46) hält.
12. Speichereinrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das langgestreckte Trägerteil (40) eine im wesentlichen röhrenförmige Gestalt besitzt.
13. Speichereinrichtung nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Kanal (46) ein in dem Trägerteil (40) angeordnetes Bodenteil (44) und zwei Seitenwände (40a, 40b) umfasst, die sich entlang dem Bodenteil (44) über die Länge der Führungsschiene (26) erstrecken.
14. Speichereinrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass jedes Bodenteil (44) genügend breit ist, so dass es jede Standardgrösse eines integrierten Schaltkreises aufnimmt, der in dem Kanal (46) in einer Ende an Ende anliegenden Anordnung gehalten ist.
15. Speichereinrichtung nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass das Bodenteil (44) in dem Trägerteil (40) lose gehalten ist, so dass die integrierten Schaltkreise durch Schüttelbewegungen entlang der Führungsschienen (26) vorwärts bewegt werden können.
16. Speichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1, 2 und

9 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtungen zur Aufrechterhaltung der Winkelstellungen Riemen

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2.Mai 1984

umfassen, die mit den Führungsschienen (26) im Betrieb verbunden sind.
17. Speichereinrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass diese eine Vorrichtung zur Einstellung der vertikalen Höhe eines jeden Schienenteils (48) bezüglich dem zu diesem gehörenden Kanal (46) umfasst.
18. Speichereinrichtung nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass am unteren Ende der Führungsschienen (26) Verschlüsse (80) angeordnet sind, die sich schliessen, damit die integrierten Schaltkreise in den Führungsschienen (26) gehalten werden, und sich öffnen, wenn die dazugehörige Führungsschiene (26") in der Entladestellung ist, so dass eine Abgabe der integrierten Schaltkreise aus der Führungs-. schiene (26) möglich ist.
19. Speichereinrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass die Verschlüsse (80) ein schwenkbar gelagertes Halteteil (80b), elastische Kraftspeicher (84), die die Halteteile (80b) in eine geschlossene Stellung drücken, und Nockenteile (86) umfassen, die die Halteteile (80b) gegen die Wirkung der elastischen Kraftspeicher (84) in eine offene Stellung verschwenken.