DE3338868A1 - Bildverarbeitungseinrichtung - Google Patents
BildverarbeitungseinrichtungInfo
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- H04N1/405—Halftoning, i.e. converting the picture signal of a continuous-tone original into a corresponding signal showing only two levels
- H04N1/4055—Halftoning, i.e. converting the picture signal of a continuous-tone original into a corresponding signal showing only two levels producing a clustered dots or a size modulated halftone pattern
- H04N1/4058—Halftoning, i.e. converting the picture signal of a continuous-tone original into a corresponding signal showing only two levels producing a clustered dots or a size modulated halftone pattern with details for producing a halftone screen at an oblique angle
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Bildverarbeitungseinrichtung zur Reproduktion eines Bilds wie eines in Punkte
aufgeteilten Textes bzw. einer in Punkte aufgeteilten Vorlage.
Bei einer Bildverarbeitungseinrichtung, bei dem ein Streuverteilungs-
bzw. Dither-Verfahren angewandt wird, wird
bei der Reproduktion eines Textes bzw. einer Vorlage gleichförmiger Dichte aufgrund einer Winkeldifferenz
zwischen einem Rasterwinkel der in Punkte aufgeteilten Vorlage und einem Wiederholungsreihenwinkel bzw. Reihen-Wiederkehrwinkel
einer Dither-Matrix ein Moire'-Muster
Hervorgerufen. Infolgedessen wird ein unruhiges Bild reproduziert.
Zur Lösung dieses Problems kann das Auflösungsvermögen der Bildverarbeitungseinrichtung so gesteigert werden,
A/22
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-b- DE 3423
daß es geringer als ein Bildelement eines Punktes ist. Beispielsweise kann für einen Farbdruck mit acht Rasterlinien
je mm zum Reproduzieren eines Bilds mit 64 Dichtegraden eine Vorlage mit einem Auflösungsvermögen von (1/8
ο
χ 1/8 ) mm gelesen werden und das Vorlagenbild mit einem konstanten Schwellenwert verglichen bzw. bewertet werden.
Mit der gegenwärtig verfügbaren Technologie ist es jedoch schwierig, eine derart hohe Auflösung zu erzielen. Ferner
ist es schwierig, dieses Verfahren, bei dem das Bild für die digitale Abbildung nach dem konstanten Schwellenwert
bewertet wird, zur Reproduktion eines Bilds mit vielen Tönungen bei einer Vorlage anzuwenden, die von
der in Punkte aufgeteilten Vorlage verschieden ist J '
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, zur Ausschaltung der vorstehend beschriebenen Unzulänglichkeiten eine
Bildverarbeitungseinrichtung zu schaffen, mit der bei
der Reproduktion eines Vorlagenbilds unter Verwendung eines Dither-Verfahrens ein Moire-Bildmuster unterdrückt
wird, um ein scharfes Mehrtönungsbild zu reproduzieren.
Ferner soll mit der Erfindung eine Bildverarbeitungseinrichtung
geschaffen werden, bei der ein Bild mit hoher Qualität bei einfacher Gestaltung reproduziert werden
k arm.
Weiterhin soll bei der erfindungsgemäßen Bildverarbeitungseinrichtung
ein Parameter für die Dither-Umsetzung in Abhängigkeit von einem Rasterwinkel eines eingegebenen
Bilds wählbar sein.
Ferner soll bei der erfindungsgemäßen Bildverarbeitungseinrichtung
ein Bild mit unterdrücktem Moire-Muster reproduzierbar
sein.
BAD ORIGINAL
-6- DE 3423
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausfuhrungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert
.
Fig. 1 ist eine Darstellung, die einen Rasterwinkel eines Punktebilds veranschaulicht.
Fig. 2A bis 2C sind Darstellungen, die Reihenwinkel·
von Dither-Matrizen zeigen.
10
10
Fig. 3A bis 5C stellen verschiedene Dither-Matrizen
dar, die bei der Bildverarbeitungseinrichtung
verwendet werden.
Fig. 6 und 7 zeigen jeweils ein Schaltbild eines Ausführungsbeispiels der Bildverarbeitungseinrichtung
.
Fig. B bis 10 zeigen Laserstrahldrucker.
20
20
Fig. HA und HB sind Darstellungen zur Erläuterung
eines Dither-Verfahrens und eines Dichtemuster-Verfahrens.
Die ,Fig. 1 ist eine Darstellung zur Erläuterung eines
Rasterwinkels eines in Punkte aufgeteilten bzw. Punktebilds. Jedes der Punktelemente ist durch einen kleinen
Kreis dargestellt, wobei eine Reihe dieser Punktelemente
unter einem Winkel von 45 entgegen dem Uhrzeigersinn in Bezug auf eine Grundlinie F-F1 versetzt ist. Eine
derartige Anordnung von Punktelementen wird Raster genannt, so daß der Winkel des Rasters als "Rasterwinkel
45°" bezeichnet wird. Daher stellt in der Fig. 1 eine Linie A-A' den Rasterwinkel dar. Nimmt man an, daß
der Abstand zwischen den Punktelementen auf der Linie
BAD ORIGINAL
DE 3423
A-A1 "i" ist, so entsprechen die Abstände zwischen
den Punktelementen auf Linien D-D1, A-A', C-C und B-B' und Winkel Qs der jeweiligen Linien jeweils den
in der nachstehendne Tabelle 1 angeführten.
Linie
Abstände
Linienwinkel Gs ()
D-D' | 2 | ,2 |
A-A' | 1 | |
C-C | 2 | ,2 |
B-B' | 1 | ,4 |
18,5 45
71,5 90
Die Abstände zwischen den Punkten (Punktelementen bzw. Bildelementen) des Rasters werden manchmal als Reihenstärke
bzw. Reihendichte bezeichnet. Wenn die Abstände zwischen den Punktelementen gleich "1" sind, ist die
Reihe eine dichte Reihe. Der Winkel des Rasters unter diesen Bedingungen wird als Rasterwinkel bezeichnet.
Im Allgemeinen wird ein Moire-Muster hervorgerufen,
wenn -zwei Parallellinien-Gruppen einander unter einem
bestimmten Winkel schneiden. Nimmt man an, daß P1 der
Abstand zwischen den Linien der ersten Parallelliniengruppe ist, ρ« der Abstand zwischen den Linien der zweiten
Parallelliniengruppe ist und θ der Schnittwinkel ist,
dann ist ein Teilungsabstand ρ des Moire-Musters gegeben
durch
ρ =
P1P
VJ2
VP1 +P2 - 2p]:p2cos0
(O'
90'
BAD ORIGINAL
-B- DE 3423
Bei der Anwendung dieser beiden Parallelliniengruppen
an dem Punktemuster-Raster nach Fig. 1 entspricht ρ dem Abstand zwischen den Linien (wechselseitigen bzw.
Teilungsabstand) des Rasters in dem Punktemuster, während
b ρ einer Abmessung einer später beschriebenen Grund-Dither-Matrix
entspricht. Der Schnittwinkel θ entspricht dem Unterschied zwischen einem Reihenwiederkehrwinkel
bzw. Wiederholungsreihenwinkel Qd der Grund-Dither-Matrix und einem Rasterwinkel Qs des Punktemusters.
Das Punktemusterraster kann als aus orthogonalen bzw. zueinander senkrechten Parallelliniengruppen bestehend
betrachtet werden und die Grund-Dither-Matrix kann gleichfalls als orthogonale Parallelliniengruppen angesehen
werden. Daher enthält das sich ergebende Mo ire'-Muster diese beiden Liniengruppen.
Je großer der Teilungsabstand ρ des Moire-Musters ist, um so unruhiger ist das Bild und um so unangenehmer
ist es für das menschliche Sichtempfinden.
Zur Verkleinerung des Teilungsabstands ρ des Moire-Musters muß mindestens einer der Werte ρ oder ρ verkleinert
werden oder der Schnittwinkel θ nahe an 90° gebracht werden. Da jedoch der Linienzwischenabstand P1 des
Rasters durch das Text- bzw. Vorlagenbild bestimmt ist, und die Abmessung der (nachstehend vereinfacht
als Dither-Matrix bezeichneten) Grund-Dither-Matrix von der Tönung bzw. Gradation abhängt, ist es nicht
praktisch bzw. praktisch nicht möglich, mindestens einen der Werte p- und p„ zu verkleinern.
Um den Schnittwinkel θ auf 90° zu bringen, ist es anzustreben,
den Wiederholungsreihenwinkel der Dither-Matrix bei Fig. 1 um 90° in Bezug auf den Rasterwinkel zu
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versetzen. Da jedoch das Raster und die Dither-Matrix
des Punktebilds in Matrixform angeordnet sind, besteht
eine dichte Reihe der Punktelemente mit den gegenseitigen
Abständen "1" auf einer Linie A"-A'", die um 90° gegenüber der Linie A-A1 versetzt ist. Selbst wenn daher der
Wiederholungsreihenwinkel der Dither-Matrix in Bezug auf den Rasterwinkel um 90 versetzt werden würde,
wäre dies äquivalent zu dem Fall , daß der Winkel nicht versetzt wäre.
10
10
Infolgedessen ist der mögliche Bereich für den Schnittwinkel θ gi_eich 0 ^ θ ==k 45°, wobei das Moire'-Muster
bei θ = 45 am schwächsten ist.
Gemäß der Darstellung in der Tabelle 1 besteht auf der Linie B-B1 eine Aufreihung mit Abständen 1,4, auf
der Linie C-C eine Aufreihung mit den Abständen 2,2 und auf der Linie D-D' eine Aufreihung mit den Abständen
2,2. Infolgedessen treten zwischen der Dither-Matrix und diesen Reihenanordnungen Interferenzen auf. Obzwar
diese . Interferenzen geringer als die Interferenz der Anordnung auf der Linie A-A1 ist, sollte keine Überlappung
mit dem Wiederholungsreihenwinkel der Grund-Dither-Matrix bestehen.
.
In den Fig. 2A bis 2C sind jeweilige Wiederholungsreihenwinkel
einer Dither-Matrix DMl dargestellt. Die Dither-Matrix DMl mit 4 Zeilen χ 4 Spalten hat gemäß der
Darstellung in Fig. 2A 16 Schwellenwerte a bis p. Die Matrix wird gemäß der Darstellung in Fig. 2B wiederholt
horizontal und vertikal auf dem Text- bzw. Vorlagenbild abgetastet. Betrachtet man beispielsweise den Schwellenwert
f, so kann eine die Vielzahl der horizontal verteilten Schwellenwerte f verbindende Linie F-F1 als Grundlinie
angesehen werden.
DE 3423
Die Fig. 2C zeigt verschiedenerlei Anordnungs- bzw.
Keihenlinien, die im Uhrzeigersinn gegenüber der Grundlinie
F-F1 geschwenkt sind. Die kleinen Kreise stellen die Schwellenwerte f der in Fig. 2A gezeigten Dither-Matrix
dar.
Gemäß der Darstellung in Fig. 2C sind eine Reihenlinie
E-E' und F-F' Linien dichter Reihen mit den Schwellenwert -Abständen "1". Infolgedessen ist der Wiederholungsreihenwinkel
der Dither-Matrix durch Reihenlinien F-F1 , G-G1, H-H1, I-I1, J-J1 und K-K1 dargestellt. Die nachstehende
Tabelle 2 zeigt den Zusammenhang zwischen den Wiederholungsreihenwinkeln Qd der in Fig. 2A
gezeigten Dither-Matrix DMl und der Reihendichte, nämlich den Schwellenwert-Abständen.
Tabelle 2 | Od (O) | |
18,5 | ||
Rei henlinie | Abstände | 26,5 |
G-G' | 3,2 | 45 |
H-H ' | 2,2 | 63,5 |
I-I1 | 1,4 | 71,5 |
J-J' | 2,2 | 90 |
K-K' | 3.2 | |
E-E' | 1 | |
Durch die Digitalisierung des in Fig. 1 gezeigten Punktemusters unter Anwendung der in Fig. 2 gezeigten Dither-Matrix
DMl wird ein sehr starkes Moire-Muster dann hervorgerufen, wenn der Rasterwinkel und der Wiederholungsreihenwinkel
der Dither-Matrix einander gleich sind. Beispielsweise fällt die dichteste Reihenlinie
-11- DE 3423
A-A1 des Punktemusters mit der (zweitdichtesten) Reihenlinie
I-I1 der Dither-Matrix zusammen, während gleichermaßen
die Linie B-B1 des Punktebilds mit der Reihenlinie E-E1 zusammenfällt, die Linie D-D1 des Punktebilds mit der Reihenlinie G-G1 zusammenfällt und die Linie C-C des Punktebilds mit der Reihenlinie K-K' zusammenfällt. Infolgedessen wird ein sehr starkes Moire-Muster hervorgerufen.
die Linie B-B1 des Punktebilds mit der Reihenlinie E-E1 zusammenfällt, die Linie D-D1 des Punktebilds mit der Reihenlinie G-G1 zusammenfällt und die Linie C-C des Punktebilds mit der Reihenlinie K-K' zusammenfällt. Infolgedessen wird ein sehr starkes Moire-Muster hervorgerufen.
Es wird nun eine in Fig. 3A gezeigte Dither-Matrix DM2 bei dem Text bzw. der Vorlage für das in Fig. 1
gezeigte Punktebild angewandt. In der Fig. 3A sind mit a-q die verschiedenen Schwellenwerte in der Dither-Matrix
DM2 bezeichnet. Die kleinen Kreise in FjLg. 3C stellen den Schwellenwert f der in Fig. 3A gezeigten
Dither-Matrix DM2 dar. Die Fig. 3B zeigt die Anordnung der Dither-Matrix DM2 nach Fig. 3A. Der Zusammenhang
zwischen dem Wiederholungsreihenwinkel Öd (in °) und
der Reihendichte, nämlich den Schwellenwert-Abständen dieser Dither-Matrix ist in der nachstehenden Tabelle
3 dargestellt.
Reihenlinie | Abstände | "<J (°) |
G-G' | 3,2 | 4,4 |
H-II' | 2.. 2 | 12.5 |
r-i1 | 3,6 | 19,6 |
J-J · | 1 . 4 | 31 |
K-K1 | 3,7 | 42 |
L-L' | 2,2 | 4 9.5 |
M-M' | 3,2 | 57. 5 |
N-N' | 1 | 7 6 |
BAD ORIGINAL
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Gemäß der Darstellung in der Tabelle 3 ist die dichteste Reihe mit den Schwellenwert-Abständen "1" diejenige
der Reihenlinie N-N1, wobei der Winkel Öd gleich 76° ist; vergleichen mit den in der Tabelle 1 dargestellten
Linien des Punktebilds ist die Linie um . ungefähr 30° gegenüber der dichtesten Reihenlinie A-A1 versetzt.
Es liegt keine Reihe mit Abständen von mehr als "3" vor, deren Wiederholungsreihenwinkel öd mit dem Winkel
θs der in der Tabelle 1 aufgeführten Linien übereinstimmt.
Daher kann unter Verwendung der in Fig.3 gezeigten Dither-Matrix DM2 das durch die Vorlage des Punktebilds
mit dem Rasterwinkel von 45° hervorgerufene Moire-Muster unterdrückt werden.
Die Fig. 4A zeigt eine Dither-Matrix DM3, bei der die
dichteste Reihenlinie mit den Schwellenwert-Abständen "1" in Bezug auf eine Grundlinie F-F1 um 45° versetzt
ist. In der Fig. 4A sind mit a bis r die verschiedenen Schwellenwerte in der Dither-Matrix bezeichnet. Die
Fig. 4B zeigt eine Anordnung der in Fig. 4A gezeigten Dither-Matrizen. Die kleinen Kreise in Fig. 4C stellen
die Schwellenwerte f der in Fig. 4A gezeigten Dither-Matrix DM3 dar. Der Zusammenhang zwischen den Wiederholungsreihenwinkeln
der Dither-Matrix und der Reihendichte, nämlich den Schwellenwert-Abständen ist in der nachstehenden
Tabelle 4 dargestellt.
BAD ORIGINAL
10
-13- | ed | DE | (°) | 3338868 | I | |
Tabelle 4 | 3.1.3 | 3423 | ||||
16.7 | ||||||
Abstände | 26,5 | 1 | ||||
Reihenlinie | 2,6 | 45 | ||||
G-G" | 2,2 | 63,5 | ||||
H-H' | 3,2 | 71,5 | ||||
I-I1 | 1 | 78,7 | ||||
J-J' | 3,2 | 90 | ||||
K-K' | 2,24 | |||||
L-L1 | 3.6 | |||||
M-M' | 1 ,45 | |||||
N-N' | ||||||
20 25 30
Im Allgemeinen wird ein Mehrfarbentext bzw. eine Mehrfarbenvorlage
unter Verwendung eines Gelbrasters, eines Magentarasters und eines Cyanrasters reproduziert.
Diese drei Raster haben unterschiedliche RasterwinkeL Wenn daher eine derartige Vorlage mit Filtern farblich
zerlegt werden soll und ein Bild hiervon nach dem Dither-Verfahren reproduziert werden soll, ist es erforderlich,
für die jeweiligen Farben (bzw. Rasterwinkel) Dither-Matrizen
zum Unterdrücken des Moire-Musters bereitzustel
len, ο
Die üblicherweise angewandten Rasterwinkel sind
45 gemäß der Darstellung in Fig. 1, 15 und 75
Die
nachstehende
Tabelle 5 veranschaulicht
.ο
von Punktelementen mit Rasterwinkeln von 15 und 75
Anordnungen .o
35
BAD ORIGINAL
-14- | 3338868 | e 5 | |
Tabel] | DE 3423 | ||
Abstände | Linienwinkel 0s | ||
1 | 15 | ||
Kasterwinkel ι (°) |
2.2 | 41.5 | |
1.4 | 60 | ||
2.2 | 78.5 | ||
15 | 2.2 | 1.1.5 | |
1.4 | 30 | ||
2.2 | 48.5 | ||
1 | 75 | ||
75 | |||
Wie aus der Tabelle 5 zu ersehen ist, tritt dann, wenn
der Rasterwinkel des Punktebilds 15° beträgt, die dichte-
ste Reihe bei 6s = 15
auf, während die zweitdichteste
Reihe bei Qs = 60w auftritt. Bei diesen Reihen bzw.
Linienwinkeln ist die Möglichkeit der Interferenz mit der Üither-Matrix hoch.
Gleichermaßen
Punktebilds
r,r- O
tritt ο
dann, wenn · der Rasterwinkel des 75" beträgt, die dichteste Reihe bei Qs
auf, während die zweitdichteste Reihe bei Qs = 30 auftritt. Für diese Linienwinkel ist die Möglichkeit
der Interferenz mit der Dither-Matrix hoch.
Anhand der Fig. 4 und der Tabelle 4 ist es aus dem Vergleich zwischen der Tabelle 4 und der Tabelle 5
ersichtlich, daß die in Fig. 4 gezeigte Dither-Matrix
BAD ORIGINAL
DE 3423
DM3 eine ausreichend große Wirkung hinsichtlich der Unterdrückung des Moire-Musters bei Vorlagen für Punktebilder
mit Rasterwinkeln von 15 und 75 hat. Dies erweist sich dadurch, daß aufeinanderfolgend die Linienwinkel
des Punktbilds mit dichter Reihe und die Wiederholungsreihenwinkel der Dither-Matrix mit der dichten
Reihe verglichen werden.
Die Fig. 5A zeigt eine Dither-Matrix DM4, bei der die dichteste Reihenlinie um 63,5 gegenüber der Grundlinie
F-F1 versetzt ist. In der Fig. 5A sind mit a bis t die verschiedenen Schwellenwerte in der Dither-Matrix
bezeichnet. Die Fig. 5B zeigt die Wiederholungsanordnung der Dither-Matrix DM4. Die kleinen Kreise in Fig.
I" ι
5C stellen die Schwellenwerte f der in Fig. 5A gezeigten
Dither-Matrix dar. Aus dem gleichen Grund wie dem in Verbindung mit Fig. 4 beschriebenen hat gleichermaßen
wie die in Fig. 4 gezeigte Dither-Matrix die Dither-Matrix nach Fig. 5 die Wirkung, das Moire-Muster für
Rasterwinkel von 15 und 75 zu unterdrücken. Die nachstehende Tabelle 6 zeigt den Zusammenhang zwischen dem
Reihenwinkel der Dither-Matrix DM4 und der Reihendichte, nämlich den Schwellenwert-Abständen.
Reihenlinie G-G'
H-H1 X-I1
J-J1 K-K1 L-L1
M-M1 N-N1
Abstände 3,5 |
ed (°) 7,1 |
1.4 | 18, 3 |
3,5 | 30 |
2,2 | 37 |
3.2 | 45 |
1 | 63, 5 |
3,2 | B2 |
2,2 | 90 |
BAD ORIGINAL
-16- DE 3423
Die in Fig. 2 gezeigte Dither-Matrix ist eine 4 Zeilen
χ 4 Spalten-Matrix, die die Darstellung von 16 Tönungen bzw. Gradationsstufen ermöglicht, während die in Fig.
3 gezeigte Dither-Matrix eine Matrix ist, die die Darstellung von 17 Tönungen ermöglicht und die Äquivalenz-Dimensionen
von 4,12 Zeilen χ 4,12 Spalten hat. Auf gleichartige Weise ermöglichen die in den Fig. 4 und
5 gezeigten Dither-Matrizen die Darstellung von 18 bzw. 20 Tönungen, wobei sie jeweils Äquivalenz-Dimensionen
von 4,24 Zeilen χ 4,24 Spalten bzw. 4,47 Zeilen χ 4,47 Spalten haben. Infolgedessen bestehen keine großen
Unterschiede hinsichtlich der Tönungsstufung und des Auflösungsvermögens zwischen diesen Dither-Matrizen,
so daß sie austauschbar sind.
Die Fig. 6 ist ein Schaltbild eines Ausführungsbeispiels der Bildverarbeitungseinrichtung. Mit 1 ist eine Festkörper-Bildauf
nahmevorrichtung bzw. ein Bildwandler wie eine Ladungskopplungsvorrichtung (CCD) zum Lesen
eines Textbilds bzw. Vorlagenbilds bezeichnet. Mittels des Bildwandlers 1 gelesene Bilddaten werden mittels
eines nicht gezeigten A/D-Wandlers in ein digitales Signal umgesetzt, das einem Vergleicher 2 zugeführt
wird, der ein Ausgangssignal aus einem von Dither-Matrix-Signalgebern 5, 6 und 7, der mittels eines Multiplexers
4 angewählt ist, mit dem Ausgangssignal des Bildwandlers 1 vergleicht und ein binäres Pünktedrucksignal einem
Drucker 3 zuführt.
Die Dither-Matrix-Signalgeber 5, 6 und 7 können Festspeicher (ROM) sein.
Die Signalgeber 5, 6 und 7 erzeugen Dither-Matrix-Signale mit unterschiedlichen Wiederholungsreihenwinkeln gemäß
den Darstellungen in Fig. 3, 4 bzw. 5.
BAD ORIGINAL
-17- DE 3423
Ein Wählsignal 8, das an den Multiplexer 4 zum Wählen einer der Dither-Matrizen mit den unterschiedlichen
Wiederholungsreihenwinkeln entsprechend dem gelesenen Vorlagenbild angelegt wird, kann ein Farbtrennungssignal
eines Dreifarbenfilters sein. Auf diese Weise wird eine der Dither-Matrizen automatisch entsprechend dem
verwendeten Filter (Farbauszug) gewählt.
Die Fig. 7 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel, bei
dem anstelle des Wählsignals nach Fig. 6 ein von Hand bedienbarer Wählschalter 9 verwendet wird. Nach Fig.
7 wählt die Bedienungsperson eine der Dither-Matrizen entsprechend dem Textbild bzw. Vorlagenbild (wie beispielsweise
entsprechend den Farben eines Farbbilds). Die anderen Betriebsvorgänge sind mit denjenigen nach
Fig. 6 identisch.
Als ein Beispiel für den Drucker 3 ist in den Fig. 8, 9 und 10 ein Laserstrahldrucker gezeigt. In den
Fig. 8 und 9 ist mit HA eine fotoempfindliche Trommel
bezeichnet, während mit HB eine Übertragungstrommel bezeichnet ist. Die Trommeln werden in Pfeilrichtung
in Umlauf versetzt. Ein Primärlader 12, ein Belichtungsentlader 13, eine Totalbelichtungseinheit 14, eine
Entwicklungseinheit 15, ein Übertragungslader 16 und
eine Reinigungseinheit 17 sind in dieser Aufeinanderfolge in der Drehrichtung der fotoempfindlichen Trommel HA
angeordnet. Mit 18 ist ein Teil einer Lichtstrahlen-Ablenkeinheit eines in Fig. 10 gezeigten optischen
Systems gezeigt, der vor einer Kondensorlinse 19 liegt.
Die Einzelheiten des optischen Systems sind in der Fig. 10 gezeigt. Von einem Halbleiter-Laser 23 abgegebene
Lichtstrahlen werden mittels einer Kollimatorlinse 24 kollimiert und fallen auf einen Polygonaldrehspiegel
-18- DE 3423
25, der mit hoher Drehzahl umläuft. Die auf den Polygonaldrehspiegel
2b fallenden Lichtstrahlen werden von einer Fläche 25-1 der Spiegelreflexionsflächen reflektiert
und durch die als Fokussiervorrichtung dienende Kondensorö linse 19 auf der fotoempfindlichen Trommel HA fokussiert.
Auf diese Weise wird eine Hauptabtastung entsprechend dem Reflexionswinkel der Spiegelreflexionsfläche 25-1
bei dem Umlauf des Polygonaldrehspiegels 25 herbeigeführt.
Eine Unterabtastung wird durch die Drehung der fotoempfindlichen Trommel HA ausgeführt. Dem Halbleiter-Laser
23 wird über eine nicht gezeigte Treiberstufe das Signal aus dem Vergleicher 2 zugeführt, wodurch mittels der
hinsichtlich der Intensität modulierten Laserstrahlen ein Bild auf der fotoempfindlichen Trommel HA erzeugt
wird.
Zum Erzeugen eines Horizontalsynchronisiersignals zur Zeitsteuerung für eine Anfangsstelle der Hauptabtastung
werden die Lichtstrahlen über einen Spiegel 21 auf einen Lichtdetektor 22 gerichtet, wenn die Lichtstrahlen
etwas außerhalb der Anfangsstelle für die Haupt-Strahlenüberstreichung abtasten. Das Horizontalsynchronisiersignal
wird erzeugt, wenn das Licht auf den Lichtdetektor 22 gerichtet wird. Eine vorbestimmte Zeit nach der
Erzeugung des Horizontalsynchronsiersignals wird dem Halbleiterlaser 23 über die nicht gezeigte Treiberstufe
das Signal aus dem Vergleicher 2 zugeführt.
Gemäß Fig. 8 und 9 wird mittels des Primärladers 12 eine Gleichstrom-Koronaentladung an der Oberfläche
der umlaufenden fotoempfindlichen Trommel HA ausgeführt,
um das fotoempfindliche Material an der Oberfläche der Trommel HA gleichförmig positiv oder negativ zu
laden. Mittels des Belichtungsentladers 13 wird an dem fotoempfindlichen Material eine Wechselstrom-Korona-
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-19- DE 3423
entladung oder eine Gleichstrom-Koronaentladung mit
zur Primärladung entgegengesetzten Polarität ausgeführt, während die mittels des Polygonaldrehspiegels 25 zur
Hauptabtastung abgelenkten Lichtstrahlen die fotoempfindliche Trommel 11A überstreichen, um an dieser ein
elektrostatisches Ladungsbild zu erzeugen. Danach wird das Ladungsbild an dem fotoempfindlichen Material mittels
der Totalbelichtungseinheit 14 wie einer Fluoreszenzlainpe
gleichförmig belichtet, so daß zwischen einem Bereich, auf den die abgelenkten Lichtstrahlen aufgetroffen
sind, und einem Bereich, auf dem keine Lichtstrahlen aufgetroffen sind, eine hohe Oberflächenpotential-Differenz
hervorgerufen wird; damit wird an der fotoempfindlichen
Trommel! HA ein Ladungsbild mit hohem Kontrast erzeugt.
Das Ladungsbild mit dem hohen Kontrast wird mittels der Entwicklungseinheit 15 entwickelt. Die Entwicklung
kann nach einem Magnetbürstenverfahren oder einem FeIlbürstenverfahren
vorgenommen werden. Ein Tonerbild wird dann mittels des Übertragungsladers 16 auf Papier
übertragen, das auf die Übertragungstrommel HB gewickelt
ist. Die Entwicklungseinheit 15 weist drei Einheiten 15Y für Gelb, 15M für Magenta und 15C für Cyan auf
(Fig·, 9); durch drei Entwicklungsdurchläufe, nämlich drei Umläufe der fotoempfindlichen Trommel HA wird
ein einzelnes Farbbildblatt auf das auf die Übertragungstrommel
HB gewickelte Papier übertragen. Nach der Übertragung wird die fotoempfindliche Trommel HA durch
Abstreifen zurückgebliebenen Toners mittels einer Walze
der Reinigungseinheit 17 gereinigt.
Der als ein Beispiel für den Drucker 3 gezeigte Laserstrahldrucker
ist bekannt, so daß hier eine weitere Beschreibung weggelassen wird.
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Als Beispiel für den Drucker 3 wurde zwar der Laserstrahldrucker gezeigt und beschrieben, jedoch kann statt
dessen ein Tintenstrahldrucker oder ein Thermodrucker verwendet werden.
Es wird nun das Streuverteilungs- bzw. Dither-Verfahren bei der erfindungsgemäßen Bildverarbeitungseinrichtung
beschrieben.
Im Allgemeinen werden gemäß der Darstellung in den
Fig. HA und HB bei dem Dither-Verfahren bzw. einem Dichtemuster-Verfahren jeweilige Bildelemente 38 eines
eingegebenen Bilds mit jeweiligen Elementen einer Schwellenwertmatrix 35 verglichen, um Weißpunkte bzw. Schwarzpunkte
in Abhängigkeit davon zu bestimmen, ob die Bildelement-Werte größer oder kleiner als die Schwellenwerte
sind, wobei die sich ergebenden Punkte einem Sichtraster bzw. Anzeigeraster 36 zugeführt werden. Die Fig. HA
zeigt das Dither-Verfahren, bei dem jedes Eingabe-Bildelement 38 mit einem entsprechenden Element der Schwellenwertmatrix
(Dither-Matrix) 35 verglichen wird. Die
Fig. HB zeigt das Dichtemuster-Verfahren, bei dem
jedes Eingabe-Bildelement 38 mit allen Elementen der Schwellenwertmatrix 35 verglichen wird. Daher wird
bei dem Dichtemuster-Verfahren eine Bildzelle des Eingabebilds durch mehrere Zellen im Anzeigeraster 36 dargestellt.
Der einzige Unterschied zwischen dem Dither-Verfahren und dem Dichtemuster-Verfahren besteht darin, daß bei
dem ersteren jedes Eingabe-Bildelement mit einem Element der Schwellenwertmatrix verglichen wird, während es
bei letzterem mit allen Elementen der Schwellenwertmatrix verglichen wird. Daher besteht kein wesentlicher Unterschied
zwischen den Verfahren. Es ist auch ein Zwischen-
BAD ORIGINAL
-21- DE 3423
verfahren möglich, bei dem jedes Eingabe-Bildelement
mit einer bestimmten Anzahl von Elementen der Schwellenwertmatrix verglichen wird (wie beispielsweise mit
2x2 = 4 Elementen nach Fig. HB).
i
Da zwischen diesen Verfahren kein wesentlicher Unterschied besteht, werden hier das Dither-Verfahren, das Dichtemuster-Verfahren
uind das Zwischenverfahren als Dither-Verfahren bezeichne]:. Die bei dem Dither-Verfahren verwendete
Schwellenwertmatrix wird als Dither-Matrix bezeichnet.
Da bei der erfindungsgemäßen Bildverarbeitungseinrichtung
gemäß den vorstehenden Erläuterungen aus mehreren Dither-Matrizen mit unterschiedlichen V/iederholungsreihenwinkeln
eine geeignete Matrix gewählt werden kann, kann das Moire-Muster mit einer einfachen Gestaltung unterdrückt
werden. Die erfindungsgemäße Bildverarbeitungseinrichtung ist insbesondere dann wirkungsvoll, wenn eine Vorlage
mit unterschiedlichen Rasterwinkeln, nämlich insbesondere eine Farbvorlage reproduziert werden soll.
Es wird eine Bildverarbeitungseinrichtung angegeben, die eine Einrichtung zum Lesen eines Vorlagenbilds
für das Erzeugen von Bilddaten und eine Einrichtung zum Digitalisieren der Bilddaten aufweist. Die Digitalisierelnrichtung
enthält eine Dither-Umsetzeinrichtung für das Umsetzen der Bilddaten nach dem Dither-Verfahren
und eine Eingabeeinrichtung zur Eingabe eines Signals in die Dither-Umsetzeinrichtung, mit dem entsprechend
einem Rasterwinkel des Vorlagenbilds ein Parameter für die Dither-Umsetzung bestimmt wird.
BAD ORIGINAL
Claims (10)
1. Bildverarbeitungseinrichtung, gekennzeichnet durch eine Lesevorrichtung (1) zum Lesen eines Vorlagenbilds
für das Erzeugen von Bilddaten und eine Digitalisiereinrichtung zum Digitalisieren der Bilddaten mit
einer Dither-Umsetzeinrichtung (2, 4 bis 7) für das Umsetzen der Bilddaten nach dem Dither-Verfahren und einer
Eingabeeinrichtung (8,9) für die Eingabe eines Signals
in die Umsetzeinrichtung für das Bestimmen eines Parameters der Umsetzung entsprechend einem Rasterwinkel
( b*s) des Vorlagenbilds· i
2. Bildverarbeitungseinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Eingabeeinrichtung (9) ein von Hand bedienbarer Schalter ist.
3. Bildverarbeitungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Dither-Umsetzeinrichtung
(2, 4 bis 7) entsprechend dem eingegebenen Signal eine von Dither-Matrizeri mit unterschiedlichen
Wiederholungsreihenwinkeln ( Gu) wählbar ist.
A/22 Baril· .Mnncluml Mn
Vi*M>msh.uik tMurif lu-tn Hu ftf JH'Ml
BAD ORIGINAL
ui.k (MuMihi-ni KIu ti'c ΛΛ H· 1
-2- DE 3423
4. Bildverarbeitungseinrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Dither-Urnsetzeinrichtung
(2, 4 bis 7) einen Festspeicher (5 bis 7) zum Speichern von Üither-Matrizen aufweist.
5. ßildverarbeitungseinrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Dither-Umsetzeinrichtung
(2, 4 bis 7) einen Vergleicher (2) zum Vergleichen der Bilddaten mit einem Schwellenwert einer gewählten
Dither-Matrix aufweist.
6. Bildverarbeitungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis b, dadurch gekennzeichnet, daß die Lesevorrichtung
(1) eine Festkörper-Bildaufnahmevorrichtung aufweist.
7. Bildverarbeitungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, gekennzeichnet durch einen Drucker (3)
zum Aufzeichnen eines Bilds entsprechend den digitalisierten Bilddaten.
8. Bildverarbeitungseinrichtung, gekennzeichnet
durch eine Vorrichtung (1) zur Eingabe von Bilddaten und eine Digitalisiereinrichtung zum Digitalisieren der
Bilddaten mit einer Dither-Umsetzeinrichtung (2, 4 bis 7) zur Dither-Umsetzung der Bilddaten und einer Eingabeeinrichtung
(8,9) für die Eingabe eines Signals in die Dither-Umsetzeinrichtung zum Bestimmen eines Dither-Umsetzungsparameters
für das Unterdrücken einer Moire-Erscheinung.
9. Bildverarbeitungseinrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Eingabeeinrichtung (9)
ein von Hand bedienbarer Schalter ist.
BAD ORIGINAL
-3- DE 3423
1
10. Bildverarbeitungseinrichtung nach Anspruch oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Dither-Umsetzeinrichtung
(2, 4 bis 7) entsprechend dem eingegebenen Signal eine von Dither-Matrizen mit unterschiedlichen
5 V/iederholungsreihenwinkeln ( ^d) wählbar ist.
BAD ORIGINAL
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