DE3329096A1 - Direktzugriffsspeicher - Google Patents
DirektzugriffsspeicherInfo
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Description
-G-
Direktzugri ffsspeicher
BESCHREIBUNG
Die Erfindung betrifft einen Direktzugriffsspeicher (im folgenden
auch "RAM", Random Access Memory genannt) mit Feldeffekttransistoren (im folgenden als "FET" benannt). Sie
betrifft insbesondere eine verbesserte Wortleitungstreiberschaltung
für ein solches RAM.
Fig. 1 zeigt als schernatisches Schaltkreisdiagramm einen
Teil eines konventionellen RAM, der vier Bit Speicherzellen
aufweist, wobei jedes Bit einen Signal-FET, einen Adressendecoder
zur Auswahl dieser Speicherzellen und einen Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreis
hat. In Fig. 1 werden diese Speicherzellen mit (la) bis (Id) bezeichnet, wobei jede
einen Speicherkondensator (2) mit einem geerdeten Anschluß zum Speichern von Daten eines logischen Wertes "1" oder
"0" ("1" oder "0" stellt im folgenden immer den logischen
Wert dar) und einen 5ehalt-FET (3), dessen Hauptelektrode mit dem anderen Anschluß des Speicherkondensators (2) verbunden
ist zum Lesen, Schreiben oder Aufrechterhalten der Daten am Speicherkondensator (2) aufweist. Eine Bit-Leitung (4) ist
mit den anderen Häuptelektroden der Schalt-FETs (3) der
Speicherzellen (la) und (Ic) zur Übertragung der Daten von und zu den Speicherzellen (la) und (Ie) verbunden. Eine
Wortleitung (5) wird mit einem Signal zum An- und Abschalten der Schalt-FETs (3) der Speicherzellen (la) und (Ib)
332909t
gespeist und führt deshalb zu den Gattern oder Steuerelektrode]!
der Schalt-FETs (3). Eine weitere Bit-Leitung (6)
ist für die Speicherzellen (Ib) und (Id) und eine weitere
Wortleitung (7) ist für die Speicherzellen (Ic) und (Id).
Ein Dekoder (8) ist zum Dekodieren von Adressensignalen A1, A1, ...,A und A ,die von einer Familie von An-
XJ. XJ. . ΧΓΊ ΧΠ
Schlüssen (9) zugeführt werden und zum Liefern einer Ausgangsspannung
über eine seiner Ausgangsleitungen (10), (11) usw., aufgebaut. Ein gut bekanntes Beispiel einer solchen
Dekoderschaltung ist in Fig. 2 dargestellt. FETs (12) und (13) sollen an die Wortleitungen (5) und (7) ein WortIeitungs-Startsignal
φ koppeln, das an einen Anschluß (14) gemäß den Pegeln der Ausgangsleitungen (10) und (11) der
Dekoderschaltung (8) geführt wird, während FETs (15) und
(16) Störungen auf den Wortleitungen (5) und (7) eliminieren oder reduzieren sollen, wobei die FETs (15) und (16)
zwischen den Wortleitungen (5) und (7) und Masse jeweils verbunden sind. Ein Abschnitt (20) zeigt einen Pull-Down-Steuerschaltkreis
für die Wortleitungen (5) und (7), dessen Ausgangsleitung (21) mit den Steuerelektroden der PuIl-Down-FETs
(15) und (16) verbunden ist. Weiter sind ein Anschluß (22), an den eine Versorgungsspannung V angelegt
wird, Anschlüsse (23) und (24), an die Taktsignale φ und φ angelegt werden, ein Last-FET (25) zwischen dem Versorgungsanschluß
(22) und der Ausgangs]eitung (21), dessen Steuerelektrode mit dem Versorgungsanschluß (22) verbunden
ist, ein Vorladungs-FET (26), der g.l eicherweise zwischen dem Versorgungsanschluß (22) und der Ausgangsleitung (21)
angeordnet ist und dessen Steuerelektrode mit dem Takteingangsanschluß (23) verbunden ist, ein FET (27) zwischen
der Ausgangsleitung (21.) und einem Knotenpunkt (28), dessen Steuerelektrode mit dem Takteingang.sansch] uß (24) verbunden
3329036
ist, und ein FET (29) zwischen dem Knotenpunkt (28) und Masse, dessen Steuerelektrode mit der Ausgangsleitung (21)
verbunden ist, vorgesehen.
Fig. λ zeigt als Diagramm den zeitlichen Ablauf verschiedener
Signale der Schaltung nach Fig. 1 zur Erklärung ihrer Betriebsweise. Unter Bezugnahme auf Fig. 3 werden die folgenden
Schritte ausgeführt, um eine "1" in die Speicherzelle (la) in Fig. 1 zu schreiben. Ein Zeitraum von tn bis t1 in
Fig. 3 ist eine Vorladungsperiode des Speicherschaltkreises, bei der die Ausgangsleitungen (10) und (11) der Dekoderschaltung
(8) und die Ausgangsleitung (21) der PuIl-Down-Schaltung
(20) mit dem Taktsignal φ vorgeladen werden. Es wird darauf hingewiesen, daß der Pegel des Knotenpunktes
V21 an der Ausgangs!eitung (21) V-V„„ ist, wobei VTH die
Schwellenspannung des Vorladungs-FETs (26) und des FETs
(25) ist und V die Spannung am Stromversorgungsanschluß (22). Da das Wortleitungsfreigabesignal (J)w unter diesen
Bedingungen "0" ist, liegen die Wortleitungen (5) und (7) über die FETs (12) und (13) und die Pull-Down-FETs (15)
und (16) an Masse, mit dem Ergebnis, daß die Potentiale V1- und V der Wortleitungen (5) und (7) "0" sind. Wenn das
Taktsignal (J) auf "0" zum Zeitpunkt t geht, geht das Taktsignal Φ auf den Wert "1", so daß der FET (27) eingeschaltet
wird und der Pegel V„- am Knotenpunkt (21) von V-V„H
?r) auf ungefähr V„,. fällt, wobei V die Versorgungsspannung
an den S tromve:rsorgungsanschluß (2?) und VmiJ die Schwellenspannung
der FETs (^S) und (26) ist. Solch ein Abfall im
Pegel V21 wird durch den Durchlaßwiderstand der FETs (25),
(.?7) und (29) bestimmt. Die Pul 1-Down-Schaltung ist im allgemeinen
mit einem Verhältnis des Durchlaßwiderstandes des FET (25) zu jenen der FETs (27) und (29) von 50:1 bis
ORIGINAL INTSPECTED
100:1 aufgebaut. Daraus folgt, daß das Potential Vp1 an
der Leitung (21) geringfügig höher als V~H ist. Da die FETs
(15) und (16) unter diesen Umständen kaum durchgeschaltet sind, werden die Wortleitungen (5) und (7) durch die Hochwiderstands-FETs
(15) und (16) geerdet. Wenn ein Adressensignal zur Auswahl der Wortleitung (5) zu einem Zeitpunkt
zwischen t- und t„ angelegt wird, nimmt der Pegel des Knotenpunktes
(11) den Wert "0" an und der Knotenpunkt (10) wird auf "1" gehalten. Dies erlaubt, nur den FET (12) im
durchgeschalteten Zustand zu halten. Zum Zeitpunkt t? ändert
sich das Wortleitungsfreigabesignal Φ,, von "0" auf "1" und
diese Änderung bewirkt eine Änderung des Pegels an der Wortleitung (5) von "0" auf "1" über den FET (12). Andererseits
wird die Wortleitung (7) auf Massepotential gehalten, da der FET (13) im Sperrzustand ist. Infolgedessen werden
die FETs (3) der Speicherzellen (la) und (Ib) leitfähig oder nehmen einen Zustand niedriger Impedanz.ein, und das
Speichersystem ist bereit, Daten in die Speicherzellen (la)
und (Ib) zu schreiben. Obwohl der FFJT (Ib) nun in einem
durchgeschalteten Zustand mit niedriger oder schlechter Leitfähigkeit ist, ist das Verhältnis seines Widerstandes
zum Widerstand der Wortleitung (5) auf der Seite des Freigabesignales
sehr groß (über 100:1), so daß ein kleiner oder kein Abfall des Spannungspegels an der Wortleitung
(5) zu sehen ist und die Spannung an der Wort leitung (5) ist gleich V. In Fig. 3,durch V. dargestellt wird ein Eingangsdatensignal
des Pegels "1" zur Bit-Leitung (4) zum Zeitpunkt t„ transferiert. Obwohl die Spannung an der Bit-Leitung
(4) vor dem Zeitpunkt t„ von dem logischen Pegel(den
Daten), der in der Speicherzelle (la) gespeichert ist, abhängt, berührt das die gegenwärtige Erfindung nicht, was
hier aber nicht erklärt werden soll.
-LO-
. Das Ei ngangsdatcnsignal des Pegels "1" wird, über den FET
(3) zum Speicherkondensator (2) geleitet und in den Speicherkondensator (?.) geschrieben mi fc gleichzeitigem Abfall
der Spannungsamplitude um die Schwel J enspannung Vmu des FET
(3), d.h., V—V™,.. Dies ist jedoch unerwünscht, da ein niedriger
Pegel eines in dLe Speicherzelle eingeschriebenen Signales
zu einem niedrigen Pegel eines aus der Speicherzelle : ausgelesenen Signales führt. Um dies zu verhindern ist es
notwendig, den Pegel des Wortleitungsfreigabesignales φ,,
über die Summe der Versorgungsspannung V und der Schwellenspannung VT„ der FETs zu erhöhen. Fig. 4 ist ein Blockschaltkreisdiagramm
eines Beispieles einer konventionellen verbesserten Wortleitungstreiberschaltung, die die obige
Forderung erfüllt. Diese Schaltungsanordnung in Fig. 4
Ib .wf? ist einen Schaltungsblock (30) zum Erzeugen des Wortleitungsf
reigabes ignales φ,,, einen Schaltungsblock (31) zum
Erzeugen eines Boost-SignaLes φρ zum Verstärken des Freigabesignales
φ , ein Ausgangsanschluß (32), einen Boostw
Kondensator (33) zwischen dem Aur.gangsanschluß (14), der
das Freigäbesignal Φw liefert und dem Ausgangsanschluß (32),
der das Boost-Signal φρ liefert, und einen parasitären Kondensator
(34) zwischen dem Ausgangsanschluß (14), der das Freigabesignal φ,, liefert und der Masse auf.
Fig. 5 zeigt. Details der Schaltung nach Fig. 4. Der Schalt.ungsblock
(30) zum Erzeugen des Wo r 1.1 ei tungsf reigabesignales
φ wird von einem ersten Last transistor (302), einem
ersten Treibertransistor (303)ι einem zweiten Lasttransi.
s tor (304), einem zweiten Treibertransistor (305), einem
Lade transistor (306) zum Laden der Gatter-Elektrode des
M) ersten Last transistors (302), einem Transistor (307), der
den ersten Lasttrans is tor (302) während des Boostens ab-
- li - ■ .
schaltet, einem Kondensator (308) zum Boosten der· Gat.ter-
- Spannungen der ersten und zweiten Lasttransistoren (30?) ■' ■'■■'._ und (304), einem mit. dem ersten Last, trän si stör (302) verbundenen
parasitären Kondensator (309), und einem mit dem ersten Knotenpunkt (310) verbundenen parasitären Kondensa-
~ . · tor (311) aufgebaut. .Der Schaltungsblock (31) zum Erzeugen
des Verstärkungssignales φρ und Verstärken des Freigabe-.
signales φ., wird von einer ersten Verstärkungsschaltung
(312) zum Verzögern einer Eingangsspannung und einer zweiten Verstärkungsschaltung (330) zum Verzögern eines Signales
gebildet. Die erste Verstärkungsschaltung (312) besteht aus einem dritten Lasttransistor (313), einem dritten Trei-.
bertransistor (314) zum Bilden einer ersten Inverterstufe •in Kombination mit dem dritten Lasttransistor (313), einem
vierten Lasttransistor (315) und einem vierten Treibertransistor (316), dessen Gatter-Elektrode mit dem zweiten Knoten
(317) zum Bilden einer zweiten Tnverterstufe in Kombination mit dem vierten Lasttransistor (313). Die zweite
Verstärkungsschaltung (330) besteht aus'.einem fünften Lasttransistor
(318), einem fünften Treibertransistor (319), dessen Gate-Elektrode mit einem dritten Knoten (320) zur
Bildung einer ersten Inverterstufe in Kombination mit dem fünften Lasttransistor (318), einem sechsten Lasttransistor
(321), einem siebten Treibertransistor (322), dessen Gate mit einem fünften Knoten (323) zur Bildung einer zweiten
Inverterstufe in Kombination mit dem sechsten Lasttransistor (321) verbunden ist, einem Transistor (324) zum Laden der
Gate-Elektrode des sechsten Lasttränsi stors (Ί?1) und einem
Bootstrap-Kondensator (326) zwischen der Gate-Elektrode
des sechsten Lasttransistors (321) und einem fünften Knoten (325). In Fig. 5 sind v/eil.er ein Steuereingangsanschluß
(301) und ein Stromversorgun^sanschluß (327), an den die
copr
- Vl -
Versorgungsspannung V angelegt wird, gezeigt.
Unter der Annahme, daß jeweils einer der obigen MOS-Transistoren
von N-Kanal-Anreichungstyp ist, wird der Drain-Source-Pfad
des MOS-Transistors leitend bei Anlegen einer positiven Spannung über der Gate-Source-Schwellenspannung j
V™,, und bleibt nichtleitend, wenn die angelegte Spannung j
unter dieser Schwellenspannung ist. J
= CC33/(C33
wobei C33 und C3 die Kapazitäten der Kondensatoren (33)
und (34) sind. Es ist möglich, den Pegel "1" des Freigabesignales (p., (V. in Fig. A) über V + V„H zu steigern, da
Δν leicht über die Schwellenspannung V~H gebracht werden kann. Dieser Signal pegel hängt ab von den in den Kondensatoren (33) und (34) gespeicherten Ladungsmengen und nimmt 2ϊ3 infolgedessen allmählich so ab, wie diese Ladungen über
den F1ET (3 5) von niedriger oder schwacher Leitfähigkeit
entladen werden. Im Fall, daß der Zeitraum bis t„ lang
ist, fällt, dieser Signalpegel auf einen Wert V0 unter der Versorgungsspannunir, V wie in Fig. 6 gezeigt. Um den Pegel am Ausp.angsanschluü (14) über V mitleLs des Verstärkungs-
und (34) sind. Es ist möglich, den Pegel "1" des Freigabesignales (p., (V. in Fig. A) über V + V„H zu steigern, da
Δν leicht über die Schwellenspannung V~H gebracht werden kann. Dieser Signal pegel hängt ab von den in den Kondensatoren (33) und (34) gespeicherten Ladungsmengen und nimmt 2ϊ3 infolgedessen allmählich so ab, wie diese Ladungen über
den F1ET (3 5) von niedriger oder schwacher Leitfähigkeit
entladen werden. Im Fall, daß der Zeitraum bis t„ lang
ist, fällt, dieser Signalpegel auf einen Wert V0 unter der Versorgungsspannunir, V wie in Fig. 6 gezeigt. Um den Pegel am Ausp.angsanschluü (14) über V mitleLs des Verstärkungs-
Das Diagramm der Fig. 6 dient zur Erklärung des Betriebes
der Schaltungen der Fig. 4 und 5, wobei der Ausgangsan- j
LO Schluß (14) dem Anschluß (14) in Fig, 1 entspricht. Es wird
angenommen, daß das Freigabesignal (pw zur Wortleitung (5)
transferiert wurde. Sollte das Freigabesignal (pw zum Zeitpunkt
t„ von "0" auf "1" und dann das Boost-Signal φρ von
"0" auf "1" zum Zeitpunkt tJ steigen, bringt der Boost-Kondensator
(33) den Pegel des Freigabesignales (p., auf einen . .·
Wert V über.der Spannung V. Solch ein Anstieg des Pegels
ist wie foJgt definiert:
■'"signales Φρ anzuheben, ist ein Zustand hoher Impedanz (potentialfrei)
notwendig, nachdem der Ausgang des Schaltungsblockes (30) "zum Erzeugen des Freigabesignale:s φ den Wert
V erreicht hat. Im Falle, daß die Spannung am ersten Knoten (310) nicht fällt, sondern der erste Lasttransistor (302)
in dem nichtgesättigten Zustand arbeitet, würde die über
den Boost-Kondensator (33) zugeführte Ladung zur Stromver-■
sorgungsseite wegfließen über den ersten Lasttransistor (302), um den Ausgangsanschluß (14) auf die Stromversorgungsspannung
V zu klemmen.' Nachdem er über V hinaus mit Hilfe des Verstärkungssignales φρ verstärkt wurde, fällt
der Pegel am Ausgangsanschiuß (14) im Laufe der Zeit infolge von durch den Pull-Down-FET (15) fließenden Stromes allmählich
und fällt dann unter die Stromversorgungsspannung V, da keine Stromquelle vorhanden ist.
Wie oben erwähnt wurde, hat die konventionelle Schaltung
den Nachteil, daß sie von der Verstärkung des Wortleitungsfreigabesignales φ., bis zum Schreiben der Daten in die Speicherzellen
nur eine begrenzte Zeit zur Verfügung hat.
Ein erfindungsgemäßer Direktzugriffsspeicher weist eine
Mehrzahl von Speicherzellen, eine Mehrzahl von Wortleitungen, mit denen die Mehrzahl von Speicherzellen verbunden
ist, Pull-Down-Transistoren, deren Hauptelektrode mit einer Seite der Wortleitungen verbunden ist, deren andere Hauptelektrode
mit einem vorgegebenen Potential verbunden ist, und deren Steuerelektrode mit einem Steuersignal versorgt
wird, wobei der Pul1-Down-Transistor in einem Zustand niedriger
Impedanz ist, um die Wortleitung während einer Niehtzugriffsperiode
inaktiv zu halten und in einem Zustand hoher Impedanz gehalten wird während einer Zugriffsperirde, eine
Wortlei.tunp.sf reigabesignal-Versorgungseinrichtung, die gemeinsam
mil, der anderen Seite der Wortleitung zum Liefern
eines Wortleitungsfreigabesignales an die Wortleitungen
verbunden ist, und eine Spannungshaitungsschaltung zwischen einem Ausgang der Wortleitungsfreigabe-Versorgungseinrichtung
und einem Stromversorgungsanschluß zum Halten der Aus- gangsspannung der Freigabesignal-Versorgungseinrichtung
höher als die Spannung am Stromversorgungsanschluß während der Zugriffsperiode auf.
Demgemäß ist es die Hauptaufgabe der Erfindung, einen Direktzugriffsspeicher
zu schaffen, der einfaches aber zuverlässiges Schreiben und Lesen von Daten in und aus Speicherzellen
sicherstellt.
V/eitere Merkmale und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben
sich aus der Beschreibung anhand der Figuren. Von den Figuren zeigen:
Fig. 1 als schematisches Schaltungsdiagramm einen Teil
eines konventionellen RAM;
Fig. 2 als Schaltungsdiagramm eine Dekoderschaltung in
Fig. 1;
Fig. 3 als Diagramm den Verlauf verschiedener Signale der Schaltung 1 zur Erklärung ihres Betriebes;
Fig. 4 als schematisches Blockdiagramm ein Beispiel einer
konventionelien WortleitungsLreiberschaltung;
Fig. 5 als Schaltungsdiagramm die schematische Schaltungsanordnung
der Fig. 4 im Detail;
Fig. 6 als Diagramm den Verlauf verschiedener Signale in den Schaltkreisen der Fig. 4 und 5 zur Erklärung
-Ib-
ihres Betriebes;
- Fig. 7 als Schaltungsdiagramm nur einen Wortleitungsfreigabesignalgonerator
in einem RAM nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 8 als Schal tungsd i agramrn ein typisches Beispiel eines
Schaltkreises zum Erzeugen eines Wiederholungssignales
φρ; und
Fig. 9 als Diagramm den Verlauf verschiedener Signale des Schaltkreises der Fig. 7 zur Erklärung seines Betriebes.
Fig. 7 zeigt als Schaltungsdiagramm nur einen Wortleitungsfreigabesignalgenerator
in einem RAM gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung, während die anderen
Schaltkreise ähnlich jenen in Fig. 1 sein können. Es ist offensichtlich, daß Teile, die ähnlich jenen i.n Fig. 1, 4
und 5 sind, mit den gleichen Bezugszeichen versehen sind. In Fig. 7 wird über den Anschluß (35) ein WiederhoLungssignal
φ«, dessen Verlauf in Fig. 9 geplottet ist, geliefert.
Das Wiederholungssignal φρ stammt z.B. von einem aus einer
ungeraden Zahl von Inverterstufen aufgebauten Ringoszillator wie in Fig. 8 gezeigt. Eine Hauptelektrode des FET (36) ist
mit dem Anschluß (35) verbunden, eine weitere Hauptelektrode mit dem Knoten (37) und eine Gatter-Elektrode mit dem
Ausgangsanschluß (32) zum Liefern des Verstärkungssignales φρ. Ein Boost-Kondensator (38) Liegt zwischen dem Knoten
(37) und einem Knoten (39). Der Schaltkreis.schließt weiter
einen Lade-FET (40) zwischen dem Stromver:;orp,ungsarischl uß
(22) und dem Knoten (39)., dessen Gatter oder Π teuerel ek t rode
mit dem Ausgangsanschluß (32) zum Liefern des Vcrstärkungssignal.es
φ verbunden ist, einen Gleichr i chtor-FET
(41), dessen Drain und Gate-Elektrode mit dem Knoten (39) und dessen Source-Elektrode mit dem Ausgangsanschluß (14)
■ · des Generatorschaltkreises (30) für das Wortleitungsfrei-"
gabesignal φ., verbunden ist (gleiche Schaltkreisanordnung
wie in Fig. 5), und einen Klemm-FET (42), dessen Drain und
Gate-Elektroden mit dem Ausgangsanschluß (14) zur Lieferung des Wortle i tungsf reigabesignales φ., und dessen Source-Elektrode
mit dem Stromversorgungsanschluß (22) verbunden ist, ein.
Fig. 9 zeigt als Diagramm den Verlauf verschiedener Signale
■ im Schaltkreis der Fig. 7 zum Erklären seines Betriebes. Aus den Zeichnungen dieser Figur ist es klar, daß die Wellen
form des Wortleitungsfreigabesignales φ., bis zum Zeitpunkt
t ' die gleiche ist wie in Fig. 4. Wenn das Verstärkungssignal φρ zum Zeitpunkt t?" ansteigt, wird der Ladungs-FET
(40) eingeschaltet zum Aufladen des Knotens (39) auf
V - VT„.' Wenn das Wiederholungssignal φρ sich von "0" auf
"1" ändert oder wenn V an den Anschluß (35) angelegt wird, wird wegen.des FET (36) im Durchlaßzustand als Folge des
Verstärkungssignales φ,., das Wiederholungssignal φ_, kapazitiv
mit dem Knoten (39) über den Boost-Kondensator (38) gekoppelt, so daß der Knoten (39) auf V - V„„ +^V1 (>V + V„„)
In ± in
aufgeladen wird. Wenn der Pegel am Knoten (39) ansteigt und auf diese Weise V + V„u überschreitet, wird der Gleichrich-
IH
ter-FET (41.) eingeschaltet um die am Knoten (39) gespeicherte Ladung /.um Ausgangsanschluß (14) durch den "Gleichrichter-FKT
(41) zu schjeben. Daraus folgt ein Abnehmen des " Pegels am Knoten (.TJ) und ein Ansteigen des Spannungsniveaus
am Au!>jvinfv;iinfif-tlllJH (14). Die Bewegung der Ladung vom Knoten
.10 (39) /.um Ausgan.i'.Man.'-.ohluß (.1A) hört auf, wenn der Pegel am
Knoten (39) g Lo ich «ler Summe der Spannungspegel am Ausgangs-
anschluß (14) und der Schwel] entspannung VmM dos Gleichrich-
l rl
··-· .·■ ter-FET· (41) ist und, in anderen Worten, wenn der Glei.cn-■
' richter-FET (41) abgeschaltet wird. Nachdem das Wiederholungssignal
(JL Von "1" auf "O" übergegangen ist, fällt der Pegel am Knoten (39) weiter UmAV1 wegen der kapazitiven
Kopplung zwischen dem Knoten (39) und dem Boost-Kondensator • : (38). Der Gleichrichter-FET (41) im Sperrzustand verhindert,
daß sich die Ladung'vom Ausgangsanschluß (14) zum Knoten
(39) verschiebt, so daß der Spannungspegel am Ausgangsan-Schluß (14) ohne 'Dekrement aufrechterhalten wird. Dann
steigt der Pegel am Knoten (39) wieder auf V - V durch
Aufladung mittels des Ladungs-FET (40) an. Wenn danach das Wiederholungssignal φ~ sich von "0" auf "1" vorändert,
steigt der Spannungspegcl am Ausgangsansohluü (14) auf
gleiche Weise wie oben. .Der Pegel am Knoten (.'^J) steigt auf
die Summe der über den Ladungs-FET (40) zugeführten Spannung V - VTTT und die Spannung V - V„H, die vom Wiederholungssignal φ« eingespeist wird, d.h., 2(V - V„H) mittels Wiederholung
der obigen Prozedur. Der Spannungspegel am Ausgangsanschluß
(14) kann deshalb auf den Wert 2(V-Wrpu)-VrT,u(=V+(V-3VrT,l,
in In in
was eine Spannung gleich dem Pegel am Knoten (39) minus der Schwellenspannung V™., des Gleichrichter-FET (41) ist, ansteigen.
Der Ausgangsanschluß (14) ist mit den Wortleitungen (5) und
(7) über die FETs (12) und (13) verbunden und über die Pull-Down-FETs (15) und (16) geordet., wie in Fig. 1 /.u
sehen ist. Es wird nun angenommen, daß dor FFT (1?) im
durchgeschalteten Zustand und der Pul 1-Down-FET (15) im
durchgeschalteten Zustand mit niedriger oder schwacher
Leitfähigkeit ist, wenn "I" in die Speicherzelle (la) geschrieben
wird.
- LH -
Obwohl der Spannungspegel an der Wortleitung (5) (gleich
eiern Spannungspegel am Ausgangsanschluß (14) minus der
Schwellenspannung V des FET (12)) infolge des Ladungsflusses durch den Pu11-Down-FKT (15) fällt, kompensiert
eine von dem Wiederholungssignal φ^ gelieferte Ladung einen
solchen Abfall im Spannungspegel und der Spannungspegel stellt sich ein auf das Gleichgewicht zwischen Abfluß der
Ladung und Zufluß der Ladung. Das folgende wird diese Angelegenheit deutlich machen.
Die Beziehung zwischen dem Wiederholungssignal (J)r und dem
durch den Boost-Kondensator (38) fließenden Strom i kann durch folgende Formel (1) dargestellt werden:
= f · C38 · (V -
wobei f di e Wiederholungsfrequenz des Signales φ_,, C00
die Kapazität des Boost-Kondensators (38) und Vmu die
in
Schwellenspannung des FET (36) ist. Wenn z.B. f = 3 MHZ
(Periode 333 ns), V - 5 V, VTH = 0,5 V und C33 - 5 pF gilt,
war der durch den Boost-Kondensator (38) fließende Strom i wie folgt:
i - 3 χ ΙΟ6 χ 5 χ ΙΟ"12 χ (b - 0,5) = 67,5 μΑ
Vorausgesetzt, daß der- Strom durch den Pull-Down-FET (15)
in Fig. 1 /.u ungefähr 10 μΑ gewählt wird, ist es deshalb
möglich, den Pegel am Wortleitungsfreigabesignal φ., wie
οrwartol au f roc.h L 7,\i οvhal ten.
'". Γη arideren Wort.(in liefert, das W i edorholungssignal φ, perio-(lisch
die; Ladung Q , wie In dt;r Forme; 1. (2) definiert,
332909ί
während die Ladung Q , wie j η I'Ormel (3) definiert, aus
dem Pull-Down-FET (IS) während Jener Perioden fließt:
Q+ = Π38 (V - W " <*>
"
Q_ = I . T (3)
wobei I der durch den Pull-Down-FET (15) fließende Strom
ist und T die Periode des Wiederholungssignales φ~. Deshalb
waren Q und Q_ wie folgt:
Q+ = 5 (pF) χ (5 - 0,5) (V) = 22,5 (pe)
Q = 10 (μΑ) χ 333 (ns) = 3,3 (pc)
Das Verhältnis der zufJießenden Ladung Q zur abfließenden
Ladung Q_ war 15 % (= 3,3/22,5 χ 100).
Da die von dem Wiedcrho 1 ungssi gnal φ p versl.ärktc Spannung
am Ausgangsanschluß (14) V - 3V„,„ ist, wenn der Ladungsfluß
Null ist, wird die Abnahme des Spannungspegels 4 V„ wegen
des über dem Pull-Down-FET (15) fließenden Stromes durch folgende Formel (4) definiert und beläuft sich auf 0,53 (V)
im obigen Beispiel:
AV2 =_ (V - 3VTH) χ QjQ+
= (5- 3x0,5) χ 0,15 = 0,b3 (4)
Der Spannungspegel V. . am Ausgangsanschluß (14) ist. du roh
die Formel (5) definiert, und wird konstant auf 7,97 (V)
gehalten:
V14 = V + (V - 3VTH) - Δ V2
= 5 + (5 - 3 χ 0/j) - 0,53 7,97 (V) (5)
Ua der Spannungspegel V14 am Ausgangsanschluß (14) auf
einem Wert, der größer als diese Summe der Spannung V an der Bit-Leitung (4), wenn "1" in die Speicherzelle (la)
geschrieben wird (nach gegenwärtiger Technologie ist nicht
mehr aJs b V möglich) und der Schwellenspannung V„„ des
IM
KET (3) in der Speicherzelle (la) gehalten werden kann,
wird es möglich, zum Schreiben einer "1" in die Speicherzelle
(la) die Spannung V an der Bit-Leitung so wie sie ist einzuschreiben. Dies stellt ein größtes Spannungsdifferential
beim Schreiben der Daten "0" und "1" in die Speicherzelle (la) und Einfachheil, des Auslesens sicher.
Um in die Speicherzellen (la) bis (Id) die Spannung V an
den Bit-Leitungen (4) und (6) so wie sie ist einzuschreiben,
muß der Spannungspegel an den Wortleitungen (5) und (7) höher sein als die Summe der Spannung V an den Bit-Leitungen
(4) und (6), wenn "1" in die Speicherzellen (la) bis
(Id) geschrieben wird und die Schwellenspannung V_,„ der
in
FETs (3) in den Speicherzellen (la) bis (Id). Das Anlegen
von größer als notwendigen Spannungen an die Wortleitungen würde Gate-Oxidschichten der FETs (3) in den Speicherzellen
(la) bis (Id) zerstören und die Zuverlässigkeit verringern. Um dies zu verhindern ist in der Schciltungsanordnung nach
Fig. 7 in dem RAM gemäß einer bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung ein K]emm-FET (42) zwischen dem Stromversorgungsanschluß
(22) und dem Ausgangsanschluß (14) vorgesehen, damit der Spannungspegel des Wort 1aitungsfreigabesignales
Φω nicht über den verlangten Wert, ansteigt. Obwohl in der
Ausführung nach Fig. 7 der einzelne; Klemm-FET benutzt wird,
ist. ο;; nahe 1 i eg/uul, daß dieser KI1IT durch zwei oder mehrere
K) FFTs in Reihe cr.se I.κ L werden kann. Im Falle, daß die aus
don Speicherzellen auszulesenden Signale hoch genug sind,
332909G
kann das Wortleitungsf roi p.nbesignal φ., so gewählt werden,
daß es zwischen V und VrnlI ist anstelle von über V + V17111.
IrI . IM
.-.In diesem Falle ist es nur notwendig, den durch, den PuIl-Down-FET
fließenden Strom i kleiner οinzustelJ cn.
Wie schon erwähnt wurde, stellt der erfindungsgemäße Direktzugriffsspeicher
vollständiges Schreiben von Daten in die
Speicherzellen und einfaches Auslesen von Daten dadurch sicher, daß ein Spannungshalteschaltkreis vorgesehen ist,
welcher den Ausgang des Wortleitungsfreigabesignalgenerators
auf einem gewünschten Spannungspegel während der Zugriff
speriode hält. V/eitere Vorteile der Erfindung sind eine Verbesserung der Ausbeute und Vorbesserung der Schaltungsdichte,
da nur ein FET als Pul J -Dowri-FET benötigt wird,
COPY
Claims (1)
- 3329095PATENTANWALT DIPL.-PHYS. LUTZ H. PRÜFER ■ D-8OOO . M ü NC H EN 9O■■-■-" FO 3I-PM21 V:: - P/M/hu (■'4. ■ ■ y- ■ ·: ■■:■:■.■ : rMitsubishi Denki Kabushiki Kaisha, Tokyo / JapanDirektzugriffsspe tcherPATENTANSPRÜCHE. / IJ Direktzugriffsspeicher mit einer Mehrzahl von Speicher-^ zellen (la - ld),
gekennzeichnet durch: ' -eine Mehrzahl von Wortleitungen (5, 7), mit denen die „Mehrzahl von Speicherzellen (la - Id) verbunden ist; Pull-Down-Transistoren (15, 16), bei denen jeder :"e'ine mit einer Seite der Wortleitung (5, 7) verbundene Hauptelektrode, eine weitere mit einem vorgegebenen Potential verbundene Hauptelektrode und eine mit einem Steuersignal versorgteΙΟ Steuerelektrode hat, wobei der Pull-Down-Transistor (15, 16) in einem Zustand niedriger Impedanz gehalten wird, um die Wortleitung (5, 7) während einer Nichtzugriffsperiode inaktiv zu halten und in einem Zustand hoher Impedanz gehalten wird während einer Zugriffsperiode; eine Wortleitungsf reign.be,sj gnal vcrsorgungGcinri chi.ung (30-33), die gemeinsam mi L der anderen Seite einer jeden der Wortleitungen (b, V) zürn Liefern eine:; Wurf. 1 ei tun#:jL"rei-BAD ORIGINAL " COpYPATENTANWALT DII1I-. I1HYS. IUT/ II. I1IMJI I Il I ι in if jo μ ι ι r If H I I ι »ι · WII I UlMIiI Ιί'.ΙΙ' ·'. Il I. Ιιιιι'ι) ι,ιιιΙ, ir ι' gabesignales (Φω) an die Wortlei.tung (5, 7) verbunden ist; ' ' und ' .■"". ' .'. · ■■;·'-■ ' ";"'"' ■ ■■'·';"" '· eine Spannungshaiteschaltung (36-41) zwischen einem Ausgang ' '· der Wortleitungfreigabesignalversorgungseinrichtung (30-33) . 5 und einem Stromversorgungsanschluß (V) zum Halten der Ausgangsspannung der Freigabesignalversorgungseinrichtung ■ ' (30-33) über der Spannung am Stromversorgungsanschluß (V) während der Zugriff ijperiode; '2. Direktzugriffsspeicher nach Anspruch 1,10. ·: gekennzeichnet durch eine Einrichtung (Fig. 8) zum Liefern eines Wiederhol ungssi gnales (Cj)n), bei der die Spannungshalteschal lung (36-41) mit dem Wiederholungssignal ((J)n) versorgt ' wird, um das WortJ ei Lungsfrei-Kabesignal C0W) zu verstärken und dasselbe auf einem gewünschten Spannungswert zu halten, wann immer das Wiederholungssignal (φΡ) empfangen wird.3. Direktzugriffsspeicher nach Anspruch 1 oder 2, ! dadurch gekennzeichnet, daß die Wortleitungsfreigabesignal-■ versorgungseinrichtung (30-33) .·eine.mit der anderen Seite der Wortleitungen (5, 7) verbun- j dene Freigabesignalgeneratorschaltung (30) zum Erzeugendes Wortleitungsfreigabesignales (<PW)> Seinen Boost-Kondensator (33), dessen eine Elektrode mit Ieinem Ausgangsanschluß der F'reigabesi gnalgeneratorschaltung j (30) verbunden Lst, ;und eine Vi.'rstärkungssignalgcnoralorschaltung (31), die ·mit der anderen Elektrode des ßoost-Kondensators (33) zum ! Erzeugen eines Verstärkungssignales (φρ) zum Verstärken des WortleLtungsfreigabesignales (Φω) aufweist..4. Di rekt./.ijfT.ri ffsspe i eher nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die üpannungshalteschaltung3329098.. ' einen Feldeffekttransistor (3G), de:;r>on cine llaupLo 1 ukl.rode. ;:v.\ mit dem' Wiederholungssignal' (φ,,) ge:;pcjt;t wird und dessen · " ':· .. Steuerelektrode mi fc einem AuHgangsanschluß der Verstärkungs-■ 5 signalgeneratorschaltung (31).verbunden ist, ■·- : einen Boost-Kondensator (38), dessen eine Elektrode mit der "· - anderen Hauptelektrode des Feldeffekttransistors (36) ver-. . bunden ist, ■';,· . - · . ■ '' " " -. ■ einen Ladetransistor (40) zwischen· der anderen Elektrode des Boost-Kondensators ' (38) und einom Stromversorgungsanschluß (V), dessen Steuerelektrode mit dem Ausgangsanschluß . der Verstärkungssignalgeneratorschaltung (31) verbunden ■ ist, und ... · ■einen Gleichrichtertrahsistor (41), dessen Steuerelektrode und eine Hauptelektrode mit der anderen Elektrode des Boost-Kondensators (38) und dessen andere Hauptelektrode mit dem Ausgangsanschluß der Freigabesignal p.eneratorschal tung (30) verbunden ist, aufweist.5. Direktzugriffsspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch einen Kiemm-Transistor (42) zwischen dem Stromversorgungsanschluß (V) und einem Ausgangsanschluß der Wortleitungsfreigabesignalversorgungseinrichtung (30-33).6. Direktzugriffsspeicher,
gekennzeichnet durch:eine Mehrzahl von Speicherzellen (Ia-Id), eine Mehrzahl von mit 6er MehrzahJ von Speicherzellen (Ia-Id) verbundenen Wortleitungen (5, 7),eine Mehrzahl von jeweils einer WorUeitung (5, 7) zugeordneten Pull-Down-Transistoren (15, Ιό), wobei bei jedem der Pull-Down-Transistoren (15, 16) eine Hauptelektrode mil einer Seite einer jeden Wortleitung (5, 7) und seine andere Hauptelektrode mit einem vorgegebenen Potential verbunden ist,
eine Pu] ]-Down-Steucr.'.u:tui 1 t.unj', {?()) /.urn Liefern (.-ines nLeuer-BAD ORIGINAL C0PY3329098-A-:>LgriaUüi an die; Steuere 1 ektroden der Pul 1 -Down-Transistoren (15, 16),eine Wortleitungsfreigabesignalleitung (14), die mit allen anderen Enden der Mehrzahl von Wortleitungen (5, 7) verbunden ist und mit einem Signal (<$w) zum Freigeben der Wort-Jeitungen versorgt wird,eine !''rei gäbe signal generatorschal tung (30), die mit der Wortleitungsfreigabesignalleitung (14) zum Erzeugen des Wortleitungsfreigabesignales (0w) verbunden ist, einen ersten Boost-Kondensator (33), dessen eine Elektrode mit einem Ausgangsansehluß der t'reigabesignalgeneratorschaltung (30) verbunden ist,eine Verstärkungssignalgeneratorschaltung (31), die mit der anderen Elektrode des Boost-Kondensators (33) zum Erzeugen eines Verstärkungssignales (φρ) zum Verstärken des Wortleitungsfreigabesignales (φ,,) verbunden ist,eine Schaltung (Fig. 8) zum Erzeugen eines Wiederholungssignales (Φα),einen Feldeffekttransistor (36), dessen eine Hauptelektrode mit dem Wiederholungssignal (φ,,) verbunden ist und dessen Steuerelektrode mit einem Ausgangsanschluß der Verstärkungssignalgeneratorschaltung (31) verbunden ist, einen zweiten Boost-Kondensal.or (38), dessen eine Elektrode mit der anderen Hauptelektrode des Feldeffekttransistors2b (3ü) verbunden ist, einen Ladet.ransi stör (40) zwischen der anderen Elektrode dos zweiten Hoost-Kondensators (38) und ο i netn Stromversorgungsanschl uM (V), dessen Steuerelektrode mit dem AiUigangsansrh 1 uß ilev Verstärkungssignalgeneratorschaltung (31) verbunden ist, undeinen Gleichrichtertransistor (41), dessen Steuerelektrode und eine Hauptelektrode mit der anderen Elektrode des zweiten Hoosl-Kondensators (38) und dessen andere Hauptelektrode mit", der Wort 1 ei tungr.f rc igabcisignal 1 ei tung (14) verbunden ist.7. Direktzugriffsspeicher nach"Anspruch G, gekennzeichnet durch einen Klemm-Transistor (42) zwischen dem Stromversorgungsanschlui3 (V) und der Wortleitungsfreigabesignalleitung (14).COPY
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3329096A1 true DE3329096A1 (de) | 1984-03-01 |
DE3329096C2 DE3329096C2 (de) | 1988-04-14 |
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ID=15458725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833329096 Granted DE3329096A1 (de) | 1982-08-25 | 1983-08-11 | Direktzugriffsspeicher |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5938996A (de) |
DE (1) | DE3329096A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5222042A (en) * | 1990-09-19 | 1993-06-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dynamic semiconductor memory device for raising voltage level of a word line |
DE10058398A1 (de) * | 2000-11-24 | 2002-06-13 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Halbleiterspeicher |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5197033A (en) | 1986-07-18 | 1993-03-23 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions |
JPH0782749B2 (ja) * | 1986-03-28 | 1995-09-06 | 三菱電機株式会社 | ブ−ステツド信号駆動回路 |
JPH0828117B2 (ja) * | 1987-04-21 | 1996-03-21 | 日本電気株式会社 | デコーダ回路 |
US4896297A (en) * | 1987-10-23 | 1990-01-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Circuit for generating a boosted signal for a word line |
JP2001076500A (ja) * | 1999-06-28 | 2001-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
KR100321151B1 (ko) * | 1999-11-30 | 2002-03-18 | 박종섭 | 반도체 소자의 동기식 플립플럽 회로 |
KR100331566B1 (ko) * | 2000-01-22 | 2002-04-06 | 윤종용 | 클럭 동기 회로 및 이를 구비하는 반도체 장치 |
JP4301680B2 (ja) * | 2000-02-29 | 2009-07-22 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路装置 |
US6449213B1 (en) * | 2000-09-18 | 2002-09-10 | Intel Corporation | Memory interface having source-synchronous command/address signaling |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2805664A1 (de) * | 1977-02-10 | 1978-08-17 | Tokyo Shibaura Electric Co | Dynamischer lese/schreib-randomspeicher |
DE3200976A1 (de) * | 1981-01-14 | 1982-09-23 | Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa | Integrierte halbleiterschaltung |
DE3207485A1 (de) * | 1981-03-03 | 1982-09-30 | Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa | Nichtfluechtige bzw. leistungslose halbleiter-speichervorrichtung |
DE3236729A1 (de) * | 1981-10-09 | 1983-05-11 | Mitsubishi Denki K.K., Tokyo | Dynamischer direktzugriffsspeicher |
-
1982
- 1982-08-25 JP JP57148704A patent/JPS5938996A/ja active Pending
-
1983
- 1983-08-11 DE DE19833329096 patent/DE3329096A1/de active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2805664A1 (de) * | 1977-02-10 | 1978-08-17 | Tokyo Shibaura Electric Co | Dynamischer lese/schreib-randomspeicher |
DE3200976A1 (de) * | 1981-01-14 | 1982-09-23 | Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa | Integrierte halbleiterschaltung |
DE3207485A1 (de) * | 1981-03-03 | 1982-09-30 | Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa | Nichtfluechtige bzw. leistungslose halbleiter-speichervorrichtung |
DE3236729A1 (de) * | 1981-10-09 | 1983-05-11 | Mitsubishi Denki K.K., Tokyo | Dynamischer direktzugriffsspeicher |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5222042A (en) * | 1990-09-19 | 1993-06-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dynamic semiconductor memory device for raising voltage level of a word line |
DE10058398A1 (de) * | 2000-11-24 | 2002-06-13 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Halbleiterspeicher |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5938996A (ja) | 1984-03-03 |
DE3329096C2 (de) | 1988-04-14 |
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