DE3226542A1 - Verfahren und vorrichtung zum kontrollieren der aktivitaet einer entwicklerloesung gegen oxydation unter verwendung eines probestueckes zur anwendung bei einem automatischen entwickler - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum kontrollieren der aktivitaet einer entwicklerloesung gegen oxydation unter verwendung eines probestueckes zur anwendung bei einem automatischen entwickler

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Description

Anwaltsakte: P 835 Dainippon Screen Seizo K.K.
Kyoto, Japan
Verfahren und Vorrichtung zum Kontrollieren der Aktivität einer Entwicklerlösung gegen Oxydation unter Verwendung eines Probestückes zur Anwendung bei einem automatischen Entwickler
Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zum Kontrollieren der Aktivität (Wirksamkeit) einer Entwicklerlösung gegen Oxydation unter Verwendung eines Probestückes zur Anwendung bei einem automatischen Entwickler.
Bei herkömmlichen automatischen Filmentwicklungseinrichtungen wird die Aktivität oder Wirksamkeit der Entx^icklerlösung, die durch die Filmschwärzung verarmt, durch die nachfolgend erwähnten Verfahren auf dem richtigen Wert gehalten:
(a) Das Ergänzen einer Ergänzungslösung gegen Schwärzen wird ausgeführt in Abhängigkeit von einer entwickelten Fläche des fotografischen Films und einer vorbestimmten Schwärzungsrate.
(b) Die Srgänzungsflüssigkeit wird hinzugefügt in Abhängigkeit von einer geschwärzten Fläche, gemessen auf dem fotografischen Film.
(c) Die Ergänzungslösung wird über eine gewisse Zeitspanne hinweg zugefügt, entsprechend der gemessenen Länge des zu entwickelnden Fotofilmes, wobei die vorbestimmte Einheitslänge das Hinzufügen eines bestimmten Volumens der Ergänzungslösung erfordert.
Die Entwicklungslösung verarmt auch durch Oxydation aus der Luft oder dergleichen. Der Grad der Oxydation der Entwicklerlösung zwischen dem Zustand während des Betriebes des automatischen Entwicklers ist ein anderer als jener außerhalb dieses Betriebes. Demgemäß ist die Menge der pro Zeiteinheit zuzuführenden Ergänzungslösung während des Betriebes des Entwicklers verschieden von der bei Nichtbetrieb zuzuführenden Menge.
Beim Fortführen derartiger Aktivitätskontrollen (Überwachung, Überprüfung, Ergänzung) der Entwicklerlösung häufen sich jedoch Kontrollfehler an. Demgemäß ist die Aktivität der Entwicklerlösung weiter zu überwachen, beispielsweise zweimal täglich, unter Anwendung eines Probestückes.
Bei einem herkömmlichen Aktivitäts-Kontrollverfahren der Entwicklerlösung gegen Oxydation werden die mit einer gewissen Lichtmenge belichteten Probestücke in einer Standard-Entwickler-Lösung sowie in der Entwicklerlösung, deren Aktivität zu überprüfen ist, getrennt entwickelt; sodann werden die Dichten an vorbestimmten Licht-und-Schatten-Punkten des entwickelten Probestückes, das in der zu kontrollierenden Entxvicklerlösung entwickelt wurde, mit
jenen des Probestückes verglichen, das in der Standard-Entwickler-Lösung entwickelt wurde, und zwar entweder mit bloßem Auge oder mittels eines Densitometer. Abhängig von der Differenz dieser Dichten wird Ergänzungslösung gegen Oxydation der zu kontrollierenden Entwicklerlösung hinzugefügt, wobei Erfahrung und Geschick der Bedienungsperson erforderlich sind. Das Hinzufügen dient dem Wiederherstellen der Aktivität der Entwicklerlösung.
Die Bestimmung der genauen Menge der Ergänzungslösung entsprechend der Dichtedifferenz der beiden Probestücke ist bei diesem Verfahren jedoch sehr schwierig. In der Praxis wird deshalb die Ergänzungslösung üblicherweise in einer etwas geringeren Menge von Hand zugeführt und sodann die Aktivität der Entwicklerlösung unter Verwendung des Probestückes gemessen. Sodann wird die Ergänzungslösung in Abhängigkeit von dem Meßergebnis der Entwicklerlösung zugeführt, wodurch man den richtigen Aktivitätswert erhält. Dieses Verfahren ist jedoch mühsam und zeitaufwendig.
ZUSAMMENPASSUNG DER ERFINDUNG
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Kontrollieren der Aktivität einer Entwicklerlösung gegen Oxydation unter Verwendung eines Probestückes zur Anwendung bei einem automatischen Entwickler zu schaffen, das die vorerwähnten Unannehmlichkeiten und Nachteile nicht aufweist,, das einfach, rasch und zuverlässig durchführbar ist und keinerlei Erfahrung bedarf.
Ferner liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Gerät zum Kontrollieren der Aktivität von Entwicklerlösung gegen Oxydation unter Verwendung eines Probestückes zur Anwendung bei einem automatischen Entwickler zu schaffen, das die vorerwähnten Machteile und Unbequemlichkeiten nicht aufweist, das sich auf einfache Weise sowie schnell und zuverlässig anwenden läßt und keinerlei Erfahrung erfordert.
Das erfindungsgemäße Verfahren umfaßt die folgenden Verfahrensschritte:
(a) Man bildet Differenzen ISL-N2,' und N^-N,-' zwischen einer ersten und einer zweiten Standarddichte N^ und N5, die an einem vorbestimmten ersten und zweiten Punkt eines ersten Probestückes gemessen werden, das seinerseits in einer Standard-Entwickler-Lösung entwickelt wurde, und Dichten N1,' und Nc', die an denselben Punkten eines zweiten Probestückes derselben Art wie das erste Probestück an den vorbestimmten Punkten des ersten Probestückes gemessen wurden, entwickelt in der zu kontrollierenden Entwicklerlösung;
(b) es wird eine Betriebszeitspanne T einer Ergänzungseinrichtung zum Zuführen einer Ergänzungslösung zu der zu kontrollierenden Entwicklerlösung bei konstantem Durchsatz berechnet, und zwar gemäß einer Gleichung T=K1 K,(N^-N^')-(N5-N5') +K2, wobei K1, Kp und K, einen ersten, einen zweiten und einen dritten, vorbestimmten Oxydationsfaktor bedeuten; und
(c) die Ergänzungseinrichtung wird während der ermittelten Betriebszeitspanne T betätigt, wodurch der zu kontrollierenden Entwicklerlösung Ergänzungslösung zum Zwecke der Wiederherstellung des Aktivitätswertes zugefügt wird.
Das erfindungsgemäße Gerät ist durch die folgenden Elemente gekennzeichnet:
(a) Es umfaßt eine erste und eine zweite Einrichtung zum Einstellen einer ersten und einer zweiten Standarddichte N^ und
N^ an einem ersten und einem zweiten Punkt eines ersten D
Probestückes, das in einer Sandard-Entwickler-Lösung entwickelt wird;
(b) es umfaßt eine erste und eine zweite Einstelleinrichtung zum Einstellen gemessener Dichten N^' und N1-' an denselben Punkten eines zweiten Probestückes derselben Art wie das erste Probestück und an zxveiten Punkten des ersten Probestückes,
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entwickelt in einer zu kontrollierenden Entwicklerlösung;
(c) eine erste, eine zweite und eine dritte Paktor-Einstelleinrichtung zum Einstellen eines ersten, eines zweiten und eines dritten Oxydationsfaktors K,, Kp und K^, der Gleichung T=K1 K^CN^-N^1)-(N5-N5') +K2 gehorchend, wobei T eine Betriebszeitdauer einer Ergänzungseinrichtung zum Hinzufügen einer Ergänzungslösung zu der zu kontrollierenden Entwicklerlösung bei konstantem Durchsatz bedeutet, um die verminderte Aktivität auf den gewünschten Wert wieder anzuheben;
(d) es ist ein erster Subtraktor vorgesehen, der die Dichten Nl und N4 1 aus der ersten Standarddichten-Einstelleinrichtung und der ersten gemessenen Dichte-Einstelleinrichtung erhält und eine Dichtedifferenz N^-Nh' berechnet;
(e) es ist ein zweiter Subtraktor vorgesehen, der die Dichten N1- und N1-' aus der zweiten Standard-Dichteneinstelleinrichtung und der zweiten gemessenen Dichte-Einstelleinrichtung erhält und eine Dichtedifferenz N5-Nc' berechnet;
(f) es ist ein Dichtekomparator vorgesehen, der die beiden Dichtedifferenzen Nh-N^,' und N5-N5', aus dem ersten und dem zweiten Subtraktor eingespeist, miteinander vergleicht, um die Magnituden und Ausgänge eines positiven oder negativen Signales zu diskriminieren, abhängig von der Magnitude;
(g) es ist eine erste Multipliziereinrichtung (Multiplikator) vorgesehen, die die Dichtedifferenz N^-N^' des ersten Subtraktors und den dritten Oxydationsfaktor K,, aufgestellt in der dritten Faktor-Einstelleinrichtung, erhält und K^(N2I-Nh') berechnet;
(h) es ist ein dritter Subtraktor vorgesehen, der die Dichtedifferenz N5-Nj-1 des zweiten Subtraktors sowie das Rechenergebnis K- (N^-IT^' ) des e^sten Multiplikators erhält und K,(N4-N^' )- (N5-II-' ) berechnet;
(i) es ist ein zweites Gatter vorgesehen, das nur dann öffnet, wenn es negative Signale aus dem Dichtekomparator und dem ersten Multiplikator erhält;
(J) es ist ein zweiter Multiplikator vorgesehen, der von dem vom zweiten Gatter abgegebenen Signal betrieben wird und das Rechenergebnis K^5(Nh-N2,' )- (Nc-N1-' ) vom dritten Subtraktor sowie den ersten Oxydationsfaktor K, erhält, der in der ersten Faktor-Sinstelleinrichtung eingestellt ist, und der ferner K1 K5(N21--N^' )-(N5-N5' ) berechnet;
(k) es ist ein Addierwerk vorgesehen, das das Rechenergebnis K1 K5(N^-Nj1-' )-(N5-N5') des zweiten Multiplikators sowie den zweiten Oxydationsfaktor K,, der in der zweiten Paktor-Einstelleinrichtung eingestellt wurde, erhält, und der die Betriebszeitspanne T=K1 K^ (N2,-N2+' )-(N5-N5') +Kp berechnet; und
(m) es ist eine Ergänzungseinrichtung zum Hinzufügen von Ergänzung slösung zu der zu kontrollierenden Entwicklerlösung bei konstantem Durchsatz während der Arbeitszeitdauer T vorgesehen, entsprechend dem Ausgang des Addierwerkes.
Die Erfindung ist anhand der Zeichnung näher erläutert. Darin ist im einzelnen folgendes dargestellt:
Fig. 1 zeigt eine Ausführunp;sform eines bei derErfindung verwendeten Probestückes; und
Fig. 2 veranschaulicht eine Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Gerätes in einem Blockschaltbild.
Das in Fig. 1 veranschaulichte Beispiel eines Probestückes 1 wird unter gewissen Bedingungen belichtet und in einer Standard-Entwicklerlösung entwickelt; es hat eine kontinuierliche Abschattierungszone 2 (tone zone) sowie eine Halbtonpunktzone 3 (Rasterzone). Die Dichtewird an Licht-und-Schatten-Punkten 4
und 5 mit Halbtonpunkt-Flächenraten von 90 % und 10 % der Halbtonpunktzone 3 mittels eines Densitometers gemessen, um erste und zweite Standarddichten N4 bzw. N- zu erhalten. Ein weiteres Probestück 1 desselben Typus wie das oben beschriebene Probenstück 1 wird in einer zu kontrollierenden Entwicklerlösung entwickelt. Die Dichten werden an denselben Punkten wie bei dem obengenannten Probenstück 1 auf dieselbe Weise gemessen; dies sind dann die Dichten N4' und·Ν-'.
Sodann wird gemäß der Erfindung die Aktivität der zu kontrollierenden Entwicklerlösung mittels eines Computers oder eines Processors kontrolliert, wie beispielsweise durch automatisches Hinzufügen einer Ergänzungslösung gegen Oxydation der zu kontrollierenden Entwicklerlösung gemäß der folgenden Gleichung, um die Entwickleraktivität wieder herzustellen:
Bei dieser Formel bedeutet T die Betriebszeitdauer der Ergänzungseinrichtung, die bei konstantem Durchsatz die Ergänzungslösung der zu kontrollierenden Entwicklerlösung zuführt; K,, Kp, K, bedeuten einen ersten, einen zweiten und einen dritten Oxydationsfaktor, die in Abhängigkeit von dem verwendeten Probestück ermittelt werden, ferner von der zu kontrollierenden Entwicklerlösung, der Ergänzungslösung, den Meßpositionen des Probestückes, der Strömungsgeschwindigkeit in der Ergänzungseinrichtung usw. Die Meßpunkte werden in der kontinuierlichen Abschattierungszone 2 an jenen Stellen ermittelt, die denen der Halbton-Punktzone 3 entsprechen.
In Fig. 2 sieht man eine Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Gerätes.
Die in Densitometer β gemessenen ersten und zweiten Standarddichten N4 und N1- sowie der erste, der zweite und der dritte Oxydationsfaktor K1, K^ und K^, werden im voraus in einer ersten
IS 8r
und in einer zweiten Standard-Dichte-Einstelleinrichtung 7 und und in einer ersten, zweiten und dritten Oxydationsfaktor-Einstelleinrichtung 9, 10 und 11 eingestellt.
Sodann wird in einem Einstellgerät 12 für den zulässigen Dichtebereich im voraus ein zulässiger Bereich 0 eingestellt, in welchem keine Wirksamkeitskontrolle der zu kontrollierenden Entwicklerlösung durchgeführt wird, da die Differenz zwischen der Wirksamkeit (Aktivität) der Standard-Sntwicklerlösung und der zu kontrollierenden Entwicklerlösung gering ist.
Die erste und die zweite durch Densitometer 6 gemessene Dichte Nn' und Nf-' werden in der Einstelleinrichtung 13 für die erste gemessene Dichte und in der Einstelleinrichtung ]Λ für die zweite gemessene Dichte eingestellt. Sodann werden die erste Standarddichte N2, und die erste gemessene Dichte Nn' einem ersten Subtraktor 15 eingespeist, und die zweite Standarddichte N1- und die zweite gemessene Dichte N1-' einem zweiten Subtraktor ΐβ. Der erste und der zweite Subtraktor 15 und ΐβ ermitteln die Dichtedifferenzen N^-N21/ bzw. N5-N5 1.
Die Dichtedifferenz Nm-N^' wird einem Dichtekomparator 17 und einem ersten Multiplikator 21 eingespeist, und die Dichtedifferenz Nc-Nc' wird dem Dichtekomparator 17 und dem dritten Subtraktor l8 eingespeist.
Der Dichtekomparator 17 diskriminiert die Magnitude der beiden Dichtedifferenzen N^-N^' und N5-N5', d.h. auch, ob genügend oder ungenügend Entwickleraktivität der zu kontrollierenden Entwicklerlösung vorliegt, und gibt ein positives oder ein negatives Signal an ein erstes Gatter 19 und an ein zweites Gatter
Der erste Multiplikator 21 nimmt die Dichtedifferenz N^-N^' sowie den dritten Oxydationsfaktor K, aus dem ersten Subtraktor 15 bzw. der Einstelleinrichtung 11 für den dritten Oxydationsfaktor auf und berechnet K^(N^-Ify1), was dem dritten Subtraktor l8 einzuspeisen ist.
Der dritte Subtraktor l8 berechnet K^(N4-N2+' )- (N5-N5' ) und gibt das Subttaktionsergebnis an das zweite Gatter 20 und den zweiten Multiplikator 22 weiter. Das zweite Gatter 20 wird durch das Ausgangssignal des dritten Subtraktors l8 nur dann geöffnet, wennder Dichtekomparator 17 ein negatives Signal abgibt, d.h. wenn Ergänzungslösung der zu kontrollierenden Entwicklerlösung zuzufügen ist.
Der zweite Multiplikator 22 wird durch das Ausgangssignal des zweiten Gatters 20 angetrieben, erhalt das Subtraktionsergebnis des dritten Subtraktors l8 und den ersten Oxydationsfaktor K., eingestellt in der Einstelleinrichtung 9 für den ersten Oxydationsfaktor, und berechnet K, K-,(Nh-KL ' )-(N,--N ' ) , was einem Addierwerk 2λ einzuspeisen ist.
Ein Bereichskomparator 23 erhält das Subtraktionsergebnis des dritten Subtraktors l8 und den in der Einstelleinrichtung 12 für den zulässigen Dichtebereich eingestellten zulässigen Dichtewert Q und vergleicht den erstgenannten mit dem zweitgenannten. Ist das Subtraktionsergebnis des dritten Subtraktors l8 geringer als der zulässige Dichtebereich Q., so gibt Bereichskomparator 23 ein negatives Signal an eine Lampe 2β, so daß diese aufleuchtet und das Hinzufügen weiterer Ergänzungslösung anfordert. Ist das Subtraktionsergebnis des dritten Subtaktors l8 größer als der zulässige Dichtebereich Q, so gibt Bereichskomparator 23 ein positives Signal an das erste Gatter 19 und öffnet dieses erste Gatter 19. Sodann gibt das erste Gatter 19 ein Signal an eine Lampe 25, so daß diese aufleuchtet, um anzuzeigen, daß zuviel Entwickleraktivität in der Entwicklerlösung vorhanden ist.
Das Addierwerk 24 erhält das Rechenergebnis des zweiten Multiplikators 22 sowie den zweiten Oxydationsfaktor K~, der in der Einstelleinrichtung 10 für den zweiten Oxydationsfaktor eingestellt wurde, und berechnet die Betriebsdauer T-K1 K3(N2^N4 1)-(N5-N5') +K2. Sodann wird ein Magnetventil für konstanten Durchsatz über die gesamte Arbeitszeitdauer T
10
mittels des Ausganges des Addierwerkes 24 geöffnet, um die gewünschte Menge der Ergänzungslösung der zu kontrollierenden Sntwicklerlösung zuzuführen und hierdurch die Wirksamkeit der Entwicklerlösung auf den vorbestimmten Wert wieder zurückzuführen .
Bei dieser Ausführungsform kann das Magnetventil 27 für konstanten Durchsatz auch derart gestaltet sein, daß es nur dann öffnet, wenn Bereichskomparator 23 ein negatives Signal dem Magnetventil 27 meldet, d.h. wenn das Subtraktionsergebnis des dritten Subtraktors kleiner als der erlaubte Dichtebereich Q. ist.
Es versteht sich, daß die Kontrolle der Wirksamkeit der Entwicklerlösung gegen Oxydation gemäß der Erfindung mechanisch und schnell ausführbar ist, ohne die Notwendigkeit irgendeiner Erfahrung, was natürlich sehr vorteilhaft ist und auch die Arbeitsgeschwindigkeit wesentlich erhöht.
Bei dieser Ausführungsform können am Ausgang eines Trockners einer automatischen Entwicklungseinrichtung ein Probenstückdetektor zum Erfassen eines Probestückes (Probenstreifen, Probenfilm) wie beispielsweise ein Mikroschalter vorgesehen werden, ein Stop zum vorübergehenden Anhalten des Filmtransportes, betätigt von dem Probenstückdetektor, ferner ein Densitometer 6, womit die Dichte des Probenstückes automatisch gemessen wird. Die derart gemessene Dichte wird dem Gerät gemäß der Erfindung eingespeist. Alternativ hierzu läßt sich die Dichte des entwickelten Probestückes manuell an einer geeigneten Stelle messen und die gemessene Dichte dem Gerät gemäß der Erfindung eingeben.
In diesem Falle läßt sich auch eine Pumpe für konstanten Durchsatz oder eine andere geeignete Förder- oder Srgänzungseinrichtung für konstanten Durchsatz anstelle des Magnetventiles 27 für konstanten Durchsatz vorsehen.
13.07.1982
DrW/MJ
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Claims (1)

  1. Anwaltsakte: P 8j55 Dainippon Screen Seizo K.K.
    Kyoto, Japan
    PATENTANSPRÜCHE
    Verfahren zum Kontrollieren der Aktivität (Wirksamkeit) einer
    Entwicklerlösung gegen Oxydation unter Verwendung eines Probestückes zur Anwendung in einem automatischen Entwickler, gekennzeichnet durch die folgenden Verfahrensschritte :
    (a) es werden Differenzen (N^-N^' und Nc-N1-') zwischen einer ersten und einer zweiten Standarddichte Nj^ und N^ gebildet, gemessen an einem vorbestimmten ersten und an einem vorbestimmten zweiten Punkt des ersten Probestückes, das in einer Standard-Entwicklerlösung entwickelt wurde, und von Dichten N^' und Nj-', gemessen an denselben Punkten eines zweiten Probestückes derselben Art wie das erste Probestück an den genannten vorbestimmten Punkten des ersten Probestückes, entwickelt in der zu kontrollierenden Entwicklerlösung;
    (b) es wird eine Betriebszeitdauer T einer Ergänzungseinrichtung konstanten Durchsatzes berechnet, die der zu kontrollierenden Entwicklerlösung eine Ergänzungslösung zuführt, und zwar gemäß der Gleichung T=K, K-,(N^-Nj,' )-(Nc-Nc') +Ko, wobei K,, Kp und K-* jeweils einen ersten, einen zweiten und einen dritten, vorbestimmten Oxydationsfaktor bedeuten; und
    (c) die Ergänzungseinrichtung für konstanten Durchsatz wird über die derart erhaltene Betriebszeitdauer T hinweg betrieben, wobei der zu kontrollierenden Lösung zum Zwecke des Wiederherstellen von deren Aktivität Entwicklerlösung zugeführt wird.
    2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dann, wenn der Wert K. K^(N4-N4' )- (N5-N5' ) in einem gewissen Bereich liegt, die Ergänzungseinrichtung für konstanten Durchsatz nicht betätigt wird, so daß der zu kontrollierenden Entwicklerlösung keine Ergänzungslösung zugefügt wird.
    3. Gerät zum Kontrollieren der Aktivität (Wirksamkeit) von Sntwicklerlösung gegen Oxydation unter Verwendung eines Probestückes zur Anwendung bei einem automatischen Entwickler, gekennzeichnet durch die folgenden Elemente:
    (a) es ist eine erste und eine zweite Standarddichte-Einstelleinrichtung vorgesehen, die Standarddichten Nh und Nj- an ersten und zweiten Punkten des ersten Probestückes einstellen, das in einer Standard-Entwicklerlösung entwickelt wird;
    (b) es sind erste und zweite Einstelleinrichtungen für die gemessene Dichte vorgesehen, die die gemessenen Dichten Nj^' und N5 1 einstellen, und zwar an denselben Punkten des zweiten Probestückes von derselben Art wie das erste Probestück als erste und zweite Punkte des ersten Probestückes, das in einer zu kontrollierenden Entwicklerlösung entwickelt wurde;
    (c) es sind Einstelleinrichtungen zum Einstellen eines ersten, zweiten und dritten Faktors vorgesehen, die einen ersten, zweiten und dritten Oxydationsfaktor K1, K^ und K-, einstellen, wobei der Gleichung genügt wird T=K1Tk3(N4-N4')-(N5-N5')j+K2, wobei T eine Arbeitszeitdauer einer Ergänzungseinrichtung bedeutet, die bei konstantem Durchsatz der zu kontrollierenden Lösung zum Zwecke des Wiederherstellen der verminderten Aktivität auf einen vorbestimmten Wert Ergänzungslösung bei konstantem Durchsatz zuführt;
    (d) es ist ein erster Subtraktor vorgesehen, der die Dichten N2^ und N^' aus der ersten Standarddichten-Einstelleinrichtung und der ersten gemessenen Dichte-Einstelleinrichtung erhält und eine Dichtedifferenz N2^-N.' berechnet;
    (e) es ist ein zweiter Subtraktor vorgesehen, der die Dichten N(- und N5 1 aus der zweiten Standarddichten-Einstelleinrichtung und der zweiten gemessenen Dichte-Einstelleinrichtung erhält, und die Dichtedifferenz Nc-Nj-' berechnet;
    (f) es ist ein Dichtekomparator vorgesehen, der die beiden Dichtedifferenzen Nh-N2^' und Nc-Nt-', eingespeist aus dem ersten und dem zweiten Subtraktor, miteinander vergleicht, um die Magnituden zu diskriminieren und ein positives oder negatives Signal abgibt, je nach der Magnitude;
    (g) es ist ein erster Multiplikator vorgesehen, der die Dichtedifferenz N^-N^' des ersten Subtraktors sowie den dritten Oxydationsfaktor K·,, eingestellt in der Einrichtung für den dritten Paktor, erhält und hieraus die Gleichung (N4 1) berechnet;
    (h) es ist ein dritter Subtraktor vorgesehen, der die Dichtedifferenz Nr--Nr-' des zweiten Subtraktors sowie das Rechenergebnis K^5(Nh-N2,' ) des ersten Multiplikators erhält und hieraus die Gleichung K5(N24--N2^')-(Nc-N5 1 ) ausrechnet;
    (i) es ist ein zweites Gatter vorgesehen, das nur dann öffnet, wenn es negative Signale aus dem Dichtekomparator und dem ersten Multiplikator erhält;
    (J) es ist ein zweiter Multiplikator vorgesehen, der von dem aus dem zweiten Gatter abgegebenen Signal betrieben wird und der das Rechenergebnis K-, (N^-N^1 )-(Nc5-N1-' ) des dritten Subtraktors erhält sowie den ersten Oxydationsfaktor K1, eingestellt in der Einrichtung für den ersten Paktor, und
    hieraus die Gleichung Κχ KL(N4-N4')-(N5-N5') berechnet;
    (k) es ist ein Addierwetfc vorgesehen, das das Rechenergebnis K1 K,(N4-N4')-(N5-N5') des zxtfeiten Multiplikators sowie den zweiten Oxydationsfaktor K2, eingestellt in der
    zweiten Faktor-Einstelleinrichtung, erhält und hieraus
    die Betriebszeitdauer T=K1 K3(N4-N4 1)-(N5-N5') +K2
    ermittelt; und
    (m) es ist eine Einrichtung zum Zufügen von Ergänzungslösung zur zu kontrollierenden Entwicklerlösung bei konstantem Durclmtz während der Betriebszeitdauer T gemäß dem Ausgang aus dem Addierwerk vorgesehen.
    4. Gerät nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch die folgenden
    weiteren Elemente:
    (n) es ist eine Diehtebereichs-Einstelleinrichtung vorgesehen, die einen zulässigen Dichtebereich Q für das Rechenergebnis K3(N4-N4')-(N5-N5') des dritten Subtraktors einstellt;
    (o) es ist ein Bereichskomparator vorgesehen, der den zulässigen Dichtebereich Q. erhält, v/elcher in der Dichtebereichs-Einstelleinrichtung eingestellt wurde, ferner
    das Rechenergebnis K3(N4-N4^-(N5-N,-1) des dritten
    Subtraktors, und der das letztere mit dem ersteren vergleicht und ein positives oder negatives Signal abgibt, je nach dem, ob das letztere größer oder kleiner als das erstere ist; und
    (p) es ist ein erstes Gatter vorgesehen, das nur dann öffnet, wenn es aus dem Dichtekomparator und dem Bereichskomparator positive Signale erhält.
    5. Gerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergleichskomparator das negative Signal der Ergänzungseinrichtung für konstanten Durchsatz einspeist, so daß die Sr-
    gänzungseinrichtung nur dann geöffnet wird, wenn sie aus dem Bereichskomparator das negative Signal erhält.
    6. Gerät nach einem der Ansprüche J> bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Ergänzungseinrichtung ein Magnetventil, für konstanten Durchsatz ist.
    7· Gerät nach einem der Ansprüche j5 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Ergänzungseinrichtung eine Pumpe für konstanten Durchsatz ist.
    13.07.82
    DrW/MJ
DE19823226542 1981-07-20 1982-07-15 Verfahren und vorrichtung zum kontrollieren der aktivitaet einer entwicklerloesung gegen oxydation unter verwendung eines probestueckes zur anwendung bei einem automatischen entwickler Granted DE3226542A1 (de)

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