JPS5814836A - 自動現像機における試験片試験による対酸化補正管理装置 - Google Patents
自動現像機における試験片試験による対酸化補正管理装置Info
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- JPS5814836A JPS5814836A JP11321981A JP11321981A JPS5814836A JP S5814836 A JPS5814836 A JP S5814836A JP 11321981 A JP11321981 A JP 11321981A JP 11321981 A JP11321981 A JP 11321981A JP S5814836 A JPS5814836 A JP S5814836A
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- G03D3/00—Liquid processing apparatus involving immersion; Washing apparatus involving immersion
- G03D3/02—Details of liquid circulation
- G03D3/06—Liquid supply; Liquid circulation outside tanks
- G03D3/065—Liquid supply; Liquid circulation outside tanks replenishment or recovery apparatus
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photographic Processing Devices Using Wet Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
フィルム自動現像機における現像液の活性度を所定値に
保つには、処理したフィルムの黒化によυ低下した活性
度を回復さぜるために、定流量ポンプや定流量% Ti
a弁を一定時間作動させて、フィルムの現像処理面積と
、予め想定した黒化率とに対応する対酸化補充液ヲ補充
する方法、処理したフィルムの実測黒化面積に対応する
対黒化補充液を補充する方法、フィルムの単位長さの現
像液活性度の低下に対応する補充量を想定し、実測した
処理中のフィルムの進行長さに相当する時間だけ、対黒
化補充液を補充する方法等が知られている。
保つには、処理したフィルムの黒化によυ低下した活性
度を回復さぜるために、定流量ポンプや定流量% Ti
a弁を一定時間作動させて、フィルムの現像処理面積と
、予め想定した黒化率とに対応する対酸化補充液ヲ補充
する方法、処理したフィルムの実測黒化面積に対応する
対黒化補充液を補充する方法、フィルムの単位長さの現
像液活性度の低下に対応する補充量を想定し、実測した
処理中のフィルムの進行長さに相当する時間だけ、対黒
化補充液を補充する方法等が知られている。
また、現像液は酸化によっても疲労し、かつその程度は
、自動現像扱稼動中と休止中により異なるので、稼動単
位時間当りと休止単位時間当シの補充量を変え、稼動時
間と体11−、11.’1間にそれぞれ比例する量の、
対酸化補充液を+11j充する必4!・(がある。
、自動現像扱稼動中と休止中により異なるので、稼動単
位時間当りと休止単位時間当シの補充量を変え、稼動時
間と体11−、11.’1間にそれぞれ比例する量の、
対酸化補充液を+11j充する必4!・(がある。
しかし、上述の補正管理を継1i+”l;すると、管理
程を度の誤差が累損されるため、1r12回程試験片を
通して、その結果により、さらに現11・液を、f11
正する必要がある。
程を度の誤差が累損されるため、1r12回程試験片を
通して、その結果により、さらに現11・液を、f11
正する必要がある。
この試験片による411正管叩のう(ハ★1]酸化ネ1
11正は、従来は、澁淡所定の露光を15えた試験片を
、標準現像液と補正すべき現111テ液で処理して、濃
淡所定の2個所ずつ4個所の濃度を、目視もしくは知変
針で測定して比較し、濃度差に相当する量の対酸化補充
液(以下単に補充液という)を、熟練者の経験と感によ
シ補充してい/ζ0 しかしこの方法は、測定個所のi:、s +4騙差に相
当する補充液の正確な景の決定が困4iiで2(するた
め、通常 −%aや少な目に補充し、その(+3;点で
1」工び試験片を通して試験し、不足分をさらに追加1
11充して、標準状態に回復させているが、操11゛が
大変に面倒であり、かつ時間を要する。
11正は、従来は、澁淡所定の露光を15えた試験片を
、標準現像液と補正すべき現111テ液で処理して、濃
淡所定の2個所ずつ4個所の濃度を、目視もしくは知変
針で測定して比較し、濃度差に相当する量の対酸化補充
液(以下単に補充液という)を、熟練者の経験と感によ
シ補充してい/ζ0 しかしこの方法は、測定個所のi:、s +4騙差に相
当する補充液の正確な景の決定が困4iiで2(するた
め、通常 −%aや少な目に補充し、その(+3;点で
1」工び試験片を通して試験し、不足分をさらに追加1
11充して、標準状態に回復させているが、操11゛が
大変に面倒であり、かつ時間を要する。
本発明は、上述の試験片による対酸化補正を、機械的に
、正4面かつ迅速に行いうるようにした装装置に関する
もので、その特徴とするととろけ、第1図に例示するよ
うな試験片(1)のV、〜淡2個所、たとえば網目ゾー
ン(3)の網点90%と10%の両側定点(4)(5)
の、標準現像液で処理した時の濃度を、それぞれN、
、 N、とじ、補正すべき′fA像液で処理した時の濃
度を、それぞれN、 、 N、とするとき、コンピュー
タの指令により、下記の実験式に従って、補充液を自動
補充するようにしたものである。
、正4面かつ迅速に行いうるようにした装装置に関する
もので、その特徴とするととろけ、第1図に例示するよ
うな試験片(1)のV、〜淡2個所、たとえば網目ゾー
ン(3)の網点90%と10%の両側定点(4)(5)
の、標準現像液で処理した時の濃度を、それぞれN、
、 N、とじ、補正すべき′fA像液で処理した時の濃
度を、それぞれN、 、 N、とするとき、コンピュー
タの指令により、下記の実験式に従って、補充液を自動
補充するようにしたものである。
T =L X Ks l (N4 N4 ) (N
u Na ) ) 十KtTは、補充液補充用屯(瀬
弁を開いている時間O K、 、 K、 、 K、は、1テ用する試験片と現像
液と′+1i充液、娼度測冗点の位置、補充用電磁弁の
流速等により、予め実験的に定めた酸化係数。
u Na ) ) 十KtTは、補充液補充用屯(瀬
弁を開いている時間O K、 、 K、 、 K、は、1テ用する試験片と現像
液と′+1i充液、娼度測冗点の位置、補充用電磁弁の
流速等により、予め実験的に定めた酸化係数。
次に、本発明を、第2図に基いて具体的に説明する。
予め、漉〆計(6)で測定した上記第1標準線度N。
と、縞2標準漏度N6と、第1酸化係数に鬼と、第2酸
化係数に2と、第3酸化係赦に、を、それぞれ第1標準
((’A’i g R定”a (’7) ト、第2標準
?!:’! LCI’−H:’e定器(8)と、裁1酸
化係数設定器(0)と、第2酸化係数設定器00)と、
第3酸化係数設定器(11)に設シ;!シておく。
化係数に2と、第3酸化係赦に、を、それぞれ第1標準
((’A’i g R定”a (’7) ト、第2標準
?!:’! LCI’−H:’e定器(8)と、裁1酸
化係数設定器(0)と、第2酸化係数設定器00)と、
第3酸化係数設定器(11)に設シ;!シておく。
また、使用中の現像液の活性1.vの標準状態に対する
ずれが僅かで、許容範囲内にあり、補正を必要としない
管理幅Qを、予め管211幅設定器(12)に設定して
おく。
ずれが僅かで、許容範囲内にあり、補正を必要としない
管理幅Qを、予め管211幅設定器(12)に設定して
おく。
そして、濃度計(6)で測定した」二記1111定21
..型pl: N:とN、を、第1測定濃度設定器(+
+))と第2測定&j:ii度膜設定器04に設定して
、本装置を始動させると、設定された濃度N番、N番と
N@、 N、は、それぞれ第1減算回路(15)と第2
減算回路(lo)に入ノ月〜て、濃度差N、 −N。
..型pl: N:とN、を、第1測定濃度設定器(+
+))と第2測定&j:ii度膜設定器04に設定して
、本装置を始動させると、設定された濃度N番、N番と
N@、 N、は、それぞれ第1減算回路(15)と第2
減算回路(lo)に入ノ月〜て、濃度差N、 −N。
とN、−N、が演算される。
そして、両温度差N、−N、とN、、1丸は、ともに過
□不足判別回路αIυと第3減算回路(++i)に入
力する。
□不足判別回路αIυと第3減算回路(++i)に入
力する。
過不足判別回路(17)は、両病度差(Na−N+)と
(N。
(N。
−N、)の大小、すなわち現像液が過補充であるか、補
充不足であるかを判別して、それぞれ正負の信号として
、鞘1ゲートθ0)と第2ゲーl−斡カへ出力する。
充不足であるかを判別して、それぞれ正負の信号として
、鞘1ゲートθ0)と第2ゲーl−斡カへ出力する。
H31712算j1−.I V、各(!::) (r、
に、(N、 −N:) −(N、−N、) を演算し
て、その結果を第1乗算回路(21)へ出力する。
に、(N、 −N:) −(N、−N、) を演算し
て、その結果を第1乗算回路(21)へ出力する。
第1乗算回路(21)は、第3減算回路(18)の演算
結果と、第3酸化係数設定器01)より入力する、第3
酸化係数)(3の積K・BN、−N:) −(N、−N
:月を演算して、上記第2ゲート■0)と第2乗算回路
(22)と比較回路■)へ出力する。
結果と、第3酸化係数設定器01)より入力する、第3
酸化係数)(3の積K・BN、−N:) −(N、−N
:月を演算して、上記第2ゲート■0)と第2乗算回路
(22)と比較回路■)へ出力する。
第2ゲー) (20)は、上記過不足判別回路(17)
が負の信号を出力している時、すなわち現像液が補充液
を必要としている時だけ、第1乗算回路(zl)の信号
で開く。
が負の信号を出力している時、すなわち現像液が補充液
を必要としている時だけ、第1乗算回路(zl)の信号
で開く。
第2乗算回路い21ば、z132ゲー) (2i1)の
通過信号により、起動して、第1乗算回路(211の演
算結果と第1酸化係数設定器(9)より入力する第1酸
化係数K・の積、K、 xK、((N、−N4)−(N
s−Ns))を演算して、加算回路に4)へ出力する。
通過信号により、起動して、第1乗算回路(211の演
算結果と第1酸化係数設定器(9)より入力する第1酸
化係数K・の積、K、 xK、((N、−N4)−(N
s−Ns))を演算して、加算回路に4)へ出力する。
比較回路−は、第1乗算回路(zl)の演算結果を、。
管理幅設定器(12)より入力する管理幅Qと比較して
、管理幅Qより小さければ補充不足ランプ(26+を点
灯し、管理幅Q」:り大きければ、正の信号を出力して
ゲート00を!ji’lき、;1lifi葡充ランプ(
シー))を点灯して報知する。
、管理幅Qより小さければ補充不足ランプ(26+を点
灯し、管理幅Q」:り大きければ、正の信号を出力して
ゲート00を!ji’lき、;1lifi葡充ランプ(
シー))を点灯して報知する。
加勢1回路←1)は、第2乗算回ll!IS(ツ)の演
算結果と、第2酸化係数設定器(In) j:り入力す
る第2酸化係数に、(7)和に、 xK、((N、−N
4)−(N、−N、)l−l−’に、を演y1−する。
算結果と、第2酸化係数設定器(In) j:り入力す
る第2酸化係数に、(7)和に、 xK、((N、−N
4)−(N、−N、)l−l−’に、を演y1−する。
この式の11iは、現像液を回収さ一1トるため、補充
液′fm充用′肛磁弁□□□)を開く時間Tと々るので
、加算回路(財))の出力に」:す、箱;磁弁(*yl
を開閉させれば、自動的に現像液の活性鹿を所定IIr
rに保つととができる。
液′fm充用′肛磁弁□□□)を開く時間Tと々るので
、加算回路(財))の出力に」:す、箱;磁弁(*yl
を開閉させれば、自動的に現像液の活性鹿を所定IIr
rに保つととができる。
」二連のように、本発明装置I−1°:によれば、対酸
化+111正をすべて機械的に行うことができるので、
未熟練者でも、1回のttiIEi2な操作により、迅
、連かつ正価に、現俗液の対酸化補正を行うことができ
て甚だ便利であり、かつ自り山現像機の稼動率を同一に
さぜることかできる。
化+111正をすべて機械的に行うことができるので、
未熟練者でも、1回のttiIEi2な操作により、迅
、連かつ正価に、現俗液の対酸化補正を行うことができ
て甚だ便利であり、かつ自り山現像機の稼動率を同一に
さぜることかできる。
なお、上述において、試験片(1)の湿IJt測定0八
自拗現作機の乾燥型出口に、マイク「−スイッチ等の試
姥片検知装−と、この検知装置により作動させられるフ
ィルム搬送一時停止装置、および濃度計(6)を設置し
て、自動的に測定して、本発明装置に入力してもよく、
あるい+d、現像処理済み試験片(1)を、手動的に適
所において温度を測定して、本装置に入力してもよい。
自拗現作機の乾燥型出口に、マイク「−スイッチ等の試
姥片検知装−と、この検知装置により作動させられるフ
ィルム搬送一時停止装置、および濃度計(6)を設置し
て、自動的に測定して、本発明装置に入力してもよく、
あるい+d、現像処理済み試験片(1)を、手動的に適
所において温度を測定して、本装置に入力してもよい。
第1図は、試験片の一例を示す正面図、第2図は、本発
明装置のブロック図である。 (1)試験片 (2)連続階調ゾーン(8)
網目ゾーン (4)(5)測定点(6)濃度泪
(γ)第1標準濃度設定器(8)第2標準濃
度設定器(9)第1酸化係数設定器α0)第2酸化係数
設定器 Oj)第3酸化係数設定器(旧管理幅設定器
f19+第1測定痰度設定器04)第2測定間1度
設定器 (Ib)第1減算回路06)第2減算回路
07)過不足判別回路(18)第3減簀゛回路
(10第1ゲート斡+1第2ゲート (21)第
1乗算回路(財)第2乗算回路 (財))比較回路
(財))加算回路 (財)四ランプ(ロ)電磁
弁 !;モ゛許り比顎人代理人 弁理士 /+11 沢
荘 −同 弁理士 n: 浩 之手続補正
書(自発) 特許庁長官島田審判 殿 ■、事件の表示 昭和56年 特 許 願第115219号3 補正をす
る者 事件との関係 特許出願人 4、代理人 5、 補正命令の日付 自発 6、 補正により増加する発明の改、7六″−詳細な説
明」の欄及び図ii+1 8、補正の内容 (補正の内容) (1) 明細書第1頁第6〜4行、発明の名称を「自
動現像機における試験片による対酸化補正装置」と訂正
する。 (2)同第1頁第6行〜第6頁第5行「特#!F請求の
範囲」を次のように訂正する。 [(1) 標準現像液で処理した試験片(1)の濃淡
2個所の測定点(4)(5)の、それぞれの標準濃度N
4.N5を設定する第1第2両標準濃度設定器(7)(
8)と、補正すべき現像液で処理した、上記と同種の試
験片(1)の上記測定点(4)(5)におけるそれぞれ
の測定濃度N4.N5を設定する第1第2両測定濃度設
定器α利荀と。 補充不足の現像液の活性度を、所定値まで回復させる対
酸化補充液の定流蓋補充手段の作動!皿をTとして、実
験的に求めたT=l(K5る酸化係′e、に1 、 K
2 、 KM を、それぞれ設定する第1酸化係数設定
器(9)、第2酸化係数設定器Ql及び第6酸化係数設
定器αυと、 上記第1標準濃度設定器(力と第1測定濃度設定器03
に設定した濃度N4.挺aを入力して1濃度差N4−N
4を演算する第1減舞[回路a四と、上記第2標準濃度
設定器(8)と第2測定濃度設定器04)に設定した濃
度N51挺5 を入力して、濃度差N5−*5を演算
する第2減算回路0(9と、両派算回路α四〇〇の演算
結果を入力して、画濃度差N4−N4とN5−N5の大
小を判別し、正または負の信号を出力する過不足判別回
路(17)と、両減算回路α!9(16)の演算結果を
入力して、(Na−侵a > −(N5−4s )を演
算する第3減算回路0樽と、 第3減算回路Hの演算結果と、第5酸化係数設定器0υ
に設定した酸化係数に5を入力して、に5路←υと、 上記過不足判別回路(17)の負のイハ号と、第1乗算
回路c11)の負の信号により開く嶋2ゲート翰と、第
2ゲート(至)の通過信号によシ起動し、第1乗算回路
(21)の演算結果と、第1酸化係数設定器(9)に設
定した酸化係数に1を入力し−IQKI(K5路e)と
、 第2乗算回路(2りの演算結果と、第2酸化係数設定器
Qlに設定した酸化係数に2を入力して、Kl(K、5
(Na−賢4)−(N5−付5))十に2を演算する加
算回路Q4と、 加算回路G4)の出力により作動して 峡鷹化葦充液を
補充する定流量補充手段(5)ととをもって構成したこ
とを特徴とする自動現像機における試験片による対酸化
補正vc置。 (2)定流量補充手段が、電磁弁である特許請求の範囲
第(1)項に記載の装置。 (3) 定流量補充手段が、電動式ポンプであること
を特徴とする特許請求の範囲第(1)項に記載の装置。 」 (3)同第4頁第10行 「目視」を 「目視」と訂正する。 (4)同第5頁第10行r T=KI XK3 ((N
a−付4) (N5−N5 ) > +に2 Jを r T=に1 (K3(Na−付4 )−<N5−*5
> )刊(2」と訂正する。 (5)同第5頁第11行〜第12行 「Tは、補充液補充用電磁弁を開いている時間」を、 「Tは、定流量補充手段を作動させている時間」と訂正
する。 (6)同第6頁第15行〜16行 「そして・・・入力する。」を [そして、濃度差(Na−賢a>は過不足判別回路αη
と第1乗算回路Ql)に入口し、濃度差< N5−A5
>は過不足判別回路(17)と第6減算回路Qlに入力
する。」と訂正する。 (7)同第7頁第1〜第8行 「第6減算回路・や・へ出力する。」を[第1乗算回路
0])は、濃度差<Na−*a)と第3酸化係数設定器
aυよp入力する第5酸化係数に3の積に5 (Na
−肩a )を演算して、第3減算回路ttSへ出力する
。 第5減算回路θ枠は、第1乗算回路01)の演算結果に
5 (Na −Na )と上記濃度差(N5−N5 )
の差に5(Na−Na ) −(N5−N5ンを演算し
て、第2ゲート翰と第2乗算回路(ハ)へ出力する。」
と訂正する。 (8)同第7頁第6行 rK、5((Na−Na)−(N5−N5)) Jをr
K5 (Na−Na )−(N5−N5 ) Jに訂
正する。 (9)同第7頁第16行 r KI XK5 ((Na−山)−(N5−N5月」
をr Kl (K5 (Na−N’4 )−(N5−付
5))」と訂正する。 四 同第7頁第20行 「管理幅Q」の次に 「の下限」を加入する。 aυ 同第8頁第1行 「管理幅Q」の次に 「の上限」を加入する。 (13同第8頁第6行 r KIXK3 ((Na−付4)−(N5−付5))
+に2Jをr Kl tKs<Na−*a)−<N5−
付5))+に2Jと訂正する。 α鴫 同第8頁第9行 「電磁弁」の前に 「定流量」を加入する。 I 同第9頁第6行と第7行の間に、次を加入する。 「定流量補充手段としては、上記定流付電磁弁(5)に
代えて、たとえば電磁式定流団ポンプ等、を使用しても
よいことは云うまでもない。」(151図面第2図を、
別紙のように訂正1−る。 (以 上) 第2図 式
明装置のブロック図である。 (1)試験片 (2)連続階調ゾーン(8)
網目ゾーン (4)(5)測定点(6)濃度泪
(γ)第1標準濃度設定器(8)第2標準濃
度設定器(9)第1酸化係数設定器α0)第2酸化係数
設定器 Oj)第3酸化係数設定器(旧管理幅設定器
f19+第1測定痰度設定器04)第2測定間1度
設定器 (Ib)第1減算回路06)第2減算回路
07)過不足判別回路(18)第3減簀゛回路
(10第1ゲート斡+1第2ゲート (21)第
1乗算回路(財)第2乗算回路 (財))比較回路
(財))加算回路 (財)四ランプ(ロ)電磁
弁 !;モ゛許り比顎人代理人 弁理士 /+11 沢
荘 −同 弁理士 n: 浩 之手続補正
書(自発) 特許庁長官島田審判 殿 ■、事件の表示 昭和56年 特 許 願第115219号3 補正をす
る者 事件との関係 特許出願人 4、代理人 5、 補正命令の日付 自発 6、 補正により増加する発明の改、7六″−詳細な説
明」の欄及び図ii+1 8、補正の内容 (補正の内容) (1) 明細書第1頁第6〜4行、発明の名称を「自
動現像機における試験片による対酸化補正装置」と訂正
する。 (2)同第1頁第6行〜第6頁第5行「特#!F請求の
範囲」を次のように訂正する。 [(1) 標準現像液で処理した試験片(1)の濃淡
2個所の測定点(4)(5)の、それぞれの標準濃度N
4.N5を設定する第1第2両標準濃度設定器(7)(
8)と、補正すべき現像液で処理した、上記と同種の試
験片(1)の上記測定点(4)(5)におけるそれぞれ
の測定濃度N4.N5を設定する第1第2両測定濃度設
定器α利荀と。 補充不足の現像液の活性度を、所定値まで回復させる対
酸化補充液の定流蓋補充手段の作動!皿をTとして、実
験的に求めたT=l(K5る酸化係′e、に1 、 K
2 、 KM を、それぞれ設定する第1酸化係数設定
器(9)、第2酸化係数設定器Ql及び第6酸化係数設
定器αυと、 上記第1標準濃度設定器(力と第1測定濃度設定器03
に設定した濃度N4.挺aを入力して1濃度差N4−N
4を演算する第1減舞[回路a四と、上記第2標準濃度
設定器(8)と第2測定濃度設定器04)に設定した濃
度N51挺5 を入力して、濃度差N5−*5を演算
する第2減算回路0(9と、両派算回路α四〇〇の演算
結果を入力して、画濃度差N4−N4とN5−N5の大
小を判別し、正または負の信号を出力する過不足判別回
路(17)と、両減算回路α!9(16)の演算結果を
入力して、(Na−侵a > −(N5−4s )を演
算する第3減算回路0樽と、 第3減算回路Hの演算結果と、第5酸化係数設定器0υ
に設定した酸化係数に5を入力して、に5路←υと、 上記過不足判別回路(17)の負のイハ号と、第1乗算
回路c11)の負の信号により開く嶋2ゲート翰と、第
2ゲート(至)の通過信号によシ起動し、第1乗算回路
(21)の演算結果と、第1酸化係数設定器(9)に設
定した酸化係数に1を入力し−IQKI(K5路e)と
、 第2乗算回路(2りの演算結果と、第2酸化係数設定器
Qlに設定した酸化係数に2を入力して、Kl(K、5
(Na−賢4)−(N5−付5))十に2を演算する加
算回路Q4と、 加算回路G4)の出力により作動して 峡鷹化葦充液を
補充する定流量補充手段(5)ととをもって構成したこ
とを特徴とする自動現像機における試験片による対酸化
補正vc置。 (2)定流量補充手段が、電磁弁である特許請求の範囲
第(1)項に記載の装置。 (3) 定流量補充手段が、電動式ポンプであること
を特徴とする特許請求の範囲第(1)項に記載の装置。 」 (3)同第4頁第10行 「目視」を 「目視」と訂正する。 (4)同第5頁第10行r T=KI XK3 ((N
a−付4) (N5−N5 ) > +に2 Jを r T=に1 (K3(Na−付4 )−<N5−*5
> )刊(2」と訂正する。 (5)同第5頁第11行〜第12行 「Tは、補充液補充用電磁弁を開いている時間」を、 「Tは、定流量補充手段を作動させている時間」と訂正
する。 (6)同第6頁第15行〜16行 「そして・・・入力する。」を [そして、濃度差(Na−賢a>は過不足判別回路αη
と第1乗算回路Ql)に入口し、濃度差< N5−A5
>は過不足判別回路(17)と第6減算回路Qlに入力
する。」と訂正する。 (7)同第7頁第1〜第8行 「第6減算回路・や・へ出力する。」を[第1乗算回路
0])は、濃度差<Na−*a)と第3酸化係数設定器
aυよp入力する第5酸化係数に3の積に5 (Na
−肩a )を演算して、第3減算回路ttSへ出力する
。 第5減算回路θ枠は、第1乗算回路01)の演算結果に
5 (Na −Na )と上記濃度差(N5−N5 )
の差に5(Na−Na ) −(N5−N5ンを演算し
て、第2ゲート翰と第2乗算回路(ハ)へ出力する。」
と訂正する。 (8)同第7頁第6行 rK、5((Na−Na)−(N5−N5)) Jをr
K5 (Na−Na )−(N5−N5 ) Jに訂
正する。 (9)同第7頁第16行 r KI XK5 ((Na−山)−(N5−N5月」
をr Kl (K5 (Na−N’4 )−(N5−付
5))」と訂正する。 四 同第7頁第20行 「管理幅Q」の次に 「の下限」を加入する。 aυ 同第8頁第1行 「管理幅Q」の次に 「の上限」を加入する。 (13同第8頁第6行 r KIXK3 ((Na−付4)−(N5−付5))
+に2Jをr Kl tKs<Na−*a)−<N5−
付5))+に2Jと訂正する。 α鴫 同第8頁第9行 「電磁弁」の前に 「定流量」を加入する。 I 同第9頁第6行と第7行の間に、次を加入する。 「定流量補充手段としては、上記定流付電磁弁(5)に
代えて、たとえば電磁式定流団ポンプ等、を使用しても
よいことは云うまでもない。」(151図面第2図を、
別紙のように訂正1−る。 (以 上) 第2図 式
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 標準現像液で処理した試験片(1)の漏淡2個所の測定
点(4)(5)の、それぞれの標準濃度N、 、 N、
を設定する第1第2両標準派度設定器(’/)(8)と
、補正すべき現像液で処理した、上記と同種の試験片(
1)の上記測定点(4)(5)における測定濃&二N4
、 Nsを設定する+4 ]、 jms 2両測定濃
度設定器H+4)と、補正不足の現像液の活性度を所定
値まで回復させる補尤液補充用弁吹)の開弁時間iTと
して、実験的に求めた、T:KIXf(si(Nl−4
)−(Nl−NB))十に2の式を満足させる酸化係数
に、 、 i(、、K、を、それぞれ設定する第1酸化
係故設定器(9)、第2酸化係数設定器(10)、第3
v化係数設定器(11)と、上記両湿度設定器(7)
(13)に設定1〜た濃1i N、 、 N、介入力し
て、濃度圧N4 Nlを演算する第1減算回路05)
と、 上記画濃度設定器(s)Hに設シIj ly l(−’
7□1ツ度N・、N:を入力して、濃度差N 、 −N
、を演3戸辷る第2減算回路06)と、 両派算回路(+5)(16)の演弊結果イ1:入力して
、両濃度差N、 −N、と凡−N、の大小を判別]7.
11憐トたは負の信号を出力する過不足判別回路(1・
l)と、両派算回路(15)(16)の演算結末を入力
1〜で、(N、 −N、)−4N、−N:)を演算する
、第3減演回路(11Qと、第3減算回路08)の演算
結果と、Ei’: 3 r・1〈゛化係数設定器(11
)に設定した酸化係数Ks f入力して、K、1(Nl
−N:) −(N、−N: > ) を演算するti口
来1.1回路(21)と、上記過不足判別回路(1・l
)の負の(、”:rと、η−1乗−一。 回路(2J)の負の信号により開く第2ゲー1− (2
+1)と、第2ゲート(20)の通過イ計づに、l:リ
ノ1すjliJ+ l〜、第1乗算回路(21)の演算
結果と、j?l’: 1酸化係数設定器(9)に設定し
た酸化係数に1を入力して、K、 、:、に、 l (
、N、 −N、 )−(N、−N:))を演算する第2
来911月^11(ン2)と、)7β2乗写回路(鉤の
演算結j1コと、第2醒化係故設定器叫に設シliシた
酸化係数Kt (T:入力し−c 、 I’(、x K
sl(Nl−N;)−(N、−N、)]−+1に、を演
Jj、、t:する加算回路知)と、 加算回路f21)の出力により開閉して対酸化補充液を
通過させる電1経弁唆) となもって構成したことを特徴とする自動現(8)機に
おける試験片試験による対酸化補正管理装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11321981A JPS5814836A (ja) | 1981-07-20 | 1981-07-20 | 自動現像機における試験片試験による対酸化補正管理装置 |
GB08219024A GB2106666B (en) | 1981-07-20 | 1982-07-01 | Controlling activity of developing solution against oxidation |
US06/395,699 US4527878A (en) | 1981-07-20 | 1982-07-06 | Method and apparatus for controlling activity of developing solution against oxidation by using a test piece |
DE3226542A DE3226542C2 (de) | 1981-07-20 | 1982-07-15 | Verfahren und Gerät zum Prüfen und Regenerieren einer Entwicklerlösung |
FR8212549A FR2509879A1 (fr) | 1981-07-20 | 1982-07-19 | Procede et appareil pour controler l'activite d'une solution de developpement et s'opposer a son oxydation en utilisant une eprouvette |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11321981A JPS5814836A (ja) | 1981-07-20 | 1981-07-20 | 自動現像機における試験片試験による対酸化補正管理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5814836A true JPS5814836A (ja) | 1983-01-27 |
Family
ID=14606587
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11321981A Pending JPS5814836A (ja) | 1981-07-20 | 1981-07-20 | 自動現像機における試験片試験による対酸化補正管理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5814836A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61185749A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 写真焼付装置 |
EP0649060A1 (en) * | 1993-10-14 | 1995-04-19 | Eastman Kodak Company | Photosensitive material processor |
US6091150A (en) * | 1996-09-03 | 2000-07-18 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuitry comprising electrically insulative material over interconnect line tops, sidewalls and bottoms |
-
1981
- 1981-07-20 JP JP11321981A patent/JPS5814836A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61185749A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 写真焼付装置 |
JPH0549095B2 (ja) * | 1985-02-14 | 1993-07-23 | Fuji Photo Film Co Ltd | |
EP0649060A1 (en) * | 1993-10-14 | 1995-04-19 | Eastman Kodak Company | Photosensitive material processor |
US6091150A (en) * | 1996-09-03 | 2000-07-18 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuitry comprising electrically insulative material over interconnect line tops, sidewalls and bottoms |
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