DE3223563A1 - Verfahren und anordnung zur charakterisierung eines systems durch spektralanalyse - Google Patents

Verfahren und anordnung zur charakterisierung eines systems durch spektralanalyse

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DE19823223563
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Gerard Joseph 94260 Fresnes Val de Marne Attal
Ahmed Mohamed Kairo Hamad
Georges Bernard 92120 Montrouge Hauts de Seine Seignier
Antoine 78320 Le Mesnil Saint Denis Yvelines Sorba
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Ecole Superieure dElectricite SUPELEC
Safran Data Systems SAS
Original Assignee
Ecole Superieure dElectricite SUPELEC
Enertec SA
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response

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