DE3147642C2 - Verfahren und Vorrichtung für die emissionsspektrometrische Untersuchung von metallischen Proben - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung für die emissionsspektrometrische Untersuchung von metallischen ProbenInfo
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Abstract
Bei der emissionsspektrometrischen Untersuchung von metallischen Proben mittels unipolarer Entladungen schlägt sich auf der Gegenelektrode Material der Proben nieder, das zum Verfälschen der Meßergebnisse führt. Erfindungsgemäß werden mit Beginn der Vorfunkzeit Halbwellen der unipolaren Entladung durch schwingende Entladungen ersetzt, indem von zwei parallel geschalteten Entladewiderständen der eine Entladekondensator und der eine Entladewiderstand überbrückbar sind und die Überbrückung nach einer vorgegebenen Zeitspanne mit Beginn der Vorfunkzeit aufgehoben wird.
Description
de bestehenden Funkenstrecke ist eine Steuerfunkenstrecke 7 vorgeschaltet, die mittels einer an sich bekannten
Schaltung 8 zur Spannungsverdoppelung betrieben wird. Die zwischen der metallischen Probe und der Gegenelektrode
ausgelöste Entladung verläuft in Halbwellen (unipolare Entladungen). Während dieser Halbwellen
wird Material der zu untersuchenden metallischen Proben abgetragen und gelangt zum Teil auf die Gegenelektrode.
Durch diesen Materialaufbau auf eier Gegenelektrode wanden im Verlauf der Meßreihen die Meßergebnisse
beeinflußt. Um diesem Nachteil abzuhelfen, wurde bisher die Gegenelektrode mechanisch gesäubert.
Um dieses mechanische Säubern insbesondere bei vollautomatischen Anlagen zu vermeiden, erfolgt eine
Reinigung der Gegenelektrode in der Weise, daß mit Beginn der Vorfunkzeit dieser Materialaufbau auf der
Gegenelektrode durch schwingende Entladungen entfernt wird. Zu diesem Zwecke ist gemäß F i g. 2 der Entladekondensator
4 aus Fig. I ersetzt durch die zwei zueinander parallel angeordneten Entladekondensatoren
9 und 10, während der Entladewiderstand 3 aus Fi g. 1 durch die beiden in Serie geschalteten Entladewiderstände
11 und 12 ersetzt ist. Der Entladekondensator 10 und der Entladewiderstand 12 sind überbrückbar. Zu
diesem Zwecke ist ein Relais 13 vorgesehen, das über einen Zähler 14 angesteuert wird. Jeweils mit Beginn
der Vorfunkzeit zählt der Zähler eine vorgebbare Anzahl von Impulsen, die den Schwingungen im Primärkreis
entsprechen. Sobald der Zähler eine vorgegebene Anzahl von Impulsen gezählt hat, wird das Relais 13
angesteuert, das dann die Überbrückung des Entladekondensators 10 und des Entladewiderstandes 12 aufhebt,
so daß dann die schwingenden Entladungen in die unipolare Entladung übergehen.
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Claims (4)
1. Verfahren für die emissionsspcktrometrische liuegrationszeit an, während der den Intensitäten der
Untersuchung von metallischen Proben, indem in ei- 5 Spektrailinien proportionale Ladungsmengen integriert
ner Inertgasatmosphäre zwischen einer Gegenelek- und anschließend ausgewertet werden.
trode und einer metallischen Probe durch eine uni- Die Funkenspektren werden unter anderem mittels
polare Entladung ein Funkenspektrum erzeugt und unipolarer Entladungen erzeugt Es ist bekannt (DE-PS
auf ein Gitter abgebildet wird und nach Ablauf der 6 13 186) im Entladungskreis einen Dämpfungswider-Vorfunkzeit
die Intensitäten der Spektrailinien aus- io stand von konstantem Wert anzuordnen, der geringfügewertet
werden, dadurch gckennzeich- gig größer ist als der durch die erweiterte Thomson'sche
net, daß zum Entfernen von niedergeschlagenem Schwingungsgleichung bestimmte Ohm'sche WiderMaterial bereits untersuchter Materialproben auf stand. Hierdurch wird erreicht, daß nur Material der
der Gegenelektrode mit Beginn der Vorfunkenzeit einen Elektrode verdampft
vor Erzeugung von Halbwellen der unipolaren Ent- 15 Oic Erfindung bezieht sich auf mittels unipolarer Entladung
schwingende Entladungen erzeugt werden, ladungen erzeugter Funkenspektren. Während einer
2. Vorrichtung für die embsionsspektrometrische Entladung verdampft Material an der Oberfläche der
Untersuchung von metallischen Proben, die einen Materialproben und schlägt sich zum Teil auf der Ge-Entladungskreis
mit mindestens einem Entladekon- genelektrode nieder. Da dies zu einem Verfälschen der
densator und mit mindestens einem Entladewider· 20 Meßergebnisse führen kann, ist es erforderlich, von Zeit
stand zur Erzeugung einer unipolaren Entladung für zu Zeit die Gegenelektrode mechanisch zu säubern. Das
ein Funkenspektrum zwischen einer Gegenelektro- mechanische Säubern ist jedoch dann zu umständlich,
de und einer metallischen Probe sowie Mittel zur wenn die gesamte spektralanalytische Untersuchung
Abbildung des Funkenspektrums auf ein Gitter und vollautomatisch und in kurzer Zeit erfolgen soll.
zur Auswertung der Intensitäten der Spektrallinien 2s Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde,
nach Ablauf der Vorfunkzeit aufweist dadurch ge- ein Verfahren und eine Vorrichtung der eingangs gekennzeichnet,
daß zum Entfernen von niederge- nannten Gattung so weiterzubilden, daß es ermöglicht
schlagenem Material bereits untersuchter Material- wird, automatisch die Gegenelektrode von dem niederproben
auf der Gegenelektrode mit Beginn der Vor- geschlagenen Material bereits untersuchter Materialfunkzeit
zum Erzeugen schwingender Entladungen 30 proben zu säubern.
vor der Erzeugung von Halbwellen der unipolaren Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt bei einem Verfah-
Entladung die Kapazität des Entladekondensators rcn bzw. einer Vorrichtung der eingangs genannten Art
und der Widerstandswert des Entladewidcrstandes durch die kennzeichnenden Merkmale der Ansprüche t
kurzzeitig verringerbar sind. bzw. 2.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn- 35 Dadurch, daß zum Entfernen von niedergeschlagezeichnet,
daß zwei parallel geschaltete Entladekon- nem Material bereits untersuchter Materialproben auf
densatoren (9 und 10) und zwei in Reihe geschaltete der Gegenelektrode mit Beginn der Vorfunkenzeit
Entladewiderstände (11 und 12) vorgesehen sind, Halbwellen der unipolaren Entladung durch schwingenwobei
jeweils der eine Entladekondtnsator (tO) und de Entladungen ersetzt werden, wird erreicht, daß dieder
eine Entladewiderstand (12) überbrückbar sind. 40 ser Materialniederschlag auf der Gegenelektrode wäh-
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekenn- rend eines Bruchteils der Vorfunkzeit entfernt wird, die
zeichnet, daß ein Zähler (14) vorgesehen ist, der nach während dieser Zeit gewissermaßen die Funktion einer
Summation einer vorgegebenen Anzahl von Materialprobe übernimmt.
Schwingungen des Primärkreises ein Relais (13) an- Gemäß einem Ausfuhrungsprinzip ist die Vorrich-
steuert, das die Überbrückung des einen Entlade- 45 tung gekennzeichnet durch zwei paraflel geschaltete
kondensator und des einen Entladewiderstandes Eniladekondensaloren, von denen der eine überbrückaufhebt,
bar ist und zwei in Reihe geschaltete Entladewiderstände, von denen der eine ebenfalls überbrückbar ist.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung
50 der Erfindung weist die Vorrichtung einen Zähler auf, der nach Summation einer vorgegebenen Anzahl von
Die Erfindung betrifft ein Verfahren für die emis- Schwingungen des Primärkreises ein Relais ansteuert,
sionsspektrometrische Untersuchung von metallischen das die Überbrückung des einen Entladekondensators
Proben, gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie und des einen Entladewiderstandes aufhebt,
eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens, ge- 55 Die Erfindung ist anhand eines Ausführungsbeispiels maß dem Oberbegriff des Anspruchs 2. in der Zeichnung erläutert. Es zeigt
eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens, ge- 55 Die Erfindung ist anhand eines Ausführungsbeispiels maß dem Oberbegriff des Anspruchs 2. in der Zeichnung erläutert. Es zeigt
Die Erfindung befaßt sich mit ortsfesten Geräten für Fi g. 1 eine Schaltung zur Erzeugung unipolarer Ent-
die emissionsspektrometrische bzw. spektralanlalyti- ladungen nach dem Stand der Technik und
sehe Untersuchung von metallischen Proben, die auch F i g. 2 ein Ausführungsbeispiel der Erfindung,
sehe Untersuchung von metallischen Proben, die auch F i g. 2 ein Ausführungsbeispiel der Erfindung,
als Quantometer bezeichnet werden. Diese Untersu- 60 In Fig. 1 ist mit 1 ein Netztransformator bezeichnet,
chungen verlaufen im allgemeinen in der Weise, daß in dessen Sekundärkreis in Reihe eine Diode 2 und ein
zunächst die metallischen Proben an der Oberfläche ab- Entladewiderstand 3 geschaltet sind. Parallel zu der Segeschliffen
werden, so daß eine metallische Fläche frei- kundärwicklung des Transformators und der Diode liegt
gelegt wird. Nach Anordnen einer metallischen Probein ein geerdeter Entladekondensator 4. Dem Entladewidem
ortsfesten Analysengerät wird eine Inertgasatmo- b5 derstand ist die Gegenelektrode 5 nachgeschaltet. Sie
Sphäre erzeugt und dann zwischen der blanken Oberflä- bildet mit der zu untersuchenden, geerdeten metalliche
der metallischen Probe und einer Gegenelektrode sehen Probe 6 eine Funkenstrecke zur Erzeugung uniwährend
der sogenannten Vorfunkzeit eine Entladung polarer Entladungen. Der aus Probe und Gegenelektro-
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3147642A DE3147642C2 (de) | 1981-12-02 | 1981-12-02 | Verfahren und Vorrichtung für die emissionsspektrometrische Untersuchung von metallischen Proben |
GB08233508A GB2113013B (en) | 1981-12-02 | 1982-11-24 | Spark emission-spectrometric analysis of metallic test samples |
FR8219871A FR2517430B1 (fr) | 1981-12-02 | 1982-11-26 | Procede et dispositif d'analyse par spectrometrie d'emission d'echantillons metalliques |
US06/446,051 US4556315A (en) | 1981-12-02 | 1982-12-01 | Process and apparatus for the emission-spectroscopical testing of metallic samples |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3147642A DE3147642C2 (de) | 1981-12-02 | 1981-12-02 | Verfahren und Vorrichtung für die emissionsspektrometrische Untersuchung von metallischen Proben |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3147642A1 DE3147642A1 (de) | 1983-06-16 |
DE3147642C2 true DE3147642C2 (de) | 1984-12-13 |
Family
ID=6147674
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3147642A Expired DE3147642C2 (de) | 1981-12-02 | 1981-12-02 | Verfahren und Vorrichtung für die emissionsspektrometrische Untersuchung von metallischen Proben |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4556315A (de) |
DE (1) | DE3147642C2 (de) |
FR (1) | FR2517430B1 (de) |
GB (1) | GB2113013B (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4641968A (en) * | 1984-12-17 | 1987-02-10 | Baird Corporation | Mobile spectrometric apparatus |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE613186C (de) * | 1933-10-20 | 1935-05-15 | Heraeus Gmbh W C | Einrichtung zur Funkenspektralanalyse |
DE1127612B (de) * | 1959-02-06 | 1962-04-12 | Academia Republicii Populare R | Kombinierte Spektralquelle fuer Spektralanalysen |
GB970553A (en) * | 1962-03-02 | 1964-09-23 | Hilger & Watts Ltd | Spectrochemical light sources |
FR1337846A (fr) * | 1962-08-06 | 1963-09-20 | Siderurgie Fse Inst Rech | Procédé et dispositif d'émission et d'analyse spectrales |
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-
1981
- 1981-12-02 DE DE3147642A patent/DE3147642C2/de not_active Expired
-
1982
- 1982-11-24 GB GB08233508A patent/GB2113013B/en not_active Expired
- 1982-11-26 FR FR8219871A patent/FR2517430B1/fr not_active Expired
- 1982-12-01 US US06/446,051 patent/US4556315A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2517430A1 (fr) | 1983-06-03 |
GB2113013A (en) | 1983-07-27 |
DE3147642A1 (de) | 1983-06-16 |
GB2113013B (en) | 1985-10-30 |
FR2517430B1 (fr) | 1986-06-20 |
US4556315A (en) | 1985-12-03 |
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