DE3136105C2 - - Google Patents

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Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Aus der DE-OS 28 24 564 ist eine Vorrichtung zur Wärmebehand­ lung von Halbleiterplättchen bekannt, bei der die Erwärmung über eine Strahlungsquelle mit dahinter angebrachtem fokus­ sierendem Spiegel bewerkstelligt wird. Diese Anordnung ist nicht nur aufwendig, sondern ermöglicht auch keine genaue zeitliche Steuerung der Erwärmung.
Aus der JP-55-77 145 (A2) ist eine Vorrichtung bekannt, mittels derer ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1 durchführbar ist. Wenn bei dieser Vorrichtung alle Blitzent­ ladungslampen gleichzeitig gezündet werden, so wird das Licht der Blitzentladungslampen einer ersten Gruppe durch das Plasma absorbiert, das durch das Licht der Blitzent­ ladungslampen der zweiten Gruppe erzeugt wird. Dadurch er­ gibt sich eine erhebliche Verminderung der erzielbaren Strahlungsintensität bzw. eine Verminderung der Wirkungs­ grades.
Ausgehend vom obengenannten Stand der Technik, ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren der ein­ gangs genannten Art dahingehend weiterzubilden, daß die Strahlungsintensität bzw. der Wirkungsgrad beim Tempern verbessert werden.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 aufgeführ­ ten kennzeichnenden Merkmale gelöst; bevorzugte Ausführungs­ formen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Im folgenden ist die Erfindung mit weiteren vorteilhaften Einzelheiten anhand eines schematisch dargestellten Aus­ führungsbeispiels näher erläutert. In den Zeichnungen zeigt
Fig. 1 ein Schema eines Beispiels einer Blitzent­ ladungslampe zur Verwendung gemäß der Er­ findung;
Fig. 2 ein Schema eines Beispiels einer Tempervor­ richtung gemäß der Erfindung.
Bei dem in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiel weist ei­ ne zur erfindungsgemäßen Verwendung geeignete Blitzentla­ dungslampe ein Elektrodenpaar 1 auf. Die Bogenlänge der Lampe ist mit L 1 bezeichnet, während der Außen- bzw. In­ nendurchmesser eines Lampenkolbens 2 mit D 1 bzw. D 2 be­ zeichnet ist.
In Fig. 2 ist die Tempervorrichtung im Schnitt in Längs­ richtung von Blitzentladungslampen 3 gezeigt. Auf einem Tisch 4 ist ein Halbleiterplättchen 5 angeordnet, während die Blitzentladungslampen 3 in Ebenen S 1 bzw. S 2 angeord­ net sind, die parallel zum Halbleiterplättchen 5 und die­ sem benachbart verlaufen. Ferner ist in einer parallel zu den Ebenen S 1 und S 2, der Ebene S 2 an der dem Tisch 4 ge­ genüberliegenden Seite benachbart ein ebener Spiegel 6 angeordnet. Je nach Bedarf ist eine Lichtabschirmung 6′ bzw. reflektierende Platten vorgesehen. Der Bestrahlungs­ abstand ist mit H 1 und die Bestrahlungsbreite mit L 2 be­ zeichnet.
In einem bestimmten Beispiel sind in der erfindungsgemäßen Vorrichtung folgende numerische Werte gegeben: Acht Blitz­ entladungslampen 3, die jeweils einen Außendurchmesser D 1 von 10 mm und einen Innendurchmesser D 2 von 8 mm sowie eine Bogenlänge L 1 von 80 mm haben, sind eng beieinander in der Ebene S 1 in einem Abstand von 10 mm (H 1 = 10 mm) von dem Halbleiterplättchen 5 angeordnet, welches einen Durchmesser von 50,80 mm (2 Zoll) hat. Acht weitere Blitz­ entladungslampen 3 der gleichen Größe sind in der Ebene S 2 parallel zur Ebene S 1 so angeordnet, daß sie enge Be­ rührung mit den Blitzentladungslampen 3 in der Ebene S 1 haben. Der ebene Spiegel 6 ist in der Ebene S 3 parallel zur Ebene S 2 angeordnet und hat einen Abstand von ca. 2 mm (H 2 = 2 mm) von den Blitzentladungslampen 3 in der Ebene S 2. Folglich beträgt der Abstand zwischen dem Halbleiter­ plättchen 5 und der Ebene S 1 15 mm, der Abstand zwischen den Ebenen S 1 und S 2 10 mm und der Abstand zwischen den Ebenen S 2 und S 3 7 mm, und der Flächenbereich der Ebene der durch die Blitzentladungslampe 3 geschaffenen Licht­ quelle mißt 80 × 80 mm.
Unter dem Gesichtspunkt einer wirksamen Ausnutzung des Lichtflusses aus der Ebene der Lichtquelle sollte vor­ zugsweise der Abstand H 1 zwischen der Ebene S 1 und dem Halbleiterplättchen 5 und der Abstand H 2 zwischen der Ebene S 2 und dem ebenen Spiegel 6 so gewählt sein, daß die Stärke der Belichtung am Halbleiterplättchen 5 ca. 70% oder mehr der bei einer gewöhnlichen ebenen Licht­ quelle, ausgedrückt in Belichtungsstärke in Richtung senk­ recht vom Mittelpunkt der Lichtquelle ist.
Wenn man ein Halbleiterplättchen unter Benutzung her­ kömmlicher Xenonlampen oder Blitzentladungslampen tem­ pert, wird, da die Oberfläche des Halbleiterplättchens hochglanzpoliert ist, eine beträchtliche Menge des ein­ fallenden Lichts von der Oberfläche des Plättchens re­ flektiert, so daß das Plättchen mit einer sehr großen Lichtmenge bestrahlt werden muß. Da jedoch erfindungsgemäß das Halbleiterplättchen 5 und der ebene Spiegel 6 in pa­ rallelem und benachbartem Verhältnis zu beiden Seiten der Blitzentladungslampen angeordnet sind, wird vom Halblei­ terplättchen 5 reflektiertes Licht durch den ebenen Spie­ gel 6 auf das Halbleiterplättchen zurückreflektiert und eine vielfache Reflexionswirkung durch dieses wiederholte Reflektieren erzielt, wodurch das Licht der Blitzentla­ dungslampen außerordentlich günstig genutzt werden kann.
Mit der oben beschriebenen Tempervorrichtung kann ein Si­ liziumplättchen, welches mit Phosphor in einer Menge von 1 × 1015 Atome/cm2 mittels einer Energie von 50 KeV do­ tiert wurde, nach einem Vorerwärmen bis zu 400°C im Elek­ troofen dadurch ausreichend getempert werden, daß es der Lichtbestrahlung der Blitzentladungslampen ausgesetzt wird, die jeweils so angetrieben sind, daß sie eine Strahlungsenergie von 3000 Joule während einer Impuls­ breiten-(1/2-Spitzenwert)-Periode von 800 µs abgeben. Durch das Vorerwärmen wird das Halbleiterplättchen we­ der verworfen noch getempert und auch keine Rediffusion des Dotierungsmittels hervorgerufen. Mit anderen Worten, das Vorerwärmen ist lediglich ein zusätzliches, hilfswei­ ses Erwärmen für das Tempern mittels der Blitzentladungs­ lampen. Das Vorerwärmen auf eine Temperatur unterhalb 400°C dient als zusätzliche Erwärmung für das augenblick­ liche Erhitzen und Tempern des Halbleiterplättchens mit­ tels der Blitzlichtbestrahlung, ohne nachteiligen Ein­ fluß auf das Halbleiterplättchen zu haben.
Ob das Halbleiterplättchen ausreichend getempert wurde oder nicht, wird anhand des Dotierungswirkungsgrades fest­ gestellt. Der Wirkungsgrad der Dotierung beträgt 100%, wenn das gleichzeitige Aufleuchten der acht Blitzentla­ dungslampen 3 in der Ebene S 2 um ca. 800 µs gegenüber dem gleichzeitigen Aufleuchten der acht Blitzentladungslampen 3 in der Ebene S 1 verzögert ist. Dies verzögerte Aufleuch­ ten soll kurz erläutert werden. Selbst wenn die Blitzent­ ladungslampen 3 in der Ebene S 2 beim Aufleuchten der Blitzentladungslampen 3 in der Ebene S 1 zum Aufleuchten gebracht werden, ändert sich der Nutzungsgrad des Lichtes der Blitzentladungslampen 3 in der Ebene S 2 aufgrund der Absorption von Licht durch Plasma, welches in den Blitz­ entladungslampen 3 in der Ebene S 1 auftritt. Wenn z. B. ein unverzögertes Aufleuchten oder gleichzeitiges Auf­ leuchten der Blitzentladungslampen in beiden Ebenen S 1 und S 2 erfolgt, beträgt der Dotierungswirkungsgrad 85%. Wenn nur die Blitzentladungslampen in einer der Ebenen S 1 oder S 2 aufleuchten, beträgt der Dotierungswirkungsgrad ca. 50%.
Das Verhältnis zwischen der Beleuchtungsintensität und dem Dotierungswirkungsgrad schwankt auch mit der Konzen­ tration des benutzten Dotierungsmittels. Wenn die Konzen­ tration 1 × 1015 Atome/cm2 beträgt, wie schon erwähnt, ist eine ziemlich starke Lichtintensität erforderlich. Hierzu müssen die Blitzentladungslampen in zwei Lagen in den Ebenen S 1 und S 2 angeordnet und der Einfluß der Licht­ absorption durch Plasma auf ein Minimum eingeschränkt wer­ den, um die maximale Lichtintensität zu erzielen. Im Fall einer niedrigen Konzentration des Dotierungsmittels im Größenordnungsbereich von 1014 kann jedoch manchmal bei Benutzung einer einlagigen Anordnung der Blitzentladungs­ lampen ein Dotierungswirkungsgrad von 60% oder mehr er­ reicht werden.
Der Wert der Strahlungsenergie jeder einzelnen Blitzent­ ladungslampe, die Anzahl zu benutzender Blitzentladungs­ lampen, die Anzahl Lagen, in denen die Lampen angeordnet werden, und die zeitliche Verzögerung im Aufleuchten der Lampen kann in Übereinstimmung mit der Art und Menge des benutzten Dotierungsmittels und der Energie zum Implan­ tieren derselben festgelegt werden.
Da die Oberfläche des Halbleiterplättchens, welches ge­ tempert werden soll, hochglanzpoliert ist, ist es jedoch in jedem Fall wichtig, daß die Ebene, in der das Halblei­ terplättchen angeordnet wird, die Ebene oder Ebenen, in denen die Blitzentladungslampen angeordnet werden, und die Ebene, in der der ebene Spiegel angeordnet wird, pa­ rallel zueinander und einander benachbart liegen, um die Mehrfachreflexionswirkung des Halbleiterplättchens und des ebenen Spiegels voll auszunutzen. Die in geraden Ebe­ nen angeordneten Blitzentladungslampen bilden im wesent­ lichen eine ebene Quelle von Blitzlicht hoher Intensität, mit dessen Hilfe ein großflächiges Halbleiterplättchen in einem kurzen Moment durch und durch gleichmäßig getempert werden kann. Mit der Erfindung werden also die Nachteile des Standes der Technik vermieden.

Claims (4)

1. Verfahren zum Tempern von Halbleitern mittels eines Tisches für Halbleiterplättchen, mittels Blitzentladungslampen über dem Tisch und mittels eines Spiegels an der dem Tisch gegenüberliegenden Seite der Blitzentladungslampen, dadurch gekennzeichnet, daß von mehreren Blitzentladungslampen in zwei oder mehreren zu dem Tisch parallelen Ebenen mindestens eine Blitzentladungslampe in einer der Ebenen nach mindestens einer der Blitzentladungslampen in einer anderen Ebene zum Aufleuchten gebracht wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß man die Blitzentladungslampen in jeder Ebene zu denen in einer anderen Ebene um eine Zeitspanne von etwa 800 µs verzögert aufleuchten läßt.
3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß man alle Entladungslampen in einer Ebene gleichzeitig zum Aufleuchten bringt und dazu zeitversetzt alle Entla­ dungslampen in den anderen Ebenen.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß man das Halbleiterplättchen auf eine Temperatur vorer­ wärmt, bei der noch keine Rediffusion des Dotierungsmittels hervorgerufen wird, bevor man die Blitzentladungslampen zum Aufleuchten bringt.
DE19813136105 1980-09-12 1981-09-11 "verfahren und vorrichtung zum tempern von halbleitern" Granted DE3136105A1 (de)

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Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5764937A (en) * 1980-10-09 1982-04-20 Ushio Inc Annealing device
JPS59190300A (ja) * 1983-04-08 1984-10-29 Hitachi Ltd 半導体製造方法および装置
JPS59197142A (ja) * 1983-04-22 1984-11-08 Ushio Inc 光照射装置
JPS62128525A (ja) * 1985-11-29 1987-06-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物半導体基板のアニ−ル方法
FR2594529B1 (fr) * 1986-02-19 1990-01-26 Bertin & Cie Appareil pour traitements thermiques de pieces minces, telles que des plaquettes de silicium
US4981815A (en) * 1988-05-09 1991-01-01 Siemens Aktiengesellschaft Method for rapidly thermally processing a semiconductor wafer by irradiation using semicircular or parabolic reflectors
US5561735A (en) * 1994-08-30 1996-10-01 Vortek Industries Ltd. Rapid thermal processing apparatus and method
US5960158A (en) * 1997-07-11 1999-09-28 Ag Associates Apparatus and method for filtering light in a thermal processing chamber
DE19808246B4 (de) * 1998-02-27 2004-05-13 Daimlerchrysler Ag Verfahren zur Herstellung eines mikroelektronischen Halbleiterbauelements mittels Ionenimplatation
US5970214A (en) * 1998-05-14 1999-10-19 Ag Associates Heating device for semiconductor wafers
US5930456A (en) * 1998-05-14 1999-07-27 Ag Associates Heating device for semiconductor wafers
US6210484B1 (en) 1998-09-09 2001-04-03 Steag Rtp Systems, Inc. Heating device containing a multi-lamp cone for heating semiconductor wafers
US6771895B2 (en) 1999-01-06 2004-08-03 Mattson Technology, Inc. Heating device for heating semiconductor wafers in thermal processing chambers
US6303411B1 (en) 1999-05-03 2001-10-16 Vortek Industries Ltd. Spatially resolved temperature measurement and irradiance control
US6594446B2 (en) * 2000-12-04 2003-07-15 Vortek Industries Ltd. Heat-treating methods and systems
US7255899B2 (en) * 2001-11-12 2007-08-14 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Heat treatment apparatus and heat treatment method of substrate
TWI242815B (en) * 2001-12-13 2005-11-01 Ushio Electric Inc Method for thermal processing semiconductor wafer
WO2003060447A1 (en) * 2001-12-26 2003-07-24 Vortek Industries Ltd. Temperature measurement and heat-treating methods and systems
US6998580B2 (en) * 2002-03-28 2006-02-14 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Thermal processing apparatus and thermal processing method
US6849831B2 (en) * 2002-03-29 2005-02-01 Mattson Technology, Inc. Pulsed processing semiconductor heating methods using combinations of heating sources
JP3746246B2 (ja) 2002-04-16 2006-02-15 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
US7135423B2 (en) * 2002-05-09 2006-11-14 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc Methods for forming low resistivity, ultrashallow junctions with low damage
KR101163682B1 (ko) 2002-12-20 2012-07-09 맷슨 테크날러지 캐나다 인코퍼레이티드 피가공물 지지 장치
JP2005072045A (ja) * 2003-08-26 2005-03-17 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2005079110A (ja) * 2003-08-29 2005-03-24 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2005136198A (ja) 2003-10-30 2005-05-26 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
JP5630935B2 (ja) * 2003-12-19 2014-11-26 マトソン テクノロジー、インコーポレイテッド 工作物の熱誘起運動を抑制する機器及び装置
US20140003800A1 (en) * 2004-09-24 2014-01-02 Applied Materials, Inc. Processing multilayer semiconductors with multiple heat sources
JP5967859B2 (ja) * 2006-11-15 2016-08-10 マトソン テクノロジー、インコーポレイテッド 熱処理中の被加工物を支持するシステムおよび方法
KR101610269B1 (ko) 2008-05-16 2016-04-07 맷슨 테크놀로지, 인크. 워크피스 파손 방지 방법 및 장치
US8720052B2 (en) * 2008-05-20 2014-05-13 3M Innovative Properties Company Method for continuous sintering on indefinite length webs
KR20150144585A (ko) 2014-06-17 2015-12-28 엘지전자 주식회사 태양 전지의 후처리 장치
US20170358446A1 (en) * 2016-06-13 2017-12-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Wafer processing apparatus and wafer processing method using the same

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2282226A (en) * 1941-09-09 1942-05-05 Westinghouse Electric & Mfg Co Control means for industrial heattreating furnaces
US3529129A (en) * 1968-02-23 1970-09-15 Xerox Corp Reflection type flash fuser
JPS5217216B2 (de) * 1972-02-20 1977-05-13
US3883296A (en) * 1973-01-16 1975-05-13 Betty J Salvage Portable metal heat treating furnace
GB1509312A (en) * 1974-04-01 1978-05-04 Nippon Paint Co Ltd Method and apparatus for curing photo-curable composition
JPS50133532A (de) * 1974-04-10 1975-10-22
US3984726A (en) * 1975-04-25 1976-10-05 Ppg Industries, Inc. Ultraviolet light system having means for maintaining constant intensity light profile
US4101759A (en) * 1976-10-26 1978-07-18 General Electric Company Semiconductor body heater
FR2394173A1 (fr) * 1977-06-06 1979-01-05 Thomson Csf Procede de fabrication de dispositifs electroniques qui comportent une couche mince de silicium amorphe et dispositif electronique obtenu par un tel procede
JPS5568638A (en) * 1978-11-17 1980-05-23 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Treating method of semiconductor surface with heat
JPS5577145A (en) * 1978-12-05 1980-06-10 Ushio Inc Annealing furnace
JPS56100412A (en) * 1979-12-17 1981-08-12 Sony Corp Manufacture of semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
DE3136105A1 (de) 1982-04-29
US4504323A (en) 1985-03-12
JPS5750427A (en) 1982-03-24

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