DE3124902C2 - - Google Patents

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DE3124902C2
DE3124902C2 DE3124902A DE3124902A DE3124902C2 DE 3124902 C2 DE3124902 C2 DE 3124902C2 DE 3124902 A DE3124902 A DE 3124902A DE 3124902 A DE3124902 A DE 3124902A DE 3124902 C2 DE3124902 C2 DE 3124902C2
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Marinus Theodorus Maria Segers
Cornelis Niessen
Krijn Eindhoven Nl Kuiper
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Koninklijke Philips NV
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
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DE19813124902 1980-07-21 1981-06-25 "anordnung zur pruefung einer schaltung mit kombinatorisch und mit sequentiell arbeitenden logischen elementen" Granted DE3124902A1 (de)

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NL8004176A NL8004176A (nl) 1980-07-21 1980-07-21 Inrichting voor het testen van een schakeling met digitaal werkende en kombinatorisch werkende onderdelen.

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DE3124902A1 DE3124902A1 (de) 1982-05-19
DE3124902C2 true DE3124902C2 (OSRAM) 1989-11-16

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DE19813124902 Granted DE3124902A1 (de) 1980-07-21 1981-06-25 "anordnung zur pruefung einer schaltung mit kombinatorisch und mit sequentiell arbeitenden logischen elementen"

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JP (1) JPS5752950A (OSRAM)
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FR (1) FR2487076A1 (OSRAM)
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NL (1) NL8004176A (OSRAM)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19604375A1 (de) * 1996-02-07 1997-08-14 Martin Kuboschek Verfahren zur Auswertung von Testantworten zu prüfender digitaler Schaltungen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2512980B1 (OSRAM) * 1981-09-14 1983-12-23 Aero Etudes Conseils
US4495628A (en) * 1982-06-17 1985-01-22 Storage Technology Partners CMOS LSI and VLSI chips having internal delay testing capability
HU186083B (en) * 1982-06-24 1985-05-28 Tungsram Reszvenytarsasag System of automobile headlights
US4493077A (en) * 1982-09-09 1985-01-08 At&T Laboratories Scan testable integrated circuit
US4519078A (en) * 1982-09-29 1985-05-21 Storage Technology Corporation LSI self-test method
US4513418A (en) * 1982-11-08 1985-04-23 International Business Machines Corporation Simultaneous self-testing system
US4553236A (en) * 1983-01-25 1985-11-12 Storage Technology Partners System for detecting and correcting errors in a CMOS computer system
ATE25151T1 (de) * 1983-05-25 1987-02-15 Battelle Memorial Institute Untersuchungs- und pruefungsverfahren fuer eine elektrische vorrichtung in der art einer integrierten oder gedruckten schaltung.
US4551838A (en) * 1983-06-20 1985-11-05 At&T Bell Laboratories Self-testing digital circuits
US4575674A (en) * 1983-07-01 1986-03-11 Motorola, Inc. Macrocell array having real time diagnostics
GB8327753D0 (en) * 1983-10-17 1983-11-16 Robinson G D Test generation system
US4831521A (en) * 1983-11-10 1989-05-16 General Signal Corporation Vital processor implemented with non-vital hardware
US5007018A (en) * 1983-11-10 1991-04-09 General Signal Corp. Vital processor implemented with non-vital hardware
JPS61141022A (ja) * 1984-12-14 1986-06-28 インタ−ナショナル　ビジネス　マシ−ンズ　コ−ポレ−ション キ−ボ−ド・インタ−フエ−ス回路の試験装置
GB8432533D0 (en) * 1984-12-21 1985-02-06 Plessey Co Plc Integrated circuits
NL8502476A (nl) * 1985-09-11 1987-04-01 Philips Nv Werkwijze voor het testen van dragers met meerdere digitaal-werkende geintegreerde schakelingen, drager voorzien van zulke schakelingen, geintegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op zo'n drager, en testinrichting voor het testen van zulke dragers.
US4672307A (en) * 1985-12-20 1987-06-09 University Of Southern California Simplified delay testing for LSI circuit faults
JPH0221302U (OSRAM) * 1988-07-27 1990-02-13
US5390191A (en) * 1992-01-31 1995-02-14 Sony Corporation Apparatus and method for testing the interconnection between integrated circuits
US6735543B2 (en) * 2001-11-29 2004-05-11 International Business Machines Corporation Method and apparatus for testing, characterizing and tuning a chip interface

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3582633A (en) 1968-02-20 1971-06-01 Lockheed Aircraft Corp Method and apparatus for fault detection in a logic circuit
BE790243A (fr) 1971-11-08 1973-02-15 Burroughs Corp Procede et appareil de verification de sous-systemes de circuits binaires
US3761695A (en) 1972-10-16 1973-09-25 Ibm Method of level sensitive testing a functional logic system
US3924181A (en) 1973-10-16 1975-12-02 Hughes Aircraft Co Test circuitry employing a cyclic code generator
US4176780A (en) 1977-12-06 1979-12-04 Ncr Corporation Method and apparatus for testing printed circuit boards
US4317200A (en) 1978-10-20 1982-02-23 Vlsi Technology Research Association Method and device for testing a sequential circuit divided into a plurality of partitions
US4285059A (en) 1979-12-10 1981-08-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Circuit for test of ultra high speed digital arithmetic units

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19604375A1 (de) * 1996-02-07 1997-08-14 Martin Kuboschek Verfahren zur Auswertung von Testantworten zu prüfender digitaler Schaltungen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE19604375C2 (de) * 1996-02-07 1999-04-29 Martin Kuboschek Verfahren zur Auswertung von Testantworten zu prüfender digitaler Schaltungen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6232511B2 (OSRAM) 1987-07-15
JPS5752950A (en) 1982-03-29
DE3124902A1 (de) 1982-05-19
FR2487076A1 (fr) 1982-01-22
GB2080551A (en) 1982-02-03
NL8004176A (nl) 1982-02-16
GB2080551B (en) 1984-06-13
FR2487076B1 (OSRAM) 1983-02-04
US4435806A (en) 1984-03-06

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