DE3111549C2 - Schaltungsanordnung zur Prüfung von Verdrahtungen auf Durchgang und Isolation - Google Patents

Schaltungsanordnung zur Prüfung von Verdrahtungen auf Durchgang und Isolation

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DE3111549C2
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Jacques 77460 Courtry Guimier
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R Alkan & Cie 94460 Valenton Fr
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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    • G—PHYSICS
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Abstract

Das programmierbare Verdrahtungs-Prüfgerät für Hochspannung und Starkstrom verwendet einen Mikroprozessor, der eine sequentielle Prüfung vornimmt, die von dem Mikroprozessor ausgehend von in einen Speicher des Rechners über eine Zahlentastatur eingegebenen Daten gesteuert wird. Das Prüfgerät zeichnet sich im wesentlichen dadurch aus, daß jedes Ende der zu prüfenden Verdrahtung (P1, P2, P3 . . . Pn) mit zwei Schaltrelais (r1-rΔ1, r2-rΔ2, r3-tΔ3 . . . rn-rΔn) verbunden, die jeweils in Verbindung mit den beiden Polen (A, D) eines Kontinuitätsdetektors oder eines Isolationsdetektors in Verbindung stehen und daß bei jeder Prüfung wenigstens ein Relais jedes Pols erregt wird, um den Fehlerdetektor an die Enden der Verdrahtung anzuschließen, die den erregten Relais zugeordnet sind.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung zur Prüfung von Veidrahtu.tgen auf Durchgang s-} und Isolation bei Verwendung; von Starkstrom bzw. Hochspannung der durch den Oberlx griff des Patentanspruches 1 angegebenen Gattung.
Bei einer aus der DE-OS 25 47 938 bekannten Schaltungsanordnung dieser Art ist jedem Verdrahtungspunkt ein Transistor als weiteres Schaltelement zugeordnet, und die Relais und Transistoren aller Verdrahtungspunkte sind unter Verwendung von zwei zusätzlichen Dioden für jeden Verdrahtungspunkt zu je einer Matrix mit horizontalen und vertikalen Steuerleitungen verschaltet, um mit einer aufeinanderfolgenden Ansteuerung der Basis der Transistoren die einzelnen Verdrahtungspunkte von der niederen zu der höheren Ordnungszahl hin abfragen, messen und gleichzeitig die Verdrahtungspunkte niederer Ordnung nacheinander abtrennen zu können.
Aus der DE-AS 11 42 660 ist eine Schaltungsanordnung zum Bestimmen der zu den Aderanschlüssen am Anfang eines insbesondere langen, vieladrigen Kabels gehörenden, jeweils paarweise über einen Widerstand miteinander verbundenen und mittels einer Schalteinrichtung mit Gleichstrom beaufschlagten Aderanschlüssen am Kabelende bekannt, bei der jeweils zwei am Kabelende über einen Gleichrichter und einen Widerstand verbundene Adern in eine Wheatstone- Brücke eo geschaltet sind, die einen zum Abgleich vorgesehenen Regelwiderstand enthält, um an einer Signaleinrichtung eine Kennzeichnung der in die Brücke geschalteten Adern des Kabels zu erhalten.
Die Erfindung, wie sie im Patentanspruch I 6i gekennzeichnet ist. löst die Aufgabe, eine Schaltungsanordnung der angegebenen Gattung so auszubilden, daß mi' schaltungstechnisch einfacheren Vorkehrungen auch jede beliebige Länge von Verdrahtungen zwischen einzelnen Verdrahtungspunkten auf Durchgang und Isolation überprüft werden kann.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung des Gegenstands des Anspruchs I ist im Anspruch 2 angegeben.
Die mit der Erfindung erzielbaren Vorteile liegen im wesentlichen darin, daß durch die Verwendung eines Mikroprozessors der Prüfungsablauf für jede beliebige Verdrahtung entsprechend einfach zu gestalten ist, wenn dafür dessen Speicher vorab entsprechend vorprogrammiert wurde. Die Verwendung einer Wheatstone-Brücke als Fehlerdetektor ergibt dabei gleichzeitig eine einfache Möglichkeit für die Durchführung der beiden Prüfungsarten, da dafür nur die bei der Prüfung auf Durchgang und bei der Prüfung auf Isolation unterschiedlich hohen Widerstände der in die Brücke eingeschalteten Verdrahtung mittels der Regelwiderstände entsprechend unterschiedlich abgeglichen werden müssen, um beispielsweise über eine an den Komparator angeschlossene Kontrollampe die Prüfergebnisse überwachen zu können.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der nur einen Ausführungsweg darstellenden Zeichnung näher erläutert Es zeigt
Fig. 1 eine Prinzipdarstellung der Schaltungsanordnung,
F i g. 2 eine Prinzipdarstellung des für die Schaltungsanordnung gemäß Fig. 1 verwendeten Fehlerdetektors und
F i g. 3 eine Prinzipdarstellung des Mikroprozessors in seiner Zuordnung zu der Schaltungsanordnung gemäß F ig. 1.
Die zur Prüfung von Verdrahtungen auf Durchgang und Isolation bei Verwendung von Starkstrom bzw. Hochspannung vorgesehene Schaltungsanordnung umfaßt jeweils zwei für jeden Verdrahtungspunkt (Pt, P2 ... Pn) vorgesehene Relais n-n', rrr/ ... r„-rn' mit je einem Arbeitskontakt und einem Ruhekontakt. Die Arbeitskontakte dieser Relais sind an die beiden Pole A und D eines Fehlerdetektors angeschlossen, womit es möglich ist, durch eine Einschaltung beispielsweise des Arbeitskontaktes des Relais η an dem Verdrahtungspunkt Pl und gleichzeitig des Arbeitskontaktes des Relais r·,' an dem Verdrahtungspunkt P 4 die Länge der Verdrahtung zwischen diesen beiden Verdrahtungspunkten Pi und P4 auf Durchgang zu prüfen. Durch gleichzeitige Einschaltung der Arbeitskontakte der Relais r« und r6' wäre es andererseits möglich, die Länge der Verdrahtung zwischen den beiden Verdrahtungspunkten PA und P6 in entsprechender Weise auf Durchgang bei Verwendung von Starkstrom zu prüfen. Wenn bei dieser Prüfung der Durchgang nicht gewährleistet ist, dann vermittelt der Fehlerdetektor eine entsprechende Fehleranzeige.
Der Fehlerdetektor ist nach F i g. 2 durch eine Wheatstone-Brücke gebildet, an deren einen Zweig A, D die zu prüfende Verdrahtung, die einen bekannten Widerstand R 2 aufweist, angeschlossen wird. Bei einer Prüfung der Verdrahtung auf Isolation bei Verwendung von Hochspannung weist dieser Widerstand R 2 einen höheren Wert auf. Die drei übrigen Zweige dieser Wheatstone-Brücke sind durch Regelwiderstände Ri, Rj und R* gebildet, womit für den bekannten Widerstand Ri ein Abgleich für einen an die Brückendiagonale angeschlossenen Komparator Z in Abhängigkeit davon vorgenommen werden kann, ob über die Versorgungsquelle S ein Starkstrom oder eine Hochspannung zur Prüfung der Verdrahtung entweder auf Durchgang oder
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auf Isolation zugeführt v,-ird. An den Komparator Zist eine der Fehleranzeige dienende Kontrollampe Köder eine andere Sichtanzeige angeschlossen.
Die Einschaltung der Arbeitskontakte der einzelnen Relais η, η ... rn und n', ri ... r„' an den Verdrahtungspunkten Pt, P2 ... Pn wird durch einen Mikroprozessor 13 gesteuert, der einen Programmspeicher (REPROM) 16 und einen Arbeitsspeicher (RAM) 14 aufweist, an welchen die zu einer Arbeitsgruppe 15 vereinigten Relais angeschlossen sind. Der Mikroprozessor 13 weist eine Versorgungseinrichtung 11 mit einem Anschluß 12 auf und ist über Anschlüsse 17 mit einer numerischen Eingabetastatur 18 verbunden, mittels welcher folglich die einzelnen Relais gesteuert werden können. Diese Steuerung der Relais und damit der eigentliche Prüfungsablauf für die Verdrahtung wird über Kontrollampen 2t an einer Steuertafel 19 des Mikroprozessors 13 angezeigt, die noch einen unter Spannung versetzbaren Unterbrecher 20, eine numerische Sichtanzeige 22, einen Ausgang 23 eines Druckers mit zugeordnetem Unterbrecher 24, eine akustische Kontrolleinrichtung 25 mit zugeordnetem Unterbrecher 26 und eine Wartungstür 27 aufweist
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (2)

  1. 31 Π
    Patentansprüche:
    1, SchaUwrife-anordnung zur Prüfung von Verdrahtungen auf Durchgang und Isolation bei Verwendung von Starkstrom bzw. Hochspannung, bei der zur Steuerung der Prüfung jeden, Verdrahtungspunkt ein Relais mit einem Arbeitskontakt und einem Ruhekontakt sowie ein weiteres Schaltelement zugeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Arbeitskontakte der Relais (n., ri... rn) aller Verdrahtungspunkte (P 1, P2... Pn) an dem einen Pol (A) eines Fehlerdetektors liegen, an dessen anderem Pol (D) die Arbeitskontakte von jeweils das weitere Schaltelement jedes Verdrahtungspunktes bildenden weiteren Relais (n1, n' ... r„') liegen, und daß die Arbeitskontakte der beiden Relais jedes Verdrahtungspunktes durch einen für einen Prüfungsablauf vorprogrammierten und mitt.els einer Eingabetastatur (18) steuerbaren Mikroprozessor (13) einschaltbar sind.
  2. 2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Fehlerdetektor durch eine Wheatstone'sche Brücke gebildet ist, deren einer Zweig (A, Dadurch die zu prüfende Verdrahtung und deren andere Zweige durch zum Abgleich eines an die Brückendiagonale angeschlossenen (Comparators (Z) vorgesehene Regelwiderstände (R\, Rj, Ra) gebildet sind.
    JO
DE3111549A 1980-03-28 1981-03-24 Schaltungsanordnung zur Prüfung von Verdrahtungen auf Durchgang und Isolation Expired DE3111549C2 (de)

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DE3111549A1 DE3111549A1 (de) 1982-01-14
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