DE3105782C2 - Analog-Digitalumsetzer - Google Patents

Analog-Digitalumsetzer

Info

Publication number
DE3105782C2
DE3105782C2 DE3105782A DE3105782A DE3105782C2 DE 3105782 C2 DE3105782 C2 DE 3105782C2 DE 3105782 A DE3105782 A DE 3105782A DE 3105782 A DE3105782 A DE 3105782A DE 3105782 C2 DE3105782 C2 DE 3105782C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
analog
converter
digital
signal
converters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3105782A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3105782A1 (de
Inventor
Rikichi Kamagaya Chiba Murooka
Jun Kamakura Kanagawa Sakamoto
Sumio Sakura Chiba Takeuchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Publication of DE3105782A1 publication Critical patent/DE3105782A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3105782C2 publication Critical patent/DE3105782C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M1/0617Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
    • H03M1/0624Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by synchronisation
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M1/08Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of noise
    • H03M1/0836Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of noise of phase error, e.g. jitter
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/1205Multiplexed conversion systems
    • H03M1/121Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel
    • H03M1/1215Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel using time-division multiplexing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

Für einen schnellen Analog/Digitalumsetzer mit einer Mehrzahl von A/D-Wandlern wird vorgeschlagen, jedem A/D-Wandler (4, 6) ein Taktsignal (18) mit unterschiedlicher Phasenlage zuzuführen, um die äquivalente Tastfrequenz zu erhöhen. Zur Aufrechterhaltung der korrekten Phasenbeziehung wird ein Bezugssignal, beispielsweise ein linear ansteigendes Sägezahnsignal (18), verwendet und mittels einer veränderbaren Verzögerungsschaltung (26) lassen sich Fehler aufgrund von unterschiedlichen elektrischen Kennwerten der einzelnen A/D-Wandler beseitigen. Die erwünschte Phasenkorrektur erfolgt in einzelnen Schritten und automatisch unter Verwendung einer Recheneinheit (20), bevor das in Digitalformat umzusetzende analoge Eingangssignal auf den Analog/Digitalumsetzer geschaltet wird.

Description

2. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Bezugssignalgenerator ein Sägezahngenerator ist.
3. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerschaltung eine Recheneinheit (20) umfaßt, welche die Differenzen der durch die A/D-Wandler digitalisierten digitalen Ausgangssignale zu aufeinanderfolgenden Zeitpunkten vergleicht
4. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet daß die Rechenschaltung den Mittelwert der zu verschiedenen Abschnitten des Bezugssignals digitalisierten digitalen Ausgangssignale berücksichtigt.
5. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Multiplexschalter (14) zur Umsetzung der in Parallelform vorliegenden digitalen Ausgangssignale der Mehrzahl von A/D-Wandlern in ein serielles Ausgangssignal.
6. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 1, mit einem ersten und einem zweiten A/D-Wandler, gekennzeichnet durch
— eine Schalteinrichtung (32), über welche dem ersten und zweiten A/D-Wandler entweder ein analoges Eingangssignal oder das Bezugssignal vom Bezugssignalgenerator (30) zuführbar ist, und
— eine Phasenregelschaltung zur Überwachung der relativen Umsetzerzeit des ersten bzw. zweiten A/D-Wandlers in Abhängigkeit von den digitalisierten Daten des Bezugssignals.
7. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch einen Multiplexer zur Umwandlung
der digitalen Ausgangssignale vom ersten und zweiten A/D-Wandler in eine Folge von seriellen Digitaldaten.
8. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Taktsignalquelle (8) ein Flip-Flop (42) enthält, welches eine komplementäre Rechtecksignalwelle abgibt, die dem ersten bzw. zweiten A/D-Wandler zuführbar ist.
9. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die komplementäre Rechteckwelle dem ersten A/D-Wandler über eine Verzögerungsleitung (28) mit fest eingestellter Verzögerungszeit und dem zweiten Analogwandler zuführbar ist, dessen Verzögerungszeit über eine Phaseneinstellschaltung variabel einstellbar ist (F i g. 4).
10. Analog-Digitalumsetzer nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Phaseneinstellschaltung die Phase des einem der A/D-Wandler zuzuführenden analogen Eingangssignals festlegt.
11. Verfahren zur Umsetzung eines Analogsignals in ein Digitalsignal mit Hilfe von einem ersten und einem zweiten A/D-Wandler, dadurch gekennzeichnet, daß
— ein Bezugssignal beiden A/D-Wandlern zugeführt wird,
— das Bezugssignal zu aufeinanderfolgenden unterschiedlichen Zeitpunkten durch Zuführung eines Taktsignals mit unterschiedlicher Phase zu einem Steuereingang des ersten bzw. zweiten A/D-Wandlers digitalisiert wird,
— die von den A/D-Wandlern gelieferten sequentiellen Digitaldaten einer arithmetischen Verknüpfung unterzogen werden,
— daß die Phase des Taktsignals für den zweiten A/D-Wandler so geregelt wird, daß die Datenumsetzung exakt zum Mittenzeitpunkt zwischen zwei aufeinanderfolgenden Digitalumsetzerzeiten des ersten A/D-Wandlers erfolgt, und
— die Zuführung eines analogen Eingangssignals zum ersten bzw. zweiten A/D-Wandler erst nach der Einstellung der Digitalisierungszeit erfolgt.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die digitalen Ausgangssignale des ersten und zweiten A/D-Wandlers multiplexiert werden, um ein einziges serielles Digitalausgangssignal zu erhalten.
Die Erfindung betrifft einen Analog-Digitalumsetzer nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 mit einer Mehrzahl von Analog-Digital-Wandlern (A/D-Wandlern).
Die Umsetzung von Analogsignalen in Digitalformat hat in den letzten Jahren zunehmend an Bedeutung gewonnen, und insbesondere wurden die möglichen Verarbeitungsfrequenzen sowohl auf der Seite der Analog-
signale als auch bei den daraus gebildeten Signalen im Digitalformat immer höher. Es besteht jedoch nach wie vor die Notwendigkeit, Analog-Digitalumsetzer (im folgenden A/D-Konverter) immer rascher, d. h. für immer höhere Tastfrequenzen tauglich zu machen. Die Entwicklung schneller A/D-Konverter stößi jedoch auf technische Schwierigkeiten. Eine übliche Technik, mit der diesem Probem begegnet werden kann, besteht in der Verwendung einer Mehrzahl von A/D-Wandlern in Parallelschaltung. Ein Taktsignal mit unterschiedlichen Phasen wird jedem einzelnen der A/D-Wandler zugeführt, so daß das Eingangssignal zu unterschiedlichen Zeiten durch die einzelnen A/D Wandler digitalisiert wird, um dann die einzelnen digitalisierten Ausgangssignale zeitmäßig in sequentielle Folge zu bringen, so daß insgesamt eine höhere Tastfrequenz gegeben ist.
Die Fig. 1 zeigt eine prinzipielle Blockschaltbild-Anordnung für die bekannte Technik. Ein analoges Eingangssignal wird über eine Eingangsklemme 2 einer Mehrzahl (im gegebenen Beispiel zwei) A/D-Wandlern 4 und 0 angeboten, welche dieses Analogsignal in Abhängigkeit von Taktsignalen a 1 und a 2 von einem mehrphasigen Taktsignalgenerator 8 in Digitalformat umsetzen. Die digitalisierten Ausgänge gelangen jeweils auf einen Hochgeschwindigkeitsspeicher 10 bzw. 12. Die an den Ausgängen der Speicher 10 und 12 parallel auslesbaren Digitaldaten werden durch einen Multiplexer 14 (im folgenden MUX) in ein serielles Digitalsignal umgesetzt, um dann einer rachfolgenden (nicht gezeigten) Schaltung über eine Ausgangsklemme 16 angeboten zu werden.
Ersichtlicherweise kann wenigstens im Prinzip die Tastfrequenz um den Faktor N erhöht werden, wenn N A/D-Wandier verwendet werden (N ä 2 und ganzzahlig. Die Auflösung wird damit auf das A/-fache erhöht, verglichen mit einem einzigen A/D-Wandler.
Tasten die beiden in F i g. 1 dargestellten A/D-Wandler beispielsweise das Sägezahnsignal 18 gemäß F i g. 2 zu festgelegten Zeitpunkten ta—1 bis r/j + 4 ab (z. B. a I = tn—\, tn+\, tn + 3,.... al = tn, tn+2, tn + A,...), so werden korrekte digitale Ausgangssignale dn—\ bis dn+4 erhalten. In der Praxis jedoch können sich die
Abtastzeilpunkte tn, f/i + 2, tn+4... verschieben, beispielsweise auf die Zeitpunkte tn', tn'+2, in'+4 so daß
sich verschobene, unrichtige digitale Ausgangssignale dn', dn'+2, dn'+A,... ergeben, beispielsweise weil (1) die Taktsignale mit einem Phasenfehler behaftet sind oder (2) unterschiedliche Durchlaßcharakteristiken bestimmend sind, beispielsweise unterschiedliche Verzögerungszeiten bei einer Mehrzahl von A/D-Wandlern. Auch eine Überlagerung der beiden aus (1) und (2) resultierenden Effekte kann vorliegen. Dies führt insbesondere bei Meßgeräten zu Schwierigkeiten, da die Meßgenauigkeit nicht, wie sich durch die hohe Abtastfrequenz erwarten läßt, bei Verwendung einer Vielzahl von A/D-Wandlern verbessert wird.
Der Erfindung liegt damit die Aufgabe zugrunde, einen Analog-Digitalumsetzer zu schaffen, der die aufgezeigten, durch Laufzeiten, unterschiedliche Schaltgeschwindigkeiten, unterschiedlichen Phasen von Taktsignalen usw. auftretenden Probleme bei der Verwendung einer Mehrzahl von parallel geschalteten A/D-Wandlern nicht mehr besitzt, mit dem sich also sehr hohe Tastgeschwindigkeiten oder in anderen Worten sehr hohe Umsetzerfrequenzen fehlerfrei verwirklichen lassen.
Die erfindungsgemäße Lösung ist in Patentanspruch 1 angegeben.
Vorteilhafte Weiterbildungen des Erfindungsgedankens sind in Unteransprüchen gekennzeichnet.
Ein erfindungsgemäßer Analog-Digital-Umsetzer enthält eine Anzahl N von A/D-Wandlern (N i 2) zur Umwandlung eines Analogsignals in ein Digitalsignal. Ein Taktsignalgenerator führt jedem der /VA/D-Wandler Taktsignale mit unterschiedlicher Phasenlage zu und eine Verarbeitungsschaltung verarbeitet die Ausgänge der A/D-Wandler bei Zuführung eines Bezugssignals oder zu den Wandlern. Eine Phasenüberwachungsschaltung oder Phasenregelschaltung überwacht die Phasendifferenz zwischen den Taktsignalen und den analogen Eingangssignalen in Abhängigkeit vom Ausgang der Verarbeitungsschaltung.
Die Erfindung und vorteilhafte Einzelheiten werden nachstehend unter Bezug auf die Zeichnung in beispielsweisen Ausführungsformen näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 die bereits erläuterte bekannte Analog-Digitalumsetzer-Schaltung;
F i g. 2 ein graphisches Schaubild zur Erläuterung der Arbeitsweise von Analog-Digital-Umsetzern der hier in Rede stehenden Art;
F i g. 3 das Blockschaltbild einer ersten Ausführungsform der Erfindung;
F i g. 4 und 5 Detailschaltbilder wesentlicher Baugruppen der Blockschaltbilddarstellung von F i g. 3, und
F i g. 6 das Blockschaltbild einer zweiten Ausführungsform der Erfindung.
Im nachfolgend zunächst erläuterten Schaltbild der Fig. 3 sind folgende, durch umrandete Blöcke gekennzeichnete Baugruppen enthalten:
4,6... zwei Analog'Digital-Wandler (A/D-Wandler),
8... Taktsignalgenerator
20... Zentrale Verarbeitdngseinheit (CPU)
22... Datenregister bzw. Datenspeicher
24 ... Digital/Analog-Wandler (D/A-Wandler)
26... Variable Verzögerungsschaltung
28 ... Fest eingestelltes Verzögerungsglied
10,12... Zwei schnelle Speicher
... 14... Multiplexer
2,16... Ein-bzw. Ausgangsklemme
30... Bezugssignalgenerator
32... Umschalteinrichtung.
Die im Schaltbild der F i g. 3 dargestellte Ausführungsform der Erfindung unterscheidet sich von der Schaltung nach Fig. 1 im wesentlichen durch die Ergänzung um eine Verarbeitungsschaltung mit der CPU 200 und dem D/A-Wandler 24. Zu einer Regelschleife gehören außerdem die variable Verzögerungsschaltung 26 zur
Phaseneinstellung, die fest eingestellte Verzögerungsleitung 28, der Bezugssignalgenerator 30 und die Umschalteinrichtung 32.
Die Schaltung nach F i g. 3 arbeitet wie folgt:
Zunächst wird der Umschalter 32 so geschaltet, daß die Verbindung zwischen dem Bezugssignalgenerator 30 und den Eingängen der A/D-Wandler 4, 6 hergestellt ist. Der Bezugssignalgenerator 30 gibt beispielsweise ein Sägezahnsignal 18 ab. Liegen die Tastzeitpunkte der Taktsignale a 1 und a 2 vom Taktsignalgenerator 8 richtig, so werden die A/D-Wandler 4 und 6 zu den zutreffenden Zeiten tn— 1 ~ tn + 4 getastet. Das analoge Eingangssignal wird also in gewünschter Weise in ein digitales Ausgangssignal dn— 1 ~ dn+4 umgesetzt. Es sei nun angenommen, daß die Tastzeitpunkte, wie in F i g. 2 gezeigt, zu tn', tn'+2, tn'+4,... verschoben sind aufgrund eines Phasenfehlers des Taktsignals a 2, so daß die digitalen Ausgangssignale dn', dn'+2, dn'+4,... im Speicher 12 und die digitalen Ausgangssignale dn—\, dn+\,dn + 3,...\m Speicher 10 gespeichert werden. Die Beziehung zwischen der Phasenverschiebung des Taktsignals und dem Fehler des digitalen Ausgangssignals läßt sich durch die folgende Beziehung verdeutlichen:
ta = tn—tn'.
worin mit ta der Phasenfehler bezeichnet ist.
Das Bezugssignal 18 läßt sich durch den folgenden Ausdruck darstellen:
dv/dt=K.
Damit läßt sich folgende Gleichungsbeziehung aufstellen:
Die CPU 20 errechnet den der Gleichung (1) entsprechenden Ausdruck aufgrund der von den Speichern 10 und 12 gelieferten Digitaldaten. Die Beziehung einer Spannung Vs zur Verzögerungszeit der veränderbaren Verzögerungsleitung 26 sei mit
M = (Verzögerungszeit)/(Spannung Vs)
bezeichnet, während die Beziehung digitale Eingangsspannung Vs/Ausgangsspannung des D/A-Wandlers 24 mit L = (Spannungsausgang)/(Digitaleingang)
bezeichnet sei.
Damit lassen sich Korrekturdaten Vc für die CPU 20 zur Korrektur des Regelsignals vom Datenregister 22 durch den folgenden Ausdruck darstellen:
Vc = -—!— (dn+\-dn'\-(d '-d -1) (2)
Die Gleichung (2) läßt sich mittels dreier digitaler Ausgangswerte bestimmen. Das Minus-Vorzeichen in der dargestellten Gleichung ergib* sich unter Berücksichtigung von zwei Digitaidaten bei Auftreten des Taktsignal a 1 und eines einzelnen weiteren Datenwerts zum Zeitpunkt eines weiteren Taktsignals a 2. Das Vorzeichen wechselt jedoch zum positiven Vorzeichen, wenn die Berechnung auf der Grundlage eines digitalen Datenwerts beim Taktsignal a 1 sowie zweier digitaler Datenwerte beim Auftreten des Taktsignals a 2 vorgenommen wird.
Lassen sich die Korrekturdaten mit drei digitalen Datenwerten nicht erhalten, so kann die Berechnung auch mit drei Daten, die zeitlich unterschiedlichen Werten zugeordnet sind, erfolgen, bevor die Mittelwertbildung vorgenommen wird. Erfolgt die Berechnung beispielsweise für NZeitpunkte, so läßt sich der Durchschnittswert Vc'entsprechend der folgenden Gleichung bestimmen:
Vc' = !J TVTTT Σ (W"+1 - dn') - U"' - dn-\)}. (3)
N 2KLM „ι
Auf dieser Berechnungsgrundlage erfolgt die Bestimmung des Stellsignals zur Regelung der Verzögerungszeit über die veränderbare Verzögerungsleitung. Ergibt sich ein Korrekturwert NULL, so wird die Phase des Taktsignals exakt korrigiert, d. h. der Umsetzer steht jetzt zur Analog-Digitalumsetzung des analogen Eingangssignals bereit, wenn der Umschalter 32 unter Steuerung von der CPU 20 aus auf die Eingangsklemme 2 umgelegt wird. Ergibt sich dagegen ein von NULL abweichender Korrekturwert, so werden die im Datenregister 22 in Digitalformat gespeicherten Stell- oder Kontrolldaten nach Umsetzung in ein Analogsignal über den D/AWandler 24 der variablen Verzögerungsleitung 26 zugeführt Der neue Korrekturwert Vc oder Vc'wird, wie zuvor beschrieben, wiederum auf der Grundlage der korrigierten Digitaldaten bestimmt Dieser Vorgang wird so lange wiederholt bis der Korrekturwert NULL erreicht ist Sodann wird der Umschalter 32 beispielsweise von der CPU 20 aus umgeschaltet, so daß das zu digitalisierende Eingangssignal über die Eingangsklemme 2 auf die A/D-Wandler 4,6 gelangt.
Es sei betont, daß die Verzögerungsleitung 28 im Signalweg des Taktsignals a 1 nicht in jedem Fall benötigt wird. Sie dient jedoch dazu, sicherzustellen, daß das Taktsignal a 2 hinsichtlich des Taktsignals a I in seiner Phase voreilt, so daß der ablaufende Korrekturprozeß für die Phase erleichtert wird. Außerdem wird die Phasenkorrektur des Taktsignals unter bestimmten Voraussetzungen weiter vereinfacht, wenn die Verzögerungszeit der Verzögerungsleitung 28 manuell veränderbar ist.
Die Fig.4 zeigt wesentliche Baugruppen der Fig. 3 in Einzelheiten. Den Eingängen A\ bis A 8 des D/A-Wandlerchips 30, das dem D/A-Wandler 24 in F i g. 3 entspricht, wird der entsprechend den obigen Gleichungen (2) oder (3) berechnete digitale Stellwert vom Datenregister 22 zugeführt. Der Regelsignalstrom vom Ausgang k des D/A-Wandlerchips 30' fließt über einen Widerstand 32' nach Umsetzung in ein Analogsignal nach Masse. Der Spannungsabfall über dem Widerstand 32' aufgrund des Regelsignalstroms bestimmt den Schwellenpegel eines Komparators 34 an dessen Bezugsklemme 34ö. Die in der Zeichnung erkennbaren Schaltungsnetzwerke 36 und 38 enthalten Induktivitäten und Kapazitäten und stellen eine Entkopplung für die Spannungsquellen + V und — Vsicher. Die Schaltung 40 entspricht einem Teil des Taktsignalgenerators 8 in F i g. 3. Ein D-Flip-Flop 42 liefert Taktsignale a 1 und a 2, die gegeneinander um 180° in der Phase verschoben sind. Das Flip-Flop 42 stellt die erwähnten Taktsignale al und a 2 an seinen Ausgangsklemmen Q und Q in Abhängigkeit von einem Taktsignal bereit, das an seiner Taktklemme CL anliegt, Das Taktsignal a 1 gelangt über die Verzögerungsleitung 28 auf den A/D-Wandler 4 in F i g. 3, um eine Verzögerungszeit entsprechend der Hälfte eines vollständigen Verzögerungszeitbereichs der veränderbaren Verzögerungsschaltung 26 zu kompensieren; das Signal gelangt sodann über einen Pufferverstärker 44 mit offenem Emitter auf eine Klemme 46. Andererseits liegt am invertierenden Eingang 48a des Komparators 48 das Taktsignal a 2 an. Mittels eines Kondensators 50 und eines Widerstands 52 wird die Abfallflanke des Taktsignals a 2 verändert, so daß sich ein logarithmisches Signal mit der Zeitkonstante r ergibt. Das invertierte Ausgangssignal vom Komparator 48 gelangt sodann auf den invertierenden Eingang 34a des Komparators 34 mit durch einen Kondensator 50' und einen Widerstand 52' logarithmisch angepaßter Anstiegsflanke. Wie erwähnt, liegt an den anderen Eingängen 486 bzw. 346 der Komparatoren 48 bzw. 34 der Schwellenpegel als Funktion des Ausgangssignals vom D/A-Wandlerchip 30'. Damit wird durch den Komparator 48 die Rückflanke des Taktsignals a 2 und durch den Komparator 34 die Anstiegsflanke des Taktsignals a 2 verzögert.
Am Ausgang des Komparators 34 ergibt sich damit ein Taktsignal a 2' mit gleicher Pulsbreite wie das Taktsignal a 2, jedoch um die Zeitspanne « verzögert, die durch den Schwellenpegel festgelegt ist. Das verzögerte Taktsignal a 2' gelangt am Anschluß 54 auf den A/D-Wandler 6 gemäß F i g. 3. Die Kondensatoren 56,56' und 58 dienen zur Gleichstromstabilisierung und der Kondensator 60 zur Entkopplung.
Die F i g. 5 zeigt ein Schaltungsbeispiel für den Bezugssignalgenerator 30 in F i g. 3. Ein Transistor 64 und die zugeordneten Schaltkreiselemente bilden eine Konstantstromquelle 62. Die Transistoren 68 und 70 mit den zugeordneten und dargestellten Bauelementen bilden in bekannter Weise einen Stromschalter 66 zur alternierenden An- und Abschaltung in Abhängigkeit von einem an der Klemme 72 liegenden Taktsignal. Ist der Transistor 70 gesperrt (Ausschaltzustand), so wird der Kondensator 74 durch die Konstantstromquelle 62 geladen. Erreicht die Spannung am Kondensator 74 einen festgelegten Pegel, so schaltet eine Schottky-Diode 76 durch und es entsteht über einen Verstärker 78 an einem Ausgang 80 ein Sägezahn-Bezugssignal. Der Ausgangsanschluß 80 ist mit dem Schalter 32 in F i g. 3 verbunden.
Das Blockschaltbild der F i g. 6 verdeutlicht eine zweite Ausführungsform der Erfindung. Diese Schaltung unterscheidet sich von der nach F i g. 3 darin, daß die Phase des dem A/D-Wandler zuzuführenden Taktsignals wie bei der ersten Ausführungsform korrigiert wird, dagegen die Phase des dem A/D-Wandler zuzuführenden Analogsignals entsprechend der hier beschriebenen zweiten Ausführungsform der Erfindung nachgestellt wird. Ein variables Verzögerungselement 82 zur Verzögerung der Analoggröße ist mit dem Eingang des A/D-Wandlers 6 verbunden. Das Verzögerungselement kann auch mit dem Taktsignal s 2 beaufschlagt oder mit dem Eingang des A/D-Wandlers 4 verbunden sein. Die dargestellte zweite Ausführungsform der Erfindung arbeitet im Prinzip genau so wie die Schaltung nach Fig.3, so daß eine erneute detaillierte Beschreibung erübrigt werden kann.
Es ist selbstverständlich möglich, die Takt- und Analog-Eingangssignale gleichzeitig zu korrigieren durch Kombination der Phasenkorrekturtechnik gemäß den beiden beschriebenen Ausführungsformen. Zur Korrektür der Phasendifferenz zwischen den Taktsignalen und den analogen Eingangssignalen kann im Prinzip jede geeignete Phasenkorrekturmöglichkeit eingesetzt werden.
Mit den Schaltungen nach den Fig. 3 und 6 läßt sich eine sehr viel genauere Analog/Digitalumsetzung aufgrund der erläuterten Phasenkorrektur der Digitalausgänge der A/D-Wandler 4 bis 6 erreichen, und zwar durch periodische Annäherung bis zum Korrekturwert NULL, also nach beendeter Korrektur, wenn der Umschalter 32 auf die Eingangsklemme 2 geschaltet wird. Wie bereits erwähnt, kann der Schalter 32 automatisch betätigt werden.
Zur Mittelung unterschiedlicher Daten zur Verbesserung der Korrekturgenauigkeit kann das Bezugssignal im Prizip beliebige Form aufweisen, also nicht nur im vorerwähnten Sinn ein Sägezahnsigna] sein, solange die N Daten symmetrisch in bezug auf einen mittleren Datenwert am Zeitpunkt (N+1 )/2 vorliegen.
Als wesentliche Schaltelemente für das variable Verzögerungsglied können spannungsveränderbare Kapazitätsdioden verwendet werden oder der Operationsausgang der CPU 20 kann nach Analog-Digitalumsetzung direkt in einem Analogspeicher festgehalten werden.
Bei der beschriebenen ersten und zweiten Ausführungsform der Erfindung werden lediglich zwei A/D-Wandler eingesetzt. Für den Fachmann ist jedoch ersichtlich, daß die Anzahl der A/D-Wandler nicht beschränkt ist.
Der Bezugssignalgenerator 30 kann überdies entfallen, wenn im analogen Eingangssignal ein Bezugssigna! enthalten ist.
Wie sich aus der obigen Beschreibung ergibt, läßt sich jede Phasendifferenz zwischen Takt- und den analogen
Eingangssignalen automatisch korrigieren. Dies impliziert, daß irgendwelche notwendigen Veränderungen der Verzögerungszeit aufgrund von Abweichungen des Taktsignals, durch Temperatureinflüsse, Langzeitdrift einzelner Schaltkreiselemente in den A/D-Wandlern usw. zutreffende korrigierbar sind, so daß sich auch über lange Zeiträume eine präzise Analog-Digitalumsetzung mit sehr hoher Schaltfrequenz garantieren läßt.
Hierzu 5 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

Patentansprüche:
1. Analog-Digitalumsetzer mit einer Mehrzahl von A/D-Wandlern (4,6), die durch eine Taktsignalquelle (8) mit unterschiedlichen Phasen wirksam geschaltet werden, gekennzeichnet durch
— einen Bezugssignalgenerator (30), der ein durch die A/D-Wandler zu digitalisierendes Bezugssignal liefert und
— eine Steuerschaltung (20-28; 20-24,82), welche bei Zuführung des Bezugssignals die Phase des von der Taktsignalquelle gelieferten und den A/D-Wandlern zuzuführenden Taktsignals in Abhängigkeit von
ίο den A/D-Wandler-Ausgangssignalen für die Dauer von Korrektur-ZeitintervaHen bei Digitalisierung
des Bezugssignals einstellt, während bei korrekten Abtastphasen ein analoges Eingangssignal digitalisiert wird.
DE3105782A 1980-02-18 1981-02-17 Analog-Digitalumsetzer Expired DE3105782C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1780580A JPS56115026A (en) 1980-02-18 1980-02-18 Analog-digital converter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3105782A1 DE3105782A1 (de) 1982-02-25
DE3105782C2 true DE3105782C2 (de) 1986-09-25

Family

ID=11953935

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3105782A Expired DE3105782C2 (de) 1980-02-18 1981-02-17 Analog-Digitalumsetzer

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4345241A (de)
JP (1) JPS56115026A (de)
CA (1) CA1169971A (de)
DE (1) DE3105782C2 (de)
FR (1) FR2476412B1 (de)
GB (1) GB2070364B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3640672A1 (de) * 1985-12-24 1987-07-02 Sony Tektronix Corp Verfahren und vorrichtung zur kalibrierung einer analog/digitalwandlereinrichtung
WO1992002071A2 (en) * 1990-07-16 1992-02-06 Eastman Kodak Company Adaptive dual range analog to digital converter
DE102009016073A1 (de) 2008-04-21 2009-10-22 Bund Der Freien Waldorfschulen E.V. Demonstrationsvorrichtung

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5793726A (en) * 1980-12-03 1982-06-10 Sony Corp A/d converter
US5610810A (en) * 1981-09-06 1997-03-11 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus for correcting errors in a digital-to-analog converter
US4531149A (en) * 1983-06-24 1985-07-23 Rca Corporation Digital variable group delay equalizer for a digital television receiver
US4616329A (en) * 1983-08-26 1986-10-07 Bio-Rad Laboratories, Inc. Self-calibrating adaptive ranging apparatus and method
US4589074A (en) * 1983-08-31 1986-05-13 The Boeing Company Multiple channel power line monitor
JPS61195382A (ja) * 1985-02-26 1986-08-29 Toshiba Corp シンチレ−シヨンカメラ
US4833445A (en) * 1985-06-07 1989-05-23 Sequence Incorporated Fiso sampling system
CA1244139A (en) * 1985-12-11 1988-11-01 Larry J. Conway Microwave waveform receiver
US4654584A (en) * 1985-12-12 1987-03-31 Analogic Corporation High-speed precision equivalent time sampling A/D converter and method
US4733217A (en) * 1986-05-08 1988-03-22 Rca Corporation Subranging analog to digital converter
JPS63244486A (ja) * 1987-03-31 1988-10-11 Toshiba Corp 半導体装置
US4839652A (en) * 1987-06-01 1989-06-13 General Electric Company Method and apparatus for high speed digital phased array coherent imaging system
US4763105A (en) * 1987-07-08 1988-08-09 Tektronix, Inc. Interleaved digitizer array with calibrated sample timing
US4768017A (en) * 1987-07-22 1988-08-30 Sonotek, Inc. Circuit for providing high sampling rate resolution using slow sampling rate
US4903024A (en) * 1987-10-23 1990-02-20 Westinghouse Electric Corp. A/D converter system with error correction and calibration apparatus and method
JPH01131918A (ja) * 1987-11-17 1989-05-24 Hitachi Ltd Ad変換器
JPH01137831A (ja) * 1987-11-25 1989-05-30 Mitsubishi Electric Corp アナログーデジタル変換器
US5006851A (en) * 1988-07-18 1991-04-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Analog-to-digital converting system
US5214430A (en) * 1989-01-31 1993-05-25 Zdzislaw Gulczynski Ladderless true flash analog-to-digital converter with automatic calibration
US5099239A (en) * 1989-09-21 1992-03-24 Xerox Corporation Multi-channel analogue to digital convertor
JPH0369414U (de) * 1989-11-14 1991-07-10
US5159337A (en) * 1990-05-01 1992-10-27 U.S. Philips Corp. Self-aligning sampling system and logic analyzer comprising a number of such sampling systems
US5138319A (en) * 1990-08-30 1992-08-11 Harris Corporation Two stage a/d converter utilizing dual multiplexed converters with a common converter
US6269317B1 (en) 1997-04-30 2001-07-31 Lecroy Corporation Self-calibration of an oscilloscope using a square-wave test signal
JP4547064B2 (ja) * 1999-03-24 2010-09-22 株式会社アドバンテスト A/d変換装置およびキャリブレーション装置
SE516156C2 (sv) * 1999-06-23 2001-11-26 Ericsson Telefon Ab L M En parallell analog-till-digitalomvandlare och ett förfarande för att omvandla analoga värden till digitala i parallella, oberoende av varandra utförda processer
US6633249B1 (en) * 1999-08-06 2003-10-14 Insyte Innovative Systems & Technology Corporation Low power, scalable analog to digital converter having circuit for compensating system non-linearity
US6448920B1 (en) * 2000-05-17 2002-09-10 Schneider Automation, Inc. System and method for converting analog values to and from real world values
US20030084360A1 (en) * 2001-08-21 2003-05-01 Grant David Alexander Method of synchronizing and phase staggering two or more sampled data systems
JP4236584B2 (ja) * 2001-12-11 2009-03-11 トムソン ライセンシング 信号を処理する装置および方法
GB0214742D0 (en) * 2002-06-26 2002-08-07 Bae Systems Plc Improvements relating to time-interleaved samplers
KR100541053B1 (ko) * 2003-02-11 2006-01-10 삼성전자주식회사 프로세스들간의 출력 동기가 보정된 다중 프로세스 a/d컨버터
DE102004009612B4 (de) * 2004-02-27 2010-11-18 Infineon Technologies Ag Verfahren und Schaltungsanordnung zum Verzögerungsabgleich von zeitversetzt arbeitenden Analog-Digital-Wandlern
DE102004009613B4 (de) * 2004-02-27 2010-05-12 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Kompensieren von Nichtlinearitäten von zeitversetzt arbeitenden Analog-Digital-Wandlern
US7580481B2 (en) * 2004-04-30 2009-08-25 Silicon Laboratories Inc. I/Q timing mismatch compensation
DE102004042079B3 (de) * 2004-08-31 2006-04-27 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Messung einer Laufzeit einer Digitalschaltung und entsprechende Vorrichtung
US7183953B2 (en) * 2005-03-31 2007-02-27 Teradyne, Inc. Calibrating automatic test equipment containing interleaved analog-to-digital converters
US8326252B2 (en) * 2008-12-30 2012-12-04 Silicon Laboratories Inc. Controllable image cancellation in a radio receiver
EP2211468B1 (de) 2009-01-26 2011-07-20 Fujitsu Semiconductor Limited Abtastung
US8265584B2 (en) * 2009-06-29 2012-09-11 Silicon Laboratories Inc. Providing image rejection calibration for a receiver
US7961123B2 (en) * 2009-07-09 2011-06-14 Texas Instruments Incorporated Time-interleaved analog-to-digital converter
FR2948250B1 (fr) * 2009-07-15 2013-10-25 Commissariat Energie Atomique Procede et circuit de demodulation d'au moins un signal radiofrequence
US8358994B2 (en) * 2009-08-19 2013-01-22 Silicon Laboratories Inc. Mitigating radio receiver multipath noise
US20110166968A1 (en) * 2010-01-06 2011-07-07 Richard Yin-Ching Houng System and method for activating display device feature
US8290457B2 (en) 2010-04-27 2012-10-16 Silicon Laboratories Inc. Performing impulse blanking based on blocker information
US9036740B2 (en) 2013-06-19 2015-05-19 Silicon Laboratories Inc. Performing image rejection on bandpass signals
MX2019013852A (es) 2014-06-27 2020-01-23 Anvil International Llc Abrazadera ajustable y cubo para soporte de manguera flexible.
US9819524B2 (en) 2014-11-21 2017-11-14 Silicon Laboratories Inc. Image rejection calibration with a passive network
US9319027B1 (en) 2014-12-17 2016-04-19 Silicon Laboratories Inc. Injecting a tone for image rejection calibration

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS504969A (de) * 1973-05-16 1975-01-20
US3820112A (en) * 1973-10-01 1974-06-25 A Roth High speed analog-to-digital conversion system
JPS51129126A (en) * 1975-04-05 1976-11-10 Nec Corp Image signal coding system

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
NICHTS-ERMITTELT

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3640672A1 (de) * 1985-12-24 1987-07-02 Sony Tektronix Corp Verfahren und vorrichtung zur kalibrierung einer analog/digitalwandlereinrichtung
WO1992002071A2 (en) * 1990-07-16 1992-02-06 Eastman Kodak Company Adaptive dual range analog to digital converter
WO1992002071A3 (en) * 1990-07-16 1992-03-19 Eastman Kodak Co Adaptive dual range analog to digital converter
DE102009016073A1 (de) 2008-04-21 2009-10-22 Bund Der Freien Waldorfschulen E.V. Demonstrationsvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE3105782A1 (de) 1982-02-25
JPS6137810B2 (de) 1986-08-26
JPS56115026A (en) 1981-09-10
US4345241A (en) 1982-08-17
CA1169971A (en) 1984-06-26
FR2476412B1 (fr) 1985-06-21
GB2070364B (en) 1983-11-16
GB2070364A (en) 1981-09-03
FR2476412A1 (fr) 1981-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3105782C2 (de) Analog-Digitalumsetzer
DE2820425C2 (de) Binärer Zufallsrauschgenerator zur stochastischen Kodierung
DE3003099C2 (de) Digital-Analog-Wandler mit Kompensationsschaltung
DE69825204T2 (de) Eigenkalibrierung eines Oszilloskops mittels eines Rechteck-Testsignals
DE3902313C3 (de) Analog /Digitalwandler
DE3640672C2 (de)
DE2434517C2 (de)
DE3202339C2 (de) Digitale elektrische Längen- oder Winkelmeßeinrichtung
DE2950806C2 (de)
EP0736977B1 (de) Verfahren zur Selbstkalibrierung eines A/D- oder D/A-Wandlers
DE2906519C2 (de) Verfahren zur Analog-Digitalwandlung
DE10056926A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Konditionierung eines periodischen Analogsignals
DE3514155A1 (de) Verfahren und einrichtung zur regelung des tastverhaeltnisses wenigstens eines elektrischen signals
WO1985000257A1 (en) Method and circuitry for reading the signal to be detected according to the signal value and independently from the frequency range
DE112009004833T5 (de) Analogeinheit
WO1990014717A1 (de) D/a-wandler mit hoher linearität
EP0515438B1 (de) Verfahren zum umsetzen einer analogen spannung in einen digitalwert
EP0177803B1 (de) Verfahren und Anordnung zum hochauflösenden Digitalisieren eines Signales
DE3542908A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur gewinnung eines genauen positionssignals
DE1930275C3 (de) Analog-Digital-Wandler
DE2620969C2 (de) Digital-Analogwandler bei einem Lagemeßsystem
WO2002047273A2 (de) Analog-digital-wandler und verfahren zur wandlung eines analogsignals in ein digitalsignal
DE2137126A1 (de) Verfahren zur Abtastung eines vor gegebenen Prozentsatzes von Signalen aus einer Signalfolge mit unterschiedlicher Amplitude
EP0320596B1 (de) Positionsmesseinrichtung mit Unterteilungsschaltung
DE2946335A1 (de) Analog-digital-umsetzer

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee