DE2946335A1 - Analog-digital-umsetzer - Google Patents
Analog-digital-umsetzerInfo
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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- Feedback Control In General (AREA)
Description
2946335 Dipl.-Phys. O.E. Weber ^ ο-β MOnch.n 71
Telefon: (089)7915050
Telegramm: monopolweber münchen
B 121
Burr-Brown Res. Corp.
P.O. Box 11400
International Airport Industrial Park
International Airport Industrial Park
Tucson, Arizona 85734-USA
Analog-Digital-Umsetzer
030022/0742
Die Erfindung betrifft allgemein einen Analog-Digital-Umsetzer
und bezieht sich insbesondere auf einen solchen Analog-Digital -Umsetzer, der durch einen Mikroprozessor überwacht wird und
eine Temperaturkompensation aufweist.
Die Technik der Analog-Digital-Umsetzung, bei welcher ein verbleibender
Rest rezirkuliert, ist allgemein bekannt. Es hat sich jedoch als notwendig erviesen, spezielle Rechner oder eine
sehr komplizierte Logikschaltung zu verwenden, um diejenigen Berechnungen durchzuführen, welche bei dieser Analog-Digital
-Umsetzung erforderlich werden.
Weiterhin weist diese bekannte Technik den Nachteil auf, daß analoge Einrichtungen erforderlich sind, um eine Verstärkungsund
eine Temperatur-Drift zu kompensieren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Analog
-Digital-Umsetzer der eingangs genannten Art zu schaffen, der über einen besonders großen Temperaturbereich außerordentlich
stabil arbeitet.
Zur Lösung dieser Aufgabe dienen insbesondere die im Patentbegehren
niedergelegten Merkmale.
Gemäß der Erfindung ist der wesentliche Vorteil erreichbar,
daß durch die Überwachung mit einem Mikroprozessor eine besonders flexible Arbeitsweise gewährleistet wird.
Weiterhin wirkt sich der Umstand vorteilhaft aus, daß gemäß der Erfindung digitale Einrichtungen dazu verwendet werden,
die Effekte einer Drift zu kompensieren, die sich aus Temperaturschwadungen ergibt.
Weiterhin arbeitet der erfindungsgemäße Analog-Digital-Umsetzer mit einer sehr hohen Genauigkeit, und zwar durch die
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(9
Verwendung eines Umsetzers mit schrittweiser Approximation.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes
ist vorgesehen, daß eine zweite Einrichtung mit der ersten Einrichtung verbunden ist, um die digitale Darstellung
mit dem analogen Eingangssignal zu vergleichen, um ein analoges Fehlersignal zu erzeugen, daß weiterhin eine dritte Einrichtung
vorhanden ist, welche dazu dient, das analoge Fehlersignal in eine zweite digitale Darstellung umzusetzen, und daß eine
vierte Einrichtung vorgesehen ist, welche dam dient, die erste und die zweite digitale Darstellung miteinander zu kombinieren.
Zur Erfindung gehört grundsätzlich auch das Verfahren, wie es in der Beschreibung erläutert ist, um ein analoges Eingangssignal
unter Beachtung von Korrektursignalen für eine veränderte Verstärkung und für Temperaturschwankungen in ein genaues
und stabiles digitales Ausgangssignal umzusetzen.
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Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise anhand der
Zeichnung beschrieben; in dieser zeigen:
Fig. 1 ein Blockschema einer ersten Ausführungsforin des
erfindungsgemäßen Analog-Digital-Umsetzers,
Fig. 2 ein Blockschema einer zweiten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Analog-Digital-Umsetzers und
Fig. 3 ein Blockschema einer dritten Ausführungsform des
erfindungsgemäßen Analog-DigitaL-Umsetzers.
Die Figur 1 ist ein Blockschema einer bevorzugten Ausführungsform
des erfindungsgemäßen Analog-Digital-Umsetzers. Er besteht aus einer Bank von Schaltern 2 (S1, S2 und S3), einem
integrierenden Analog-Digital-Umsetzer 4 mit 8 Bit (oder einem durch fortschreitende Approximation arbeitenden Analog-Digital
-Umsetzer), einem linearen Digital-Analog-Umsetzer 6 mit 16 Bit und einem Auflösungsvermögen von 5 Bit, einer Abtast-Speicher
-Schaltung 8, einer Abtast-Speicher-Schaltung 10, einem Summierverstärker 12, einem Differential-Temperaturfühler 14, einem
Mikroprozessor 16 sowie einem Speicherregister 18 für die Verstärkung und die Temperaturdrift.
Die Abtast-Speicher-Schaltungen 8 und 10 dienen dazu, Zwischenspannung
swerte zu speichern. Der Mikroprozessor 16 steuert den UmwandlungsVorgang, den Signalfluß durch die elektronischen
Schalter 2, und er führt alle Berechnungen aus, die erforderlich sind, um ein 16-Bit-Digitalwort zu erhalten, welches das
analoge Eingangssignal darstellt.
Die Umsetzgeschwindigkeit oder Umwandlungsgeschwindigkeit wird
durch einen integrierenden Analog-Digital-Umsetzer 4 und die Bedingungen begrenzt, welche im Hinblick auf eine möglichst gute
Gleichtaktunterdrückung einzuhalten sind. Um die Umsetzgeschwindigkeit zu erhöhen, kann der integrierende Analog-Digital-Umsetzer
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durch einen Analog-Digital-Umsetzer ersetzt werden, der mit
schrittweiser Approximation arbeitet.
Die Umsetzung einer Eingangsspannung Vin beginnt, wenn der elektronische Schalter S1 durch den Mikroprozessor 16 mit
Hilfe von Schaltsteuerleitungen geschlossen wird und wenn der integrierende 8-Bit-Analog-Digital-Umsetzer 4 ein Signal
•'Startumsetzung" vom Mikroprozessor 16 erhält. Der Mikroprozessor
16 kann ein beliebiger bekannter Mikroprozessor sein. Beispielsweise kann die bekannte Type MOSTEK 3870 verwendet
werden. Die Schalter S1, S2 und S3 können als bekamt Vierfachschalter
ausgebildet sein, und es kann beispielsweise die von der Firma Burr-Brown Research Corporation, USA unter
der Typenbezeichnung ICC-701 verwendete Schalterart verwendet
werden. Der integrierende 8-Bit-Analog-Digital-Umsetzer
kann ebenfalls ein beliebiger auf dem MaAt erhältlicher Umsetzer sein, beispielsweise der von der Firma Teledyne unter
der Typenbezeichnung 8703 vertriebene Umsetzer.
Ein Ausgangssignal mit 5 Bit von dem integrierenden Analog-Digital-Umsetzer
4- stellt eine erste digitale Approximation der analogen Eingangsspannung Vin dar. Diese erste Approximation
wird den Eingängen des Mikroprozessors 16 und den Eingängen des linearen Digital-Analog-Umsetzers 6 zugeführt, der einen
12-Bit-Stromschalter hat, der die Typenbezeichnung CIC-294
der Firma Burr-Brown trägt.
Das Ausgangssignal des Digital-Analog-Umsetzers 6 wird einem Eingang des Fehlerverstärkers 12 zugeführt und zu der Eingangsspannung Vin addiert. Die Differenz wird mit 16 multipliziert,
da der Fehlerverstärker 12 derart ausgelegt ist, daß er einen Verstärkungsfaktor von 16 hat. Dabei ist die Abtast-Speicher
-Schaltung 8 im Abtast-Modus und die Abtast-Speicher-Schaltung ist im Speicher-Modus, und zwar aufgrund der Steuersignale,
welche den Abtast-Speicher-Schaltungen 8 und 10 vom Mikroprozessor
16 zugeführt werden. Somit wird das Ausgangssignal
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des Fehlerverstärkers 12 (Va) von der ersten Abtast-Speicher
-Schaltung 8 aufgenommen.
Der Mikroprozessor 16 bringt dann die Abtast-Speicher-Schaltung 8 in einen Speicher-Modus und die Abiast-Speicher-Schaltung
10 in einen Abtast-Modus, so daß die Fehlerspannung Va nunmehr in der Abtast-Speicher-Schaltung 8 gespeichert wird
und der Abtast-Speicher-Schaltung 10 zugeführt wird. Wenn dann die Abtast-Speicher-Schaltung 10 in einen Speicher-Modus
gebracht wird und die Abtast-Speicher-Schaltung 8 in einen Abtast-Modus gebracht wird, wird die Fehlerspannung Va in
der Abtast-Speicher-Schaltung 10 gespeichert. Somit ist eine Verschiebung der Fehlerspannung Va von dem Ausgang des Fehlerverstärkers
12 durch die Abtast-Speicher-Schaltung 8 zu der Abtast-Speicher-Schaltung 10 erfolgt.
Weiterhin ist eine erste Umsetzung der Eingangsspannung Vin
erfolgt, die in dem Mikroprozessor 16 in der Form eines digitalen Wortes mit 5 Bit gespeichert ist.
Durch den Mikroprozessor 16 wird der Schalter S1 nun geöffnet, und der Schalter S2 wird geschlossen. Die in der Abtast-Spei-Cher-Schaltung
10 gespeicherte Spannung wird über den Schalter S2 dem Analog-Digital-Umsetzer 4 als unbekannte Eingangsspannung zugeführt und wird außerdem einem Eingang dss Fehlerverstärkers
12 zugeführt. Dies führt zu dem Ergebnis, daß eine zweite digitale 5-Bit-Umsetzung durchgeführt wird und
das Ergebnis im Mikroprozessor 16 gespeichert wird. Da der Ausgang des Digital-Analog-Umsetzers 6 noch mit einem Eingang
des Fehlerverstärkers 12 verbunden ist, wird ein zweites Fehletsignal Va erzeugt. Dieses Fehlersignal in Form einer Fehlerspannung
wird seriell durch die Abtast-Steuer-Schaltung 8 verschoben und gelangt gemäß den obigen Erläuterungen zu der
Abtast-Speicher-Schaltung 10. Der Schalter S2 bleibt geschlossen, bis eine dritte und eine vierte 5-Bit-Umsetzung durch
den Analog-Digital-Umsetzer 4 durchgeführt wurden und das
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Ergebnis im Mikroprozessor 16 abgespeichert ist.
Während der Umsetzvorgang so oft wiederholt werden kann, wie
es erforderlich ist, um eine gewünschte Auflösung zu erreichen, führen 16 Umsetzungen während einer 20-Hz-Periode zu einer
guten normalen Gleichtaktunterdrückung. Weiterhin sind vier Umsetzungen erforderlich, um eine Auflösung von 16 Bit zu
erreichen. Da ein genauer, linearer Digital-Analog-Umsetzer mit 16 Bit verwendet wird, ist die maximal erreichbare Linearität
0,001 %. Mit einen hochwertigeren Digital-Analog-Umsetzer
(z. B. 18 Bit, 20 Bit usw.) kann eine noch höhere Linearität erreicht werden. Beispielsweise wird durch einen Digital-Analog
-Umsetzer mit 18 Bit die Genauigkeit auf 0,00019 % gesteigert.
Außerdem würde ein externes Bezugsnormal den Mikroprozessor in die Lage versetzen, Linearitätsfehler für jedes Bit zu
berechnen und derartige Fehler digital zu kompensieren.
Nachdem vier Umwandlungen vollzogen sind, verarbeitet der Mikroprozessor 16 die vier 5-Bit-Worte, um ein 16-Bit-Digitalwort
zu erhalten, welches das analoge Eingangssignal darstellt.
Das erfindungsgemäße System kompensiert eine Drift der Verstärkung
und der Temperatur auf folgende Weise: Bevor der Umwandlungsvorgang beginnt, um eine Eingangsspannung Vin umzusetzen
(z. B. während der Aktivierung oder während der Rückstellung des Systems), wird eine erste Bezugsspannung (+Vri),
z. B. +9,92187 Volt, der Umsetzeinrichtung zugeführt, um ein positives Bezugssignal mit einem Höchstwert zur Verfügung
zu haben. Eine zweite Bezugsspannung (-Vri), beispielsweise -9,9218 Volt, wird der Umsetzeinrichtung zugeführt,
um ein negatives Bezugssignal mit einem Höchstwert zur Verfügung zu haben. Als Höchstwert wird hier der Bereichsendwert
bezeichnet. Sowohl das positive als auch das negative Bezugssignal werden im Mikroprozessor 16 in der Form von digitalen
Worten mit 16 Bit gespeichert. Dann wird der Schalter S3
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geschlossen (S1 und S2 sind geöffnet), und es wird eine durch
einen Differential-Temperaturfühler 14 erzeugte Spannung der Umsetzeinrichtung über den Schalter S3 zugeführt. Nach vier
Umwandlungen dieser Spannung, die in der oben beschriebenen Weise ausgeführt werden, wird ein Temperaturbezugswert mit
16 Bit im Mikroprozessor 16 gespeichert. Diese Kalibrierphase sollte unt*r denselben Umgebungsbedingungen durchgeführt werden,
unter denen die Umwandlungseinrichtung verwendet wird, um einen maximalen Kompensationsbereich über -25 0G Umgebungstemperatur
zu erreichen.
Nachdem die Kalibrierphase abgeschlossen ist, wird die Analog -Digital-Umsetzung einer analogen Eingangsspannung Vin in
der oben beschriebenen Weise fortgesetzt. Nachdem eine digitale Darstellung der Eingangsspannung Vin mit 16 Bit berechnet
und im Mikroprozessor 16 abgespeichert ist, wird der Schalter S2 gehöffnet und der Schalter S3 geschlossen, und zwar durch
den Mikroprozessor 16 über die Schaltsteuerleitungen 20. Dadurch wird eine Spannung Vt durch den Differential-Temperaturfühler
14 erzeugt, der einen Thermistor enthalten kann. Diese Spannung wird der übrigen Umsetzeinrichtung über den Schalter
S3 zugeführt. Nach vier Umsetzungen der oben beschriebenen
Art wird eine digitale Darstellung von Vt mit 16 Bit berechnet
und im Mikroprozessor 16 abgespeichert. Diese digitale Darstellung von Vt wird dann mit der Temperaturbezugsspannung
von 16 Bit verglichen, die während der Kalibrierphase im Mikroprozessor 16 abgespeichert wurde. Die Differenz wird durch
32 geteilt, da eine Temperaturveränderung von 1 0G einer
Spannungsdifferenz von 32 Bits mit dem geringsten Stellenwert
entspricht.
Das Register 18 für die Verstärkung und eine Drift des Signals
ist so programmiert, daß es das Verstärkungsmaß und diejenige Drift enthält, welche als Funktion der Temperaturveränderung
auftritt. Nachdem die Temperaturveränderung berechnet wurde, indem die Temperaturspannungsdifferenz durch 32 geteilt
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wurde, wird das Register 18 abgefragt, um das erforderliche
Ausmaß für die Kompensation der Verstärkung und der Drift zu ermitteln. Die digitale Darstellung von 16 Bit der analogen
Eingangsspannung Vin wird dann mit dem entsprechenden Wert kompensiert, und das Ergebnis steht am Ausgang des Mikroprozessors
16 zur Verfügung.
Die Figur 2 ist ein Blockschema einer zweiten bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Analog-Digital-Umsetzers,
der durch einen Mikroprozessor überwacht wird. Gleiche Bauteile sind mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet; bei dieser
bevorzugten Ausführungsform enthält die Schalterbank 2 jedoch die Schalter S1, S2, S3 und S4-. Eine zusätzliche Schalterbank
20 enthält die Schalter S5, S6, S? und S8.
Die Umsetzung der Eingangsspannung Vin beginnt, wenn die Schalter S1 und S6 durch den Mikroprozessor 16 über die Schaltsteuerleitungen
geschlossen sind und wenn der Umsetzer 4 ein Signal "Startumsetzung" vom Mikroprozessor 16 empfängt.
Ein erstes 5-Bit-Ausgangssignal vom Umsetzer 4- stellt eine
erste Approximation der analogen Eingangsspannung Vin dar. Diese erste Approximation wird im Mikroprozessor 16 gespeichert
und wird den Eingängen des Umsetzers 16 zugeführt.
Das Ausgangssignal des Digital-Analog-Umsetzers 6 wird dem Fehlerverstärkers 12 zugeführt. Die Eingangsspannung Vin
wird ebenfalls dem Fehlerverstärker 12 zugeführt, und die sich ergebende Fehlerspannung (Va) wird der Abtasfcflpeicher-Schaltung
8 zugeführt, die zuvor in einen Abtast-Modus gebracht wurde, und zwar durch den Mikroprozessor 16. Wenn
Va in der Abtast-Speicher-Schaltung 8 gespeichert ist, öffnet der Mikroprozessor 16 die Schalter S1 und S6 und schließt
die Schalter S3 und S7. Auf diese Weise wird die Spannung (Va), welche in der Abtast-Speicher-Schaltung 8 gespeichert
ist, als eine unbekannte Einga^sspannung dem Umsetzer 4·
über den Schalter S3 und dem Fehlerverstärker 12 über den
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Schalter S7 zugeführt. Eine zweite Umsetzung wird in dem
Mikroprozessor 16 gespeichert, und eine zweite Fehlerspannung wird der Abtast-Speicher-Schaltung 10 zugeführt, die
von dem Mikroprozessor 16 in einen Abtast-Modus gebracht wurde.
Die Schalter S3 und 37 werden nun geöffnet, und die Schalter
S2 und S8 werden durch den Mikroprozessor geschlossen. Auf diese Weise wird der Inhalt der Abtast-Speicher-Schaltung
10 als eine unbekannte Eiηgangsspannung dem Umsetzer 4 über
den Schalter S2 und dem Fehlerverstärker 12 über den Schalter S8 zugeführt. Die daraus resultierende Fehlerspannung Va
wird in der Abtast-Speicher-Schaltung 8 gespeichert, wodurch eine dritte Umwandlung abgeschlossen ist. Die Schalter S2 und
S8 werden nun geöffnet, und die Schalter SJ und S7 werden geschlossen,
um eine vierte Umwandlung oder Umsetzung durchzuführen.
Der Mikroprozessor 16 verarbeitet dann vier 5-Bit-Worte,
welche die vier Umsetzungen darstellen, um ein digitales Wort mit 16 Bit zu erhalten, welches die analoge Eingangsspannung Vin darstellt.
Eine Veränderung der Verstärkung und eine Temperaturdrift werden in derselben Weise kompensiert, wie es in Verbindung
mit der Anordnung nach der Figur 1 beschrieben wurde, indem dieselbe Schaltersteuerung verwendet wird. Die erste
Umsetzung der Ausgangsspannung (Vt) des Differential-Temperaturfühlers
1A- erfolgt durch ein Schließen der Schalter S4 und S5. Für die zweite Umsetzung werden die Schalter S3 und S7
geschlossen. Die Schalter S2 und S8 werden für die dritte Umsetzung geschlossen, und die Schalter S3 und S7 werden
für die vierte Umsetzung erneut geschlossen. Natürlich erfordert eine Kompensation einer Verstärkungsveränderung und
einer Temperaturdrift eine Kalibrierphase, die ähnlich her-
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beigeführt wird, wie diejenige Kalibrierphase, die oben anhand
der Figur 1 erläutert wurde, indem eine geeignete Schaltersteuerung verwendet wird, d. h. S4 und S5; S3 und S7; S2
und S8; S3 und S7.
Die Figur 3 ist ein Blockschema einer dritten bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Analog-Digital-Umsetzers,
der durch einen Mikroprozessor überwacht wird. Gleiche Bauteile sind wiederum mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
Bei dieser bevorzugten Ausführungsform enthält die
Schalterbank 2 den Schalter S1 und den Schalter S2, und die Schalterbank 20 enthält die Schalter S6, S7, S8 und S9, und
eine weitere Schalterbank 22 enthält die Schalter S3, S4 und S5. Weiterhin ist ein zusätzlicher Analog-Digital-Umsetzer
24 mit 8 Bit vorgesehen, der mit einer schrittweisen Approximation
arbeitet. Dieser zusätzliche Analog-Digital-Umsetzer hat einen Eingang, der mit der Abtast-Speicher-Schaltung 8 verbunden ist,
der weiterhin mit der Abtast-Speicher-Schaltung 10 verbunden ist und der schließlich mit dem Differential-Temperaturfühler
14 verbunden ist und zwar über einen Schalter S3, S4 bzw. S5. Ein 5-Bit-Ausgangssignal dee Umsetzers 24 wird dem Mikroprozessor
16 und dem linearen Digital-Analog-Umsetzer 6 zugeführt, und zwar ebenso wie das Ausgangssignal des Analog-Digital-Umsetzers
Die Einbeziehung des Analog-Digital-Umsetzers 24, der mit fortschreitender Approximation arbeitet, erhöht die Geschwindigkeit
des erfindungsgemäßen Analog-Digital-Umsetzers, während nur ein kleiner Fehler eingeführt wird.
Das System arbeitet in ähnlicher Weise wie die anhand der Figur 2 beschriebene Anordnung. Der Hauptunterschied besteht
in der Steuerung der Schalter S1 bis S9. Für die erste Umsetzung einer analogen Eingangsspannung (Vin) sind die Schalter
S1 und S7 eingeschaltet. Die zweite Umsetzung findet statt,
wenn die Schalter S2 und S8 eingeschaltet sind und die übrigen Schalter ausgeschaltet sind. Bei der dritten Umsetzung sind
alle Schalter ausgeschaltet, mit der Ausnahme der Schalter S4-
und S9. Um die vierte Umsfczung durchzuführen, sind alle Schal-
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ter ausgeschaltet, mit Ausnahme der Schalter S3 und S8. Die
selbe Schaltersteuerung wird verwendet, wenn Vt von dem Differential-Temperaturfühler 14 während der Kalibrierphase
und während der Kompensationsphase umgesetzt wird.
Die Abtast-Speicher-Schaltungen ebenso wie die Verstärkungs
-und Temperatur-Drift-Register sind in Form integrierter Schaltungen auf dem Markt erhältlich. Vorzugsweise werden
Bauteile mit den Typenbezeichnungen IGG 702 bzw. ICC 317
der Firma Burr-Brown, USA verwendet. Weiterhin kann der Fehlerverstärker 12 in Form einer Standardanordnung aufgebaut
sein, und zwar beispielsweise unter Verwendung von drei Operationsverstärkern, die von der Firma Burr-Brown, USA
unter der Typenbezeichnung ICC 108 geliefert werden. Einem ersten Eingang eines ersten Operationsverstärkers wird das
analoge Eingangssignal in Form der analogen Eingangsspannung
(Vin) zugeführt, und einem ersten Eingang eines zweiten Operationsverstärkers wird das Ausgaigssignal des linearen
Digital-Analog-Umsetzers 6 zugeführt. Ein zweiter Eingang des ersten und des zweiten Operationsverstärkers sind miteinander
verbunden. Die Ausgänge des ersten und des zweiten Operationsverstärkers sind jeweils mit dem ersten bzw. dem zweiten
Eingang eines dritten Operationsverstärkers verbunden.
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e e
r s e i t e
Claims (11)
1.j Analog-Digital-Umsetzer mit einer ersten Einrichtung, wel-
-' chs> dazu dient, ein analoges Eingangssignal in eine erste
digitale Darstellung umzusetzen, dadurch gekennzeichnet , daß eine zweite Einrichtung (6, 12) mit
der ersten Einrichtung (4) verbunden ist, um die digitale Darstellung mit dem analogen Eingangssignal (Vin) zu vergleichen,
um ein analoges Fehlersignal zu erzeugen, daß weiterhin eine dritte Einrichtung vorhanden ist, welche dazu
dient, das analoge Fehlersignal in eine zweite digitale Darstellung
umzusetzen, und daß eine vierte Einrichtung (16) vorgesehen ist, welche dazu dient, die erste und die zweite
digitale Darstellung miteinander zu kombinieren.
2. Umsetzer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet ,
daß die zweite Einrichtung einen Digital-Analog-Umsetzer (6), dessen Eingänge mit den Ausgängen der ersten Einrichtung (4)
verbunden sind, und eine Vergleichseinrichtung (12) aufweist, die einen ersten Eingang hat, der mit dem Ausgang des Digital
-Analog-Umsetzers verbunden ist, und einen zweiten Eingang aufweist, dem die analoge Eingangsspannung zugeführt wird, um
das Fehlersignal zu erzeugen.
3. Umsetzer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die dritte Einrichtung folgende Bauteile aufweist: Eine Einrichtung zur Speicherung des Fehlersignals und eine
Schaltereinrichtung, welche mit der Einrichtung zur Speicherung und mit der ersten Einrichtung verbunden ist, um das Fehlersignal
der ersten Einrichtung zuzuführen.
4-, Umsetzer nach einem der Ansprüche 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet , daß die vierte Einrichtung einen
Mikroprozessor aufweist.
030022/0742
ORIGINAL INSPECTED
5. Umsetzer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , daß eine fünfte Einrichtung
vorgesehen ist, welche dazu dient, eine Spannung zu erzeugen, die für die Temperatur repräsentativ ist, und daß eine
sechste Einrichtung vorgesehen ist, welche mit der fünften Einrichtung und mit der ersten Einrichtung verbunden ist, um
die Spannung für das analoge Eingangssignal zu ersetzen, und daß die vierte Einrichtung eine digitale Darstellung der
Spannung erzeugt, um das Ausmaß einer Driftkompensation zu bestimmen.
6. Umsetzer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , daß eine erste Speichereinrichtung
mit der vierten Einrichtung verbunden ist, um für die Driftkomensation bei verschieden starken TemperatürVeränderungen
repräsentative Signale in digitaler Form zu speichern.
7· Umsetzer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet ,
daß die Vergleichseinrichtung als Fehlerverstärker ausgebildet ist.
8. Umsetzer nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet ,
daß die Speichereinrichtung folgende Teile aufweist: Eine erste Abtast-Speicher-Schaltung, welche mit dem Mikroprozessor verbunden
ist, um ein Fehlersignal aufzunehmen, wenn die Abtast -Speicher-Schaltung durch den Mikroprozessor in den Abtast-Modus
gebracht wurde, und um das Fehlersignal abzuspeichern, wenn die Abtast-Speicher-Schaltung durch den Mikroprozessor
in einen Speicher-Modus gebracht ist, und weiterhin eine zweite Abtast-Speicher-Schaltung, welche mit dem Mikroprozessor
verbunden ist, um den Inhalt der ersten Abtast-Speicher-Schaltung aufzunehmen, wenn sie durch den Mikroprozessor in einen
Abtast-Modus gebracht ist, und um den Inhalt der ersten Abtast-Speicher-Schaltung
abzuspeichern, wenn sie durch den Mikroprozessor in einen Speicher-Modus gebracht ist, wobei die erste
Abtast-Speicher-Schaltung erneut in einen Abtast-Modus gebracht
03Q022/07A2
wird, nachdem die zweite Abtast-Speicher-Schaltung in einen
Speicher-Modus gebracht ist, so daß die erste Abtast-Speicher-Schaltung zur Aufnahme eines folgenden Fehlersignals
bereit ist.
9. Umsetzer nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltereinrichtung folgende Teile aufweist: Einen ersten Schalter, der dazu dient, das analoge Eingangssignal
der ersten Einrichtung zuzuführen, und einen zweiten Schalter, welcher dazu dient, den Inhalt der zweiten Abtast
-Speicher-Schaltung der ersten Einrichtung zuzuführen, wobei der erste Schalter geöffnet ist, wenn der zweite Schalter geschlossen
ist.
10. Umsetzer nach Anspruch 4-, dadurch gekennzeichnet,
daß die Speichereinrichtung eine erste und eine zweite Abtast-Speicher-Schaltung aufweist, welche durch den
Mikroprozessor gesteuert werden und die Eingänge haben, welche mit einem Ausgang des Fehlerverstärkers verbunden sind,
um abwechselnd aufeinander folgende Fehlersignale aufzunehmen
und zu speichern.
11. Umsetzer nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltereinrichtung folgende Teile aufweist: Einen ersten Schalter, der durch den Mikroprozessor gesteuert
wird, um in selektiver Weise das analoge Eingangssignal, die erste Abtast-Speicher-Schaltung und die zweite Abtast-Speicher-Schaltung
mit der ersten Einrichtung verbindet, und einen zweiten Schalter, welcher dazu dient, in selektiver Weise
das analoge Eingangssignal, die erste Abtast-Speicher-Schaltung und die zweite Abtast-Speicher-Schaltung mit der Vergleichseinrichtung
zu verbinden.
030022/074J
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- 1979-11-15 JP JP14877479A patent/JPS5573135A/ja active Pending
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