DE3005255A1 - Hochspannungspruefer - Google Patents

Hochspannungspruefer

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DE3005255A1
DE3005255A1 DE19803005255 DE3005255A DE3005255A1 DE 3005255 A1 DE3005255 A1 DE 3005255A1 DE 19803005255 DE19803005255 DE 19803005255 DE 3005255 A DE3005255 A DE 3005255A DE 3005255 A1 DE3005255 A1 DE 3005255A1
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test
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light source
tester
electrode
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Withdrawn
Application number
DE19803005255
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English (en)
Inventor
Günter 8672 Selb Schwager
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Rausch & Pausch
Original Assignee
Rausch & Pausch
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/145Indicating the presence of current or voltage
    • G01R19/155Indicating the presence of voltage
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/04Voltage dividers

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

  • Ho chspannungsprüfer Die Erfindung betrifft einen Hochspannungsprüfer mit einer stabförmigen Abgriffelektrode und einem zwischen der Prüfspitze derselben und einer Gegenkapazität angeordneten Überspannungsableiter und einer Prüflichtquelle nach Patent.0.000.0. (Patentanmeldung P 26 00 253o9)o Der Hochspannungsprüfer des Hauptpatents ermöglicht mittels des Überspannungsableiters mit exakt vorgegebenen Ansprechspannungen zu arbeiten und gestattet Rückschlüsse auf die Höhe der Prüf spannung zu ziehen. Die Erfindung hat eine weitere Ausgestaltung des Hochspannungsprüfers des Hauptpatents zur Aufgabe, Nach der Erfindung ist vorgesehen, daß die Prüflichtquelle durch einen isolierten flexiblen elektrischen Leiter mit einer die Gegenkapazität ersetzenden Prüfspitze einer weiteren stabförmigen Abgriffelektrode verbunden ist. Hierdurch ist ein zweipoliger Hochspannungsprüfen geschaffen, der Spannungsprüfungen und Phasengleichheitsprüfungen bei elektrischen Anschlußgliedernermöglicht.
  • Zweckmäßig ist der elektrische Leiter durch ein einfaches Kabelstück gebildet, das eine beliebige Handhabung beider Abgriffelektroden zuläßt. Es ist weiter vorgesehen, den Prüfspitzen beider Abgriffelektroden eine Anzahl mit dem Üb er spannungsableiter und uns der Prüflichtquelle in Reihe geschaltete Schutzwiderstände zuzuordnen. Es ist zwar bei anderweitigen zweipoligen Hochspannungsprüfern bekannt Glimmlampen und Funkenstrecken vorzusehen. Diese gestatten aber nicht mit exakt vorbestimmten Ansprechspannungen zu arbeiten.
  • Die Erfindung ist in der Zeichnung an einem Ausführungsbeispiel verdeutlicht. Hierin bedeuten: Fig. 1 einen Hochspannungsprüfer in Seitenansicht und Fig. 2 ein Schaltbild eines Hochspannungsprüfers der Figur 1.
  • In der Figo 1 ist mit 1 eine erste stabförmige Abgriffelektrode bezeichnet, die in Reihe mit Schutzwiderständen 14 (Fig. 2) eine Prüfspitze 2, einen Überspannungsableiter 5 und mindestens eine Glimmlampe 3 aufweist. An der Glimmlampe 3 liegt ein isolierter flexibler elektrischer Leiter 15 an, der unter Fortfall der Gegenkapazität 4 des Hauptpatents die Glimmlampe 3 über Schutzwiderstände 16 mit der Prüfspitze 18 einer zweiten Abgriffelektrode 17 verbindet, Der elektrische Leiter 15 ist durch ein an den Abgriffelektroden 1, 17 festgelegtes Kabelstück gebildet.
  • Bei an Anschlußleitungen angelegten Prüfspitzen 2, 18 erfolgt bei Erreichen der für den Hochspannungsprüfer vorbestimmten Ansprechspannung über den Überspannungsableiter 5 die Durchschaltung und das Aufleuchten der Glimmlampe 3. Zu Phasengleichheitsbestimmungen sind die Prüfspitzen 2, 18 beider Abgriffelektroden 1, 17 an die zu verbindenden Anschlußleitungen anzulegen. Bei unterschiedlichen Phasen der Anschlußleitungen erfolgt ein Aufleuchten der Glimmlampe 3, während bei Phasengleichheit ein Aufleuchten unterbleibt.

Claims (1)

  1. Patentansprüche Hochspannungsprüfer mit einer stabförmigen Abgriffelektrode und einem zwischen der Prüfspitze derselben und einer Gegenkapazität angeordneten Überspannungsableiter und einer Prüflichtquelle nach Patent,........ (Patentanmeldung P 26 00 253.9), dadurch gekennzeichnet, daß die Prüflichtquelle (3) durch einen isolierten flexiblen elektrischen Leiter (15) mit einer die Gegenkapazität ersetzenden Prüfspitze (18) einer weiteren stabförmigen Abgriffelektrode (17) verbunden ist0 2 Hochspannungsprüfer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß den Prüfspitzen (2, 18) beider Abgriffelektroden (1, 17) mit dem Uberspannungsleiter (5) und der Prüflichtquelle (3) in Reihe geschaltete Schutzwiderstände (14) (16) zugeordnet sind,
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4923407A (en) * 1989-10-02 1990-05-08 Tektronix, Inc. Adjustable low inductance probe
US5351002A (en) * 1990-08-20 1994-09-27 Snap-On Incorporated Test probe

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