DE3005255A1 - Hochspannungspruefer - Google Patents
HochspannungsprueferInfo
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- DE3005255A1 DE3005255A1 DE19803005255 DE3005255A DE3005255A1 DE 3005255 A1 DE3005255 A1 DE 3005255A1 DE 19803005255 DE19803005255 DE 19803005255 DE 3005255 A DE3005255 A DE 3005255A DE 3005255 A1 DE3005255 A1 DE 3005255A1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/145—Indicating the presence of current or voltage
- G01R19/155—Indicating the presence of voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/04—Voltage dividers
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
- Ho chspannungsprüfer Die Erfindung betrifft einen Hochspannungsprüfer mit einer stabförmigen Abgriffelektrode und einem zwischen der Prüfspitze derselben und einer Gegenkapazität angeordneten Überspannungsableiter und einer Prüflichtquelle nach Patent.0.000.0. (Patentanmeldung P 26 00 253o9)o Der Hochspannungsprüfer des Hauptpatents ermöglicht mittels des Überspannungsableiters mit exakt vorgegebenen Ansprechspannungen zu arbeiten und gestattet Rückschlüsse auf die Höhe der Prüf spannung zu ziehen. Die Erfindung hat eine weitere Ausgestaltung des Hochspannungsprüfers des Hauptpatents zur Aufgabe, Nach der Erfindung ist vorgesehen, daß die Prüflichtquelle durch einen isolierten flexiblen elektrischen Leiter mit einer die Gegenkapazität ersetzenden Prüfspitze einer weiteren stabförmigen Abgriffelektrode verbunden ist. Hierdurch ist ein zweipoliger Hochspannungsprüfen geschaffen, der Spannungsprüfungen und Phasengleichheitsprüfungen bei elektrischen Anschlußgliedernermöglicht.
- Zweckmäßig ist der elektrische Leiter durch ein einfaches Kabelstück gebildet, das eine beliebige Handhabung beider Abgriffelektroden zuläßt. Es ist weiter vorgesehen, den Prüfspitzen beider Abgriffelektroden eine Anzahl mit dem Üb er spannungsableiter und uns der Prüflichtquelle in Reihe geschaltete Schutzwiderstände zuzuordnen. Es ist zwar bei anderweitigen zweipoligen Hochspannungsprüfern bekannt Glimmlampen und Funkenstrecken vorzusehen. Diese gestatten aber nicht mit exakt vorbestimmten Ansprechspannungen zu arbeiten.
- Die Erfindung ist in der Zeichnung an einem Ausführungsbeispiel verdeutlicht. Hierin bedeuten: Fig. 1 einen Hochspannungsprüfer in Seitenansicht und Fig. 2 ein Schaltbild eines Hochspannungsprüfers der Figur 1.
- In der Figo 1 ist mit 1 eine erste stabförmige Abgriffelektrode bezeichnet, die in Reihe mit Schutzwiderständen 14 (Fig. 2) eine Prüfspitze 2, einen Überspannungsableiter 5 und mindestens eine Glimmlampe 3 aufweist. An der Glimmlampe 3 liegt ein isolierter flexibler elektrischer Leiter 15 an, der unter Fortfall der Gegenkapazität 4 des Hauptpatents die Glimmlampe 3 über Schutzwiderstände 16 mit der Prüfspitze 18 einer zweiten Abgriffelektrode 17 verbindet, Der elektrische Leiter 15 ist durch ein an den Abgriffelektroden 1, 17 festgelegtes Kabelstück gebildet.
- Bei an Anschlußleitungen angelegten Prüfspitzen 2, 18 erfolgt bei Erreichen der für den Hochspannungsprüfer vorbestimmten Ansprechspannung über den Überspannungsableiter 5 die Durchschaltung und das Aufleuchten der Glimmlampe 3. Zu Phasengleichheitsbestimmungen sind die Prüfspitzen 2, 18 beider Abgriffelektroden 1, 17 an die zu verbindenden Anschlußleitungen anzulegen. Bei unterschiedlichen Phasen der Anschlußleitungen erfolgt ein Aufleuchten der Glimmlampe 3, während bei Phasengleichheit ein Aufleuchten unterbleibt.
Claims (1)
- Patentansprüche Hochspannungsprüfer mit einer stabförmigen Abgriffelektrode und einem zwischen der Prüfspitze derselben und einer Gegenkapazität angeordneten Überspannungsableiter und einer Prüflichtquelle nach Patent,........ (Patentanmeldung P 26 00 253.9), dadurch gekennzeichnet, daß die Prüflichtquelle (3) durch einen isolierten flexiblen elektrischen Leiter (15) mit einer die Gegenkapazität ersetzenden Prüfspitze (18) einer weiteren stabförmigen Abgriffelektrode (17) verbunden ist0 2 Hochspannungsprüfer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß den Prüfspitzen (2, 18) beider Abgriffelektroden (1, 17) mit dem Uberspannungsleiter (5) und der Prüflichtquelle (3) in Reihe geschaltete Schutzwiderstände (14) (16) zugeordnet sind,
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803005255 DE3005255A1 (de) | 1980-02-13 | 1980-02-13 | Hochspannungspruefer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803005255 DE3005255A1 (de) | 1980-02-13 | 1980-02-13 | Hochspannungspruefer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3005255A1 true DE3005255A1 (de) | 1981-08-20 |
Family
ID=6094440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803005255 Withdrawn DE3005255A1 (de) | 1980-02-13 | 1980-02-13 | Hochspannungspruefer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3005255A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4923407A (en) * | 1989-10-02 | 1990-05-08 | Tektronix, Inc. | Adjustable low inductance probe |
US5351002A (en) * | 1990-08-20 | 1994-09-27 | Snap-On Incorporated | Test probe |
-
1980
- 1980-02-13 DE DE19803005255 patent/DE3005255A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4923407A (en) * | 1989-10-02 | 1990-05-08 | Tektronix, Inc. | Adjustable low inductance probe |
US5351002A (en) * | 1990-08-20 | 1994-09-27 | Snap-On Incorporated | Test probe |
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