DE2914122C2 - Opto-elektronische Einrichtung zur Erzeugung eines Fokussierungssignals - Google Patents
Opto-elektronische Einrichtung zur Erzeugung eines FokussierungssignalsInfo
- Publication number
- DE2914122C2 DE2914122C2 DE2914122A DE2914122A DE2914122C2 DE 2914122 C2 DE2914122 C2 DE 2914122C2 DE 2914122 A DE2914122 A DE 2914122A DE 2914122 A DE2914122 A DE 2914122A DE 2914122 C2 DE2914122 C2 DE 2914122C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- radiation
- detectors
- detector
- signal
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0916—Foucault or knife-edge methods
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1359—Single prisms
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
stand zwischen den Punkten zu verstehen, an denen die Intensität das e~2-fache der Intensität in der Mitte des
Strahlungsflecks ist Um einen derartigen kleinen Strahlungsfleck erzeugen zu können, müssen die Wellenlänge
des Auslesebündels (A) und die numerische Apertur (NA.) des Ausleseobjektivs passend gewählt sein.
Der Durchmesser des Ausleseflecks ist nämlich zu A/NA, proportional. In der Praxis wird meistens
A = O, 6328 μπι und N.A. = 0,45 gewählt
Ein Objektivsystem mit einer derartigen numerischen Apertur weist eine geringe Tiefenschärfe, z. B. in der
Größenordnung von i μΐη, auf. Um die Datenstruktur
gut auslesen zu können, muß das Objektivsystem stets scharf auf die Fläche der Datenstruktur fokussiert bleiben.
Da sich in der Auslesevorrichtung der Abstand zwischen dem Objektivsystem und der Fläche der Datenstruktur
aus vielerlei Gründen, z. B. wegen der nichtvollkommenen Flachheit des Aufzeichnungsträgers
oder wegen Schwingungen von Elementen des Auslesesystems, ändert, müssen Maßnahmen getroffen werden,
um diese Änderungen ermitteln und anhand dieser Ermittlung die Fokussierung nachregeln zu können.
Auch wenn die kleinen Datendetails in einen Aufzeichnungsträger eingeschrieben werden, muß das Ein-'
schreibbündel nach wie vor zu einem kleinen Strahlungsfleck auf die einzuschreibende Schicht fokussiert
sein, so daß auch in diesem Falle die genannten Maßnahmen getroffen werden müssen.
Zum Detektieren von Fokusfehlern könnte das eingangs beschriebene Fokusfehlerdetektionssystem verwendet
werden. In diesem System ist jedoch die Lage des strahlungsempfindlichen Detektionssystems in bezug
auf die Achse des Strahlungsbündels besonders kritisch. Eine kleine Verschiebung des Detektionssystems
quer zu dem Strahlungsbündel führt zu einer Änderung der Strahlungsverteilung über die Detektoren des Detektionssystems,
und diese Änderung wird als ein Fokusfehler interpretiert.
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Fokusfehlerdetektionssystem, insbesondere für eine Auslesevorrichtung
oder eine Einschreibvorrichtung, zu schaffen, in dem der Einfluß eines Lagenfehlers des Detektionssystems auf
das Fokusfehlersignal erheblich herabgesetzt ist.
Die gestellte Aufgabe ist erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Detektoren in einer zu der Soll-Schärfeebene
optisch konjugierten Ebene angeordnet sind, daß jeder Detektor aus einem Raster von mindestens drei
Fotosensorelementen besteht, daß in der elektronischen Schaltung aus dc:i Signalen der Fotosensorelemente ein
Lagefehlersignal entsprechend einer Abweichung in der Position der Strahlungsempfängeranordnung in bezug
auf die Achse des reflektierten Strahlungsbündels abgeleitet wird, daß der erste bzw. der zweite Detektor mit
einer zweiten bzw. dritten, von dem Lagefehlersignal gesteuerten Schaltung verbunden ist, welche zweite
bzw. dritte Schaltung die Ausgangssignale der Fotosensorelemente des betreffenden Detektors zu zwei Summensignalen
zusammenfügt und dadurch den betreffenden Detektor elektronisch aufteilt in zwei Detektorteile,
wobei die Aufteilung durch das Lagefehlersignal be- bo
stimmt wird.
Es wird hierbei die Tatsache ausgenutzt, daß sich bei einer Verschiebung des Deteklionssystems in bezug auf
die Achse des Slrahlungsbüiidels die'strahlungsl'leeke in
derselben Richtung über die Detektoren verschieben, μ
Indem für beide Detektoren der Unterschied der Ausgitngssignale
der Deiektoneile bestimmt wird und die
Differcnzsignale zueinander addiert werden, wird ein
LagenfehlersignaJ, d h. ein Signal erhalten, das eine Anzeige
über einen Fehler in der Lage des Detektionssystems in bezug auf die Achse des Strahlungsbündels
gibt wobei dieses Lagenfehlersignal von einem Fokusfehler unabhängig ist Mit dem Lagenfehlersignal kann
die Trennlinie jedes der Detektoren elektronisch nachgesteuert werden, so daß diese Trennlinien gleichsam
den Strahlungsflecken folgen. Dabei folgt man nicht einer Änderung in der Strahlungsverteihing infolge eines
Fokusfehlers, weil ein Fokusfehler gleichsam zu einer Bewegung der zwei Strahlungsflecke in entgegengesetzten
Richtungen führt
Eine bevorzugte Ausführungsform einer Vorrichtung nach der Erfindung, in der die Wählvorrichtung durch
elektrische Wählschaltungen gebildet werden, ist dadurch gekennzeichnet, daß die zweite bzw. dritte Schaltung
durch zwei Reihen von Feldeffekttransistoren mit isolierter und gemeinsamer Gate-Elektrode aus Widerstandsmaterial
gebildet wird, daß bei jeder Reihe das Source-Gebiet jedes Transistors mit einem Fotosensorelement
des betreffenden Detektors verbunden ist und die Drain-Gebiete sämtlicher Transistoren miteinander
verbunden sind, und daß die Spannungen über die beiden gemeinsamen Gate-Elektroden einen entgegengesetzten
Verlauf aufweisen, wobei die Gate-Elektroden mit demjenigen Ausgang der elektronischen Schaltung
verbunden sind, an dem das Lagefehlersignal auftritt.
Die Erfindung wird anhand der in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiele näher beschrieben.
Es zeigt
F i g. 1 schematisch eine Ausführungsform einer Auslesevorrichtung
nach der Erfindung,
F i g. 2a und 2b das Prinzip des in dieser Vorrichtung verwendeten Fokusfehlerdetektionssystems,
Fig.3 eine Ausführungsfonn einer elektronischen Schaltung zum Ableiten eines Fokusfehlersignals und
eines Lagenfehlersignals aus den Detektorsignalen,
F i g. 4 eine bevorzugte Ausführungsform einer elektronischen Wählschaltung für die rasterförmigen Detektoren,
Fig. 5 den Verlauf der Steuerspannungen für diese
Wählschaltung,
F i g. 6 diese Wählschaltung im Detail, Fig. 7 eine zweite Ausführungsform eines Detektionssystems
und der zugehörigen Wählvorrichtungen,
Fig. 8 ein Detektionssystem mit rasterförmigen Detektoren
für die Fokusfehlerdetektion und weiteren Detektoren zum Detektieren eines Lagenfehlers eines
Ausleseflecks in bezug auf die Mitte einer auszulesenden Spur, und
Fig. 9 eine Ausführungsform einer Einschreibvorrichtung
mit einem Fokusfehlerdetektionssystem nach der Erfindung.
In diesen Figuren sind entsprechende Elemente stets mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
Fig. 1 zeigt einen runden scheibenförmigen Aufzeichnungsträger 1 in radialem Schnitt. Die Spuren 2
der reflektierenden Datenfläche 2', die aus nicht dargestellten Gebieten aufgebaut sind, erstrecken sich senkrecht
zu der Zeichnungsebene. Beispielsweise sei angenommen, daß sich die Datenfläche 2' auf der Oberseite
des Aufzeichnungsträgers befindet und daß durch das Substrat 4 des Aufzeichnungsträgers, ζ. Β. aus einem
Kunststoff, hindurch ausgelesen wird. Die Datenfläche 2' kann mit einer Schutzschicht 3 überzogen sein. Der
Aufzeichnungsträger kann mittels einer Welle 5 gedreht
werden, die von einem Rotationsmotor 6 angetrieben wird.
Eine Strahlungsquelle 7, ζ. B. ein Helium-Neon-Laser
oder ein Halbleiterdiodenlaser, liefert ein Auslesebündel b. Dieses Bündel wird von einem Spiegel 9 zu einem
schematisch durch eine einzige Linse dargestellten Objektivsystems 10 reflektiert. In dem Wege des Bündels b
ist eine Hilfslinse 8 angeordnet, die dafür sorgt, daß die Pupille des Objektivsystems möglichst gefüllt wird.
Dann wird ein Auslesefleck V mit minimalen Abmessungen auf der Datenstruktur erzeugt.
Das Auslesebündel wird von der Datenstruktur reflektiert und bei Drehung des Aufzeichnungsträgers
entsprechend der Reihenfolge der Gebiete in einer augenblicklich ausgelesenen Spur moduliert. Dadurch, daß
der Auslesefleck und der Aufzeichnungsträger mit Hilfe an sich bekannter und hier nicht dargestellter Mittel in
radialer Richtung in bezug aufeinander bewegt werden, kann die ganze Datenfläche abgetastet werden.
Das modulierte Auslesebündel durchläuft wieder das Objektivsystem 10 und wird vom Spiegel 9 reflektiert. In
dem Strahlungsweg sind Mittel zur gegenseitigen Trennung des modulierten und des unmodulierten Auslesebündels
angeordnet. Diese Mittel können z. B. aus einem polarisationsempfindlichen Teilprisma und einer M-4-Platte
bestehen, wobei λ die Wellenlänge des Auslesebündels ist. In F i g. 1 ist der Einfachheit halber angenommen,
daß die genannten Mittel aus einem halbdurchlässigen Spiegel 11 bestehen. Dieser Spiegel reflektiert
das modulierte Auslesebündel zu einem strahlungsempfindlichen Datendetektor 12. Das Ausgangssignal
Si dieses Detektors ist entsprechend den äugenblicklich
ausgelesenen Daten moduliert und kann einem Demodulator 13 zugeführt werden, in dem das Signal
verarbeitet und für z. B. Wiedergabe mit einem Fernsehgerät 14 geeignet gemacht wird.
Um Fokusfehler detektieren zu können, ist im Wege des reflektierten Bündels ein Bündelteilerelement 17,
z. B. ein optischer Keil, angeordnet, wobei diesem Keil ein strahlungsempfindliches Detektionssystem 18 nachgeordnet
ist, das aus zwei Detektoren A und B besteht. Der optische Keil ist an der Stelle angeordnet, an der
das reflektierte Bündel noch ziemlich breit ist, also in einiger Entfernung von der Bildebene des Objektivsystems
10, in der die zwei Detektoren A und B angeordnet sind. Die Breite des Bündels an der Stelle des Keiles
muß gegenüber der Lagentoleranz — quer zu der Achse des Bündels — des Keiles und gegenüber Ungenauigkeiten
an der Rippe des Keiles groß sein. Im Idealfall wird die Rippe gerade sein, aber in der Praxis kann die
Poppe einen gebränselten Verlauf aufweisen. Der Keil kann in einer Ebene angeordnet sein, in der von einer
nicht dargestellten Hilfslinse eine Abbildung der Austrittspupille des Objektivsystems erzeugt wird. Im Wege
des reflektierten Auslesebündels ist weiter ein halbdurchlässiger Spiegel 19 angeordnet. Dadurch wird der
größte Teil des modulierten Auslesebündels zu dem Datendetektor 12 durchgelassen und wird ein kleiner Teil
des Bündels zu den Detektoren A und B reflektiert
Der optische Keil spaltet das Bündel in zwei Teilbündel b\ und 62, von denen das Teilbündel b\ mit dem
Detektor A und das Teilbündel 62 mit dem Detektor B
zusammenwirkt Die Detektoren A und B sind in zwei Detektorteile A\, A2 bzw. Bu B2 geteilt, wie in den
Fi g. 2a und 2b dargestellt ist Diese Figuren dienen zur Verdeutlichung des Prinzips des Fokusfehlerdetektionssystems,
und daher sind darin nur die Elemente dargestellt, die für diese Detektion wesentlich sind.
In F i g. 2a ist die Situation dargestellt, in der das Auslesebündel
genau auf die Datenfläche 2' fokussiert ist Das reflektierte Bündel würde beim Fehlen des Keiles
17 im Punkt c/fokussiert werden, wie mit den gestrichelten
Linien angegeben ist. Durch den Keil werden die Tcilbündel b\ und 6» erzeugt, die zu Strahlungsflecken
Vi und Vi in den Punkten e und /fokussiert werden. Der
Keil 17 ist nun in einer derartigen Entfernung von den
Detektoren A und B angeordnet, daß bei richtiger Fokussierung der Punkt e bzw. der Punkt /genau auf der
Trennlinie der Detektorteile A\, A2 bzw. Si, B2 liegt.
Dann empfangen die Detcktorteile /4iund Λι eine gleiche
Menge Strahlung, ebenso wie die Detektorteile B1
und Bi.
Wenn der Fokus Fdes Auslesebündels rechts von der Datenfläche 2' liegen würde, wie in Fig. 2b dargestellt
ist, würde der Fokus des Teilbündels b\ bzw. des Teilbündels
b> im Punkt e' bzw. im Punkt f liegen. Dann
empfängt der Detektorteii A\ bzw. Bj mehr Strahlung
als der Deiektorteil A2 bzw. B\. Wenn der Fokus des
Auslesebündels links von der Datenfläche 2' liegen würde, ergibt sich das Umgekehrte und empfängt der Detektorteil
A2 bzw. B\ mehr Strahlung als der Detektorteil
A\ bzw. B2.
Wenn die Signale der Detektorteile Au Aj, B\ und B2
durch Si, S2, S3 bzw. S3 dargestellt werden, wird das
Fokusfehlersignal S/. gegeben durch:
= (S1 + S4) - (S2 + S3).
Die Signale der Detektorteile werden, wie in Fig. 1 dargestellt ist, einer elektronischen Schaltung 20 zugeführt,
in der das Signal Sc erzeugt wird. Dieses Signal wird einem Steuerkreis 21 für einen Aktuator 22 (Nachsteuer-Vorrichtung)
zugeführt, mit dessen Hilfe das Objektivsystem derart verschoben werden kann, daß das
Signal SfNuII wird. Der Aktuator 22 kann z. B. ein elektromechanischer
Aktuator wie eine Lautsprecherspule sein, wie in F i g. 1 schematisch angedeutet ist.
In F i g. 3 ist eine Ausführungsform der Schaltung 20 veranschaulicht. Die Signale Si und S2 werden einem
Differenzverstärker 23 und die Signale S3 und S4 werden
einem Differenzverstärker 24 zugeführt. Die Ausgänge der Verstärker 23 und 24 sind mit den Eingängen eines
Differenzverstärkers 25 verbunden. Am Ausgang des letzteren Verstärkers wird das Signal
(Si-S2) - (S1-S4), somit das Signal Sf1 erhalten.
Mit Hilfe der Detektorteile Ai, A2, B\ und B2 kann
auch ein Lagenfehlersignal Sp abgeleitet werden, das
eine Anzeige über eine Abweichung der Mitte des Detektionssystems A, B in bezug auf die Achse des Bündels
gibt, wobei diese optische Achse in Fig.2a mit OO'
bezeichnet ist Eine derartige Abweichung kann z. B. infolge einer Kippbewegung der Laserquelle, einer
Kippbewegung eines Spiegels im optischen System usw. auftreten.
Wenn keine Mittel vorhanden sind, durch die Lagenfehler detektiert und dann korrigiert werden können,
müssen beim Zusammenbau der Auslesevorrichtung bezüglich der Lage der Detektoren A und B in bezug
auf die Achse des Auslesebündels sehr strenge Anforderungen gestellt werden. Wenn diese strengen Anforderungen
erfüllt wären, könnte doch noch im Laufe der Zeit eine Änderung der genannten Lage durch Nachwirkungen,
wie Schwindung oder Dehnung, der verwendeten Baumaterialien auftreten.
Bei einer relativen Verschiebung des Bündels des Detektionssystems
verschieben sich die Strahlungsflecke Viund V2 in bezug auf die Detektoren A und B in derselben
Richtung. Wenn in den Fig.2a und 2b sich das
Bündel nach oben verschieben würde, verschieben sich
die Strahlungsflecke Vi und V2 beide nach oben. Dann
würde, abgesehen von einem Fokusfehler, der Detektorieil/ti
bzw. ß, mehr Strahlung als der Detektorteil A2
bzw. B2 empfangen. Bei einer Verschiebung des Bündels
nach unten erfolgt das Umgekehrte. Das Lagenfehlersignal
wird gegeben durch:
S„ = (S, - S2) + (Si - S4).
Wie in F i g. 3 dargestellt ist, kann dieses Signal dadurch erhalten werden, daß die Ausgangssignale der
Differenzverstärker 23 und 24 im Summator 26 zueinander addiert werden. Mit dem Signal SP kann die Lage der
Trennlinie der Detektorteile A] und A2 bzw. die Lage
der Trennlinie der Detektorteile Si und B2 in bezug auf
die optische Achse nachgeregelt werden.
Es könnte in Erwägung gezogen werden, mit Hilfe des Signals Sp das Detektionssystem 18 auf mechanischem
Wege zu verschieben. Dies erfordert jedoch zusätzliche elektromechanische Mittel. Es ist viel attraktiver,
wie nach der Erfindung vorgeschlagen wird, die Trennlinie zwischen den Dctektorteilen auf elektronischem
Wege zu verschieben.
Die in den Fig.2a und 2b als einzelne Detektoren
dargestellten Detektorieile A\ und A2 bzw. B\ und B2
sind tatsächlich Teile eines und desselben rasterförmigcn Detektors. F i g. 4 zeigt diese rasterförmigcn Detektoren
A und B. Die einzelnen Detektoren z. B. Fotodioden, der Reihen A und B sind durch Blöcke mit einem
Kreuzchen darin dargestellt. Es wird angenommen, daß für die Reihe A der auffallende Strahlungsfleck Ki zu
der Linie ρ symmetrisch ist. Die Detektorenreihe A wird
elektronisch derart aufgeteilt, daß der Teil der Reihe links von der Linie ρ einen Detektorteii Λ, und der Teil
rechts von der Linie ρ einen Detektorteil /4->
bildet (vgl. F ig. 2a).
Die elektronische Aufteilung erfolgt vorzugsweise mittels einer elektronischen Wählschaltung. Eine derartige
Wählschaltung ist für andere Anwendungen in »Philips Research Reports« 30 (1975), S. 436-482 beschrieben
und wird hier nur erörtert, sofern dies für ein gutes Verständnis der Erfindung erforderlich ist. Die
Wählschaltung wird durch zwei Reihen R] und R2 von
Feldeffekttransistoren mit einer isolierten Steuer- (oder Gate-)Elektrode gebildet. Die Transistoren einer Reihe
weisen eine gemeinsame Gate-Elektrode auf. Die Gate-Elektrode besteht aus einem Widerstandsmaterial. FJne
derartige Reihe von Transistoren ist unter der Bezeichnung »RIGFET« (= Resistive Insulated Gate Field Effect
Transistor) bekannt.
Zwischen den Enden der Steuerelektroden wird eine bestimmte Spannung angelegt, so daß über diesen Elektroden
ein bestimmter Spannungsgradient entsteht. Die Größe der Spannung bestimmt, welche Transistoren einer
Reihe leitend und welche nichtleitend sind. Damit ist dann auch bestimmt, von welchen Detektoren der Reihe
die Ausgangssignale weitergeleitet oder nicht weitergeleitet werden, und somit auch, welche Detektoren zu
dem Teil Aj und welche Detektoren zu dem Teil A^
gehören. In Fig.4 sind die nichtleitenden Transistoren
durch einen leeren quadratischen Block und die ieitenden Transistoren durch einen Block mit darin einer runden
Figur dargestellt.
F i g. 6 zeigt im Detail die Wählschaltung für eine Detektorenreihe.
Die Transistoren einer Reihe sind mit 7", bis T]5 und die der anderen Reihe mit Ti6 bis T30 bezeichnet,
während die Fotodioden mit D1 bis D,5 bezeichnet
sind. E] und E2 bezeichnen die gemeinsamen Steuerelektroden
für die Reihen /?, und R2. Die Spannungsquelle
Ui liefert die Speisespannung für die Transistoren. Die
Widerstände Z, und Z2 sind Belastungswiderstände. Die
von den Fotodioden gelieferten und von den Transistoren durchgelassenen Ströme werden zueinander addiert
und ergeben die Detektorsignale Si und S2. Die zweite
Detektorenreihe B liefert auf analoge Weise die Signale S3 und St.
Falls die Detektoren einer Reihe aus gesperrten Fotodioden bestehen, können die Wählschaltungen mit
den Detektoren derart integriert sein, daß die Source-Gebiete der Transistoren mit den Streifen der Detektorenreihe
ein Ganzes bilden. Da die Ausgangsströme einer Transistorenreihe zueinander addiert werden, können
die Drain-Gebiete der Transistoren einer Reihe ein Ganzes bilden.
Die Spannungen U] und U2 über die gemeinsamen
Steuerelektroden derTransislorenreihen R] und R2 sind
derart gewählt, daß der nichtleitende Teil der Reihe /?,
dem leitenden Teil der Reihe R2 gleich ist. Die Spannungen
U] und U2 bestehen aus einer Basisspannung i/o mit
entgegengesetztem Vorzeichen für U] und U2, der eine
veränderliche Spannung Us überlagert ist, die durch das
Lagenfehlersignal Sp bestimmt wird, das aus der Schaltung
nach F i g. 3 erhalten ist. Die Spannung U1 weist für
U] ein anderes Vorzeichen als für U2 auf.
F i g. 5 zeigt den Verlauf der Spannungen U] und LZ2
über die zugehörige gemeinsame Gate-Elektrode der Reihen Λ, U\(p), U2(P) und R2. Mit U](Pj und U2(P) ist der
Verlauf der Spannungen für den Fall bezeichnet, daß die Trennlinie der Fotodiodenreihe die Lage ρ einnimmt.
Der Pegel d ist die Schwellwertspannung, bei der die Transistoren leitend werden.
Wenn nun infoige eines Lagenfehlers des Detektionssystems
sich die Strahlungsflecke V, und V2 in bezug auf
ihre Detektorenreihe A bzw. B beide nach links verschieben würden, würde das Signal Sp größer werden.
Dies bedeutet dann, daß U2 größer und U] kleiner wird,
wie in F i g. 5 mit den gestrichelten Linien angegeben ist. Durch den höheren Wert von U2 werden mehr Transistoren
der Reihe R2 leitend, während durch den kleineren
Wert von U\ mehr Transistoren der Reihe Rx gesperrt
werden. Die Trennlinie kommt dadurch bei q (vgl.
Fig.4) zu liegen. Auf analoge Weise verschiebt sich
auch die Trennlinie der Detektorteile der Reihe B. Die Trennlinien folgen also den Verschiebungen der Strahlungsflecke,
sofern diese Verschiebungen auf Lagenfehler des Detektionssystems in bezug auf die Achse des
Auslesebündels zurückzuführen sind. Die Strahlungsverteilung über die Detektorteile infolge eines Fokusfehlers
wird durch die Verschiebung der Trennlinien nicht beeinflußt, weil das Signal Sp von einem Fokusiehler
unabhängig ist.
I η F i g. 4 ist der Einfachheit halber angenommen, daß
die Länge der Detektoren einer Reihe gleich ihrer Breite ist. Tatsächlich sind die Detektoren strahlungsempfindliche
Streifen, deren Länge (also in F i g. 4 die Abmessung quer zu der Richtung einer Reihe und in
bo Fig.2a die Abmessung senkrecht zu der Zeichnungsebene) erheblich größer als deren Breite ist Die Empfindlichkeit
des Fokusfehlerdetektionssystems für Lagenfehler in der Längsrichtung der Streifen ist dann
erheblich kleiner als in Richtung der Reihen der Detektoren.
Viele der früher vorgeschlagenen Fokusfehlerdetektionssysteme, z. B. das in der US-PS 40 23 033 beschriebene
System, sind für Lagenfehler in einer ersten Rieh-
tung ebenso empfindlich wie für einen Lagenfehler in einer zweiten Richtung quer zu der ersten Richtung.
Die Signale Si, S2, S3 und S4 der Detektorteile A), A2,
B) und B2 können auch noch zu einem Signal:
S11 = (S1 + S2) - (S3 + S4)
verarbeitet werden. Dieses Signal das eine Anzeige über die Lage der Rippe des Keiles quer zu der Achse des
Bündels gibt, kann dazu benutzt werden, beim Zusammenbau der Vorrichtung den Keil gut einzustellen.
In einer Ausführungsform einer Vorrichtung nach der Erfindung, in der das Objektivsystem eine numerische
Apertur von 0,45 aufwies, bestanden die Detektoren A und B aus je fünfzehn strahlungsempfindlichen Streifen
mit einer Breite von 20 μπι und einer Länge von etwa
350 μπι. In dieser Vorrichtung können Abweichungen
der Mitte des Detektionssystems in bezug auf die Achse des Auslesebündels in der Größenordnung von 250 μηι
als zulässig betrachtet werden, während in früher vorgeschlagenen Fokusfehlerdetektionssystemen nur Abweichungen
in der Größenordnung von 25 μπι zulässig waren.
Mit dem in Fig.4 dargestellten Detektionssystem,
das pro Detektor fünfzehn strahlungsempfindliche Streifen enthält, kann die Trennlinie der Detektorteile
sehr genau eingestellt werden. In den Fällen, in denen eine derartige genaue Einstellung nicht erforderlich ist,
ist eine kleinere Anzahl strahlungsempfindlicher Streifen pro Detektor genügend. Die Detektoren weisen
dann eine gröbere Rasterstruktur auf/ Dabei können dann statt der Wählvorrichtungen nach F i g. 4 einfachere
Wählvorrichtungen, wie Schalter, verwendet werden.
In Fig.7 ist ein Detektionssystem mit einer kleinen
Anzahl, und zwar drei, strahlungsempfindlicher Streifen Du D2, D3 bzw. D'u D'2, D'i pro Detektor dargestellt.
Der Ausgang des inneren Detektors D2 bzw. D'2 ist mit
der Hauptklemme eines Schalters Stvi bzw. Sw2 verbunden.
In der dargestellten Lage des Schalters wird das Ausgangssignal des Detektors D2 bzw. D'2 zu dem Ausgangssignal
des Detektors Di bzw. D\ addiert. Die Detektoren
D) und Di bzw. die Detektoren D\ und D'i
bilden zusammen den Detektorteil A) bzw. den Detektorteil
ßi, während der Detektor Djbzw. Dj den Detektorteil
A2 bzw. den Detektorteil B2 bildet. Die Trennlinie
Pi bzw. P2 der Detektorieile liegt dann zwischen den
Detektoren D2 und Di bzw. D'2 und D'3. Die Ausgangssignale
der Detektorteile Au A%, B) und B2 werden wieder
der elektronischen Schaltung 20 zugeführt, in der ein Fokusfehlersignal Si- und ein Lagenfehlersignal Sp abgeleitet
werden. Mit dem Signal Sp kann die Lage der Schalter eingestellt werden. Wenn sich die Strahlungsflecke Vi und Vj in bezug auf die Detektoren nach links
verschieben, werden die Schalter Sw1 und Sw2 umgelegt,
so daß das Ausgangssignal des Detektors D2 bzw. des
Detektors D'2 zu dem Ausgangssignal des Detektors Dj
bzw. D 3 addiert wird.
In der Vorrichtung nach F i g. 1 wird ein gesonderter Detektor 12 zum Auslesen der Daten verwendet Die
Detektoren A und B des Fokusfehlerdetektionssystems können auch zum Auslesen der Daten verwendet werden.
Dann kann der Detektor 12, gleich wie der Spiegel 19, entfallen. Der Keil 17 kann dann auf der Höhe des
Spiegels 19 in dem Strahlungsweg angeordnet werden. Das Informationssignal, das nun gleich
Si + S2 + S3 + St ist, wird wieder dem Demodulator
13 zugeführt
Die Spaltung des von der Datenfläche reflektierten Bündels in zwei Teilbündel b\ und bi kann statt mit einem
optischen Keil auch mit anderen Elementen erfolgen. So kann ein völlig reflektierender Spiegel in einer
Bündelhälfte des reflektierten Bündels angeordnet werden, so daß eine Bündelhälfte (b\) in der Richtung durchgelassen
wird, der das ungeteilte Bündel folgen würde, während die andere Bündelhälfte (bj) in einer anderen
Richtung reflektiert wird. Im Wege des Teilbündels b\ bzw. bi isi dann wieder ein rasterförmiger Detektor A
bzw. Sin einer Lage angeordnet.die dem idealen Fokus
des ungeteilten Bündels entspricht.
Beim Auslesen eines Aufzeichnungsträgers mit einer optischen Datenstruktur muß dafür gesorgt werden,
daß der Auslesefleck V stets nach wie vor in der Mitte einer auszulesenden Spur positioniert ist. LIm Abweichungen
— in radialer Richtung — des Ausleseflecks in bezug auf eine Spur zu ermitteln, können, wie in der
Dl--PS 23 20 477 der Anmelderin beschrieben ist. neben
dem Auslesefleck zwei zusätzliche (Servo-)Strahlungsflecke auf die Datenfläche projiziert werden. Die Strahlungsfleckc
sind derart positioniert, daß, wenn die Mitte des Ausleseflecks mit der Mitte einer Spur zusammenfällt,
die Mitten der beiden Servoflecke auf den beiden Seilenkanten der Spur liegen. Jedem Servofleck ist ein
gesonderter Detektor zugeordnet. Dadurch, daß die Ausgangssignale der Servodetektoren miteinander verglichen
werden, können die Größe und die Richtung einer etwaigen Abweichung in der radialen Lage des
Auslcseflecks in bezug auf die Spur bestimmt werden. Die Servoflecke können dadurch gebildet werden, daß
im Strahlungsweg des Auslesebündels ein Raster angeordnei wird. Von diesem Raster wird das Bündel in ein
(Auslese-)Bündel nullter Ordnung und zwei (Servo-) Bündel erster Ordnungen gespaltet. Ein Detektionssysiem.
das neben den Detektoren für die Fokusfehlerdetcktion auch Detektoren für die radiale Lage des Strahlungsflecks
enthält, kann eine in Fig.8 dargestellte
Form aufweisen.
In dieser Figur ist die Richtung der Datenspuren mit
dem Pfeil 29 angegeben. A und B sind die rasterförmigen Fokusfehlerdetektoren, auf die die Strahlungsflecke
Vi und V2 projiziert werden. Mit jedem dieser Flecke
sind zwei Servoflecke V\, V'\ bzw. VS, V1 fest gekoppelt.
Die Servoflecke V'i und V" werden auf einen ungeteilten Detektor G und die Servoflecke Vj und V2
auf den ungeteilten Detektor C% projiziert. Aus den Signalen
der rasterförmigen Detektoren A und B können auf die oben beschriebene Weise ein Fokusfehlcrsignal.
ein Lagenfehlersignal und ein Datensignal abgeleitet werden. Dadurch, daß die Ausgangssignale der Detektoren
G und C2 voneinander subtrahiert werden, wird ein radiales Fehlersignal erhalten.
Es können noch zwei Detektoren Hi und H2 vorhanden
sein. Bei kleinen Fokuslehlern werden diese Detektoren
nicht beleuchtet Bei größeren Fokusfehlern, die nicht mehr von den Detektoren A und B delektiert werden
können, werden die Strahlungsflecke Vi und V2 aufgebläht
und Strahlung gelangt auch auf die Detektoren H) und H2. Dadurch, daß die Ausgangssignale dieser
Detektoren miteinander verglichen werden, wird ein grobes Fokusfehlersignal erhalten.
Das Detektionssystem nach F i g. 8 ist besonders gut dazu geeignet als ein einziger integrierter Detektor mit
voneinander getrennten Detektorteilen ausgeführt zu werden.
Die Erfindung kann selbstverständlich auch zum Auslesen eines bandförmigen statt eines scheibenförmigen
Aufzeichnungsträgers verwendet werden.
Das Fokusfehlerdetektionssystem nach der Erfindung
Das Fokusfehlerdetektionssystem nach der Erfindung
11
kann auch beim Einschreiben von Daten auf einen Aufzeichnungsträgerkörper
verwendet werden. Fig. 9 zeigt eine Ausführungsform einer derartigen Vorrichtung,
die. abgesehen von den Elementen zur Bestimmung von Fokusfehlern, bereits früher in der DE-PS
23 42 285 der Anmelderin vorgeschlagen wurde.
Die Vorrichtung enthält eine Strahlungsquelle 31, /. B. eine Laserquelle, die ein Strahlungsbündel 43 genügender
Energie liefert. Dieses Bündel wird über die Prismen 32, 33 und 38 auf den einzuschreibenden Aufzeichni/'igsträgcrkörper
30 gerichtet und dabei von einer Objektivlinse 39 zu einem kleinen Strahlungsfleck konzentriert.
Der Aufzeichnungsträgerkörper ist mit einer für die verwendete Strahlung empfindlichen Schicht 50,
7. B. einer Fotolackschicht, versehen. In dem Strahlungsweg
von der Quelle 31 zu dem Aufzeichnungsträgerkörper 30 befindet sich weiter ein clckirooptischcr Modulator
34. Dieser Modulator ist mit der elektronischen Steuervorrichtung 35 verbunden. Die Information, z. B.
ein Fernsehprogramm, das in Form eines elektrischen Signals den Klemmen 36 und 37 zugeführt wird, wird in
Strahlungsimpulse der Laserquelle umgewandelt. Zu bestimmten Zeitpunkten, die durch die Information an
den Klemmen 36 und 37 gegeben sind, werden Strahlungsflecke auf den Aufzeichnungsträgerkörper projiziert.
Der Aufzeichnungsträgerkörper weist einen runden Umfang auf und wird mit Hilfe eines Motors 41 in Drehung
versetzt, der mit Hilfe eine Schlittens 42 in radialer Richtung bewegbar ist, so daß z. B. eine spiralform!-
ge Spur auf den Aufzeichnungsträgerkörper geschrieben werden kann.
Die Objektivlinse 39 ist in axialer, somit in senkrechter.
Richtung bewegbar in bezug auf den Aufzeichnungsträgerkörper angeordnet und kann durch Erregung
einer Magnetspule 22 verschoben werden. Die Größe des elektrischen Stromes durch die Magnetspule
wird durch die Steuerschaltung 21 bestimmt. Der Eingang dieser Schaltung ist mit dem Ausgang der Schaltung
20 verbunden, in der die Ausgangssignale der strahlungsempfindlichen Detektoren A und B elektronisch
verarbeitet werden. Die Detektoren bilden wieder einen Teil eines Fokusfehlerdetektionssystems zur Bestimmung
der Lage der Aufzeichnungsträgeroberfläche; die Wirkung dieses Systems ist oben bereits beschrieben.
Der Aufzeichnungsträgerkörper 30 kann mit einer Strahlungsreflektierenden Fläche unter der Fotolackschicht
versehen sein. Es kann ein gesondertes Hilfsstrahlungsbündel auf den Aufzeichnungsträgerkörper
projiziert werden. Nach Reflexion an dem Aufzeichnungsträgerkörper passiert dieses Hilfsbündel einen
haibdurchiässigen Spiegel 40 und dann einen Keil 17. Der Keil 17 erzeugt zwei Bündel, die je auf einen der
Detektoren A und S einfallen.
Statt eine gesonderte Hilfsstrahlungsquelle anzuwenden, kann auch, wie in F i g. 9 dargestellt ist die von dem
Aufzeichnungsträgerkörper reflektierte Strahlung des Einschreibbündeis dazu benutzt werden, die Lage der
strahlungsempfindlichen Fläche des Aufzeichnungs- eo trägerkörpers in bezug auf die Fokussierungsfläche des
Objektivsystems zu bestimmen.
Die Erfindung kann auch in anderen Abbildungssystemen verwendet werden, in denen die Fokussierung genau
aufrechterhalten werden muß, wie in Mikroskopen.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Opto-elektronische Einrichtung zur Erzeugung
eines Fokussierungssignals für ein optisches Abbildungssystem entsprechend einer Abweichung zwischen
einer Strahlungsreflektierenden Räche und der Soll-Schärfeebene des optischen Abbildungssystems,
mit einem im Wege eines von der strahlungsreflektierenden
Fläche reflektierenden Strahlenbündels angeordneten Strahlteiler und einer hinter dem
Strahlteiler angeordneten Strahlungser.npfängeranordnung,
die zwei Detektoren enthält, die je einem der aus dem Strahlteiler austretenden Teilbündel zugeordnet
sind, wobei die Ausgänge der Detektoren mit den Eingängen einer elektronischen Schaltung
verbunden sind, in der das Fokussierungssignal aus den Detektorsignalen abgeleitet wird, dadurch
gekennzeichnet, daß die Detektoren (A, B) in einer zu der Soll-Schärfeebene optisch konjugierten
Ebene angeordnet sind, daß jeder Detektor aus einem Raster von mindestens drei Photosensorelementen
(Oi-Di5; Di, D2, D3, D1', D2', D3') besteht,
daß in der elektronischen Schaltung (20) aus den Signalen (Si, S2, S3, £») der Photosensorelemente ein
Lagefehlersignal (Sn) entsprechend einer Abweichung
in der Position der Strahlungsempfängeranordnung (18) in bezug auf die Achse (OO') des reflektierten
Strahlungsbündels abgeleitet wird, daß der erste (A) bzw. der zweite (B) Detektor mit einer
zweiten bzw. dritten, von dem Lagefehlersignal gesteuerten Schaltung (SW1, SW2; 7Ί - Tx) verbunden
ist, welche zweite bzw. dritte Schaltung die Ausgangssignale der Photosensorelemente des betreffenden
Detektors (A, B) zu zwei Summensignalen (S\, S2; Si, Sa) zusammenfügt und dadurch den betreffenden
Detektor elektronisch aufteilt in zwei Detektorteile (A\, A2; ßi, B2), wobei die Aufteilung durch
das Lagefehlersignal bestimm* wird.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite bzw. dritte Schaltung (SW\,
SW2) durch zwei Reihen (Ru R2) von Feldeffekttransistoren
(T\ — T\s; Γκ,— T30) mit isolierter und gemeinsamer
Gate-Elektrode (E1, E2) aus Widerstandsmaterial
gebildet wird, daß bei jeder Reihe das Source-Gebiet jedes Transistors mit einem Photosensorelement (Di-Di5) des betreffenden Detektors (A:
B) verbunden ist und die Drain-Gebiete sämtlicher Transistoren miteinander verbunden sind, und daß
die Spannungen über die beiden gemeinsamen Gate-Elektroden einen entgegengesetzten Verlauf aufweisen,
wobei die Gate-Elektroden mit demjenigen Ausgang der elektronischen Schaltung (20) verbunden
sind, an dem das Lagefehlersignal (Sp) auftritt.
3. Einrichtung zum Auslesen und/oder Einschreiben von Daten in einer Strahlungsreflektierenden
Datenfläche eines optischen Aufzeichnungsträgers, mit einer Strahlungsquelle und einem Objektivsy
stern zum Fokussieren eines von der Strahlungsquelle ausgesandten Strahlenbündels zu einem Strahlungsfleck
auf die Datenfläche, gekennzeichnet durch eine opto-elektronische Einrichtung (17, 18,
20) nach Anspruch 1 oder 2 zur Erzeugung eines Regelsignals (Si) zur laufenden Nachregelung der
Fokussierung des Objektivsystems (10) in bezug auf die Datenfläche(2).
Die Erfindung bezieht sich auf eine opto-elektronische Einrichtung zur Erzeugung eines Fokussierungssignals
für ein optisches Abbildungssystem entsprechend einer Abweichung zwischen einer strahlungsreflektierenden
Fläche und der Soll-Schärfeebene des optischen Abbildungssystems, mit einem im Wege eines von der
Strahlungsreflektierenden Fläche reflektierten Strahlenbündels angeordneten Strahlteiler und einer hinter dem
Strahlteiler angeordneten Strahlungsempfängeranordnung, die zwei Detektoren enthält, die je einem der aus
dem Strahlteiler austretenden Teilbündel zugeordnet sind, wobei die Ausgänge der Detektoren mit den Eingängen
einer elektronischen Schaltung verbunden sind, in der das Fokussierungssignal aus den Detektorsignalen
abgeleitet wird.
Ein derartiges Fokusfehlerdetektionssystem ist in der DE-AS 12 99 134 für Anwendung in einer Vorrichtung
zum Testen von Objektiven beschrieben.
Die Detektoren des strahlungsempfindlichen Detektionssystems sind in zwei Teildetektoren geteilt. Bei
Auftreten eines Fokusfehlers verschieben sich die auf den Detektoren erzeugten Strahlungsflecke in entgegengesetzten
Richtungen, so daß die zwei äußeren Teildetek'.oren eine andere Strahlungsintensität als die zwei
inneren Teildetektoren empfangen. Ein Fokusfehlersignal wird dadurch erhalten, daß das summierte Ausgangssignal
der äußeren Teildetektorcn mit dem summierten A'isgangssignal der inneren Teildetektoren verglichen
wird.
Für optische Systeme, die mit einer großen numerischen Apertur arbeiten und mit denen sehr kleine Datendetails
ausgebildet werden müssen, ist die Tiefenschärfe gering. Für Abbildungssysteme dieser Art, die
/.. B. in Mikroskopen oder in Vorrichtungen zum Auslesen einer optischen Datenstruktur mit sehr kleinen Details
oder in Vorrichtungen zum Einschreiben von Daten in einen Aufzeichnungsträger verwendet werden, ist
es wichtig, eine Abweichung zwischen der Ist- und der Sollfokussierungsebene ermitteln zu können, damit anhand
dieser Ermittlung die Fokussierung nachgeregclt werden kann.
Wie jetzt als allgemein bekannt vorausgesetzt werden darf, kann ein mit Hilfe optischer Strahlung auslesbarer
Aufzeichnungsträger als Medium zur Übertragung von Daten, wie z. B. eines Fernsehprogramms
oder eines Audioprogramms, verwendet werden. Die Datenstruktur ist dann aus spurförmlg angeordneten
Gebieten aufgebaut, die sich mit Zwischengebicten abwechseln, wobei die Gebiete das Auslesebündel auf andere
Weise als die Zwischengebiete beeinflussen. Die Daten sind z. B. in der Raumfrequenz der Gebiete und
gegebenenfalls in den Längen der Gebiete festgelegt.
Wenn ein derartiger Aufzeichnungsträger eine genügend lange Spieldauer aufweisen soll, müssen die Gebiete
und die Zwischengebiete sehr kleine Abmessungen, z. B. eine Breite von 0,5 μπι und eine mittlere Länge von
0,5 μηι, aufweisen. Bei einer Periode quer zu den Spuren
von 1,7 μιη kann dann ein Fernsehprogramm von etwa 30 Minuten in einem runden scheibenförmigen Aufzeichnungsträger
innerhalb eines ringförmigen Gebietes mit einem Innenradius von etwa 6,5 cm und einem
Außenradius von etwa 14 cm gespeichert werden. Um die kleinen Datendetails getrennt auslesen zu können,
muß die Datenstruktur mit einem kleinen Strahlungsfleck mit /. B. einem Durchmesser in der Größenordnung
von 1 μηι abgetastet werden. Falls das Auslesebündel
ein Laserbündel mit einer Gausschen Intensitätsverteilung ist, ist unter dem Durchmesser der Ab-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7803969A NL7803969A (nl) | 1978-04-14 | 1978-04-14 | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2914122A1 DE2914122A1 (de) | 1979-10-25 |
DE2914122C2 true DE2914122C2 (de) | 1984-06-14 |
Family
ID=19830653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2914122A Expired DE2914122C2 (de) | 1978-04-14 | 1979-04-07 | Opto-elektronische Einrichtung zur Erzeugung eines Fokussierungssignals |
Country Status (21)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4233502A (de) |
JP (1) | JPS54140533A (de) |
AR (1) | AR218529A1 (de) |
AT (1) | AT371268B (de) |
AU (1) | AU523829B2 (de) |
BE (1) | BE875546A (de) |
BR (1) | BR7902270A (de) |
CA (1) | CA1139878A (de) |
CH (1) | CH640362A5 (de) |
DD (1) | DD151097A5 (de) |
DE (1) | DE2914122C2 (de) |
DK (1) | DK148969C (de) |
ES (1) | ES479542A1 (de) |
FR (1) | FR2423025A1 (de) |
GB (1) | GB2020800B (de) |
IT (1) | IT1113877B (de) |
NL (1) | NL7803969A (de) |
NZ (1) | NZ190162A (de) |
PL (1) | PL133015B1 (de) |
SE (1) | SE435980B (de) |
ZA (1) | ZA791298B (de) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS567248A (en) * | 1979-07-02 | 1981-01-24 | Hitachi Ltd | Position detecting system |
JPS5744236A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information reproducer |
JPS57111837A (en) * | 1980-12-27 | 1982-07-12 | Olympus Optical Co Ltd | Signal detecting system of optical information reader |
JPS57195634U (de) * | 1981-06-05 | 1982-12-11 | ||
NL187374C (nl) * | 1981-07-10 | 1991-09-02 | Philips Nv | Inrichting voor het detecteren van straling. |
JPS5856236A (ja) * | 1981-09-28 | 1983-04-02 | Hitachi Ltd | 光学的トラック位置検出装置およびそれを用いた光学的記録再生装置 |
JPS5870434A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-26 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
NL8202058A (nl) * | 1982-05-19 | 1983-12-16 | Philips Nv | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
JPS5971141A (ja) * | 1982-10-14 | 1984-04-21 | Mitsubishi Electric Corp | 光学的信号読出し装置 |
JPS59121932A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-14 | Fujitsu Ltd | 自動焦点制御装置 |
JPS60170038A (ja) * | 1984-02-14 | 1985-09-03 | Sanyo Electric Co Ltd | トラッキングサ−ボ装置 |
JPS60211644A (ja) * | 1984-04-04 | 1985-10-24 | Nec Corp | 光学式位置検出方法及びその装置 |
DE3536700C3 (de) * | 1985-10-15 | 1994-07-07 | Focus Mestechnik Gmbh & Co Kg | Gerät zum Ermitteln des lokalen Abstandes einer Prüffläche von einer Referenzfläche, deren geometrische Lage in bezug auf das Gerät bekannt ist |
DE3774765D1 (de) * | 1986-06-04 | 1992-01-09 | Philips Nv | Optische messanordnung des abstands zwischen einer oberflaeche und einer bezugsebene. |
JPH0231337A (ja) * | 1988-07-21 | 1990-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | 焦点誤差検出装置 |
JPH056881U (ja) * | 1991-07-09 | 1993-01-29 | 株式会社ゼクセル | 配線板の固定構造 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1299134B (de) * | 1961-12-20 | 1969-07-10 | Agfa Gevaert Ag | Vorrichtung zur Scharfeinstellung und Qualitaetspruefung von Objektiven |
DE2108837C3 (de) * | 1971-02-25 | 1973-11-15 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Anordnung zur Abtastung von Signalen längs mindestens einer Spur |
US4005260A (en) * | 1972-11-11 | 1977-01-25 | U.S. Philips Corporation | Device for reading a disk-shaped record carrier with time base correction |
NL7309839A (en) * | 1973-07-16 | 1975-01-20 | Philips Nv | Detector for discrepancy in focal plane - beam splitting prism feeds separate detectors |
DE2500714C3 (de) * | 1975-01-09 | 1979-07-05 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Einrichtung zur Kontrastmessung eines Bildes |
NL177157C (nl) * | 1975-02-28 | 1985-08-01 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen van een vlakke registratiedrager met een optisch uitleesbare informatiestruktuur. |
US4097730A (en) * | 1975-07-02 | 1978-06-27 | Zenith Radio Corporation | Focus correction system for video disc player |
US4047022A (en) * | 1976-01-13 | 1977-09-06 | Ernst Leitz Gmbh | Auto focus with spatial filtering and pairwise interrogation of photoelectric diodes |
-
1978
- 1978-04-14 NL NL7803969A patent/NL7803969A/xx not_active Application Discontinuation
- 1978-07-17 US US05/925,432 patent/US4233502A/en not_active Expired - Lifetime
-
1979
- 1979-03-19 ZA ZA791298A patent/ZA791298B/xx unknown
- 1979-03-29 AR AR275992A patent/AR218529A1/es active
- 1979-04-05 CA CA000324970A patent/CA1139878A/en not_active Expired
- 1979-04-07 DE DE2914122A patent/DE2914122C2/de not_active Expired
- 1979-04-10 AU AU45987/79A patent/AU523829B2/en not_active Ceased
- 1979-04-11 JP JP4410379A patent/JPS54140533A/ja active Granted
- 1979-04-11 PL PL1979214822A patent/PL133015B1/pl unknown
- 1979-04-11 IT IT21789/79A patent/IT1113877B/it active
- 1979-04-11 CH CH344779A patent/CH640362A5/de not_active IP Right Cessation
- 1979-04-11 DK DK151379A patent/DK148969C/da not_active IP Right Cessation
- 1979-04-11 GB GB7912766A patent/GB2020800B/en not_active Expired
- 1979-04-11 ES ES479542A patent/ES479542A1/es not_active Expired
- 1979-04-11 NZ NZ190162A patent/NZ190162A/xx unknown
- 1979-04-11 SE SE7903206A patent/SE435980B/sv not_active IP Right Cessation
- 1979-04-11 BR BR7902270A patent/BR7902270A/pt unknown
- 1979-04-12 BE BE0/194580A patent/BE875546A/xx not_active IP Right Cessation
- 1979-04-13 FR FR7909496A patent/FR2423025A1/fr active Granted
- 1979-04-16 DD DD79212237A patent/DD151097A5/de unknown
- 1979-04-17 AT AT0287579A patent/AT371268B/de not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2020800A (en) | 1979-11-21 |
CA1139878A (en) | 1983-01-18 |
AU4598779A (en) | 1979-10-18 |
SE435980B (sv) | 1984-10-29 |
DK148969B (da) | 1985-12-02 |
DK151379A (da) | 1979-10-15 |
AR218529A1 (es) | 1980-06-13 |
JPS54140533A (en) | 1979-10-31 |
AU523829B2 (en) | 1982-08-19 |
FR2423025B1 (de) | 1984-06-29 |
ATA287579A (de) | 1982-10-15 |
CH640362A5 (de) | 1983-12-30 |
DK148969C (da) | 1986-09-22 |
JPS6349291B2 (de) | 1988-10-04 |
US4233502A (en) | 1980-11-11 |
PL214822A1 (de) | 1980-05-05 |
DD151097A5 (de) | 1981-09-30 |
NL7803969A (nl) | 1979-10-16 |
IT7921789A0 (it) | 1979-04-11 |
DE2914122A1 (de) | 1979-10-25 |
FR2423025A1 (fr) | 1979-11-09 |
IT1113877B (it) | 1986-01-27 |
BE875546A (fr) | 1979-10-12 |
ES479542A1 (es) | 1979-11-16 |
BR7902270A (pt) | 1979-12-11 |
ZA791298B (en) | 1980-10-29 |
GB2020800B (en) | 1982-09-08 |
SE7903206L (sv) | 1979-10-15 |
NZ190162A (en) | 1982-05-25 |
AT371268B (de) | 1983-06-10 |
PL133015B1 (en) | 1985-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2914122C2 (de) | Opto-elektronische Einrichtung zur Erzeugung eines Fokussierungssignals | |
DE69125264T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Beschreiben, Auslesen und Löschen eines Mehrflächen-Aufzeichnungsträgers auf optischem Wege, und für dieses Verfahren und diese Vorrichtung geeigneter Aufzeichnungsträger | |
DE3035719C2 (de) | ||
DE2912216C2 (de) | Verfahren zum optischen Auslesen eines Aufzeichnungsträgers, Aufzeichnungsträger mit einer optisch auslesbaren Phasenstruktur und Vorrichtung zum Auslesen desselben, gemäß dem angegebenen Verfahren | |
DE19513273B4 (de) | Opto-magnetische Kopfanordnung | |
DE3032769C2 (de) | ||
DE2643990C2 (de) | Vorrichtung zum optischen Lesen einer Aufzeichnung | |
DE2445333A1 (de) | Optoelektronisches system zur bestimmung einer abweichung zwischen der istlage und der sollage einer ebene in einem optischen abbildungssystem | |
CH620541A5 (de) | ||
CH662666A5 (de) | Aufzeichnungstraegerkoerper fuer optische daten und vorrichtung zum einschreiben von daten in den aufzeichnungstraegerkoerper. | |
DE2522405A1 (de) | Optisches mehrkanal-plattenspeichersystem zum speichern von digitaler information | |
CH664452A5 (de) | Vorrichtung zum einschreiben von daten auf einen aufzeichnungstraegerkoerper und zum auslesen eines mit daten versehenen aufzeichnungstraegers. | |
DE3341589A1 (de) | Abtaster fuer eine optische platte | |
CH623147A5 (de) | ||
DE69216444T2 (de) | Informationsauslesesystem sowie Aufzeichnungsträger und Ausleseanordnung für Anwendung in einem derartigen System | |
DE3445751A1 (de) | Einrichtung zum halten mehrerer lichtstrahlen in vorbestimmten relativen lagen | |
DE2550493B2 (de) | Vorrichtung zum auslesen eines aufzeichnungstraegers mit einer optischen informationsstruktur | |
DE69221931T2 (de) | Optische Abtastvorrichtung | |
DE4017795A1 (de) | Fokussierfehler-erfassungssystem fuer einen optischen kopf | |
DE68914804T2 (de) | Optische Abtastvorrichtung, geeignetes Spiegelobjektiv für diese Vorrichtung und optische Schreib- und/oder Leseanordnung mit der Abtastvorrichtung. | |
DE3888915T2 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Informationsaufzeichnung und -wiedergabe. | |
DE2820482C2 (de) | Vorrichtung zum Scharfeinstellen eines optischen Auslesesystems | |
DE3750528T2 (de) | Lageempfindlicher, elektronisch einstellbarer Strahlungsdetektor, Detektionssystem von Fokusfehlern mit diesem Detektor und optische Lese- und/oder Schreibanordnung mit diesem System. | |
DE3610589A1 (de) | Aufzeichnungstraeger zur optischen informationsaufzeichnung und verfahren zur aufzeichnung und wiedergabe mit demselben | |
DE2636464C2 (de) | Aufzeichnungsträger mit einer optisch auslesbaren entlang Spuren angeordneten Informationsstruktur und Vorrichtung zum Auslesen desselben |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: KUPFERMANN, F., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 2000 HAMBUR |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: PHILIPS ELECTRONICS N.V., EINDHOVEN, NL |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |