JPS60211644A - 光学式位置検出方法及びその装置 - Google Patents
光学式位置検出方法及びその装置Info
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- JPS60211644A JPS60211644A JP6712784A JP6712784A JPS60211644A JP S60211644 A JPS60211644 A JP S60211644A JP 6712784 A JP6712784 A JP 6712784A JP 6712784 A JP6712784 A JP 6712784A JP S60211644 A JPS60211644 A JP S60211644A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- divided
- areas
- detecting
- light
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光ディスクないし光磁気ディスクのフォーカ
スサーボ、トラッキングサーボ等のサーボ信号として用
いる光学式位置検出において、光強度分布として位置検
出情報を有する位置情報光束を、微細分割平面領域で検
出合成することにより位置検出を行なう光学式位置検出
方法及び装置に関するものである。
スサーボ、トラッキングサーボ等のサーボ信号として用
いる光学式位置検出において、光強度分布として位置検
出情報を有する位置情報光束を、微細分割平面領域で検
出合成することにより位置検出を行なう光学式位置検出
方法及び装置に関するものである。
（従来技術）
従来では、光ディスクないし光（１ｈ気デイスクのフォ
ーカスサーボ、トラッキングサーボ等のサーボ信号とし
て用いる光学式位置検出は、数個に分割した分割フォト
ダイオードが使用されている。
ーカスサーボ、トラッキングサーボ等のサーボ信号とし
て用いる光学式位置検出は、数個に分割した分割フォト
ダイオードが使用されている。
フォーカスサーボ用位置検出方法は、たとえば岩村総−
編著［ビデオディスクとＤＡＤ入門」コロナ社発行１３
６ページから１３８ページに示されておシ、第１ ｐｊ
ｆａｌ〜ｌｆｌに示すようにディスクからの反射ｙ［Ｚ
が集光レンズ２、ハーフミラ−１、円柱レンズ４からな
る光学系により検出器へ導ひかれ、検出平面内では４個
の平面領域に分割及び光電変換を行なう４分割フォトダ
イオードが用いられている。この位置検出方法を以下に
示す。１ｇ１図（ｃｌ、ｆｄｌに示すように、レーザ光
束がディスク３のデータ面に正確に収束している場合に
は、反射光束の形状は円柱レンズ４の影響を受けず、４
分割フォトダイオード５の面上では円形となり、差動増
幅器６の出力のフォーカスエラー電圧は零となる。
編著［ビデオディスクとＤＡＤ入門」コロナ社発行１３
６ページから１３８ページに示されておシ、第１ ｐｊ
ｆａｌ〜ｌｆｌに示すようにディスクからの反射ｙ［Ｚ
が集光レンズ２、ハーフミラ−１、円柱レンズ４からな
る光学系により検出器へ導ひかれ、検出平面内では４個
の平面領域に分割及び光電変換を行なう４分割フォトダ
イオードが用いられている。この位置検出方法を以下に
示す。１ｇ１図（ｃｌ、ｆｄｌに示すように、レーザ光
束がディスク３のデータ面に正確に収束している場合に
は、反射光束の形状は円柱レンズ４の影響を受けず、４
分割フォトダイオード５の面上では円形となり、差動増
幅器６の出力のフォーカスエラー電圧は零となる。
集光レンズ２からディスク３が遠過ぎたり近１尚ぎたす
すれば、第１図１ａｌ 、 Ｉｂｌまたは（ｅｌ 、
（ｆｌに示すように、円柱し／ズ４によって、反射光束
の形状は長円形となシ、フォーカスエラー電圧を発生す
る。
すれば、第１図１ａｌ 、 Ｉｂｌまたは（ｅｌ 、
（ｆｌに示すように、円柱し／ズ４によって、反射光束
の形状は長円形となシ、フォーカスエラー電圧を発生す
る。
以上示したフォーカスサーボ用の光学式位置検出方法以
外に、腫々の原理に基づいた光学式位置検出方法があり
、更にトラッキングサーボ用の光学式位置検出方法にも
種々の方法がある０しかしながら、光強度分布として位
置検出情報を有する位置情報）′１．束を、数個に分割
した平面領域で検出した和及び差をとることにより、位
置検出を行なっていることは本質的に変わらない。
外に、腫々の原理に基づいた光学式位置検出方法があり
、更にトラッキングサーボ用の光学式位置検出方法にも
種々の方法がある０しかしながら、光強度分布として位
置検出情報を有する位置情報）′１．束を、数個に分割
した平面領域で検出した和及び差をとることにより、位
置検出を行なっていることは本質的に変わらない。
（従来技術の問題）
し２かしなから従来では、位置情報光束を数個に分割し
た相分割平面領域の光強度の和及び差を用いて位置検出
を行なっているため、位置情報光束と粗分割平面領域検
出器との、光軸文び検出器平面内回転方向の検出器位置
合わせを高精度で行なう必要があるという欠点を有して
いる。
た相分割平面領域の光強度の和及び差を用いて位置検出
を行なっているため、位置情報光束と粗分割平面領域検
出器との、光軸文び検出器平面内回転方向の検出器位置
合わせを高精度で行なう必要があるという欠点を有して
いる。
（発明の目的）
本発明は、このような従来の欠点を除去し、前記位置情
報光束を少なくとも９個以上の平面領域のメツシュ状分
割とした微細分割平面領域で検出し、前記粗分割領域に
合成するだめ・位置情報光束と微細分割平面領域検出器
との光軸及び検出器平面内回転方向の検出器位置合わせ
を高精度で行なう必要がない光学式位置検出方法及び装
置を提供することにある。
報光束を少なくとも９個以上の平面領域のメツシュ状分
割とした微細分割平面領域で検出し、前記粗分割領域に
合成するだめ・位置情報光束と微細分割平面領域検出器
との光軸及び検出器平面内回転方向の検出器位置合わせ
を高精度で行なう必要がない光学式位置検出方法及び装
置を提供することにある。
（発明の構成）
本発明によれば記録再生用光束による光ディスクないし
光磁気ディスクからの、光学系により導びかれた反射光
を、数個に分割した粗分割平面領域の光強度の和及び差
を用いて、前記光ディスクないし前記光磁気ディスクと
記録再生用集光レンズとの相対位置検出を行々う光学式
位置検出方法において、前記分割を少なくとも９個以上
の平面領域のメツシー状分割とした微細分割平面領域の
光強度を必要な前記粗分割領域に合成し、合成した粗分
割領域の光強度の和及び差を用いて、前記相対位置検出
を行なうことを特徴とする光学式位置検出方法が得られ
、また記録再生用光束ｊ５てよる光ディスクないし光磁
気ディスクからの反射光を導び〈光学系と、前記光学系
によシ導びかれた前記反射光を、数個に分割した粗分割
平面領域で独立して検出する第１の検出手段と前記第１
の検出手段の出力の和及び差をとる第１の合成手段とを
有する、前記光ディスクないし前記光磁気ディスクと記
録内生用集光レンズとの相対位置検出を行なう光学式位
置検出装置において、前記分割を少なくとも９個以上の
平面領域のメツシュ状分割とした微細分割平面領域で独
立して前記反射光を検出する第２の検出手段と、前記第
２の検出手段の出力を前記粗分割領域に合成する第２の
合成手段と、前記第２の合成手段の出力の和及び差をと
る第３の合成手段とを有することを特徴とする光学式位
置検出装置が得られる。
光磁気ディスクからの、光学系により導びかれた反射光
を、数個に分割した粗分割平面領域の光強度の和及び差
を用いて、前記光ディスクないし前記光磁気ディスクと
記録再生用集光レンズとの相対位置検出を行々う光学式
位置検出方法において、前記分割を少なくとも９個以上
の平面領域のメツシー状分割とした微細分割平面領域の
光強度を必要な前記粗分割領域に合成し、合成した粗分
割領域の光強度の和及び差を用いて、前記相対位置検出
を行なうことを特徴とする光学式位置検出方法が得られ
、また記録再生用光束ｊ５てよる光ディスクないし光磁
気ディスクからの反射光を導び〈光学系と、前記光学系
によシ導びかれた前記反射光を、数個に分割した粗分割
平面領域で独立して検出する第１の検出手段と前記第１
の検出手段の出力の和及び差をとる第１の合成手段とを
有する、前記光ディスクないし前記光磁気ディスクと記
録内生用集光レンズとの相対位置検出を行なう光学式位
置検出装置において、前記分割を少なくとも９個以上の
平面領域のメツシュ状分割とした微細分割平面領域で独
立して前記反射光を検出する第２の検出手段と、前記第
２の検出手段の出力を前記粗分割領域に合成する第２の
合成手段と、前記第２の合成手段の出力の和及び差をと
る第３の合成手段とを有することを特徴とする光学式位
置検出装置が得られる。
（構成の詳細な説明）
本発明は上述の構成をとることにより従来技術の問題点
を解決した。
を解決した。
以下図面を参四して本発明の詳細な説明する０第２図は
本発明の光学式位置検出方法を実施する装置の微細分割
検出の一例と、従来の４分割検出とを対比して示す線図
である０正方形で囲まれた領域Ａは微細分割した領域の
集合領域を示し、各微細分割領域は領域への正方形をＮ
行Ｎ列の行列で分割した領域とする０また微細分割領域
の集合領域である領域Ａは、従来の４分割検出器の検出
領域Ｂを少なくとも含むものとする０領域Ｂ内の十字線
は４分割検出器の分割境界を示す。上述した分割検出器
を位置情報光束の出射する光ヘッドにセットするとき、
光束と検出器との相対位置がずれている場合、従来の４
分割検出器では検出器の位；■を調整しなければならな
い０例えば４分割検出器の位置ずれが第３図の破線に示
す位置から、実線で示す位置にずれている場合には、破
線の位置と重力るように検出器位置補正が必要である０
しかしながら、微細分割検出では、第３図に示す４分割
検出領域の位置ずれが微細分割領域の集合領域内であれ
ば、微細分割領域の位置を補正せずに、破線で示される
４分割領域の４個の粗分割領域に相当する、微細分割領
域の４個の集合領域の光強度検出を行なうことにより、
光ディスクないし光磁気ディスクと記録再生用集光レン
ズとの相対距離を検出することができる０微細分割の一
例として、微ｉｔｎ分割領域の個数を９個とし、第２図
で示した行列を３行３列とする場合、前述した４分割検
出領域の位置ずれ補正を９個の微細分割領域の中から最
適な４個の微細分割領域の集合領域を選択すれば良い。
本発明の光学式位置検出方法を実施する装置の微細分割
検出の一例と、従来の４分割検出とを対比して示す線図
である０正方形で囲まれた領域Ａは微細分割した領域の
集合領域を示し、各微細分割領域は領域への正方形をＮ
行Ｎ列の行列で分割した領域とする０また微細分割領域
の集合領域である領域Ａは、従来の４分割検出器の検出
領域Ｂを少なくとも含むものとする０領域Ｂ内の十字線
は４分割検出器の分割境界を示す。上述した分割検出器
を位置情報光束の出射する光ヘッドにセットするとき、
光束と検出器との相対位置がずれている場合、従来の４
分割検出器では検出器の位；■を調整しなければならな
い０例えば４分割検出器の位置ずれが第３図の破線に示
す位置から、実線で示す位置にずれている場合には、破
線の位置と重力るように検出器位置補正が必要である０
しかしながら、微細分割検出では、第３図に示す４分割
検出領域の位置ずれが微細分割領域の集合領域内であれ
ば、微細分割領域の位置を補正せずに、破線で示される
４分割領域の４個の粗分割領域に相当する、微細分割領
域の４個の集合領域の光強度検出を行なうことにより、
光ディスクないし光磁気ディスクと記録再生用集光レン
ズとの相対距離を検出することができる０微細分割の一
例として、微ｉｔｎ分割領域の個数を９個とし、第２図
で示した行列を３行３列とする場合、前述した４分割検
出領域の位置ずれ補正を９個の微細分割領域の中から最
適な４個の微細分割領域の集合領域を選択すれば良い。
壕だ微細分割方法は４分割検出器での検出器位置″補正
に必要な位置精度に相当する微細分割検出の平面上周期
及び領域となるような微細分割領域個数を決定すれば、
最適な微細分割領域が得られる。
に必要な位置精度に相当する微細分割検出の平面上周期
及び領域となるような微細分割領域個数を決定すれば、
最適な微細分割領域が得られる。
また、微細分割領域検出器及び微細分割領域で検出した
出力を粗分割領域に合成する例を第４図ｒＲｔ〜（ｄｌ
に示す。第４図（ａｌ〜（ｄｌの３１は位置情報光束源
であシ、光ディスクないし光磁気ディスクの光ヘッドの
フォーカスサーボエラーないしトラッキングサーボエラ
ー検出用の光束を出射する光学系に相当する。１２は位
置情報光束源から構成される装置情報光束である０第４
図（ａｌＯ線図に示される例は、微細分割パラレル出カ
フオド〃゛イオード１３に位置情報光束１２を入射し、
この出力を微細分割パラレル出力信号線１４を径で、微
細分割−粗分割変換回路１５により微細分割領域の光強
度の電気信号を粗分割領域に相当する電気信号に変換し
、位置出信号合成回路］７により位置検出信号１８を得
る。第４図ｆｂｌの線図に示される例は、第４図（ａｌ
の１３〜１５を単一化した微細分割検出・粗分割出カフ
オドダイオード１９を用いた例である０このフォトダイ
オードは、光ヘッドにセットした後、位置情報光束１２
の光強度分布により、微細分割−粗分割変換回路１５に
相当する回路をヒユーズＲＯＭと同様の原理で作成すれ
ば良い０ □またＣＣＤ等の光電変換素子を使用しても
良い。第４図（ｃｌの線図に示される例は、光フアイバ
ー束２０に位置情報光束１２を入射し、光フアイバー束
２０の出射光を粗分割検出フォートダイオード２１に入
射するものである○このとき光フアイバー束２０゛の出
射部分での密度を粗くすることにより、粗分割検出フォ
トダイオード２１の検出器位置補正を高精度に行なう必
要が無くなる。第４図４ｄｌの線図に示される例は、光
の状態のま寸で微細分割領域から粗分割領域に合成する
もので、微細分割−粗分割変換光回路２２及び独立した
粗分割光出力を光電変換するフ」トダイオード群２３に
より構成される。
出力を粗分割領域に合成する例を第４図ｒＲｔ〜（ｄｌ
に示す。第４図（ａｌ〜（ｄｌの３１は位置情報光束源
であシ、光ディスクないし光磁気ディスクの光ヘッドの
フォーカスサーボエラーないしトラッキングサーボエラ
ー検出用の光束を出射する光学系に相当する。１２は位
置情報光束源から構成される装置情報光束である０第４
図（ａｌＯ線図に示される例は、微細分割パラレル出カ
フオド〃゛イオード１３に位置情報光束１２を入射し、
この出力を微細分割パラレル出力信号線１４を径で、微
細分割−粗分割変換回路１５により微細分割領域の光強
度の電気信号を粗分割領域に相当する電気信号に変換し
、位置出信号合成回路］７により位置検出信号１８を得
る。第４図ｆｂｌの線図に示される例は、第４図（ａｌ
の１３〜１５を単一化した微細分割検出・粗分割出カフ
オドダイオード１９を用いた例である０このフォトダイ
オードは、光ヘッドにセットした後、位置情報光束１２
の光強度分布により、微細分割−粗分割変換回路１５に
相当する回路をヒユーズＲＯＭと同様の原理で作成すれ
ば良い０ □またＣＣＤ等の光電変換素子を使用しても
良い。第４図（ｃｌの線図に示される例は、光フアイバ
ー束２０に位置情報光束１２を入射し、光フアイバー束
２０の出射光を粗分割検出フォートダイオード２１に入
射するものである○このとき光フアイバー束２０゛の出
射部分での密度を粗くすることにより、粗分割検出フォ
トダイオード２１の検出器位置補正を高精度に行なう必
要が無くなる。第４図４ｄｌの線図に示される例は、光
の状態のま寸で微細分割領域から粗分割領域に合成する
もので、微細分割−粗分割変換光回路２２及び独立した
粗分割光出力を光電変換するフ」トダイオード群２３に
より構成される。
なお、本発明は上述した例のみに限定されるものではな
く、幾多の変更オたは変形が可能であり例えば、第４図
（ｂｌの線図に示される例において、位置情報）を束１
２の光強度分布により、微細分割−粗分割変換回路１５
に相当するヒユーズＲＣＭ、！：同様の原理で作成する
プログラムＲＯＭ、 ワークエリアＲＡＭ 、マイクロ
プロセッサ及びヒユーズ切断回路をメツシュ状分割フォ
トダイオードと共に同一チップあるいは同一デバイス上
に搭載してもかまわない。
く、幾多の変更オたは変形が可能であり例えば、第４図
（ｂｌの線図に示される例において、位置情報）を束１
２の光強度分布により、微細分割−粗分割変換回路１５
に相当するヒユーズＲＣＭ、！：同様の原理で作成する
プログラムＲＯＭ、 ワークエリアＲＡＭ 、マイクロ
プロセッサ及びヒユーズ切断回路をメツシュ状分割フォ
トダイオードと共に同一チップあるいは同一デバイス上
に搭載してもかまわない。
（発明の効果）
以上詳細に説明したように、本発明は光ディスクないし
光磁気ディスクのフォーカスサーボ、トラッキングサー
ボ等のサーボ信号として用いる光学式位置検出において
、光強度分布として位置検出情報を有する位置情報光束
を、微細分割平面領域で検出合成するととにより、検出
器位置合わせ精度の許容範（■を、位置情報光束が検出
器内に入射される範囲寸で大幅に拡大することを可能に
するものである。
光磁気ディスクのフォーカスサーボ、トラッキングサー
ボ等のサーボ信号として用いる光学式位置検出において
、光強度分布として位置検出情報を有する位置情報光束
を、微細分割平面領域で検出合成するととにより、検出
器位置合わせ精度の許容範（■を、位置情報光束が検出
器内に入射される範囲寸で大幅に拡大することを可能に
するものである。
ＩＸ １ ｐＨａｌ〜（ｒＩＩｄフォーカスサーボエラ
ー信号検出方法を示す概略図、第２図は微細分割検出と
粗１・・・・ハーフミラ−１２・・・・・・隼光レンズ
、３・・・・・・ディスク、４・・・・・・円柱レンズ
、５・・・・・・４分割フォトダイオード、６・・・・
・・差動増幅器、ＩＪ・・・・・位置情報光束源、Ｊ２
・・・・・・位置情報光束、１３・・・・・・微細分割
パラレル出カフオドダイオード、］４・・・・・・微細
分割パラレル出力信号線、１５・・・・・・微細分割−
ネ１１分割変換回路、１６・・・・・粗分割出力信号線
、１７・・・・・位置検出信号合成回路、１８・・・・
・・位置検出信号、１９・・・・・微細分割検出・粗分
割出カフオドダイオード、２０・・・・・・光フアイバ
ー束、２１・・・・・・粗分割検出フォトダイオード、
２２・・・・・・微細分割−粗分割変換光回路、２３・
・・・・フォトダイオード群。 代理人ブ「辺！上 内服 晋 ギ （（１） ／８ （Ｃ） ４ 口 （ｂン ８ ＜ａ）
ー信号検出方法を示す概略図、第２図は微細分割検出と
粗１・・・・ハーフミラ−１２・・・・・・隼光レンズ
、３・・・・・・ディスク、４・・・・・・円柱レンズ
、５・・・・・・４分割フォトダイオード、６・・・・
・・差動増幅器、ＩＪ・・・・・位置情報光束源、Ｊ２
・・・・・・位置情報光束、１３・・・・・・微細分割
パラレル出カフオドダイオード、］４・・・・・・微細
分割パラレル出力信号線、１５・・・・・・微細分割−
ネ１１分割変換回路、１６・・・・・粗分割出力信号線
、１７・・・・・位置検出信号合成回路、１８・・・・
・・位置検出信号、１９・・・・・微細分割検出・粗分
割出カフオドダイオード、２０・・・・・・光フアイバ
ー束、２１・・・・・・粗分割検出フォトダイオード、
２２・・・・・・微細分割−粗分割変換光回路、２３・
・・・・フォトダイオード群。 代理人ブ「辺！上 内服 晋 ギ （（１） ／８ （Ｃ） ４ 口 （ｂン ８ ＜ａ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （ｉｌ 記録再生用光束による光ディスクないし光磁気
ディスクからの、光学系によシ導びかれた反射光を、数
個に分割した粗分割平面領域の光強度の和及び差を用い
て、前記光ディスクないし前記光磁気ディスクと記録再
生用集光レンズとの相対位置検出を行なう光学式位置検
出方法において、前記分割を少なくとも９個以上の平面
領域のメンシー状分割とした微細分割平面領域の光強度
を必要な前記相分割領域に合成し、合成した粗分割領域
の光強度の和及び差を用いて、前記相対位置検出を行な
うことを特徴とする光学式位置検出方法〇（２１記録再
生用光束による光ディスクないし光磁気ディスクからの
反射光を導ひく光学系と、前記光学系により導びかれた
前記反射光を、数個に分割した粗分割平面領域で独立し
て検出するｍｊの検出手段と前記第１の検出手段の出力
の和及び差をとる第１の合成手段とを有する、前記光デ
ィスクないし前記光磁気ディスクと記録再生用集光レン
ズとの相対位置検出を行なう光学式位置検出装置におい
て、前記分割を少なくとも９個以上の平面領域のメツシ
ー状分割とした微細分割平面領域で独立して前記反射光
を検出する第２の検出手段と、前記第２の検出手段の出
力を前記相分割領域に合成する第２の合成手段と、前記
第２の合成手段の出力の和及び差をとる第３の合成手段
とを有することを特徴とする、光学式位置検出装置。 （３）第２の検出手段として、前記メツシー状分割した
充電変換手段を用い、第２の合成手段及び第３の合成手
段として、電気的に合成する手段を用いる特許請求の範
囲第２項記載の光学式位１侑検出装置。 （４）第２の検出手段として、前記メツシー状分割した
光導波路による光の状聾での検出手段を用い第２の合成
手段として光導波路による合成手段を用い、第３の合成
手段として前記第２の合成手段の出力を光電変換した後
電気的に合成する手段を用いる特許請求の範囲第２項記
載の光学式位置検出装置。 （５）第２の検出手段として前記メツシー状分割した光
導波路による光の状態での検出手段を用い、第２の合成
手段として先導波路による合成手段を用い、第３の合成
手段として光導波路による合成手段を用いた後光電変換
する手段を用いる特許請求の範囲第２項記載の光学式位
置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6712784A JPS60211644A (ja) | 1984-04-04 | 1984-04-04 | 光学式位置検出方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6712784A JPS60211644A (ja) | 1984-04-04 | 1984-04-04 | 光学式位置検出方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60211644A true JPS60211644A (ja) | 1985-10-24 |
Family
ID=13335927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6712784A Pending JPS60211644A (ja) | 1984-04-04 | 1984-04-04 | 光学式位置検出方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60211644A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54140533A (en) * | 1978-04-14 | 1979-10-31 | Philips Nv | Focus error detector |
| JPS55101142A (en) * | 1979-01-29 | 1980-08-01 | Teac Co | Focus detection unit of optical reproducing device |
-
1984
- 1984-04-04 JP JP6712784A patent/JPS60211644A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54140533A (en) * | 1978-04-14 | 1979-10-31 | Philips Nv | Focus error detector |
| JPS55101142A (en) * | 1979-01-29 | 1980-08-01 | Teac Co | Focus detection unit of optical reproducing device |
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