JPH087325A

JPH087325A - 光ヘッド装置

Info

Publication number: JPH087325A
Application number: JP6144681A
Authority: JP
Inventors: Satoshi Kiyomatsu; 智清松; Hiroshi Goto; 博志後藤; Haruhiko Kono; 治彦河野; Koki Kojima; 光喜小島
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1994-06-27
Filing date: 1994-06-27
Publication date: 1996-01-12

Abstract

(57)【要約】【目的】小型、軽量、薄型の光磁気ヘッド装置を構成
する（第１クレームは光磁気に限定されない）。【構成】半導体レーザ１から射出された光束を第１，
第２のプリズム２，４の内部で複数回反射させ対物レン
ズ８に導き記録面９に集光するとともに、戻り光を２つ
に分離し１つをフォーカス、トラッキングのサーボ動作
に利用し、もう一方を光磁気信号検出のために利用す
る。ただし、前者は対物レンズ８と一体になった平行光
を含まないいわゆる有限光学系をなし、後者は分離手段
の直後に略平行光束に変換されてウォラストンプリズム
１６、集光レンズ１７、２分割フォトダイオード１８に
より構成されており、前記ウォラストンプリズム１６以
降はシーク動作にともなわず固定されている分離光学系
の構成をとっている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光によって情報を記録、
または再生する光ヘッド装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】半導体レーザなどの光源から発する光束
をレンズ等を用いて収束させ小さな結像スポットとし、
高密度に記録された濃淡または凹凸状のピットの反射光
の強度としてフォトダイオードなどの光電素子を用いて
記録情報を再生することができる。この様な形態はコン
パクトディスク（以下、ＣＤ）として知られており、お
もにディジタル記録された音楽情報の再生に用いられて
いる。このＣＤの特に光学系の構成と動作について説明
を行う。

【０００３】図７は従来の光ヘッド装置の光学系の構成
図である。同図において、光源であるところの半導体レ
ーザ２１から射出された光束は回折格子２２を透過し、
ハーフミラー２３で反射され、さらにはね上げミラー２
４でさらに反射されて対物レンズ２５へ入射し、この対
物レンズ２５の集光作用によって、また回折格子２２の
回折作用によってＣＤの記録面２６へ１μｍ前後の径を
もつ複数の光スポットとして結像される。

【０００４】この結像スポットからの反射光を再び対物
レンズ２５によってとらえ、光源方向に回帰させる。こ
の復路の途中には前記ハーフミラー２３が設置されてお
り、反射戻り光の一部は光源方向から光検出器２７側へ
と分離される。

【０００５】分離された光束は図８に示すように同一平
面状に構成されている６つの分割されたフォトダイオー
ドからなる光検出器へと照射される。対物レンズによる
結像スポットを記録ピット列に沿って走査させる場合、
ＣＤの回転動作にともなうピット列の照射光軸方向の変
動、すなわちフォーカスエラー、また同軸方向およびピ
ット列に対して直角方向の変動、すなわちトラッキング
エラーの補正のための動作を行う必要がある。この動作
は前者をフォーカスサーボ、後者をトラッキングサーボ
と呼ぶ。

【０００６】それぞれのサーボ動作を行うための補正信
号検出のための説明を以下に記す。前記回折格子の作用
によって複数のビームに分割された光束のうち、中央の
いちばん強度の強い０次回折光をピット情報の再生、お
よびフォーカスエラー信号再生に利用する。再生動作に
ついては後に言及することにし、まずフォーカスエラー
信号検出について説明を行う。

【０００７】図７において、対物レンズ２５を透過した
戻り光束は前述ハーフミラー２３を透過して、光検出器
２７へと集光する。この際光軸に対して略４５°傾き、
一定の厚みを持った平行平面基板を透過するために同基
板から射出した光束には非点収差とよばれる軸上の収差
が含まれる。記録面への集光状態の変化、すなわちデフ
ォーカスにともない、光検出部上で図８に示すような結
像パターンを示す。記録面上に最小の大きさのスポット
として結像する場合、すなわちオンフォーカスの場合、
中央４分割フォトダイオードの中心部に最小錯乱円と呼
ばれる円形状の強度分布を持つ光束が照射される。この
前後のデフォーカス状態において同図に示す様に直角方
向に強度分布が変化する。この変化を４分割フォトダイ
オードのたすき２方向のそれぞれの出力和信号の差動信
号をとることによってエラー信号とする。

【０００８】同図において４つのフォトダイオードを便
宜的にＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４とし、そこからの出力信
号をＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４とすると、フォトダイオー
ドＳ１、Ｓ３の出力和、Ｐ１＋Ｐ３と、同Ｓ２、Ｓ４の
出力和、Ｐ２＋Ｐ４の差動信号、（Ｐ１＋Ｐ３）−（Ｐ
２＋Ｐ４）がもとめるフォーカスエラー信号となる。こ
のエラー信号を対物レンズの近傍に設けているフォーカ
ス駆動アクチュエータにフィードバックすることにより
焦点ズレを補正しフォーカスサーボ動作を実現すること
が出来る。

【０００９】一方、回折格子で発生した複数のビームの
うち０次光の両わきに発生した±１次回折を利用しトラ
ッキングエラー信号を得る方法について説明を行う。図
７において、記録面上、±１次回折光はそれぞれ０次回
折光をピット列の中央におき、同ピット列を挟み込むよ
うに集光している（不図示）。この集光ビームの反射戻
り光を対物レンズ２５でとらえ、光検出器２７上に再び
集光させる。

【００１０】図８において、前述４分割フォトダイオー
ドの両わきに±１次回折光の強度をそれぞれ検出するた
めの２つのフォトダイオードを設置している。記録面上
で中央の０次光が記録ピット列から左右に偏心した場合
ピット列にかかる±１回折光の反射光の強度のバランス
が崩れることになる。このバランスの崩れを２つのフォ
トダイオードの差動信号としてとらえることによりトラ
ッキングエラー信号を得ることが出来る。このエラー信
号を対物レンズの近傍に設置しているトラッキングアク
チュエータへとフィードバックすることによって結像ス
ポットの偏心を補正しトラッキングサーボを実現するこ
とが出来る。

【００１１】また前述中央部の４分割フォトダイオード
Ｓ１〜Ｓ４の出力の和信号、すなわちＰ１＋Ｐ２＋Ｐ３
＋Ｐ４の出力変化をモニターすることによって記録ピッ
トの情報を再生することが出来る。

【００１２】次にＣＤと同様な形態を持っており、しか
も記録媒体に対して情報の記録、再生、消去が可能な光
磁気記録再生方式について図９を用いて説明を行う。

【００１３】同図において、光源であるところの半導体
レーザ３１から射出された光束は、コリメータレンズ３
２によって平行光束に変換され、偏光プリズム３３を透
過し、はね上げミラー３４で対物レンズ３５の方向にお
り曲げられ、対物レンズ３５に入射する。この対物レン
ズ３５によって光磁気媒体による記録面３６に入射光束
が集光させられる。この集光光によって光磁気媒体の温
度をキューリ点と呼ばれる一定の温度まで昇温させ光磁
気媒体の磁気を消磁させる。

【００１４】さらに外部に設けられている磁界装置（不
図示）によって任意の磁力方向に記録磁界を変換させる
ことによって、光磁気記録、または消去を行う。さらに
記録面３６で反射した光束は再び対物レンズ３５によっ
てとらえられ略平行光に変換されプリズム内部に設けら
れた光分離面３７の作用によって光検出部側へと反射戻
り光の一部がおり曲げられる。折り曲げられた光束は集
光レンズ３８、シリンドリカルレンズ３９を透過し４分
割フォトダイオード４０へ入射し、プッシュプル法によ
りトラッキングサーボを、非点収差法によりフォーカス
サーボをそれぞれ行う。プッシュプル法によるトラッキ
ングサーボは、記録媒体面３６にあらかじめ構成されて
いるトラッキンググルーブ（不図示）で発生する集光の
回折光の干渉、すなわち中央の０次回折光と±１次回折
光とのそれぞれの光検出面における干渉強度のバランス
をとることによって行う。

【００１５】一方、非点収差法による方法は先のＣＤに
よる方法と非点収差を発生させる手段がシリンドリカル
レンズ３９に変わったこと意外は基本的に同じである。
また集光レンズ３８とシリンドリカルレンズ３９との間
にもう一つの光分離プリズム４１を設け光束の一部を光
磁気検出部の方へと導く。分離された光束は光分離プリ
ズム４１直後に設置された光束を２つの互いに直行する
偏光成分の分離する作用を持つウォラストンプリズム４
２等の複屈折素子からなる検光子を透過して２分割のフ
ォトダイオード４３へ入射する。記録媒体に記録された
光磁気信号の再生にはこの２分割のフォトダイオード４
３のそれぞれの出力の差動信号をとる。カー効果と呼ば
れる反射戻り光の偏光面の回転にともなう偏光成分の変
化をとらえるためである。

【００１６】以上光によって記録媒体に対して情報の再
生、記録、および消去が行える方法について説明を行っ
た。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たＣＤ、および光磁気装置は先に説明したごとく折り曲
げミラーを用いて光学系の構成を薄型化に構成しようと
しているが対物レンズにトラッキング、およびフォーカ
スアクチュエータを搭載しているため、はね上げミラー
と対物レンズとの間を一定距離ひらく必要があり、また
光磁気装置に示したように１ビームによるトラッキング
方式は回析格子を省略出来るなどの利点があるものの、
入射光束に対して対物レンズをシフトしてトラッキング
補正動作を行うために、シフト量に応じてトラッキング
エラー信号にオフセット信号が混入してしまい、動作の
質を落としてしまっていた。

【００１８】本発明は上記課題を解決するもので、半導
体レーザ、光検出器、プリズム、および対物レンズが一
体となった構成をとり、しかもうまく光束を折り曲げた
構成をとっているため、非常に小型、薄型であり機器組
み込み性に優れた光ヘッド装置を提供することを目的と
する。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、半導体レーザと、この半導体レーザからの
射出光を反射する１つの内部反射面を持つ第１の誘電体
プリズムと、前記第１の誘電体プリズムからの射出光を
複数回内部反射できる反射面を持つ第２の誘電体プリズ
ムと、前記第２の誘電体プリズムからの射出光を記録面
上に集光する対物レンズと、前記記録面からの反射戻り
光を検出するための光検出手段からなる光ヘッド装置に
おいて、前記第１の誘電体プリズムの射出面と、前記第
２の誘電体プリズムの任意の内部反射面はそれぞれ平行
に構成されているとともに、前記対物レンズの光軸は前
記第２の誘電体プリズムの任意の前記内部反射面とは異
なる内部反射面に対して垂直をなす。また前記半導体レ
ーザと光検出手段、および対物レンズは前記２つの誘電
体プリズムと一体で、前記記録面に対して駆動され、前
記記録面からの反射戻り光を光検出手段へ導くための分
離手段を前記第１の誘電体プリズムの任意の面に設置
し、前記分離手段が任意形状の回折格子、またはホログ
ラム素子によって構成され、前記第２の誘電体プリズム
の前記２つの反射面のいずれでもない任意の内部反射面
に、前記反射戻り光の一部を分離する分離手段を設ける
とともに、使用波長において前記第２の誘電体プリズム
とほぼ等しい屈折率を持つ第３の誘電体プリズムを接合
してなり、前記分離手段から分離され第３の誘電体プリ
ズムを透過し、射出された光束を略平行光束に変換する
手段と、２つの偏光成分に分離する手段と、前記２つの
偏光成分を、同一平面上にそれぞれ集光させる集光手段
と、集光された光束の強度をそれぞれ検出するための２
つの受光部を持ち、前記第３の誘電体プリズムおよび平
行光に変換する手段は前記請求項２記載の部分と記録面
に対して一体に駆動し、前記２つの偏光成分に分離する
手段と、前記集光手段と、前記２つの受光部は、駆動装
置自体に対して固定されており、前記反射戻り光の一部
を分離する分離手段は、任意の透過、および反射特性を
持つ偏光分離膜によって構成され、さらに前記２つの偏
光成分に分離する手段は、ウォラストンプリズムによっ
て構成されるものである。

【００２０】

【作用】本発明は上記したごとく、半導体レーザ、光検
出器、プリズム、および対物レンズが一体となった小
型、薄型で、トラッキングオフセットの生じない光ヘッ
ド装置を構成することが出来るものである。

【００２１】

【実施例】以下、本発明実施例について図１から図６を
参照しながら説明する。図１は、本発明の第１の実施例
の光ヘッド装置の光学系の構成図を示すもので、同図に
おいて光源であるところの半導体レーザ１から射出され
た光束は第１のプリズム２に入射し、内面反射面である
第１の反射面３で全反射され、第１のプリズム２から射
出し第２のプリズム４へ入射する。さらに第２のプリズ
ム４へ入射した光束は同プリズム内の第２の反射面５で
内部全反射し、同じく同プリズム内の第３の反射面６で
光束の一部が反射される。同面で反射された光束は第４
の反射面７でさらに内部全反射され同プリズムの前記第
２の反射面５と同一の面から対物レンズ８へ向け射出さ
れる。射出され対物レンズ８へ入射した光束は対物レン
ズ８の集光作用を受け記録面９に略円形のスポット（不
図示）として結像する。

【００２２】また半導体レーザ１から対物レンズ８、結
像スポットまでの光学系は平行光束を含まないいわゆる
有限系と呼ばれる構成をとっている。通常有限系の光学
系の構成ではトラッキングまたはフォーカシングのため
に対物レンズを駆動した場合、結像スポットへ収差が発
生したり、結像倍率の変化、トラッキングエラー信号へ
のオフセットの発生など様々な影響がおよぶことにな
る。しかしながら本実施例における光学系は半導体レー
ザ１、光検出部１０、第１，第２のプリズム２，４、対
物レンズ８が全て一体となっているため、トラッキング
またはフォーカシング駆動のためのに結像収差、倍率の
変化の発生など、前述したような不都合が発生すること
はない。

【００２３】さて、このスポットにより先に説明したＣ
Ｄの動作と同様にあらかじめ濃淡、あるいは凹凸として
記録されているピット情報を反射強度の差として拾い上
げる。

【００２４】さらにこの記録面９で反射された戻り光は
再び対物レンズ８に回帰し、第２のプリズム４、第１の
プリズム２へと往路をそのまま戻る。さらに第１のプリ
ズム２の第１の入射面１１と、半導体レーザ１および光
検出部１０を含むレーザモジュール１２との接合面のレ
ーザモジュール側１２または第１のプリズム２側に戻り
光分離機能を持つ光分離ホログラム素子１３が形成され
ている。この光分離ホログラム素子１３によって戻り光
の一部は多分割フォトダイオードからなる光検出部１０
へと入射する。この光検出部１０によって反射戻り光の
強度変化、すなわち記録情報の再生、およびトラッキン
グ、フォーカシングのためのエラー信号を得ることが出
来る。

【００２５】図２を用いて前記モジュールの構成、およ
び動作について簡単に説明する。同図においてレーザモ
ジュール１２、または第１のプリズム２の入射出面に設
置された光分離ホログラム素子１３によって戻り光の一
部は光検出部１０であるところの４分割フォトダイオー
ドへと２つの光束に分解されて入射する。この分割作用
は後述するごとくホログラム面の回折方向の違う２つの
領域によるもので、それぞれのビームは図３，図４に示
すように４分割のフォトダイオードを便宜的にＰＤ１，
ＰＤ２，ＰＤ３，ＰＤ４とすると、それぞれＰＤ１とＰ
Ｄ２、ＰＤ３とＰＤ４との境界に照射されている。この
４つのフォトダイオードの出力をそれぞれ演算すること
によって、トラッキング、フォーカシング、および信号
再生（ＲＦ）信号を得ることが出来る。

【００２６】以下同図を参照しながらそれぞれの信号検
出について説明を行う。まずトラッキングエラー信号に
ついて、同信号検出方法はプッシュプル法と呼ばれる方
式で記録面に照射された光束が記録ピット、またはトラ
ッキンググルーブによって生じる回折光、すなわち０次
回折光と±１次回折光との２つの回折光の干渉領域の光
強度のバランス（差動）をとることによってエラー信号
を得るもので、図３において分割線の左右でその干渉領
域が分かれており、その領域毎にホログラム素子によっ
て図４に示す位置に照射される。

【００２７】記録面で結像スポットが記録ピットまたは
グルーブから進行方向と直角方向に偏心した場合、±１
次光の強度が変化する。０次光とのそれぞれの干渉領域
の光強度にアンバランスが生じ、これかトラッキングエ
ラー信号となり、この差動出力、すなわち（ＰＤ１＋ＰＤ２）−（ＰＤ３＋ＰＤ４）（＝ＴＥＳ）が０となるよう出力をフィードバックし、アクチュエー
タ（不図示）を駆動してトラッキングサーボを作動させ
る。

【００２８】また同図において、フォーカシングエラー
信号の検出方法について説明を行う。本方式におけるフ
ォーカスエラー信号の求め方はナイフエッジ法と呼ばれ
る方式で、図中の戻り光束中に設けられたナイフエッジ
（ホログラム分割線）の遮光（分割）作用により、記録
面の結像スポットのデフォーカスにともないフォトダイ
オード上で光強度分布の変化をきたす。

【００２９】図５にこのデフォーカスにともなう変化を
示す。同図において中央（ｂ）のパターンが記録面上で
のスポットが合焦（最小スポット）の場合を示し、この
場合、同図のフォトダイオード演算出力（ＰＤ１＋ＰＤ４）−（ＰＤ２＋ＰＤ３）（＝ＦＥＳ）が０になるように調整されている。また同図の（ａ）の
場合は前記出力は＋側へ変化し、同図５（ｃ）の場合は
−側へと変化することになる。この変化を前記トラッキ
ングの場合と同じように、作動出力が０となるようにフ
ォーカシングアクチュエータ（不図示）を駆動してフォ
ーカスサーボを作動させる。

【００３０】また記録面に記録された情報信号、すなわ
ちピットの再生信号は４分割フォトダイオードの総和出
力ＰＤ１＋ＰＤ２＋ＰＤ３＋ＰＤ４（＝ＲＦ）によって求めることができる。

【００３１】以上本発明における第１の実施例を説明し
た。つぎに本発明の第２の実施例を図６を用いて説明す
る。同図は本発明の第２の実施例の光ヘッド装置の光学
系の構成図を示すもので、光源であるところの半導体レ
ーザ１から射出された光束は前実施例と同様の光路をた
どり対物レンズ８へ入射し、集光作用を受け記録面９へ
集光する。この記録面９は光磁気媒体で構成されてお
り、前述従来例光磁気記録と基本的に同様な方法によっ
て、記録、再生、消去が行われる。さらに記録面９から
反射した戻り光は第２のプリズム４へと回帰し第４の反
射面７で全反射された後、第３の反射面６に入射され
る。同面は先の実施例と異なり、偏光２成分に対してそ
れぞれ透過、反射を任意の値の設定した誘電体多層膜が
設置されている。

【００３２】また同反射面で反射した光束は前実施例と
同様に光分離ホログラム素子１３の作用で半導体レーザ
１の側部に設置されている光検出部により、トラッキン
グ、フォーカシングのエラー信号を検出する。また第３
の反射面６を透過した光束は同面に接触固定された第２
のプリズム４と使用波長においてほぼ同じ屈折率を持つ
第３のプリズム１４へ入射する。

【００３３】さらに同プリズムの射出面は光束にたいし
て略直角をなすと共に、収束射出光束を略平行光に変換
するための略平行光変換手段１５、たとえば凹レンズま
たはマイクロフレネルレンズなどの光学素子が設置され
ている。同素子から射出された略平行光束はさらに全面
に設置されているウォラストンプリズム１６へ入射す
る。このウォラストンプリズム１６の偏光分離作用によ
って反射戻り光は互いに直角方向に振動する２つの偏光
成分に分離され、いわゆる検光子として作用する。さら
に同プリズムを射出した光束は光束に対して十分広い入
射面を持つ集光レンズ１７を透過し、集光されつつ２つ
の光束は２つに分割されたフォトダイオード１８へそれ
ぞれ入射する。記録面９に記録された光磁気信号の作用
によって戻り光の偏波面の回転にともない直交２方向の
偏光成分の強度が変動し、２つのフォトダイオードの出
力の差が生じる。この出力の差動出力をモニターするこ
とにより光磁気記録情報を再生することが出来る。また
話は前後するが、前記第３のプリズム１４および略平行
光変換手段１５は前記第２のプリズム４等と一体に構成
され、トラッキング、フォーカシング、およびアクセス
の動作に追従して駆動アクチュエータ（不図示）で動か
される。またウォラストンプリズム１６、集光レンズ１
７、および２分割のフォトダイオード１８の構成部分は
前記駆動に伴ない機器固定部に設置されている。このこ
とによって駆動部分の重量をできるだけ減少させること
が出来、また精密調整を伴うトラッキング、フォーカシ
ングサーボ制御のための光学系を含んでいないため簡単
な取付調整で済ませることが出来る。

【００３４】また偏波面の厳密な管理が必要な光磁気記
録であるが、内部反射面、入射出面、あるいは屈折面で
偏光成分の位相差を制御、補正する必要がある場合は位
相制御膜等を構成して対処することが出来る。しかしな
がら本発明の主要な構成には本質的に関わりあわないた
め詳述は省略する。

【００３５】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば半導体レーザ、マイクロプリズムによる折り曲
げ光学系、対物レンズ、光検出部がコンパクトにしかも
一体で駆動されるため光学系全体を非常に薄く構成する
ことが出来ると共に、プッシュプルによるトラッキング
サーボでありながらトラッキングオフセットを全く生じ
ないなど光学系として質の高い構成が実現できる効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例の光ヘッド装置の光学系
の構成図

【図２】本発明の第１の実施例の光ヘッド装置に関わる
主要部の説明図

【図３】本発明の第１の実施例の光ヘッド装置に関わる
説明図

【図４】本発明の第１の実施例の光ヘッド装置に関わる
説明図

【図５】本発明の第１の実施例の光ヘッド装置に関わる
説明図

【図６】本発明の第２の実施例の光ヘッド装置の光学系
の構成図

【図７】従来の光ヘッド装置の光学系の構成図

【図８】従来の光ヘッド装置に関わる説明図

【図９】従来の光ヘッド装置の光学系の構成図

【符号の説明】

１半導体レーザ２第１のプリズム３第１の反射面４第２のプリズム５第２の反射面６第３の反射面７第４の反射面８対物レンズ９記録面１０光検出部１１第１の入射面１２レーザモジュール１３光分離ホログラム素子

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者小島光喜大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】半導体レーザと、この半導体レーザからの
射出光を反射する第１の内部反射面を持つ第１の誘電体
プリズムと、前記第１の誘電体プリズムからの射出光を
複数回内部反射できる反射面を持つ第２の誘電体プリズ
ムと、前記第２の誘電体プリズムからの射出光を記録面
上に集光する対物レンズと、前記記録面からの反射戻り
光を検出するための光検出手段からなる光ヘッド装置に
おいて、前記第１の誘電体プリズムの射出光と、前記第
２の誘電体プリズムの任意の内部反射面はそれぞれ平行
に構成されているとともに、前記対物レンズの光軸は前
記第２の誘電体プリズムの任意の前記内部反射面とは異
なる内部反射面に対して垂直をなす事を特徴とする光ヘ
ッド装置。
【請求項２】前記半導体レーザと光検出手段、および対
物レンズは前記２つの誘電体プリズムと一体で、前記記
録面に対して駆動されることを特徴とする請求項１記載
の光ヘッド装置。
【請求項３】前記記録面からの反射戻り光を光検出手段
へ導くための分離手段を前記第１の誘電体プリズムの任
意の面に設置したことを特徴とする請求項１記載の光ヘ
ッド装置。
【請求項４】前記分離手段が回折格子、またはホログラ
ム素子によって構成されていることを特徴とする請求項
３記載の光ヘッド装置。
【請求項５】前記第２の誘電体プリズムの前記２つの反
射面のいずれでもない任意の内部反射面に、前記反射戻
り光の一部を分離する分離手段を設けるとともに、使用
波長において前記第２の誘電体プリズムとほぼ等しい屈
折率を持つ第３の誘電体プリズムを接合してなることを
特徴とする請求項１記載の光ヘッド装置。
【請求項６】前記分離手段から分離され第３の誘電体プ
リズムを透過し、射出された光束を略平行光束に変換す
る手段と、２つの偏向成分に分離する手段と、前記２つ
の偏向成分を、同一平面上にそれぞれ集光させる集光手
段と、集光された光束の強度をそれぞれ検出するための
２つの受光部を持つことを特徴とする請求項５記載の光
ヘッド装置。
【請求項７】前記第３の誘電体プリズムおよび平行光に
変換する手段は前記請求項２記載の部分と記録面に対し
て一体に駆動し、前記２つの偏光成分に分離する手段
と、前記集光手段と、前記２つの受光部は、駆動装置自
体に対して固定されていることを特徴とする請求項５記
載の光ヘッド装置。
【請求項８】前記反射戻り光の一部を分離する分離手段
は、任意の透過、および反射特性を持つ偏光分離膜によ
って構成されることを特徴とする請求項５記載の光ヘッ
ド装置。
【請求項９】前記２つの偏光成分に分離する手段は、ウ
ォラストンプリズムによって構成されることを特徴とす
る請求項６記載の光ヘッド装置。