JP2654091B2 - 光ヘッド - Google Patents
光ヘッドInfo
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- JP2654091B2 JP2654091B2 JP63128218A JP12821888A JP2654091B2 JP 2654091 B2 JP2654091 B2 JP 2654091B2 JP 63128218 A JP63128218 A JP 63128218A JP 12821888 A JP12821888 A JP 12821888A JP 2654091 B2 JP2654091 B2 JP 2654091B2
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- optical
- light beam
- optical head
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、カード状またはディスク状等の光学的情報
記録媒体に情報を記録および再生のいずれか、或は、そ
の両方を行なう光ヘッドに関するものである。
記録媒体に情報を記録および再生のいずれか、或は、そ
の両方を行なう光ヘッドに関するものである。
従来、光を用いて情報を記録し、また記録された情報
を読出す媒体の形態としてディスク状，カード状，テー
プ状等各種のものが知られている。これらの内、カード
状に形成された光学的情報記録媒体（以下「光カード」
と称す）を例にとると、前記光カードは小型・軽量で持
ち運びに便利な大記録容量の媒体として、大きな需要が
見込まれている。
を読出す媒体の形態としてディスク状，カード状，テー
プ状等各種のものが知られている。これらの内、カード
状に形成された光学的情報記録媒体（以下「光カード」
と称す）を例にとると、前記光カードは小型・軽量で持
ち運びに便利な大記録容量の媒体として、大きな需要が
見込まれている。
上記の光カードには、記録情報に従って変調され微少
スポットに絞られた光ビームで光カード上に予め設定さ
れた記録トラックを走査することによって、光学的に検
出可能な記録ビット列として情報が記録される。
スポットに絞られた光ビームで光カード上に予め設定さ
れた記録トラックを走査することによって、光学的に検
出可能な記録ビット列として情報が記録される。
また、該光カードに記録された情報の再生は、光カー
ドに情報が書き込まれないレベルの一定パワーの光ビー
ムで前述の記録ビット列を走査することによって行なわ
れる。
ドに情報が書き込まれないレベルの一定パワーの光ビー
ムで前述の記録ビット列を走査することによって行なわ
れる。
ところで、このような記録域は再生動作には欠くこと
のできない技術として、従来よりオート・フォーカシン
グ（以下AFと記す）制御とオート・トラッキング（以下
ATと記す）制御がある。
のできない技術として、従来よりオート・フォーカシン
グ（以下AFと記す）制御とオート・トラッキング（以下
ATと記す）制御がある。
AF制御は、常に微小スポットを記録媒体上に結ばせる
もので、非点収差法がよく知られている。
もので、非点収差法がよく知られている。
AT制御は、記録媒体上にあらかじめプリフォーマット
された案内トラックに微小スポットを追従させ、トラッ
クはずれを防止するもので、３ビーム法及びプッシュプ
ル法がよく知られている。
された案内トラックに微小スポットを追従させ、トラッ
クはずれを防止するもので、３ビーム法及びプッシュプ
ル法がよく知られている。
以下、従来の光ヘッドについて説明する。
第４図は、光カードに情報を記録・再生するために用
いる光ヘッドの構成の１例である。
いる光ヘッドの構成の１例である。
半導体レーザ１から発せされた光束は、コリメータレ
ンズ２により平行光束となる。該平行光束は、光カード
７に結ぶ微小スポットの径を決定するためのアパーチャ
３で制限され、グレーティング４によって０次回折光，
±１次回折光の３光束に分割され、それぞれ、ビームス
プリッター５を通過後、対物レンズ６で光カード７上に
直径数μｍの微小スポットとして結像される。
ンズ２により平行光束となる。該平行光束は、光カード
７に結ぶ微小スポットの径を決定するためのアパーチャ
３で制限され、グレーティング４によって０次回折光，
±１次回折光の３光束に分割され、それぞれ、ビームス
プリッター５を通過後、対物レンズ６で光カード７上に
直径数μｍの微小スポットとして結像される。
第５図は、光カード７上での３スポットS1,S2,S3と案
内トラック31の位置関係を示した図である。
内トラック31の位置関係を示した図である。
また、第６図は、０次回折光束が光カード７の基板表
面21を経て媒体面22に入射し、更に反射するときの光路
図であり、図からもわかるように、媒体面からの反射光
の光路（実線）は、入射光路と一致するが、カード表面
からの反射光の光路（点線）は、対物レンズ６に入射し
た後、発散光束となり、前記入射光路とは一致しない。
面21を経て媒体面22に入射し、更に反射するときの光路
図であり、図からもわかるように、媒体面からの反射光
の光路（実線）は、入射光路と一致するが、カード表面
からの反射光の光路（点線）は、対物レンズ６に入射し
た後、発散光束となり、前記入射光路とは一致しない。
光カードで反射された光束は、再び対物レンズ６を経
て、前記第４図のビームスプリッター５で反射し、球面
レンズ８とシリンドリカルレンズ９からなる非点収差光
学系で集光され、光検出器10に入射する。
て、前記第４図のビームスプリッター５で反射し、球面
レンズ８とシリンドリカルレンズ９からなる非点収差光
学系で集光され、光検出器10に入射する。
第７図は、光検出器10の構成と、受光面上でのスポッ
トP1,P2,P3を示した図である。光検出器10はそれぞれ、
独立に光電変換機能を有する光検出素子10a,10b,10c,10
d,10e,10fから構成されている。
トP1,P2,P3を示した図である。光検出器10はそれぞれ、
独立に光電変換機能を有する光検出素子10a,10b,10c,10
d,10e,10fから構成されている。
この時、前記各検出素子により、光電変換された電子
信号の値について（10a＋10d）−（10b＋10c）がゼロに
なるようにAF制御し、（10e−10f）がゼロになるように
AT制御する。
信号の値について（10a＋10d）−（10b＋10c）がゼロに
なるようにAF制御し、（10e−10f）がゼロになるように
AT制御する。
ところで、この種の光ヘッドの光軸調整は、金物等で
つくられた光ヘッド本体に各光学部品を固定し、これに
対して半導体レーザ１をその取付け基準面内で位置調整
するのが一般的である。この際、光学部品で成る軸に対
する半導体レーザ１の光軸の角度については調整してお
らず、この角度については、半導体レーザ１の取付け面
に対するチップ（発光部）の取付け精度に頼っている。
つくられた光ヘッド本体に各光学部品を固定し、これに
対して半導体レーザ１をその取付け基準面内で位置調整
するのが一般的である。この際、光学部品で成る軸に対
する半導体レーザ１の光軸の角度については調整してお
らず、この角度については、半導体レーザ１の取付け面
に対するチップ（発光部）の取付け精度に頼っている。
通常、この取付け精度は±３゜程度である。
また、半導体レーザ１から発する光の強度分布は、軸
対称のガウス分布となるのが一般的である。
対称のガウス分布となるのが一般的である。
このような半導体レーザ１からの光がコリメータレン
ズ２にある角度をもって入射すると、コリメータレンズ
２から出射する平行光束は本来の光軸から平行シフトし
てアパーチャ３に入射するため、アパーチャ３から出射
する光束の光強度分布は、第８図のように本来の光軸に
対して非対称となり、この非対称性は、カード面上での
スポット及び光検出器10上でもそのまま保存されること
になる。
ズ２にある角度をもって入射すると、コリメータレンズ
２から出射する平行光束は本来の光軸から平行シフトし
てアパーチャ３に入射するため、アパーチャ３から出射
する光束の光強度分布は、第８図のように本来の光軸に
対して非対称となり、この非対称性は、カード面上での
スポット及び光検出器10上でもそのまま保存されること
になる。
また、光検出器10には光カード７の表面反射光も入射
し、当然、この表面反射光の強度分布も非対称となる。
し、当然、この表面反射光の強度分布も非対称となる。
以上のような非対称な光強度分布をもつ光束が光検出
器10に入射すると、例えば、光検出器10eと10fでの光強
度分布が異なるためにAT制御にオフセットをもたせてし
まうことになる。
器10に入射すると、例えば、光検出器10eと10fでの光強
度分布が異なるためにAT制御にオフセットをもたせてし
まうことになる。
更に、対物レンズ６を上下させることにより得られる
AFエラー信号（いわゆるAFS字信号）を用いてAF引込み
を行う時、AFエラー信号にオフセットをもたせるととも
に、AFS字波形の形状変化を発生させることになる。
AFエラー信号（いわゆるAFS字信号）を用いてAF引込み
を行う時、AFエラー信号にオフセットをもたせるととも
に、AFS字波形の形状変化を発生させることになる。
第４図の光ヘッドでは、アパーチャ３で最小有効光束
を決定したが、第９図の光ヘッドのようにアパーチャを
用いずに、対物レンズ６が最小有効光束を決定する光ヘ
ッドにおいても、上記のような問題が発生することは明
らかである。
を決定したが、第９図の光ヘッドのようにアパーチャを
用いずに、対物レンズ６が最小有効光束を決定する光ヘ
ッドにおいても、上記のような問題が発生することは明
らかである。
従来技術における光ヘッドは、以上のような欠点を有
しており、それは、光ヘッドの精度及び信頼性を低下さ
せるものである。
しており、それは、光ヘッドの精度及び信頼性を低下さ
せるものである。
以上のごとく、従来の光ヘッドでは、光ヘッドで決定
される最小有効光束の強度分布が光束中心に対して非対
称となり得るため、AF及びAT制御するための信号検出系
である光検出器上でのスポットの強度分布も非対称とな
り、AF及びAT制御にオフセットを発生させ、更にAFエラ
ー信号の波形を変化させるという問題点がある。
される最小有効光束の強度分布が光束中心に対して非対
称となり得るため、AF及びAT制御するための信号検出系
である光検出器上でのスポットの強度分布も非対称とな
り、AF及びAT制御にオフセットを発生させ、更にAFエラ
ー信号の波形を変化させるという問題点がある。
［課題を解決するための手段］ 本発明によれば、上記課題を解決するための手段とし
て、 光源から出射する光束を対物レンズで光学的情報記録
媒体上に微少スポットとして結像し、前記記録媒体から
の反射光を検知して、情報を記録または再生する光ヘッ
ドにおいて、 前記光源と対物レンズとの間に、光軸に対して平行平
板を傾けて取り付けることにより、前記光束の最小有効
光束径を決定する部材と共働して、該最小有効光束内の
光強度分布を、光軸を横切る方向に平行シフトさせるこ
とを特徴とする光ヘッドが提供される。
て、 光源から出射する光束を対物レンズで光学的情報記録
媒体上に微少スポットとして結像し、前記記録媒体から
の反射光を検知して、情報を記録または再生する光ヘッ
ドにおいて、 前記光源と対物レンズとの間に、光軸に対して平行平
板を傾けて取り付けることにより、前記光束の最小有効
光束径を決定する部材と共働して、該最小有効光束内の
光強度分布を、光軸を横切る方向に平行シフトさせるこ
とを特徴とする光ヘッドが提供される。
本発明の光ヘッドは、光ヘッドで決定される最小有効
光束の光強度分布を光束中心に対して対称形にすること
により、光検出器上のスポットの強度分布をスポット中
心に対して対称形にすることができ、それにより、光ヘ
ッドで生じるAFエラー信号の波形変化をおさえ、さら
に、AF及びATのオフセットを無くすことができる。
光束の光強度分布を光束中心に対して対称形にすること
により、光検出器上のスポットの強度分布をスポット中
心に対して対称形にすることができ、それにより、光ヘ
ッドで生じるAFエラー信号の波形変化をおさえ、さら
に、AF及びATのオフセットを無くすことができる。
以下、本発明の光ヘッドの具体的な実施例について、
図面に基づき詳細に説明する。
図面に基づき詳細に説明する。
第１図は、本発明に係る光ヘッドの第１実施例の光学
配置と光路及び光学的情報記録媒体を示したものであ
る。
配置と光路及び光学的情報記録媒体を示したものであ
る。
第１図において、１は半導体レーザ、２はコリメータ
レンズ、３はアパーチャ、４はグレーティング、５はビ
ームスプリッター、６は対物レンズ、７は光学的情報記
録媒体、８は球面レンズ、９はシリンドリカルレンズ、
10は光検出器、11は平行平板、51は光ヘッド本体にあけ
られた開孔である。
レンズ、３はアパーチャ、４はグレーティング、５はビ
ームスプリッター、６は対物レンズ、７は光学的情報記
録媒体、８は球面レンズ、９はシリンドリカルレンズ、
10は光検出器、11は平行平板、51は光ヘッド本体にあけ
られた開孔である。
半導体レーザ１から出射した光は、コリメータレンズ
２によって平行光束となり、該平行光束は平行平板11を
経てアパーチャ３で制限され、グレーティング４、ビー
ムスプリッタ５を通過し対物レンズ６によって、光学的
情報記録媒体７に微小な３つのスポットとして結ばれ
る。
２によって平行光束となり、該平行光束は平行平板11を
経てアパーチャ３で制限され、グレーティング４、ビー
ムスプリッタ５を通過し対物レンズ６によって、光学的
情報記録媒体７に微小な３つのスポットとして結ばれ
る。
記録媒体７で反射した光は再度対物レンズ６を経てビ
ームスプリッター５で反射され、更に球面レンズ８とシ
リンドリカルレンズ９からなる非点収差光学系を経て、
光検出器10に入射する。
ームスプリッター５で反射され、更に球面レンズ８とシ
リンドリカルレンズ９からなる非点収差光学系を経て、
光検出器10に入射する。
ここで、アパーチャ３は、入射光束を制限することに
より、記録媒体７上でのスポット径を希望の値にするた
めに用いる。該アパーチャ３は一点鎖線で示される本来
の光軸に関し対照的に固定配置されている。
より、記録媒体７上でのスポット径を希望の値にするた
めに用いる。該アパーチャ３は一点鎖線で示される本来
の光軸に関し対照的に固定配置されている。
また、光ヘッド本体にあけた開孔51は、アパーチャ３
で制限された光束がビームスプリッター５に入射し、そ
の時の反射成分を取り出すためのものであり、反射光束
のケラレを防止するために、反射光束径よりも充分大き
くしてある。
で制限された光束がビームスプリッター５に入射し、そ
の時の反射成分を取り出すためのものであり、反射光束
のケラレを防止するために、反射光束径よりも充分大き
くしてある。
第１実施例の光ヘッドにおけるAF制御には非点収差AF
方式を用い、AT制御には３ビームAT方式を用いる。それ
ぞれの方式は既に知られている事項であるため、ここで
は説明を省く。
方式を用い、AT制御には３ビームAT方式を用いる。それ
ぞれの方式は既に知られている事項であるため、ここで
は説明を省く。
また、記録媒体７とスポットの関係及び光検出器10の
構成と光検出器10と入射光との関係については、それぞ
れ従来例に示した第５図と第７図と同様であるため、こ
こでは説明を省く。
構成と光検出器10と入射光との関係については、それぞ
れ従来例に示した第５図と第７図と同様であるため、こ
こでは説明を省く。
ところで、半導体レーザの取付基準面に対するチップ
（発光部）の取付位置精度は±３゜程度である。
（発光部）の取付位置精度は±３゜程度である。
第１図において、半導体レーザ１が発する光が上記の
ような角度でコリメータレンズ２に入射すると、コリメ
ータレンズ２から出射する平行光束の軸は、上記一点鎖
線で示す本来の光軸に対して平行シフトし、そのまま平
行平板11に入射する。
ような角度でコリメータレンズ２に入射すると、コリメ
ータレンズ２から出射する平行光束の軸は、上記一点鎖
線で示す本来の光軸に対して平行シフトし、そのまま平
行平板11に入射する。
ここで、最小有効光束を決定しているアパーチャ３から
出射する光束の強度分布が上記本来の光軸に対して対称
になるように、平行平板11を光束に対して角度調整す
る。
出射する光束の強度分布が上記本来の光軸に対して対称
になるように、平行平板11を光束に対して角度調整す
る。
平行平板11の角度調整を行なうにあたり、アパーチャ
３での出射光束の強度分布を確認するため、光ヘッド本
体にあけた開孔51からTVカメラでアパーチャ面をモニタ
ーし、そのモニター情報を波形モニターに出力すること
により前記平行平板11の角度調整の情報とする。
３での出射光束の強度分布を確認するため、光ヘッド本
体にあけた開孔51からTVカメラでアパーチャ面をモニタ
ーし、そのモニター情報を波形モニターに出力すること
により前記平行平板11の角度調整の情報とする。
平行平板11の角度調整で得られた光束の本来の光軸に
対する対称性は、光検出器10上でも保存できるため、従
来の光ヘッドにあるような光ヘッドで生ずるAF及びATの
オフセットはなくなり、更に、AFエラー信号の波形変化
もおさえることができる。
対する対称性は、光検出器10上でも保存できるため、従
来の光ヘッドにあるような光ヘッドで生ずるAF及びATの
オフセットはなくなり、更に、AFエラー信号の波形変化
もおさえることができる。
また、前記光束の強度分布確認手段は、精度の面で充
分であり、さらに調整時間の短縮，容易さ等、作業性の
向上も達成できる。
分であり、さらに調整時間の短縮，容易さ等、作業性の
向上も達成できる。
以上のように、本発明の第１実施例では、従来におけ
る光ヘッドの問題点を解決することができる。
る光ヘッドの問題点を解決することができる。
本発明は、前記実施例に限らず種々の変形、応用が可
能である。
能である。
前記実施例では、光ヘッドの最小有効光束を決定する
部材としてアパーチャをとりあげたが、第２図に示すよ
うに対物レンズ６で最小有効光束を決定する光ヘッドも
考えられる。この場合は、対物レンズ６の近傍でかつ半
導体レーザ１側に平行平板11を設け、光束に対して角度
調整することにより、対物レンズ６から出射する光束の
強度分布を光軸に対して対称形にすることができるた
め、本発明の第１実施例と同様の効果を得ることができ
る。但し、この場合の強度分布の確認は、開孔51のかわ
りに対物レンズ６をTVカメラでモニターすることによっ
て可能となる。
部材としてアパーチャをとりあげたが、第２図に示すよ
うに対物レンズ６で最小有効光束を決定する光ヘッドも
考えられる。この場合は、対物レンズ６の近傍でかつ半
導体レーザ１側に平行平板11を設け、光束に対して角度
調整することにより、対物レンズ６から出射する光束の
強度分布を光軸に対して対称形にすることができるた
め、本発明の第１実施例と同様の効果を得ることができ
る。但し、この場合の強度分布の確認は、開孔51のかわ
りに対物レンズ６をTVカメラでモニターすることによっ
て可能となる。
また、光ヘッドの最小有効光束を決定する部材は、ア
パーチャ、対物レンズに限ることなく、いかなる部材で
もよい。その部材の近傍でかつ半導体レーザ１側に平行
平板を設け、同様に角度調整を行なうことにより、第１
実施例と同様の効果が得られる。
パーチャ、対物レンズに限ることなく、いかなる部材で
もよい。その部材の近傍でかつ半導体レーザ１側に平行
平板を設け、同様に角度調整を行なうことにより、第１
実施例と同様の効果が得られる。
また、第３図は、最小有効光束を決定する部材（アパ
ーチャ３）自体を移動させて光強度分布を変更する例で
あり、コリメータレンズ２から出射する平行光束の軸
が、一点鎖線で示す本来の光軸に対して平行シフトした
場合、アパーチャ３によって制限された出射光束の強度
分布が出射光束の軸に対して対称になるように、アパー
チャ３を光軸を横切る水平面内で移動させる。
ーチャ３）自体を移動させて光強度分布を変更する例で
あり、コリメータレンズ２から出射する平行光束の軸
が、一点鎖線で示す本来の光軸に対して平行シフトした
場合、アパーチャ３によって制限された出射光束の強度
分布が出射光束の軸に対して対称になるように、アパー
チャ３を光軸を横切る水平面内で移動させる。
但し、アパーチャ３からの出射光束は、本来の光軸か
ら平行シフトしたままなので、アパーチャ３の後に更に
平行平板11を設け、光束に対して該平行平板11を角度調
整することにより、出射光束の軸と本来の光軸とを近付
けることができる。これにより、第１実施例と同様の効
果が可能となる。
ら平行シフトしたままなので、アパーチャ３の後に更に
平行平板11を設け、光束に対して該平行平板11を角度調
整することにより、出射光束の軸と本来の光軸とを近付
けることができる。これにより、第１実施例と同様の効
果が可能となる。
以上、説明したように、本発明の光ヘッドでは、光軸
調整不良や半導体レーザの取付精度不良等が原因で発生
するAFやATのオフセット及びAFエラー信号の変動の問題
を簡便な手段で解決することができ、実用上の利点は大
きい。また、本発明の光ヘッドを用いることにより、望
ましい制御のもとでシステム全体を機能させることがで
きる。
調整不良や半導体レーザの取付精度不良等が原因で発生
するAFやATのオフセット及びAFエラー信号の変動の問題
を簡便な手段で解決することができ、実用上の利点は大
きい。また、本発明の光ヘッドを用いることにより、望
ましい制御のもとでシステム全体を機能させることがで
きる。
第１図は、本発明の第１実施例の光ヘッドの光学配置及
び光路図である。 第２図は、本発明の第２実施例の光ヘッドの光学配置及
び光路図である。 第３図は、本発明の第３実施例の光ヘッドの光学配置及
び光路図である。 第４図は、従来における光ヘッドの１例で、その光ヘッ
ドの光学配置及び光路図である。 第５図は、光学的情報記録媒体７上の案内トラック31と
スポットS1〜S3の位置関係を示した図である。 第６図は光学的情報記録媒体７の断面と入射光束を示し
た図である。 第７図は、光検出器10a〜10fの構成と、入射光束を示し
た図である。 第８図は、アパーチャから出射する光束の光強度分布を
示した図である。 第９図は、従来における光ヘッドの１例で、その光ヘッ
ドの光学配置及び光路図である。 1:半導体レーザ、2:コリメータレンズ、3:アパーチャ、
4:グレーティング、5:ビームスプリッタ、6:対物レン
ズ、7:光学的情報記録媒体、8:球面レンズ、9:シリンド
リカルレンズ、10:光検出器、11:平行平板、21:記録媒
体の表面、22:記録媒体面、31:案内トラック、51:開
孔、S1,S2,S3:記録媒体上のスポット、P1,P2,P3:光検出
器上のスポット像。
び光路図である。 第２図は、本発明の第２実施例の光ヘッドの光学配置及
び光路図である。 第３図は、本発明の第３実施例の光ヘッドの光学配置及
び光路図である。 第４図は、従来における光ヘッドの１例で、その光ヘッ
ドの光学配置及び光路図である。 第５図は、光学的情報記録媒体７上の案内トラック31と
スポットS1〜S3の位置関係を示した図である。 第６図は光学的情報記録媒体７の断面と入射光束を示し
た図である。 第７図は、光検出器10a〜10fの構成と、入射光束を示し
た図である。 第８図は、アパーチャから出射する光束の光強度分布を
示した図である。 第９図は、従来における光ヘッドの１例で、その光ヘッ
ドの光学配置及び光路図である。 1:半導体レーザ、2:コリメータレンズ、3:アパーチャ、
4:グレーティング、5:ビームスプリッタ、6:対物レン
ズ、7:光学的情報記録媒体、8:球面レンズ、9:シリンド
リカルレンズ、10:光検出器、11:平行平板、21:記録媒
体の表面、22:記録媒体面、31:案内トラック、51:開
孔、S1,S2,S3:記録媒体上のスポット、P1,P2,P3:光検出
器上のスポット像。
Claims (4)
- 【請求項１】光源から出射する光束を対物レンズで光学
的情報記録媒体上に微少スポットとして結像し、前記記
録媒体からの反射光を検知して、情報を記録または再生
する光ヘッドにおいて、 前記光源と対物レンズとの間に、光軸に対して平行平板
を傾けて取り付けることにより、前記光束の最小有効光
束径を決定する部材と共働して、該最小有効光束内の光
強度分布を、光軸を横切る方向に平行シフトさせること
を特徴とする光ヘッド。 - 【請求項２】光源から出射する光束を対物レンズで光学
的情報記録媒体上に微少スポットとして結像し、前記記
録媒体からの反射光を検知して、情報を記録または再生
する光ヘッドにおいて、 前記光源と対物レンズの間に平行平板を設け、該平行平
板の光軸に対する取り付け角度を変化させることによ
り、前記光束の最小有効光束径を決定する部材と共働し
て、該最小有効光束内の光強度分布を、光軸を横切る方
向に平行シフトさせることを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項３】光源から出射する光束をコリメータレンズ
で平行光束とし、前記平行平板を該コリメータレンズと
前記対物レンズとの間に設けたことを特徴とする請求項
１又は２に記載の光ヘッド。 - 【請求項４】前記光束の最小有効光束径を決定する部材
は、前記対物レンズであることを特徴とする請求項１又
は２に記載の光ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63128218A JP2654091B2 (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 光ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63128218A JP2654091B2 (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | 光ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01298538A JPH01298538A (ja) | 1989-12-01 |
| JP2654091B2 true JP2654091B2 (ja) | 1997-09-17 |
Family
ID=14979416
Family Applications (1)
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| JP (1) | JP2654091B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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1988
- 1988-05-27 JP JP63128218A patent/JP2654091B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01298538A (ja) | 1989-12-01 |
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