JPH09128771A - 光ヘッド - Google Patents
光ヘッドInfo
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- JPH09128771A JPH09128771A JP28333795A JP28333795A JPH09128771A JP H09128771 A JPH09128771 A JP H09128771A JP 28333795 A JP28333795 A JP 28333795A JP 28333795 A JP28333795 A JP 28333795A JP H09128771 A JPH09128771 A JP H09128771A
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- light
- light receiving
- optical head
- lens
- tracking error
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の光ヘッドは３ビーム方式でトラッキン
グエラーを検出していた。しかし３ビーム方式では記録
再生兼用の光ヘッドを構成しにくい。１ビーム方式での
トラッキングエラー検出手段としてプッシュプル法があ
るが、光軸の移動によりオフセットが生じる構造である
ため、採用しにくいものとなっている。 【解決手段】 受光部２を従来のファーフィールド位置
ではなく、ニアフィールド位置すなわち対物レンズ１の
焦点位置Ｆに接近した位置に設けている。ニアフィール
ド位置では、光軸Ｏがずれても受光部２上での光軸位置
に変化がなく、トラッキングエラー信号のオフセットが
生じない。ただしニアフィールド位置では集束光のスポ
ット系が小さいため、ボールレンズなどの収差発生手段
３を設け、受光部に当たる光の面積を拡大し、これによ
りトラッキングエラー信号の検出を可能にしている。
グエラーを検出していた。しかし３ビーム方式では記録
再生兼用の光ヘッドを構成しにくい。１ビーム方式での
トラッキングエラー検出手段としてプッシュプル法があ
るが、光軸の移動によりオフセットが生じる構造である
ため、採用しにくいものとなっている。 【解決手段】 受光部２を従来のファーフィールド位置
ではなく、ニアフィールド位置すなわち対物レンズ１の
焦点位置Ｆに接近した位置に設けている。ニアフィール
ド位置では、光軸Ｏがずれても受光部２上での光軸位置
に変化がなく、トラッキングエラー信号のオフセットが
生じない。ただしニアフィールド位置では集束光のスポ
ット系が小さいため、ボールレンズなどの収差発生手段
３を設け、受光部に当たる光の面積を拡大し、これによ
りトラッキングエラー信号の検出を可能にしている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体からの反
射光により情報を再生できる光ヘッドに係り、特に記録
媒体に照射される検知光のスポットが１つである１ビー
ム方式のものにおいて、オフセットのない高精度なトラ
ッキングエラーを検出できるようにした光ヘッドに関す
る。
射光により情報を再生できる光ヘッドに係り、特に記録
媒体に照射される検知光のスポットが１つである１ビー
ム方式のものにおいて、オフセットのない高精度なトラ
ッキングエラーを検出できるようにした光ヘッドに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ（コンパクトディスク）用の光ヘッ
ドなどにおいて、検知光のスポットがディスク上のトラ
ックを正確に走査しているか否かのトラッキングエラー
検出を行なう方法として、３ビーム方式を使用するのが
一般的である。３ビーム方式では、半導体レーザから発
せられる検知光が、回折格子により３つに分離され、主
ビームと、この主ビームの前後に位置する一対の副ビー
ムとなる。ディスク上のトラックを走査する際に一対の
副ビームの反射光量差を見ることにより、主ビームがト
ラック上を正確に走査しているかまたはいずれの方向へ
ずれているかが判断される。
ドなどにおいて、検知光のスポットがディスク上のトラ
ックを正確に走査しているか否かのトラッキングエラー
検出を行なう方法として、３ビーム方式を使用するのが
一般的である。３ビーム方式では、半導体レーザから発
せられる検知光が、回折格子により３つに分離され、主
ビームと、この主ビームの前後に位置する一対の副ビー
ムとなる。ディスク上のトラックを走査する際に一対の
副ビームの反射光量差を見ることにより、主ビームがト
ラック上を正確に走査しているかまたはいずれの方向へ
ずれているかが判断される。
【０００３】この３ビーム方式でのトラッキングエラー
検出は、エラー検出精度が高くまたエラー検出動作が安
定している利点がある。しかし、３ビーム方式では、前
述のように検知光を分離するために回折格子が必要にな
り、部品コストが高く、また回折格子の取り付け位置の
高精度な調整作業が必要となり組立コストも比較的に高
いものとなっている。また、ディスクに信号の記録を行
い且つ信号の再生も行われる録再兼用の光ヘッドでは、
検知光が３ビームに分割され主ビームの光量が低下して
いるため、ディスクの記録面に対し主ビームにより信号
の書き込みに必要な充分な加熱を行なうことができず、
また副ビームによっても記録面の加熱が行われてしまう
という問題がある。
検出は、エラー検出精度が高くまたエラー検出動作が安
定している利点がある。しかし、３ビーム方式では、前
述のように検知光を分離するために回折格子が必要にな
り、部品コストが高く、また回折格子の取り付け位置の
高精度な調整作業が必要となり組立コストも比較的に高
いものとなっている。また、ディスクに信号の記録を行
い且つ信号の再生も行われる録再兼用の光ヘッドでは、
検知光が３ビームに分割され主ビームの光量が低下して
いるため、ディスクの記録面に対し主ビームにより信号
の書き込みに必要な充分な加熱を行なうことができず、
また副ビームによっても記録面の加熱が行われてしまう
という問題がある。
【０００４】上記の問題点は、ディスクに１ビームの光
が照射される１ビーム方式を採用することにより解消で
きる。１ビーム方式でのトラッキングエラーの検出方法
としてプッシュプル法と呼ばれているものが良く知られ
ている。図６（Ａ）（Ｂ）はこのプッシュプル法を説明
しているものである。図６（Ａ）に示す例では、記録媒
体であるディスクＤからの反射光が、有限系の対物レン
ズ１により集束される。この反射光の集束位置（対物レ
ンズ１の焦点位置）をＦで示している。プッシュプル法
では、前記集束位置Ｆからやや離れたファーフィールド
位置に、少なくとも２分割された受光部２が設けられて
いる。図６（Ｂ）は受光部２での受光状態を模式的に示
している。ディスクＤでの検知光のスポットがトラック
から外れると、２分割の光検出部２ａと２ｂのうちのい
ずれか一方の受光光量が低下し、これによりトラッキン
グエラーが検出できる。
が照射される１ビーム方式を採用することにより解消で
きる。１ビーム方式でのトラッキングエラーの検出方法
としてプッシュプル法と呼ばれているものが良く知られ
ている。図６（Ａ）（Ｂ）はこのプッシュプル法を説明
しているものである。図６（Ａ）に示す例では、記録媒
体であるディスクＤからの反射光が、有限系の対物レン
ズ１により集束される。この反射光の集束位置（対物レ
ンズ１の焦点位置）をＦで示している。プッシュプル法
では、前記集束位置Ｆからやや離れたファーフィールド
位置に、少なくとも２分割された受光部２が設けられて
いる。図６（Ｂ）は受光部２での受光状態を模式的に示
している。ディスクＤでの検知光のスポットがトラック
から外れると、２分割の光検出部２ａと２ｂのうちのい
ずれか一方の受光光量が低下し、これによりトラッキン
グエラーが検出できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
プッシュプル法では、受光部２がファーフィールド位置
に設けられているため、トラッキングサーボ動作などに
より光軸Ｏが例えばＯ１で示すように移動すると、この
移動分により受光部２上の反射光のスポットの軸が大き
く移動してしまう。そのため、トラッキングエラーの正
確な検出ができず、オフセット状態になる。このような
欠点があるため、プッシュプル法によるトラッキングエ
ラー検出が実施されていないのが現状である。
プッシュプル法では、受光部２がファーフィールド位置
に設けられているため、トラッキングサーボ動作などに
より光軸Ｏが例えばＯ１で示すように移動すると、この
移動分により受光部２上の反射光のスポットの軸が大き
く移動してしまう。そのため、トラッキングエラーの正
確な検出ができず、オフセット状態になる。このような
欠点があるため、プッシュプル法によるトラッキングエ
ラー検出が実施されていないのが現状である。
【０００６】本発明は上記従来の課題を解決するもので
あり、１ビーム方式にてオフセットのないトラッキング
エラー検出を可能とした光ヘッドを提供することを目的
としている。
あり、１ビーム方式にてオフセットのないトラッキング
エラー検出を可能とした光ヘッドを提供することを目的
としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明による光ヘッド
は、記録媒体に検出光を照射する照射手段と、記録媒体
からの反射光を集束させるレンズと、前記反射光が集束
するニアフィールド位置に配置された受光部と、集束す
る反射光に収差を与えて受光部に当たる光の面積を拡大
する収差発生手段とを備え、受光部での複数の光検出部
の受光光量の差に基づいて記録媒体に対する検出光のト
ラッキングエラーが検出されることを特徴とするもので
ある。
は、記録媒体に検出光を照射する照射手段と、記録媒体
からの反射光を集束させるレンズと、前記反射光が集束
するニアフィールド位置に配置された受光部と、集束す
る反射光に収差を与えて受光部に当たる光の面積を拡大
する収差発生手段とを備え、受光部での複数の光検出部
の受光光量の差に基づいて記録媒体に対する検出光のト
ラッキングエラーが検出されることを特徴とするもので
ある。
【０００８】上記において、収差発生手段は、ボールレ
ンズ、または、受光部を覆い且つ光の入射部が球面また
は非球面とされた樹脂層、あるいは凸レンズまたは凹レ
ンズ、さらにはホログラムレンズにより構成できる。
ンズ、または、受光部を覆い且つ光の入射部が球面また
は非球面とされた樹脂層、あるいは凸レンズまたは凹レ
ンズ、さらにはホログラムレンズにより構成できる。
【０００９】本発明では、集束する反射光のニアフィー
ルド位置、すなわち集束位置（レンズの焦点位置）また
はこれにきわめて接近した位置に受光部が設けられてい
る。この場合、受光部の位置での反射光のスポットの径
がきわめて小さく、このままでは、記録媒体上にてスポ
ットがトラックから外れたときの受光光量の変化を検知
することができない。そこでニアフィールド位置に設け
られた受光部への反射光の入射経路にボールレンズなど
の収差発生手段を設け、受光部での受光スポット径を拡
大し、受光部での分割された光検出部での受光光量の比
較によりトラッキングエラーを検出することを可能にし
た。
ルド位置、すなわち集束位置（レンズの焦点位置）また
はこれにきわめて接近した位置に受光部が設けられてい
る。この場合、受光部の位置での反射光のスポットの径
がきわめて小さく、このままでは、記録媒体上にてスポ
ットがトラックから外れたときの受光光量の変化を検知
することができない。そこでニアフィールド位置に設け
られた受光部への反射光の入射経路にボールレンズなど
の収差発生手段を設け、受光部での受光スポット径を拡
大し、受光部での分割された光検出部での受光光量の比
較によりトラッキングエラーを検出することを可能にし
た。
【００１０】またニアフィールド位置に受光部が位置し
ていると、レンズが移動しても受光部の位置で光軸が移
動することがなく、オフセットが生じにくくなる。
ていると、レンズが移動しても受光部の位置で光軸が移
動することがなく、オフセットが生じにくくなる。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の光ヘッドの基本
的な構造を示す側面図、図２（Ａ）は図１ののニアフィ
ールド位置に設けられた受光部の拡大図、図２（Ｂ）
は、受光部に当たる反射光のスポットを示す説明図であ
る。符号Ｄは記録媒体としての光ディスクである。半導
体レーザなどの光源を備えた図示しない照射手段から検
知光が発せられ、この光が対物レンズ１により集束させ
られ、光ディスクＤの記録面にスポット照射される。記
録面からの反射光Ｂは、対物レンズ１により集束され
る。Ｆは反射光の集束位置すなわち対物レンズ１の焦点
位置を示している。図１では対物レンズが有限系であ
り、反射光Ｂは対物レンズ１により集束されるものとな
っている。ただし、対物レンズ１が無限系の場合には、
この対物レンズを経て戻った平行光となる反射光が、集
束レンズにより集束されることになる。
的な構造を示す側面図、図２（Ａ）は図１ののニアフィ
ールド位置に設けられた受光部の拡大図、図２（Ｂ）
は、受光部に当たる反射光のスポットを示す説明図であ
る。符号Ｄは記録媒体としての光ディスクである。半導
体レーザなどの光源を備えた図示しない照射手段から検
知光が発せられ、この光が対物レンズ１により集束させ
られ、光ディスクＤの記録面にスポット照射される。記
録面からの反射光Ｂは、対物レンズ１により集束され
る。Ｆは反射光の集束位置すなわち対物レンズ１の焦点
位置を示している。図１では対物レンズが有限系であ
り、反射光Ｂは対物レンズ１により集束されるものとな
っている。ただし、対物レンズ１が無限系の場合には、
この対物レンズを経て戻った平行光となる反射光が、集
束レンズにより集束されることになる。
【００１２】本発明では、受光部２がファーフィールド
位置ではなくニアフィールド位置、すなわち前記集束位
置Ｆまたはこれにきわめて接近した位置に設けられてい
る。図２（Ｂ）に示すように、受光部２はピンホトダイ
オードであり、少なくとも２つの光検出部２ａと２ｂに
分割されている。この受光部２への入射部には、反射光
Ｂに収差を発生させて、受光部２へ当たる光の面積を増
大させる収差発生手段３が設けられている。この収差発
生手段３はボールレンズであり、透明な接着剤４により
受光部２に接着されている。
位置ではなくニアフィールド位置、すなわち前記集束位
置Ｆまたはこれにきわめて接近した位置に設けられてい
る。図２（Ｂ）に示すように、受光部２はピンホトダイ
オードであり、少なくとも２つの光検出部２ａと２ｂに
分割されている。この受光部２への入射部には、反射光
Ｂに収差を発生させて、受光部２へ当たる光の面積を増
大させる収差発生手段３が設けられている。この収差発
生手段３はボールレンズであり、透明な接着剤４により
受光部２に接着されている。
【００１３】上記光ヘッドでは、受光部２がニアフィー
ルド位置に設けられているため、例えばトラッキングサ
ーボ動作などにより対物レンズ１が移動し、図１に示す
ように光軸ＯがＯ１の位置にずれたとしても、受光部２
上での光軸の位置ずれが生じない。よって従来のような
オフセットが発生しにくくなっている。
ルド位置に設けられているため、例えばトラッキングサ
ーボ動作などにより対物レンズ１が移動し、図１に示す
ように光軸ＯがＯ１の位置にずれたとしても、受光部２
上での光軸の位置ずれが生じない。よって従来のような
オフセットが発生しにくくなっている。
【００１４】またニアフィールド位置への反射光の戻り
経路に収差発生手段（ボールレンズ）３が設けられて、
反射光Ｂに収差が与えられるので、図２（Ｂ）に示すよ
うに、受光部２の分割された光検出部２ａと２ｂに対
し、ある程度広い面積にて光が当たる。光ディスクＤの
記録面上のトラックに対して検知光のスポットが外れる
と、受光部２に当たっている光のいずれかの方向の光量
が減少する。よって、光検出部２ａと２ｂの光量差を求
めることによりトラッキングエラーを検出することがで
きる。
経路に収差発生手段（ボールレンズ）３が設けられて、
反射光Ｂに収差が与えられるので、図２（Ｂ）に示すよ
うに、受光部２の分割された光検出部２ａと２ｂに対
し、ある程度広い面積にて光が当たる。光ディスクＤの
記録面上のトラックに対して検知光のスポットが外れる
と、受光部２に当たっている光のいずれかの方向の光量
が減少する。よって、光検出部２ａと２ｂの光量差を求
めることによりトラッキングエラーを検出することがで
きる。
【００１５】図３は、図１と図２に示す光ヘッドの変形
例を示している。図３では、基板５上に、２分割の光検
出部を有する受光部２が設置され、この受光部２がニア
フィールド位置に設置されている。基板５の表面には前
記受光部２を覆ってこれを保護する透明な樹脂層６が形
成されている。この樹脂層６の反射光Ｂの入射面６ａは
球面または非球面であり、この樹脂層６が、受光部２に
当たる光の面積を拡大する収差発生手段となっている。
例を示している。図３では、基板５上に、２分割の光検
出部を有する受光部２が設置され、この受光部２がニア
フィールド位置に設置されている。基板５の表面には前
記受光部２を覆ってこれを保護する透明な樹脂層６が形
成されている。この樹脂層６の反射光Ｂの入射面６ａは
球面または非球面であり、この樹脂層６が、受光部２に
当たる光の面積を拡大する収差発生手段となっている。
【００１６】図４は、本発明のさらに他の構成例を示し
ている。図４では検知光の照射手段を構成する半導体レ
ーザ７が示されている。半導体レーザ７からの検知光
は、ハーフミラー８により反射され、対物レンズ１から
光ディスクＤの記録面に照射される。光ディスクＤから
の反射光Ｂは対物レンズ１により集束させられハーフミ
ラー８を透過して直進するが、対物レンズ１の焦点位置
Ｆに接近したニアフィールド位置には、基板５に支持さ
れた受光部２が設けられている。そしてこの受光部２へ
の入射経路には収差発生手段として凸レンズ（または凹
レンズ）９が設けられている。
ている。図４では検知光の照射手段を構成する半導体レ
ーザ７が示されている。半導体レーザ７からの検知光
は、ハーフミラー８により反射され、対物レンズ１から
光ディスクＤの記録面に照射される。光ディスクＤから
の反射光Ｂは対物レンズ１により集束させられハーフミ
ラー８を透過して直進するが、対物レンズ１の焦点位置
Ｆに接近したニアフィールド位置には、基板５に支持さ
れた受光部２が設けられている。そしてこの受光部２へ
の入射経路には収差発生手段として凸レンズ（または凹
レンズ）９が設けられている。
【００１７】また凸レンズ９と受光部２との間には、フ
ォーカスエラー検出のためのナイフエッジ１０が設けら
れている。このナイフエッジ１０により反射光の半分が
遮光される。図４（Ｂ）に示すように、受光部２は４分
割された光検出部２ｃ、２ｄ、２ｅ、２ｆを有してい
る。
ォーカスエラー検出のためのナイフエッジ１０が設けら
れている。このナイフエッジ１０により反射光の半分が
遮光される。図４（Ｂ）に示すように、受光部２は４分
割された光検出部２ｃ、２ｄ、２ｅ、２ｆを有してい
る。
【００１８】この例においても、受光部２に当たる光の
うちの、Ｔ方向のいずれかの光量が低下することによ
り、トラッキングエラーを検出できる。すなわち光検出
部２ｃと２ｄの検知光量の和と、光検出部２ｅと２ｆの
検知光量の和とを比較することによりトラッキングエラ
ーを得ることができる。また、ナイフエッジ１０を用い
ているため、Ｆ方向の光量の分布がフォーカスエラーに
より相違する。よって、光検出部２ｃと２ｅの検知光量
の和と、光検出部２ｄと２ｆの検知光量の和を比較する
ことにより、フォーカスエラーを検出することができ
る。図４においても、受光部２がニアフィールド位置に
設けられているため、光軸Ｏのずれによる影響が少な
く、オフセットが生じにくい。
うちの、Ｔ方向のいずれかの光量が低下することによ
り、トラッキングエラーを検出できる。すなわち光検出
部２ｃと２ｄの検知光量の和と、光検出部２ｅと２ｆの
検知光量の和とを比較することによりトラッキングエラ
ーを得ることができる。また、ナイフエッジ１０を用い
ているため、Ｆ方向の光量の分布がフォーカスエラーに
より相違する。よって、光検出部２ｃと２ｅの検知光量
の和と、光検出部２ｄと２ｆの検知光量の和を比較する
ことにより、フォーカスエラーを検出することができ
る。図４においても、受光部２がニアフィールド位置に
設けられているため、光軸Ｏのずれによる影響が少な
く、オフセットが生じにくい。
【００１９】図５は本発明の光ヘッドのさらに他の構成
例を示している。図５に示す光ヘッドでは、照射手段を
構成する半導体レーザ１６、および受光部１７、１７
が、対物レンズ１による集束位置Ｆに接近したニアフィ
ールド位置に設けられている。半導体レーザ１６から発
せられる検知光はホログラムレンズ１５を透過し、対物
レンズ１で集束されて光ディスクＤの記録面に照射され
る。光ディスクＤからの反射光Ｂは、ホログラムレンズ
１５により２つのビームＢ１とＢ２に分離される。図５
（Ｂ）に示すように、ホログラムレンズ１５により分離
されたビームＢ１とＢ２はそれぞれ、ナイフエッジを経
たのと同様に、反射光Ｂの半分の光量となる。また、ホ
ログラムレンズ１５では、分割される各ビームＢ１とＢ
２に収差を与え、ニアフィールド位置にある受光部１７
と１７に当たる光の照射面積を拡大し、図５（Ｂ）に示
す受光部１７の分割された光検出部によりトラッキング
エラーが検出できるものとなっている。
例を示している。図５に示す光ヘッドでは、照射手段を
構成する半導体レーザ１６、および受光部１７、１７
が、対物レンズ１による集束位置Ｆに接近したニアフィ
ールド位置に設けられている。半導体レーザ１６から発
せられる検知光はホログラムレンズ１５を透過し、対物
レンズ１で集束されて光ディスクＤの記録面に照射され
る。光ディスクＤからの反射光Ｂは、ホログラムレンズ
１５により２つのビームＢ１とＢ２に分離される。図５
（Ｂ）に示すように、ホログラムレンズ１５により分離
されたビームＢ１とＢ２はそれぞれ、ナイフエッジを経
たのと同様に、反射光Ｂの半分の光量となる。また、ホ
ログラムレンズ１５では、分割される各ビームＢ１とＢ
２に収差を与え、ニアフィールド位置にある受光部１７
と１７に当たる光の照射面積を拡大し、図５（Ｂ）に示
す受光部１７の分割された光検出部によりトラッキング
エラーが検出できるものとなっている。
【００２０】図５（Ｂ）に示すように、ニアフィールド
位置に設けられた一対の受光部１７は、４つの光検出部
１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄに分割されている。図
５（Ｂ）では、それぞれの受光部１７での各光検出部の
符号を左右対称に示している。この例では、図４（Ｂ）
に示したのと同様に、両受光部１７、１７において、光
検出部１７ａと１７ｂの検知光量の和と、光検出部１７
ｃと１７ｄの検知光量の和を比較することにより、トラ
ッキングエラーを検出でき、また光検出部１７ａと１７
ｃの検知光量の和と、光検出部１７ｂと１７ｄの検知光
量の和とを比較することにより、フォーカスエラーを検
出できる。また図５では、２つに分割されたビームＢ１
とＢ２が共に受光部１７により検知されるため、検知さ
れる光量の無駄がない。
位置に設けられた一対の受光部１７は、４つの光検出部
１７ａ、１７ｂ、１７ｃ、１７ｄに分割されている。図
５（Ｂ）では、それぞれの受光部１７での各光検出部の
符号を左右対称に示している。この例では、図４（Ｂ）
に示したのと同様に、両受光部１７、１７において、光
検出部１７ａと１７ｂの検知光量の和と、光検出部１７
ｃと１７ｄの検知光量の和を比較することにより、トラ
ッキングエラーを検出でき、また光検出部１７ａと１７
ｃの検知光量の和と、光検出部１７ｂと１７ｄの検知光
量の和とを比較することにより、フォーカスエラーを検
出できる。また図５では、２つに分割されたビームＢ１
とＢ２が共に受光部１７により検知されるため、検知さ
れる光量の無駄がない。
【００２１】この例においても、受光部１７、１７がニ
アフィールド位置にあるため、光軸の傾きまたはずれに
よるオフセットが生じにくいものとなる。なお、図５に
示した例では、前述のようにホログラムレンズ１５の構
成により、このホログラムレンズ１５により分離された
ビームＢ１とＢ２に収差が与えられて、受光部１７と１
７に当たる光の面積が拡大されているが、ホログラムレ
ンズ１５においてＢ１とＢ２へのビームの分離のみを行
い、各受光部１７と１７への入射部に、図２に示すボー
ルレンズなどの収差発生手段を設けて、受光部１７と１
７に当たる光の面積を拡大してもよい。
アフィールド位置にあるため、光軸の傾きまたはずれに
よるオフセットが生じにくいものとなる。なお、図５に
示した例では、前述のようにホログラムレンズ１５の構
成により、このホログラムレンズ１５により分離された
ビームＢ１とＢ２に収差が与えられて、受光部１７と１
７に当たる光の面積が拡大されているが、ホログラムレ
ンズ１５においてＢ１とＢ２へのビームの分離のみを行
い、各受光部１７と１７への入射部に、図２に示すボー
ルレンズなどの収差発生手段を設けて、受光部１７と１
７に当たる光の面積を拡大してもよい。
【００２２】なお、本発明は、ＣＤやＣＤ−ＲＯＭ用の
再生ヘッドのみならず、ＤＶＤ（ディジタル・ビデオ・
ディスク）などの録再兼用の光ヘッドに適している。す
なわち１ビーム方式での正確なトラッキングエラー検出
ができ、またこの１ビーム方式により記録動作に非常に
有利になる。
再生ヘッドのみならず、ＤＶＤ（ディジタル・ビデオ・
ディスク）などの録再兼用の光ヘッドに適している。す
なわち１ビーム方式での正確なトラッキングエラー検出
ができ、またこの１ビーム方式により記録動作に非常に
有利になる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように本発明では、１ビーム方式
により正確なトラッキングエラーの検出が可能であるた
め、従来の３ビーム方式のように光を分離する回折格子
が不要になり、またこの回折格子の取り付け調整作業も
不要となって、低コストにて製造できる。
により正確なトラッキングエラーの検出が可能であるた
め、従来の３ビーム方式のように光を分離する回折格子
が不要になり、またこの回折格子の取り付け調整作業も
不要となって、低コストにて製造できる。
【００２４】また、受光部をニアフィールド位置に設け
てているため、光軸の移動による影響を受けず、トラッ
キングエラー信号にオフセットが生じにくくなり、トラ
ッキングエラー検出を高精度に行なえるものとなる。
てているため、光軸の移動による影響を受けず、トラッ
キングエラー信号にオフセットが生じにくくなり、トラ
ッキングエラー検出を高精度に行なえるものとなる。
【図１】本発明の光ヘッドの基本的な構成を示す側面
図、
図、
【図２】（Ａ）は図１の光ヘッドの受光部と収差発生手
段を示す拡大側面図、（Ｂ）は受光部での光検知状態を
示す説明図、
段を示す拡大側面図、（Ｂ）は受光部での光検知状態を
示す説明図、
【図３】図１に示す光ヘッドの変形例を示すものであり
収差発生手段の拡大側面図、
収差発生手段の拡大側面図、
【図４】（Ａ）は他の構成の光ヘッドの全体構造を示す
側面図、（Ｂ）は受光部での光検知状態を示す説明図、
側面図、（Ｂ）は受光部での光検知状態を示す説明図、
【図５】（Ａ）は、さらに他の構成の光ヘッドの全体構
造を示す側面図、（Ｂ）は受光部での光検知状態を示す
説明図、
造を示す側面図、（Ｂ）は受光部での光検知状態を示す
説明図、
【図６】（Ａ）は従来のプッシュプル法によるトラッキ
ングエラー検出法を示す側面図、（Ｂ）は受光部での光
検知状態を示す説明図、
ングエラー検出法を示す側面図、（Ｂ）は受光部での光
検知状態を示す説明図、
１ 対物レンズ ２ 受光部 ３ 収差発生手段（ボールレンズ） ６ 樹脂層 ９ 凸レンズ １０ ナイフエッジ １５ ホログラムレンズ、 １６ 半導体レーザ １７ 受光部 Ｂ 反射光 Ｄ 光ディスク
Claims (5)
- 【請求項１】 記録媒体に検出光を照射する照射手段
と、記録媒体からの反射光を集束させるレンズと、前記
反射光が集束するニアフィールド位置に配置された受光
部と、集束する反射光に収差を与えて受光部に当たる光
の面積を拡大する収差発生手段とを備え、受光部での複
数の光検出部の受光光量の差に基づいて記録媒体に対す
る検出光のトラッキングエラーが検出されることを特徴
とする光ヘッド。 - 【請求項２】 収差発生手段は、ボールレンズである請
求項１記載の光ヘッド。 - 【請求項３】 収差発生手段は、受光部を覆い、且つ光
の入射部が球面または非球面とされた樹脂層である請求
項１記載の光ヘッド。 - 【請求項４】 収差発生手段は、凸レンズまたは凹レン
ズである請求項１記載の光ヘッド。 - 【請求項５】 収差発生手段は、ホログラムレンズであ
る請求項１記載の光ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28333795A JPH09128771A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 光ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28333795A JPH09128771A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 光ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09128771A true JPH09128771A (ja) | 1997-05-16 |
Family
ID=17664179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28333795A Pending JPH09128771A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 光ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09128771A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020076484A (ko) * | 2001-03-28 | 2002-10-11 | 삼성전기주식회사 | 틸트 검출장치 |
| CN1311447C (zh) * | 2002-01-23 | 2007-04-18 | 松下电器产业株式会社 | 光盘装置 |
-
1995
- 1995-10-31 JP JP28333795A patent/JPH09128771A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020076484A (ko) * | 2001-03-28 | 2002-10-11 | 삼성전기주식회사 | 틸트 검출장치 |
| CN1311447C (zh) * | 2002-01-23 | 2007-04-18 | 松下电器产业株式会社 | 光盘装置 |
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