JP2507023B2 - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JP2507023B2 JP2507023B2 JP1036824A JP3682489A JP2507023B2 JP 2507023 B2 JP2507023 B2 JP 2507023B2 JP 1036824 A JP1036824 A JP 1036824A JP 3682489 A JP3682489 A JP 3682489A JP 2507023 B2 JP2507023 B2 JP 2507023B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体レーザの光を絞った微小スポットを用
いて光ディスクの情報記録面に情報を記録したり、ある
いは記録した情報を消去・再生する光ディスク装置に用
いる光ヘッド装置に関するものである。
いて光ディスクの情報記録面に情報を記録したり、ある
いは記録した情報を消去・再生する光ディスク装置に用
いる光ヘッド装置に関するものである。
従来の技術 従来、光ディスク装置に用いられている光ヘッド装置
としては、例えば特開昭62−97141号公報に示されてい
る。
としては、例えば特開昭62−97141号公報に示されてい
る。
以下に、第２図を用いて従来の光ヘッド装置について
説明する。第２図において１は光を発生する半導体レー
ザであり、1aはその中にある半導体レーザの発光素子1a
及び第１の光検出器1bより構成されている。この第１の
光検出器1bは発光素子の光ディスク側と反対の方向に発
する後光をモニターする。２はホログラム素子で、光デ
ィスク４からの反射光を回折・分離する。３は集光レン
ズであり、半導体レーザ１の光を光ディスク４上で微小
スポットに絞る。４は光ディスク、５は光ディスク４の
情報記録面であり、半導体レーザ１の光の微小スポット
で情報が記録されたり、再生されたりする。６は焦点で
あり、情報記録面５上の半導体レーザ１の光の微小スポ
ットの焦点を示す。７は半導体レーザ１から光ディスク
４に入射する入射光である。８は後光であり、半導体レ
ーザ１から光ディスク４と反対方向に向いて、第１の光
検出器1bでモニターされ、半導体レーザ１の光出力の制
御に用いられる。９及び10は光ディスク４からの反射光
であり、ホログラム素子２で回折・分離されたものであ
る。11は２分割した第２の光検出器であり、２つの光検
出器11aと11bとから構成されて反射光９を検出する。12
は同じく２分割した第２の光検出器で、２つの光検出器
12aと12bとから構成されて反射光10を検出する。
説明する。第２図において１は光を発生する半導体レー
ザであり、1aはその中にある半導体レーザの発光素子1a
及び第１の光検出器1bより構成されている。この第１の
光検出器1bは発光素子の光ディスク側と反対の方向に発
する後光をモニターする。２はホログラム素子で、光デ
ィスク４からの反射光を回折・分離する。３は集光レン
ズであり、半導体レーザ１の光を光ディスク４上で微小
スポットに絞る。４は光ディスク、５は光ディスク４の
情報記録面であり、半導体レーザ１の光の微小スポット
で情報が記録されたり、再生されたりする。６は焦点で
あり、情報記録面５上の半導体レーザ１の光の微小スポ
ットの焦点を示す。７は半導体レーザ１から光ディスク
４に入射する入射光である。８は後光であり、半導体レ
ーザ１から光ディスク４と反対方向に向いて、第１の光
検出器1bでモニターされ、半導体レーザ１の光出力の制
御に用いられる。９及び10は光ディスク４からの反射光
であり、ホログラム素子２で回折・分離されたものであ
る。11は２分割した第２の光検出器であり、２つの光検
出器11aと11bとから構成されて反射光９を検出する。12
は同じく２分割した第２の光検出器で、２つの光検出器
12aと12bとから構成されて反射光10を検出する。
第３図は、第２の光検出器11及び12の出力からフォー
カス誤差信号がどのように作られるかを示した図であ
る。同図において、第２の光検出器11の２つの光検出器
11a及び11bの出力は差動アンプ13により差動がとられ、
14の差動出力V1となる（V1＝11aの出力−11bの出力）。
同様に第２の光検出器12の２つの光検出器12a及び12bの
出力は差動アンプ15により差動がとられ、16の差動出力
V2となる（V2＝12aの出力−12bの出力）。差動出力V1と
V2とはさらに差動アンプ17で差動がとられ、18のフォー
カス誤差信号FEになる。
カス誤差信号がどのように作られるかを示した図であ
る。同図において、第２の光検出器11の２つの光検出器
11a及び11bの出力は差動アンプ13により差動がとられ、
14の差動出力V1となる（V1＝11aの出力−11bの出力）。
同様に第２の光検出器12の２つの光検出器12a及び12bの
出力は差動アンプ15により差動がとられ、16の差動出力
V2となる（V2＝12aの出力−12bの出力）。差動出力V1と
V2とはさらに差動アンプ17で差動がとられ、18のフォー
カス誤差信号FEになる。
以上のように構成された光ヘッドについて、以下その
動作について説明する。ここではフォーカス誤差信号に
ついて説明し、トラッキング誤差信号については省略す
る。
動作について説明する。ここではフォーカス誤差信号に
ついて説明し、トラッキング誤差信号については省略す
る。
まず半導体レーザ１からの入射光７が光ディスク４の
情報記録面に焦点を結ぶように集光レンズ３の位置を制
御する必要がある。これはフォーカス制御と呼ばれ、光
ディスク４からの反射光をホログラム素子２により２つ
の反射光9,10に回折・分離して、それらの差信号より18
のフォーカス誤差信号FEを発生する。具体的にはジャス
トフォーカスの時には第２の光検出器11の２分割線の真
中に反射光９が入り、その差信号出力V1＝11a−11bはゼ
ロになる。また第２の光検出器11の２分割線の真中に反
射光９が入り、その差信号出力V2＝12a−12bはゼロにな
る。２つの差信号V1とV2の差信号であるフォーカス誤差
信号FEはゼロになる。
情報記録面に焦点を結ぶように集光レンズ３の位置を制
御する必要がある。これはフォーカス制御と呼ばれ、光
ディスク４からの反射光をホログラム素子２により２つ
の反射光9,10に回折・分離して、それらの差信号より18
のフォーカス誤差信号FEを発生する。具体的にはジャス
トフォーカスの時には第２の光検出器11の２分割線の真
中に反射光９が入り、その差信号出力V1＝11a−11bはゼ
ロになる。また第２の光検出器11の２分割線の真中に反
射光９が入り、その差信号出力V2＝12a−12bはゼロにな
る。２つの差信号V1とV2の差信号であるフォーカス誤差
信号FEはゼロになる。
次にフォーカスがずれた場合は、光ディスク４からの
反射光が光検出器11,12の２分割線の真中に入らず、ど
ちらかに片寄る。例えば反射光の片寄りで、光検出器11
aと12aに光が入り、光検出器11bと12aに光が入らない。
このためそれらの差信号であるフォーカス誤差信号FEが
ある値を持つ。回路側ではこのフォーカス誤差信号FEが
ゼロになるようにフォーカス制御をかける。
反射光が光検出器11,12の２分割線の真中に入らず、ど
ちらかに片寄る。例えば反射光の片寄りで、光検出器11
aと12aに光が入り、光検出器11bと12aに光が入らない。
このためそれらの差信号であるフォーカス誤差信号FEが
ある値を持つ。回路側ではこのフォーカス誤差信号FEが
ゼロになるようにフォーカス制御をかける。
また第２の光検出器11と12の出力はその和をとって、
光ディスク４の情報を読み取るのに利用される。
光ディスク４の情報を読み取るのに利用される。
一方、半導体レーザ１の光出力は、温度や経時変化に
より大きく変動することがあり、光ディスク装置の記録
や再生等の信頼性に影響する。このため光出力を一定に
保つために、半導体レーザ１の後光８を第１の光検出器
1bでモニターして制御をかけている。
より大きく変動することがあり、光ディスク装置の記録
や再生等の信頼性に影響する。このため光出力を一定に
保つために、半導体レーザ１の後光８を第１の光検出器
1bでモニターして制御をかけている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記のような構成では、第１の光検出器
1bと、第２の光検出器11,12とが別々に構成されている
ため、光ヘッドの組み立て・調整が複雑になること、ま
た温度や経時変化により機械的な固定がずれ、各々の光
検出器の相対位置が動くことにより信頼性が低下するこ
と、及びいくつもの光検出器を用いるためコストを下げ
ることが困難である等の課題を有していた。
1bと、第２の光検出器11,12とが別々に構成されている
ため、光ヘッドの組み立て・調整が複雑になること、ま
た温度や経時変化により機械的な固定がずれ、各々の光
検出器の相対位置が動くことにより信頼性が低下するこ
と、及びいくつもの光検出器を用いるためコストを下げ
ることが困難である等の課題を有していた。
本発明はかかる点に鑑み、各々の光ヘッドの組立や調
整を不要とし、温度や経時変化による影響も無くして信
頼性を向上させ、またコストを低減させる光ヘッド装置
を提供することを目的とする。
整を不要とし、温度や経時変化による影響も無くして信
頼性を向上させ、またコストを低減させる光ヘッド装置
を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は、半導体レーザと情報記録面との間にあっ
て、情報記録面からの反射光により回折光を作り、半導
体レーザの光の情報記録面に対するフォーカス誤差ある
いはトラッキング誤差に対応する回折光の変化を発生す
るホログラム素子と、半導体レーザの情報記録面に発す
る光と反対方向に発する光をモニターする第１の光検出
器と、前記第１の光検出器を構成する半導体基板と同じ
半導体基板上に回折光の変化を検出する第２の光検出器
を一体的に構成した光ヘッドである。
て、情報記録面からの反射光により回折光を作り、半導
体レーザの光の情報記録面に対するフォーカス誤差ある
いはトラッキング誤差に対応する回折光の変化を発生す
るホログラム素子と、半導体レーザの情報記録面に発す
る光と反対方向に発する光をモニターする第１の光検出
器と、前記第１の光検出器を構成する半導体基板と同じ
半導体基板上に回折光の変化を検出する第２の光検出器
を一体的に構成した光ヘッドである。
作用 本発明は前記した構成により、半導体レーザの後光を
モニターする第１の光検出器を構成する同じ半導体基板
上に、フォーカス誤差あるいはトラッキング誤差に対応
する回折光の変化を検出する第２の光検出器を構成する
ことで、第１と第２の光検出器を一体化し、光ヘッドの
信頼性を向上させ、コストを低減させる。
モニターする第１の光検出器を構成する同じ半導体基板
上に、フォーカス誤差あるいはトラッキング誤差に対応
する回折光の変化を検出する第２の光検出器を構成する
ことで、第１と第２の光検出器を一体化し、光ヘッドの
信頼性を向上させ、コストを低減させる。
実施例 第１図は本発明の一実施例における光ヘッド装置を示
す概念図である。先に説明した従来例の第２図で変更し
た部分を説明する。
す概念図である。先に説明した従来例の第２図で変更し
た部分を説明する。
１は半導体レーザで、発光素子1aと、後光８をモニタ
ーする第１の光検出器1bの他に、光ディスク４からの反
射光９、10を検出する第２の光検出器11,12も内蔵して
いる。第１の光検出器1bと第２の光検出器11,12が一体
化され、同じ半導体基板上に作製されている。
ーする第１の光検出器1bの他に、光ディスク４からの反
射光９、10を検出する第２の光検出器11,12も内蔵して
いる。第１の光検出器1bと第２の光検出器11,12が一体
化され、同じ半導体基板上に作製されている。
以上のように構成された光ヘッドについて、以下その
動作を説明する。以下の説明でフォーカス誤差信号FEの
発生回路は従来例の第３図と全く同様である。
動作を説明する。以下の説明でフォーカス誤差信号FEの
発生回路は従来例の第３図と全く同様である。
ホログラム素子２は、第１の光検出器1bの受光平面近
傍において、フォーカス誤差信号あるいはトラッキング
誤差信号の検出が出来るように、反射光を回折・分離す
る。このため第１の光検出器1bと一体化した第２の光検
出器11,12のそれぞれの差信号11a−11b,12a−12bの差信
号をとることでフォーカス誤差信号FEを取り出せる。具
体的にはジャストフォーカスの時には第２の光検出器11
の２分割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力V1
＝11a−11bはゼロになる。また第２の光検出器11の２分
割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力V2＝12a
−12bはゼロになる。２つの差信号V1とV2の差信号であ
るフォーカス誤差信号FEはゼロになる。
傍において、フォーカス誤差信号あるいはトラッキング
誤差信号の検出が出来るように、反射光を回折・分離す
る。このため第１の光検出器1bと一体化した第２の光検
出器11,12のそれぞれの差信号11a−11b,12a−12bの差信
号をとることでフォーカス誤差信号FEを取り出せる。具
体的にはジャストフォーカスの時には第２の光検出器11
の２分割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力V1
＝11a−11bはゼロになる。また第２の光検出器11の２分
割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力V2＝12a
−12bはゼロになる。２つの差信号V1とV2の差信号であ
るフォーカス誤差信号FEはゼロになる。
次にフォーカスがずれた場合は、光ディスク４からの
反射光が光検出器11,12の２分割線の真中に入らず、ど
ちらかに片寄る。このためそれらの差信号であるフォー
カス誤差信号FEがある値を持つ。回路側ではこのフォー
カス誤差信号FEがゼロになるようにしてフォーカス制御
をかける。
反射光が光検出器11,12の２分割線の真中に入らず、ど
ちらかに片寄る。このためそれらの差信号であるフォー
カス誤差信号FEがある値を持つ。回路側ではこのフォー
カス誤差信号FEがゼロになるようにしてフォーカス制御
をかける。
以上のように本実施例によれば、ホログラム素子を用
いて光ディスクからの反射光を回折・分離させ、半導体
レーザの後光をモニターする第１の光検出器を構成する
同じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはトラッキ
ング誤差に対応する回折光の変化を検出する第２の光検
出器を構成することで、第１と第２の光検出器を一体化
し、光ヘッドの信頼性を向上させ、コストを低減させる
ことができる。
いて光ディスクからの反射光を回折・分離させ、半導体
レーザの後光をモニターする第１の光検出器を構成する
同じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはトラッキ
ング誤差に対応する回折光の変化を検出する第２の光検
出器を構成することで、第１と第２の光検出器を一体化
し、光ヘッドの信頼性を向上させ、コストを低減させる
ことができる。
なお本実施例においてフォーカス誤差信号の検出はナ
イフエッジ法を用いたが、これはホログラム素子の回折
パターンを変えて、スポットサイズ検出でも良いし、非
点収差法でも構わない。
イフエッジ法を用いたが、これはホログラム素子の回折
パターンを変えて、スポットサイズ検出でも良いし、非
点収差法でも構わない。
発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、ホログラム素
子を用いて光ディスクからの反射光を回折・分離させ、
半導体レーザの後光をモニターする第１の光検出器を構
成する同じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはト
ラッキング誤差に対応する回折光の変化を検出する第２
の光検出器を一体的に構成することで、光ヘッドの信頼
性を向上させると共に、コストを低減させることがで
き、その実用的効果は大きい。
子を用いて光ディスクからの反射光を回折・分離させ、
半導体レーザの後光をモニターする第１の光検出器を構
成する同じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはト
ラッキング誤差に対応する回折光の変化を検出する第２
の光検出器を一体的に構成することで、光ヘッドの信頼
性を向上させると共に、コストを低減させることがで
き、その実用的効果は大きい。
第１図は本発明における一実施例の光ヘッド装置の概念
図、第２図は従来の光ヘッド装置の概念図、第３図はフ
ォーカス誤差信号の発生回路図である。 １……半導体レーザ、1a……第１の光検出器、２……ホ
ログラム素子、３……集光レンズ、４……光ディスク、
７……入射光、８……後光、９……反射光、10……反射
光、11……第２の光検出器、12……第２の光検出器、1
3,15,17……差動アンプ、18……フォーカス誤差信号F
E。
図、第２図は従来の光ヘッド装置の概念図、第３図はフ
ォーカス誤差信号の発生回路図である。 １……半導体レーザ、1a……第１の光検出器、２……ホ
ログラム素子、３……集光レンズ、４……光ディスク、
７……入射光、８……後光、９……反射光、10……反射
光、11……第２の光検出器、12……第２の光検出器、1
3,15,17……差動アンプ、18……フォーカス誤差信号F
E。
Claims (1)
- 【請求項１】半導体レーザの光を情報記録面に入射し、
その情報記録面からの反射光をホログラム素子により回
折・分離して光検出器に導き、情報の再生あるいは記録
を行なう光ヘッド装置において、半導体レーザの情報記
録面に発する光と反対方向に発する光をモニターする第
１の光検出器と、前記第１の光検出器を構成する半導体
基板と同じ半導体基板上に前記回折光の変化を検出する
少なくとも２つの第２の光検出器とを一体的に構成した
ことを特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1036824A JP2507023B2 (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1036824A JP2507023B2 (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02216629A JPH02216629A (ja) | 1990-08-29 |
| JP2507023B2 true JP2507023B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=12480502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1036824A Expired - Fee Related JP2507023B2 (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2507023B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08153336A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
| KR100230264B1 (ko) * | 1996-12-06 | 1999-11-15 | 윤종용 | 광픽업장치 |
-
1989
- 1989-02-15 JP JP1036824A patent/JP2507023B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02216629A (ja) | 1990-08-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |