JP2623796B2 - 光ヘッド装置及びその組立方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、対象物体に光ビームを照射し、かつ、その
光ビームの焦点位置と対象物体との位置関係を検知する
ために用いる光ヘッド装置に関するものであり、特に、
光情報装置において、情報の記録または再生を行う光ヘ
ッド装置に好適なものである。

従来の技術 ホログラムを用いて光ヘッドの光学系を簡略化したも
のとして、最近では、第11図に示すようなものがある。
（例えば、Y.KIMURA et.al:アイエスオーエム（ISOM）'
87予稿集（1987）P.195） 第11図において、１は半導体レーザ光源である。この
光源１から出射したビーム７はホログラム３を透過して
対物レンズ４に入射し、ディスク５上に集光される。デ
ィスク５で反射した光はもとの光路を逆にたどってホロ
グラム３に入射する。ホログラム３はH1〜H4に四分割さ
れていて、それぞれ、P1〜P4に相当する位置にある各点
光源から出る球面波と、半導体レーザ光源１の位置に相
当する点から出る球面波の干渉として独立に記録されて
いる。この時、ホログラム３のH1〜H4に入射したビーム
から、それぞれP1〜P4に像形成する回折光８が生じて、
ディテクターSS1〜SS6に入射する。ディテクターはSS1
〜SS6の六つの領域がある。第12図はSS1〜SS4のディテ
クター上での回折光の様子を模式的に示したもので、ジ
ャストフォーカス位置の場合（ｂ）と、ジャストフォー
カス位置前後の場合（ａ）、（ｃ）を示す。従って、フ
ォーカスエラー信号FEは、 FE＝（SS1＋SS4）−（SS2＋SS3） ……（１） という演算によって得られる。このフォーカスエラー信
号の様子を第12図（ｄ）に示す。また第13図はSS5、SS6
のディテクター上での回折光の様子を模式的に示したも
ので、トラッキング制御の正確にかかった状態（ｂ）
と、その前後（ａ）、（ｃ）を示している（なお、ここ
で中央部のフォーカスエラー信号検出用のビームは図示
されていない）。従って、トラッキング追従のために使
用するトラッキングエラー信号TEは、 TE＝SS5−SS6 ……（２） という演算によって得られる。

発明が解決しようとする課題 しかし、かかるホログラム素子を用いた光学系構成に
よれば、高感度のフォーカスエラー信号を得るためには
フォーカスエラー信号検出用の回折光８は、必ずディテ
クターの分割線上100になければならない。なぜならデ
ィテクター上でジャストフォーカス時に第14図（ｂ）の
様に回折光８が配置されたとすると、デフォーカスによ
って回折光が第14図（ａ）や（ｃ）の様に変化したとき
フォーカスエラー信号（FE）は第14図（ｄ）の様になり
フォーカスエラー信号のオフセットが発生する。

また、ディテクター上でジャストフォーカス時に第15
図（ｂ）の様に回折光８が配置されたとすると、デフォ
ーカスによって回折光が第15図（ａ）や（ｃ）の様に変
化したときフォーカスエラー信号（FE）は第15図（ｄ）
の様になり、フォーカスエラー信号の感度がジャストフ
ォーカス点前後で極端に低下するという難点が生じるか
らである。

ところが、フォーカスエラー信号検出用の回折光をデ
ィテクターの分割線上に配置するためには、０次回折光
の集光点とディテクターの相対位置が高精度に設定さ
れ、かつ、ホログラムの回転角度も高精度に設定されな
ければならない。このため、光ヘッド装置の組立におい
て、調整工程に多大のコストと時間が必要になるという
課題を有する。

課題を解決するための手段 本発明では上述の問題点を解決するため、フォーカス
エラー信号検出には一対の集光位置の異なる光ビームを
発生する手段としてのホログラムと、前記一対の光ビー
ムを短冊状に２分割または２分割または３分割に分割し
たディテクターを用いて両方とも受光する。

作用 本発明は、フォーカスエラー信号検出用の一対の回折
光をディテクター上で近接して配置するので、光ピック
アップヘッド装置の組立において組み立て調整はホログ
ラムの回転だけをすれば良く、０次回折光の集光点の位
置設定の精度は緩和できる上に、ディテクターの受光面
積を小さくできるのでディテクターを小さくでき、ディ
テクターのコストを下げることができる。さらに、ディ
テクターの受光面積を小さくできるため、ディテクター
の電気容量（キャパシタンス）を小さくでき、より高周
波の信号を出力できる。

特に、６分割の分割領域の中央の２個の領域を省き、
短冊状に複数に分割したディテクターを用いてフォーカ
スエラー信号検出用の一対の回折光を両方とも受光する
ことによって、フォーカスエラー信号検出用の一対の回
折光をディテクター上でより一層近接して配置できる。

または、３分割したディテクターを用いて異なるホロ
グラム領域から発生するフォーカスエラー信号検出用の
一対の回折光を両方とも受光することによって、フォー
カスエラー信号検出用の一対の回折光をディテクター上
でより一層近接して配置できる。

実施例 以下図面を用いて本発明の実施例を説明する。第１図
は本発明の実施例を原理的に説明するための図である。
光源１は通常半導体レーザーを用い、場合によっては波
面補正のための光学系を含むが、本発明には直接関係し
ないので説明は省略する。

光源１を出射した光ビーム７は、コリメートレンズ２
を通って平行光になり、ホログラム30を透過後、対物レ
ンズ４によって、ディスク５の上に集光される。ディス
クの情報記録再生面で反射した光ビームは、再び対物レ
ンズ４を透過し、ホログラム30に入射する。ホログラム
30で回折した＋１次回折光（あるいは−１次回折光）81
及び82は、コリメートレンズ２で集光されて、それぞれ
光源１付近に配置されたディテクター60に入射する。

また、他の実施例として第６図のような構成も可能で
あり、より部品点数の少ない小型、軽量、低コストの光
ヘッド装置を構成できるという効果がある。

ホログラム30は第２図（ａ）に示すように平面波また
は球面波が入射したときに一対の曲率の異なる球面波
（１次回折光）81、82が発生するように設計されてい
る。ここでは簡単のため第６図に示す実施例の構成にお
けるホログラム30、ディテクター60、光源１の部分を描
いてあるが、第１図に示した構成でも同様にして実現可
能である。このホログラム30は例えば第２図（ｂ）のよ
うに２つのフレネルゾーンプレートを重ね書きしたり、
０次回折光80を参照光として一対の曲率の異なる球面波
81、82を干渉法によって記録することによって作成でき
る。このホログラム30から発生した回折光を第３図に示
すように短冊状の４分割ディテクター60で受光する。

ここで、（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は対物レンズ４とデ
ィスク５との位置関係の違いによる、ディテクター60上
での回折光81、82の形状の変化を模式的に表している。
対物レンズ４から出射した光ビーム71（第１図）のディ
スク５上でのフォーカス状態に対応して、（ｂ）がジャ
ストフォーカス時、（ａ）と（ｃ）がデフォーカス状態
の回折光81及び82を様子である。ジャストフォーカス時
にはディテクター60上において回折光81と82の半径がほ
ぼ等しくなる。この半径をｒとしたときに、回折光81の
中心（あるいは光軸）810と回折光82の中心（あるいは
光軸）820は（短冊状のディテクター領域の短い方向
に）隣接したディテクター領域S2とS3にそれぞれあり、
またこれらの距離（短冊状のディテクター領域の短い方
向の距離）はｒの２倍以下である。このため、回折光81
と回折光82は共通の分割線（S2とS3の分割線）を跨いで
いる。このときフォーカスエラー信号FEは、 FE＝S1＋S3−（S2＋S4） ……（３） として得ることができる。

第３図において、対物レンズ４から出射した光ビーム
がディスク５上でデフォーカス状態になり、（ａ）のよ
うに回折光82が収束した場合、回折光82が収束するとS2
の光量が増える、同時に、回折光81が広がるので、これ
によってもS2の光量は増加する。すなわち、ディテクタ
ーの分割領域S2は回折光81と回折光82の両方の形状変化
を検知する。

全く同様に、ディテクターの分割領域S3も回折光81と
回折光82の両方の形状変化を検知できる。第３図に示さ
れたディテクター60の分割領域S3は、第８図のディテク
ターの分割領域605と603の２個の分割領域の役割を果た
している。

さらに、第３図に示したように分割領域S2とS3の両側
に分割領域S1とS4を設けた４分割領域内で一対の回折光
を両方共に受光して、FE信号の振幅と感度を大きくでき
るという効果がある。

またもう１つの実施例としては、ホログラム30は第４
図（ｂ）のように領域区分を有し、第４図（ａ）のよう
に領域31と32からそれぞれ出た回折光81と82は、どちら
も球面波となるが、その曲率が異なっている。ここでま
た、簡単のため第６図に示す構成の実施例におけるホロ
グラム30、ディテクター60、光源１の部分を描いてある
が、第１図に示した構成でも同様にして実現可能であ
る。３分割ディテクター上での回折光の様子を第５図に
示す。（ｂ）がジャストフォーカスの状態である。
（ａ）と（ｃ）は、その前後の状態を表す。ジャストフ
ォーカス時にはディテクター60上において回折光81と82
の半径がほぼ等しくなる。この半径をｒとしたときに、
回折光81の光軸810と回折光82の光軸820は（短冊状のデ
ィテクター領域の短い方向に）隣接したディテクター領
域S1とS2にそれぞれある。また、回折光81と回折光82は
共通の分割領域S2に入射している。従って、フォーカス
エラー信号FEは、 FE＝（S1＋S3）−S2 ……（４） として得られる。

以下に、本発明の、フォーカスエラー信号検出用回折
光の配置とディテクター形状の必然性を説明する。

フォーカスエラー信号検出用の回折光としては従来例
でも本発明においても２つの回折光を用いる。この２つ
の回折光の並べ方によって、ディテクター60と０次回折
光80の集光点との相対位置のずれに対する許容誤差が異
なる。ここで、本実施例の構成によれば、対物レンズ４
から出射した光ビームがディスク５上で合焦状態である
時には、０次回折光80の集光点と光源１の位置は必ず一
致するが光源１をディテクター60に対して正確に位置決
めすることは困難であるので、光源１の設計位置Ｏと、
実際に設定された位置Ｏ′との距離|OO′｜の許容値は
大きくなければならない。例えば比較的低コストで製造
する場合|OO′｜は、最低100μｍ程度は見込まなければ
ならない。

まず比較のために、この２つの回折光を第７図のよう
に０次回折光の集光点に対して一直線に並べたときを検
討する。第７図はディテクター60上での回折光の様子で
ある。回折光の中心が位置されるべき中心線OAおよびOB
も表示している。０次回折光の集光点が点Ｏからｘ軸方
向にずれて、点Ｏ′の位置にきた場合を考える。ホログ
ラムの回転調整は容易にできる。ホログラムの回転調整
後の回折光82と81の中心位置をそれぞれ点Ａ′と点Ｂ′
とする。また、点Ａ′と点Ｂ′からそれぞれ中心線OAお
よびOBに下ろした垂線の足をそれぞれ点Ａ″と点Ｂ″と
する。

ホログラムを回転することにより、中心線OAからの１
次回折光81の中心までの距離（ｄ＝|A′Ａ″｜＝|B′
Ｂ″｜）を最小に調節したとすると、 ｄ〜|OO′｜×|AB|/（２×|OA|） ……（５） となる。ここで、０次回折光の集光点のＸ方向へのずれ
を許容するためには、|AB|はあまり小さくできない。ま
た|OA|を大きくしようとするとホログラムの搬送周波数
が高くなりすぎる上に、収差の問題も発生する。このた
め、ｄを小さくするためには、|OO′｜を小さく抑える
必要が生じて製造コストが高くなる。例えば、|AB|＝30
0μｍ、|OA|＝1mm、ｄ＜３μｍとすると、|OO′｜＜20
μｍとなる。すなわち、対物レンズ４から出射した光ビ
ームがディスク５上で合焦状態である時には、０次回折
光の集光位置（第１図や第６図の構成では光源１の発光
点位置と一致する）に対するディテクター60の位置設定
を、組立時に高精度に調整する必要がある。従って、第
７図のようなディテクターと回折光の配置は好ましくな
い。

そこで次に第８図の様に＋１次回折光を並べた場合を
考える。第８図はディテクター60上での回折光の様子で
ある。この場合はｘ軸方向よりも、第９図に示すように
０次回折光の集光点が点Ｏからｙ軸方向にずれた時に、
直線OAまたは直線OBからの１次回折光の中心までの距離
ｄが大きくなる。なお、第９図はディテクター60上での
０次回折光の集光点位置の変化に伴う１次回折光の位置
変化の様子である。回折光の中心点Ａ、Ｂ、Ａ′、Ｂ′
と回折光の中心が位置されるべき中心線OA、OBも表示し
ている。この中心線OAと、回折光の中心点Ａ′との距離
ｄ（＝|A′Ａ″｜）はやはり式（５）によって決まる
が、第３図や第４図に示すような本発明の構成を用いる
ことにより、|AB|を非常に小さくできるので、|OO′｜
が大きくてもｄを十分小さくできる。例えば、|AB|＝50
μｍ、|OA|＝1mm、ｄ＜３μｍとすると、|OO′｜＜120
μｍである。すなわち、本発明では、回折光81と回折光
82の中心間の距離ABを短くすることにより、０次回折光
の集光位置（０次回折光の集光位置は第１図や第６図の
構成では光源１の発光点位置と一致する）に対するディ
テクター60の位置設定について、大きな裕度を持って組
立を行うことができ、組立調整のコストを著しく削減で
き、安価な光ヘッド装置を構成できるという顕著な効果
を得ることができる。

ここで、第８図及び第９図に示したようにディテクタ
ーの分割領域の分割線101を０次回折光の中心Ｏ点から
放射状に延びる直線にしたことにより、光源１から出射
する光ビーム７の波長が設計値と異なる値であっても、
回折光81と回折光82の中心はそれぞれ、第９図の直線OB
上と、OA上にある、すなわち、それぞれディテクターの
分割領域605とディテクターの分割領域602の中心にある
ので、FE信号は全く劣化しないという効果を得ている。

なお、ディテクターの分割領域S2とS3の短い方の辺の
和よりも、分割領域の長い方の辺の長さの方が長いよう
に設計した、あるいは、第４図に示したように、例えば
ディテクターの３つの分割領域の短い方の辺の和より
も、分割領域の長い方の辺の長さの方が長いように設計
したことにより、許容可能な波長範囲をより広くできる
効果がある。

また、第３図に示したように、ディテクターの分割領
域S2とS3の分割線101をすべて互いに平行にしたことに
より、０次回折光の集光位置に対するディテクター60の
位置設定のｙ方向（第９図参照）のずれOO′があって
も、ディテクターの分割領域S2とS3の中心に回折光81や
回折光82の中心があり、FE信号が全く劣化しないという
効果を得ることができる。

さらに、第３図に示したように、例えばディテクター
の分割領域S2とS3の短い方の辺の和よりも、分割領域の
長い方の辺の長さの方が長いように設計したことによ
り、０次回折光の集光位置に対するディテクター60の位
置設定の方向（第９図参照）のずれOO′の許容可能量を
より大きくできる効果がある。但し、第８図、第９図の
構成とは対象的に、光源１から出射する光ビーム７の波
長が設計値と異なる値であると、ディテクターの分割領
域S2とS3の中心から回折光81や回折光82の中心がずれ
て、FE信号が劣化するという課題が生じる。ここで、デ
ィテクターの分割領域S2とS3の中心からの、回折光81や
回折光82の中心のずれ量は、回折光81と回折光82の中心
間の距離に比例するので、やはり、回折光81と回折光82
の中心間の距離ABは小さくする。

さらに、第３図に示したように、対物レンズ４から出
射した光ビーム71（第１図）がディスク５上で、ジャス
トフォーカス（合焦）状態にある時、または、回折光81
と回折光82の大きさがディテクター60上で分割線101に
直角な方向の大きさが等しくなったときに、回折光81と
回折光82の端と端がかさなるようにしたことにより、第
３図を用いて、さきに説明したように、ディテクターの
分割領域S2とS3がどちらも、回折光81と回折光82の両方
の形状変化を検知する役割を果たし、感度と振幅の大き
なFE信号を得るという効果を得ることができる。この効
果は、第３図のようにディテクターの分割領域S2とS3を
ほぼ接して形成した時に、最も顕著になることは説明す
るまでもなく明白である。

さらに、光情報装置において、情報の記録または再生
を行うために本発明の光ヘッド装置を用いるため等に、
ホログラムから回折する回折光を用いてトラッキングエ
ラー信号も得ようとする場合には、第10図に示すように
ホログラム30にトラッキングエラー信号検出用回折光発
生領域34を設けて、ここから発生する回折光84をディテ
クター60に設けたトラッキングエラー信号検出用ディテ
クター62によって受光することにより、従来例と全く同
様にトラッキングエラー信号を得ることができる。

発明の効果 本発明は、フォーカスエラー信号検出用の一対の回折
光をディテクター上で近接して配置するので、光ピック
アップヘッド装置の組立において組み立て調整はホログ
ラムの回転だけをすれば良く、０次回折光の集光点の位
置設定の精度は緩和できる上に、ディテクターの受光面
積を小さくできるのでディテクターを小さくでき、ディ
テクターのコストを下げることができる。さらに、ディ
テクターの受光面積を小さくできるため、ディテクター
の電気容量（キャパシタンス）を小さくでき、より高周
波の信号を出力できる。

特に、６分割の分割領域の中央の２個の領域を省いた
分割ディテクターを用いてフォーカスエラー信号検出用
の一対の回折光を両方とも受光することによって、フォ
ーカスエラー信号検出用の一対の回折光をディテクター
上でより一層近接して配置できる。

または、３分割したディテクターを用いて異なるホロ
グラム領域から発生するフォーカスエラー信号検出用の
一対の回折光を両方とも受光することによって、フォー
カスエラー信号検出用の一対の回折光をディテクター上
でより一層近接して配置できる。

このように２つの回折光をより一層近接して配置でき
るため、光ヘッド装置の組立に際し、ホログラムの回転
調整のみを正確に行えばよく、光源とディテクターの相
対位置やホログラムの設定位置などの調整精度はより一
層緩和できるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の、実施例の光ヘッドの断面図、第２
図（ａ）は、本発明の実施例の光ヘッドにおいて使用す
るホログラムの模式図、同（ｂ）は同光ヘッドの要部構
成図、第３図（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施例におけ
る、ディテクター上でのフォーカスエラー信号検出用の
回折光の様子を示す図、第４図（ａ）は、本発明の他の
実施例の光ヘッドにおいて使用するホログラムの模式
図、同（ｂ）は同光ヘッドの要部構成図、第５図は、本
発明の他の実施例における、ディテクター上でのフォー
カスエラー信号検出用の回折光の様子を示す図、第６図
は、本発明のさらに他の実施例の光ヘッドの断面図、第
７図から第９図は、ディテクター上において、０次回折
光の集光点の設定位置がずれたときにホログラムの回転
によって、１次回折光の位置を調整したときの位置関係
を説明するための模式図、第10図は、本発明のさらに他
の実施例の光ヘッドの要部斜投影図、第11図は、従来例
の光ヘッドの斜投影図、第12図（ａ）〜（ｃ）は、従来
例でのフォーカスエラー信号検出用の回折光のディテク
ター上での様子を示す図、同（ｄ）は、同エラー信号波
形図、第13図（ａ）〜（ｃ）は、従来例でのトラッキン
グエラー信号検出用の回折光のディテクター上での様子
を示す図、第14図（ａ）〜（ｃ）及び第15図（ａ）〜
（ｃ）は、従来例におけるフォーカスエラー信号検出用
の回折光のディテクター上での相対位置がずれた場合の
様子を示す図、第14図（ｄ）、第15図（ｄ）はそれぞれ
フォーカスエラー信号波形図である。 １……光源、２……コリメートレンズ ３及び30……ホログラム 31、32及び33……フォーカスエラー信号検出用回折光発
生領域 34……トラッキングエラー信号検出用回折光発生領域 ４……対物レンズ、５……ディスク（対象物体） 60……ディテクター 61……フォーカスエラー信号検出用ディテクター 62……トラッキングエラー信号検出用ディテクター ７……出射光、８、81、82……１次回折光 80……０次回折光（透過光） 100及び101……ディテクターの分割線

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】放射光源と、 前記放射光源より出射する光ビームを受けて対象物体へ
   収束される対物レンズと、 前記対象物体で反射した第１の光ビームを前記対物レン
   ズを透過させて受けて、少なくとも一対の第２と第３の
   光ビームを含む複数の光ビームを前記第１の光ビームか
   ら分割する光ビーム分割手段と、 前記一対の第２と第３の光ビームの中心がそれぞれ入射
   する第１と第２の短冊状の分割領域を含む複数な分割領
   域を少なくとも有し、それぞれの分割領域において得ら
   れた光量に応じた出力を発生するように構成されたディ
   テクターを具備し、 前記ディテクターの前記短冊状の分割領域の長い方の辺
   の延びる方向から見たときに、前記第２の光ビームと前
   記第３の光ビームは、異なる収束距離を有し、 前記対物レンズと前記対象物体の位置関係が、前記第２
   と前記第３の光ビームがそれぞれ入射する前記短冊状の
   分割領域の短い方の辺の方向の、前記第２と前記第３の
   光ビームの大きさが前記ディテクター上に於いてほぼ等
   しくなるような位置関係であるときに、 前記第２の光ビームの光軸と前記第３の光ビームの光軸
   が前記短冊状のディテクター領域の短い方向に隣接した
   ２つのディテクター領域内にそれぞれあることを特徴と
   する、光ヘッド装置。
2. 【請求項２】放射光源と、 前記放射光源より出射する光ビームを受けて対象物体へ
   収束させる対物レンズと、 前記対象物体で反射した第１の光ビームを前記対物レン
   ズを透過させて受けて、少なくとも一対の第２と第３の
   光ビームを含む複数の光ビームを前記第１の光ビームか
   ら分割する光ビーム分割手段と、 前記一対の第２と第３の光ビームの中心がそれぞれ入射
   する第１と第２の短冊状の分割領域を含む複数の分割領
   域を少なくとも有し、それぞれの分割領域において得ら
   れた光量に応じた出力を発生するように構成されたディ
   テクターを具備し、 前記ディテクターの前記短冊状の分割領域の長い方の辺
   の延びる方向から見たときに、前記第２の光ビームと前
   記第３の光ビームは、異なる収束距離を有し、 前記対物レンズと前記対象物体の位置関係が、前記第２
   と前記第３の光ビームがそれぞれ入射する前記短冊状の
   分割領域の短い方の辺の方向の、前記第２と前記第３の
   光ビームの大きさが前記ディテクター上に於いてほぼ等
   しくなるような位置関係であるときに、 前記第２の光ビームと前記第３の光ビームの半径をｒと
   したときに、前記第２の光ビームの光軸と前記第３の光
   ビームの光軸は、前記短冊状のディテクター領域の短い
   方向の距離が前記ｒの２倍以下であることを特徴とす
   る、光ヘッド装置。
3. 【請求項３】放射光源と、 前記放射光源より出射する光ビームを受けて対象物体へ
   収束させる対物レンズと、 前記対象物体で反射した第１の光ビームを前記対物レン
   ズを透過させて受けて、少なくとも一対の第２と第３の
   光ビームを含む複数の光ビームを前記第１の光ビームか
   ら分割する光ビーム分割手段と、 前記一対の第２と第３の光ビームの中心がそれぞれ入射
   する第１と第２の短冊状の分割領域を含む複数の分割領
   域を少なくとも有し、それぞれの分割領域において得ら
   れた光量に応じた出力を発生するように構成されたディ
   テクターを具備し、 前記ディテクターの前記短冊状の分割領域の長い方の辺
   の延びる方向から見たときに、前記第２の光ビームと前
   記第３の光ビームは、異なる収束距離を有し、 前記対物レンズと前記対象物体の位置関係が、前記第２
   と前記第３の光ビームがそれぞれ入射する前記短冊状の
   分割領域の短い方の辺の方向の、前記第２と前記第３の
   光ビームの大きさが前記ディテクター上い於いてほぼ等
   しくなるような位置関係であるときに、 前記第２の光ビームの光軸と前記第３の光ビームの光軸
   が前記短冊状のディテクター領域の短い方向に隣接した
   ２つのディテクター領域内にそれぞれあり、かつ、前記
   第２の光ビームと前記第３の光ビームが前記隣接した２
   つのディテクター領域の分割線を跨いでいることを特徴
   とする、請求項１に記載の光ヘッド装置。
4. 【請求項４】光ビーム分割手段はトラッキングエラー信
   号検出用の光ビームも発生させ、ディテクターにはトラ
   ッキングエラー信号検出用分割領域も設け、 前記ディテクターの前記トラッキングエラー信号検出用
   分割領域と、第２の光ビームと第３の光ビームを受光す
   る短冊状の第１と第２の分割領域が、 いずれも同一基板上に形成されていることを特徴とす
   る、 請求項１、２または３に記載の光ヘッド装置。
5. 【請求項５】放射光源と、 前記放射光源より出射する光ビームを受けて対象物体へ
   収束させる対物レンズと、 前記対象物体で反射した第１の光ビームを前記対物レン
   ズを透過させて受けて、少なくとも一対の第２と第３の
   光ビームを含む複数の光ビームを前記第１の光ビームか
   ら分割する光ビーム分割手段と、 前記一対の第２と第３の光ビームを受光する、短冊状に
   複数に分割した分割領域を少なくとも有し、それぞれの
   分割領域において得られた光量に応じた出力を発生する
   ように構成されたディテクターを具備し、 前記ディテクターの前記短冊状の分割領域の長い方の辺 の延びる方向から見たときに、前記第２の光ビームと前
   記第３の光ビームは、異なる収束距離を有し、 前記対物レンズと前記対象物体の位置関係が、前記第２
   と前記第３の光ビームがそれぞれ入射する前記短冊状の
   分割領域の短い方の辺の方向の、前記第２と前記第３の
   光ビームの大きさが前記ディテクター上に於いてほぼ等
   しくなるような位置関係であるときに、前記ディテクタ
   ー上に於いて、前記第２と前記第３の光ビームの中心間
   の距離が、非常に小さい特許請求の範囲第１項〜第４項
   のいずれかに記載の光ヘッド装置を組立てる方法であっ
   て、 前記光ビーム分割手段と前記ディテクターを相対的に回
   転して前記ディテクター上での前記回折光の位置を調整
   する工程を有することを特徴とする光ヘッド装置組立方
   法。