DE1299134B - Vorrichtung zur Scharfeinstellung und Qualitaetspruefung von Objektiven - Google Patents

Vorrichtung zur Scharfeinstellung und Qualitaetspruefung von Objektiven

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DE1299134B
DE1299134B DEA39061A DEA0039061A DE1299134B DE 1299134 B DE1299134 B DE 1299134B DE A39061 A DEA39061 A DE A39061A DE A0039061 A DEA0039061 A DE A0039061A DE 1299134 B DE1299134 B DE 1299134B
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Guenther
Dipl-Ing Hans
Kortner Hans
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Agfa Gevaert AG
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/40Optical focusing aids
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0228Testing optical properties by measuring refractive power

Description

  • Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung zur Scharfeinstellung und Qualitätsprüfung von Objektiven.
  • Zum Scharfeinstellen optischer Systeme ist es z. B. bekannt, das dieses System durchsetzende Lichtbündel z. B. durch ein Prisma in zwei Teile zu zerlegen, so daß die Trennebene die optische Achse enthält, und eine längs der optischen Achse relativ zum System meßbar verschiebliche Foucaultsche Schneide anzuordnen, mit der die Stelle aufgesucht wird, in der die Schneide die Helligkeit der beiden Teile in gleichem Verhältnis beeinflußt. Dies ist dann der Fall, wenn die Schneide im Brennpunkt des Systems liegt. Derartige Anordnungen sind für Objektivprüfgeräte von Bedeutung. Dabei sind Verfahren zur Bestimmung der Güte von Objektiven bekannt, bei denen durch das zu prüfende Objektiv Strichgitter abgebildet werden und die Lichtverteilung in dem erzeugten Gitterbild fotometrisch ausgewertet wird, wobei diejenige Gitterkonstante bestimmt -wird, bei der in dem erzeugten Gitterbild das Verhältnis der minimalen zur maximalen Intensität einen bestimmten Wert besitzt. Diese Anordnungen eignen sich nicht zur automatischen Ausrichtung von Objektiven und zur Qualitätsprüfung in einem Zuge mit Scharfeinstellung und Ausrichtung und sind außerdem fertigungsmäßig aufwendig.
  • Durch die USA.-Patentschrift 2792 748 ist eine Vorrichtung zur Scharfeinstellung und Ausrichtung von Objektiven bekannt, bei der jedoch die Verschieberichtung nicht automatisch steuerbar ist.
  • Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zu schaffen, welche zur automatischen Scharfeinstellung und Qualitätsprüfung von Objektiven in einem Zuge brauchbar ist. Eine Vorrichtung, durch welche diese gestellte Aufgabe gelöst wird, ist gemäß der Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß die Dachkante oder Spitze eines symmetrisch zu dieser ausgebildeten Prismas in der optischen Achse eines in einem Entfernungsmeß- und Steuerstrahlengang angeordneten Objektivs vorgesehen ist und daß je brechende oder spiegelnde Fläche des optisch wirksamen Körpers zwei Fotozellen vorgesehen sind, wobei bei Scharfstellung des Objektivs auf ein Testbild sämtliche Fotozellen gleichmäßig, bei zu großer Entfernung des Testbildes nur je eine Fotozelle und bei zu geringer Entfernung des Testbildes nur je die zweite Fotozelle stärker beleuchtet wird. Dabei ist es zweckmäßig, daß der Steuerstrahlengang über zwei weitere teildurchlässige Spiegel in zwei weitere zueinander senkrechte Teilstrahlengänge aufgespalten wird, wobei in jedem dieser Teilstrahlengänge in der durch das Objektiv und ein Mikro objektiv bedingten Schärfenebene des Bildes einer Blende eine rotierende Gitterscheibe angeordnet ist, deren Gitterstreifen etwa die Breite der Blende aufweisen, und wobei hinter jeder Gitterscheibe eine Fotozelle zur Messung des durch die Gitterscheiben erzeugten Wechsellichts vorgesehen ist, und daß schließlich das Objektiv zur Prüfung verschiedener Objektivzonen um seine optische Achse rotiert und gleichzeitig in einer senkrecht zur optischen Achse verlaufenden Richtung verschiebbar ist, wobei ein die Autokollimation bewirkender Tripelspiegel entsprechend der Verschiebung des Objektivs schwenkbar ist. Die Fotozellen können dabei z. B. Elektromotoren zur Scharfeinstellung des Objektivs auf das Testbild steuern.
  • Die Erfindung wird an Hand von Zeichnungen näher erläutert, und zwar zeigt F i g. 1 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Anordnung von der Seite, F i g. 2 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Anordnung von oben, F i g. 3 eine schematische Darstellung eines Objektivprüfgerätes unter Verwendung der Anordnung nach Fig. 1, F i g. 4 eine schematische Darstellung einer anderen Ausgestaltung eines Objektivprüfgerätes unter Verwendung der Anordnung nach F i g. 1, F i g. 5 Teile der Anordnung nach F i g. 4 in einer abgeänderten Form und F i g. 6 eine schematische Darstellung einer weiteren Ausgestaltung eines Objektivprüfgerätes unter Verwendung der Anordnung nach F i g. 1.
  • Eine mögliche erfindungsgemäße Anordnung besteht gemäß den F i g. 1 und 2 aus einem Objektiv P, auf das ein von einem nicht dargestellten Gegenstand ausgehender Lichtstrom trifft, aus einer Pyramide D aus durchsichtigem, lichtbrechendem Stoff und aus je zwei Fotozellen Zl, 7i', Z2, Z2 s 73, Z3 X Z4, Z4 74', welche hinter jeder der brechenden Fläche,, D2, D3, D4 der Pyramide D angeordnet sind. Die Spitze der Pyramide D liegt auf der optischen Achse des Objektivs P. Liegt nun die Spitze der Pyramide D genau in der der Entfernung des abzubildenden Gegenstandes entsprechenden Bildebene des Objektivs P, dann erhält jede der insgesamt acht Fotozellen Zi bis 74' gleich viel Licht. Liegt die Bildebene jedoch nicht auf der Spitze der Pyramide D, sondern davor, so erhalten die vier Fotozellen Zl, 72, Z3, Z4 mehr Licht als die vier anderen Zellen Zl', Za'Z3', Z,'; liegt die Bildebene aber hinter der Spitze der Pyramide D, so erhalten die vier Zellen Zl', Z2'Z3', 74' mehr (oder auch alles) Licht als die Zellen Zl, Z2, Z3, Z4. Da sich die Bildebene mit der Gegenstandsebene eines Gegenstandes bei Beibehaltung der Lage des Objektivs P, der Pyramide D und der Fotozellen Zl bis 74' ändert, werden je nach der Entfernung, die ein Gegenstand von dem Objektiv 1> hat, die Fotozellen 7i bis 74' unterschiedlich beleuchtet. Über die Fotozellen 7i bis 74' können dann weitere Vorgänge gesteuert werden. Es kann an die Stelle einer durchsichtigen, brechenden Pyramide D eine Pyramide mit verspiegelten Pyramideuflächen D1 bis D4 treten, wobei die Fotozellen Zi bis 74' im Reflexionsstrahlengang dieser Pyramidenilächen D1 bis D4 angeordnet sein müssen. Auch kann unter Umständen an die Stelle der Pyramide ein Dachkantprisma treten, wobei dann die Kante dieses Dachkantprismas in der optischen Achse des Objektivs P liegen muß und für jede der beiden Seiten des Dachkantprismas zwei Fotozellen Zi, Z,' Z2, Z,' vorgesehen sein müssen. Wenn es unter besonderen Umständen günstig ist, können die Seiten des Dachkantprismas ebenfalls verspiegelt sein. Die Fotozellen 7i bis 74, bzw. Zu bis Z2t erhalten dann alle gleich viel Licht, wenn die Spitze der Pyramide bzw. die Kante des Dachkantprismas in der der Entfernung eines Gegenstandes entsprechenden Bildebene des Objektivs P liegt.
  • In F i g. 3 ist die Anwendung der in den F i g. 1 und 2 gezeigten Anordnung auf ein Objektivprüfgerät gezeigt. In der Brennebene des Objektivprüflings wird als Testobjekt durch ein Mikro objektiv M ein stark verkleinertes Luftbild einer von hinten mittels Lichtquelle L und Kondensor K beleuchteten, zunächst als quadratisch angenommenen Blende B0 erzeugt. Der von dem Prüfling P aufgenommene Lichtstrom des Blendenbildes B tritt aus dem Objektiv P achsenparallel aus, wird von einem Autokollimationsspiegel A, vorzugsweise einem achsensymmetrisch angeordneten Tripelspiegel entsprechender Größe, in sich zurückgeworfen, ergibt nach Wiederdurchtritt durch Objektiv P in dessen Brennpunkt ein Blendenbild B', von dem wiederum Mikroobjektiv M ein Bild Bot entwirft, wobei sich je nach Justierung und Korrektion des Prüflings P die Autokollimationsbilder B' mit B und B," mit Bo mehr oder weniger genau decken. Ein Teil dieses Lichtstroms wird hinter dem Mikroobjektiv M durch einen Lichtteilerspiegel T1 abgespalten und dient nach weiterer Aufspaltung an den teildurchlässigen Spiegeln T2 und T3 zum Einjustieren und Prüfen des Objektivs P.
  • Zur automatischen Justierung des Prüflings P wird der an dem Spiegel T2 abgespaltene Lichtstrom durch eine Sammellinse O in dem wiederum stark verkleinerten Blendenbild B," zusammengefaßt. Dieses Bild liegt bei richtiger Justierung auf der Kante eines Prismas D, das durch Reflexion oder Brechung den Lichtstrom in zwei Teile aufspaltet und auf zwei Paare von Fotozellen Zl, Zl', Z2, 72' lenkt.
  • Dann erhält jede dieser Zellen gleich viel Licht. Liegt das Luftbild B," nicht auf der Kante, sondern etwas davor, so ergibt sich, daß das Zellenpaar Zl Z2 mehr Licht als das Paar 1' 72' erhält; liegt das Bild B," hinter der Kante, so erhält das Paar Zl'Za'mehr oder auch alles Licht. Da bei dieser Anordnung in Autokollimation gearbeitet wird, kann ganz unabhängig vom Prüfling P und seiner Lage zur optischen Achse allein durch axiale Verschiebung von Prüfling P das Luftbild B' mit Bild B zur Deckung, d. h. Bild B in den Brennpunkt von Prüfling P gebracht und damit der Prüfling auf unendlich scharf eingestellt werden.
  • Dies geschieht automatisch durch Betätigen eines Servomotors E, dessen Drehrichtung über einen Verstärker von den Fotozellen Zl, Z2 Zl'Z2'gesteuert wird. Erhält das Zellenpaar Zl Z2 mehr Licht, so wird der Prüfling P auf das Mikroobjektiv M zu bewegt, erhält Zellenpaar Zl'Z2'mehr Licht, wird Prüfling P von Mikroobjektiv M entfernt, bis die beiden Paare gleich viel Licht erhalten, d. h. der Prüfling P auf beste axiale Schärfe eingestellt ist.
  • Ist dies geschehen, so folgt die Prüfung der optischen Qualität des Prüflings P. Je besser diese ist, um so genauer deckt sich bei richtiger Justierung das Autokollimationsbild Bo mit der Testblende B,, d. h., ein um so kleinerer Bruchteil des zurückkehrenden Lichtstromes fällt auf die Umgebung der Testblende, statt wieder durch sie hindurchzugehen. Die Größe dieses Bruchteils, d. h. des Verhältnisses des danebenfallenden Lichtstromes zu dem wieder in die Fläche der Testblende zurückkehrenden, dient in dieser Anordnung als Maß für die optische Qualität des Prüflings. Sie wird bestimmt, indem das durch den Lichtteilerspiegel T1 abgespaltene, mit Bild B," in der Lichtverteilung identische Testbild B2,, in folgender Weise ausgewertet wird: In der Ebene dieser Bildes rotiert ein Gitter G1 aus Stegen und Spalten etwa der gleichen Breite wie die Testblende B,. Bei optimaler Abbildung, d. h. Bild B," und damit Bild B2,, ist gleich B,, kann dieses Bild durch die Stege ganz abgedeckt oder durch die Schlitze ganz freigegeben werden, d. h., der Lichtstrom schwankt zwischen Null und einem Maximalwert, er wird mit einer Frequenz, die sich aus der Zahl der Stege und der Drehzahl ergibt, moduliert. Bei unscharfer Abbildung kann dieser Lichtstrom nicht mehr ganz unterbrochen bzw. ganz freigegeben werden, die Modulation ist schwächer. Diese Lichtstromänderungen werden in dieser Anordnung durch Fotozellen Z,, Zs in Spannungsänderungen übergeführt, die verstärkt und angezeigt werden können. Um von Helligkeitsschwankungen des Testes Bo und vom Raumlicht unabhängig zu sein, wird in dieser Anordnung dem Testlicht durch eine in der Nähe von Blende Bo oder Bild B angeordnete Zerhackerscheibe S eine Grundfrequenz aufgeprägt, die beispielsweise etwa zehnmal so hoch ist wie die der durch das Auswertgitter G1 erzeugten Modulation. Auf dem Leuchtschirm eines hinter Fotozelle Zs und Verstärker V1 angeordneten Oszillografen können die entstehenden Kurvenbilder betrachtet werden. An einem Kreuzspulinstrument 1l wird das Verhältnis der Amplitude der Modulationsfrequenz zu der der Grundfrequenz nach Trennung der beiden Frequenzen angezeigt und dient als Maß für die Abbildungsqualität des zu prüfenden Objektivs.
  • Auf diese Weise kann ein jederzeit reproduzierbarer Grenzwert festgelegt werden.
  • Es soll nun weiterhin geprüft werden, ob in keinem Punkt des Bildfeldes dieser Grenzwert unterschritten wird. Hierzu rotiert der Prüfling P um seine Achse und wird gleichzeitig rechtwinklig zur Achse der gesamten Anordnung und parallel zu dieser verschoben.
  • Hierdurch wird die Ebene des Bildfeldes spiralig abgetastet.
  • Damit auch außerhalb der Achse (das Mikroobjektiv M habe genügend große, dem Bildwinkel des Prüflings P entsprechende Apertur) möglichst alles aus dem Objektiv auf den Autokollimations-Tripelspiegel A fallende Licht wieder parallel zur Einfallsrichtung in das Objektiv zurückgeworfen wird, muß der Spiegel A so dem Prüfling nachgeführt werden, daß das Lichtbündel symmetrisch zur Spiegelspitze auftrifft und wieder in sich reflektiert wird. Dies wird erreicht, wenn der Spiegel A um das Luftbild B geschwenkt und in einer Ebene zwischen den Hauptebenen des Prüflings geführt wird.
  • Außerhalb der Bildfeldmitte ist außerdem wie bei der Testtafelprüfung die radiale von der tangentialen Bildqualität getrennt zu prüfen. Hierfür ist über Spiegel T3 ein Bild B3"ausgespiegelt, das durch ein zweites rotierendes Auswertgitter G2 abgetastet wird.
  • Auch hinter diesem Gitter ist eine Fotozelle Z, mit Verstärker V2 und Kreuzspulinstrument I2 angeordnet.
  • Dann kann z. B. an Instrument I1 die tangentiale und an Instrument 12 die radiale Bildqualität in jedem Punkt des Bildfeldes abgelesen werden.
  • Eine weitere mögliche Anordnung zur Objektivprüfung ist in F i g. 4 gezeigt. Als Test dient ein symmetrisch zur Systemachse liegender Pyramidenstumpf mit einander parallelen quadratischen Grund- und Dachflächen, wobei die Dachfläche die in F i g. 3 gezeigte quadratische Blende Bo bildet. Wie dort wird über das zu prüfende Objektiv ein Autokollimationsbild Bot erzeugt, so daß je nach Korrektion und Justierung des Prüflings ein mehr oder weniger großer Bruchteil des zurückkehrenden Lichtstromes, statt die Dachfläche Bo zu durchtreten, auf die Seitenflächen des Pyramidenstumpfes fällt.
  • Zwischen Lichtquelle und Pyramidenstumpf ist ein Transparentspiegel T2 angebracht, der den durch die Dachfläche Bo zurückkehrenden Lichtstrom auf eine Fotozelle Z0 lenkt. Die Lichtströme, die auf die Seitenflächen der Pyramide fallen, werden durch die Prismenwirkung oder bei verspiegelten Seitenflächen durch Reflexion aus der optischen Achse in vier Richtungen abgelenkt, wobei jeweils die von gegenüberliegenden Seitenflächen kommenden Lichtströme auf je zwei miteinander gekoppelte Fotozellen (77, Z7'Z8, 79') fallen.
  • Auf diese Weise ist es möglich, ohne rotierende Gitterscheiben nicht nur das Bildlicht vom Falschlicht sauber zu trennen, sondern auch gleichzeitig die radiale und tangentiale Bildgüte zu kontrollieren, indem jeweils die aufeinander gegenüberliegende Seitenflächen fallenden Falsch-Lichtströme mit dem die Dachfläche durchtretenden Bildlichtstrom elektrisch verglichen und die beiden Verhältniswerte angezeigt werden. Gemäß F i g. 5 ist es auch möglich, die Fotozellen nicht seitlich oder hinter dem die Blende Bo umfassenden Pyramidenstumpf anzubringen, sondern auf jeder Seite des Pyramidenstumpfes eine Fotozelle Z9, 79', Z10, Zlot in unmittelbarer Nähe der Blendenöffnung Bo vorzusehen.
  • In F i g. 6 ist eine weitere Anwendungsmöglichkeit der erfindungsgemäßen Anordnung nach F i g. 1 zur Objektivprüfung gezeigt, wobei hier nicht mit Autokollimation gearbeitet wird, sondern an die Stelle des Autokollimationsprismas ein Pyramidenstumpf D tritt. Dieser Pyramidenstumpf D ist ähnlich wie die Pyramidenspitze oder die Kante eines Dachkantprismas zur automatischen Scharfeinstellung und Zentrierung geeignet. Nur fällt der größte Teil des Lichtes, das bei den anderen Ausgestaltungen nach erfolgter Scharfstellung und Zentrierung gleichmäßig auf die vier Zellenpaare Zl Zl', 72 72', Z3Z3', Z4Z4' verteilt war, nicht mehr auf diese Zellen, sondern durch die Dachfläche des Pyramidenstumpfes, was sogar eine Empfindlichkeitssteigerung für die Scharfstellung und Zentrierung bedeuten kann.
  • Mit einem solchen Pyramidenstumpf, der natürlich auch eine außen spiegelnder, innen geschwärzter Hohlkörper sein könnte, kann man also zunächst justieren und dann prüfen, wobei bei gestreckter Anordnung - als Testobjekt dient eine quadratische Blende B -für beides der gesamte Lichtstrom genutzt wird, so daß kein Lichtteilerspiegel erforderlich ist. Das Objektiv P ist auf unendlich scharf eingestellt, wenn alle Fotozellen Zu bis 74' gleich viel Licht erhalten. Bei der Qualitätsprüfung der einzelnen Objektivzonen ist dann das Verhältnis des durch die Zellen Z1, Z1', Z2, 2 und 73, Z3', Z4, 74' erzeugten Stromes zu dem durch die Zellen, erzeugten Strom maßgebend. In sämtlichen Figuren sind im übrigen funktionsmäßig gleiche Teile mit gleichen Bezugsziffern versehen.
  • Patentansprüche: 1. Vorrichtung zur Scharfeinstellung und Qualitätsprüfung von Objektiven, d a d u r c h g ekennzeichnet, daß die Dachkante oder Spitze eines symmetrisch zu dieser ausgebildeten Primsas (D) in der optischen Achse eines in einem Steuerstrahlengang angeordneten Objektivs (P) vorgesehen ist und daß je brechende oder spiegelnde Fläche (D1, D2, D3, D4) des optisch wirksamen Körpers (D) zwei Fotozellen (7i, Zl, Z2, 73', Z3, Z3', Z4, Z4') vorgesehen sind, wobei bei Scharfstellung des Objektivs (P) auf ein Testbild (B) sämtliche Fotozellen (Z1,Z1',Z2,Z2',Z3,Z3',Z4,Z4') gleichmäßig, bei zu großer Entfernung des Testbildes (B) nur je eine Fotozelle (7i' 73, Z3, Z4) und bei zu geringer Entfernung des Testbildes (B) nur je die zweite Fotozelle (Z1', Z2E Z3t, Z4t) stärker beleuchtet werden.

Claims (1)

  1. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Steuerstrahlengang über zwei weitere teildurchlässige Spiegel (T2, T3) in zwei weitere zueinander senkrechte Teilstrahlengänge aufgespalten wird, wobei in jedem dieser Teilstrahlengänge in der durch das Objektiv (P) und ein Mikroobjektiv (M) bedingten Schärfenebene des Bildes (B2"bzw. B3") einer Blende (Bo) eine rotierende Gitterscheibe (G1 bzw. G) angeordnet ist, deren Gitterstreifen etwa die Breite der Blende (BO) aufweisen, und wobei hinter jeder Gitterscheibe (G1 bzw. G) eine Fotozelle (Z5 bzw. 76) zur Messung des durch die Gitterscheiben erzeugten Wechsellichts vorgesehen ist, und daß schließlich das Objektiv (P) zur Prüfung verschiedener Objektivzonen um seine optische Achse rotiert und gleichzeitig in einer senkrecht zur optischen Achse verlaufenden Richtung verschiebbar ist, wobei ein die Autokollimation bewirkender Tripelspiegel (A) entsprechend der Verschiebung des Objektivs (P) schwenkbar ist.
    3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Fotozellen (7i bis Z4') Elektromotoren (E) zur Scharfeinstellung des Objektivs (P) auf das Testbild (B) steuern.
    4. Anordnung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Testbild (B) das durch ein Mikroobjektiv (M) erzeugte Bild einer durch eine Blende (Bo) erscheinenden Lichtquelle (L) ist.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2260474A1 (de) * 1972-12-11 1974-06-12 Leitz Ernst Gmbh Verfahren zur scharfeinstellung eines objektivs
FR2393263A1 (fr) * 1973-10-01 1978-12-29 Philips Nv Systeme opto-electronique
DE2914122A1 (de) * 1978-04-14 1979-10-25 Philips Nv Optoelektronisches fokusfehlerdetektionssystem

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE349941C (de) * 1922-03-10 Zeiss Carl Fa Verfahren zur Pruefung von Hohlspiegeln oder sammelnden Linsen
DE931442C (de) * 1951-05-17 1955-08-08 Zeiss Carl Fa Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung der Bildguete von Objektiven
DE1001020B (de) * 1955-01-13 1957-01-17 Rollei Werke Franke Heidecke Optisches Pruef- und Messgeraet
US2792748A (en) * 1954-03-08 1957-05-21 American Optical Corp Lens testing device
DE974984C (de) * 1951-02-10 1961-06-29 Zeiss Carl Fa Lichtelektrisches Verfahren und Geraet zur Pruefung der Abbildungsguete optischer Linsensysteme

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE349941C (de) * 1922-03-10 Zeiss Carl Fa Verfahren zur Pruefung von Hohlspiegeln oder sammelnden Linsen
DE974984C (de) * 1951-02-10 1961-06-29 Zeiss Carl Fa Lichtelektrisches Verfahren und Geraet zur Pruefung der Abbildungsguete optischer Linsensysteme
DE931442C (de) * 1951-05-17 1955-08-08 Zeiss Carl Fa Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung der Bildguete von Objektiven
US2792748A (en) * 1954-03-08 1957-05-21 American Optical Corp Lens testing device
DE1001020B (de) * 1955-01-13 1957-01-17 Rollei Werke Franke Heidecke Optisches Pruef- und Messgeraet

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2260474A1 (de) * 1972-12-11 1974-06-12 Leitz Ernst Gmbh Verfahren zur scharfeinstellung eines objektivs
FR2393263A1 (fr) * 1973-10-01 1978-12-29 Philips Nv Systeme opto-electronique
DE2914122A1 (de) * 1978-04-14 1979-10-25 Philips Nv Optoelektronisches fokusfehlerdetektionssystem

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